Fundamentos de la Metalografia y Materialografia

Un material metlico examinado al nivel de Microscopa ptica o electrnica,

menor de 5000 aumentos, no es un medio continuo sino un ensamblado de
compuestos qumicos, de tipo inico, y fases, soluciones slidas metlicas, que
se asemeja a un empedrado rstico de sillera.
Puede definirse la Metalografa como la tcnica que revela la organizacin
espacial de fases y compuestos que conforman un material metlico.
Igualmente, puede definirse la Materialografa cuando se aplica a cualquier
material.
A partir de su propia definicin, la Metalografa puede resolver:
a) Los diversos compuestos y fases.
b) Las diferentes formas y tamaos que adoptan en la estructura.
c) Las diversas configuraciones entre las fases y compuestos.
El campo de aplicacin de la Metalografa y materialografa es amplsimo. No slo
es herramienta bsica requerida para la caracterizacin de los metales y
aleaciones sino tambin lo es para materiales compuestos de matriz metlica o de
fibras metlicas; as como en los materiales cermicos, compuestos o no.
En el captulo de resumen ampliaremos las posibles aplicaciones de la
metalografa, una vez conocidos los principios de la misma.

2.1 ANLISIS DE LA TCNICA METALOGRFICA

Los ensayos metalogrficos requieren la ejecucin de las etapas siguientes:
a) Seleccin de la muestra.
b) Preparacin de las probetas.
c) Observacin de las probetas.
d) Tratamiento de la informacin.
La SELECCION DE LA MUESTRA rene tanto su
dimensionamiento como la ubicacin de las probetas
y es funcin del objetivo de la investigacin o control
de calidad.
La muestra escogida debe satisfacer las condiciones
de amplitud y representatividad estadstica, ms
cuando la dimensin de la probeta unitaria se reduce a
unos pocos milmetros.
Si corresponde a un control rutinario, la seleccin es
por mtodos aleatorios. Si, por el contrario, se
investiga la causa de un fallo, la probeta debe ser tan
prxima como se pueda a su hipottico origen.
Figura 3.1.Tronzadora para corte de
muestras.

La probeta puede tener cualquier forma y dimensiones

equivalentes a un paralelepdedo de 5 a 15 mm de

lado.
La EXTRACCION DE LA PROBETA desde la pieza, o producto a ensayar, se realiza
mediante corte, manual o con equipo especializado, tronzadora, figura 3.1. En
cualquier caso debe evitarse cualquier posible calentamiento pues podra
modificar el estado del material a ensayar. Las razones de esta alteracin, por
flujo trmico, se expondrn en unidades posteriores, para evitarlo se emplean
equipos de precisin, figura 3.2.
La etapa de PREPARACION DE LA PROBETA
corresponde a un proceso de trabajo ejecutado sobre
la misma, que ha de permitir la observacin de las
peculiaridades de la estructura investigada, por medio
del microscopio.
Existen dos modos principales de preparacin:

Figura 3.2.Equipo de corte de precisin

a) por va mecnica, figura 3.3, y

b) por va electroltica. Ambos mtodos sern
desarrollados minuciosamente en las experiencias de
esta unidad. En ambos casos puede requerirse el
montaje de la probeta metlica sobre un soporte
plstico, conseguido por proceso de embuticin a
baja temperatura en una prensa hidrulica.

La etapa de OBSERVACION MICROSCOPICA corresponde al anlisis

Figura 3.3. a) Equipo de desbaste con disco abrasivo, b) Equipo de pulido semiautomtico con abrasivos

propiamente dicho de la imagen resuelta bien en el microscopio ptico

metalrgico o bien en el electrnico de barrido. En los cursos de metalografa y
microscopa puede profundizarse en estos instrumentos. No obstante
reproduciremos los conceptos bsicos ms importantes.

2.2 EL MICROSCOPIO PTICO METALRGICO

En comparacin con uno de tipo biolgico, el microscopio empleado

habitualmente para materiales difiere en la manera en que la muestra es iluminada. Como una muestra metalogrfica es opaca a la luz, la misma debe ser
iluminada por luz reflejada. Como se observa en la figura 3.4, un haz de luz
horizontal, de alguna fuente de luz, es reflejado por medio de un reflector de
vidrio plano, hacia abajo a travs del objetivo del microscopio sobre la superficie
de la muestra. Un poco de esta luz incidente reflejada desde la superficie de la
muestra se amplificar al pasar a travs del sistema inferior de lentes, el objetivo,
y continuar hacia arriba a travs del reflector de vidrio plano; luego, una vez ms
lo amplificar el sistema superior de lentes, el ocular.
a) AUMENTOS. Se denomina aumento del microscopio (Am) a la relacin sobre el
tamao de la imagen y el del objetivo.
D1 = distancia entre el ocular y la pantalla de proteccin,
D2 = distancia entre el ocular y objetivo,
M1 = aumento propio del ocular,
M2 = aumento propio del objetivo,
La amplificacin total es funcin del producto de los aumentos del ocular y del
objetivo.
Am = (D1/D2) M1 M2

