GaldianoEderdosSantos M

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
FACULDADE DE ENGENHARIA MECNICA

COMISSO DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA MECNICA
Contribuio ao Estudo de um Medidor NoInvasivo da Espessura da Camada de

gua em um Escoamento Anular leo-gua
Autor: der dos Santos Galdiano

Orientador: Prof. Leonardo Goldstein Jnior
Co-orientador: Prof. Emerson dos Reis
32/2010

DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA TRMICA E DE FLUDOS

gua em um Escoamento Anular leogua
Curso: Engenharia Mecnica

rea de Concentrao: Trmica e Fludos
Dissertao de mestrado acadmico apresentada comisso de Ps Graduao em

Engenharia Mecnica, como requisito para a obteno do ttulo de Mestre em Engenharia
Mecnica.
Campinas, 2010
SP Brasil
FICHA CATALOGRFICA ELABORADA PELA

BIBLIOTECA DA REA DE ENGENHARIA E ARQUITETURA - BAE - UNICAMP
G131c
Galdiano, Eder dos Santos

Contribuio ao estudo de um medidor no-invasivo
da espessura da camada de gua em um escoamento
anular leo-gua / Eder dos Santos Galdiano. -Campinas, SP: [s.n.], 2010.
Orientadores: Leonardo Goldstein Junior, Emerson
dos Reis.
Dissertao de Mestrado - Universidade Estadual de
Campinas, Faculdade de Engenharia Mecnica.
1. Detectores. 2. Escoamento bifsico. 3.
Capacitores. 4. Petrleos pesados. 5. Sondas
(Instrumentos eletrnicos). I. Goldstein Junior,
Leonardo. II. Reis, Emerson dos. III. Universidade
Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia
Mecnica. IV. Ttulo.
Ttulo em Ingls: Contribution to the study of a noninvasive probe for

measuring the water thickness in a core-annular flow
Palavras-chave em Ingls: Detectors, Two-phase flow, Capacitors, Heavy oil,
Probes (Electronic instruments)
rea de concentrao: Trmica e Fludos
Titulao: Mestre em Engenharia Mecnica
Banca examinadora: Eugnio Span Rosa, Oscar Mauricio Hernandez Rodriguez
Data da defesa: 22/01/2010
Programa de Ps Graduao: Engenharia Mecnica
ii

DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA TRMICA E DE FLUDOS
DISSERTAO DE MESTRADO

gua em um Escoamento Anular leogua
A banca examinadora composta pelos membros abaixo aprovou esta Dissertao:
Campinas, 22 de janeiro de 2010.
iii
Dedicatria
Dedico esta dissertao aos meus pais, Lzaro e Maria Lcia, aos meus irmos Fernanda e
Igor e minha querida Isabela.
iv
Agradecimentos
Agradeo ao Prof. Leonardo Goldstein e ao Prof. Emerson dos Reis pela oportunidade, pela
ateno e pelas ajudas com essa dissertao.
Aos meus pais, por me darem a vida e por sempre terem me ajudado. Aos meus irmos, que
sempre se dispuseram em me ajudar e por serem exemplares em dedicao e seriedade.
minha querida Isabela pelo nosso amor, nossa amizade e pelo nosso companheirismo.
Aos meus amigos Jorge Biazussi e Alexandre Buenos, pela grande amizade e pelas ajudas
com o mestrado.
Petrobras por fomentar o projeto que inclui essa dissertao.
Quem na fraqueza sabe ser bem

mais forte...
Z Ramalho
vi
Resumo
GALDIANO, der dos Santos, Contribuio ao Estudo de um Medidor No-Invasivo da
Espessura da Camada de gua em um Escoamento Anular leogua, Faculdade de Engenharia
Mecnica, Universidade Estadual de Campinas, 2010. 142 p. Dissertao (Mestrado).
Esse trabalho uma contribuio ao estudo de uma sonda no-intrusiva para medio da
espessura da camada anular de escoamentos bifsicos leo-gua core-flow. discutida a
construo do sensor capacitivo da sonda. Dela so avaliados o desempenho esttico, numa
bancada construda para este fim, e o dinmico na presena de escoamento numa bancada
existente no Laboratrio de Petrleo (LabPetro). Atravs dos testes estticos, foram obtidas
informaes sobre a resposta da sonda: formato da curva de resposta, sensibilidade, faixa de
medio, e estudou-se o efeito da condutividade da gua. Os dados experimentais foram
comparados com resultados de simulao numrica obtidos por outro autor. Nos testes
dinmicos, foi utilizada uma tcnica de medio da espessura da camada de gua atravs de
imagens de filmagens registradas do escoamento, sendo que estes dados foram comparados com
os obtidos com a sonda capacitiva, assim permitindo a avaliao do seu desempenho no
escoamento. Os resultados demonstram potencial do sistema proposto, mas tambm apontam
para a necessidade de novos estudos e aperfeioamentos.
Palavras Chave
- Sensor Capacitivo, Escoamento Anular leo-gua, Espessura da Camada de gua.
vii
Abstract
GALDIANO, Eder dos Santos, Contribution to the Study of a NonInvasive Probe for Measuring
the Water Thickness in a Core-annular Flow, 2010. 142 p. Dissertation (Master Degree in
Mechanical Engineering): Faculty of Mechanical Engineering, State University of Campinas,
Campinas.
This work is a contribution to the study of a non-intrusive probe for measurement of the
thickness of the water layer of a core-annular flow. A capacitive probe was built and its static
performance was evaluated from tests executed in a specially designed bench-scale apparatus. In
addition, evaluation of the dynamic performance was made possible from fluid-flow tests in a
multiphase flow loop. From the static tests information was obtained about the probe output:
shape of the produced response, sensitivity, range and the water electrical conductivity effect.
The experimental data were compared with results of a numerical simulation available from a
different author. In the dynamic tests the measurement technique used to obtain the thickness of
the annular water layer consisted of a sequence of photographic images from a fast camera. The
results were compared with those from the capacitive probe, allowing the evaluation of its
performance in the presence of fluid flow. The results demonstrate the potential of the considered
system, but they also point out to the necessity of new studies and development.
Key words
- Capacitive Probe, Core-Annular Flow, Water Thickness.
viii
ndice
Introduo
1.1 Motivao Pesquisa
1.2 Reviso da Literatura
1.2.1 Parmetros diretos e indiretos do escoamento leo gua em

tubulaes
1.2.2 Tcnicas com potencial de aplicao para medio direta no
escoamento anular
1.2.3 Medidores capacitivos
3
5
11
1.3 Objetivos
19
Medidor Capacitivo
20
2.1 Sonda Capacitiva da Espessura da Camada Anular de gua do Escoamento

leo gua
21
2.1.1 Sensor capacitivo

2.1.2 Transdutor de capacitncia
2.1.3 Core-Flow na bancada esttica
2.1.4 Determinao da incerteza da medida da espessura da camada anular
23
27
29
32
Bancadas de Testes Experimentais
34
3.1 Bancada para Testes Estticos
34
3.1.1 Componentes da bancada

3.1.2 Avaliao dos efeitos axiais do sensor capacitivo
3.1.3 Instrumentao
3.2 Bancada para Testes Dinmicos
36
38
39
42
3.2.1 Fluxograma do processo

3.2.2 Instrumentao
3.2.3 Tcnica tica
3.2.4 Medio da espessura da camada de gua atravs de imagens dos
escoamentos
3.3 Sistemas de Condicionamento de Sinais e Aquisio de Dados
Procedimento Experimental e de Reduo de Dados
ix
42
45
47
48
49
51
4.1 Procedimentos de Operao da Bancada de Testes Estticos

4.1.1 Partida da instalao
4.1.2 Avaliao do sensor capacitivo com o transdutor
4.1.3 Avaliao do sensor capacitivo com o Agilent LCR
4.1.4 Avaliao dos efeitos axiais
4.2 Procedimentos de Operao da Bancada de Testes Dinmicos
51
51
52
52
53
54

4.2.2 Sequncia dos procedimentos de testes
4.2.3 Calibrao e instalao da cmera
54
54
56
4.3 Anlise dos Sinais e Reduo dos Dados Experimentais
58
4.3.1 Bancada esttica

4.3.2 Para a bancada dinmica
4.3.3 Funo de converso das imagens em uma espessura
4.3.4 Caracterizao do escoamento nos testes dinmicos
Apresentao e Discusso dos Resultados
58
59
63
63
66
5.1 Introduo
66
5.2 Resultados dos Testes Estticos
67
5.2.1 Resposta da sonda em funo da espessura da camada anular de gua

5.2.2 Efeitos da distribuio axial da camada anular
5.3 Resultados dos Testes Dinmicos
68
78
80
5.3.1 Resposta da sonda em funo da espessura da camada de gua das

imagens
5.3.2 Utilizao da resposta esttica como mtodo de calibrao
81
82
Concluses e Sugestes
90
Anexos
99
1 Programa para Determinao das Espessuras da Camada Anular

2 Incerteza de Medio dos Tubos de Vidro e Cilindros
99
106
Apndice A
109
Medico de Permissividade Relativa Complexa e Suas Componentes em Emulses de

gua em leo A/O
109
Apndice B
131
Medico da Permissividade Relativa e do Fator de Dissipao de Materiais Slidos
131
Lista de figuras
Fig. 1.1 Escoamento anular leo - gua (JOSEPH, 2000)
Fig. 1.2 Medio atravs de tcnica fotogrfica (RODRIGUEZ; BANNWART, 2006).
Fig. 1.3 Medidor de espessura de filme de gua em escoamento anular ( BELT, 2007).
Fig. 1.4 Medidor de espessura de filme lquido (DAMSOHN; PRASSER, 2009).
Fig. 1.5 Capacitor com guardas (HAMMER, 2000).
Fig. 1.6 Escoamento vertical pistonado(esquerda) e anular (direita) (VERBERK et al.,
2000).
Fig. 1.7 Sensor capacitivo de espessura de filme em escoamento anular (MARSHALL;
TIDERMAN, 1972).
Fig. 1.8 Medidor capacitivo de espessura de filme em escoamento pistonado (MUSTAFA
et al., 1972).
Fig. 1.9 Ponte de corrente alternada (MARSHALL; TIEDERMAN, 1972).
Fig. 1.10 Circuito tipicamente imune capacitncias parasitas (HUANG et al., 1988).
Fig. 1.11 Detector de corrente.
Fig. 2.1 Efeitos da distoro do campo (SERWAY; JEWETT, 2006).
Fig. 2.2 Unidade de suporte Corte. Dim.: mm.
Fig. 2.3 Uma sonda capacitiva.
Fig. 2.4 Disposio do sensor no tubo.
Fig. 2.5 Corte nos eletrodos sensor e fonte.
Fig. 2.6 Eletrodos no tubo com respectiva fiao.
Fig. 2.7 Circuito eletrnico do transdutor (DOS REIS, 2003).
Fig. 3.1 Bancada de testes estticos. Corte na sonda, tarugo e ponteiras.
Fig. 3.2 Tarugo montado entre as ponteiras dentro do tubo de vidro.
Fig. 3.3 Anel para avaliao do efeito axial.
Fig. 3.4 Anel para avaliao dos efeitos axiais na medio montado no tarugo dentro do
vidro.
Fig. 3.5 Medidor LCR.
Fig. 3.6 Sequncia de imagens.
Fig. 3.7 Bancada de testes dinmicos.
Fig. 3.8 Bocal injetor (GRANZOTTO, 2008).
Fig. 3.9 Foto do bocal injetor.
Fig. 3.10 Termopar para medio da temperatura do fluido.
Fig. 3.11 Foto do medidor de espessura (da direita) capacitivo instalado com suportes.
Fig. 3.12 Foto da seo de medio com tcnica fotogrfica.
xi
2
8
10
11
13
13
14
15
16
18
18
20
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38
39
40
42
43
44
45
46
47
48
Fig. 3.13 Placa de aquisio de dados.

Fig. 3.14 Circuito para medio de corrente (DOS REIS, 2003).
Fig. 4.1 Motor e redutor para elevar o anel.
Fig. 4.2 Imagem com rgua e pontos selecionados a cada milmetro.
Fig. 4.3 Linearizao dos pontos para calibrao de uma imagem.
Fig. 4.4 Histograma para escolha da saturao.
Fig. 4.5 Tratamento de uma sequncia de imagens.
Fig. 5.1 Comparao entre o transdutor e o Agilent LCR.
Fig. 5.2 Resposta da sonda em funo da espessura da camada anular de gua.
Fig. 5.3 Sensibilidade da sonda para ambos os tipos de gua.
Fig. 5.4 Refrao do campo eltrico atravs da interface entre dois meios com diferentes
permissividades dieltricas (HAYT JR; BUCK, 2001).
Fig. 5.5 Resultados de simulao e experimentais com gua destilada.
Fig. 5.6 Resultados de simulao com permissividade dieltrica dos materiais igual a zero.
Fig. 5.7 Tenso transduzida no eletrodo sensor em vermelho (no desenho acima) em
funo da posio do anel com gua destilada.
Fig. 5.8 Tenso de sada mdia por espessura mdia da camada anular.
Fig. 5.9 Tenso mdia adimensional por espessura mdia da camada anular.
Fig. 5.10 Espessura pela tenso adimensional.
Fig. 5.11 Espessura mdia a partir da sonda pela espessura mdia das imagens para cada
teste.
Fig. 5.13 Espessura obtida com a sonda em comparao com a obtida das imagens no teste
3 do dia 3.
Fig. 5.14 Espectros de potncia - comparao com a obtida das imagens e com a sonda no
teste 3 do dia 3.
Fig. A.1 Medidor LCR.
Fig. A.2 DTF.
Fig. A.3 Termohigrmetro.
Fig. A.4 DTF.
Fig. A.5 DTF pronto para injeo do fluido.
Fig. A.6 Circuito equivalente ao do DTF.
Fig. A.7 Permissividade relativa complexa. Fonte: AGILENT (2008).
Fig. A.8 Campo eltrico entre placas paralelas. Fonte: ASTM (2004b).
Fig. A.9 Diagrama de defasagem. Fonte: ASTM (2004a).
Fig. A.10 Incerteza do DTF
Fig. A.11 Permissividade relativa vs. porcentual de gua em leo
Fig. B.1 Agilent LCR.
Fig. B.2 Dispositivo Testador de Dieletrico.
Fig. B.3 Placa A
Fig. B.4 Placa B
Fig. B.5 Termohigrmetro.
Fig. B.6 Micrmetro.
Fig. B.7 Amostras
Fig. B.8 Posio do DTD.
Fig. B.9 Circuito equivalente ao do DTD.
Fig. B.10 Diagrama de defasagem. Fonte: ASTM (2004a).
Fig. B.11 Capacitor com eletrodo de guarda
xii
49
50
53
57
58
61
62
67
68
69
71
75
76
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110
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132
132
133
133
134
134
135
138
139
140
142
Lista de tabelas
Tabela 2.1 Espessuras da camada e dimetros dos tarugos.
Tabela 4.1 Caracterizao do escoamento.
Tabela 5.1 Propriedades dieltricas dos materiais ( = 1).
Tabela 5.2 Informaes dos dados de espessura da camada de gua obtidos com a cmera.
Tabela 5.3 Informaes dos dados de espessura da camada de gua obtidos com a sonda.
Tabela 2.1 Medio dimetro interno dos tubos e externo dos tarugos.
Tabela A.1 Materiais amostrados.
Tabela A.2 Valores aplicados.
Tabela A.3 Capacitncias e resistncias para condio do DTF.
Tabela A.4 Incertezas relativas em Capacitncia e Resistncia paralelas.
Tabela A.5 Resultados em permissividades.
Tabela B.1 Valores aplicados.
Tabela B.2 Capacitncias e resistncias e incerteza do Medidor.
Tabela B.3 Espessuras das amostras e incertezas.
Tabela B.4 Permissividade, dissipao dieltrica e respectivas incertezas.
xiii
32
64
72
88
88
107
111
121
126
127
127
144
149
149
151
Nomenclatura
Letras Latinas
a dimenso caracterstica de um obstculo
A rea
As rea do sensor
B susceptncia
C capacitncia
d distncia entre os eletrodos fonte e sensor
D densidade fluxo eltrico ou fator de dissipao
Db dimetro da blindagem eletroesttica
De dimetro externo do tubo
Di dimetro interno do tubo
Dt dimetro do tarugo
E campo eltrico
f frequncia
e ngulo de separao dos eletrodos relao ao eixo
G condutncia
h razo de escorregamento
H frao de volume ou rea de uma fase num volume ou ar do tubo
I corrente
j unidade imaginria
P presso esttica
q densidade de carga superficial
Q vazo
R resistncia
S espessura da camada anular
t coeficiente de Student
u velocidade mdia
U incerteza do ajuste
V tenso
Vs tenso da fonte
x grau de emulso
X reatncia capacitiva
Xc reatncia capacitiva capacitor de comparao
xiv
[m]
[m]
[m]
[S]
[F]
[m]
[F] ou [-]
[m]
[m]
[m]
[m]
[N/C]
[Hz]
[]
[S]
[-]
[-]
[A]
[-]
[Pa]
[C/m]
[m3/s]
[]
[mm]
[-]
[m/s]
[mm]
[V]
[V]
[%]
[]
[]
Y admitncia
z erro relativo mdio
Z impedncia
[S]
[%]
[]
............................................................................................................................................................
Letras Gregas
sensibilidade
xy raiz da varincia num ajuste de uma curva para espessura
permissividade dieltrica
permissividade dieltrica relativa
tenso adimensional
capacitncia adimensional
comprimento de onda
condutividade eltrica
potencial eltrico
ngulo de envolvimento do eletrodo
velocidade angular
[V/mm]
[m]
[F/m]
[-]
[-]
[-]
[m]
[S/m]
[V]
[ ]
[rad/s]
............................................................................................................................................................
Superescritos
parte real
parte imaginria
* complexo
............................................................................................................................................................
Subscritos
0 vcuo
a gua
b blindagem ou bsica
c calibrao ou capacitivo
e externo ou experimental
f realimentao (feedback)
i interno
im imagens
in input (entrada)
m mdia, medida ou medio
max mxima
o leo, output (sada) ou open
p paralelo
r relativo
s sensor, sada, short (curto) ou srie
xv
son sonda
t tarugo, testador ou temperatura
T transversal
x medido
............................................................................................................................................................
Abreviaes
CA Corrente Alternada
CC Corrente Contnua
CCS Correlao Cruzada de Sinais
ddp diferena de potencial
DTD Dispositivo Testador de Dieltrico
DTF Dispositivo Testador de Fludo
ECT- Electrical Capacitance Tomography
EIT Electrical Impedance Tomography
INOX inoxidvel
LCR Indutncia, Capacitncia e Resistncia
PVC Cloreto de Polivinil
PSD Power Spectrum Density
PTFE - Politetrafluoretileno
rms root mean square
RSS Root Sum of Squares
USB Universal Serial Bus
............................................................................................................................................................
Siglas
CENPES - Centro de Pesquisas e Desenvolvimento
CT Centro de Tecnologia
FINEP Financiadora de Estudos e Projetos
LabPetro Laboratrio de Petrleo
PETROBRAS Petrleo Brasileiro S.A.
UNICAMP Universidade Estadual de Campinas
............................................................................................................................................................
xvi
Captulo 1
Introduo
Este trabalho visa o desenvolvimento de um sensor capacitivo e de um transdutor de sinal
para medio da espessura da camada anular de gua em um escoamento de leo viscoso com
gua no padro anular (core-annular flow). Ele envolve o desenvolvimento do sensor atravs da
sua operao em testes estticos, nos quais no h o escoamento efetivo dos fluidos, mas
mantido o padro anular leo gua na seo de teste.
O trabalho faz parte de um projeto suportado por um convnio do Petrleo Brasileiro S.A.
(PETROBRAS) e da Financiadora de Projetos e Estudos (FINEP) com a Universidade Estadual
de Campinas (UNICAMP). Outros membros da equipe avaliaram o comportamento dinmico do
sensor para a situao de escoamento, e ainda simularam, numericamente, o comportamento do
sensor.
1.1 Motivao Pesquisa
As reservas de leo pesado no mundo so estimadas em 4,6 trilhes de barris e sua

importncia tende a crescer medida que o leo leve consumido (BRIGGS et al., 1998 apud
RODRIGUEZ; BANNWART, 2008).
Existe, todavia, uma dificuldade em escoar leos pesados atravs de tubulaes, que so as
perdas de carga elevadas associadas ao escoamento, que crescem com a distncia do transporte e
com a vazo requerida. Uma instalao dimensionada para operar com tais diferenas de presso
pode ser invivel do ponto de vista econmico. considerado leo pesado o que possui
1
viscosidade prxima de 100 mPa s, ou acima. Uma tecnologia para extrair e fazer escoar esse
leo pesado consiste na mistura de gua com o leo de modo que a gua na tubulao se
mantenha nas regies de maior cisalhamento, ou seja, prxima da parede interna do tubo.
Segundo Joseph (2000), para o caso estudado por ele, a perda de carga nesse padro de
escoamento cerca de 100 vezes menor que a perda de carga caso se estivesse escoando o
mesmo volume de leo por unidade de tempo.
Uma vez conhecidas a vazo de leo e a de gua na entrada e o dimetro do tubo, pode-se
prever os possveis padres de escoamento na tubulao. Joseph et al.(1997) apresentaram
detalhadamente os padres obtidos em um escoamento leo gua, tanto na vertical quanto na
horizontal.
A Fig. 1.1 apresenta uma foto de um escoamento anular leo gua em uma tubulao de
vidro, com vazes de 1,02 10-3 m3/s de leo (16,2 gal/min) para 6,31 10-5 m3/s de gua (1
gal/min), ou seja, uma razo de 16,2 de leo para um de gua.
Fig. 1.1 Escoamento anular leo - gua (JOSEPH, 2000)
As instalaes para esse tipo de escoamento devem ser monitoradas e controladas, uma vez
que podem acontecer variaes de perda de carga pela aderncia de leo tubulao, bem como
variaes da velocidade das fases e, portanto, das vazes. O conhecimento das vazes usado no
ajuste do bombeamento de leo e gua para garantir a formao do anel de gua envolvente.
Um parmetro de interesse nesse escoamento a espessura da camada anular de gua. Pois,

a partir dela, e de consideraes de sua concentricidade, pode-se medir a frao de leo no tubo.
E ainda, se forem utilizados dois sensores deslocados ao longo do eixo do tubo, possvel
correlacionar seus sinais e medir a velocidade mdia da interface de leo e, com consideraes do
perfil de velocidade, determinar a vazo de leo.
Dentre esses fins, o presente trabalho tem como contribuio a participao no

desenvolvimento de um sensor capacitivo no-invasivo para medio direta de uma espessura da
camada de gua no escoamento anular leo gua.
1.2 Reviso da Literatura
A reviso da literatura compreende: (i) os trabalhos em que foram realizadas medies

diretas de parmetros do escoamento anular de leo pesado e gua, (ii) as tcnicas com potencial
de aplicao para medir a espessura da camada de gua desse escoamento, e (iii) os sensores
capacitivos para medio de espessura da camada de gua em tubos.
1.2.1 Parmetros diretos e indiretos do escoamento leo gua em tubulaes
comum a utilizao de tcnicas baseadas na medida da vazo de entrada de cada fase e

anlise visual do escoamento para obter parmetros de escoamentos bifsicos. Dessas tcnicas,
podem ser feitos mapas de padres caractersticos de cada escoamento. Os mapas so
apresentados contendo, tanto na abscissa quanto na ordenada, a vazo ou a velocidade superficial
de cada fase (definida como a razo da vazo pela rea da seo transversal do tubo), sendo que,
regies caracterizadas por diferentes regimes do escoamento, so delimitadas por diferentes
linhas de transio.
Os regimes de escoamento so caracterizados em funo do arranjo espacial das fases no
interior da tubulao, sendo que o prprio regime, como o anular, um dos parmetros do
escoamento que no medido, mas identificado por observaes a olho nu ou com filmadora ou
mquina fotogrfica.
Os parmetros de escoamentos bifsicos podem ser caracterizados em diretos e indiretos.

