Instituto de Fsica
Departamento de Fsica Nuclear e Altas Energias
Fsica IV Experimental
Roteiro das Experincias
o
1 semestre de 2015
Marcia Begalli
Sandro Fonseca
Helena Malbouisson
Andre Sznajder
Jorge Montalvo
Gerson Pech
Antnio Teixeira
Aluno:
Normas Gerais
ME =
F=
2
1 N p :r
X
i i
i
N =1
Prova prtica
Prova experimental composta por: sorteio de uma prtica onde o professor avalia se o aluno
capaz de:
1. Reproduzir o experimento fazendo a preparao adequada;
2. Elaborar a anlise de dados simplificada;
3. Entender, atravs dos conceitos fsicos, as medidas realizadas.
ii
Prtica n 1
Transformadores
1.1
Introduo
dt
Vp
V
= s;
Np Ns
V p Np
onde Vp, Vs so as tenses no primrio e no secundrio, respectivamente e N p, Ns o
nmero de espiras em cada um deles.
1.2
Objetivos
Estudar as propriedades dos transformadores.
Fonte de Tenso
Voltmetro
Cabos diversos
1.4 Procedimentos
1. Escolha dois solenides com diferentes nmeros de espiras;
2. Monte-os de maneira que ambos tenham um eixo comum, como mostra o
esquema da Fig. 1.1(a). Use como enrolamento primrio a bobina com menos
espiras (transfor-mador elevador);
3. Para alguns valores da tenso de entrada, mea as correspondentes tenses de sada, e
compare-os com os valores esperados pela relao de transformao de voltagens;
Figura 1.1: (a) Transformador com ncleo de ar; (b) Transformador com ncleo de ferro.
8. Para cada um dos casos medidos, faa um grfico V s vs. Vp em papel milimetrado;
9. Para os grficos com ncleo completo (transformadores elevador e abaixador),
deter-mine a correspondente relao entre nmero de espiras, N s=Np, usando o
mtodo dos mnimos quadrados.
1.5
Questes
Prtica n 2
Intensidade Luminosa
2.1
Introduo
Aqueles que se expem ao Sol para se bronzear podem observar que uma
onda eletromagntica pode transportar energia, transferindo esta energia a um corpo
sobre o qual incida. A taxa de energia transportada pela onda, por unidade de rea,
descrita pelo chamado vetor de Poynting:
onde
1 ~ ~
S=
E B
~
~
(2.1)
B representam os
B so perpendiculares entre si na
(2.2)
1 E2
S=
(onda plana)
c0
Analisando o vetor de Poynting associado a uma onda plana, vemos que este
oscila no tempo, com uma freqncia duas vezes maior do que a freqncia da onda
14
eletromagntica (' 10 Hz no caso da luz). Tal oscilao rpida demais para ser
percebida em laboratrio. Na prtica, chamamos de intensidade da onda ao valor
mdio S da grandeza varivel S. Podemos expressar a intensidade (I) em termos do
valor eficaz do campo eltrico, Erms, como:
I=S=
Erms
(onda plana)
c0
4
Figura 2.1: Uma fonte pontual envia ondas uniformemente em todas as direes
Se uma dada superfcie recebe luz proveniente de uma fonte, diz-se que esta
superfcie est iluminada. De modo anlogo ao vetor de Poynting, a intensidade
1
luminosa I observada em uma dada rea A, situada a uma distncia r da fonte de luz,
definido como a taxa de energia transportada (dU=dt) por unidade de rea (A):
dU=dt :
A
I=
Uma fonte pontual irradia luz isotropicamente em todas as direes. Tomandose uma superfcie esfrica de raio r centrada nesta fonte pontual, teremos uma
intensidade luminosa uniforme em qualquer ponto desta superfcie. Neste caso, a
intensidade em qualquer regio desta superfcie dada por:
I=
dU=dt
4 r2
(2.6)
Este resultado mostra que a intensidade da luz emitida por uma fonte pontual varia com
o inverso do quadrado da distncia em relao fonte.