(3.1)

Figura 3.4 Microscopio metalrgico con el trazado del haz luminoso a travs del sistema ptico.

b) PODER DE RESOLUCION. Se define como la capacidad de un objetivo para

producir imgenes separadas y distintas de dos detalles del objeto muy
prximos. Es funcin directa de la longitud de onda, de la luz incidente e
inversa del ndice de refraccin del medio, n, y del ngulo de semiabertura de la
lente objetivo, u. El poder de resolucin queda cuantificado por medio de la
distancia mnima, d, entre dos detalles que son observados o resueltos por el
microscopio. Para el caso de haz incidente ancho paralelo en el objeto, se cumple

la expresin:
d = /2 n u

(3.2)

en donde las unidades de d son las mismas que las de .

Se deduce que podemos ganar en resolucin, slo por la inmersin de la muestra
en lquidos de mayor ndice de refraccin, n, que el aire, pues no nos es posible
iluminar con mayores que adems sean perceptibles por el ojo humano.
No obstante, en la microscopa ptica suele emplearse distintos tipos de
iluminacin que la luz blanca, pues si bien no aportan mayor resolucin si
permiten facilitar la separacin de los incidentes observables. Citamos entre
ellos:
a) Campo oscuro.
b) Luz polarizada.
c) Tcnica de Nomarsky.
las que se desarrollarn en las experiencias con mayor profusin.
Por ltimo, el poder de resolucin del microscopio puede quedar limitado por el
propio poder de resolucin del ojo del observador, d0, que podemos fijar como
media de 0.15 mm. En efecto, el poder de resolucin del ojo, d 0, y la mxima
amplificacin, Am, del microscopio limita el poder de resolucin, d, hasta el valor
definido por la expresin:
d (mm) = 0.15 (mm)/Am

(3.3)

c) PROFUNDIDAD DE CAMPO, e, tambin denominada penetracin o resolucin

vertical del objetivo, es la capacidad de dar imgenes ntidamente enfocadas,
cuando la superficie del objeto no es completamente plana. La profundidad de
campo es inversamente proporcional a los aumentos propios del objetivo, M2, al
ndice de refraccin, n, del medio y al ngulo de semiabertura del objetivo, u, es
decir:
e = f(1/M2 n u)

(3.4)

2.3 MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO (MEB)

Hemos visto en el microscopio ptico las variables del poder de resolucin. Para
casos extremos del campo usual, n = 1.9, = 4000 y u = 72, llegamos a un
poder de resolucin mximo del orden de 0.15 micras.
Con el microscopio electrnico se puede aumentar el poder de resolucin
utilizando la onda asociada al haz corpuscular homocintico producido por los
electrones acelerados en un campo elctrico. La longitud de onda es:
h/m v
siendo:

h = la constante de Planck.

(3.5)

m = La masa del electrn.

v = su velocidad.
El valor de vara con la tensin de aceleracin electrnica aplicada. Para una
tensin de 50 KV, este valor es de 0.055 ; para una tensin de 100 KV es de
0.0387 , y cuando la tensin es de 106 voltios, caso excepcional, = 0.0123 .
El poder de resolucin viene limitado, sin embargo, por el pequeo valor de la
abertura del microscopio, impuesto por las aberraciones de las lentes
electrnicas. Puede alcanzar actualmente 5 e incluso 3 . Esta dbil abertura
proporciona al microscopio electrnico una gran profundidad de campo, que es
otra de sus ventajas frente al ptico.
Existen diferentes tipos de microscopios electrnicos, entre los que destacamos
el de transmisin, TEM, y el de barrido o scanning, MEB, SEM.

Figura 3.5. Esquema del microscopio electrnico y ptico.

En el microscopio de transmisin, el haz electrnico debe atravesar la probeta a

examen, lo que no es posible en las probetas metlicas normales.
Por contra, en el microscopio de barrido, usado en metalografa, la imagen es
reconstruida, punto por punto, sobre la pantalla de un oscilgrafo catdico, mientras el
objeto es barrido sincrnicamente por una sonda electrnica fina, con un dimetro
entre los 1000 y 100 . El brillo de la imagen del oscilgrafo viene graduado por una
seal constituida generalmente por electrones secundarios y retrodispersados. En la
figura 3.5 se observa la similitud funcional entre los microscopios ptico y electrnico.