Anda di halaman 1dari 20

BAB I

PENDAHULUAN
A. LATAR BELAKANG
Sinar-X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun
1895. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar-X
digunakan untuk tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun
manusia. Selain itu, sinar-X juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi
tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.
Sinar-X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi
sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar-X memilki
panjang gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 -1020 Hz dan memiliki
energi 103 -106 eV.

Ada berbagai jenis teknik yang dikembangkan untuk analisa sampel, salah
satu satunya teknik yang menggunakan sinar-X. Teknik yang menggunakan
sinar-X antara lain X-Ray Absorption (XRA), X-Ray Fluorescence(XRF) dan XRay Diffraction(XRD). Namun, pembahasan akan difokuskan pada teknik XRD.
Panjang gelombang sinar-X memiliki orde yang sama dengan jarak antar
atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal. Ketika suatu
material dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah
dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material
dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas sinar-X
yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya
berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinarX yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum
Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus
dipenuhi agar berkas sinar-X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas
difraksi. Sinar-X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi
dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan
prinsip dari Hukum Bragg ini. Salah satu jenis alat yang menerapkan prinsip

tersebut adalah X-Ray Diffractometer. Pada makalah ini akan dijelaskan

mengenai pengertian X-Ray Diffraction (Difraksi Sinar-X), komponenkomponen yang terdapat pada X-Ray Diffractometer, prinsip kerja X-Ray
Diffractometer, manfaat serta kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffractometer.

B. RUMUSAN MASALAH
1. Apa pengertian X-Ray Diffraction (XRD)?
2. Apa saja komponen-komponen yang terdapat pada X-Ray Diffractometer?
3. Bagaimana prinsip kerja X-Ray Diffractometer?
4. Apa manfaat yang diperoleh dari X-Ray Diffractometer?
5. Apa kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffraction?
C. TUJUAN
1. Menjelaskan pengertian X-Ray Diffraction (XRD).
2. Menjelaskan komponen-komponen yang terdapat pada X-Ray
Diffractometer.
3. Menjelaskan prinsip kerja X-Ray Diffractometer.
4. Menjelaskan manfaat yang diperoleh dari X-Ray Diffractometer.
5. Menjelaskan kelebihan dan kekurangan X-Ray Diffraction.

BAB II
PEMBAHASAN
A. X-Ray Diffraction (XRD)
XRD merupakan teknik yang digunakan untuk mengidentifikasi

fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur


kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Karakterisasi menggunakan
metode difraksi merupakan metode analisa yang penting untuk
menganalisa suatu Kristal (Smallman dan Bishop, 1999).
XRD dapat memberikan data kualitatif dan semi kuantitatif pada
padatan atau sampel. XRD digunakan untuk beberapa hal yaitu (1)
pengukuran jarak rata-rata antara lapisan atau baris atom; (2) penentuan
kristal tunggal; (3) penentuan struktur kristal dari material yang tidak
diketahui dan (4) mengukur bentuk, ukuran, dan tegangan dalam dari
kristal kecil
Kristal terbentuk dari komposisi atom-atom, ion-ion atau molekulmolekul zat padat yang memiliki susunan berulang dan jarak yang teratur
dalam tiga dimensi. Pada hubungan lokal yang teratur, suatu kristal harus
memiliki rentang yang panjang pada koordinasi atom-atom atau ion dalam
pola tiga dimensi sehingga menghasilkan rentang yang panjang sebagai
karakteristik dari bentuk kristal tersebut.
Ditinjau dari struktur atom penyusunnya, bahan padat dibedakan
menjadi tiga yaitu kristal tunggal (monocrystal), polikristal (polycrystal),
dan amorf (Smallman, 2000: 13). Pada kristal tunggal, atom atau
penyusunnya mempunyai struktur tetap karena atom-atom atau molekulmolekul penyusunnya tersusun secara teratur dalam pola tiga dimensi dan
pola-pola ini berulang secara periodik dalam rentang yang panjang tak
berhingga. Polikristal dapat didefinisikan sebagai kumpulan dari kristalkristal tunggal yang memiliki ukuran sangat kecil dan saling menumpuk

yang membentuk benda padat. Struktur amorf menyerupai pola hampir


sama dengan kristal, akan tetapi pola susunan atom-atom, ion-ion atau
molekul-molekul yang dimiliki tidak teratur dengan jangka yang pendek.
Amorf terbentuk karena proses pendinginan yang terlalu cepat sehingga
atom-atom tidak dapat dengan tepat menempati lokasi kisinya. Bahan
seperti gelas, nonkristalin ataupun vitrus yaitu memiliki struktur yang
identik dengan amorf . Susunan dua-dimensional simetris dari dua jenis
atom yang berbeda antara kristal dan amorf ditunjukan pada Gambar 1.