Por simplicidade, o resultado acima foi demonstrado usando-se a hiptese de
isotropia da emisso de luz pela fonte pontual. Entretanto, o mesmo resultado pode ser
obtido sem esta hiptese simplificadora, sob determinadas condies. Como exemplo
de fonte no-isotrpica, vejamos a situao ilustrada na Fig. 2.2, no qual a rea
iluminada A no envolve a fonte completamente. A intensidade luminosa ser dada por,
I=
dU=dt ;
2
R
Quando se trata de luz visvel, o conceito de intensidade de luz deve ser tomado com cuidado, pois
tanto o olho humano como a maioria dos foto-sensores possui uma sensibilidade que varia
acentuadamente em funo da freqncia analisada. Eventualmente, outras grandezas fsicas so
definidas para o tratamento da radiao visvel, dentre as quais o iluminamento a que mais se
assemelha intensidade luminosa, da maneira como definimos. Para maiores detalhes, ver por exemplo
Dalton Gonalves, Fsica do Cientfico e do Vestibular, vol. 4, captulo 8.
Figura 2.2: Uma fonte envia ondas atravs de um feixe que se espalha sob a forma de
um cone com seo transversal circular.
onde R o raio da seo transversal de A. Como R = r tg teremos,
dU=dt 1 :
2
2
(tg ) r
Este fato nos mostra que, tanto no caso de fonte isotrpica como tambm no caso de
2
fonte anisotrpica, temos que I / 1=r . Ou seja, a intensidade da luz inversamente
proporcional ao quadrado da distncia entre fonte e observador. E isto que vamos
verificar experimen-talmente.
O mtodo que ser utilizado nesta experincia muito simples. Ele consiste na
medida da intensidade luminosa produzida por uma fonte de luz a diferentes distncias
da fonte. Medindo-se a intensidade luminosa I com o uso de um fotmetro, e variandose a distncia deste fonte luminosa, podemos determinar a relao entre estas duas
quantidades atravs de um grfico.
Para isso utilizaremos um fotmetro, colocado sobre um banco ptico com
escala graduada em centmetros, que mede a intensidade a diferentes distncias da
fonte. A luz incide sobre uma pequena ponta de prova, e transportada por meio de
uma fibra ptica at uma fotoclula localizada no interior do fotmetro.
I=
2.2
Objetivo
Material Utilizado
di
st
n
ci
a
m
banco ptico
suporte para
a ponta de
prova
nima ponto onde se
iniciaro as medidas
quanto na distncia
mxima ponto onde as
medidas terminam;
3. Use o fotmetro para medidas relativas . Em primeiro lugar, com o detetor distncia mnima, ou seja, mxima intensidade que ser observada, regule o seletor
de sensibilidade para o maior valor possvel, tal que o ponteiro permanea no
mximo da escala (10), utilizando para isso o boto de ajuste de sensibilidade;
4. Com cuidado, varie a distncia no intervalo determinado acima (entre a distncia
mxima e mnima) para que a tomada de dados de intensidade luminosa
possibilite uma verificao correta da lei de variao entre a intensidade e a
distncia. Ao medir a distncia entre fonte e detetor, lembre-se que a lmpada
no se encontra na posio zero da escala;
5. Mea pelo menos 15 pontos e no se esquea de anotar os error a cada medida.
Os intervalos no precisam ser constantes ao longo das medidas ( Sugesto:
entre 10,0 - 30,0 cm );
6. Faa um grfico de I r e outro de log I log r, ambos em papel milimetrado;
7. Determine atravs do grfico o coeficiente angular, que no caso o prprio expoente de
n
ento
log I = b n log r
3
Para realizar medidas absolutas de intensidade luminosa, devemos levar em conta a distribuio
espectral da fonte luminosa, alm de fazer com que a luz incida perpendicularmente, diretamente e de
maneira uniforme sobre toda a rea sensvel da fotoclula
3
Consulte o apndice sobre grficos em escala logartmica, ao final deste roteiro
2.5
Questes
Prtica n 3
Polarizao da Luz
Introduo
3.1
Ez = E cos ;
~
Hy = H sen ;
~
~
Ey = E sen ;
Hz = H cos :
(3.1)
~
fixas no tempo.
