DEL CALLAO
FACULTAD DE CIENCIAS
NATURALES Y MATEMTICA
INTRODUCCIN A LA CRISTALOGRAFA
NOMBRE Y CDIGO:
MARTELL MELGAREJO JAIME JONATHAN 070985G
2013
INTRODUCCIN
Cuando el haz de rayos X incide sobre un cristal, provocar que los tomos que
conforman a ste dispersen a la onda incidente tal que cada uno de ellos produce un
fenmeno de interferencia que para determinadas direcciones de incidencia ser
destructivo y para otras constructivo surgiendo as el fenmeno de difraccin.
La informacin que proporciona el patrn de difraccin de Rayos X, se puede ver como
dos aspectos diferentes pero complementarios: por un lado, la geometra de las
direcciones de difraccin (condicionadas por el tamao y forma de la celdilla elemental
del cristal) nos ofrecen informacin sobre el sistema cristalino. Y por otro lado la
intensidad de los rayos difractados, estn ntimamente relacionados con la naturaleza de
los tomos y las posiciones que ocupan en la red, tal que su medida constituye la
informacin tridimensional necesaria para conocer la estructura interna del cristal.
Trataremos 3 mtodos de difraccin usando rayos X:
Mtodo de Debye-Scherrer.
Mtodo del cristal giratorio.
Mtodo del difractmetro.
METODO DE DEBYE-SCHERRER
Para este mtodo se utilizaron cristales en polvo (triturados) ,es decir una gran cantidad
de cristales pequesimos y radiacin monocromtica. Estos cristales prensados en
forma de barrita se forman idealmente por partculas cristalinas en cualquier
orientacin; para asegurar que la orientacin de estas pequeas partculas sea totalmente
al azar con respecto del haz incidente, la muestra generalmente se hace girar en el haz
de rayos X durante la exposicin. Como resultado de ello, se obtiene una serie de trazos
que unindose forman lneas curvas en la placa fotogrfica o en la pelcula (Figura 2).
Figura 1
Los rayos X ingresan a la cmara a travs de un colimador, inciden sobre la muestra y
salen por el orificio, los rayos secundarios interfieren separndose en diferentes
direcciones a partir de la muestra (Figura 1). Los rayos reforzados mutuamente por
interferencia, producen una serie de conos que impresionan la pelcula fotogrfica,
resultando curvas de interseccin de los conos con el cilindro.
Figura 2.
Si la distancia entre los arcos simtricos la designamos por l1, l2, l3, etc. y el dimetro de
la pelcula cilndrica por D, de la relacin:
l
4
=
D 360
Obtenemos que
90
l
D .
Figura 3.
Una vez hallado el ngulo
donde
en
R
en
Figura 7.
METODO DIFRACTOMTRICO
Usando una radiacin monocromtica en el difractmetro, un
monocristal producir una reflexin solamente cuando su orientacin
sea tal que, cierto conjunto de planos reflectantes est inclinado al
haz incidente a un ngulo que satisface la ley de Bragg para ese
conjunto de planos y la radiacin caracterstica aplicada.
Pero cuando el contador, fijado en la posicin al correspondiente
ngulo 2 indica que una reflexin es producida, entonces la
inclinacin de los planos reflectantes a cualquier lnea o plano elegido
sobre la superficie del cristal es conocida a partir de la posicin del
cristal.
Rotamos el cristal alrededor de varios ejes hasta que se encuentra
una posicin para la cual se produce la reflexin.
Luego, ubicamos el polo del plano reflectante sobre una proyeccin
estereogrfica a partir de los ngulos conocidos de rotacin.
Figura 8.
EL EJE
APLICACIONES
Una pequea aplicacin seria el encontrar el parmetro de red de una
celda cubica para una longitud de onda conocida y para el primer
orden (n=1).
BIBLIOGRAFIA
http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/parte_06.html
http://www.uned.es/cristamine/cristal/drx_mrc.htm