Os indiretos so aqueles calculados a partir de grandezas medidas previamente, por exemplo: a
partir das vazes ou das velocidades superficiais das fases separadas, so feitas estimativas da
frao volumtrica de cada de fase no tubo, suas velocidades mdias, perda de carga, etc. Joseph
et al. (1997), por exemplo, propuseram modelos, para clculo da perda de carga e da frao das
fases num trecho de tubulao, baseados nas velocidades superficiais delas e na viscosidade do
leo para o escoamento anular leo-gua.
Por outro lado, parmetros medidos diretamente, ou seja, por tcnicas que no dependem
da medio prvia das vazes ou qualquer outro parmetro do escoamento e cujos instrumentos
medem numa seo da tubulao com escoamento, so interessantes em termos industriais, pois
no necessrio que as vazes de cada fase sejam medidas separadamente, ou que sejam
separadas para isso. Por exemplo, quando invivel a instalao de medidores de vazo das fases
separadas num poo de extrao de petrleo. Tambm, para condies onde o escoamento no
pode ser interrompido para a medio de uma vazo ou qualquer outro parmetro, at porque isso
comprometeria a estabilidade do escoamento; e quando, por razes fiscais, h interesse na medida
da vazo de leo sendo extrado de um poo.
Para fins de controle do escoamento, os parmetros medidos diretamente tambm so de
maior interesse industrial.
Em ordem cronolgica, so apresentados os trabalhos que mediram diretamente parmetros

do escoamento anular leo-gua. Vale ressaltar que no foram encontrados trabalhos que
mediram diretamente a espessura da camada.
Hasson et al. (1970) utilizaram uma cmera filmadora analgica a uma taxa de 1250 a 2300
quadros/s e uma caixa de visualizao para medir a excentricidade do ncleo de leo de
escoamentos anulares horizontais tendo como parmetro a razo de densidades dos lquidos
imiscveis. Verificaram que a caixa de visualizao contendo Percloroetileno, que um lquido
com ndice de refrao da luz prximo do do vidro, eliminou as distores causadas pelo vidro na
luz.
Bannwart (1998) mediu a velocidade da interface do escoamento e um dimetro do ncleo

de leo utilizando uma cmera de alta velocidade. Comparou a velocidade mdia do leo obtida a
partir da vazo de entrada e do dimetro do ncleo de leo com a medida diretamente pela
cmera.
Rodriguez e Bannwart (2006) mediram a velocidade da interface de leo e a frao de leo

no tubo, ou holdup de leo, em um escoamento anular leo-gua usando uma cmera filmadora
de alta resoluo temporal (1000 quadros/s). Foi desenvolvido um modelo para, a partir das
variveis da medio, calcular o holdup de leo.
Rodriguez e Oliemans (2006) mediram a frao de leo no tubo em um escoamento leogua utilizando dois densitmetros de raios gama. A medida da frao de leo num volume do
escoamento atravs desse instrumento linear, o que permite calibr-lo para as condies limites
e obter as fraes intermedirias. As incertezas mximas na medio foram de 1 % do valor da
medida. Foram, tambm, considerados escoamentos com a tubulao inclinada de -5 a 5 com a
horizontal.
1.2.2 Tcnicas com potencial de aplicao para medio direta no escoamento anular
As tcnicas a serem consideradas para a medio direta de parmetros do escoamento

anular leo-gua devem ser, em princpio, no-invasivas no entram em contato com o fluido
, ou, pelo menos, no-intrusivas, ou seja, entram em contato com o fluido, mas no alteram as
linhas de corrente. Isso porque interferncias na seo do escoamento o perturbariam.
Respeitando-se a condio de no-intrusividade no escoamento, podem ser utilizados sinais

provenientes de sensores baseados em microondas, impedncia, ptica, ultra-som, raios X e raios
Gama.
Microondas
Leblond e Stepowski (1994) e Nyfors (2000) mostraram que podem ser desenvolvidos
tomgrafos no-intrusivos com a tecnologia de microondas, utilizando um mtodo de ressonncia
das ondas eletromagnticas confinadas numa cavidade.
Um tomgrafo um conjunto de emissores e receptores que podem ser combinados entre
si, cujos sinais eltricos medidos so utilizados para formao de uma imagem. Tambm, um
nico sensor pode ser utilizado para medio da espessura local de um filme de gua.
Hammer (2006b) esclareceu que, no sensor baseado na ressonncia, uma onda

eletromagntica emitida por uma antena (emissor) inserida numa cavidade metlica (blindagem
eletroesttica) que envolve o tubo (dieltrico) do escoamento. Essa onda se propaga pela
cavidade e tem frequncia de oscilao predominante relativa ao tamanho da cavidade e
propriedade dieltrica do material dentro do tubo. O circuito eltrico para medir com esse sensor
deve, assim, reconhecer a frequncia de ressonncia do sinal nesse sistema.
Segundo Leblond e Stepowski (1994), deve-se dimensionar a cavidade para alcanar uma
impedncia de propagao da onda eletromagntica que seja compatvel com a capacidade do
circuito de medio. Segundo os autores, a medida de uma cavidade pode ter uma incerteza de
at 6%.
Para Nyfors (2000), a incerteza de medio depende do fator de qualidade, que corresponde
razo da energia armazenada pela energia dissipada na cavidade em um ciclo, e dos materiais
utilizados. Obteve, entretanto, incertezas devidas a erros aleatrios de at 1% do valor medido.
Densitometria de raios gama e X
Segundo Johansen (2006), a atenuao de um feixe mono-energtico estreito e paralelo de

ftons de raios gama ou X baseada na atenuao de decaimento exponencial de Lambert e Beer.
Para condies de baixa energia, os ftons irradiados para um material so

majoritariamente absorvidos. J para condies de mdia energia, eles so principalmente
espalhados conforme a teoria de Compton e, para alta energia, formam pares.
Com uma fonte do istopo 137 do Csio, a radiao gama emitida da ordem de 662 keV,
onde um eV (eltron Volt) a energia (1.6022 10-19 J) requerida para mover um eltron atravs
de um potencial de 1V, e se enquadra para numa condio de mdia energia onde os ftons so
espalhados.
A tcnica chamada de densitometria porque a atenuao dos raios de acordo com a

densidade do material. No caso de um escoamento anular leo-gua, de modo geral, o leo tem
densidade prxima da da gua. Isso pode fazer com que as incertezas na medio sejam grandes,
devido mnima diferena de densidades, inviabilizando a utilizao dessa tcnica.
Pelo fato da maioria dos detectores operar em um modo de pulso, onde os ftons interagem
com o meio de deteco que os mede em perodos, deve existir, ento, um tempo mnimo de
exposio do material radiao. Isso faz com que o sistema faa uma mdia temporal da
densidade detectada do escoamento e, num caso onde as fraes das fases no tubo se alteram no
tempo, deve se levar em conta no projeto do medidor o perodo de deteco.
pticos
A medio com dispositivos pticos, tais como cmeras fotogrficas, pode ser feita quando
as fases escoando apresentem diferentes ndices de refrao da luz. O sistema de medio fica,
todavia, sujeito manuteno peridica para se fazer a limpeza da seo de viso.
Hurlburt e Newell (1995) realizaram medies de espessura da camada de gua em um

escoamento anular gs-lquido. Para medir a espessura, utilizaram uma cmera e uma fonte de luz
adjacente, tal que medida que a interface das fases se afasta do tubo a posio do feixe de luz
registrada na imagem da cmera se desloca linearmente.
Eles utilizaram dois pares de fotodiodos emissor e sensor, deslocados no eixo do
escoamento, para medio da velocidade das fases. Obtiveram incerteza de medio da espessura
7
de at 3%, e observaram que a medida pode variar no linearmente com o ngulo da interface
em relao ao eixo do tubo. Para variaes desse ngulo at 5 a incerteza de medio seria de at
20%.
Rodriguez e Bannwart (2006) mediram a frao de leo no tubo atravs de tcnica

fotogrfica. Consideraram que a distncia da linha central do tubo interface, num plano vertical
(da imagem) representasse o dimetro transversal de leo (hiptese de axisimetria). Mediram,
tambm, a velocidade da fase leo considerando o deslocamento das ondas entre os instantes
fotografados. Algumas imagens so apresentadas na Fig. 1.2.
Fig. 1.2 Medio atravs de tcnica fotogrfica (RODRIGUEZ; BANNWART,

2006).
Ultrasom
Segundo Dyakowski (2006), as tcnicas de ultrasom so baseadas na propagao acstica

de ondas mecnicas nos meios envolvidos. Deve-se escolher a frequncia de vibrao de acordo
com a dimenso caracterstica do obstculo (fase do escoamento) e da razo de impedncias de
propagao acstica de cada meio.
Quando uma onda encontra um obstculo, ela reflete e refrata espalhando em todas as
direes. As novas ondas (refletida e refratada) se encontram com as que no encontraram
obstculo distorcendo-as e nelas interferindo.
Se o tamanho do obstculo for muito maior que o comprimento de onda (), ou seja,
1, onde = 2/ e a dimenso caracterstica do obstculo, ento metade das ondas
sero espalhadas e outra metade se destri por interferncia, quando refletem e encontram as que
foram emitidas.
Para o caso em que o comprimento de onda bem maior que o obstculo, 1, a maior
parte das ondas ser refletida, segundo Morse e Ingard (1968) apud Dyakowski (2006), apenas
1/8 das ondas chega ao lado contrario de onde so emitidas, tomando-se como plano de simetria
um que passe pelo eixo do tubo e seja normal fonte de emisso das ondas .
Impedncia eltrica
Esse tipo de medidor , obrigatoriamente, invasivo. Um sinal em tenso senoidal aplicado

em um eletrodo (fonte) em contato com o fluido em escoamento, o que faz com que sejam
induzidas e, tambm, conduzidas correntes pelo fluido e detectadas em outro eletrodo (sensor) .
Segundo Cullivan e Williams (2006), para sinais de freqncias maiores que 1 kHz a
influncia da permissividade dieltrica diminuta e negligencivel, isso porque os eletrodos no
esto isolados da conduo de eltrons. Dessa forma, um medidor de corrente sem deteco de
fase mediria majoritariamente condutividade.
O limite da frequncia do sinal aplicado, entretanto, quando comeam a predominar
efeitos eletromagnticos.
George et al. (2000) utilizaram a tcnica EIT (Electrical Impedance Tomography) para
medio de fluidos multifsicos com sinal senoidal em uma frequncia de 100kHz. Alm da
frequncia do sinal, a geometria dos eletrodos e as propriedades dieltricas do meio tambm
influenciam no mdulo das componentes resistiva e reativa.
a) Condutivo
A tcnica de medio condutiva baseada na medida da corrente eltrica conduzida pelo

fluido quando sujeito a uma diferena de potencial eltrico. Esta tcnica invasiva e nointrusiva, pois o eletrodo tem que estar em contato com o fluido.
9
Belt (2007) desenvolveu um medidor, mostrado na Fig. 1.3, da espessura de filme de gua
com eletrodos condutivos, para um escoamento anular guaar. A preciso de medio desse
instrumento foi de at 12% da medida na faixa de 0 a 0,8 mm, para um dimetro de tubulao de
50 mm.
Fig. 1.3 Medidor de espessura de filme de gua em escoamento anular ( BELT,

2007).
No medidor da Fig. 1.3, existem 32 eletrodos sensores (igualmente espaados num

permetro transversal do tubo) e um eletrodo fonte em forma de anel montante dos sensores
(considerando que os fluidos do escoamento saem do tubo na figura). Tm-se, ento, vrios
conjuntos de fonte e sensor, que so eletricamente isolados de seus vizinhos por anis aterrados.
Para a transduo do sinal de cada sensor, o autor utilizou a mesma tcnica de deteco de
corrente utilizada nesse trabalho.
Damsohn e Prasser (2009) desenvolveram um medidor de espessura de filme lquido, do

tipo condutivo, de alta resoluo espacial. O medidor, apresentado na Fig. 1.4, mede espessuras
de at 0,8 mm e tem preciso de at 6,25% do valor da medida.
10
Fig. 1.4 Medidor de espessura de filme lquido (DAMSOHN; PRASSER,

2009).
Na Fig. 1.4, cada eletrodo um crculo metlico envolto por um circuferncia isolante
branca. A parte externa s circunferncia metlica e permanece eletricamente aterrada. Os
autores combinaram os eletrodos entre si, formando pares de fontes e sensores, medindo
espessuras menores e maiores, escolhendo-se um par mais prximo ou um mais distante.
Eles utilizaram transdutores do tipo corrente alternada (mesmo esquema de transduo
utilizado nesse trabalho), que sero revisados nesse captulo.
b) Capacitiva
Essa tcnica o objeto de estudo desse trabalho e apresentada, com mais detalhes, no
prximo subitem.
1.2.3 Medidores capacitivos
A medio com capacitores se baseia na carga que se acumula entre dois eletrodos ao longo
de um perodo em que exista variao da diferena de potencial entre eles. Se os dieltricos, ou
seja, os meios por onde esse potencial se distribui, forem tambm as fases de um escoamento,
ento a carga acumulada dever ser proporcional permissividade dieltrica dos meios, que a
propriedade do meio de se polarizar quando sujeito a uma diferena de potencial.
11
Para que se utilize um medidor capacitivo para um escoamento bifsico, por exemplo,
necessrio que as fases desse escoamento tenham permissividades dieltricas diferentes.
Os elementos desses medidores podem ser definidos da seguinte forma: i) eletrodo fonte ou
emissor o eletrodo que porta o sinal em tenso, o eletrodo sensor aquele que detecta o sinal;
ii) esses dois eletrodos mais os de guarda, que, de certa forma, influenciam na medida conforme
explicado no Captulo 2, formam um sensor; iii) o transdutor composto do sistema de gerao
do sinal para o eletrodo fonte e o sistema de deteco de corrente de polarizao no eletrodo
sensor; iv) e o medidor o sensor junto com seu transdutor.
A capacitncia de duas placas paralelas obtida pode ser equacionada da seguinte forma:
r 0 As
1.1
onde a permissividade relativa do meio e 0 a constante dieltrica(0 = 8,854

1012 /) no vcuo, a rea do sensor e d a distncia entre os eletrodos fonte e sensor. A
equao acima valida quando as linhas de campo eltrico, que so perpendiculares s linhas de
potencial, tm a forma como ilustrado na Fig. 1.5 entre o eletrodo fonte e o sensor.
V_
V-
- - - - - - - - - - - - - -- - - - - - - - - -
C
+ + + ++ + + + + + + + + ++ + + + + + + + + +
V+
12
Fig. 1.5 Capacitor com guardas (HAMMER, 2000).
Como as linhas de campo saem normais superfcie dos eletrodos, nas bordas, elas se
apresentam de forma no linear, como na Fig. 1.5. Para que esse efeito no seja contabilizado na
capacitncia medida no eletrodo sensor, usual que se monte eletrodos de guarda de forma a
deixar as linhas de campo eltrico no sensor colimadas. Assim, confina-se a regio de medio
para uma condio mais favorvel medio.
a) Sensores capacitivos para medio de uma espessura de camada anular
No foram encontrados na literatura precedentes na utilizao de medidores capacitivos
para a medio de parmetros no escoamento anular leo gua. Porm, alguns pesquisadores
utilizaram essa tcnica para medio da espessura de filme lquido em escoamentos gs lquido
vertical nos padres pistonado e anular, como mostrado na Fig. 1.6.
Fig. 1.6 Escoamento vertical pistonado(esquerda) e anular (direita)

(VERBERK et al., 2000).
Num escoamento gs-lquido, a partir de uma certa vazo de gs, formam-se bolhas
alongadas de gs que, com o aumento da vazo, transformam-se numa fase continua, de tal
maneira que o lquido e o gs escoam paralelamente, de forma parecida com o escoamento anular
leo-gua.
13
Em termos de capacitncia o leo e o ar so parecidos, pois tm permissividades relativas

de 2,6 e 1,005, respectivamente, sendo que a da gua 80. A permissividade relativa a razo
entre a permissividade do meio e a do vcuo.
Segue a reviso dos sensores para a espessura do filme de lquido no escoamento anular
gs-lquido.
Marshall e Tiederman (1972) realizaram medies experimentais de espessura de filme

lquido com um sensor capacitivo, mostrado na Fig. 1.7, em um escoamento gs lquido anular
com a fase gasosa escoando a velocidades supersnicas.
Utilizaram um transdutor do tipo ponte de corrente alternada operando em frequncia de
100 kHz com resoluo de at 0,1 fF. Reportaram que o sensor pde medir respostas em
freqncia de at 3 kHz, porm com incerteza de medio de at 25%.
Fig. 1.7 Sensor capacitivo de espessura de filme em escoamento anular

(MARSHALL; TIDERMAN, 1972).
A superfcie superior do sensor ficou na superfcie interna do tubo, de forma no-intrusiva

no escoamento. Os eletrodos foram isolados do fludo em escoamento (gua) por uma fina
camada de resina, para que no houvesse corrente eltrica do eletrodo fonte para o sensor ou para
14
as partes aterradas. Foi utilizada uma liga ferrosa de nquel e cobalto (Kovar) que tem o mesmo
coeficiente de expanso trmica do vidro borossilicato (ESPI, 2009).
Para calibrar esse sensor, o autor utilizou um micrmetro que mediu o nvel de lquido no
tubo na horizontal numa bancada nivelada.
Mustafa et al. (1973) desenvolveram um sensor capacitivo, mostrado na Fig. 1.8, para
medir espessura de filme lquido em um escoamento pistonado vertical. O transdutor utilizado foi
uma ponte de corrente alternada operando em freqncia de 1 MHz, faixa de medio de 1 a
1000 pF. No foi apresentada a incerteza de medio.
Fig. 1.8 Medidor capacitivo de espessura de filme em escoamento pistonado

(MUSTAFA et al., 1972).
Eles utilizaram, tambm, uma fina camada de resina para isolar da conduo o lquido dos
eletrodos.
Para avaliao da capacidade de medio do sensor, compararam seus resultados com os
obtidos com uma cmera filmadora. Compararam, ainda, esses resultados com os de um outro
sensor com a mesma geometria dos eletrodos da Fig. 1.8, entretanto dispostos num plano
horizontal. Calibraram esse ltimo variando-se a espessura da camada de gua e medindo-a com
um micrmetro. Obtiveram resultados satisfatrios.
15
b) Transdutores de capacitncia numa seo do escoamento

Os circuitos de medida de capacitncia podem ser classificados de acordo com o sinal
aplicado ao capacitor:
Corrente Contnua (CC) - nesse tipo de sinal mede-se ou compara-se a carga do
capacitor, devendo-se garantir a frequncia de carga e descarga.
Corrente Alternada (CA) - nesse tipo de sinal mede-se ou compara-se a corrente ou a
tenso no capacitor de medio, devendo-se controlar ou garantir a freqncia do sinal emitido e
a fase do sinal medido;
Huang et al. (1988) fizeram uma reviso detalhada dos mtodos para medir capacitncia,
dividindo-os em: ressonncia, oscilao, carga/descarga, ponte de corrente alternada e eletrodos
flutuantes. Segundo ele, o mtodo da ponte de corrente alternada o mais utilizado e ainda o
mais preciso.
Marshall e Tiederman (1972) foram os autores de um dos primeiros trabalhos

experimentais utilizando capacitores para a medio de escoamentos. Eles empregaram o mtodo
da ponte de corrente alternada para transduzir a capacitncia em tenso. Como mostrado na Fig.
1.9, um transformador aplica um potencial eltrico alternante entre as extermidades do par de
capacitores em srie. Cada capacitor responsvel pelo balano da ponte: o sensor, cuja reatncia
capacitiva , e o de comparao, cuja reatncia capacitiva e constante.
Fig. 1.9 Ponte de corrente alternada (MARSHALL; TIEDERMAN, 1972).
16
Se existir uma diferena de reatncias entre os capacitores comparados, ocorrer um

desequilbrio na ponte, e ento, a tenso de sada ( ) ser proporcional diferena de
capacitncia.
Esses pesquisadores utilizaram frequncia de oscilao do transformador de 100 kHz e

relataram que circuito foi capaz de medir respostas em frequncias de at 500 Hz com resoluo
de 0,1 fF.
Uma outra configurao de transdutor, apresentada na Fig. 1.10, a de eletrodos flutuantes,

onde o eletrodo fonte e o sensor tm potenciais flutuantes. Essa configurao mais sensvel,
porm menos estvel que a da apresentada na Fig. 1.9.
Nesse transdutor, um sinal de excitao ( ) aplicado ao eletrodo fonte do capacitor de
medio ( ). No mesmo terminal, tem-se o capacitor 2 que a soma de todas as capacitncias
formadas entre as partes metlicas em contato eltrico com esse terminal e aquelas conectadas
eletricamente ao potencial de terra: cabo de ligao, blindagem e eletrodos de guarda (se houver).
Da mesma forma que 2 , 1 a soma das capacitncias entre as partes em contato eltrico com
o eletrodo sensor e as partes conectadas eletricamente ao potencial de terra.
A condio de terra virtual, como mostrado na Fig. 1.10, evita que parte da corrente I seja
drenada para a terra atravs de 1 , alterando a corrente na entrada do detector. Assim, sem o
efeito de 1 , o eletrodo sensor est eletricamente conectado ao detector de corrente, cuja
impedncia de entrada permite que toda I seja convertida numa tenso de sada 0 .
No caso do eletrodo fonte, a capacitncia 2 no altera a medida de , j que a fonte de
sinal de excitao ( ) de baixa impedncia.
17
Fig. 1.10 Circuito tipicamente imune capacitncias parasitas (HUANG et al.,

1988).
A Figura 1.11 esquematiza um circuito para deteco de corrente. A corrente I que passa
atravs da resistncia de realimentao (feedback) (Rf) tende a causar um desequilbrio de tenso
na entrada inversora (-) do amplificador em relao entrada no inversora (+), porm, devido ao
elevado ganho do amplificador operacional, o potencial tende a zero pelo fato da entrada no
inversora estar conectada diretamente ao potencial de terra, isso gera uma tenso V0 na sada.
Fig. 1.11 Detector de corrente.
O Cap. 2 traz outros detalhes do transdutor construdo especificamente para o capacitor de

medio desenvolvido nesse trabalho.
18
1.3 Objetivos
O objetivo deste trabalho foi concorrer para o desenvolvimento de um dispositivo de

medio da espessura da camada de gua no escoamento anular leogua horizontal usando um
sensor capacitivo e um transdutor do sinal.
Ele envolveu o desenvolvimento do medidor atravs de sua operao em testes estticos e
dinmicos. Nos estticos, no h escoamento efetivo dos fluidos, mas foi mantido um arranjo
espacial das fases que se assemelhou ao do escoamento anular.
Uma nova tcnica fotogrfica foi utilizada, nos testes dinmicos, para medir diretamente a
espessura da pelcula anular de gua. Esses resultados so comparados entre si.
19
Captulo 2
Medidor Capacitivo
Deve se ter em mente, quando se prope medir com um capacitor, que o meio ao redor dos
eletrodos participar da medio. Deve se buscar, portanto, uma geometria para os eletrodos tal
que seu plano de simetria coincida com um plano de simetria da varivel medida, de modo a
obter a forma mais simples.
Fig. 2.1 Efeitos da distoro do campo (SERWAY; JEWETT, 2006).
Mesmo com uma configurao geomtrica conveniente dos eletrodos para a varivel
medida, existem efeitos de borda (distoro do campo nas bordas, mostrados na Fig. 2.1) que
fazem com que o capacitor mea numa regio distante da regio de interesse entre os eletrodos
fonte e sensor.
20
O que acontece que na borda do eletrodo, as cargas, devido menor curvatura, segundo
Serway e Jewett (2006), se distribuem com maior densidade de carga e o campo eltrico segue a
tendncia, sendo diretamente proporcional:
2.1
onde , em C/m, a densidade de carga superficial, ou seja, quanto de carga se tem em cada rea
infinitesimal da superfcie do eletrodo (SERWAY; JEWETT, 2006). [N/C] a intensidade do
campo eltrico quando seu vetor perpendicular a superfcie do condutor e 0 [F/m] a constante
dieltrica.
2.1 Sonda Capacitiva da Espessura da Camada Anular de gua do Escoamento leo
gua
No somente a geometria do que est sendo medido e as caractersticas de medio do

sensor devem condicionar o projeto do sensor, mas tambm o sistema de gerao e interpretao
do sinal, ou seja, o transdutor.
No caso de um transdutor que no diferencia a parte reativa (relativa capacitncia) da

parte resistiva (conduo de eltrons pelo meio), deve se isolar o sensor do fludo para que no
ocorra a conduo de eltrons. Isso pode ser feito deixando-se o sensor na parte externa de um
tubo dieltrico com alta resistncia eltrica. Nesse trabalho, o sensor instalado na parte externa
do tubo devido s limitaes do transdutor explicadas no subitem 2.1.2. Isso, o torna um sensor
no-invasivo, pois no entra em contato com o fludo medido.
Para simplificao, o conjunto sensor e transdutor pode ser chamado de sonda, at porque
no poderiam operar separadamente na medio da espessura da camada anular e tambm para
que se possa consider-los um sistema nico, caracterizado por entradas e sadas.
Para a instalao do sensor num tubo dieltrico e de uma blindagem eletroesttica, foi
desenvolvida uma unidade de suporte.
21
A unidade de suporte composta de dois flanges que acoplam na tubulao do escoamento,

dois que fixam tirantes para no haver esforos no vidro, o tubo de vidro que o dieltrico em
cuja superfcie so montados os eletrodos do sensor, e uma blindagem eletrosttica que o isola
eletromagneticamente. Matos (2008), membro da equipe e participante do trabalho, foi o autor do
projeto dessa unidade de suporte.
O tubo que suporta os sensores capacitivos de material dieltrico, para isolar os sensor do
fluido, e deve suportar a presso do escoamento, e ser no-molhvel ao leo, i.e., o leo no
tende a aderir ao tubo.
Fig. 2.2 Unidade de suporte Corte. Dim.: mm.
O material mais recomendado o vidro borossilicato, que recebe uma pelcula de

metassilicato de sdio, atravs da adsoro do sal (em soluo) pelo vidro, para reduzir a
22
molhabilidade ao leo (SILVA, 2003). As partes metlicas foram fabricadas em ao INOX AISI
304, pois os fluidos do escoamento, i.e., gua e leo, podem causar corroso. Os flanges de cada
unidade foram padronizados seguindo a norma para tubulaes com escoamento de leo, API5L-W.
A Fig. 2.2 traz um esquema da unidade de suporte utilizada nesse trabalho. Seis anis de
borracha centralizam o tubo pelas pontas e vedam a unidade de suporte de vazamentos.
Na Fig. 2.3 apresentada uma foto de uma sonda construda e montada.
Fig. 2.3 Uma sonda capacitiva.