E H
que se propaga
na direo X.
Fi
gu
Na Fig. 3.2 representamos
ra
o plano de vibraes do campo
3.
1:
eltrico de uma onda que incide
O
sobre
um
polarizador.
A
nd
componente
transversal
a
absorvida pelo material. Logo, se
po
colocarmos
um
segundo
lar
polarizador
(analisador)
na
iza
trajetria do raio luminoso (veja
da
Figura 3.2: Decomposio do vetor campo eltrico de uma onda eletromagntica que
incide sobre um polarizador.
o
Fig. 3.3), poderemos observar que existem duas posies, defasadas entre si de 180 ,
para as quais quase toda a radiao proveniente do polarizador (P 1) atravessa o analisador
(P2). Isto significa que as direes dos eixos de polarizao de P 1 e de P2 esto em
paralelo. Existem outras duas posies para as quais a intensidade da luz transmitida
o
atravs do analisador quase se anula. Essas posies esto defasadas entre si de 180 e
correspondem situao de transversalidade entre os eixos de polarizao de P 1 e de P2.
Figura 3.3: Raio luminoso que parte da fonte F e incide sobre dois polarizadores
A amplitude da luz que atravessa P 2 Em cos , onde Em a amplitude da luz
plano polarizada que atinge P 2 e o ngulo entre o vetor campo eltrico e o eixo de
polarizao. A intensidade I de um feixe luminoso dada por
2
I / A = Em cos
de onde podemos escrever
I = Im cos ;
onde Im a intensidade mxima da luz transmitida. Podemos verificar ento que a
o
condio de paralelismo dos eixos de polarizao de P 1 e de P2 corresponde a = 0 e a
o
o
o
= 180 (intensidade transmitida mxima) e a de transversalidade a = 90 e a = 270
(intensidade transmitida mnima). A expresso (1) conhecida como lei de Malus.
10
3.2
Objetivos da Experincia
Estudar o fenmeno da polarizao de luz, e verificar a lei de Malus;
3.3
Material Utilizado
b
a
n
t
e
p
a
r
o
p
t
i
c
o
o
e
x
p
o
n
h
a
o
s
o
l
h
o
s
a
o
feixe deo
LASER.qua
Mantenha o
litat
nvel dos olhos
iva
CUIDADO!
sempre acima
do planoda
horizontalLei
do
feixe. de
Mal
us
Pro
ce
di
me
nto
Ex
per
im
ent
al
Veri
fica
1. C
o
m
b
a
s
e
n
a
Fi
g.
3.
3,
m
o
nt
e
suporte da
ponta de
prova
3
suportes
o esquema para a
verificao da lei de
Malus. Use a fonte
laser e, no lugar da
fotoclula, use um
anteparo;
2. Coloque inicialmente o
polarizador
e
o
analisador com seus
eixos de polarizao
em paralelo;
3. Ligue a fonte de luz,
gire gradativamente o
analisador e observe a
variao da intensidade
da
luz
no
anteparo;
4. A
seguir, coloque o
polarizador e analisador
em
condio
de
ortogonalidade, isto ,
com seus eixos de
polarizao defasados de
o
90 . Observe que no h
transmisso de luz ao
anteparo. Coloque ento
um segundo polarizador
imediatamente aps o
primeiro,
fazendo5.
com este um ngulo
o
de 45 . Observe se
h luz transmitida ao
anteparo.
A
s
e
g
ui
r,
gi
re
gr
a
d
at
iv
a
mente de 360
o
segundo polarizador,
observando
a
luz
incidente no anteparo.
Interprete
os
fenmenos
observados.
