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Microscpio Composto

Um microscpio composto um instrumento ptico composto


fundalmentamente por um tubo delimitado nas suas extremidades
por lentes esfricas convergentes, formando uma associao de
lentes separadas.
A lente mais prxima do objeto observado chamada objetiva, e
uma lente com distncia focal na ordem de milmetros. A lente
prxima ao observador chamada ocular, e uma lente com
distncia focal na ordem de centmetros.
O funcionamento de um miscroscpio composto bastante simples.
A objetiva fornece uma imagem real, invertida e maior que o objeto.
Esta imagem funciona como objeto para o ocular, que funciona
como uma lupa, fornecendo uma imagem final virtual, direta e
maior.
Ou seja, o objeto aumentado duplamente, fazendo com que
objetos muito pequenos sejam melhores observados.

Este microscpio composto tambm chamado Microscpio ptico


sendo capaz de aumentar at 2 000 vezes o objeto observado.
Existem tambm Microscpio Eletrnicos capazes de proporcionar
aumentos de at 100 000 vezes e Microscpios de Varredura que
produzem aumentos superiores a 1 milho de vezes.
Partes do Microscpio

Imagem: Partes do Microscpio (Fonte: Google Imagens)


Lente ocular constituda por duas lentes que ampliam a imagem
formada pelas objetivas e ajusta possveis deficincias pticas.
Tubo ou canho serve de suporte para as lentes oculares.
Revlver ou ptico utenslio giratrio que tem como funo portar
as lentes objetivas.
Objetivas so um sistema de lentes com diferentes aumentos e seu
nmero varia de acordo com o microscpio.
Brao ou coluna est fixado base e serve de estruturao para o
restante do aparelho de microscopia.
Platina ou mesa serve como apoio para o material a ser
observado, possui uma passagem de vidro por onde os raios de luz
atravessam e tambm dotada de parafusos dentados permitindo o
deslocamento do material pela mesma.
Condensador e diafragma so responsveis pela uniformidade da
iluminao e reduo ou ampliao da regio a ser iluminada.
Lmpada embutida a fonte de luz do sistema.
P ou base trata-se do apoio e do ponto de fixao do microscpio.
Parafuso macromtrico um objeto passvel de rotao e permite
a movimentao vertical da mesa.

Parafuso micromtrico por sua vez responsvel pelos


movimentos verticais e sutis da mesa, permitindo aperfeioar a
focagem.
Charriot responsvel pela movimentao lateral da lmina em
observao, sendo possvel analis-la de forma totalitria
Blog, Equipamentos & Aplicaes Publicado em: 17/07/2014
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Utilizado para visualizar minsculas estruturas, o microscpio um
equipamento essencial para qualquer laboratrio. Isso porque o
dispositivo permite a visualizao de clulas, auxiliando no
desenvolvimento da citologia e compreenso do funcionamento do
corpo humano.

flickr.com / Matthew Hine Microscpio permite a visualizao de


clulas e outras pequenas estruturas.
O tipo de microscpio mais utilizado atualmente o ptico (confira
os outros tipos em Saiba quais so os tipos de microscpios

existentes), que funciona com um conjunto de lentes que ampliam


a imagem a imagem transpassada por um feixe de luz. Conhea as
partes principais desse mecanismo:
Sistema de oculares: contm duas lentes oculares, que ampliam a
imgem formada pelas objetivas, ajustando possveis deficincias
pticas. Sua capacidade de aumento gira em torno de 10x a 15x.
Lentes objetivas: conjunto de lentes que se sobrepem, ampliando
a imagem do objeto observado. Geralmente, um microscpio tem
trs ou quatro lentes objetivas, proporcionando poderes de aumento
que variam de 4x, 10x, 40x e 100x.
Revlver: utenslio giratrio que acopla as lentes objetivas,
modificando o aumento de acordo com o giro.
Platina: plataforma plana que tem como funo suportar o material
ou lmina que est em observao. Possui uma passagem de vidro
por onde os raios de luz atravessam.
Diafragma: controla tamanho e intensidade do cone de luz que
projetado sobre o objeto.
Condensador: controla o foco e posicionamento da luz sobre a
amostra analisada.
Boto macromtrico: permite a movimentao da platina para
cima e para baixo, favorecendo o melhor ajuste de foco.