2.1.1 Sensor capacitivo
Conforme foi visto no inicio do Captulo, os sensores capacitivos medem numa regio e
devem ser projetados de forma que um plano de simetria dos eletrodos seja, tambm, um plano
de simetria do escoamento.
23
Como uma medida de interesse a espessura da camada anular na parte superior do tubo,
um plano de simetria do escoamento que pode ser escolhido o vertical ao longo do eixo do
tubo. Assim, como mostrado na Fig. 2.4, o sensor pode medir a espessura da camada anular no
topo da tubulao.
Fig. 2.4 Disposio do sensor no tubo.
Alm disso, a Fig. 2.4 mostra como so dispostos os eletrodos de guarda de modo a tornar
as linhas de campo no eletrodo sensor paralelas no plano transversal. Assim, a medio da
espessura da camada anular passa a ser relativa a uma fatia transversal do escoamento no tubo.
Simplifica-se, com isso, dois processos: a) o de determinao da geometria dos eletrodos no
plano transversal ao tubo; b) e o de dimensionamento do transdutor para a capacitncia a ser
medida.
24
Para determinao da geometria transversal dos eletrodos, podem ser utilizadas simulaes
numricas bidimensionais que contemplam o campo eltrico num plano de corte transversal nos
eletrodos sensor e fonte (mostrado na Fig. 2.5).
Fig. 2.5 Corte nos eletrodos sensor e fonte.
Dos Reis et al. (2008) realizaram simulaes numricas bidimensionais utilizando um

mtodo dos elementos finitos (FEM) com uma configurao de eletrodos semelhante mostrada
na Fig. 2.5. Consideraram que no havia fluxo eltrico no sentido axial do tubo e, ento,
obtiveram os resultados de capacitncia por metro, unidade dimensional de comprimento do
eletrodo ao longo do eixo do tubo.
Eles simularam capacitores concntricos ao eixo do tubo sobre a tubulao de vidro,
variando-se os parmetros 1 e 2 , que so os ngulos de envolvimento no tubo, , que o
ngulo de separao dos eletrodos, , , e , que so, respectivamente, os dimetros
interno, externo, da blindagem e do tarugo. A espessura da camada anular () varia conforme ,
pela equao:
S=
( )
2.1
25
Os valores utilizados na simulao foram: permissividade relativa da gua 80, do leo 2,8,
do vidro 3 e do ar 1. O dimetro interno do tubo ( ) foi de 60 mm,o externo ( ) de 70 mm e o
da blindagem ( ) de 132 mm.
A partir dos resultados de Dos Reis et al. (2008), escolheu-se uma configurao de
eletrodos com 1 = 2 = 35 e = 0,007 (ngulo que separa os eletrodos) que foi a que, com
menor ngulo de envolvimento do eletrodo no tubo , apresentou uma curva de capacitncia em
funo da espessura sem pontos de inflexo. Obtendo-se, assim, uma medida mais local.
Nos experimentos alguns valores foram diferentes dos simulados numericamente: o

dimetro interno da tubulao (tubo de vidro) 61,8 mm e sua permissividade dieltrica relativa
5, a permissividade relativa do leo 2,65 e do Teflon 2 conforme apresentado nos Apndices A e
B. As outras medidas foram iguais.
Definida a configurao transversal do eletrodo, falta, ento, a longitudinal (o comprimento

do eletrodo sensor ao longo do eixo), que deve estar entre dois limites: o de medir uma fatia
infinitesimal do escoamento e o de to grande quanto sua capacitncia para que o transdutor seja
capaz de medir seu sinal.
Sentido do
fluxo do
escoamento
Fig. 2.6 Eletrodos no tubo com respectiva fiao.

26
A resposta do sensor nas simulaes com o tubo cheio dgua foi da ordem de 60 /
(unidade de capacitncia por metro de eletrodo). Escolhendo-se um comprimento de 3 mm para o
eletrodo sensor, resulta numa capacitncia da ordem de centenas de femtoFaraday (180 ), que
pode ser uma boa escolha para uma aplicao experimental, pois, segundo Yang et al. (1994),
que desenvolveram um transdutor do mesmo tipo usado nesse trabalho, a faixa ideal da
capacitncia para esse tipo transdutor deve estar entre 0,1 pF e 10 pF.
Escolheu-se uma distncia entre fonte e sensor e guardas () e entre esses dois ltimos de
0,5 mm, que foi o mnimo que se conseguiu para que no houvesse curto circuito (ou contato
eltrico) entre eles. O eletrodo de guarda, entre os dois sensores, tem o dobro do comprimento de
cada um dos guardas laterais.
O comprimento axial do eletrodo fonte escolhido foi de 111 mm. Isso para que a distncia
entre o eletrodo sensor e o flange mais prximo fosse de aproximadamente 2 dimetros da
tubulao.Assim, o campo eltrico entre o eletrodo sensor e o flange fica pequeno e
suficientemente impeditivo de forma a favorecer a deteco de corrente no eletrodo sensor pelo
sistema de transduo.
2.1.2 Transdutor de capacitncia
Foi desenvolvido um transdutor de capacitncia especialmente para o sensor (capacitor)

descrito no subitem anterior. Esse transdutor detecta a corrente do eletrodo fonte induzida no
sensor.
O transdutor, esquematizado na Fig. 2.7, funciona da seguinte forma: um oscilador baseado

numa ponte de Wien, disponibiliza uma tenso senoidal com frequncia e amplitude constantes.
As capacitncias entre os eletrodos e o funcionamento do sistema de deteco so conforme
explicado no item 1.2.3b.
27
Alm disso, existe no sensor uma parte resistiva ( ), que deve ser muito alta para que a
fonte (ponte de Wien) consiga suprir a corrente e para que a corrente detectada seja relativa
somente capacitncia, uma vez que sistema de deteco no separa a parte resistiva da reativa.
Para isso, o capacitor foi montado externamente ao tubo de modo que o vidro o isola do contato
com o fludo que onde poderia ocorrer maior conduo de eltrons.
Depois da etapa de deteco da corrente, utilizado um amplificador diferencial com ganho

de 50 vezes. Na etapa seguinte so utilizados diodos skottky para retificao do sinal que, alm de
uma componente esttica, tem uma componente dinmica relativa s variaes da capacitncia e
ao prprio sinal senoidal induzido na etapa deteco.
Um filtro ativo passa-baixa de dois plos Butterworth, com resposta de 80 dB e frequncia
de corte de 1 kHz, atenua o sinal em freqncias que so relativas ao prprio sinal AC de
operao do transdutor e s transientes de amplificao e deteco. Por ltimo, um amplificador
com ganho de at 5 vezes permite ajustar a sada para um sistema de aquisio.
Fig. 2.7 Circuito eletrnico do transdutor (DOS REIS, 2003).
28
Todo o circuito confinado e isolado pelas blindagens e os condutores de sinal por malhas,
sendo aquelas e estas aterradas, configurando um sistema em malha fechada. Nesse tipo de
sistema, o campo magntico devido corrente atravs dos condutores de sinal de anula com
aquele devido corrente atravs da malha e das blindagens.
A corrente detectada, para essa configurao, devida somente capacitncia, pois a

resistncia altssima. Sabendo-se que a carga induzida no sensor num perodo proporcional
capacitncia, a tenso na sada dever ser diretamente proporcional capacitncia.
Segue um diagrama do circuito eletrnico utilizado nesse trabalho, que foi baseado no
desenvolvido por Dos Reis (2003).
Apesar de no reconhecer a fase do sinal e, portanto, pela disposio dos eletrodos na parte
externa e pela alta frequncia do sinal, detectar somente a parte reativa (capacitncia) do sinal, o
transdutor capaz de medir rapidamente quaisquer alteraes da geometria ou propriedades dos
meios dieltricos medidos.
2.1.3 Core-Flow na bancada esttica
Uma bancada foi desenvolvida para simular o padro de escoamento com uma camada
anular de gua usando tarugos de Politetrafluoretileno (PTFE), ou Teflon, que apresentam
propriedades dieltricas prximas das do leo. Detalhes dessa instalao e os motivos que
levaram a faz-la esto no Captulo 3.
As caractersticas geomtricas utilizadas para simular experimentalmente a presena de

leo na sonda so apresentados a seguir para o sensor apresentado em 2.1.1.
Dimetros dos tarugos
29
A escolha dos dimetros dos tarugos foi baseada na tendncia (derivada) de uma curva
ajustada entre os resultados de capacitncia para cada espessura da camada anular obtidos atravs
das simulaes numricas bidimensionais do sensor com 1 = 2 = 35 e = 0,007.
A curva representada:
= 1
+ 1
2.2
onde a espessura de camada anular e a capacitncia adimensionalizada:
C Co
2.3
Cmax Co
e as constantes: = 0,455105, = 13,88481 , = 0,543971 e = 0,33655.
O subscrito o relativo capacitncia obtida para a condio onde o tubo est cheio de um
leo de permissividade dieltrica relativa 2, assim, a espessura da camada anular nula. J o
subscrito max uma condio onde a espessura da camada anular do escoamento mxima. Esse
limite foi definido a partir de uma condio de estabilidade do prprio padro de escoamento.
A faixa de medida da espessura da camada anular a ser considerada para que fossem
usinados os tarugos que simulariam a presena de leo na seo da medida foi de 1 a 10 mm.
Para uma espessura menor que 1mm, poderia ocorrer interferncia na insero do tarugo
dentro do tubo devido a alguma distoro do ltimo ao longo de seu eixo.
A mxima foi calculada considerando-se o escoamento como anular perfeito, onde o ncleo
de leo forma um cilindro concntrico ao eixo do tubo.
Segundo Bannwart (2001), o padro de escoamento anular leo gua estvel a partir de
um holdup de leo ( ) de 50%. Com essa informao, com o dimetro interno do tubo e
considerando-se o escoamento homogneo, ou seja, as fases escoam com uma mesma velocidade
mdia, poderia se calcular uma espessura mxima da camada anular.
30
Na prtica, entretanto, existe uma diferena entre a velocidade mdia do leo ( ) e a da

gua ( ).
Utilizando-se uma razo de escorregamento (h), que a razo de por , de 1,4, que
sugerida por Joseph (2000) para um escoamento anular leo gua horizontal, pode ser calculada
a espessura mdia mxima que ocorrer no escoamento.
Considerando-se os fluidos do escoamento como incompressveis, a vazo da fase leo

(Qo ) pela a da gua (Qa ) a razo de escorregamento pela razo da rea transversal das fases:
Qo
Qa =
uo A o
2.4
ua Aa
Num intervalo de tempo, a razo de vazes entre as fases igual a razo dos holdups das
fases num trecho de tubulao. A partir do dimetro interno da tubulao, Di =61,8 mm, e da eq.
2.1, pode se obter a espessura mdia mxima, de aproximadamente 10 mm, junto com a equao:
(1 ) =
2.5
2 2
Sabida a faixa de espessuras a ser abrangida, falta o nmero de espessuras a serem

formadas pelos tarugos.
Segundo OBrien (1996), o nmero de pontos, nos quais se ajusta uma curva, deve ser, pelo
menos, o dobro do nmero de graus de liberdade dessa curva para que se tenha o menor erro em
sensibilidade no ajuste. Assim sendo, para que se ajuste nos pontos experimentais, de tenso de
sada da sonda por espessura da camada, uma curva do tipo ajustada nos pontos calculados
numricamente, o nmero mnimo de espessura anulares, formadas por tarugos, deve ser 8.
O dimetro de cada tarugo foi definido derivando-se a eq. 2.2 e dividindo sua faixa de
sensibilidade em iguais partes. Dessa forma, o erro em sensibilidade no ajuste da curva tambm
mnimo.
31
Para o clculo das espessuras, seguindo os critrios acima, foi utilizado um programa
computacional em linguagem FORTRAN apresentado no Anexo 1.
Foram obtidos, ento, 11 pontos de espessura de camada anular de gua, e, pela eq. 2.1, os
11 tarugos de PTFE. As dimenses so apresentadas na Tabela 2.1, considerando-se um dimetro
interno mdio do tubo de 61,8 mm ( ).
Tabela 2.1 Espessuras da camada e dimetros dos tarugos.

Numerao
do tarugo
S, mm
, mm
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
1
1,2
1,35
1,5
1,75
2
2,45
3,15
4,5
7,65
10
59,8
59,4
59,1
58,8
58,3
57,8
56,9
55,5
52,8
46,5
41,8
2.1.4 Determinao da incerteza da medida da espessura da camada anular
Para determinar a incerteza da medida da espessura da camada anular foram tomadas

algumas medidas do dimetro interno dos tubos de vidro e o externo dos tarugos. Esse trabalho
foi feito por um centro credenciado e acreditado pelo INMETRO, o CT (Centro de Tecnologia)
da UNICAMP. O documento contendo o resultado das medidas apresentado no Anexo 2.
A partir das incertezas nos dimetros, obteve-se a incerteza da espessura da camada anular,
pelo mtodo sugerido por Holman (1996), como na equao:
S =
dS
dDi Di
+ dS dD Dt
t
32
2.6
Derivando-se a Eq. 2.1 para cada uma de suas variveis de incerteza, tem-se:
dS
1
dDi = 2 Di
2.7
dS
1
dDt = 2 Dt
2.8
A incerteza no dimetro interno do tubo e no dimetro externo dos tarugos foi de 0,02
mm. Assim, utilizando-se as equaes acima, tem-se que a incerteza na espessura da camada de
0,01mm.
33
Captulo 3
Bancadas de Testes Experimentais
Neste captulo so descritas duas bancadas construdas para estudar a sonda capacitiva para
medir a espessura da camada de gua num escoamento anular leo - gua, i.e., com o padro de
escoamento core-flow. O sensor da sonda foi descrito no captulo anterior.
Algumas caractersticas de sensores no so relacionadas ao tempo, como a sensibilidade e

a faixa de medio, enquanto que outras so: o tempo de resposta e a resposta em freqncia.
A avaliao das caractersticas que no dependem do tempo pode ser realizada atravs de
testes estticos incluindo-se ou no os efeitos de variao das condies ambientais. Por outro
lado, as caractersticas dependentes do tempo podem ser avaliadas atravs de testes dinmicos
avaliando-se, por exemplo, a grandeza na entrada, varivel medida, enquanto registra-se a sada
para posterior comparao.
De forma a isolar o medidor para uma condio independente do tempo e tambm
simplificar a geometria do meio dieltrico, foi desenvolvida uma bancada de testes estticos. E
para se avaliar sua medio numa condio dinmica, foi utilizada uma bancada dinmica
devidamente preparada para que a espessura da camada anular medida fosse conhecida.
3.1 Bancada para Testes Estticos
No projeto desse novo sistema de medio, h interesse por caractersticas que determinam
seu desempenho como a curva de resposta, sensibilidade, faixa de medio, etc. Trata-se,
portanto, da percepo do sensor em relao ao meio e a influncia desta percepo sobre a
34
grandeza de interesse. As condies ambientais de temperatura e umidade tambm tm

influncia.
O intuito de se construir essa bancada foi o de projetar uma configurao da seo de

medida que reproduza, estaticamente, a condio de um core-flow.
As principais simplificaes foram:
i) a interface lisa;
ii) o ncleo de leo, substitudo por tarugos de PTFE com permissividade dieltrica
prxima do leo puro, no se emulsifica; e
iii) a configurao simtrica em relao ao eixo do tubo, isto , a espessura da camada de
gua a mesma ao longo de toda a regio anular.
O efeito da variao das condies ambientais foi eliminados pelo fato dos testes terem
sido realizados numa sala onde as condies ambientais variaram muito pouco durante cada teste.
A mesma seo que dever operar com o core-flow foi utilizada nos testes.
A idia da construo de uma instalao para testes estticos foi aproximar a condio de
medio de ordem zero (FIGLIOLA; BEASLEY, 2000), ou seja, uma condio em que a resposta
do sistema independe do tempo, semelhante estudada atravs de modelagem matemtica por
outro membro da equipe (GALVIS, 2009).
A Fig. 3.1 apresenta um diagrama da bancada de testes constituda de: uma base acoplada a
uma sonda capacitiva, um reservatrio para a gua, uma vlvula para controle do fluxo no
enchimento e esvaziamento da seo, e uma mangueira flexvel.
35
Fig. 3.1 Bancada de testes estticos. Corte na sonda, tarugo e ponteiras.

3.1.1 Componentes da bancada
A bancada de testes estticos simula a camada anular de gua dentro do sensor pela
insero de tarugos de PTFE no tubo de vidro com se fosse o ncleo de leo em uma condio de
superfcie cilndrica plana. Os tarugos so concntricos ao tubo de vidro e tm vrios dimetros,
permitindo a variao da espessura da camada de gua entre um tarugo e a superfcie interna da
parede do tubo de vidro.
O material escolhido para os tarugos foi o PTFE extrudado, que, segundo PTFE (2009) e
TORAY (2009) um dos plsticos com melhores propriedades dieltricas e ainda possui
absoro de gua menor que 0,01%, conforme o padro ASTM D570. Segundo TRIDENT
(2009), o PTFE possui propriedades dieltricas e de fator de dissipao estveis numa ampla
faixa de freqncias e temperaturas.
36
A permissividade dieltrica relativa do PTFE utilizado nos experimentos foi medida,

conforme apresentado no Apndice B, e tanto para uma amostra transversal quanto para uma
longitudinal ao sentido de extruso do tarugo, valor 2,01, com uma incerteza de medio de
1,39%.
A permissividade dieltrica do leo utilizado na instalao dinmica, tambm avaliada,

conforme apresentado no Apndice A, foi de 2,57 com uma incerteza de medio de 1,71%.
Uma mangueira e um furo passante na base permitem a entrada e a sada de fludos na

sonda capacitiva. Para encher ou esvaziar a sonda, eleva-se o reservatrio acima ou abaixo do
nvel da base, controlando o fluxo do fludo pela vlvula.
Fig. 3.2 Tarugo montado entre as ponteiras dentro do tubo de vidro.
Foram construdas duas ponteiras para centralizar os tarugos dentro do tubo da sonda,
conforme mostrado na Fig. 3.2. Essas ponteiras so vazadas, com furos passantes ao longo de
seus eixos de simetria, para que a gua possa passar e preencher o espao anular da seo de
medio alm de manter o contato com os flanges, de forma semelhante que ocorreria se a
sonda estivesse medindo um escoamento anular. Foram utilizados anis de vedao de borracha
para a centralizao das ponteiras no vidro e para evitar um esforo pontual da ponteira no vidro.
37
As ponteiras e um tarugo so montados dentro do tubo de vidro que, por sua vez,
montado na bancada. Para alterar a espessura da camada de gua a fim de avaliar as condies de
medio do sensor capacitivo, muda-se apenas o tarugo.
A quantidade e os dimetros dos tarugos foram apresentados no Cap. 2, dimensionados

para aplicao em um capacitor especfico.
3.1.2 Avaliao dos efeitos axiais do sensor capacitivo
De modo geral, a medida de um parmetro do escoamento bifsico se d numa rea

transversal ao eixo do tubo. Para um sensor capacitivo, no entanto, essa medio dificultada,
por haver, tambm, uma sensibilidade ao longo do eixo, pois a medida se refere a um volume de
fluido existente ao longo do sensor.
Fig. 3.3 Anel para avaliao do efeito axial.
Para avaliar o efeito na medio pelo sensor capacitivo ao longo do eixo da tubulao, foi
construdo um anel que desliza sobre o tarugo, entre as ponteiras.
A Fig. 3.3 apresenta um desenho do anel e a Fig. 3.4 um desenho com ele montado em um
tarugo.
38
Fig. 3.4 Anel para avaliao dos efeitos axiais na medio montado no tarugo
dentro do vidro.
O anel puxado por fios de nilon (poliamida) tambm presos ao eixo de um motor que os
enrola a medida que seu eixo gira.
Para se referenciar a posio do anel em relao ao sensor, a blindagem teve que ser
parcialmente aberta, facilitando, assim, a visualizao do anel dentro do tubo de vidro. A abertura
na blindagem, entretanto, no influenciou nos valores de capacitncia do sensor, uma vez que os
valores de capacitncia nas condies fechada e parcialmente aberta foram semelhantes.
3.1.3 Instrumentao
a. Temperatura da gua
A temperatura da gua foi monitorada e medida no incio e no fim de cada teste. Para tanto
foi utilizado um termmetro, da marca Incotherm, com bulbo de mercrio e graduao de 0,1 C,
faixa de medio de -10 a 110 C e incerteza de medio 0,1C.
39
b. Espessura da camada anular de gua

A medida da espessura da camada anular de gua feita por um sensor capacitivo e um
transdutor eletrnico, que foram tratados no captulo anterior. A cada espessura conhecida da
camada anular foi associada uma tenso de sada no transdutor.
c. Capacitncia e propriedades dieltricas dos meios
Mediu-se com um medidor de LCR (Indutncia, Capacitncia e Resistncia) a capacitncia
do sensor para as mesmas espessuras da camada de gua medidas com o transdutor, na frequncia
de 1 MHz. Foi utilizado um medidor de LCR da marca Agilent Technologies, modelo E4980a,
com incerteza bsica de medio de 0,05% e faixa de frequncia de sinal aplicvel de 20 Hz at
2 MHz. A incerteza da medio deve ser calculada segundo o manual AGILENT (2008), pois
depende da impedncia e da frequncia da medida.
Fig. 3.5 Medidor LCR.
As capacitncias assim medidas foram comparadas com as capacitncias calculadas

numericamente por Dos Reis (2009), que utilizou o Mtodo dos Elementos Finitos - MEF, para
condies geomtricas e propriedades dieltricas semelhantes s experimentais.
40
A medio das propriedades dieltricas dos materiais precedeu as de capacitncia, pois so

utilizadas em sua modelagem pelo MEF, cujos resultados obtidos foram usados na comparao
com as capacitncias medidas experimentalmente.
As propriedades dieltricas dos meios envolvidos na anlise experimental, i.e. vidro
borossilicato e PTFE, foram obtidas, para efeito de utilizao na simulao numrica, utilizandose um dispositivo acessrio do Medidor LCR especfico para esse fim, tambm fabricados pela
Agilent Technologies. A amostra do material, cuja permissividade dieltrica desejada,
colocada entre seus eletrodos, possibilitando a medio da capacitncia com o LCR.
Foram medidas tambm as permissividades de emulses de gua em leo com diversas
concentraes, sendo o mesmo utilizado na bancada dinmica. Essas medidas foram utilizadas
num trabalho paralelo do projeto, por Galvis (2009), de simulao numrica do comportamento
do capacitor quando o leo est emulsificado.
Os Apndices A e B apresentam a metodologia, os dispositivos e o equacionamento para
obteno das permissividades relativas dos materiais slidos e lquidos acima citados e suas
incertezas.
Poder-se-ia questionar por que no utilizar o Agilent LCR ao invs do transdutor de

capacitncia. O Agilent LCR, apesar de possuir correo de temperatura e apresentar a
capacitncia diretamente, pode medir e armazenar dados a uma taxa mxima de 2,5 amostras por
segundo, isto seria suficiente para registrar sinais de at 1,25 Hz. Para uma situao de
escoamento, entretanto, isso seria pouco, uma vez que uma flutuao da espessura do escoamento
pode variar com freqncias bem mais altas de at 120.
Essa freqncia foi estimada medindo-se a velocidade do ncleo de leo e a distncia entre
dois picos de uma onda com uma cmera filmadora. No caso das imagens da Fig. 3.6, por
exemplo, a velocidade foi de 18000 pixels/s, isso porque o intervalo de tempo entre cada foto de
0,002 s, e a distncia entre dois picos de uma onda de 152 pixels. A contagem dos pixels foi feita
com o editor de imagens Paint da empresa Microsoft.
41
Fig. 3.6 Sequncia de imagens.

3.2 Bancada para Testes Dinmicos
A bancada de testes dinmicos se situa no LabPetro do CEPETRO (Centro de Estudos de

Petrleo), na UNICAMP.
Os fluidos utilizados para se rodar o sistema foram: leo fornecido pelo Centro de
Pesquisas e Desenvolvimentos (CENPES) da PETROBRAS proveniente do Campo de Jubarte
(RJ), de densidade 974 kg/m e viscosidade de 4944 mPa.s temperatura de 20C, e gua da rede
de abastecimento da UNICAMP, cuja densidade 998 kg/m e viscosidade de 1.10-3 Pa.s (1 cP).
A instalao foi instrumentada para medir a espessura da camada anular de gua, tanto com
uma sonda, disposta para esse fim, quanto com uma cmera filmadora de alta resoluo temporal.
3.2.1 Fluxograma do processo
A instalao consta de um circuito fechado capaz de escoar leo pesado com gua em um
escoamento horizontal anular. Opera segundo o esquema apresentado na Fig. 3.7. O leo
succionado do tanque de separao por uma bomba de deslocamento positivo (parafuso) e
introduzido por um bocal injetor na tubulao de escoamento bifsico com gua. A gua tambm
succionada do tanque de separao e bombeada por uma bomba centrifuga at o bico injetor,
42
Fig. 3.7 Bancada de testes dinmicos.
onde entra paralela e anular ao leo. A mistura, ento, retorna ao tanque de separao que decanta
a gua e que, por uma chicana, desvia o leo para outro compartimento, para reiniciar o processo.
A bomba de leo da marca NETZSCH, modelo NEMO F0. O motor que a movimenta
trifsico, de induo, com rotor de gaiola WEG, e o inversor de freqncia que controla sua
rotao DANFOSS, modelo VLT 2800. A vazo de leo pode variar de 5 a 32 m3/h.
A bomba de gua do tipo centrfuga horizontal, marca KSB, modelo Megabloc, tamanho
50-160, sendo o dimetro do rotor de 0,174 m, e rotao mxima de 3500 rpm. O motor que a
movimenta trifsico, de induo tipo gaiola, da WEG, linha W21, e acionada por um inversor
de freqncia, WEG, modelo CFW 09, da linha Vectrue Inverter. A vazo de gua pode variar de
7 a 20 m3/h.
A tubulao de leo de 3 pol de dimetro, de ao galvanizado; a da gua de 2 pol, de

PVC, e a do escoamento bifsico de 2,5 pol, com algumas partes de ao galvanizado e outras de
vidro borossilicato.
Uma parte importante da instalao do escoamento anular olo-gua o bocal injetor, pois
quem condiciona a entrada dos lquidos paralelamente. Contudo, ele pode limitar o escoamento,
43
devido ao dimetro de encontro das fases ser constante igual ao do bocal. Com isso, por
exemplo, no caso de uma vazo de leo muito superior de gua, acontece, numa condio
limite, o cisalhamento das camadas mais externas do leo pela gua, de tal maneira que se
formam bolhas de leo na camada anular de gua. Esse fenmeno ocorreu nos testes
experimentais e, apesar de no ter impedido o escoamento, limitou a medio com a tcnica
ptica.
Fig. 3.8 Bocal injetor (GRANZOTTO, 2008).
Ghosh et al. (2009) fizeram uma reviso dos tipos de bocais existentes na literatura e que
foram utilizados para a injeo do leo paralelamente com a gua. Um desenho do bocal utilizado
nessa instalao apresentado na Fig. 3.8 e uma foto na Fig. 3.9:
44
Fig. 3.9 Foto do bocal injetor.