1
1
3.4.2
Questes
12
Prtica n 4
Reflexo
4.1
Introduo
Exceto quando olhamos diretamente para uma fonte luminosa, toda a luz que chega
aos nossos olhos o faz aps ter sido refletida por algum corpo material. Para um estudo do
fenmeno de reflexo deve-se inicialmente classificar as superfcies dos corpos onde a luz
incide como refletoras (quando polidas) e difusoras (quando no polidas). Nas superfcies no
polidas a reflexo dita difusa, pois a luz que incide sobre tais superfcies refletida em vrias
direes. Uma pequena regio de uma superfcie no polida, quando iluminada pode ser vista
de vrias direes. Se a superfcie polida, a reflexo dita dirigida ou especular.
Se as dimenses usadas no experimento so suficientemente grandes quando comparadas ao comprimento de onda da luz, de modo que podemos desprezar efeitos de difrao, nesse
caso as ondas se comportam, com boa aproximao, como se viajassem em linha reta. Este caso
especial do comportamento das ondas luminosas tratado pela ptica geomtrica.
k k k com
relao direo da reta N normal superfcie AB. As direes destes trs vetores so
relacionadas pelas seguintes leis (verificadas experimentalmente):
i) As direes de incidncia, refrao e reflexo esto todas em um mesmo
plano, o qual normal superfcie que separa os dois meios e, portanto, contm a
normal N superfcie.
1
Apesar de descrita nesta introduo, o fenmeno da refrao ser estudado com mais detalhes
apenas na prxima prtica.
13
= :
= n21:
sen r
A constante n21 chamada de ndice de refrao do meio 2 em relao ao meio 1. Seu valor
numrico depende da natureza da onda e das propriedades dos dois meios. Fica como
exerccio mostrar que n21 = n2 , onde n1 e n2 so os ndices de refrao dos meios 1 e 2
n1
respectivamente.
onde
o ngulo de reflexo e
+r=2;
n1 sen r = n2 sen r;
onde n1 o ndice de refrao do meio 1, de onde parte o raio luminoso, e n2 o do meio 2.
Ento temos
0
n1 sen r = n2 sen 2
= n2 cos r ;
14
n2
n;
que a lei de Brewster. Esta lei permite ento determinar experimentalmente o ndice
de refrao do material.
4.2 Objetivos
Verificar a lei de reflexo;
Verificar o fenmeno da polarizao por reflexo;
Medir o ndice de refrao de alguns materiais, usando a Lei de Brewster.
15
4.4
Procedimento Experimental
CUIDADO!
No exponha os olhos ao feixe de LASER. Mantenha
o nvel dos olhos sempre acima do plano horizontal do feixe.
4.4.1
Lei da Reflexo
6. Ajuste o espelho de forma que para i = 0 , a luz refletida pelo espelho coincida
com a direo do feixe emitido pelo laser;
o
16
Lei de Brewster
Questes
particular?
8. Por que vemos dois pontos refletidos no anteparo quando estamos fazendo as
medidas para o ngulo de Brewster?
9. Como determinamos a correta orientao do eixo de transmisso do polarizador,
para que possamos encontrar o ngulo de Brewster?
18
Prtica n 5
Refrao
5.1
Introduo
O fenmeno da refrao foi brevemente descrito na introduo da prtica anterior.
5.2
Objetivos
Material Utilizado
fonte laser
anteparo com escala
banco ptico
placa de acrlico
mesa giratria
suporte (mesa)
5.4
placa de vidro
Procedimento Experimental
CUIDADO:
No exponha os olhos ao feixe de LASER.
Mantenha o nvel dos olhos sempre acima do
plano horizontal do feixe.
21
2. Coloque a escala no brao da mesa de modo que ela fique paralela placa de acrlico;
3. Ligue a fonte laser, fazendo o ponto luminoso coincidir com um ponto de referncia
o
na escala (por exemplo, o 2), enquanto o brao giratrio est na posio de 180 ;
o
Questes
d0
t
utilizada no 4 mtodo.
(graus) nacr = f( i)
+ 0:5
nacr = f( i )
22
7. Com base nos resultados do item anterior, qual o mtodo mais acurado e o
menos acurado para a determinao de ndices de refrao?
