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UNIVERSIDAD DE ORIENTE.

NCLEO DE ANZOTEGUI.
ESCUELA DE INGENIERA Y CIENCIAS APLICADAS.
DEPARTAMENTO DE MECNICA.
LABORATORIO DE INGENIERA MECANICA II

Revisado por:

Realizado por:

Prof.: Glorys Lpez

Br: Granado Gabriel


C.I: 15.279.815

Puerto la Cruz, Junio del 2005.


2005

1.

Establezca diferencias entre los siguientes equipos en cuanto a:

Fundamento o principio de operacin.

Utilidad.

reas de aplicacin.

Equipos:

Estereoscopio.

Microscopio ptico.

Microscopio de Fuerza Atmica.

Microscopio Electrnico de Barrido y Transmisin.

Estereoscopio.
Fundamento o principio de operacin.
El principio de la visin estereoscpica puede describirse como un proceso visual
relacionado con el uso de un estereoscopio, el cual muestra una imagen desde dos
ngulos ligeramente diferentes, que los ojos funden en una imagen tridimensional nica.
Las dos fotografas estn tomadas desde ngulos ligeramente diferentes y se observan a
travs de dos objetivos con lentes separadas e inclinadas para que coincidan y se fundan
las dos imgenes en una tridimensional.
Utilidad. reas de aplicacin.
La fotografa estereoscpica area permite realizar representaciones en tres dimensiones
que pueden utilizarse en la preparacin de mapas de relieve.
Microscopio ptico.
Fundamento o principio de operacin.
El microscopio compuesto consiste en dos sistemas de lentes, el objetivo y el ocular,
montados en extremos opuestos de un tubo cerrado. El objetivo est compuesto de
varias lentes que crean una imagen real aumentada del objeto examinado. Las lentes de
los microscopios estn dispuestas de forma que el objetivo se encuentre en el punto
focal del ocular. Cuando se mira a travs del ocular se ve una imagen virtual aumentada

de la imagen real. El aumento total del microscopio depende de las longitudes focales
de los dos sistemas de lentes.
El microscopio ptico tiene un limite resolucin de cerca de 200 nm (0.2 m ). Este
limite se debe a la longitud de onda de la luz (0.4-0.7 m). Las clulas observadas bajo
el microscopio ptico pueden estar vivas o fijadas y teidas.
El equipamiento adicional de un microscopio consta de un armazn con un soporte que
sostiene el material examinado y de un mecanismo que permite acercar y alejar el tubo
para enfocar la muestra. Los especimenes o muestras que se examinan con un
microscopio son transparentes y se observan con una luz que los atraviesa, y se suelen
colocar sobre un rectngulo fino de vidrio. El soporte tiene un orificio por el que pasa la
luz. Bajo el soporte se encuentra un espejo que refleja la luz para que atraviese el
espcimen. El microscopio puede contar con una fuente de luz elctrica que dirige la luz
a travs de la muestra.
Utilidad. reas de aplicacin.
Los microscopios pticos que se usan normalmente en microbiologa estn equipados
con tres objetivos: bajo poder, alto poder y objetivo de inmersin. Estos objetivos estn
montados sobre una pieza que se llama revolver que puede rotarse para alinear el
objetivo deseado con el condensador.
Los microscopios de gran poder resolutivo son especialmente buenos para ver pequeas
estructuras. El poder resolutivo de un microscopio compuesto depende de la longitud de
onda utilizada y de una propiedad ptica de la lente conocida como apertura numrica.
Como los microscopios pticos utilizan luz visible, la longitud de onda est fijada y es
por lo que la resolucin de un objeto es funcin de la apertura numrica; cuanto mayor
sea la apertura, el objeto resuelto ser ms pequeo.

Figura N 1. Microscopio ptico.


Microscopio de Fuerza Atmica.
Fundamento o principio de operacin.
El Microscopio de Fuerza Atmica (AFM) es un instrumento mecano-ptico que detecta
fuerzas a nivel atmico (del orden de los nanoNewton) a travs de la medicin ptica
del movimiento sobre la superficie de un cantilever muy sensible terminado en una
punta con un cristal de forma piramidal, usualmente duro. La fuerza atmica, evidente
cuando el cantilever est muy prximo a la superficie de la muestra, se detecta a travs
de la torsin de aqul. La direccin del haz lser reflejado por la parte posterior del
cantilever cambia con la torsin del mismo. La longitud del cantilever es de 200um, y
tiene una punta muy aguda de cristal en el extremo. La muestra es movida en el barrido
en las tres direcciones, mientras el cantilever traza la superficie de la muestra en detalle.
Todos los movimientos son controlados por una computadora. La resolucin del
instrumento es de menos de 1nm, y la pantalla de visualizacin permite distinguir
detalles en la superficie de la muestra con una amplificacin de varios millones.