3.2.2 Instrumentao
A bancada dinmica foi preparada para medir a espessura da camada anular tanto com um
sensor capacitivo quanto a partir de imagens de uma cmera filmadora. Outras variveis que
influenciaram a medio do sensor capacitivo foram a temperatura da gua e o quantidade de
gua emulsionada no leo.
a. Temperatura
A temperatura do fluido foi obtida utilizando-se um termopar tipo J, que foi inserido na
tubulao de tal forma que ficasse rente superfcie do tubo, sem perturbar o escoamento, ou a
distribuio das fases. Esse sensor foi calibrado em um banho-maria termoesttico, com incerteza
de medio de 0,1 C. Por ter a linearizao dos pontos calibrados ficado em 99,9%, quando
100% estariam na linha, razovel dizer que a incerteza de medio desse termopar, de
0,1C. A Fig. 3.10 apresenta uma imagem da instalao do sensor.
45
Fig. 3.10 Termopar para medio da temperatura do fluido.

b. Medidores de Presso
Mede-se a presso do leo antes do bocal injetor e a presso do escoamento,
respectivamente, em P3 e P4.
Foram utilizados medidores de presso com transdutores piezoeltricos. A sada destes foi
calibrada com referncia presso indicada por um manmetro de Bourdon.
c. Espessura da camada de gua
A espessura da camada anular de gua do topo da tubulao foi medida de duas formas:
com o sensor capacitivo descrito no Cap. 2 e atravs das imagens do escoamento.
A distncia entre o sensor capacitivo e o plano da imagem da cmera de 1,3 m e para

efeito de comparao das espessuras dos escoamentos considerou-se que a interface do
escoamento no se alterou ao longo desse espao. Ademais, o tratamento das respostas desses
medidores, para efeito de comparao, foi o clculo da mdia.
Uma sonda capacitiva, com transdutor e suportes, foi utilizada para medir a espessura da
camada anular de gua ( direita na Fig. 3.11).
46
Fig. 3.11 Foto do medidor de espessura (da direita) capacitivo instalado com
suportes.
3.2.3 Tcnica tica
Uma seo de tubulao de vidro, por onde passa o escoamento bifsico, com uma caixa de
visualizao, de vidro, cheia de gua, foi construda para medio da espessura pela tcnica
ptica (Fig. 3.12) (MATOS, 2008).
Atrs da caixa de visualizao, na foto (Fig. 3.12), esto instalados dois holofotes e duas
cmeras. Porm, foi usada somente uma, de marca Encore, modelo High-Speed 1000 quadros/s, e
que pode gravar 2 segundos de imagens nessa taxa (mxima).
A iluminao utilizada do tipo indireta. Para a luz chegar at a cmera utilizou se um

fundo reflexivo e difuso. Esse fundo cobre a parte frontal (a que primeiro se v na foto da Fig.
3.12) da caixa de visualizao e foi retirado para a fotografia.
47
Fig. 3.12 Foto da seo de medio com tcnica fotogrfica.
3.2.4 Medio da espessura da camada de gua atravs de imagens dos escoamentos
a. Descrio do sistema
A cmera, Encore, modelo High-Speed, com resoluo da imagem de 320x240 pontos
(pixels) e 8 bits de profundidade (256 tons de cinza) foi utilizada para adquirir um filme da
imagem da espessura da camada anular superior vertical do escoamento.
b. Anlise das imagens
O filme obtido com a cmera filmadora foi dividido em fotografias utilizando o programa
computacional Pinnacle Studio 9. J para o tratamento e anlise dessas imagens foi utilizado o
software ImageJ (Image Processing and Analysis in Java).
48
3.3 Sistemas de Condicionamento de Sinais e Aquisio de Dados
O sistema de aquisio foi usado para adquirir e armazenar na forma digital dois tipos de
sinais:
a. Sinais em tenso: O sistema de condicionamento de sinais pode converter sinais de
tenso de at 16 canais em sinais digitais com 16 bits, numa faixa mxima de -10 a 10 V, com
incertezas de medio, para essa faixa, de 1,92 mV, e com taxa de amostragem de at 1,25E+6
amostras/s para um canal.
Fig. 3.13 Placa de aquisio de dados.
Consta desse sistema um multiplexador de 16 canais da National Instruments, modelo SC2345, e um condicionador de sinal do mesmo fabricante, modelo USB-6256, apresentados na
figura acima.
Para se armazenar os dados digitais, que so transferidos via USB (Universal Serial Bus),
usado um computador da Intel, modelo Core2Duo, com frequncia de processamento de 1,86
GHz.
49
O condicionador pode medir tenso diferencial, assim como tenso referenciada ao terra.
Basta que seja configurada a medio de tenso, via software, que nesse caso o LabView v. 8.5,
como diferencial.
b. Sinais em corrente: Os sinais em corrente eltrica (de 4 a 20 mA) foram condicionados

na forma de tenso diferencial utilizando-se uma resistncia conhecida, em circuito como no
esquema apresentado na Fig. 3.14.
Fig. 3.14 Circuito para medio de corrente (DOS REIS, 2003).
50
Captulo 4
Procedimento Experimental e de Reduo de Dados
Neste captulo so apresentados os procedimentos de operao e de aquisio e reduo dos
dados obtidos nos testes com as bancadas esttica e dinmica. Os procedimentos so descritos
referidos aos fluxogramas das bancadas apresentadas no Cap. 3.
4.1 Procedimentos de Operao da Bancada de Testes Estticos
A bancada de testes estticos, bem como os materiais utilizados na medio (i.e. gua e
tarugos) devem permanecer numa sala com temperatura constante ao longo do dia.
A sonda e os materiais devem estar isentos de contaminantes ou de sujeira.
Antes de iniciar as medies, deve se ligar o transdutor da sonda a ser avaliada, conforme a
Fig. 3.1, pois seu tempo de aquecimento de 90 min, conforme Dos Reis (2003). Em seguida,
so ligados o sistema de aquisio e o microcomputador.
O AGILENT LCR deve ser ligado para a medio da capacitncia. O seu tempo de
aquecimento de 30 min, segundo Agilent (2008). Aguardados os 90 min de aquecimento pode
se iniciar os testes.
51
4.1.2 Avaliao do sensor capacitivo com o transdutor
Insere-se a ponteira inferior na sonda pelo lado do flange que ser acoplado na base. Isso
deve ser feito para que no haja risco da ponteira ficar presa ao vidro, devido s irregularidades
do ltimo. Em seguida, acopla-se a sonda na base.
Introduz-se o tarugo de maior dimetro pelo lado aberto da sonda, at que ele encaixe na
ponteira inferior. Com a introduo da ponteira superior, o tarugo fica centralizado.
Eleva-se o reservatrio de gua a um nvel acima do topo da sonda. Abre-se parcialmente a
vlvula de esfera do reservatrio de modo que a tubulao seja enchida lentamente com gua.
Assim, garante-se que na formao da camada anular de gua no haja bolhas de ar.
Com a camada anular formada, fecha-se a vlvula e mede-se a tenso apresentada na sada
do transdutor a cada 1s durante 10 s.
Abaixa-se o reservatrio e abre-se a vlvula para esvaziar a sonda. Retira-se a ponteira
superior e o tarugo.
Inicia-se a insero do tarugo seguinte, repetindo os procedimentos acima, at que, para a
maior espessura (somente gua) insere-se somente a ponteira superior, na posio que deveria
ficar se ali houvesse um tarugo, ficando a gua entre as ponteiras.
Para se avaliar uma possvel histerese do transdutor de capacitncia, foi invertida a
sequncia dos tarugos, ou seja do menor dimetro para o maior.
4.1.3 Avaliao do sensor capacitivo com o Agilent LCR
Foi avaliada a capacitncia do sensor, pelo Agilent LCR, para cada espessura da camada
anular. Para isso, troca-se o transdutor pelo Agilent e repete-se os procedimentos acima. A
medida, entretanto, obtida pelo Medidor, em unidades de capacitncia, e no mais em Volts
pelo transdutor.
Para adquirir e armazenar os sinais de forma temporizada foi utilizada a sada USB
Universal Serial Bus do Agilent comunicando-se com o programa LabView num computador.
Adquiriu-se 10 medidas de capacitncia numa frequncia de 1amostra/s.
52
4.1.4 Avaliao dos efeitos axiais
Insere-se o tarugo de dimetro 41,8 mm na sonda encaixando-o na ponteira inferior.

Transpassa-se dois fios de nilon nos quatro furos do anel e, sem cruz-los, passa-se suas pontas
em quatro furos da ponteira superior. Insere-se o anel no tarugo e encaixa-se a ponteira superior,
ficando o tarugo centralizado e as pontas dos fios para fora da sonda.
Os fios so amarrados no eixo do redutor de um motor CC, mostrado na Fig. 4.1, que ao
girar os enrola puxando o anel.
Para dar inicio s medies completa-se, por fim, a sonda com gua para formar a camada
anular.
Uma abertura foi feita na blindagem para poder enxergar a posio do anel no tubo. Mediuse a sada do transdutor com e sem essa abertura e no foi observada diferena usando o
transdutor para deteco do sinal.
Foi feita uma rotina no software LabView que registra o momento de um clique do mouse
enquanto a sada do transdutor foi adquirida pela placa de aquisio a uma taxa de 400
amostras/s, armazenada na memria dum computador.
Com isso, inicia-se, no computador, o programa descrito acima, liga-se o motor para elevar
o anel de PTFE e registra-se, com um clique, quando a primeira face do anel se alinhar com um
plano transversal, ao eixo do tubo, mdio do eletrodo sensor, e com outro clique quando a ltima
face sair do mesmo.
Fig. 4.1 Motor e redutor para elevar o anel.

53
4.2 Procedimentos de Operao da Bancada de Testes Dinmicos
Essa bancada deve ser operada com ateno, pois existe o risco, caso falte gua na
tubulao, do tubo se romper devido alta presso que ocorreria devido a perda de carga do
escoamento do leo, por esse fluido ser incompressvel e pela bomba ser de deslocamento
positivo.
A descrio do procedimento experimental se refere ao fluxograma apresentado na Fig. 3.7.
Considera-se que o operador j tenha seguido e realizado o procedimento de calibrao da

imagem e de posicionamento da cmera, descrito em 4.2.3.
Inicialmente, devem ser ligados o transdutor da S2, as fontes dos transdutores de presso, o
sistema de aquisio e os microcomputadores.
Passados 90 min de aquecimento do transdutor da S2, liga-se a cmera, os holofotes e

posiciona-se o fundo reflexivo difuso atrs do visor. Energiza-se os inversores da B1 e B2, ligase B2, e abre-se a vlvula do Bypass da B1. As vlvulas por onde os fluidos do loop circulam
devem estar abertas.
A vlvula do Bypass da B1 deve estar aberta para o caso de alguma instabilidade que ocorra
no incio da injeo do leo. Pode acontecer que, com a injeo do leo e o aumento da presso
na sada do injetor, a vazo de gua diminua pelo fato de B2 ser centrfuga.
4.2.2 Sequncia dos procedimentos de testes
Passo 1: Depois de estabilizada a vazo de gua, observando-se uma presso constante em

PB4, adquire-se o sinal da sonda com a tubulao com somente gua que seria uma condio de
espessura mxima da camada anular. Esse sinal em tenso denominado tenso de referncia.
54
Passo 2: Inicia-se um escoamento anular: liga-se B1, aumentando-se a rotao de seu motor
atravs do inversor at chegar a 20 rpm. Aguarda-se que o escoamento se estabilize, o que se d
quando a presso na sada do injetor oscilar em torno de uma constante.
Passo 3: Aguarda-se 5 min ou at que a presso esttica na sada do injetor (PB3) se

estabilize e oscile em torno de uma constante. Tambm, a presso PB1 no recalque da bomba de
gua deve se estabilizar, indicando uma vazo constante de gua.
Com isso, inicia-se, sincronizadamente, a aquisio dos sinais relativos ao escoamento:
presso nos pontos 3 e 4, tenso de sada da sonda 2, a temperatura pelo termopar e as imagens da
cmera.
Passo 4: Terminada a aquisio, aumenta-se a vazo de leo ou a de gua. Inicia-se outro
escoamento, procedendo-se a partir do passo 3. Quando os dados forem suficientes, pra-se B1,
aguarda-se at que todo o leo do tubo v para o tanque com a vazo da bomba e, depois disso,
desliga-se B2.
a. Medio da tenso de sada da sonda capacitiva
Os sinais em tenso da sonda so medidos pela placa de aquisio e registrados no

computador utilizando o software LabView. Cada aquisio tem durao, por teste, de 20 s. A
frequncia amostral foi de 2000 amostras/s.
b. Medio da espessura da camada de gua atravs das imagens de uma cmera
As imagens da espessura da camada anular so gravadas na memria da cmera, que

limitada a 2000 imagens de resoluo 320x240 pontos, e devem ser copiadas para a do
computador. Para isso, utiliza-se uma placa de vdeo que possibilita a leitura e a reproduo das
imagens da cmera para o computador.
Em cada teste foram, ento, adquiridos filmes, com 2000 imagens, a uma taxa amostral de
500 imagens/s. O tempo mximo de aquisio foi, assim, de 4s para cada teste.
55
c. Medio da presso pelos transdutores piezoeltricos
O sada dos transdutores de presso piezoeltricos (P3 e P4) de 4 a 20 mA e foi adquirida

pela placa de aquisio na forma de tenso utilizando-se um esquema como apresentado na Fig.
3.14. Em cada teste, esse sinal foi adquirido a uma taxa de 2000 amostras/s durante 4s.
d. Medio da temperatura
O sinal em tenso relativo temperatura no termopar foi adquirido a uma taxa de 2000
amostras/s durante 4s.
4.2.3 Calibrao e instalao da cmera
a. Instalao da cmera e da rgua
Primeiramente, instalou-se a cmera com o eixo do seu foco na posio horizontal, isso foi
feito regulando-se o comprimento de um trip que dispunha de um nivelador de bolha.
A rgua foi inserida no tubo e alinhada ao eixo vertical deste, atravs de uma marcao
previamente feita na superfcie superior desse ltimo.
Depois, com a rgua devidamente posicionada no tubo cheio de gua, regulou-se o foco da
cmera para que se enxergasse o mais distante possvel, determinando uma distncia especfica
da cmera ao tubo. O foco mais distante, entretanto, diminui a faixa de medio, ou quantos
milmetros so vistos na imagem (Fig. 4.2). A faixa obtida foi de 18 mm, o que razovel
levando-se em considerao o que foi discutido para a faixa de medio do sensor no subitem
2.1.3.
Obtm-se, dessa forma, uma imagem quase plana da rgua, ou seja, os raios de luz so
quase paralelos.
56
b. Calibrao da imagem
Para medir a partir da imagem adquirida pela cmera, a rgua foi fotografada, como
mostrado na Fig. 4.2.
Assim, aps a verificao de que o tubo est cheio dgua e que a posio da cmera e seu
foco na rgua no se alteraram, pode-se reproduzir a espessura da camada anular no escoamento
atravs das imagens que vero a espessura no mesmo plano da rgua (foco), bastando que se
calibre a imagem da cmera.
Na figura abaixo, direita da rgua, foram pintados os pontos (em preto) cujas coordenadas
foram utilizadas para determinao da curva de calibrao da rgua. O ponto (pixel) (1,1) o
mais superior esquerda na figura e o ponto (320, 240) o mais inferior direita. A matriz de
pontos a figura toda e no somente a da janela por onde se v a rgua.
Fig. 4.2 Imagem com rgua e pontos selecionados a cada milmetro.
Definida a referncia para as coordenadas dos pontos da imagem, pode-se obter uma funo
de calibrao quando se ajusta uma reta a esses pontos. A Fig. 4.3 apresenta um ajuste linear
entre os pontos selecionados para cada milmetro da rgua.
57
20
Pontos na imagem com a rgua

Ajuste linear dos pontos
16
S=0,105(n de pontos)- 4,696

S, mm
12
Rajuste=0,99981
40
80
120
160
200
240
n de pontos na imagem da rgua
Fig. 4.3 Linearizao dos pontos para calibrao de uma imagem.
4.3 Anlise dos Sinais e Reduo dos Dados Experimentais
Nesse item, so descritos os procedimentos de anlise e o equacionamento para reduo dos

dados de cada bancada.
4.3.1 Bancada esttica
a. Tenso de sada da sonda
Foi feita uma mdia das 10 amostras de tenso adquiridas de cada espessura.
58
b. Capacitncia do sensor
Foi feita uma mdia das 10 amostras de capacitncia adquiridas de cada espessura com
Agilent LCR.
4.3.2 Para a bancada dinmica
Foi feita uma mdia dos sinais dos transdutores de presso e do termopar adquiridos em
cada teste dinmico. Para os outros medidores a anlise a que segue.
a. Sonda capacitiva
Foi avaliado o espectro de freqncias apresentado pela sonda utilizando o programa

LabView 8.5, percebeu-se desse espectro freqncia maiores de 150 Hz, que, entretanto, no
tinham correspondncia com as freqncias de variao da espessura medidas pelas imagens.
Tambm, foi percebida uma amplificao na frequncia de 120 Hz no sinal da sonda, mas sem
correspondente no espectro da espessura pelas imagens.
Por isso, os sinais da sonda foram tratados com um filtro passa-baixa freqncias, com
corte na frequncia de 150 Hz. Tambm, foi aplicado um filtro corta-faixa para atenuar o sinal na
frequncia de 120 Hz. Considerou-se que essa amplificao era devida a uma harmnica da
frequncia da rede (60 Hz), pois ela ocorreu em todos os testes do escoamento bifsico.
Dos sinais tratados de cada teste foi feita uma mdia, tanto dos obtidos com a sonda quanto
com a cmera.
b. Imagens da camada anular
As imagens da camada anular foram tratadas para identificao da interface do leo na gua
e para medio da quantidade de pontos na imagem que so pretos. Um software capaz de fazlo, tratar e medir, o ImageJ v. 1.41, de domnio pblico. Esse programa pode emitir relatrios
com a quantidade de pontos pretos de cada imagem ou de uma determinada regio delas.
59
Tambm, ele capaz de gravar e executar macros (sequncia de procedimentos) para um

conjunto de imagens.
Foi desenvolvido um tratamento robusto para cada conjunto de 2000 imagens, pois
aconteceram bolhas de ar e de leo na gua, e reflexos e bilhos na superfcie do leo.
As bolhas de ar aconteceram devido ineficincia do tanque separador que, alm de deixar
passar gua para o compartimento de leo, succionava ar junto com os outros dois.
Os procedimentos para o tratamento so descritos abaixo e as imagens obtidas em cada um

deles so, respectivamente, apresentadas na Fig. 4.5.
Saturao
As imagens fornecidas pela cmera so de 8 bits, 256 tons de cinza, e so transformadas em

imagens binrias, ou seja, em preto ou branco. Deve-se escolher um tom de cinza a partir do qual
um tom mais escuro se tornar preto e um tom mais claro se tornar branco. Esse procedimento
chamado de saturao e transforma a imagem em uma binria.
O ImageJ apresenta para cada figura um histograma da frequncia de pontos por cada tom
de cinza. Escolhe-se, para cada conjunto de imagens, o tom abaixo do qual ocorrer a saturao,
conforme apresentado na Fig. 4.4.
Nesse procedimento, define-se, tambm, se uma bolha de ar na gua ficar branca ou preta.
Como as bolhas so fontes de incerteza na medio da espessura da camada de gua tanto para a
cmera quanto para a sonda, preferiu-se contabilizar as bolhas de ar como se fossem leo porque
a permissividade relativa do ar (1,0005) prxima da do leo (2,65).
60
Fig. 4.4 Histograma para escolha da saturao.
Media
Faz-se uma mdia de uma interface de pixels aplicando o filtro Median no ImageJ com um
raio de 2 pixels. Isso faz com que em cada superfcie dentro desse raio seja feita uma mdia entre
os pontos.
Preenchimento
Utiliza-se uma ferramenta para preencher os buracos na parte preta da imagem que so
devidos aos brilhos e reflexos da luz e s bolhas de ar sobre a superfcie do leo na imagem.
Antes de faz-lo, deve se recortar a parte da imagem que no ser utilizada.
Filtro
Aplica-se um filtro para arredondar as superfcies com um raio de 5 pontos (pixels) ou

retirar outras cuja rea seja menor que a de um crculo com raio de 5 pontos.
61
Imagem
original
Saturao
Mdia
Preenchimento
Filtro
rea para
medio
Fig. 4.5 Tratamento de uma sequncia de imagens.
rea para medio
Por ltimo, seleciona-se um retngulo, de 108x240 pontos na imagem, cuja quantidade de

pontos pretos ser contada pelo programa e considerada para a medio. Para efeito de clculo,
faz-se uma mdia das colunas de pontos ao longo do eixo do escoamento, ou seja, soma-se todos
os pontos pretos e divide-se por 108. Com essa soma, as bolhas somam-se superfcie do leo.
62
Considerando-se que o coeficiente angular da reta de calibrao, apresentada na Fig. 4.3,

valha tambm para a horizontal, o retngulo da rea de medio tem 11,3x25,2 [mm].
A escolha do tamanho desse retngulo deve ser coerente com aquela feita no procedimento
de saturao de se contabilizar as bolhas de ar como leo. Preferiu-se escolher um retngulo mais
largo para que no se corresse o risco de uma bolha, em uma coluna estreita de pontos,
representar a superfcie toda como leo na imagem.
4.3.3 Funo de converso das imagens em uma espessura
Para converter quantidade de pontos da imagem em milmetros de espessura de camada

anular de gua foi utilizada uma funo onde se entra com a quantidade de pontos pretos (leo)
de uma coluna de pontos que, subtrados da quantidade total de pontos da coluna, corresponder a
quantidade de pontos brancos (gua). Como a gua sempre est na posio superior da figura,
basta que se multiplique a quantidade de pontos pela funo de calibrao obtida com a rgua.
S = 0,105 PB 4,696
4.9
onde o nmero de pontos de gua :
PB = PC PP
4.10
onde PB o nmero de pontos brancos, PC o nmero de pontos da coluna e PP o numero de

pontos pretos.
A incerteza nessa medida, relativa de determinao da interface do escoamento pela
imagem, que de 1 ponto (pixel), de 0,05 mm.
4.3.4 Caracterizao do escoamento nos testes dinmicos
Para se caracterizar o escoamento de cada teste foram adquiridas duas presses do

escoamento, uma vez que no se tinha medidores de vazo disponveis: a presso do leo (P3) a
63
nas proximidades do injetor (50 cm antes do encontro dos fluidos) e a presso do escoamento
(P4) dali 8 m.
Assim, para cada escoamento, tem-se um par de presses que o caracteriza: uma presso de
incio do escoamento, pois devido pequena distncia a montante do bocal injetor, pode assim
ser considerada, e uma de perda de carga.
Tabela 4.1 Caracterizao do escoamento.