23
Prtica n 6
Interferncia de Luz
6.1
Introduo
Figura 6.1: Ondas de gua, provenientes de duas fontes pontuais. Observe a figura de
interferncia que se forma na superfcie da gua.
No arranjo usado por Young para produzir o fenmeno de interferncia, um anteparo
colocado distncia D paralelamente s fendas. Se a separao d das fontes S 1 e S2
pequena comparada com a distncia D, podemos desprezar a pequena diferena entre r 1 e r2 e
tomar as amplitudes E01 e E02 como sendo praticamente iguais. Neste caso podemos reescrever a forma da amplitude da onda resultante no ponto P como:
1
2
E = 2E01 (1 + cos )
2:
2
=
2
(r1
r2) =
d sen
2 dy
D :
A aproximao implcita pelo sinal corresponde hiptese de que y D, que pode ou no ser
verdadeira em laboratrio. Note que d sempre muito menor do que D, ou mesmo y.
25
d sen
2
dy
D !;
onde I0 a intensidade para = 0. Esta distribuio de intensidade tal que os pontos
de mxima intensidade correspondem a
I = I0 cos
d sen
=n
I0 cos2
d sen = n
ou
(6.1)
D
d
( pequeno!):
(6.2)
Este , na
realidade, um dos mtodos padro para a medida de comprimentos de onda. Deve-se contudo
ter o cuidado de no a eq. (6.2) quando a condio y D no for satisfeita, o que geralmente
ocorre quando usamos as redes de difrao. Nestes casos, devemos substituir a expresso
sen n =
yn
26
D + yn
Objetivos
Material Utilizado
fonte LASER banco ptico
fendas duplas
lentes convergentes lmina de vidro
caminh
6.4
6.4.1
Procedimentos
Interferncia
usando
luz
monocromtica
(LASER)
do
suportes
anteparo
(folha
branca) rgua
trena
de
int
franjas consecutivas;
feixe,
erf
de
er
tal
forma
que
cia
ambas
as
Es
fendas
col
CUID sejam
ADO: ilumina
ha
das de
forma
simtri
dis
ca;
2. Prenda
nci
N
o exponha os
olhos ao feixe
de LASER.
Mantenha o
nvel dos olhos
sempre acima
do plano
horizontal do
uma
branca
feixe. no
antepa
ro,
qu
e
fa
cili
te
para
observ
ar
a
D
folha
padro
a
m
ed
3. Marque no anteparo, os
pontos
de
mximo
(contidos
no
primeiro
mximo
de
difrao).
Mea com uma rgua, a
distncia entre o primeiro
e o ltimo ponto que voc
mar-cou. Divida ento
pelo nmero de intervalos
contidos entre estes dois
pontos, para determinar o
valor de y.
4. Mea a distncia D e
determine o comprimento
de onda do feixe de
LASER, de acordo com a
eq. (6.2) da seo 6.1;
5. Repita
os
passos
anteriores para diferentes
separaes d entre as
fendas;
6. Obtenha o valor mdio
encontrado
para
o
comprimento de onda , e
compare com o valor
terico, teo = 632,8 nm.
6.4.2
Questes
28
Prtica n 7
Difrao
7.1
Introduo
Esta prtica ser constituida de duas partes. Na prtica anterior vimos como a
luz se comporta quando passa atravs de duas fendas muito estreitas (aberturas da
ordem de seu comprimento de onda, ou menor), de forma que cada fenda possa ser
considerada uma fonte pontual de luz.
A difrao observvel quando uma onda deformada por um obstculo que tem
di-menses comparveis ao comprimento de onda da mesma. O obstculo pode ser um
anteparo com uma pequena abertura, ou fenda, que permite a passagem de somente uma
pequena frao da frente de onda; ou pode ser um pequeno objeto, tal como um fio ou um
pequeno disco, que bloqueia a passagem de uma pequena parte da frente de onda.
