Caracterizacao de Minérios

BENEFICIAMENTO DE
MINRIOS
Caracterizao de minrios
Prof. Eliseu Romero Camplo Correia
BENEFICIAMENTO DE MINRIOS
CARACTERIZAO DE MINRIOS
INTRODUO
A caracterizao tecnolgica permite conhecer as principais
propriedades qumicas e fsicas de determinado minrio. De
posse de informaes como densidade, propriedades
magnticas, refrao e reflexo da luz, etc., possvel indicar
uma rota de processo adequada de acordo com as
caractersticas e necessidades do mercado.
-cor;
-brilho;
-densidade;
-susceptibilidade magntica;
-condutividade eltrica;
- entre outras.
INTRODUO
A alterao de pequenas propriedades no material pode mudar
a eficincia no processo de beneficiamento e por isso a
caracterizao tecnolgica vem ganhando espao no contexto
da indstria mineral.
Scheelita
Magnetita
INTRODUO
Para o aproveitamento timo de um recurso mineral, a
caracterizao tecnolgica se divide, de forma geral, em quatro
grandes estgios.
ANLISE MINERALGICA QUALITATIVA
Esse tipo de anlise se baseia essencialmente nas
identificaes das principais propriedades pticas dos minerais
por meio dos estudos ao microscpio ptico polarizante.
Cor, forma, pleocrosmo, extino, relevo, planos de clivagens e
de fraturas, birrefringncia, geminaes, figuras de
interferncia, determinao do sinal ptico (minerais uniaxiais
ou biaxiais, positivos ou negativos).
Partcula de hematita
microcristalina da seo
polida do produto
concentrado da
separao de alta
intensidade (frao retida
em 0,300 mm) observado
com aumento de 20x.
Scheelita
Microssonda eletrnica
Microssonda eletrnica JEOL JXA-8200.

Uma microssonda eletrnica constituda
por
um
microscpio
eletrnico
vocacionado para a obteno de microanlises e imagens em regies de
dimenses microscpicas. Caracteriza-se
por elevada capacidade de resoluo
espacial e boa resoluo analtica.
CARACTERIZAO DE MINRIOS DIFRAO DE RAIO-X (DRX)
Na difrao de raios-X a radiao proveniente da fonte
selecionada e colimada, incidindo sobre o material a ser
analisado, detectando-se a intensidade do feixe difratado em
funo do ngulo de incidncia (2).
A intensidade da radiao difratada ser mxima quando
obedecer chamada Lei de Bragg.
Figura Tubo de raio x usado em difratmetro.
Nmeros de
comprimentos
de ondas
defasados.
Figura - Representao esquemtica da difrao de

raios-X entre dois planos de tomos.
Equao de Bragg
n. = 2.d.sen
Obs.: O material utilizado na produo de raios-X, tipicamente

o cobre.
possvel
determinar a
distncia entre os
planos de tomos
de uma rede
cristalinos.
Descrio da Analise
O mineral a ser analisado geralmente preparado previamente de
acordo com as normas, em forma de p, com uma granulometria
da ordem de 200#.
A amostra p colocada no porta amostra especfico para a anlise
e levemente comprimido para que as partculas no se soltem
durante a anlise, pois a compresso exagerada pode levar
orientao preferencial de gros, indesejvel neste caso.
Aps colocado o porta amostra no difratmetro de raios X exemplo
(modelo XRD-6000, da marca Shimadzu), iniciada a incidncia com
fonte de radiao Cu K (17,5 mA, 40kV e = 1,5418 , entre o
intervalo (2): 5 70, onde lido e transmitido para a unidade de
armazenamento de dados que e transmitida em um monitor de
vdeo.
1 = 10-10m
LEITURA DE UM DIFRATOGRAMA
So Feitas as leituras dos trs picos mais intensos ao qual so
utilizados para iniciar o procedimento de identificao, na sua
ordem de intensidade, comparando-os com dados dos arquivos PDF
(powder diffraction files, ICDD - International Center for Diffraction
Data).
Se elas coincidirem com uma substncia, as posies e intensidades
dos demais picos so comparadas com as do arquivo.
Minerais identificados pela tcnica de difratometria de raios-X:

quartzo: raia de intensidade 100 = distncia interplanar de 3,327;
hematita: raia de intensidade 100 = distncia interplanar de 2,688;
magnetita: raia de intensidade 30 = distncia interplanar de 2,962;
biotita: raia de intensidade 100 = distncia interplanar de 9,873;
caulinita: raia de intensidade 100 = distncia interplanar de 6,998 e 3,518.
Microscpio Eletrnico de Varredura - MEV
permite, entre suas muitas aplicaes, observar com detalhes
as associaes minerais, suas alteraes, incluses,
zoneamentos e caracterizar os elementos qumicos
formadores do mineral.
Imagem da caulinita.
Microscpio
Eletrnico de
Varredura
MEV
Espectrofotrmetro
A espectroscopia de absoro molecular, da radiao
eletromagntica ultravioleta e vsivel (UV-Vis), est baseada
na medida da trasmitncia (T) ou absorbncia (A), de amostra
contida em um meio slido transparente, com um caminho
tico de b cm. Da mesma maneira, a concentrao c da
amostra est relacionada linearmente com a absorbncia,
atravs da Lei de Beer.
Apresentao de vdeos.
ANLISE MINERALGICA SEMIQUANTITATIVA
Esse tipo de anlise tem como objetivo a quantificao de seus
constituintes, representados pelo mineral valioso e pelos
minerais pertencentes ganga.
Ensaios de concentrao(separao):
-em meio denso
Esse tipo de anlise tem como objetivo a quantificao de seus
constituintes, representados pelo mineral valioso e pelos
minerais pertencentes ganga.
Ensaios de concentrao(separao):
-magntico
Separador magntico Frantz de laboratrio.

Todos os produtos obtidos nos diferentes ensaios de separao,
representados pelos minerais leves, pesados, magnticos e no
magnticos, e que ocorrem nas variadas fraes granulomtricas,
devero ser identificados ao microscpio ptico polarizante e lupa
binocular.
Aps essas identificaes, sero avaliadas suas respectivas
quantidades porcentuais nesses produtos e, consequentemente, no
minrio.
Os principais mtodos de semiquantificao dos minerais utilizados nas
anlises ao microscpio ptico, so os seguintes:
(i) contagem de pontos no gro mineral;
(ii) contagem dos gros individualizados;
(iii) contagem no campo visual do microscpio dos diferentes aglomerados de
gros de minerais do minrio.
As porcentagens finais de uma anlise
GRAU DE LIBERAO
Mtodo de Gaudin
Estimativa visual da liberao de um minrio em lupa binocular
e microscpio ptico um dos mtodos mais simples da
medio dessa grandeza.
Devem ser contados, em mdia, 200 gros minerais, anotandose os ndices de liberao das partculas livres e das partculas
mistas.
Utiliza-se a seguinte frmula matemtica para os clculos
percentuais da liberao:
Exerccios
-ANLISE GRANULOMTRICA SLIDE SEPARADO
-MEDIO DE TEOR POR PICNOMETRIA-SLIDE SEPARADO

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Prof. Eliseu Romero Camplo Correia

Microssonda eletrnica JEOL JXA-8200.

Figura Tubo de raio x usado em difratmetro.

Figura - Representao esquemtica da difrao de

Obs.: O material utilizado na produo de raios-X, tipicamente

Minerais identificados pela tcnica de difratometria de raios-X:

Separador magntico Frantz de laboratrio.

ANLISE MINERALGICA SEMIQUANTITATIVA

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