Dia
1
Teste
P3 [KPa]
P4 [KPa]
1
2
3
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
1
2
3
4
5
48,4
62,5
72,3
46,5
45,4
45,5
84,3
84,4
89,1
88,1
87,5
86,1
84,2
65,1
66,9
66,6
39,9
40,4
40,7
38,6
38,5
38,6
39,3
38,8
38,6
38,0
37,9
31,8
45,3
56,8
65,5
39,1
38,9
39,0
71,8
71,6
76,3
75,3
75,0
73,3
72,9
57,5
59,4
59,7
36,9
37,0
37,2
36,0
35,8
36,0
36,1
34,9
35,0
34,4
34,4
29,7
64
Temp. amb.
Mdia [C]
24,4
24,4
24,4
22,7
22,7
22,7
22,8
22,8
22,8
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
22,9
23,0
23,0
23,0
23,0
23,8
23,8
23,8
23,8
23,9
S mdia
cmera [mm]
3,84
3,12
1,44
3,85
3,54
3,88
2,39
1,45
1,68
2,71
2,33
2,12
2,39
3,55
3,17
3,43
3,21
3,54
3,54
3,24
2,90
2,97
3,01
2,26
2,22
2,17
2,23
2,92
Para cada escoamento caracterizado e estvel foram avaliadas as espessuras da camada

anular do escoamento: pela sonda capacitiva e pelas imagens da cmera. Sendo que, para isso, a
aquisio delas se inicia simultaneamente.
A Tabela 4.1 caracteriza o escoamento de cada teste realizado. Os testes foram realizados
em dias diferentes. Tambm, no segundo dia foram realizados mais testes para se verificar se com
maiores vazes, e assim maiores presses estticas, se obteria menores espessuras da camada
anular.
65
Captulo 5
Apresentao e Discusso dos Resultados
5.1 Introduo
Os resultados foram divididos em estticos e dinmicos. Ou seja, aqueles obtidos na

instalao de testes estticos e na instalao de testes dinmicos, respectivamente, descritas
anteriormente no Cap. 3.
Os resultados estticos mostram algumas caractersticas da Sonda, tais como: a tenso

eltrica na sada do transdutor em funo da espessura da camada anular de gua com diferentes
propriedades dieltricas, a sensibilidade desse sistema, sua faixa de medio e os efeitos da
condutncia dos fluidos na distribuio do campo eltrico entre seus eletrodos. Em operao no
campo, a gua poder alterar sua condutividade eltrica devido a variaes de sua salinidade ao
longo do escoamento.
O transdutor foi avaliado para a medio da capacitncia e os efeitos volumtricos da sonda

foram estudados visando medir a espessura da camada de gua ao longo do eixo tubo.
Os resultados dinmicos mostram uma comparao das espessuras obtidas atravs das
imagens da cmera filmadora com as espessuras medidas com a sonda capacitiva.
66
5.2 Resultados dos Testes Estticos
Com o objetivo de se estudar o efeito do sal na condutividade da gua, foram utilizados

dois tipos de gua para a formao da camada anular: uma da rede hidrulica da Unicamp e outra
destilada. Dessas guas, foram medidas propriedades eltricas tais: permissividade relativa,
dissipao dieltrica e permissividade relativa complexa (soma complexa das anteriores)
utilizando-se o Agilent LCR operando com um sinal de frequncia 1 MHz.
As anlises que seguem foram feitas a partir das variaes da espessura da camada anular
de cada gua utilizando-se o transdutor desenvolvido no projeto. O Agilent LCR foi utilizado
como transdutor de referncia. Para isso, o mesmo conjunto de eletrodos da seo de medida foi
conectado a um ou a outro equipamento.
Para uma avaliao do transdutor da sonda como medidor da capacitncia foram medidas,
para as mesmas condies de espessura, materiais e freqncias de sinal, as capacitncias no
sensor com o transdutor e o Agilent LCR. Na Fig. 5.1, so apresentadas as respostas de cada
medidor e a incerteza de medio do Agilent LCR, cujo clculo foi baseado no equacionamento
proposto pelo fabricante no manual Agilent (2000).
5,6
Tenso no transdutor
Capacitncia e incerteza no LCR
5,2
550
Vo, V
4,8
500
4,4
450
4,0
400
3,6
10
15
20
25
30
35
S, mm
Fig. 5.1 Comparao entre o transdutor e o Agilent LCR.

67
Capacitncia e incerteza, fF
600
A resposta do transdutor da sonda, em Volt, e do Agilent, em Faraday, foram proporcionais

e, numa escala, para cada 10 mV na sada do transdutor teve-se 1,1 fF na sada do Agilent LCR.
Ou seja, se a sada do transdutor apresentou 4 V, o Agilent LCR apresentou 440 fF.
5.2.1 Resposta da sonda em funo da espessura da camada anular de gua
Durante os testes, a temperatura das guas manteve-se entre 23,5 e 23,8 C. Os resultados
so apresentados no grfico da Fig. 5.2, onde a ordenada a tenso na sada do transdutor, , e a
abscissa a espessura da camada anular de gua, S.
5,6
gua destilada
gua da rede
5,2
Vo [V]
4,8
4,4
4,0
3,6
0
10
15
20
25
30
35
S [mm]
Fig. 5.2 Resposta da sonda em funo da espessura da camada anular de gua.
Para maior certeza dos resultados, foram feitas replicatas desses testes, conforme
procedimento experimental descrito no item 4.1. At por que os resultados dos testes estticos
com o transdutor e com o Agilent LCR foram equivalentes, conforme apresentado na Fig. 5.1
onde foi utilizada gua da rede, e ainda, coerentes com os resultados, para essa mesma gua,
apresentados na Fig. 5.2.
68
Dentre as replicatas, houveram diferenas nas respostas devido temperatura ambiental.

Isso porque o transdutor apresenta uma deriva (drift) na tenso de sada devido aos efeitos da
temperatura nos semicondutores responsveis pela deteco e gerao de seus sinais. Dos Reis
(2003) apresenta uma anlise desses efeitos em relao temperatura ambiente.
A influncia disso nos resultados da Fig. 5.2, entretanto, desprezvel, pois esses testes
foram realizados em um tempo total de, no mximo, 8 min com o transdutor j aquecido.
A partir dos dados da Fig. 5.2, pode-se estimar a sensibilidade esttica da sonda ao longo
da faixa de medida da espessura S. A sensibilidade definida como sendo = dV/dS
(FIGLIOLA; BEASLEY, 2006), portanto, ela pode ser aproximada como sendo a inclinao dos
trechos de reta que interligam os pontos dos testes experimentais da Fig. 5.1 da seguinte forma:
V/S ou (Vn Vn-1)/(Sn Sn-1), onde n representa o nmero do ponto de 1 a 12. Assim,
pode-se calcular 11 valores de .
A Fig. 5.3 apresenta a distribuio de tanto para gua destilada quanto para a gua da
rede, onde, para valores positivos, o grfico da curva decrescente e para valores negativos ele
crescente. Prximo a S = 1 mm, ocorre um ponto de inflexo no grfico de para a gua da rede
indicando uma mudana busca na taxa de decrescimento do grfico da Fig. 5.2.
0,6
gua destilada
gua da rede
[V/mm]
0,4
Limite para gua destilada
0,2
0,0
-0,2
Limite para gua da rede

-0,4
0
10
S [mm]
Fig. 5.3 Sensibilidade da sonda para ambos os tipos de gua.

69
A inflexo da sensibilidade entre os trs pontos de menores espessuras da gua destilada se

deve principalmente alta sensibilidade nessa regio e ao fato do campo eltrico se distorcer na
interface entre a gua e o vidro, conforme explicado no prximo item.
Outra informao importante na Fig. 5.3 a tendncia de a zero com o aumento da
espessura S da camada de gua. Deve haver um limite da medida da espessura para o qual uma
mnima variao sua no seja assim registrada no sistema de aquisio. Assim, considerando-se
que o limite de sensibilidade da sonda determinado pela resoluo do sistema de dados e pelo
rudo na tenso de sada da prpria sonda para uma condio esttica de medio (capacitncia
constante), e sabendo-se que a resoluo do sistema de aquisio, apresentado no tem 3.3, de 16
bits de 0,305 mV, uma estimativa deste limite de sensibilidade pode ser determinado da
seguinte forma: calcula-se o desvio padro de uma amostra de sinal e obtm-se, para um intervalo
de confiana de 95%, um desvio de 0,5mV. A raiz da soma dos quadrados desses valores
corresponde a 0,58 mV
A faixa de medida de S da sonda tanto para a gua destilada quanto para a gua da rede
pode ser adotado como sendo aquele em que 0,025 V/mm, isto , neste limite, variaes de
cerca de 0,1 mm de S provocariam variaes de cerca de 2,5 mV na sada do transdutor, que
correspondem a cerca de quatro vezes a estimativa do limite de sensibilidade. Nesse limite de
sensibilidade, pode se considerar que a resoluo na espessura de 0,025 mm.
Para a gua destilada a faixa de 1 a 5 mm e para a gua da rede de 1 a 10 mm. Para a gua
da rede, o incio de ambas as faixa diferente devido ao comportamento das curvas que foi
estudado mais detalhadamente atravs de mtodo numrico como exposto nos itens a seguir.
A Fig. 5.2 permite observar um comportamento distinto das curvas de resposta de tenso
eltrica versus espessura da camada de gua. H dois fatores que provocam este comportamento:
a espessura da parede do tubo e o sal dissolvido nas guas testadas, conforme discutido a seguir.
70
a. Efeito da espessura da parede do tubo de vidro
Para gua destilada com condutividade eltrica baixa, segundo Jaworski e Bolton (2000),
esse comportamento se deve espessura da parede do tubo de vidro, que est entre o sensor e a
gua na camada anular, e acontece com maior intensidade quando os eletrodos fonte e sensor so
adjacentes na tubulao. Uma possvel explicao para este fenmeno baseada no exame da
Fig. 5.3, retirada de Hayt Jr e Buck (2001), pg. 146, onde D1 = 1 E1 e D2 = 2 E2 so os vetores
de densidade de fluxo eltrico, 1 e 2 as permissividades dieltricas complexas dos meios 1 e 2,
E1 e E2 os vetores campo eltrico e 1 e 2 os ngulos com a direo normal interface entre os
meios. Para meios isotrpicos e sem a presena de cargas distribudas ao longo da interface, a
equao que rege o fenmeno :
1 1 1 = 2 2 2
5.1
Como os eletrodos foram montados externamente ao tubo de vidro, a explicao para o

comportamento observado na Fig. 5.2 a forte distoro do campo eltrico quando sai de um
meio para outro, ou seja, quando sai do vidro e entra na gua (prximo ao eletrodo fonte) e
quando sai da gua e entra no vidro (prximo ao sensor), causando, por conseguinte, fortes
alteraes na distribuio das cargas ao redor do eletrodo sensor.
Fig. 5.4 Refrao do campo eltrico atravs da interface entre dois meios com
diferentes permissividades dieltricas (HAYT JR; BUCK, 2001).
71
A Tabela 5.1 apresenta os valores das propriedades das guas obtidas com o medidor de
LCR junto com os acessrios de testes de fluidos e slidos: permissividade relativa complexa
(r ), permissividade relativa (r ) , dissipao dieltrica (r ). Estas propriedades foram obtidas
utilizando-se metodologia, equacionamento e dispositivos apresentados nos Apndices A e B.
Como pode ser visto, a permissividade dieltrica da gua destilada da ordem 16 vezes a do
vidro.
Tabela 5.1 Propriedades dieltricas dos materiais ( = 1).
r
Temp.
amb. [C]
79,0 - 406,1j
79,0
406,1
23,3
78,6- 14,4 j
78,6
14,4
23,2
PTFE
2 - 0,001j
0,001
23,2
Vidro
Borossilicato
5 - 0,001j
5,0
0,001
23,2
Ar
1,0005 - 0,0001j
1,0005
0,0001
23,2
gua da
rede
gua
Destilada
Sabe-se que houve uma parcela de condutividade eltrica pela gua destilada (r =14,4),
pois no se conseguiu isentar gua utilizada na sonda, cuja permissividade fora medida
posteriormente, de sais e xidos.
Os resultados deste item apontaram uma grande desvantagem da opo pela montagem
externa dos eletrodos devido s distores do campo eltrico. Outra opo seria uma montagem
interna, isto , com a superfcie dos eletrodos alinhada com a parede interna da tubulao
mantendo a no-intrusividade do sistema. Para isso, deve ser feito um tratamento na superfcie
dos eletrodos para que no molhem ao leo, pois, caso ocorra impregnao de leo nessa
superfcie, os efeitos sero os mesmos de uma superfcie dieltrica, como o vidro no caso dos
eletrodos externos, entre o eletrodo e a gua.
72
Entretanto, a complexidade aumentaria pelo fato da distribuio do campo eltrico

depender tambm de ambas as parcelas da permissividade dieltrica relativa complexa: r e r ,
isto da forma com que a corrente eltrica total transpassaria os meios. Porm, h diferenas de
defasagem entre ambas as componentes da corrente eltrica, isto , enquanto est em fase com o
sinal de excitao, relacionada dissipao dieltrica r , a outra est deslocada em 90o,
relacionada permissividade r . Portanto, no transdutor eletrnico, poder-se-ia prover a devida
separao destas componentes para que apenas aquela devida a r seja calibrada em funo da
espessura da camada anular de gua na seo de medida. Ademais, a literatura descreve outros
fenmenos que poderiam estar presentes nesta condio, tais como polarizao interfacial
(RAJU, 2003) e impedncia de contato (ALME; MYLVAGANAM, 2006).
b. Efeito do sal dissolvido na gua
Neste item, o efeito do sal estudado utilizando-se modelagem da distribuio do campo

eltrico na seo de medida da sonda atravs das equaes de Maxwell. Para a soluo foi
utilizado o Mtodo dos Elementos Finitos MEF (DOS REIS, 2009).
Em relao ao efeito da condutividade eltrica da gua devido ao sal, a Fig. 5.2 mostra que,
para uma espessura da camada de gua menor do que cerca de 3 mm, a tenso eltrica foi maior
para gua da rede do que para gua destilada. Por outro lado, para espessuras maiores do que 3
mm, o comportamento foi o oposto.
Os fenmenos eletromagnticos so descritos atravs das quatro Equaes de Maxwell: (i)

a Lei de Gauss para campos eltricos, (ii) a Lei de Induo de Faraday, (iii) a Lei de Gauss para
campos magnticos e a (iv) Lei de Ampre. As hipteses de que os materiais na seo so
isotrpicos e de que a intensidade do campo magntico induzido desprezvel so suficientes
para o clculo das distribuies dos campos eltricos atravs da Lei de Gauss, para a geometria
da sonda e dos materiais propostos. Se for adotada tambm a hiptese de que no h cargas livres
no interior da seo, mas apenas no corpo dos eletrodos cujo potencial eltrico fixo, ento:
. , , +
, , = 0
73
5.2
onde a condutividade eltrica do material em S/m, = 2 f a velocidade angular em rad/s,
(x,y,z) a distribuio do potencial eltrico com E = - (x,y,z) e = 1. Caso os eletrodos

sejam montados externamente ao tubo de material dieltrico e os materiais na seo sejam
considerados dieltricos perfeitos com = 0 S/m, a equao 5.2 se torna a seguinte equao de
Laplace:
. , , , , = 0
5.3
Com o intuito de esclarecer o efeito do sal dissolvido, foram realizadas, por Dos Reis em
2008, simulaes bidimensionais (2D) , isto , foi considerado que no havia variaes do
potencial ao longo do eixo axial da sonda.
Conforme apresentado na Tabela 5.1, a hiptese de que = 0 S/m parece ser satisfatria
para o vidro e para o PTFE, que possuem baixas condutividades eltricas; portanto, esta hiptese
seria vlida somente para o caso da gua destilada. Para este caso, a equao 5.3 acima seria
vlida.
Segundo Alme e Mylvaganam (2006) para que o divergente devido permissividade e
condutividade equacionado na eq. 5.2 seja resolvido num domnio onde existam ambos efeitos
devem ser resolvidas para as duas parcelas paralelamente ou harmonicamente.
J o modelo de Debye, que correlaciona a parcela real e a imaginria da permissividade

complexa a partir de parmetros como freqncia, condutividade eltrica, permissividade eltrica
do vcuo e outros (RAJU, 2003), permite calcular a condutividade eltrica a partir dos valores de
r apresentado na Tabela 5.1. Assim, para o caso da gua da rede em que 0,023 S/m e,
portanto, no desprezvel, a eq. 5.2 deve ser resolvida ao invs da 5.3.
As capacitncias da soluo 2D da eq. 5.3, para diferentes espessuras da camada de gua

(DOS REIS, 2008), foram comparadas com os valores de tenso eltrica medidos na sada do
transdutor. Entretanto, para gua para uma freqncia de excitao f fixa igual a 1 MHz e
condutividade dos materiais desprezvel, a tenso eltrica de sada pode ser interpretada como
diretamente proporcional capacitncia, como o caso dos testes com gua destilada da Fig. 5.1.
74
A Fig. 5.4, abaixo, compara os valores de capacitncia medidos com o Agilent LCR
conectado aos eletrodos da seo de medida com os valores calculados numericamente. Os
valores tericos calculados por comprimento de eletrodos, isto , em [pF/m], foram multiplicados
pela largura do eletrodo sensor de 3 x 10-3 m (3 mm) conforme discutido no item 2.1.1.
Na Fig. 5.4, diferenas entre os grficos dos dados experimentais e numricos podem ter
sido provocados por uma srie de fatores: (i) diferenas da geometria dos componentes na seo
de medida devido tolerncia de fabricao das partes (dimetro e espessura do tubo de vidro,
dimenses dos eletrodos, da blindagem, etc.); (ii) presena de alguma salinidade na gua
destilada como pode ser observado no valor de r da Tabela 1; (iii) efeitos devido presena de
partes metlicas prximo seo, tal como a dos flanges com potencial zero devido ao
aterramento da blindagem (veja a Fig. 2.2), que podem influenciar a distribuio do campo
eltrico entre os eletrodos. Este ltimo efeito discutido com mais detalhes no item a seguir.
0,55
0,50
0,45
C [pF]
0,40
0,35
0,30
Dados de simulao
Dados experimentais
0,25
0,20
0,15
0
10
15
20
25
30
35
S [mm]
Fig. 5.5 Resultados de simulao e experimentais com gua destilada.
75
Da mesma forma, a eq. 5.3 pode ser resolvida para a distribuio das condutividades
eltricas dos materiais (x,y,z), isto , a equao de Laplace tambm permite calcular a
distribuio do potencial eltrico no interior da seo quando as permissividades dieltricas de
todos os materiais so desprezveis ( = 0 F/m) ou quando a velocidade angular = 2 f ou a
freqncia do sinal f forem suficientemente baixas. A Fig. 5.5 apresenta os resultados destas
simulaes com vrias espessuras da camada de gua. Da mesma forma que no caso anterior, os
valores da capacitncia C apresentados na ordenada foram calculados a partir da definio C =
Q/V, onde V a diferena de potencial eltrico entre o eletrodo fonte e o sensor e Q a
quantidade de cargas eltricas distribudas na superfcie do eletrodo sensor. Vale ressaltar que os
valores de C so muito mais baixos do que aqueles apresentados no grfico da Fig. 5.4 pelo fato
da condutividade do vidro ser muito baixa, sendo 2 f o 0,05563 S/m, onde o a
permissividade dieltrica do vcuo (o = 8,8542 pF/m) de acordo com o modelo de Debye
(RAJU, 2003).
4,5
4,0
C [fF]
3,5
Dados da simulao
3,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0
10
15
20
25
30
35
S [mm]
Fig. 5.6 Resultados de simulao com permissividade dieltrica dos materiais

igual a zero.
76
Em relao aos dados experimentais da Fig. 5.1, sabe-se que, dentre as tendncias dos
pontos da gua da rede, dever haver uma derivada nula entre uma espessura anular entre zero e 1
mm semelhante ao observado na Fig. 5.5, ou seja, um ponto de mximo, pois caso a tubulao
estivesse cheia de PTFE, o que seria impossvel, deveria se ter uma tenso de sada no transdutor
menor que a de tubo cheio dgua (ltimo ponto direita na figura). Essa caracterstica foi
verificada, medindo-se a sada do transdutor quando a seo de medida estava cheia de ar ( 1)
com permissividade prxima da do PTFE ( 2), que foi de 2,93 V.
Na prtica, a menor espessura da camada anular foi de 1 mm devido s irregularidades do
vidro que poderiam interferir com tarugos de dimetros maiores que 59,8 mm. Poderia ter sido
feito um teste com a tubulao cheia de leo com as mesmas propriedades dieltricas do PTFE,
porm, isso custaria tempo para a pesquisa do material (com as mesmas propriedades dieltricas
do PTFE) e, quando nos testes, para a limpeza do equipamento.
Conclui-se, portanto, que a distribuio do campo eltrico na camada anular de gua sofre
forte influncia da salinidade, sendo que uma possvel forma de eliminar o problema seria instalar
os eletrodos internamente, ao invs de externamente, a fim de eliminar a influncia do tubo e
depois, eletronicamente, separar as componentes relativas condutividade e permissividade
dieltrica, j que elas se encontram defasadas em 90o.
c. Aterramentos adicionais
Distores do campo eltrico entre eletrodos flutuantes (no aterrados) e os flanges (Fig.
2.3) da unidade de suporte podem influenciar na capacitncia Cs2 (item 1.2.3b). Esses efeitos
foram considerados na simulao numrica na qual foi baseado o projeto da unidade de suporte e
do sensor, por isso tomou-se o devido cuidado para que os eletrodos ficassem distantes de 99,5
mm dos flanges. Os flanges, a blindagem, os eletrodos de guarda e toda a tubulao do
escoamento estaro em contato eltrico e aterrados.
77
5.2.2 Efeitos da distribuio axial da camada anular
Os efeitos da distribuio axial da camada anular tm a ver com a capacidade da sonda de

reproduzir variaes da espessura na direo axial, tal como a presena das ondas caractersticas
do core-flow. O chamado efeito volumtrico tem a ver com o fato de que o campo de
sensibilidade da sonda se distribui ao longo de uma regio finita ao redor dos eletrodos, sendo
que variaes adjacentes provocam distores do campo ao redor de todo o conjunto como um
efeito em cascata. Como o objetivo o desenvolvimento de uma sonda que possa operar em
condies reais de escoamento, neste item so apresentados dados para a avaliao desse efeito
volumtrico. Conforme descrito no item 3.1.2, a idia foi a de provocar uma perturbao atravs
da passagem de um anel de PTFE com dimenses conhecidas atravs da regio dos eletrodos.
Atravs da comparao do formato do anel com os sinais registrados na sada do transdutor,
procurou-se avaliar o efeito volumtrico.
Avaliaram-se os efeitos axiais na medio do sensor quando a gua na camada anular era
da rede ou destilada. Para se fazer essa avaliao, mediu-se, no tempo, quando o anel passava em
velocidade constante, a tenso apresentada na sada do transdutor quando o mesmo media a
corrente conduzida pelo eletrodo sensor.
Essa anlise possvel j que se pode considerar a medio do conjunto sensor transdutor
como independentes do tempo e to somente dependente do espao. Porque: a) devido
frequncia do sinal aplicado ao eletrodo fonte ser alta (1 MHz), e, assim, a cada perodo de
transmisso do potencial (1s), tem-se uma disposio das fases nas proximidades do sensor que
determinar uma capacitncia; quaisquer mudanas na disposio das fases que ocorram nesse
intervalo de tempo podero ser desconsideradas, b) e, tambm, a taxa de mudana da sada a um
estmulo instantneo (slew rate) do amplificador operacional (OPA627, Texas Instruments)
utilizado no transdutor , nas condies de um ganho de 4, da ordem de 100 V/s.
Com a passagem do anel de PTFE pela regio da sonda, busca-se informaes que
permitam analisar a capacidade da sonda capacitiva em reproduzir os perfis das ondas quando
estiver em operao no core-flow. Na Fig. 5.6, esto apresentados os sinais adquiridos com gua
destilada e gua da rede.
78
Foram assumidos, por hiptese, dois outros perfis que representam uma resposta ideal
baseada naquela onde variou-se somente a espessura transversalmente ao eixo do tubo, mostrada
na Fig. 5.2, do tubo reproduo do perfil do anel que, pela forma geomtrica, representaria uma
onda de perfil quadrado.
Os sinais do sensor na cor vermelha foram sobrepostos na figura com a representao da
posio do anel que, na bancada, deslocou de baixo para cima, mas que na figura foi representado
com deslocamento da esquerda para a direita a fim de que o eixo do tempo ficasse na horizontal.
5,5
V0 [V]
4,5
3,5
Posio do anel, em escala com o desenho dos eletrodos

gua da rede
Tenso esperada gua da rede
gua destilada
Tenso esperada gua destilada
Fig. 5.7 Tenso transduzida no eletrodo sensor em vermelho (no desenho

acima) em funo da posio do anel com gua destilada.
79
Para explicar melhor esse comportamento, o sensor pode ser avaliado como uma fatia da
rea total de recepo do potencial do fonte (guardas e sensor), conforme discutido no subitem
2.1.1 . A corrente induzida no sensor ser, ento, diretamente proporcional densidade das cargas
no fonte, quando o sensor for uma rea infinitesimal da rea total de recepo do potencial do
fonte (guardas e sensor), no caso 3,3% da rea total.
Quando o anel est na borda do fonte, ele isola o campo eltrico que era transmitido por ali
direcionando e concentrando-o para uma regio mais prxima do sensor e fazendo com que ele
mea uma densidade de carga maior. Isso acontece para as respostas do sensor para as duas
guas, pois a tenso mxima quando o anel est na entrada do lado do sensor. Na sada do anel
existe uma tenso mxima local que, entretanto, no supera a da entrada devido a sua distncia ao
eletrodo sensor considerado, porque a distoro do campo vai se atenuando at alcan-lo.
medida que o anel fica mais prximo do sensor e mais no meio do eletrodo fonte, a
transmisso do potencial do fonte para o sensor e para os guardas diminui. Em ambas respostas
houve essa diminuio da transmisso, entretanto, no caso da gua da rede, a diferena entre a
tenso mxima e a mnima foi menor que no caso da destilada. Alm do que, o ponto de tenso
mnima da gua da rede foi deslocado da resposta ideal esperada, que seria quando o anel
estivesse na frente do sensor, mostrando que predomina na resposta o efeito de distoro do
campo, entretanto atenuado pelo efeito da distoro do campo na transversal discutido no subitem
5.2.1a.
5.3 Resultados dos Testes Dinmicos
As espessuras das camadas anulares no escoamento foram obtidas de duas formas, atravs
das imagens da cmera e do sinal do transdutor da sonda capacitiva.
O foco da cmera foi ajustado, quando na calibrao da imagem com a rgua, no plano
vertical de simetria do tubo de forma a obter uma imagem paralela ao eixo, na espessura superior
da camada anular. Os eletrodos foram disposto de tal forma que pela linha que divide os eletrodos
sensor e fonte passasse o plano vertical de simetria do tubo. Dessa forma, tem-se que ambos
estariam medindo, majoritariamente, a mesma espessura de uma camada anular de gua.
80
5.3.1 Resposta da sonda em funo da espessura da camada de gua das imagens
Foram adquiridos, num mesmo intervalo de tempo, os sinais de tenso na sada da sonda e
as imagens da cmera relativas a um determinado escoamento. Os testes foram realizados em dias
diferentes, e por isso, caracterizando um conjunto de testes diferente. Cada conjunto de testes foi
feito no decorrer de, no mximo, uma hora.
Abaixo, so comparadas as respostas das mdias de tenso de sada do sensor com as
mdias de espessura das imagens, num intervalo de tempo, caracterizando um ponto. Em cada
incio e final de um conjunto de testes foram adquiridas as tenses de sada da sonda para tubo
com somente gua. Esses pontos so apresentados como espessura anular igual ao raio do tubo
(30,9 mm).
5,5
Pontos do teste esttico com gua da rede