Microscpio Eletrnico de
Varredura e suas aplicaes
Leandro Bento da Silva
1
, Juca Abramo Barrera San Martin
2
, Maria Amlia Cavinato
Nascimento
2
, Osvaldo Capello
3
, Clia Guadalupe Tardeli de Jesus Andrade
2

, Pedro
Henrique Arruda Arago
1
1
Departamento de Fsica, Universidade Estadual de Londrina,
Londrina, PR
2
Departamento de Biologia, Universidade
Estadual de Londrina, Londrina, PR
3
Laboratrio
de Microscopia e Microanlise, Universi
dade Estadual de Londrina, Londrina, PR
O primeiro microscpio eletrnico de varredura (MEV) surgiu em
1932, desenvolvido por
Max Knoll e Ernest Renka Rusca, na Alemanha
. O primeiro prottipo com capacidade de analisar amostras
espessas, no entanto, foi construdo por Zworykin, em 1942. A
Microscopia Eletrnica de Varredura utiliza da tanto para a
pesquisa bsica como aplicada. Essa tcnica permite a observao
e a caracterizao de diferentes tipos de materiais, a partir da
emisso e interao de feixes de eltrons sobre uma amostra,
sendo possvel caracteriz-los do ponto de vista de sua morfologia
e sua organizao ultra- estrutural. O MEV apresenta intervalo
bastante abrangente na sua escala de observao, variando da
ordem de grandeza de milmetr o (mm) ao nanmetro (nm), o que
possibilita verificar, por exemplo, estruturas anatmicas de uma
planta. Aliando a Espectrometria de
Energia Dispersiva de Raios-X (EDX) com a Microscopia Eletrnica
de Varredura conseguimos, alm da determin ao qualitativa, a
determinao quantitativa da composio de uma amostra . A
utilizao do MEV como tcnica complementar mostra-se de
grande importncia e versatilidade, tanto para o estudo da microestrutura, possibilitando a
obteno de imagens com alta
resoluo, como tambm o estudo de propriedades do material e
sua anlise qumica.
Referncia:
[1] Bozzola, John J., Russell, Lonnie D.,
Electron Microscopy.
2. ed. Jones and Bartlett Publishers,
Boston - USA (1992).
[2] Suguihiro, Natasha M.,

Utilizao da Tcnica de Microscopia Eletrnica de Varredura e


MicroAnlise para Estudo de Soja sadia e Infectada por
Phakopsora pacchyrizi
.
Universidade Estadual de
Londrina ( CCE / Departamento de Fsica ).
[3] Klauss, Priscila,
Estudo da Obteno de Imagens no Microscpio Eletrnico de
Varredura e
Espectros na Micro-Anlise por Energia Dispersiva.
Universidade Federal de Santa Catarina ( UFSC /
EMC LabMat / LCMAI ).
Microscopia Eletrnica
Como os microscpio eletronicos (ME) tem aplicaes em quase
todas as especialidades cientficas e em aplicaes tecnolgicas, o
estudante de cincias bem informado deve ter um certo
conhecimento do que o equipamento,suas possibilidades e sua
limies.
Os METs ltima gerao so equipados com a mais recente e
avanada tecnologia. A motorizao e contrle por computadores
de todos os eixos de movimentao do espcimen (X,Y,Z,) provem
a situao ideal para os procedimentos automatizados. Todo o
esquema mecnico tem sido automatizado para a mxima
estabilidade da imagem, o que requerido para a alta resoluo do
MET(microscpio eletrnico de transmisso), do MEV (microscpio
eletronico de varredura) e do STEM (microscpio eletrnico de
varredura no MET). O sistema prov uma alta flexibilidade aos
ngulos de inclinao (,) em combinao com segurana contra
danos nas peas polares.
Os METs de ltima gerao viajam em toda a srie de anlise e
caracterizaes rotineiras e nas pesquisas nos nveis micro a
nanomtricos. Sua alta performace, flexibilidade, amplo intervalo de
sinais e facilidade de uso garantem uma grande produtividade nos
contrles e pesquisas dos chamados materiais tradicionais ou
convencionais.