Quando olhamos a figura que se forma, a difrao se parece muito com a
interferncia e muitos livros chegam a misturar os dois fenmenos, j que na vida real
quase sempre os observamos ao mesmo tempo. A diferena entre os dois fenmenos
que na interferncia desprezamos a largura de cada uma das fendas enquanto que na
difrao a largura estre-ita da fenda a responsvel pelo fenmeno. So as bordas da
fenda (ou do obstculo) que deformam a onda.
Vamos considerar uma fenda estreita e comprida o suficiente para que as
deformaes causadas pelas bordas superior e inferior possam ser desprezadas. Vamos
supor que as ondas incidentes so perpendiculares fenda. Quando a onda incidente
chega fenda, todos os pontos de seu plano tornam-se fontes de ondas secundrias
sncronas, emitindo novas ondas (chamadas, neste caso, de ondas difratadas). Podemos
ento considerar cada uma das bordas laterais da fenda como uma fonte pontual e a onda
que passa pelo centro da fenda, e que no sofreu nenhuma alterao, como sendo uma
terceira fonte pontual. Para obtermos a figura de difrao, somamos a onda deformada por
uma das laterais onda intacta que passa pelo centro da fenda, levando em conta que a
distncia entre elas de a=2. Para que haja uma composio destrutiva entre elas,
deveremos ter uma diferena de fase, ou diferena de percurso, igual a meio comprimento
de onda. Observando a figura 7.1 vemos ento que a relao para os mnimos ser:
a=2 sen = m =2:
Desta forma temos as seguintes relaes de mximos e mnimos para a figura de difrao a
29
(mnimos)a sen = n + 1
(mximos)
(7.2)
2
onde n um inteiro positivo ou negativo, diferente de zero, a a largura da fenda, o
comprimento de onda da onda incidente e o ngulo entre a direo perpedicular
fenda e o ponto onde estamos observando a luz.
Figura 7.1: Esquema da passagem de uma onda de luz atravs de uma fenda estreita.
A soma dos vetores campo eltrico de cada onda gerada pelas fontes
consideradas pontuais, fornece a intensidade da luz que ser observada nas diferentes
direes. Este clculo similar ao que fizemos para a interferncia, sendo porm um
pouco mais trabalhoso. De-talhes deste, bem como explicaes mais detalhadas sobre
a teoria do fenmeno de difrao, podem ser vistos no Captulo 41 do livro
Fundamentos da Fsica de Halliday, Resnick & Walker ou no Captulo 23 do livro Fsica
um Curso Universitrio de Alonso & Finn. O resultado obtido :
sen
I = Im
;
onde Im a intensidade mxima e relacionado com atravs de
a
(7.3)
(7.4)
=
sen :
Veja que a intensidade proporcional ao seno do ngulo de observao ,
deixando claro que teremos pontos onde ela ser zero, ou seja, mnima. Como na
interferncia, temos pontos iluminados onde nenhuma luz observada.
30
Vamos agora considerar duas fendas, cada uma com largura a e separadas por uma
distncia d. Para uma direo dada pelo ngulo , temos dois conjuntos de ondas difratadas. Em
outras palavras, combinamos processos de difrao e de interferncia, e o resultado uma
figura de mximos e mnimos onde os mximos de interferncia, so modulados pela figura de
difrao. A intensidade dos pontos observados descrita pelo grfico da Fig. 7.2.
muito mais estreitas e menos espaadas do que as produzidas por uma nica fenda.
A relao sen = m( =a) exatamente a mesma que tnhamos para o caso da luz
ser difratada por uma nica fenda. Isto ocorre porque podemos dividir a fenda nica
pela metade; dividir cada metade em duas partes; e assim por diante. Assim teremos a
seguinte relao para os mnimos de difrao:
a
2m
sen = =2:
Preste ateno: A interferncia depende unicamente da distncia d entre as fendas, enquanto que a
difrao depende unicamente da largura a da fenda.