Susunan khas atom-atom dalam kristal disebut struktur kristal.


Struktur kristal dibangun oleh sel satuan (unit cell) yang merupakan
sekumpulan atom yang tersusun secara khusus, secara periodik berulang
dalam tiga dimensi dalam suatu kisi kristal (crystal lattice). Geometri
kristal dalam ruang dimensi tiga yang merupakan karakteristik kristal
memiliki pola yang berbeda-beda. Suatu kristal yang terdiri dari jutaan
atom dapat dinyatakan dengan ukuran, bentuk, dan susunan sel satuan
yang berulang dengan pola pengulangan yang menjadi ciri khas dari suatu
kristal.

Sumbu-sumbu a, b, dan c adalah sumbu-sumbu yang dikaitkan dengan


parameter kisi kristal. Untuk , , dan merupakan sudut antara sumbusumbu referensi kristal. Menurut anggapan Bravais (1848), berdasarkan
kisi bidang dan kisi ruang kristal mempunyai 14 kisi dan berdasarkan
perbandingan sumbu-sumbu kristal dan hubungan sudut satu dengan sudut
yang lain, kristal dikelompokkan menjadi 7 sistem kristal seperti yang
dapat dilihat pada Tabel 1.

Dalam sistem tiga dimensi, kisi kristal akan membentuk pasangan


bidang-bidang sejajar dan berjarak sama yang disebut bidang-bidang kisi.
Bidang-bidang kisi inilah yang akan menentukan arah permukaan dari
suatu kristal. Arah suatu bidang dapat dinyatakan dengan parameter
numeriknya. Indeks Miller merupakan harga kebaikan dari parameter
numerik yang dinyatakan dengan simbol (h k l). Pada Gambar 4, secara
umum perpotongan bidang dengan sumbu dinyatakan dengan 2a, 2b, dan
3c sehingga parameter numeriknya adalah 2, 2, 3 dan indeks Miller dari
bidang di bawah adalah: (hkl) = h : k : l = : : 1/3. (hkl) = (1/2 1/3 )
atau (3 3 2).
Pada Gambar 4, secara umum perpotongan bidang dengan sumbu
dinyatakan dengan 2a, 2b, dan 3c sehingga parameter numeriknya adalah
2, 2, 3 dan indeks Miller dari bidang di bawah adalah:

Berikut ini merupakan jarak antar bidang-bidang kristal (hkl) :


(Cullity,2001)

Suatu kristal memiliki susunan atom yang tersusun secara teratur


dan berulang, memiliki jarak antar atom yang ordenya sama dengan
panjang gelombang sinar-X. Akibatnya, bila seberkas sinar-X ditembakkan
pada suatu material kristalin maka sinar tersebut akan menghasilkan pola
difraksi khas. Pola difraksi yang dihasilkan sesuai dengan susunan atom
pada kristal tersebut.
Berkas sinar-x yang dihasilkan oleh sebuah sumber dapat terdiri
atas dua jenis spektrum, yaitu spetrum kontinyu dan spektrum diskrit.
Spektrum kontinyu dan spektrum diskrit masing-masing sering juga
disebut polikromatik dan monokromatik. Spektrum kontinyu sinar-x
timbul akibat adanya pengereman elektron-elektron yang berenergi kinetik
tinggi oleh anoda. Pada saat terjadi pengereman tersebut, sebagian dari
energi kinetiknya diubah menjadi sinar-x. Proses pengereman ini dapat
berlangsung baik secara tiba-tiba ataupun secara perlahan-lahan, sehingga
energi sinar-x yang dihasilkannya akan memiliki rentang energi yang
sangat lebar. Jika elektron-elektron tersebut direm secara tiba-tiba, maka
seluruh energi kinetiknya akan diubah seketika menjadi energi sinar-x dan
energi panas yang numpuk pada anoda.
Energi sinar-x ini merupakan energi tertinggi tertinggi yang dapat
dihasilkan oleh sebuah sumber sinar-x. Atau dengan kata lain panjang
gelombang sinar-x ini merupakan panjang gelombang terpendek (min)
yang dapat dihasilkan oleh sebuah sumber. Tetapi jika elektron-elektron itu
direm secara perlahan, maka energi kinetiknya akan diubah secara
perlahan pula menjadi energi sinar-x dan energi panas, sehingga sinar-x
yang dihasilkannya akan berenergi yang bervariasi sesuai dengan besarnya
energi kinetik yang diubahnya. Sinar-x ini akan memiliki panjang
gelombang (energi) yang berbeda, sehingga karena itulah sinar-x ini sering
disebut sinar-x polikromatik. Sinar-x yang dihasilkan oleh adanya
pengereman elektron baik secara tiba-tiba atau pun secara perlahan sering
disebut sinar-x bremsstrahlung. Spektrum sinar-x bremsstrahlung ini