Figura N 2. Microscopio de Fuerza Atmica.

Utilidad. reas de aplicacin.


El campo de aplicacin abarca desde imgenes topogrficas de la superficie de
muestras, que pueden ser logradas con ampliaciones a partir de miles de veces, hasta
millones de veces, siendo muestras tpicas de esta tcnica, metales, cermicas,
materiales orgnicos y muestras biolgicas, sin la necesidad de tratamientos de
preparacin, tales como la metalizacin.
Con este

microscopio ya se han conseguido sorprendentes imgenes que revelan

caractersticas submoleculares de biomolculas aisladas. Es ms, se pueden detectar


mnimos cambios estructurales en la superficie de una biomolcula con una resolucin
temporal de unos pocos milisegundos, suficiente para poder monitorizar los cambios
conformacionales implicados en procesos biolgicos concretos. Adems, la aguja del
microscopio de fuerza atmica puede considerarse una nanoherramienta que permite
manipular molculas aisladas.
Otros ejemplos:
A continuacin se muestran algunas imgenes obtenidas con un microscopio de fuerza
atmica SHIMADZU SPM-9500. En cada caso se indican las dimensiones del rea
estudiada.

Figura N 3. Cabello Se pueden diferenciar caractersticas individuales a partir de las


cutculas. Se observan adherencias en las "grietas".

Figura N 4. E.coli este es un bacilo coliforme que fue "anclado" sobre una base de
vidrio. La zona central constreida es el sitio de la divisin.

El Microscopio Electrnico de Barrido (MEB).


Fundamento o principio de operacin.
El Microscopio de Barrido con Electrones (MBE) acoplado con tcnicas de
microanlisis de dispersin de energa de rayos X (EDE) y de dispersin de longitud de
onda rayos X (ELO), en los ltimos aos se ha vuelto una herramienta muy til en la
investigacin de ciencias de materiales y ciencias biolgicas, y cada vez es ms
empleado en procesos industriales diversos, tales como la industria petroqumica,
electrnica y alimentos.
El MBE consiste de dos partes principales. Una consola electrnica con los
interruptores y botones para ajustar la intensidad de la imagen en la pantalla, enfocar y
tomar la fotografa. La columna de electrones es la tarea principal del MBE, donde se
crea el haz de electrones, se enfoca en un rea pequea, y se hace un barrido a travs de
la muestra para generar las seales que controlan la intensidad local de la imagen en la
pantalla. En los primeros das del MEB, este no tena la capacidad para anlisis
qumico, por lo que su trabajo estaba reservado para lograr imgenes de las muestras
aprovechando sus ventajas de profundidad de campo y de la longitud de onda de los
electrones (0,06 ).
El microscopio electrnico de barrido (MEB) tambin tiene un lmite de 2nm. El MEB
permite mirar a clulas muertas, despus de haber sido fijadas y teidas con iones de
metales pesados. Con esta tcnica los electrones son reflectados sobre la superficie del
espcimen.

Figura N 5. Microscopio Electrnico de Barrido

Utilidad. reas de aplicacin.