31
7.2
Objetivo
banco ptico
2 suportes
anteparo
rgua
fio de cabelo
trena
7.4 Procedimentos
O mtodo a ser utilizado nesta experincia consiste em estudar o comportamento
da luz quando esta passa atravs de fendas e obstculos de geometria simples.
Primeira Parte:
1. Determinao da largura de uma fenda muito estreita
Monte a fonte LASER sobre o banco e o dispositivo de fenda nica, posicionando
aquela mais estreita de forma que o feixe luminoso a atinja perpendicularmente. Por
meio de um anteparo, observe a figura de difrao que formada.
Cor
Violeta
Azul
Verde
Amarelo
Laranja
Vermelho
7.5
(nm)
390 - 455
455 - 492
492 - 577
577 - 597
597 - 622
622 - 780
Questes
34
Prtica n 8
Espectroscopia
8.1
Introduo
1
x = dsen ;
35
' = 2x =
2 dsen :
(8.5)
A Fig. 8.3 ilustra o que ocorre quando o espectro atmico de emisso analisado por uma rede
de difrao. A natureza discreta desses espectros um fato que no pode ser explicado pela
Fsica Clssica. Esse foi, na verdade, um dos resultados experimentais que levaram a
mudanas radicais nos conceitos da Fsica no final do sculo passado e incio deste, e que
culminaram com o nascimento da Mecnica Quntica. Os detalhes dessa teoria, que explica
com sucesso os fenmenos da estrutura microscpica da matria, somente podero
36
ser vistos nas disciplinas de Estrutura da Matria e de Mecnica Quntica, que fazem
parte apenas do currculo dos cursos de Fsica. Aqui apresentaremos muito
resumidamente apenas os resultados pertinentes. Na bibliografia relacionamos alguns
textos introdutrios sobre o assunto.
=R
n ;
e
(8.7)
3 :
ch
Aqui, e a carga do eltron, c a velocidade da luz, h a constante de Planck e a
massa reduzida do sistema eltron-prton definida como
R=2
memp
mp + m e
onde me a massa do eltron e mp a massa do prton.
Em 1906 Lyman descobriu outra srie do tomo de hidrognio anloga de Balmer na
regio do ultravioleta. Paschen descobriu uma terceira em 1909. Essas sries espectrais
aparecem na Fig. 8.1. possvel represent-las todas atravs de uma generalizao da
1
=R
nf
1
ni2 ! ;
(8.9)
Raia
()
Intensidade Relativa
violeta
violeta
azul-violeta
turqueza
verde
amarela
amarela
4046,6
4077,8
4358,3
4916,0
5460,7
5769,6
5790,7
mdia
fraca
forte
fraca
forte
forte
forte
38
de onda dos espectros do hlio e do mercrio, respectivamente, que sero usados para
calibrar um espectroscpio, o qual servir depois para determinar a constante de
Rydberg atravs da observao do espectro do hidrognio. A Fig. 8.4 mostra as
posies das linhas do espectro desses elementos na regio visvel.
Raia
()
Intensidade Relativa
violeta
violeta
violeta
azul-violeta
azul-escura
azul
azul-esverdeada
verde
amarela
vermelha
vermelha
3889
3965
4026
4388
4471
4713
4922
5015
5876
6678
7065
fraca
fraca
fraca
fraca
forte
mdia
mdia
forte
forte
forte
fraca
Tabela 9.2: Comprimentos de onda para algumas raias espectrais do hlio. Algumas
raias no so visveis a olho nu.
8.2
Objetivos
Material Utilizado
Espectroscpio
Rede de difrao
39
Ateno:
As redes de difrao so muito delicadas e suas superfcies no podem
ser tocadas em nenhuma hiptese. Da mesma forma, manipule com
muito cuidado as lmpadas. Elas so tubos de descarga muito frgeis, e
operam em altas voltagens.
8.4
Procedimento Experimental
Questes
41
Apndice A
Propagao de erros
Vejamos a importncia do erro cometido em cada uma de nossas medidas
experi-mentais, e seu efeito no resultado final.
