Anda di halaman 1dari 4

PAPER ACARA 1

I. Bagian-bagian dan fungsi mikroskop polarisasi


Mikroskop Brunel SP 75
Lensa okuler
Kompensator

Pengatur Lensa
Amici Bertrand

Analisator

Lensa Objektif

Pengatur fokus kasar

Rotating Circular Stage

Pengatur fokus halus

Polarisator
Kondensor

Sumber: http://www.usdmicroscopes.co.uk

Lensa Okuler : Lensa yang meneruskan citra dari objek ke mata, terdapat cross-hair

sebagai penanda pusat objek pengamatan


Kompensator : Sebuah baji gips atau kuarsa yang menipis kea rah depan, sehingga dapat
menghasilkan perubahan warna interferensi pada mineral jika dimasukkan ke dalam lubang

kompensator
Lensa Amici-Bertrand: memiliki fungsi sebagai pengamatan konoskopik, memperbedar

gambar interferensi pada lensa objektif, dan memfokuskan lensa okuler


Analisator : penyerap cahaya secara terpilih, arah getaran bisa dibuat searah getaran
polarisator untuk nikol sejajar atau tegak lurus arah getaran polarisator untuk nikol

bersilang
Lensa objektif : lensa yang terletak dekat dengan objek (preparat)
Rotating circular stage : tempat meletakkan preparat dan dapat diputar 360 derajat
Pengatur fokus kasar : menfokuskan mineral atau benda yang diamati pada mikroskop

Pengatur fokus halus : memperjelas objek yang diamati apabila sudah difokuskan oleh

focus kasar (coarse focus)


Polarisator : menyerap cahaya terpilih dan meneruskan cahaya pada satu arah getar
Kondensor : memusatkan cahaya yang datang dari bawah

Mikroskop Olympus POS

Sumber : nugroho.setiawan.blog.ugm.ac.id

Eyepiece : Lensa yang meneruskan citra dari objek ke mata, terdapat cross-hair sebagai

penanda pusat objek pengamatan


Coarse focus : menfokuskan mineral atau benda yang diamati pada mikroskop
Fine focus : memperjelas objek yang diamati apabila sudah difokuskan oleh focus kasar

(coarse focus)
Betrand lens position : mengatur posisi lensa betrand, berguna untuk memperbesar gambar

interferensi yang terbentuk pada focus balik lensa objektif


Limb : tempat untuk memegang dan mengangkat mikroskop
360 rotating analyzer : menyerap cahaya terpilih, diputar untuk pengamatan PPL dan XPL
Compensator plate : Sebuah baji gips atau kuarsa yang menipis kea rah depan, sehingga
dapat menghasilkan perubahan warna interferensi pada mineral jika dimasukkan ke dalam
lubang kompensator

Objective centration : pengatur sentrasi lensa agak objek yang diamati berada pada posisi

sentral
Objective lens : lensa yang paling dekat dengan objek yang diamati
Specimen clip : untuk menjepit preparat
Stage lock : mengunci pergerakan circular stage, sehingga tidak bisa berputar
360 graduated circular stage : tempat meletakkan preparat dan dapat diputar 360 derajat
Condenser : memusatkan cahaya yang datang dari bawah
Polarizer : menyerap cahaya terpilih dan meneruskan cahaya pada satu arah getar
Horsehoe base : alas yang berbentuk tapak kuda yang menopang mikroskop

II. Perbedaan PPL dan XPL


PPL (Plane Polarized Light) dan XPL (Cross Polarized Light) adalah metode pengamatan
mikroskopik dengan ortoskop. Perbedaan antara PPL dan XPL adalah penggunaan
analisator pada pengamatan objeknya. Pada pengamatan PPL, analisator tidak digunakan.
Sedangkan pengamatan XPL analisator digunakan, ketika cahaya yang belum terpolarisasi
melewati analisator, maka menghasilkan sifat cahaya yang berbeda. Analisator dipasang
tegak lurus dengan atah polarisator dari cahaya.
Pengamatan
PPL
Pengamatan
XPL

sejajar

tegak lurus
(menghasilkan

gelap)

Sumber : http://plc.cwru.edu/tutorial/enhanced/files/lc/light/light.htm

Penggunaan analisator pada pengamatan, menghasilkan kenampakan sifat optis mineral


yang berbeda. Sehingga jika pada pengamatan PPL, sifat optis yang diamati adalah:
- Warna
- Pleokroisme
- Relief
- Indeks bias
- Bentuk
- Belahan
- Pecahan

Sedangkan pada pengamatan XPL, sifat optis mineral yang diamati adalah:
-

Warna interferensi
Birefringence
Kembaran
Orientasi
Pemadaman

Contoh kenampakan mineral pada pengamatan PPL dan XPL :

PPL

XPL

Sumber : https://en.wikipedia.org/wiki/Polarization_(waves)

DAFTAR PUSTAKA

Judith, Bean, Soetomo, H., Soekardi, 1981, Diktat Kuliah Mineral Optik, Pusat Penerbitan
Fakultas Teknic, UGM, Yogyakarta.
Kerr, Paul F..1959.Optical Mineralogy, Kogakusha Company, LTD, Tokyo
https://en.wikipedia.org/wiki/Polarization_(waves), diakses tanggal 27 September 2015 pukul
21.34 WIB