5
Testes dinmicos 1
Testes dinmicos 2
Vm, [V]
4,5
Testes dinmicos 3
3,5
2,5
2
0
10
15
20
25
30
Sm [mm]
Fig. 5.8 Tenso de sada mdia por espessura mdia da camada anular.
So apresentados, tambm no grfico acima, os pontos do teste esttico que caracterizariam

uma mdia espacial da espessura para o sensor. Para isso, considera-se que a mdia temporal da
sada da sonda nos testes dinmicos equivalem a uma mdia espacial da espessura da camada no
81
escoamento. Isso porque o tempo de resposta do transdutor a uma mudana da capacitncia de

pelo menos 1 ms (DOS REIS, 2003), considerando-se que alteraes da distribuio espacial das
fases num intervalo de tempo de at 1 ms so pequenas e, ento, lineares para o transdutor nesse
tempo.
Alm do fato da resposta da sonda no ser linear em funo da espessura e, ento, uma
mdia aritmtica da sada no representa a mdia de espessura no escoamento. A explicao para
a diferena entre os resultados, uma vez que a gua e tampouco o leo do sistema foram trocados,
a alterao do grau de emulso do leo, a ionizao da gua por sais e ons que estavam no
leo, e outros que j estavam nela, a temperatura dos fludos e a temperatura e umidade
ambientais.
A influncia da alterao do grau de emulso do leo no to significativa quanto a

alterao da salinidade da gua, pois, conforme apresentado no Apndice A, a permissividade
relativa de uma emulso com 40% de gua em leo de 8,85.
5.3.2 Utilizao da resposta esttica como mtodo de calibrao
J que, conforme pode ser observado na Fig. 5.7, os pontos representados pelos pares
coordenados (mdia da tenso eltrica na sada do transdutor de capacitncia e mdia da
espessura medida com a cmera filmadora) para cada um dos trs conjuntos de testes dinmicos,
esto deslocados verticalmente para baixo em relao curva com os pontos obtidos na bancada
de testes estticos para gua da rede (Fig. 5.1), props-se utilizar uma curva de tenso eltrica
adimensional assumindo como hiptese que estas variaes advm, principalmente, das
mudanas das propriedades eltricas da gua.
Para uma comparao entre os pontos de cada teste, adimensionalizou-se a tenso eltrica
de cada teste, Vo,, dividindo-a pela tenso apresentada com o tubo cheio de gua em cada
conjunto de testes dinmicos, Vo,a, enquanto que a espessura mdia S permaneceu dimensional.
Adimensionalizou-se tambm os pontos do teste esttico. A Fig. 5.8 apresenta os dados com a
mdia da tenso eltrica adimensional (m).
82
5.4
Como sugesto para uma equao de calibrao, fez-se o ajuste de uma funo potncia nos
pontos do teste esttico. A funo potncia foi a que mais se aproximou desses pontos.
1,55
Pontos do teste esttico com gua da rede

Testes dinmicos 1
1,45
Testes dinmicos 2
Testes dinmicos 3
1,35
m [-]
Ajuste pontos do teste esttico

1,25
= 1,540 S -0,12
R = 0,995
1,15
1,05
0,95
0
10
15
20
25
30
Sm [mm]
Fig. 5.9 Tenso mdia adimensional por espessura mdia da camada anular.
Esse procedimento adimensionalizao elimina as variaes da permissividade dieltrica da

gua devidas temperatura e salinidade. Isso porque o meio de maior influncia na
sensibilidade da sonda a gua, pelo fato da gua estar mais prxima do eletrodo que o leo e
sua permissividade ser mais de 10 vezes maior que a dele.
Um grfico com os pontos do teste esttico e a funo inversa do ajuste exponencial
apresentado na Fig. 5.10. Sendo que a funo de ajuste e sua inversa so, respectivamente:
= 1,540 0,12
5.5
83
= 0,649
1/0,12
5.6
Pode ser calculada uma incerteza devida ao ajuste pelo mtodo RSS conforme a equao
abaixo:
5.7
5.8
onde a diferena entre uma espessura dada funo inversa do ajuste e uma experimental, n
o nmero de pontos e o coeficiente de Student para um intervalo de confiana de 95%
(HOLMAN, 1996).
35
30
25
Sson [mm]
20
15
10
5
0
1,0
1,1
1,2
1,3
1,4
1,5
z [-]
Fig. 5.10 Espessura pela tenso adimensional.

84
1,6
Para se obter uma incerteza total na medida da espessura pela sonda, a incerteza do ajuste
(U) deve ser contabilizada juntamente com a incerteza da espessura dada pela geometria dos
tarugos e do dimetro interno, que foi determinada no item 2.1.4. A incerteza total, utilizando-se
o mesmo mtodo da raiz da soma dos quadrados (RSS) para o clculo, foi de 0,65 mm.
Desconsiderou-se a incerteza em espessura devida ao circuito de transduo, apresentada

no item 5.2.1, que, para a menor sensibilidade detectvel pelo sistema, foi de 0,05 mm. Isso
porque, quando considerada na forma adimensional, atravs da eq. 5.4, ser ainda menor em
relao a incerteza devida ao ajuste e geometria.
A fim de se verificar a consistncia da eq. 5.5, que o ajuste dentre os pontos do teste
esttico, como forma de calibrao do sensor, foram realizadas comparaes das espessuras
mdias medidas com a sonda capacitiva com as medidas com a cmera filmadora. Para isso,
foram calculadas as espessuras da camada de gua assumindo-se como curva de calibrao a
funo inversa de = (), isto , = 1 ().
Depois de transformadasas tenses adimensionais em espessuras, fez-se a mdia destas e
comparou-se com a mdia das espessuras medidas pelas imagens. Os dados so apresentados nos
grficos das Fig. 5.9, onde a linha Sson,m = Sim,m em preto representa a condio ideal.
85
10
Testes dinmicos 1
Testes dinmicos 2
Testes dinmicos 3
Ajuste testes 1
Ajuste testes 2
Ajuste testes 3
Sson,m , mm
0
0
Sim,m , mm
10
Fig. 5.11 Espessura mdia a partir da sonda pela espessura mdia das imagens
para cada teste.
Para cada teste dinmico, obteve-se a variao da espessura de gua na camada anular do
core-flow medidos pela cmera (imagens) e pela sonda capacitiva como apresentado na figura
seguinte. Conforme discutido no item 3.2.2c, a cmera filmadora e a sonda capacitiva estavam
distanciadas cerca de 1,3 m, portanto, os sinais apresentados nos grficos no podem ser
comparados diretamente atravs de superposio simples, mas os valores de picos e vales e as
faixas de freqncias trazem informaes importantes sobre o desempenho da sonda. A Fig. 5.12
apresenta os dados de um teste obtidos no domnio do tempo, enquanto que a Fig. 5.13 apresenta
os mesmos dados no domnio da freqncia.
As Tabelas 5.2 e 5.3 apresentam dados sobre as diferenas dos sinais grficos da espessura
da medida pela sonda capacitiva e pelas imagens da cmera filmadora: espessuras da camada de
gua mxima e mnima, Smx e Smin, espessura mdia, Sm, desvio padro das espessuras, S, no
domnio do tempo e intervalo da freqncia cuja freqncia limite foi determinada como sendo
aquela que faz com que 95% do espectro esteja contido no intervalo desde 0 Hz, f, e a
86
freqncia dominante como sendo aquela relacionada ao maior valor do espectro de potncia,
fdom.
15
Espessura sensor
Espessura imagens
0
0,25
0,75
1,25
1,75
t [s]
2,25
2,75
3,25
3,75
Fig. 5.12 Espessura obtida com a sonda em comparao com a obtida das
imagens no teste 3 do dia 3.
200
180
Espessura sonda
Espessura imagens
160
PSD [Potncia/Hz]
S [mm]
10
140
120
100
80
60
40
20
0
-20
0
20
40
60
80
100
f [Hz]
Fig. 5.13 Espectros de potncia - comparao com a obtida das imagens e com
a sonda no teste 3 do dia 3.
87
Da Fig. 5.12 e das Tabelas 5.2 e 5.3, verifica-se que, na mdia, os valores de espessura
medidos com a sonda so ligeiramente menores dos que os medidos com as imagens da cmera
filmadora, isso aconteceu em todos os testes. Este fato tem relao com o que foi observado junto
Fig. 5.9. As faixas de amplitude Smx Smin dos sinais registrados pelos dois sistemas tambm
foi diferente, com as da cmera sempre maiores do que a da sonda capacitiva, este fato tambm
claramente observado nos grfico do espectro de potncia. Este resultado mostra que esta sonda
capacitiva se porta como um filtro passa-baixa com frequncia de corte da ordem de 5 Hz. Isto j
havia sido observado com os dados apresentados no item 5.2.2 obtidos com a passagem de um
anel de PTFE durante os testes na bancada de testes estticos.
Conclui-se, portanto, os dados mostram que o procedimento de adimensionalizao das

tenses eltricas, pela eq. 5.4, permite que os dados de calibrao da sonda na bancada de testes
estticos sejam utilizados nos testes dinmicos. Este procedimento tem a vantagem de
transformar a tenso de sada da sonda em valores de espessura com tarugos de PTFE, o que no
seria possvel na bancada dinmica devido fluidodinmica do core-flow. Entretanto, novos
estudos devem ser realizados a fim de se quantificar outros efeitos que estariam causando
diferena nas medies.
Tabela 5.2 Informaes dos dados de espessura da camada de gua obtidos com a cmera.
Domnio do tempo
Dia
3
Teste
3
Smx [mm]
11,47
Smin [mm]
0,14
Sm [mm]
2,17
S [mm]
1,59
Domnio da
frequncia
fdom [Hz]
f [Hz]
0 a 43,5
4,75
Tabela 5.3 Informaes dos dados de espessura da camada de gua obtidos com a sonda.
Domnio do tempo
Dia
3
Teste
3
Smx [mm]
3,88
Smin [mm]
1,07
Sm [mm]
2,02
S [mm]
0,51
Domnio da
frequncia
fdom [Hz]
f [Hz]
0 a 1,75
0,75
Tambm se conclui que h necessidade de se conceber um novo arranjo dos eletrodos de

forma a aumentar a resoluo espacial da sonda capacitiva, isto , para que ela no suprima sinais
88
em frequncia to baixas quanto 5 Hz. Uma das formas seria eliminar os eletrodos de guarda e
aumentar a largura do eletrodo sensor na direo axial da tubulao de tal forma que os efeitos de
distoro do campo eltrico na borda axial sejam minimizados. O melhor compromisso a maior
razo entre a sensibilidade transversal e a axial do sensor.
89
Captulo 6
Concluses e Sugestes
Este trabalho estudou uma sonda capacitiva para medio da espessura da camada de gua
na regio anular do escoamento anular leo pesado-gua, o core-flow.
Em relao a anlise do comportanto da sonda em testes estticos, pode-se concluir que:
1.
A sonda no apresentou linearidade na curva de espessura versus tenso eltrica

em sua sada. Sua resposta foi diferente para a gua destilada e a gua da rede. H
dois fatores que provocam este comportamento: a espessura da parede do tubo de
vidro e a condutividade eltrica devido ao sal dissolvido nas guas testadas que
altera permissividade dieltrica complexa distorcendo o campo eltrico.
2.
Devido s diferenas de permissividade dieltrica entre o vidro e gua, o campo

eltrico sofre forte distoro quando os eletrodos so montados externamente ao
tubo.
3.
A distribuio do campo eltrico na camada anular de gua sofre forte influncia

da salinidade, sendo que uma possvel forma de eliminar o problema seria instalar
os eletrodos internamente ao tubo de vidro, ao invs de externamente, a fim de
eliminar a influncia do vidro e, depois, eletronicamente, separar as componentes
relativas condutividade e permissividade dieltrica, j que elas se encontram
defasadas em 90o.
90
4.
Os efeitos dos aterramentos adicionais podem ser minimizados montando-se os

eletrodos distantes das partes metlicas como flanges e outros.
5.
Os eletrodos de guarda foram adicionados a fim de limitar os efeitos de distoro

junto s bordas do eletrodo sensor ou efeito volumtrico; porm, distores
adjacentes so fortemente percebidas na sada do transdutor tanto montante
quanto jusante nas regies dos respectivos eletrodos de guarda. Portanto, no
futuro, deve-se pensar em novas formas de montagem dos eletrodos na seo a fim
de limitar este efeito, sendo que uma alternativa aumentar a largura do eletrodo
sensor e eliminar os eletrodos de guarda, considerando-se, entretanto, que o
aumento da largura do eletrodo sensor poder atenuar freqncias mais altas na
medida da espessura.
Em relao anlise do comportamento da sonda nos testes dinmicos, pode-se concluir

que:
6.
A sonda tambm afetada por fatores como: grau de salinidade da gua,

temperatura da gua e grau de emulsificao do leo. Para os testes realizados, o
efeito do grau de emulsificao foi mnimo, conforme discutido no item 5.3.1. Por
outro lado, os efeitos do grau de salinidade da gua e da temperatura foram
minimizados atravs do procedimento de adimensionalizao das tenses eltricas
como discutido no item 5.3.2.
7.
O efeito das variaes de espessura da camada de gua devido s ondas do

escoamento foi analisado comparando-se os grficos de espessura mdia versus
tenso eltrica mdia na sada da sonda. Os dados indicaram que tal efeito, sobre a
mdia, mnimo, mostrando que os dados de calibrao da sonda na bancada de
testes estticos podem ser nos testes dinmicos nas condies examinada. Este
procedimento tem a vantagem de transformar a tenso de sada da sonda em
valores de espessura com tarugos de PTFE, o que no seria possvel na bancada
91
dinmica devido fluidodinmica do core-flow. Entretanto, novos estudos devem

ser realizados a fim de se quantificar melhor tais efeitos que estariam alterando as
medies.
8.
H necessidade de se conceber um novo arranjo dos eletrodos de forma a aumentar

a resoluo espacial da sonda capacitiva, isto , para que ela mea uma espessura
mais prxima daquela de uma seo transversal do escoamento. Uma das formas
seria eliminar os eletrodos de guarda e aumentar a largura do eletrodo sensor na
direo axial da tubulao de tal forma que os efeitos de distoro do campo
eltrico na borda axial sejam minimizados.
92
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98
Anexos
1 Programa para Determinao das Espessuras da Camada Anular
C
C
C
C
C
C
C
C
********************************************************************
*
PROGRAMA COMPUTACIONAL - TARUGOS.FOR
*
*
AUTOR: EMERSON DOS REIS (SETEMBRO DE 2008)
*
* DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA TRMICA E DE FLUIDOS - DETF
*
FACULDADE DE ENGENHARIA MECANICA - FEM
*
*
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS - UNICAMP
*
********************************************************************
PROGRAM TARUGOS
C
COMMON /BLK1/ IN,IO,ID
COMMON /BLK2/ A1,A2,A3,A4,A5
C
INTEGER NP,L,M,IN,IO,ID,NG
REAL*8 ES(3000),CAP(3000),D,E,EE1,A(5),S,A1,A2,A3,A4,A5,SMAX,TOL,
*
SDEF(500),SUM
C
C
C
DEFINICAO DOS PARAMETROS DE ENTRADA E SADA DE DADOS

IN=5
IO=8
ID=9
IT=10
C
C
C
ABERTURA DOS ARQUIVOS DE ENTRADA E SAIDA

OPEN(IN,FILE='OUTPUT.DAT')
OPEN(IO,FILE='TARUGOS.DAT')
OPEN(ID,FILE='DADOS.DAT')
OPEN(IT,FILE='SAIDA.DAT')
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
SUBROTINA DE LEITURA DOS DADOS
*
*******************************************************************
CALL INPUT(NP,ES,CAP)
99
C
C
C
C
C
C
C
C
C
*******************************************************************
* CHAMADA DA SUBROTINA DE AJUSTE DAS CURVAS C VERSUS ES DE ACORDO *
* COM O MODELO: A(2)*(1.-EXP(-X/A(3)))+A(3)*(1.-EXP(-X/A(4))), *
* ONDE A(1), A(2), A(3), A(4) E A(5) SO OS COEFICIENTE A CALCULAR*
* - CURVA AJUSTADA NOS PONTOS ORIGINAIS DE SIMULAO
*
*******************************************************************
CHUTE INICIAL
A(1)=10.D0
A(2)=10.D0
A(3)=10.D0
A(4)=10.D0
A(5)=10.D0
C
C
C
DEMAIS PARAMETROS
L=5
D=0.D0
M=0
E=1.D-10
EE1=1.D-4
C
CALL PARAM_LS(L,M,NP,D,E,EE1,A,ES,CAP)
C
C
C
C
PARAMETROS DA CURVA AJUSTADA NOS PONTOS ORIGINAIS DE SIMULAO:

A1, A2, A3, A4 E A5
A1=A(1)
A2=A(2)
A3=A(3)
A4=A(4)
A5=A(5)
C
C
C
C
C
*******************************************************************
* CHAMADA DA SUBROTINA DE ESCOLHA DOS DIMETROS DOS TARUGOS
*******************************************************************
SMAX=ES(NP)
TOL=1.D-6
CALL TARCALC(SMAX,TOL,NG,SDEF,SUM,A)
C
C
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
IMPRESSO DOS RESULTADOS
*
*******************************************************************
DESVIOS PERCENTUAIS DA CURVA AJUSTADA NOS PONTOS ORIGINAIS
DO 42 I=1,NP
S=ES(I)
FS=F(S)
WRITE(ID,40)I,ES(I),((FS-CAP(I))/CAP(I))*100.D0
42 CONTINUE
C
C
C
DIMETROS DOS TARUGOS
100
DO 44 I=1,NG
S=SDEF(I)
WRITE(IO,43)I,SDEF(I),2.D0*(ES(NP)-SDEF(I)),F(S)
44 CONTINUE
C
WRITE(IT,46)
WRITE(IT,45)A1,A2,A3,A4,A5
WRITE(IT,47)
WRITE(IT,45)A(1),A(2),A(3),A(4),A(5)
WRITE(IT,48)SUM
C
40 FORMAT(I6,7F15.6)
43 FORMAT(I5,3F10.3)
46 FORMAT(/' COEFICIENTES DA CURVA ORIGINAL')
47 FORMAT(/' COEFICIENTES DA CURVA COM NOVOS PONTOS')
45 FORMAT(5F10.5)
48 FORMAT(/' MDIA DO SOMATRIO DOS ERROS ABSOLUTOS =',E10.5)
C
STOP
END
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
SUBROTINA DE LEITURA DOS DADOS
*
*******************************************************************
SUBROUTINE INPUT(NP,ES,CAP)
C
C
INTEGER IN,NP
REAL*8 RB,EE,TETA1,TETA2,ES(3000),RC,CAP(3000)
C
C
C
LEITURA DO ARQUIVO DADOS.DAT

NP=0
10 CONTINUE
READ(IN,*,END=20)I,RB,EE,TETA1,TETA2,ES(I),RC,CAP(I)
NP=NP+1
GO TO 10
C
20 RETURN
END
C
C***********************************************************************
C PARAMETRIC LEAST SQUARES CURVE FIT SUBROUTINE. THIS PROGRAM
*
C LEAST SQUARES FITS A FUNCTION TO A SET OF DATA VALUES BY
*
C SUCCESSIVELY REDUCING THE VARIANCE. CONVERGENCE DEPENDS ON
*
C THE INITIAL VALUES AND IS NOT ASSURED.
*
C N PAIRS OF DATA VALUES, X(I), Y(I), ARE GIVEN. THERE ARE L
*
C PARAMETERS, A(J), TO BE OPTIMIZED ACROSS.
*
C REQUIRED ARE INITIAL VALUES FOR THE A(L) AND E. ANOTHER
*
C IMPORTANT PARAMETER WHICH AFFECTS STABILITY IS E1, WHICH IS
*
C INITIALLY CONVERTED TO E1(L)FOR THE FIRST INTERVALS.
*
C THE PARAMETERS ARE MULTIPLIED BY (1 - E1(I)) ON EACH PASS.
*
C***********************************************************************
C
101
SUBROUTINE PARAM_LS(L,M,N,D,E,EE1,A,X,Y)
C
PARAMETER(SIZE=300)
INTEGER I,L,M,N
REAL*8 D,E,EE1,A(L),X(SIZE),Y(SIZE),E1(L),A0,L1,L2,M0,M1
C
DO I = 1, L
E1(I) = EE1
END DO
C
C
C
SET UP TEST RESIDUAL

L1 = 1.D6
C
C
C
MAKE SWEEP THROUGH ALL PARAMETERS

50 DO I = 1, L
A0 = A(I)
C
C
C
GET VALUE OF RESIDUAL
A(I) = A0
100 CALL S200(L,L2,N,D,A,X,Y)
C
C STORE RESULT IN M0
C
M0 = L2
C
C REPEAT FOR M1
C
A(I) = A0 * (1.D0 - E1(I))
CALL S200(L,L2,N,D,A,X,Y)
M1 = L2
C
C CHANGE INTERVAL SIZE IF CALLED FOR
C IF VARIANCE WAS INCREASED, HALVE E1(I)
C
IF (M1 > M0) THEN
E1(I) = -E1(I) / 2.D0
END IF
C
C IF VARIANCE WAS REDUCED, INCREASE STEP SIZE BY INCREASING E1(I)
C
IF (M1 < M0) THEN
E1(I) = 1.2D0 * E1(I)
END IF
C
C IF VARIANCE WAS INCREASED, TRY TO REDUCE IT
C
IF (M1 > M0) THEN
A(I) = A0
END IF
IF (M1 > M0) THEN
GOTO 100
END IF
END DO !I LOOP
102
C
C
C
C
END OF A COMPLETE PASS

TEST FOR CONVERGENCE
M=M+1
IF (L2.EQ.0.) THEN
RETURN
END IF
IF (ABS((L1 - L2) / L2) < E) THEN
RETURN
END IF
C
C
C
IF THIS POINT IS REACHED, ANOTHER PASS IS CALLED FOR

L1 = L2
GOTO 50
C
END
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
MODEL FUNCTION FOR FITTING
*
*******************************************************************
SUBROUTINE S500(L,X,Y,A)
C
REAL*8 X,Y,A(L)
C
Y=A(1)+A(2)*(1.D0-DEXP(-X/A(3)))+A(4)*(1.D0-DEXP(-X/A(5)))
C
RETURN
END
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
RESIDUAL GENERATION SUBROUTINE
*
*******************************************************************
SUBROUTINE S200(L,L2,N,D,A,X,Y)
C
PARAMETER(SIZE=300)
INTEGER L,N,J
REAL*8 D,L2,A(L),X(SIZE),Y(SIZE),XX,YY
C
L2 = 0.
DO J = 1, N
XX = X(J)
C
C
C
OBTAIN FUNCTION
CALL S500(L,XX,YY,A)
L2 = L2 + (Y(J) - YY) * (Y(J) - YY)
END DO
D = DSQRT(L2 / DFLOAT(N - L))
C
RETURN
END
C
103
C
C
C
C
*******************************************************************
*
RESIDUAL GENERATION SUBROUTINE
*
*******************************************************************
SUBROUTINE TARCALC(SMAX,TOL,NGN,SDEF,SUM,AA)
C
C
INTEGER IO,NG,I,L,M,K,NGN
REAL*8 A1,A2,A3,A4,A5,SMAX,AUX(5),SUM,STAR(10000),STEP,SDEF(500),
*
DF1,DF2,X(300),Y(300),A(5),TOL,D,E,EE1,S,AA(5)
C
C
C
VARIAO INICIAL DA DERIVADA PRIMEIRA