El microscopio electrnico de barrido es un instrumento que permite la observacin y
caracterizacin de materiales inorgnicos y orgnicos por el estudio de superficies. A
partir de l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se
utilizan para examinar muchas de sus caractersticas. En el analizador por dispersin de
energa de rayos X la radiacin utilizada son los rayos X caractersticos que emite la
muestra como resultado del bombardeo de electrones. El anlisis de esta radiacin
proporciona una informacin analtica sobre la composicin del total o de zonas de la
muestra de hasta unas cuantas micras de dimetro.
Microscopio Electrnico de Transmisin.
Fundamento o principio de operacin.
El microscopio electrnico de transmisin emite un haz de electrones dirigido hacia el
objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por
el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra. Para
utilizar un microscopio electrnico de transmisin debe cortarse la muestra en capas
finas, no mayores de un par de miles de ngstroms. Los microscopios electrnicos de
transmisin pueden aumentar un objeto hasta un milln de veces.
El microscopio electrnico de transmisin (MET) tiene un lmite de resolucin de cerca
de 2 nm. Un MET mira clulas muertas, despus de haber sido fijadas y teidas con
iones de metales pesados. Los electrones son dispersados cuando pasan a travs de una
fina seccin del espcimen, y luego detectados y proyectados hacia una imagen sobre
una pantalla fluorescente.
Un microscopio electrnico de transmisin es un microscopio que utiliza un haz de
electrones para visualizar un objeto debido a que la potencia amplificadora de un
microscopio ptico est limitada por la longitud de onda de la luz visible. Debido a que
los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz pueden mostrar
estructuras mucho ms pequeas. Las partes principales de un microscopio electrnico
son:

Can de electrones, que emite los electrones que chocan contra

el espcimen, creando una imagen aumentada.


Lentes magnticas para crear campos que dirigen y enfocan el

haz de electrones, ya que las lentes convencionales utilizadas en los microscopios


pticos no funcionan con los electrones.
Sistema de vaco es una parte muy importante del microscopio

electrnico. Debido a que los electrones pueden ser desviados por las molculas
del aire, se debe hacer un vaco casi total en el interior de un microscopio de estas
caractersticas.

Placa fotogrfica o pantalla fluorescente que se coloca detrs


del objeto a visualizar para registrar la imagen aumentada.

Sistema de registro que muestra la imagen que producen los


electrones, que suele ser una computadora.

Figura N 6. Microscopio Electrnico de Transmisin.


Utilidad. reas de aplicacin.
Con estos instrumentos es posible el estudio de una gran variedad de materiales, tales
como, partculas pequeas, cermicas, aleaciones, biomateriales y polmeros.

2.

Establezca diferencias entre:


a.) Metalografa tradicional y Metalografa a color.
b.) Metalografa a alta temperatura y Metalografa a baja temperatura.

a.) Metalografa tradicional.


Se realiza con el fin de obtener toda la informacin que es posible encontrar en las
estructuras de los diferentes materiales, esto se realiza con la ayuda de un
microscopio y las fotos se dan en blanco y negro.

B.)Metalografa a color.
Se realiza para identificar carburos en los aceros que no son vistos en metalografa
tradicional, a travs de un reactivo especfico que le da una coloracin especfica
respecto a un carburo especifico.
c.) Metalografia a alta temperatura.
La muestra pulida se encierra en una cmara de vaci a la que se le hace un alto
vaci para proteger a la superficie de la muestra de la oxidacin. Se calienta la
muestra, bien por contacto con una cinta de

un metal refractario, como el

wolfraneo, o por radiacin de la misma. Dicha cinta

se calienta hasta una

temperatura elevada por resistencia elctrica.


d.) Metalografa a baja temperatura.
Son aquellas que se toman las muestras que se encuentran a temperatura ambiente y
solamente se obtiene pruebas indirectas que dicha muestra a soportado una
temperatura elevada.

3. Establezca diferencias entre:


a.) Inclusiones de Silicato e Inclusiones de Alumina.
b.) Inclusiones de Sulfuro de Manganeso e Inclusiones de Sulfuro de Hierro.
(Las diferencias deben establecerse en base a: Formacin, origen, morfologa y
efectos en los aceros).
Inclusiones de Silicato.
Silicato
Roca o mineral cuya estructura esta dominada por los enlaces entre los tomos de silicio
y oxgeno. Los silicatos son abundantes en la corteza de los planetas terrestres.
En general los suelos se componen de silicatos con complejidades que varan desde la
del sencillo xido de silicio (cuarzo) hasta la de los silicatos de aluminio hidratado, muy
complejo, encontrados en los suelos de arcilla. En la superficie terrestre, los silicatos
son la clase ms abundante de minerales. Los silicatos incluyen minerales que
comprenden las familias del feldespato, la mica, el piroxeno, el cuarzo, la zeolita y el
anfbol. En la formacin de sistemas planetarios, los silicatos tienden a agruparse en
zonas intermedias, cercanas a la estrella, pero no demasiado, ya que tienen dificultades
para formarse a temperaturas muy elevadas.
Los silicatos ms importantes son los de sodio y potasio (vidrios solubles), de magnesio
(como el talco), de calcio (que integran el vidrio y el cristal), y de aluminio (como el
caoln o la arcilla).
Por lo general, los silicatos son duros, transparentes translcido y de densidad media. Se
suelen agrupar por como se disponen los tomos de silicios y oxigeno, cada uno de los
primeros est rodeado por cuatro de los segundos. Existen ms de 900 silicatos distintos
Formacin u origen
Cuando las partculas acaban de formarse son angulosas y puntiagudas, hacindose ms
pequeas y redondeadas por friccin provocada por el viento y el agua. Es el producto
de la desintegracin qumica y mecnica de las rocas bajo meteorizacin y abrasin (ver
erosin).

