Oleh:
Yunita Subarwanti
S911408008
semakin
berkembang.
Misalnya
untuk
alat
kedokteran,
dan
yang
lain
akan
mengalami
interferensi
destruktif
Gambar 2
Difraksi sinar X yang terjadi pada atom-atom A dan B yang terpisah jarak d,
dianggap bahwa dua berkas 1 dan 2 bersifat parallel, monokromatik dan
koheren dengan panjang gelombang datang pada bidang dengan sudut .
Jika kedua berkas terdifraksi oleh atom P dan Q menjadi 1 dan 2 masingmasing membentuk sudut terhadap bidang, perbedaan panjang antara 1-P-1
dengan 2-Q-2 adalah n kali panjang gelombang, maka persamaan difraksi
menurut Bragg adalah:
n = SP + RP atau
n = d sin + d sin = 2 d sin
(1)
(2)
(a)
(b)
Gambar 3. a. Skema Analisis XRD, b. Alat XRD.
C. Informasi yang Diperoleh dari XRD
Hasil analisis XRD berupa diagram puncak-puncak intensitas berdasarkan
hamburan berkas sinar X terhadap 2 yang ditunjukkan Gambar 4.
(a)
(b)
Gambar 4. Hasil Analisis XRD: (a) Pola Difraksi Kristal. (b) Pola Difraksi Kristal dan
Amorf.
Hasil analisis menggunakan berkas monokromatis akan memberikan hasil
seperti Gambar 4. Setiap puncak intensitas difraksi untuk setiap sudut difraksi
mewakili bidang-bidang kisi kristal yang mendifraksi sinar X yang datang
pada kristal. Berdasarkan pola difraksi yang diperoleh akan memebrikan
informasi struktur sistem kristal, parameter kisi, identifikasi campuran,
transisi fase, dan ukuran kristal. Ukuran kristalin ditentukan oleh pelebaran
puncak difraksi yang muncul. Berdasarkan metode Scherrer, makin kecil
ukuran kristal maka makin lebar puncak difraksi yang dihasilkan seperti pada
Gambar 4 (b). Sedangkan Gambar 4 (a) menunjukkan bahwa ukuran kristal
besar karna puncak difraksi yang dihasilkan mendekati sebuah garis vertikal.
Puncak difraksi yang lebih tinggi (intensitasnya kuat) memberikan informasi
bahwa semakin banyak bidang kristal yang terdapat di dalam sampel. Gambar
4 (a) merupakan hasil XRD yang menunjukkan bahwa sampel memiliki
banyak bidang kristal dengan struktur kristal yang teratur dan ukuran kristal
yang lebar, informasi tersebut berdasarkan puncak intensitas yang terbentuk.
Sedangkan Gambar 4 (b) puncak yang dihasilkan beragam dan terdapat
daerah yang memiliki puncak sangat rendah. Hal tersebut memberikan
informasi bahwa sampel terdiri atas polikristal dengan ukuran kristal yang
beragam. Untuk daerah dengan puncak yang rendahdan tidak beraturan
menunjukkan kristal tersebut merupakan kristal amorf (susunannya tidak
beraturan). Jadi, untuk mengetahui struktur suatu kristal diperlukan analisis
XRD. Hasil XRD membawa informasi berupa puncak-puncak intensitas, jika
sampel mempunyai struktur kristal yang teratur maka puncak yang dihasilkan
tinggi. Sedangkan hasil XRD dari kristal amorf tidak memiliki puncakpuncak intensitas yang teratur.
DAFTAR PUSTAKA
Jamaluddin. 2010. XRD (X-Ray Diffractions). Makalah Fisika Material.
Universitas Haluoleo. Kendari.
Manurung, P dan Sembiring, S. 2010. Instrumentasi Mesin XRD dan Cara
Koleksi Data. Unila. Bandar Lampung.
Subagja, B. 2011. Pengaruh Variasi Persen Berat Bi dan Pemberian Tekanan
pada Parameter Kisi dan Ukuran Kristal Sistem Material Sn-Cu-Bi dan
Sn-Cu (skripsi). Universitas Indonesia. Depok.