DF0=1.D-1
C
C
C
CALCULO ITERATIVO DOS PONTOS

NG=1
STAR(1)=0.D0
DF1=DF(0.D0)
K=0
STEP=0.D0
C
50 CONTINUE
K=K+1
60
IF(STEP.GT.SMAX) GO TO 62
STEP=STEP+1.D-5
DF2=DF(STEP)
IF(DABS(DF1-DF2).GE.DF0)THEN
NG=NG+1
STAR(NG)=STEP
DF1=DF(STEP)
ENDIF
GO TO 60
C
62 IF(NG.GT.300) THEN
NG=1
STAR(1)=0.D0
DF1=DF(0.D0)
DF0=DF0+1.D-1
STEP=0.D0
GO TO 60
ENDIF
C
DO 64 I=1,NG
X(I)=STAR(I)
S=STAR(I)
Y(I)=F(S)
64 CONTINUE
C
C
C
ULTIMO PONTO
NG=NG+1
X(NG)=SMAX
104
Y(NG)=F(SMAX)
C
C
C
CHUTE INICIAL
A(1)=10.D0
A(2)=10.D0
A(3)=10.D0
A(4)=10.D0
A(5)=10.D0
C
C
C
DEMAIS PARAMETROS
L=5
D=0.D0
M=0
E=1.D-10
EE1=1.D-4
C
CALL PARAM_LS(L,M,NG,D,E,EE1,A,X,Y)
C
AUX(1)=A1
AUX(2)=A2
AUX(3)=A3
AUX(4)=A4
AUX(5)=A5
C
SUM=0.D0
DO 66 I=1,5
SUM=SUM+DABS((A(I)-AUX(I))/AUX(I))
66 CONTINUE
SUM=SUM/5.
C
IF(SUM.GE.TOL.AND.K.NE.1)GO TO 68
C
WRITE(*,*)K,NG,DF0,SUM
NGN=NG
DO 70 I=1,NG
SDEF(I)=X(I)
70 CONTINUE
DO 71 I=1,5
AA(I)=A(I)
71 CONTINUE
NG=1
STAR(1)=0.D0
DF1=DF(0.D0)
DF0=DF0+1.D-1
STEP=0.D0
GO TO 50
C
68 CONTINUE
C
RETURN
END
C
C
C
*******************************************************************
*
FUNO DO MODELO
*
105
C
C
*******************************************************************
REAL FUNCTION F(X)
C
C
REAL*8 X,A1,A2,A3,A4,A5
C
F=A1+A2*(1.D0-DEXP(-X/A3))+A4*(1.D0-DEXP(-X/A5))
C
RETURN
END
C
C
C
C
C
*******************************************************************
*
DERIVADA DA FUNO MODELO
*
*******************************************************************
REAL FUNCTION DF(X)
C
C
REAL*8 X,A1,A2,A3,A4,A5
C
DF=(A2/A3)*(DEXP(-X/A3))+(A4/A5)*(DEXP(-X/A5))
C
RETURN
END
C
C
C
C
********************************************************************
*
FIM DO PROGRAMA
*
********************************************************************
2 Incerteza de Medio dos Tubos de Vidro e Cilindros
Foram medidos o dimetro interno dos tubos para construo da sonda e o dimetro de 3
cilindros (tarugos de PTFE). No caso do tubo, interessa a medida e sua incerteza, j no caso dos
tarugos interessa somente a incerteza, pois os mesmos foram usinados numa s mquina com
dimetros previamente determinados.
106
Tabela 2.1 Medio dimetro interno dos tubos e externo dos tarugos.
FOLHA DE REGISTROS
PROCEDIMENTO:
MEDIO DE PEAS
PT-6254.0
LABORATRIO DE METROLOGIA
CENTRO DE TECNOLOGIA
REFERNCIA:
OS: 0328/2008
13/11/2008
01 de 01
FOLHA:
UNICAMP
DATA:
Relatrio de medio n 540-06CT2008
Empresa:
FEM - Faculdade de Engenharia

Mecnica
Pea:
2 tubos de vidro e 3 cilindros de teflon
Ident.:
no
consta
Referncia
Laser, fabric. HP, certificado de calibrao n DIMCI1170/2006 INMETRO

(validade 07/2010)
Equip./Padro:
Mquina universal de medio, fabricante Carl Zeiss
Relgio comparador centesimal, fabricante Tesa, certificado de calibrao
n216-06CT2006 - CT Unicamp (validade 06/2009)
Comparador de dimetros internos, fabricante Carl Mahr
Observaes
Medies nos pontos solicitados pelo cliente
Medies realizadas em sentido horrio
Temperatura 20,40C
Executor:
Visto:
Jose Ricardo Vulto
Cilindro 1
D1
D2
Cilindro 2
D1
D2
Cilindro 3
D1
D2
Tubo 1
D1
D2
Tubo 2
D1
D2
59,66
59,69
Mdia
D1
59,66
59,69
58,27
58,27
Mdia
D1
58,27
58,27
55,53
55,53
Mdia
D1
55,53
55,52
62,19
62,12
Mdia
D1
62,30
62,25
61,65
61,66
Mdia
61,52
61,55
61,66
59,66
59,68
59,66
58,27
58,27
58,27
55,53
55,53
55,53
62,51
62,46
62,42
61,50
61,56
Valores obtidos (mm)

59,66
59,65
59,66
59,68
59,69
59,69
Mdia
D2
59,69
58,27
58,27
58,27
58,27
58,27
58,27
Mdia
D2
58,27
55,53
55,53
55,53
55,52
55,53
55,53
Mdia
D2
55,53
62,66
62,67
62,52
62,63
62,61
62,47
Mdia
D2
62,37
61,60
61,72
61,79
61,66
61,77
61,85
Mdia
61,71
107
59,66
59,69
59,66
59,69
58,27
58,27
58,27
58,27
55,53
55,53
55,53
55,53
62,31
62,28
62,19
62,15
61,79
61,84
61,73
61,77
D1
Disperso utilizada para o clculo de incerteza
Cilindro 1 D1
59,66
59,66
Tubo 1 D1
62,19
62,19
D2
59,66
62,19
59,66
62,19
59,66
62,19
59,66
62,19
Incerteza de medio dos tubos 0,02 mm, para k=2,4.

Incerteza de medio dos cilindros 0,02 mm, para k=2,6.
As incertezas de medio relatadas so declaradas como incertezas-padro das medies, multiplicadas pelos fatores
de abrangncia respectivos (k) que, para uma distribuio normal, correspondem a uma probabilidade de abrangncia
de aproximadamente 95%. As incertezas-padro de medio foram determinadas de acordo com a publicao EA-402.
108
desv pad
0,00
0,00
Apndice A
Medico de Permissividade Relativa Complexa e Suas
Componentes em Emulses de gua em leo A/O
A.1 Introduo
A utilizao de instrumentos dedicados na medio frao de vazio, holdup e outras
relaes pertinentes em escoamentos multifsicos trouxe a necessidade de se medir as
propriedades de certos materiais expostos a campos eltricos e magnticos.
Para o caso de tomgrafos capacitivos e sensores capacitivos as propriedades relevantes

so: i) permissividade relativa uma dessas propriedades, quando se aplica uma ddp em eletrodos
imersos em um material gerado um campo eltrico e tambm acumulada uma carga no
material e tambm nos eletrodos que variam de acordo com a grandeza escalar dessa propriedade;
ii) Fator de dissipao que corresponde razo entre a reatncia e a resistncia apresentadas em
certa freqncia de excitao.
A.2 Objetivos
O relatrio tem os seguintes objetivos: i) Medir permissividade relativa e o fator de
dissipao da gua, do leo e de emulses de leo-gua na freqncia de 1Mhz; ii) Calcular os
erros relativos da medio e das fraes das amostras.
109
A.3 Descrio dos aparatos experimentais

Para se medir permissividade relativa e fator de dissipao de um fluido so necessrios
instrumentos que meam capacitncia e resistncia do mesmo. necessrio tambm um
dispositivo que encerre o fluido em anlise e nele disponha um campo eltrico.
O instrumento utilizado para se medir capacitncia e resistncia, mostrado abaixo, foi o

Medidor LCR, marca Agilent, modelo E4980A, sinal em freqncia na faixa de 20 Hz a 2 MHz,
faixa de medio de impedncia de 1m < |Z| < 1 G e incerteza de medio bsica de 0,05%.
Fig. A.1 Medidor LCR.
Fig. A.2 DTF.

Para se dispor o lquido para medio necessrio um acessrio, mostrado abaixo,
chamado Dispositivo Testador de Lquidos (DTF) da marca Agilent, modelo 16452A, faixa de
110
freqncias aplicveis de 20Hz a 30 MHz, temperatura de operao de -20 a 125 C e incerteza

na medio dependente da freqncia e da impedncia do fluido.
A temperatura e a umidade ambiente foi medida com um Termohigrmetro, mostrado

abaixo, da marca RadioShack, com resoluo de 1C.
Fig. A.3 Termohigrmetro.

A.4 Procedimento Experimental
Materiais em anlise
O leo analisado petrleo proveniente do campo de Jubarte, regio da costa do Espirito
Santo - Brasil , de classe asfaltnica existente no LabPetro - UNICAMP.
A gua utilizada nas misturas destilada.
Amostras preparadas para medio
Na Tabela A.1 encontram-se os materiais cujas constantes dieltricas devero ser medidas.
Tabela A.1 Materiais amostrados.
Quantidade
Material
09
Amostras de emulses do leo e gua destilada.
01
Amostra de gua destilada
111
A.4.1 Descrio da seqncia para medio de capacitncia e resistncia
a. Preparao dos aparatos
Em sala com temperatura aproximadamente constante ao longo do dia, onde encontram-se

os equipamentos para medies, so ligados, conectados e instalados, em posio de medida, os
seguintes instrumentos, na ordem: i) Medidor LCR; ii) Dispositivo Testador de Fluido; iii)
Termohigrmetro.
Segundo o guia de usurio (AGILENT, 2008) do Medidor LCR o equipamento entra em
regime de temperatura em 30 min.
b. Insero do lquido no DTF
Existe certa dificuldade de se inserir o lquido a ser medido no DTF pois a seo de medida
pequena assim como a cnula de entrada. Para lquidos ultra viscosos como o leo cru e suas
emulses essa dificuldade aumenta.
Fig. A.4 DTF.

Para contornar esse problema e garantir a ausncia de bolhas na seo de medida utiliza-se
uma seringa com a ponta aberta para facilitar a suco do leo do recipiente onde est a emulso.
112
Com a ponta da seringa sempre para baixo, e assim o ar da seringa fica sempre para cima o
que evita que bolhas passem pelo fluido, acopla-se a ponta da mangueira no DTF e injeta-se o
lquido, como indicado na Fig. A.5 vagarosamente para que preencha todo o espao da seo de
medida.
Fig. A.5 DTF pronto para injeo do fluido.

Em detalhe, a figura acima mostra como deve estar o DTF e o fluido dentro da seringa para
garantir a ausncia de bolhas.
c. Correes
Deve se inserir no DTF uma pea de ouro com a placa espaadora de 1,3 mm para se fazer
a compensao de impedncia em srie das placas paralelas do DTF. Este procedimento
tambm descrito em AGILENT (2004a).
Seleciona-se a posio Ls - Rs no Agilent LCR para uma freqncia de 1MHz, tenso 1Vrms,
cabo de 1m. Mede-se os valores de indutncia e resistncia em srie. Os valores obtidos, para as
condies definidas acima, devem, respectivamente, ser menores que 20 nH e 0,5 para o
correto funcionamento do DTF.
113
Faz-se, ento, a correo de indutncia e da resistncia do DTF. Para isso, acessa-se no

Agilent LCR Meas Setup /Correction/ Short/ Perform corretion . Aguarda-se alguns segundos
para que o aparato faa a correo automaticamente.
d. Medies
Retira-se a pea de ouro e insere-se um espaador que garante uma distncia de 2 mm

entre as placas do DTF. Conecta-se o DTF no Agilent LCR, seleciona-se para medir Cp - Rp, ou
seja, capacitncia e resistncia paralelas (relativas ao lquido entre as placas do DTF), selecionase a freqncia de 1MHz para uma tenso de 1Vrms. Acessa-se no Agilent LCR Meas Setup
/Correction/ Short e coloca-se na posio on.
Com o DTF devidamente limpo e seco, mede-se a capacitncia do ar deixando o DTF
entrar em regime de temperatura, assim como o LCR para a nova medida em 30 minutos.
Deve se deixar, a cada nova medio, o fluido, o DTF e o Agilent LCR entrar em regime
de temperaturas em 30 min. Faz-se, finalmente, a leitura da medida de capacitncia e da
resistncia do fluido.
L-se, tambm, a temperatura ambiente e a umidade do ar.
e. Limpeza dos instrumentos
Aps a medio o aparato de medio de permissividade deve ser limpo da seguinte forma:
1. Preparar uma soluo com 20% de detergente Extran 01;
2. Retirar o leo do aparato succionando com a seringa
3. Abre-se o DTF, retira-se o leo com um papel toalha
4. Depois de retirada a maior parte do leo, limpa-se os resduos com querosene;
5. Limpar o equipamento com a soluo preparada;
6. Enxaguar com gua destilada;
7. Secar.
importante que os aparatos estejam limpos, em especial os eletrodos, para que as
medies dem valores constantes uma vez que h relatos, segundo AGILENT (2000), de
problemas de instabilidade na medida devido sujeiras nos eletrodos.
114
A.5 Reduo de dados

A.5.1 Capacitncia e resistncia em paralelo
Podem ser medidas quando se encerra o material sob teste entre duas placas paralelas
(modo mais fcil) e se aplica um sinal senoidal. O circuito equivalente representado na Fig.
A.6.
Fig. A.6 Circuito equivalente ao do DTF.

A.5.2 Permissividade relativa complexa
A permissividade relativa complexa definida como a soma complexa da grandeza escalar

da quantidade de energia que pode ser armazenada em um material na forma de campo eltrico e
na forma de corrente eltrica.
Segundo AGILENT (2008), a admitncia do circuito acima pode ser definida como:
Y = G + jCp
= jC0
Cp
C0 j
C0
A.1
Onde j uma unidade imaginria, a velocidade angular do sinal e:

G=1 R
p
A.2
A soma entre parntesis na eq. 1 chamada de permissividade relativa complexa.
115
A permissividade relativa complexa relativa porque como mostrado na parte direita da

equao acima dividida pela energia admitida na forma de campo eltrico no vcuo.
notada como na equao abaixo:
r = r jr
A.3
Se C0 pode ser considerado como Car :
r =
Cp
A.4
Car
r = 1 C R
ar p
A.5
Onde r chamada de permissividade relativa e r chamada de dissipao dieltrica e

a velocidade angular do sinal.
Em coordenadas cartesianas pode-se representar a permissividade relativa complexa:
Fig. A.7 Permissividade relativa complexa. Fonte: AGILENT (2008).

a. Permissividade relativa
Para geometrias simples como placas paralelas em forma de disco, pode-se calcular
diretamente, a partir da geometria, a permissividade relativa e a dissipao dieltrica.
116
A permissividade pode ser calculada de duas formas, baseando-se na geometria do

capacitor (eq. A.6), ou na proporcionalidade do campo eltrico para cada meio (eq. A.4). mais
razovel utilizar a eq. A.4, uma vez que se houver algum erro sistemtico esse ser eliminado.
r =
Cp . t
A.6
A. 0
Onde Cp a capacitncia apresentada no Agilent com o fludo em anlise, t a espessura

da camada de fluido entre as placas que de 2 mm, A a rea do eletrodo capacitivo que de 38
mm 0,5mm, 0 a constante permissividade do vcuo de 8,854 E-12 F/m.
b. Dissipao dieltrica
A dissipao dieltrica corresponde a parcela imaginria da permissividade relativa

complexa.
Pode ser calcula na forma:
r = t
A.7
AR p 0
Porm, como na forma de interesse o equacionamento ser:

r = 1 R C
p ar
A.8
Fator de dissipao
O fator de dissipao, D, a razo entre a dissipao dieltrica e a permissividade relativa:
= =
A.9
117
Em um capacitor ideal no existiria o ngulo e assim no haveriam perdas nem acmulos

de energia na forma resistiva.
A.5.3 Correo do efeito de borda na permissividade relativa complexa
Esse fenmeno, pode ser explicado descrevendo-se o campo eltrico entre duas placas
paralelas infinitas no vcuo (HALLIDAY et. al., 2007), segundo a lei de Gauss:
E 0 A
A.10
Onde o a constante de permissividade em F/m. Como as placas do dispositivo utilizado

para medio so paralelas, mas tambm finitas, pode-se utilizar a equao acima.
Onde o vetor E paralelo ao vetor dA, o produto vetorial pode ser escrito como um
produto escalar.
E 0 A
= 0 A cos 0
A.11
E ento, para uma variao linear no campo (insero de um material dieltrico nocondutor) tem-se uma variao linear na carga. Porm acontece que na borda no se pode
considerar o produto escalar da eq. A.12. O campo eltrico nessa regio da forma mostrada na
Fig. A.8.
Fig. A.8 Campo eltrico entre placas paralelas. Fonte: ASTM (2004b).
118
As linhas campo eltrico nessa regio no so lineares e logicamente com uma variao
linear da permissividade do meio tem-se uma variao no-linear da carga na borda.
Para corrigir esse efeito, AGILENT (2000) indica um equacionamento para a correo da
impedncia apresentada pelo dispositivo devido ao efeito de borda.
100|rm |
rm
=
Cp2
C02
97,0442 rm + 2,9558
A.12
+1
A.13
Cp2 C02
A equao para permissividade relativa complexa fica na forma final corrigida:
rc
= (re jre )
A.14
As parcelas obtidas experimentalmente corrigidas ficam representadas da forma :

rt = re
A.15
rt = re
A.16
A.5.4 Clculo de incerteza
a. Incerteza na medio resistncia e capacitncia
O Agilent de LCR apresenta em AGILENT (2008) as incertezas totais ou absolutas de

medio como a soma das incertezas relativas e das incertezas de calibrao, da forma:
Aa = Ar + Ac
A.17
119
Sendo que a incerteza relativa depende das impedncias medidas:
Ar =
Ab +
Zs
Zm
100 + Yo Zm 100 K t
A.18
onde:
Ab a incerteza bsica;
Zs a impedncia devida ao offset da correo short (AGILENT, 2008);
Zm a impedncia da medio;
Yo a admitncia (inverso da impedncia) devida ao offset da correo open;
K t o coeficiente de temperatura.
A incerteza de calibrao depende da freqncia e da faixa de impedncia, e indicada em
AGILENT (2008) como variao da coordenada polar, ou seja, uma variao no mdulo de Z e
no ngulo de fase .
A incerteza bsica depende das condies de tempo de medio do Agilent, da impedncia
do Dispositivo e da freqncia do sinal. Tambm pode ser obtida consultando-se AGILENT
(2008).
A impedncia da medio pode ser calculada para esse caso como:
Zm = 1/Y
A.19
onde:
Y=
G2 + B 2
A.20
B = 2fCp
A.21
120
R p a resistncia em paralelo do sinal. O fator de dissipao pode ser, tambm, como a

razo entre a Condutncia G e Sustenncia B:
= G B = =
A.22
Onde e so os ngulos representados no diagrama de defasagem abaixo:
Fig. A.9 Diagrama de defasagem. Fonte: ASTM (2004a).

Na tabela abaixo so apresentados os valores aplicados de cada varivel citada (AGILENT,
2008):
Tabela A.2 Valores aplicados.
Varivel
Valor
Unidade
Ab
0,10
Zs
4,1265E-4
Yo
5,5E-9
Kt
A incerteza de calibrao do Agilent LCR apresentada como uma razo de cada

coordenada polar, ou seja, de |Z| e de . Essa incerteza no ser utilizada pois totalizadora das
medidas de interesse, portanto ser utilizada somente a incerteza relativa.
A incerteza relativa da capacitncia corresponder a Ar [%].
121
Para se calcular a incerteza relativa na resistncia, em , utiliza-se a equao indicada

AGILENT (2008):
R pr =
A.23
Onde o valor medido, e o fator de dissipao calculado e , incerteza relativa de

da seguinte forma:
A.24
100
Utilizou-se o maior valor apresentado para R pr uma vez que o mesmo dependente de
.
Os valores de incertezas em resistncia paralela so equacionados da forma:
100
A.25
b. Incerteza na permissividade relativa
O clculo da permissividade relativa ser baseado na eq. A.4 e as incertezas relativas da

medio experimental da capacitncia sero aplicadas segundo suas tendncias quadrticas para
se obter a incerteza na permissividade, ou melhor:
dr
dCp Cp
dr
dC0 C0
122
A.26
dr
dr
dCp = C 0
A.27
Cp
dC0 = C 0 2
Cp = Cp
AC p
A.28
A.29
100
A incerteza da medida de capacitncia apresentada para o ar C0 calculada da mesma

forma que Cp (eq. A.30).
Alm das incertezas relativas ao Agilent LCR calculadas acima, existem tambm as
incertezas relativas ao DTF (AGILENT, 2000).
As incertezas relativas ao Testador so dependentes da freqncia e da permissividade
relativa complexa.Essa incerteza na forma totalizada (complexa) pode ser decomposta pela soma
dos quadrados das tendncias e assim, obtm-se as incertezas relativas a cada componente.
Fig. A.10 Incerteza do DTF

Pode-se equacionar da forma que a raiz da soma de iguais quadrados de incertezas para
cada componente contempla o raio da circunferncia, , ento:
123
| |
rt
+ rt
= rt
= rt
|rc | A + B /100
A.30
A.31
Onde A a incerteza do Testador devida ao mdulo da permissividade relativa complexa e

B incerteza do Testador devida a frequncia de operao e so fornecidas no manual AGILENT
(2000a), rc a permissividade relativa complexa corrigida e pode ser obtida equacionando-se:
rc
= |rm |
A.32
Para se obter a incerteza em cada componente de A r e A r relativas somente ao Testador

deve se fazer:
A rt = 100
A rt = 100
rt
rt
rt
A.33
rt
A.34
Faz-se a raiz da soma-se dos quadrados das incertezas do testador e do Medidor:
A r =
A rt 2 + A re 2
A.35
onde:
A re = 100
A.36
124
Existe diferenciao entre o valor de

e de
pois o primeiro obtido da razo obtida
experimentalmente entre capacitncias e o segundo devido ao Testador que corrigido devido

ao efeito de borda.
c. Incerteza em dissipao dieltrica
O clculo da incerteza de medio da dissipao dieltrica ser baseado na eq. A.5, da

forma:
dr
dC0 C0
dr
dR p R p
A.37
onde:
dr
1
dC0 = R p C0 2
A.38
dr
1
dR p = R p 2 C0
A.39
As incertezas em dissipao dieltrica devidas ao Testador tero o mesmo tratamento das

apresentadas para a permissividade relativa.
A r =
A rt 2 + A rc 2
A.40
A.6 Apresentao e discusso dos resultados

As equaes mostradas na seo anterior foram dispostas no programa computacional EES
Engineering Equation Solver v. Academic. Os resultados so obtidos a partir das seguintes
125
entradas: i) Capacitncia e resistncia paralela; ii) Incertezas indicadas nos manuais do Medidor e
do Testador.
A.6.1 Resultados em capacitncia e resistncia
So mostrados na tabela abaixo os valores de capacitncia e resistncia adquiridos

experimentalmente nas condies de temperatura e umidade ambientais e das misturas:
Onde Cp a capacitncia do dispositivo preenchido com o lquido a ser testado e R p a
resistncia em paralelo.
Tabela A.3 Capacitncias e resistncias para condio do DTF.

Meios
Cp [pF]
Rp, []
Emulses gua em leo

Homogneas
[%] em volume
Temp. Umidade
Amb. [C]
[%]
Misturas
Ar
5,34
14M
25
47
gua
409,29
2,41k
25
63
leo
13,49
674k
23
46
5,37%
9,91%
15,07%
19,97%
25,02%
29,93%
35,00%
40,01%
15,76
18,17
20,94
24,60
29,35
33,32
38,85
46,00
539k
483k
387k
336k
280k
231k
187k
160k
25
25
25
25
23
24
23
22
48
50
47
44
46
45
45
45
A.6.2 Resultados das incertezas relativas em capacitncia e resistncia
Foram obtidos as seguintes incertezas relativas para os valores de capacitncia e

resistncia, segundo as variveis contabilizadas.
126
Misturas
Meios
Zm [k]
X p [k]
Dx
ACp [%]
ARp [%]
Emulses gua em leo

Homogneas
[%] em volume
Tabela A.4 Incertezas relativas em Capacitncia e Resistncia paralelas.
Ar
29,80
2,98
0,0021
0,116
0,117
gua
0,38
0,39
0,1615
0,100
0,086
leo
11,79
11,79
0,0175
0,107
0,107
5,37%
9,91%
15,07%
19,97%
25,02%
29,93%
35,00%
40,01%
10,07
8,74
7,61
6,47
5,41
4,78
4,09
3,46
10,07
8,75
7,62
6,47
5,41
4,78
4,09
3,46
0,0187
0,0181
0,0197
0,0193
0,0193
0,0207
0,0219
0,0216
0,106
0,105
0,104
0,104
0,103
0,103
0,102
0,102
0,106
0,105
0,104
0,104
0,103
0,103
0,102
0,102
Na tabela A.4, X p , reatncia capacitiva, o inverso da sustenncia (B).