Dureza
Mica: 2.4, Feldespato: 6 y 6.5, Magnetita: 5.5 y 6.5, Cuarzo: 7
Propiedades
Las importantes aplicaciones industriales de este grupo de minerales radican en sus
propiedades fsico-qumicas. Dichas propiedades derivan, principalmente de que son
partculas extremadamente pequeas (inferior a 2mm).
Su morfologa laminar (filo silicatos).
Las sustituciones isormficas, dan lugar a la aparicin de carga en las lminas y a la
presencia de cationes dbilmente ligados en el espacio interinar.
Efecto en los aceros.
Adems de los microconstituyentes comentados, los aceros no aleados presentan en sus
microestructuras otros elementos de inters. Entre los que se encuentran ms
comnmente, destacan las impurezas, xidos e inclusiones resultadas de la deficiente
desoxidacin y refinas de los mismos. Los xidos se producen en la superficie de la
pieza generalmente, aunque pueden existir ciertos procesos de oxidacin interna que los
hacen aparecer de color gris plido a gris oscuro segn el tiempo de pulido empleado.
Entren las inclusiones destacan las de silicatos y las de sulfuros, principalmente de Mn,
que aparecen como granos alargados en la direccin de laminacin, con coloraciones
oscuras y gris paloma respectivamente. La observacin de estos microconstituyentes es
conveniente realizarla previamente al ataque de la probeta metalogrfica.

Inclusiones de Alumina
Alumina
Proceso Bayer para la almina:
Este proceso est basado en la reaccin reversible de hidrxido de aluminio con
hidrxido de sodio. La almina en polvo representa, aproximadamente, un 15% de la
totalidad del uso de aluminio en la industria. El material en bruto para la obtencin de la
almina es la bauxita la cual es, bsicamente, alminas hidratadas (Al2O3 n H2O,
donde n= 1, 2, 3) con algunas impurezas de hierro y silicio.
Durante el proceso de purificacin, la bauxita almina mineral es reaccionada para
producir una solucin para formar Na Al O2, al tiempo que las impurezas, por entonces
solubles, son sedimentadas.
Paralelamente, la solucin supersaturada de Na Al 02, es sedimentada con cristales
intersticiales para iniciar la precipitacin de hidrxido de aluminio puro. Este se calcina
a, aproximadamente, 1400 C para obtener almina alfa Al2 O 3.
El resultado es aglomerados de almina duros y de baja densidad. La desaglomeracin
extensiva y la reduccin de tamaos de partculas a micro tamaos son los procesos
finales mediante los cuales se obtienen los polvos para ser utilizados tal como los
conocemos. El polvo de almina resultante es clasificado por el tamao de partculas y
el contenido de impurezas de xido de sodio.
Inclusiones de Sulfuro de Manganeso.
Las inclusiones, generalmente de sulfuro de manganeso, aparecen plsticamente
alargadas en la direccin del laminado.

Inclusiones de Sulfuro de Hierro.


En los aceros comerciales, el azufre se mantiene por lo regular por debajo de 0,05%.
Este metaloide se combina con el hierro para formar sulfuros de hierro (FeS). En
presencia de manganeso, el azufre tiende a formar sulfuro de manganeso (MnS) en vez
de sulfuro de hierro. El sulfuro de manganeso puede salir de la escoria o permanecer
como inclusiones bien distribuidas por toda la estructura. Se recomienda que la cantidad
de manganeso sea de dos a ocho veces la cantidad de azufre. El mejoramiento en
maquinabilidad se debe, entonces, a la presencia de inclusiones sulfurosas ms
numerosas que lubrican la herramienta y hacen que la estructura se rompa ms fcil,
reduciendo as el desgaste y aumentando la productividad.