dapat dilihat pada Gambar 5 yang menunjukan spektrum sinar-x


bremstrahlung untuk beberapa harga tegangan tinggi yang digunakan.

Gambar 5. Spektrum sinar-x bremstrahlung untuk tegangan tinggi


beberapa harga tegangan tinggi V3> V2> V1.
Berdasarkan Gambar 5 tersebut dapat disimpulkan bahwa semakin
besar tegangan tinggi yang digunakan maka semakin kecil harga min
yang dihasilkan. Nilai min ini secara matematik dapat ditentukan sebagai
berikut. Jika elektron yang berenergi kinetik tinggi itu direm secara tibatiba oleh anoda maka seluruh energi kinetiknya akan secara tiba-tiba pula
diubah menjadi energi sinar-x tertinggi (hfmax) dan energi panas (Q). Jadi
jika energi kinetik elektron yang bergerak di dalam medan listrik yang
ditimbulkan oleh tegangan tinggi dinyatakan oleh eV, maka:
eV = hfmax + Q. atau
eV = hc/min + Q, sehingga
min = (eV - Q)/hc,
dimana h adalah konstanta Planck, c adalah cepat rambat cahaya, e adalah
muatan listrik elektron, dan V adalah nilai tegangan tinggi yang
digunakan. Dalam prakteknya, spektrum bremstrahlung ini jarang
digunakan untuk kegiatan eksperimen dan bahkan sering dihindari karena
ia memiliki panjang gelombang yang bermacam-macam. Posisi puncak
spektrum bremsstrahlung terletak pada atau pada karena Emax berbanding
terbalik dengan min. Untuk menghidari penumpukan panas (Q) pada
anoda, setiap sumber sinar-x yang berdaya besar biasanya selalu

10

dilengkapi dengan aliran air dingin untuk membuang panas (Q) yang
timbul.
Sinar-x yang lebih bermanfaat dan sering digunakan dalam setiap
kegiatan eksperimen khususnya pada XRD adalah sinar-x monokromatik
dan sering disebut sinar-x karakteristik. Sinar-x monokromatik (sinar-x
karakteristik) ini timbul akibat adanya

proses transisi

eksitasi elektron di dalam anoda. Sinar-x ini timbul secara tumpang tindih
dengan spektrum bremstrahlung. Disamping panjang gelombangnya yang
monokromatik, inensitas sinar-x monokromatik ini jauh lebih besar dari
pada intensitas sinar-x bremstrahlung.
Menurut pendekatan Bragg, kristal dapat dipandang terdiri atas
bidang-bidang datar (kisi kristal). Jika sinar-X ditembakkan pada
tumpukan bidang datar tersebut, maka beberapa akan didifraksikan oleh
bidang tersebut dengan sudut difraksi yang sama dengan sudut datangnya,
seperti yang diilustrasikan dalam Gambar 6, sedangkan sisanya akan
diteruskan menembus bidang.

Gambar 6. Difraksi sinar-X berdasarkan hukum Bragg

11

Penggunaan

XRD

untuk

mempelajari

kisi

kristal

adalah

berdasarkan persamaan Bragg berikut ini:

dimana adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah


jarak antara dua bidang kisi, adalah sudut antara sinar datang dengan
bidang normal, dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde
difraksi. Persamaan Bragg tersebut digunakan untuk menentukan
parameter sel kristal. Sedangkan untuk menentukan struktur kristal dengan
menggunakan metode komputasi kristalografik, data intensitas digunakan
untuk menentukan posisi-posisi atomnya.
B. X-Ray Diffractometer dan komponen-komponennya
X-Ray Diffractometer merupakan instrumen yang digunakan untuk
mengidentifikasi material kristalit maupun non-kristalit. X-Ray
Diffractometer terdiri dari tiga bagian utama, yaitu tabung sinar-X (sumber
monokromatis), tempat obyek yang diteliti (chamber), dan detektor sinarX yang dapat dilihat pada Gambar 7.