Como vimos, a relao carga-massa do eltron determinada a partir das medidas
da tenso V de acelerao dos eltrons, da corrente eltrica I atravs das bobinas de
Helmholtz, e do raio r da rbita dos eltrons. Alm destas, vamos assumir tambm que
exista um erro associado medida do raio mdio R das bobinas de Helmholtz e da
distncia A entre elas (sem esquecer que, em nosso caso, tomamos A = R).
A partir da eq.(??), e definindo e=m, temos que:
d
dV
dR
=V +2R 2
dI
I 2
dr
r
= V !2+4 2 R
V
!2
+ I !2 + r !
I
42
Ap^endice A
Grficos com Escala Logartmica
Funes exponenciais
11
N = N0e
ax
1h
(ax)
ln(y) = ln A e
i
h
= lnA + ln e
(ax)
ou ainda,
ln(y) = a x + lnA
que equivalente equao linear
0
y =m x+b
1
e =2,71828...
43
1= log A + log e
(ax)
y y y
= 2 1:x
x2 x1
Em um grfico semi-log, o coeficiente angular da reta dado por:
log(y)
x
Devemos ento calcular explcitamente os logaritmos dos valores da ordenada, nos
pontos y1 e y2, para determinar o coeficiente angular de interesse.
log(y2) log(y1)
log(y)
=
x2 x1
x
12
Funo Potncia
log(y) = log [a x ]
1= log(a) + n log(x)
Plotando ento os dados em um papel de escala grfica logartmica, a constante
n, pode ser determinada facilmente. Note que neste caso, ambos os eixos coordenados
possuem a escala logartmica e por isto chamado papel grfico log-log ou di-log.
Outra vez, as graduaesnos eixos automaticamente tomam os logaritmos de x i e yi.
45
Ap^endice B
Mtodo dos mnimos quadrados
Suponha que, em uma experincia, sejam medidos N valores x i e yi. Em fsica
experimental, geralmente conveniente determinar uma funo terica que represente, o
mais fielmente possvel, o conjunto de dados experimentais. No podemos simplesmente
unir os pontos obtidos ou traar uma curva que julgamos ser a que melhor se ajusta aos
dados exper-imentais em questo. Devemos usar uma tcnica que independa de critrios
pessoais na determinao da funo representativa dos dados experimentais.
Uma tcnica de ajuste de dados, de uso frequente em fsica, o chamado mtodo
dos mnimos quadrados. Esta tcnica aplicvel a diversos tipos de distribuio, seja
ela linear, polinomial, exponencial, ... . Em nossa anlise, nos restrigiremos ao caso
mais simples, isto , suporemos que nossa distribuio seja caracterizada por um
comportamento linear.
0
onde a reta intercepta o eixo y ) so obtidas por meio de anlise probabilstica e clculo
0
m = M
xx
e
1
b0 = N
=1
yi m
0
i=1
xi
onde
1
N
M =
xy
x y
i=1
i
N
Mxx = xi
=1
Xi
46
i =1
xi
1
N
xi
N
=1
Xi
i=1
y!
Exerccios
1. Com base nos dados fornecidos na tabela abaixo, execute os seguintes procedimentos:
Plote os dados xi e yi em papel milimetrado, trace a reta que voc julga que
melhor se ajuste a estes dados e calcule os coeficientes linear e angular.
Agora, utilizando o mtodo dos mnimos quadrados, determine a equao da
reta representativa dos dados.
Compare os coeficientes angular e linear obtidos nos dois itens precedentes.
xi
12
28
47
70
16
53
72
38
yi
25
44
78
80
43
58
95
67
xi
47
xi yi
Bibliografia
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Tcnicos e Cientficos Editora S.A., 1995.
[3] D. Halliday & R. Resnick, Fsica, volume IV, Livros Tcnicos e Cientficos Editora S.A.
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[5] F. Weston Sears, ptica, 1956.
[6] F. Weston Sears, Eletricidade e Magnetismo, Ao Livro Tcnico S.A., 1967.
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48