A.6.3 Resultados em permissividade e dissipao e respectivas incertezas
So apresentados os resultados de permissividade relativa complexa, permissividade

relativa, dissipao dieltrica e incertezas relativas.
Misturas
Meios
rc
rt
rt
A r [%]
A r [%]
Emulses gua em leo

Homogneas
[%] em volume
Tabela A.5 Resultados em permissividades.
Ar
1,00
0,0021
1,00
140,9
0,34
gua
79,92
12,7
78,89
20,7
3,35
leo
2,57
0,045
2,57
97,2
1,71
5,37%
9,91%
15,07%
19,97%
25,02%
29,93%
35,00%
40,01%
3,02
3,48
4,00
4,72
5,64
6,40
7,48
8,85
0,056
0,063
0,079
0,091
0,109
0,132
0,164
0,191
3,02
3,48
4,00
4,72
5,64
6,40
7,48
8,85
125,8
135,3
137,2
140,2
139,7
132,9
130,3
136,5
2,36
2,46
2,64
2,71
2,71
2,75
2,85
2,95
127
Os resultados se mostraram condizentes com os apresentados na literatura (HALLIDAY;

RESNICK; WALKER, 2007).
A incerteza apresentada para a dissipao dieltrica basicamente devida incerteza de

medio do prprio Testador e tambm pelo mdulo da mesma ser diminuto.
Acontece que, com a dissipao de calor, a condutividade do meio aumenta o que gera
incertezas na medio de dissipao dieltrica e o sistema fica dependente da temperatura.
A incerteza relativa a permissividade tambm basicamente devida a incerteza de medio

do testador, com uma parcela mnima devida ao Medidor.
Abaixo apresentado grfico de permissividade relativa vs. porcentagem de emulso, com

as devidas faixas de incerteza para ambas:
80
r'
60
40
20
20
40
60
80
100
x [%]
Fig. A.11 Permissividade relativa vs. porcentual de gua em leo

128
O mdulo da incerteza maior para os casos de menor permissividade quando os mdulos de

impedncia aumentam (vide
Tabela A.4). A atenuao do sinal faz com que aumente a incerteza na medio da fase
(BOVERMAN et al., 2007).
A.7 Concluses
A medio de permissividade relativa de emulses A/O apresentou resultados satisftorios
e animadores, em especial para medies de tomografia capacitiva, uma vez que tal propriedade
varia pouco com a adio de gua at a concentrao de 40%.
A dissipao dieltrica, entretanto, apresentou incertezas relativas elevadas devido a

resistncia ser da ordem de centenas de k, isso pode ser melhor interpretado no diagrama de
defasagem, da Fig. A.9, onde Dx = tan equivaleria a um ngulo da ordem de centsimos de um
grau.
A.8 Referncias Bibliogrficas
AGILENT TECHNOLOGIES. Agilent 16452A Liquid Test Fixture Precision LCR Meter:
Operation and Service Manual. 3. ed. Japo, 2000. 549 p. Disponvel em:
<http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/16452-90000.pdf>. Acesso em: 14 dez. 2008.
129
BOVERMAN, Gregory; KIM, Bong Seok; ISAACSON, David. The Complete Electrode Model
For Imaging and Electrode Contact. In: IEEE EMBS, 29., 2007, Lion, Fr. Proceedings of
the 29th Annual International. Lion: Ieee, 2007. p. 3462 3465.
HALLIDAY, D.; RESNICK, R.; WALKER, J. Fundamentos de Fsica 3: Eletromagnetismo. 7.

ed. Rio de Janeiro: LTC, 2007.
AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIAS. ASTM. Dissipation Factor (or
Power Factor) and Relative Permittivity (Dielectric Constant) of Electrical Insulating
Liquids: D924-04. United States, 2004a. 7 p.
Insulation: D150-98. United States, 2004b. 20 p.
130
Apndice B
Medico da Permissividade Relativa e do Fator de Dissipao de
Materiais Slidos
B.1 Introduo
A permissividade relativa de materiais slidos requerida quando se deseja medir algo
atravs de um campo eltrico. Por exemplo, quando se faz alguma correo analtica da sada de
um medidor capacitivo em funo de uma variao da propriedade de um material slido
envolvido na medio. Tambm quando se quer simular numericamente um capacitor e os meios
slidos por onde o campo eltrico se dispe.
B.2 Objetivos
O relatrio tem os seguintes objetivos: i) Medir permissividade relativa e o fator de
dissipao de vidro Duran e do Teflon PTFE na freqncia de 1 MHz; ii)Calcular os erros
relativos da medio.
B.3 Descrio dos aparatos experimentais
Para se medir permissividade relativa e fator de dissipao do slido so necessrios
instrumentos que meam a capacitncia e a resistncia do mesmo. necessrio tambm um
acessrio para que se disponha o material em anlise a um campo eltrico.
131
O instrumento utilizado para se medir capacitncia e resistncia, mostrado abaixo, foi o

Agilent LCR, marca Agilent, modelo E4980A, sinal em freqncia na faixa de 20 Hz a 2 MHz,
faixa de medio de impedncia de 1m < |Z| < 1 G e incerteza de medio bsica de 0,05%.
Fig. B.1 Agilent LCR.
Fig. B.2 Dispositivo Testador de Dieletrico.

Para se dispor o slido para medio necessrio um acessrio, mostrado acima, chamado
Dispositivo Testado de Dieltrico (DTD) da marca Agilent, modelo 16451B, faixa de freqncias
aplicveis de 20 Hz a 30 MHz, temperatura de operao de -20 a 125 C e incerteza na medio
da permissividade dependente da freqncia e da impedncia do slido.
J a incerteza na espessura da amostra indicada pelo micrmetro, marca Mitutoyo, acoplado
no DTD de 10.
132
As amostras dos materiais em anlise so dispostas entre duas placas, ou eletrodos,

paralelas que devero apresentar uma ddp e assim formar um campo eltrico. Uma das placas o
eletrodo fonte e a outra o sensor e seu guarda. Dependendo do dimetro da amostra, troca-se a
placa do eletrodo sensor e guarda, mantendo-se a do eletrodo fonte.
Isso no prejudica formao de um campo eltrico paralelo, pois os guardas, isso o
garantem. Abaixo, so apresentadas as placas disponveis.
Eletrodo
sensor
Eletrodo de
Guarda
Fig. B.3 Placa A
Fig. B.4 Placa B
A temperatura e a umidade do ambiente foi medida com um Termohigrmetro, mostrado

abaixo, da marca RadioShack, com resoluo de 1C e 1% (umidade).
133
Fig. B.5 Termohigrmetro.

A espessura das amostras dos materiais foi medida atravs de um micrmetro, da marca
Mitutoyo, apresentado abaixo, de incerteza de medio de 1.
Fig. B.6 Micrmetro.

B.4 Procedimento Experimental
B.4.1 Materiais em anlise
Sero analisadas duas amostras de Teflon PTFE e duas de vidro Duran

B.4.2 Amostras preparadas para medio das propriedades dieltricas
134
A partir de um tarugo extrudado de PTFE, foram usinadas uma amostra longitudinal e uma
transversal ao eixo do tarugo. Ambas com suas faces paralelas.
Para o vidro foram feitas duas amostras de uma tubulao de fundindo-se pedaos do vidro
Duran e deixando-as na forma plana. Posteriormente essas peas foram usinadas para obteno
de paralelismo entre as faces.
Abaixo, apresentada uma imagem das amostras:
Fig. B.7 Amostras

Segundo o manual AGILENT (2000), o dimetro das amostras no tem influencia nas
medies desde que esteja compreendido entre 40 e 56 mm para o teste com a placa A e entre 10
e 56 para o teste com a placa B. As espessuras, entretanto, devem ser menores ou iguais a 10 mm.
B.4.3 Para medio da espessura das amostras
Utilizando-se o micrmetro mede-se a espessura de cada amostra em 4 pontos deslocados

de 90 entre si ao longo de uma circunferncia de 38 mm centralizada nas amostras maiores e
uma de 5 mm para a menor.
Escolheu-se esses pontos pois compreendem as regies limtrofes do contato com o
eletrodo sensor.
135
B.4.4 Descrio da seqncia para medio de capacitncia e resistncia
a. Preparao dos aparatos
Em sala com temperatura aproximadamente constante ao longo do dia, onde encontram-se

os equipamentos para medies, so ligados, conectados e instalados, em posio de medida, os
seguintes instrumentos, na ordem:
1. Agilent LCR;
2. Dispositivo Testador de Dieltrico (DTD);
3. Termohigrmetro
Segundo o guia de usurio (AGILENT, 2008) do Agilent LCR o equipamento entra em
regime de temperatura em 30 min.
b. Compensaes
Para se compensar o efeito dos cabos e de impedncia do prprio Dispositivo o Agilent

LCR dispe das compensaes Short/ Open/ Load e Cable 1, 2, 3 ou 4 m.
A compensao Load deve ser feita somente para casos em que a freqncia do sinal for
maior que 5 MHz, no contemplada nesse caso.
As compensaes Short e Open podem ser feitas com os acessrios do DTD.
Compensao Open:
Para a compensao de circuito aberto, deve-se acessar o menu do Agilent LCR na ordem:
Meas Setup /Correction. Seleciona-se a freqncia em FREQ: como 1 MHz, e a funo em
FUNC: como Cs Rs.
Deve-se inserir um acessrio constante do DTD na seo de medio de tal forma que o
elemento sensor fica confinado por guardas e, tambm, uma capa plstica que isola o eletrodo
fonte (no-guardado) do guarda.
136
Deve-se registrar o valores de Cs Rs apresentados para essa medio, pois os mesmos

sero utilizados, na forma de admitncia (Yo ), para o clculo da incerteza relativa do Agilent
LCR.
Posiciona-se o cursor, agora no menu Corretion do Agilent LCR, em Open e seleciona-se
Perform corretion. Aguarda-se alguns segundos para que o aparato faa a correo
automaticamente. Faz-se, na sequncia, a compensao Short.
Compensao Short:
Para se fazer a compensao de curto circuito, deve-se retirar o acessrio de compensao e

vir-lo de tal forma que o eletrodo fonte entre em contato com o eletrodo sensor, para isso
remove-se o plstico isolante usado na compensao Open.
Agora no menu do Agilent LCR , em Meas Setup /Correction, altera-se a funo em
FUNC: para Ls Rs.
Registra-se o valores de Ls Rs apresentados para essa condio de curto circuito, pois os
mesmos sero utilizados, na forma de impedncia (Zs ) para o clculo da incerteza relativa do
Agilent LCR.
Posiciona-se o cursor em Short e seleciona-se Perform corretion. Aguarda-se alguns
segundos para que o aparato faa a correo automaticamente.
Ainda no menu de correo deve-se alterar Short e Open para a posio on.
Paralelismo das placas do capacitor
Para que as medies tenham boa preciso deve-se garantir o paralelismo das placas do
DTD. O manual de operaes do dispositivo (AGILENT, 2000) recomenda que para se ajustar as
placas dos eletrodos paralelamente, deve-se colocar as placas a uma distncia de 0,01mm e medir
capacitncia em paralelo (Cs) e fator de dissipao (D) com o Agilent LCR:
Utilizando-se a placa A a capacitncia dever ser de: 700 a 1000 pF.
Utilizando-se a placa B a capacitncia dever ser de: 12 e 17 pF
137
Deve-se parar o aperto com o micrmetro quando D aumentar o valor subitamente,

significando o contato fechado.
O ajuste do paralelismo das placas feito ajustando-se a placa no-guardada (sem
eletrodo de guarda), atravs dos trs parafusos existentes na carcaa, tomando-se o cuidado de
no forar uma placa contra outra, o que evita amassar as placas e danificar a rosca do
micrmetro.
Quando no se consegue atingir a capacitncia de 700 pF para um distncia entre placas
de 10 m, o manual AGILENT (2000) recomenda que se garanta o paralelismo com pelo menos
500 pF.
Retira-se o acessrio de correo e os aparatos esto prontos para medio devendo-se ler
capacitncia e fator de dissipao, bastando, para isso, selecionar em Meas Setup em FUNC:
como Cp D.
c. Medies
As medies podem ser feitas de duas formas: com o material em contato com o eletrodo
sensor e com o fonte e o material sem contato com o eletrodo sensor e somente com o fonte. No
segundo caso, o material fica apoiado no eletrodo fonte devido ao campo gravitacional com uma
camada de ar entre o material e o eletrodo sensor. A posio do aparato como a mostrada na
Fig. B.8.
Fig. B.8 Posio do DTD.
138
Nesse trabalho foi utilizado o mtodo de contato, porque, no manual, s h

equacionamento para o clculo da incerteza de medio para esse mtodo.
Mtodo de contato
Para essa medio deve-se inserir a amostra no DTD com a face dos eletrodos na posio
horizontal, como mostrado na Fig. B.8, assim, a fora resultante devida a mola de retorno dos
eletrodos sensor e guarda no micrmetro menor, gira-se o micrmetro at que a placa comprima
a amostra, o limite da compresso dado pelo limitador de torque do micrmetro. Para
padronizar esse torque, d-se 20 voltas no limitador de torque, o que deve garantir o mesmo
aperto para todos as medies.
Mede-se, ento, Cp, D e , respectivamente, capacitncia em paralelo, fator de dissipao
e distncia entre eletrodos (lida no micrmetro do DTD).
Monitora-se as variveis temperatura e umidade ambientais no inicio e no final do
experimento.
B.5 Reduo de dados
B.5.1 Capacitncia e Fator de Dissipao
O circuito equivalente do meio amostrado entre as placas do DTD representado na Fig.

B.9.
Fig. B.9 Circuito equivalente ao do DTD.

Pelo fato da resistncia em paralelo ser da ordem de centenas de M no caso da maioria
dos meio slido, d-se preferncia por apresentar os resultados dessas medies na forma de
139
Fator de Dissipao. Preferiu-se, pelo fato do Agilent LCR capaz de calcular e apresentar os
resultados dessa forma, obter os resultados em Capacitncia e Fator de Dissipao.
O fator de dissipao pode ser equacionado como a razo entre a Condutncia G e
Sustenncia B:
= G B = =
B.1
Onde e so os ngulos representados no diagrama de defasagem abaixo:
Fig. B.10 Diagrama de defasagem. Fonte: ASTM (2004a).

Sendo que a Sustenncia:
= Cp
B.2
Onde a velocidade angular.

B.5.2 Permissividade relativa e Fator de Dissipao
Para geometrias simples como placas paralelas em forma de disco, pode-se calcular
diretamente a permissividade relativa:
re =
Cp .
B.3
A. 0
140
r =
Cp
B.4
Car
A dissipao dieltrica corresponde a parcela imaginria da permissividade relativa

complexa.
Pode ser calcula na forma:
re =
B.5
AR p 0
ou,
r = 1 R C
p ar
B.6
Onde Cp a capacitncia apresentada no Medidor, t a distancia entre os eletrodos fonte e

sensor, A a rea do eletrodo sensor, 0 a constante permissividade do vcuo de 8,854 E-12
F/m.
Fator de dissipao
O fator de dissipao, Dx , a razo entre a dissipao dieltrica e a permissividade relativa:
= =
re
B.7
re
Em um capacitor ideal no existiria o ngulo e assim no haveriam perdas nem acmulos

de energia na forma resistiva.
O manual de operaes do DTD (AGILENT, 2000) considera que a dissipao dieltrica do
material muito prxima da do ar e portanto pode-se escrever:
141
B.8
Onde o fator de dissipao medido no Agilent LCR.

B.5.3 Correo do efeito de borda
O DTD opera com eletrodos de guarda, como mostrado na figura abaixo. Apesar desses
eletrodos diminurem o efeito de borda (e obter o paralelismo entre as linha de campo) o mesmo
continua acontecendo.
Fig. B.11 Capacitor com eletrodo de guarda
Para correo desse efeito o manual do DTD (AGILENT, 2000) prope um aumento
terico da rea do eletrodo sensor.
Quando a permissividade medida prxima da do ar,

,considera-se:
= (1 +
+ )
B.9
para,
142
2
= 1 2 arctan
1 +
2 +
2
B.10
onde:
a distancia entre o eletrodo sensor e o eletrodo de guarda, mostrado na Fig. B.3;
o dimetro do eletrodo sensor;
a espessura do material sob teste;
Ento, a permissividade relativa corrigida para o mtodo de medio de contato fica a
forma:
rc =
B.11
onde: a rea do eletrodo sensor;

B.5.4 Clculo de incerteza
a. Incerteza na medio de fator de dissipao e capacitncia
O Agilent de LCR apresenta em AGILENT (2008) as incertezas totais ou absolutas de

medio como a soma das incertezas relativas e das incertezas de calibrao, da forma:
Aa = Ar + Ac
B.12
Sendo que a incerteza relativa depende das impedncias medidas:
Ar =
Ab +
Zs
Zm
100 + Yo Zm 100 K t
143
B.13
onde:
Ab a incerteza bsica;
Zs a impedncia devida ao offset da correo short (AGILENT, 2008);
Zm a impedncia da medio;
Yo a admitncia (inverso da impedncia) devida ao offset da correo open;
K t o coeficiente de temperatura.
A incerteza de calibrao depende da freqncia e do mdulo da impedncia e indicada
em AGILENT (2008) como variao da coordenada polar, ou seja, uma variao no mdulo de Z
e no ngulo de fase .
A incerteza bsica depende das condies de tempo de medio do Medidor, da impedncia
do Dispositivo e da freqncia do sinal. Tambm pode ser obtida consultando-se AGILENT
(2008).
A impedncia da medio pode ser calculada para esse caso como:
Zm = 1 Y
Y=
B.14
G2 + B 2
B.15
B = 2fCp
B.16
Na tabela abaixo so apresentados os valores aplicados de cada varivel citada (AGILENT,

2008):
Tabela B.1 Valores aplicados.
Varivel
Placa A
Placa B
Unidade
Ab
0,05
0,05
Zs
0,6969
0,6356
Yo
Kt
3,255E-08 4,527E-09
1
144
S
_
A incerteza de calibrao do Agilent LCR apresentada como uma razo de cada

coordenada polar, ou seja, de |Z| e de . Pelo fato do fator de dissipao ser muito pequeno pode
se considerar que a incerteza no mdulo de Z prxima da incerteza em reatncia capacitiva.
A incerteza relativa em capacitncia e em fator de dissipao corresponder a Ar [%]. Da
forma:
= =
B.17
Para se calcular a incerteza absoluta em fator de dissipao o manual do Agilent LCR

(AGILENT, 2008) recomenda que, para < 0,1, se utilize a seguinte equao:
AD = +
B.18
Onde a incerteza de calibrao em (radianos), que depende da frequncia e da

impedncia e pode ser obtida do manual AGILENT (2000). E a incerteza relativa de medio em
:
B.19
100
Onde: o fator de dissipao medido.

b. Incerteza na permissividade relativa
Incerteza propagada das variveis fundamentais
O clculo da permissividade relativa baseado na eq. B.3, assim, pode se utilizar o mtodo
das incertezas propagadas, proposto por Holman (1996), onde os quadrados das incertezas
relativas da medio experimental da capacitncia, da espessura e da rea so aplicadas segundo
suas tendncias quadrticas para se obter a incerteza na permissividade, ou melhor:
145
Cp
dre
dCp
+ d
dr
dd
+ t
dr
dt
B.20
onde:
dre
dre
dre
dCp =
dd =
dt =
Cp = Cp
8Cp
Cp
AC p
B.21
0 A0
B.22
d3 0
0 A0
B.23
100
B.24
Onde, Cp a incerteza na medida da capacitncia, d a incerteza na medida do dimetro

do eletrodo sensor que dada no manual do DTD (AGILENT, 2000) para cada placa e t a
incerteza na espessura do amostra que obtida como segue.
A incerteza no dimetro de 0,13% para a placa A e de 1% para placa B.
Incerteza na espessura da amostra

A incerteza na espessura da amostra foi calculada a partir de 4 medies realizadas com
o micrmetro da Fig. B.6 em pontos deslocados de 90 entre si no raio mdio de um crculo
circunscrito em cada amostra. Obtm-se a incerteza da medida utilizando-se o mtodo de Student
para um intervalo de confiana de 95%:
146
tn t
S=
t a = S
B.25
n1
B.26
Onde n o nmero de pontos, S (eq. B.66) o desvio e o coeficiente de Student

tabelado.
A incerteza da medida (ta ) deve estar contabilizada com quela do prprio micrmetro
(tm ) da seguinte forma:
t =
t a 2 + t m 2
B.27
Incerteza em permissividade devida ao DTD
Existem as incertezas do Testador (DTD) devido a sua impedncia, que no devida

amostra, mas sim, ao aparato. So equacionadas da seguinte forma, segundo o manual:
d 2
2
100 Aa + 0,04f 0
100
1

B.28
0,01
Assim pode se contabilizar as incertezas propagada e do testador da forma:
2 +
B.29
E a incerteza total da permissividade em percentual da permissividade corrigida:
147
= 100
B.30
c. Incerteza no fator de dissipao
Alm da incerteza do Agilent LCR, existe a incerteza devida ao testador (DTD) que,
segundo AGILENT (2000), para < 0,1, da forma:
A D t = Ea + Eb
B.31
onde:
d 2
Ea = 0,005 + 0,4f 2 0
Eb = A
B.32
B.33
100
A incerteza total, ou seja, do Medidor (ADm ) junto com a do DTD foi calculada da seguinte
forma:
AD =
A D t + AD m
B.34
B.6 Apresentao e discusso dos resultados

Para o clculo dos resultados as equaes mostradas na seo anterior foram dispostas no
programa computacional EES Engineering Equation Solver v. Academic.
148
B.6.1 Resultados em capacitncia e resistncia
So mostrados na tabela abaixo os valores de capacitncia e resistncia adquiridos

experimentalmente e a temperatura ambiental:
Tabela B.2 Capacitncias e resistncias e incerteza do Medidor.

Meios
Placa
Cp [pF]
Rp [M]
ALCR ,
PTFE T
3,34
626,5
0,66
PTFE L
3,20
532,8
0,66
Vidro A
12,44
1,9
0,55
Vidro B
0,29
57,1
0,75
[%]
Onde Cp a capacitncia do dispositivo preenchido com o lquido a ser testado e R p a

resistncia em paralelo do dispositivo preenchido.
B.6.2 Incerteza na espessura
Utilizou-se a placa A (Fig. B.3) para medio das propriedades dieltricas das amostras
PTFE L, PTFE T e Vidro A. Para a amostra de Vidro B utilizou-se a placa B (Fig. B.4).
Tabela B.3 Espessuras das amostras e incertezas.

Amostra
tt ,
[mm]
Ponto 1
[mm]
Ponto 2
[mm]
Ponto 3
[mm]
Ponto 4
[mm]
Mdia
[mm]
t,
[mm]
PTFE L
6,16
6,171
6,178
6,155
6,153
6,165
0,020
PTFE T
6,31
6,117
6,114
6,119
6,120
6,125
0,020
Vidro A
3,35
3,355
3,395
3,239
3,208
3,299
0,140
Vidro B
3,19
3,201
3,198
3,203
3,199
3,200
0,004
149
Deve se ressaltar que as espessuras medidas com o micrmetro da Fig. B.6, apresentadas na
tabela acima, foram feitas somente para o clculo da incerteza na espessura.
J a espessura utilizada para os clculos da permissividade, e de suas incertezas, foi aquela
obtida no micrmetro do DTD.
B.6.3 Resultados em permissividade e dissipao e respectivas incertezas
So apresentados os resultados de permissividade relativa complexa, permissividade

relativa, dissipao dieltrica e incertezas relativas.
Tabela B.4 Permissividade, dissipao dieltrica e respectivas incertezas.

Ar
AD /100
7,6E-5
1,39
292
26
54
1,99
9,3E-5
1,39
238
26
56
4,10
6,7E-3
4,42
3,07
25
55
5,00
9,7E-3
5,73
0,74
25
57
Meios
Placa
[-]
[-]
PTFE L
2,03
PTFE T
Vidro A
Vidro B
[%]
[-]
Temp.
Umidade.
Amb. [C]
[%]
A grande incerteza apresentada para a dissipao dieltrica basicamente devida

incerteza de medio do prprio Testador e tambm pelo mdulo da mesma ser diminuto. A
resistncia, da ordem de centenas de M.
A incerteza relativa a permissividade tambm basicamente devida a incerteza de medio

do testador e da incerteza propagada da espessura da amostra, com uma parcela mnima devida
ao Medidor.
B.7 Concluses e Sugestes
Deve se considerar como melhor valor para a permissividade do Vidro Duran o obtido da
amostra Vidro B, isso porque foi o que apresentou o maior valor em permissividade, pois quando
existe uma camada de ar entre o eletrodo e a amostra a permissividade diminui, o que
150
provavelmente aconteceu com a amostra Vidro A. Tambm, a amostra B apresentou menor

incerteza em sua espessura.
O fato de o vidro ser refundido pode ter alterado suas propriedades dieltricas.
No se verifica diferena entre a permissividade da amostra de PTFE transversal ou

longitudinal ao eixo de extruso, uma vez que a diferena dos valores estaria compreendida na
incerteza de medio, caso se fizesse uma mdia entre as duas.
Sugere-se, quando da medio das propriedades dieltricas do vidro, para que se tenha uma
menor incerteza nas medidas que se utilize uma amostra com as faces mais planas. Pode-se,
tambm, utilizar o mtodo de no-contato, ou seja, aquele que a amostra, apoiada no eletrodo
fonte, fica em srie com uma camada de ar entre os eletrodos, nos casos em que a amostra no
totalmente plana, entretanto, o manual AGILENT (2000) no dispe o equacionamento para o
clculo da incerteza devida ao DTD.
B.8 Referncias
AGILENT TECHNOLOGIES. Agilent 16451B Dielectric Test Fixture: Operation and Service
Manual. 3. ed. Japo, 2000. 149 p. Disponvel em: <
http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/16451-90020.pdf>. Acesso em: 20 fev. 2009.
AMERICAN SOCIETY FOR TESTING AND MATERIAS. ASTM. Dissipation Factor (or
Power Factor) and Relative Permittivity (Dielectric Constant) of Electrical Insulating
Liquids: D924-04. United States, 2004a. 7 p.
Insulation: D150-98. United States, 2004b. 20 p.
151

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UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

FACULDADE DE ENGENHARIA MECNICA

Contribuio ao Estudo de um Medidor NoInvasivo da Espessura da Camada de

Autor: der dos Santos Galdiano

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

Contribuio ao Estudo de um Medidor NoInvasivo da Espessura da Camada de

Curso: Engenharia Mecnica

Dissertao de mestrado acadmico apresentada comisso de Ps Graduao em

FICHA CATALOGRFICA ELABORADA PELA

Galdiano, Eder dos Santos

Ttulo em Ingls: Contribution to the study of a noninvasive probe for

UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS

Contribuio ao Estudo de um Medidor NoInvasivo da Espessura da Camada de

Campinas, 22 de janeiro de 2010.

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3.1.1 Componentes da bancada

3.2.1 Fluxograma do processo

4.1 Procedimentos de Operao da Bancada de Testes Estticos

4.2.1 Partida da instalao

4.3 Anlise dos Sinais e Reduo dos Dados Experimentais

4.3.1 Bancada esttica

5.2 Resultados dos Testes Estticos

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