A imagem de alta resoluo dos METs de ltima gerao prov uma


compreenso das estruturas cristalinas, micro-texturas , defeitos e
interfaces em slidos. As tcnicas de difrao de eltrons, desde a
rea selecionada microdifrao em partculas de dimenses
nanomtricas, tambm podem ser realizadas. Esses microscpios
podem tambm prover a anlise qumica elementar de alta
resoluo e qualidade em reas de dimenses nanomtricas de
partculas slidas, utilizando raio-X de energia dispersiva, alm do
mtodo por perda de energia (EELS).

Os materiais avanados tem um papel essencial na vida moderna :


semi-condutores provem a base para microprocessadores e lasers;
para multicomponentes constituidos por materiais metlicos ;
cermicos e polimricos; em novos materiais pticos e magnticos
adiantados; materiais biosintticos so utilizados para transplantes
modernos; nanopartculas foram desenvolvidas para a produo de
catalisadores, de adsorventes e de nanocompsitos, especialmente
de nanocompositos argila-polimeros para a indstria automotiva.
Para utiliz-los, uma compreenso fundamental das cactersticas
desses novos materiais necessria. Essa compreenso tem incio
a partir da caracterizao da morfologia desde a macro at a micro
e nano escalas; morfologia; estrutura cristalina; composio
quimicas; natureza das interfaces e superfcies; at defeitos
estruturais das partculas nos ps e aglomerados.

O microscpio eletrnico de transmisso , com certeza, o


instrumento mais poderoso e fundamental para o estudo e
caracterizao de toda a srie de materiais avanados. Tem
comeo de utilizao no nvel de resoluo e aumentos do
microscpio ptico at o nvel nanomtrico e o das estruturas
cristalina e atmica, quando um enorme nnero e variedades de
sinais. Esses sinais incluem electrons espalhados elasticamente, os
quais carregam informao da estrutura; eltrons espalhados
inelasticamente, assim como raios-X, provendo informaes
qumicas qualitativas e quantitativas sobre os elementos qumicos
cnstituintes dos materiais, alm de eletrons secundrios que
fornecem informaes sobre a superfcie de partculas e de sdios.
Outra tcnica de microscopia eletrnica a microscopia eletrnica
de varredura (MEV). Ela faz uso de quase todos os sinais gerados
pela interao entre o feixe de eltrons e o espcimen, provendo
uma grande riquesa de informaes adicionais sobre os materiais.
Ele faz parte das chamadas "scanning probe instruments" que
visam prioritariamente caracterizar a superfcie de sdios. No MEV,
um feixe de eltrons de 5-50 KeV varre a superfcie do espcimen.
So produzidos raios-X, eltrons retroespalhados e eltrons
secundrios que so detectados e analisados por diferentes
tcnicas. Podem ser obtidos aumentos de at 100.000X com
resolues da ordem de 20nm. Profundidade de foco e aumento
so inversamente proporcionais. Sistemas automticos de medida
da distribuio granolomtrica do dimetro de partculas podem ser
acopladas aos MEVs. Os MEVs so equipamentos muito versteis
para pesquisa e controle de qualidade em materiais e produtos
manufaturados, especialmente da indstria eletrnica.
Figura 1 - Seco transversal do primeiro microscpio eletrnico
construido na America em 1938 no Departamento de Fsica da
Universidade de Toronto, Canada. Funciona com os mesmos
princpios do microscpio de luz, excepto que utiliza electron ao
invs de luz para produzir uma imagem, e lentes magnticas ao
invs de lentes de vidro para focalizar o feixe.

Figura 2 - Alumina-Alfa usada para Cermica Avanada Sinterizado


de Boemita ripiforme (obtida no microscpio eletrnico de
transmisso CM-200 da Philips). A micrografia apresenta um
monocristal de boemita no qual as franjas correspondentes a dois
planos (100) e (001) podem ser observados.