12

Gambar 7. Komponen-Komponen yang terdapat pada X-Ray


Diffractometer (http://up.persian-expert.com).
Skema dasar dari X-Ray Diffractometer terdiri dari sebuah sumber
radiasi monokromatik dan detektor sinar-X yang diletakkan pada keliling
lingkaran. Detektor terletak bersebelahan dengan tabung sinar-X dan dapat
digerakkan dengan arah dari nilai 0-90o. Detektor sinar-X dapat bergerak
sepanjang keliling lingkaran yang memiliki tanda sebagai ukuran besar
sudut. Pusat lingkarannya berupa tempat spesimen (chamber). Sebuah
celah pemencar (divergent slits) ditempatkan di antara sumber sinar-X
dengan spesimen, dan sebuah celah pengumpul (receiving slits)
ditempatkan spesimen dan detektor. Celah pengumpul ini dapat membatasi
radiasi yang terhambur (bukan yang terdifraksi), mengurangi derau latar
(background noise) dan membuat arah radiasi menjadi sejajar. Detektor
dan tempat spesimen secara mekanis dibuat berpasangan dengan
goniometer. Goniometer merupakan alat untuk mengukur sudut atau

13

membuat suatu obyek (dalam hal ini adalah detektor) berotasi dalam posisi
sudut yang tepat. Dalam set X-Ray Diffractometer, rotasi detektor melalui
sudut sebesar 2 terjadi bersamaan dengan rotasi spesimen sebesar ,
dengan perbandingan tetap 2:1.
Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan
kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian elektronelektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan
suatu voltase, dan menembak target dengan elektron. Ketika elektronelektron mempunyai energi yang cukup untuk mengeluarkan elektronelektron dalam target, karakteristik spektrum sinar-X dihasilkan. Alat
untuk menghasilkan sinar-X harus terdiri dari beberapa komponen utama,
yaitu :
a.

Sumber elektron (katoda)

b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron


c.

Logam target (anoda)

Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung


sinar-X. Skema tabung sinar-X dapat dilihat pada Gambar 8.

Gambar 8. Skema Tabung Sinar-X


C. Prinsip Kerja X-Ray Diffractometer
Sampel yang berbentuk serbuk ditaruh ditempat sampel. Sampel
dikenakan sinar-X dari sudut sebesar 0-90o. Sinar-X dihasilkan di suatu
tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar untuk menghasilkan
14

elektron-elektron, kemudian elektron-elektron tersebut dipercepat terhadap


suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target
dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup
untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum
sinar-X dihasilkan.
Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang
paling umum adalah K dan K. K berisi, pada sebagian, dari K1 dan
K2. K1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua
kali lebih intensitas dari K2. Panjang gelombang yang spesifik
merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr) disaring oleh
kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinarX monokromatik yang diperlukan untuk difraksi.
Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk difraksi
kristal tunggal, dengan radiasi Cu K =05418. Sinar-X ini bersifat
collimated dan mengarahkan ke sampel. Ketika geometri dari peristiwa
sinar-X tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferensi konstruktif
terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi. Semakin banyak
bidang kristal yang terdapat dalam sampel, semakin kuat intensitas yang
dihasilkan.
Saat sampel dan detektor diputar, intensitas sinar-X direkam seperti
yang terlihat pada Gambar 9.

Gambar 9. Proses Analisa Difraksi Sinar-X (Nelson, 2010)


Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan
mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada
15

printer atau layar komputer. Sinar-sinar diubah menjadi hasil dalam bentuk
gelombang-gelombang. Intensitas sinar-X dari scan sampel diplotkan
dengan sudut 2. Tiap puncak yang muncul pada pola difraktogram
mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu
tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran ini
kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk semua jenis
material (Nelson, 2010). Contoh data yang dihasilkan oleh X-Ray
Diffractometer dapat dilihat pada Gambar 10.

Gambar 10. Data yang dihasilkan oleh X-Ray Diffractometer (Nelson,


2010).

16

D. Manfaat X-Ray Diffractometer


X-Ray Diffractometer memiliki beberapa manfaat yaitu (1)
membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf; (2)
mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal; (3)
karakterisasi material kristal; (4) identifikasi mineral-mineral yang berbutir
halus seperti tanah liat; (5) penentuan dimensi-dimensi sel satuan; (6)
menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement; (7)
analisis kuantitatif dari mineral dan (8) karakteristik sampel film.

Selain untuk menunjukkan tingkat kristalitas suatu padatan, X-ray


diffractometer juga dapat digunakan untuk mengetahui diameter kristal.
Ukuran kristal yang mungkin diukur adalah 3-50 nm. Ukuran kristal yang
diperoleh merupakan diameter rata-rata volum berat. Ukuran kristal dapat
dihitung dengan persamaan Scherrer berikut ini;

dimana K=1.000, b adalah lebar peak yang telah dikoreksi oleh faktor
pelebaran alat instrumen, adalah panjang gelombang sinar-X yang
digunakan, Dv adalah ukuran kristal dan adalah sudut antara sinar datang
dengan bidang normal.
E. Kelebihan dan Kekurangan X-Ray Diffraction(XRD)
Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah
kemampuan penetrasinya, sebab sinar-X memiliki energi sangat tinggi akibat
panjang gelombangnya yang pendek.
Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek berupa kristal tunggal
sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya. Sedangkan untuk
objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan strukturnya.

17

BAB III
PENUTUP
A. KESIMPULAN
1. X-Ray Diffraction (XRD) merupakan teknik yang digunakan untuk
mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
2. X-Ray Diffractometer merupakan instrumen yang digunakan untuk
mengidentifikasi material kristalit maupun non-kristalit. X-Ray
Diffractometer terdiri dari tiga bagian utama, yaitu tabung sinar-X (sumber
monokromatis), tempat obyek yang diteliti (chamber), dan detektor sinarX.
3. Prinsip kerja X-Ray Diffractometer yaitu :
a. Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan
kawat pijar untuk menghasilkan elektron-elektron.
b. Elektron-elektron tersebut dipercepat terhadap suatu target dengan
memberikan suatu voltase, dan menembak target dengan elektron.
c. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk
mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik spektrum
sinar-X dihasilkan.
d. Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan
target disaring oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang
akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk
difraksi.
e. Sinar-X ini bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat
sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar-X pantul itu direkam.
f. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan
Bragg, interferensi konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam
intensitas terjadi.
g. Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan
mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan
pada printer atau layar komputer.
4. Manfaat XRD :

18

a.
b.
c.
d.

Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf


Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
Karakterisasi material Kristal
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat

Penentuan dimensi-dimensi sel satuan


e. Penentuan dimensi-dimensi sel satuan.
f. Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:
a. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld
refinement
b. Analisis kuantitatif dari mineral
c. Karakteristik sampel film
g. Untuk mengukur diameter kristal
5. Kelebihan penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material adalah
kemampuan penetrasinya. Sedangkan kekurangannya adalah untuk objek
berupa kristal tunggal sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk
kristalnya dan objek berupa bubuk (powder) sulit untuk menentukan
strukturnya.

19

DAFTAR PUSTAKA
Cullity. (2001). Elements Of X-Ray Diffraction. Canada: AddisonWesley Publishing Company Inc.
Edi Istiyono. (2000). Fisika Zat Padat 1. Yogyakarta: FMIPA Universitas Negeri
Yogyakarta.
http://rolanrusli.com/wp-content/uploads/2011/04/Difraksi-Sinar3.jpg
http://pubs.usgs.gov/of/2001/of01-041/htmldocs/images/XRDtube.jpg diakses 5
Mei 2015.
http://up.persian-expert.com/ diakses 30 April 2015.
Nelson, Stephen A. 2010. X-ray Crystallography. Tulane University.
Smallman,R.E, Bishop, R.J. 1999. Modern Physical Metallurgy and Materials
Engineering. London : Butterworth-Heinemann.
Smallman, R.E. 2000. Metalurgi Fisik Modern & Rekayasa Material. Jakarta:
Erlangga.
Vlack, Lawrence H. Van. 2004. Elemen-Elemen Ilmu dan Rekayasa Material.
Jakarta: Erlangga.

20