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Muestreo de aceptacin por atributos: Normas Mil. Std. 105D del Departamento de la
Defensa (E.U.A.) y ANSI/ASQC Std. Z1.4 e ISO Std. 2859.
1. DESCRIPCIN DE LA NORMA MILITARY ESTNDAR 105D
LOS PROCEDIMIENTOS MILITARES estndares de muestreo para inspeccin por atributos
se crearon durante la II Guerra Mundial. Los procedimientos y tablas para pertrechos militares se
prepararon en 1942, y pasaron despus a convertirse (con modificaciones) en tablas para las
Fuerzas de Servicios del Ejrcito. Las tablas de la Armada fueron publicadas en 1945 y adoptadas
en 1949 como norma conjunta Ejrcito Armada. Este JAN-STD fue sustituido por el Mil.
Std.105A en 1950. Desde entonces, ha habido modificaciones menores en la norma 105,
publicada como 105B y 105C. La Military Standard 105D que analizamos aqu es el resultado de
un estudio llevado a cabo por el grupo de trabajo americano britnico canadiense que trato de
lograr establecer un patrn comn para los tres pases. Mil. Std. 105D fue publicada por el
gobierno de Estados Unidos en 1963. En 1971 fue adoptada por el American National Standars
Institute como ANSI Standard Z1.4, y en 1973, salvo por pequeos cambios editoriales, fue
adoptada por la Internacional Organization for Standarization como ISO 2859.
En 1981 se realiz una revisin editorial de la ANSI Z1.4 y se agreg material nuevo de un
grupo de la ASQC. La norma revisada se emiti como la ANSI/ASQC Standard Z1.4. En 1986 se
considero la revisin de l ISO Std. 2859. Sin embargo, no se formularon planes para cambiar las
tablas bsicas, de modo que permanecen iguales para las tres normas. Por lo tanto, la descripcin
en ste captulo de los aspectos tcnicos de la Mil. Std. 105D se aplica tambin a las otras dos
ramas.
Debe advertirse que la Mil. Std. 105D el trmino defecto se utiliza en el sentido amplio de una
disconformidad con las especificaciones, y que el trmino unidad defectuosa designa a una unidad
disconforme. La descripcin de la norma se efectuar en funcin de defectos y unidades
defectuosas, pero estos trminos tienen el significado genrico que en la norma en cuestin. En la
ANSI/ASQC Z1.4 y en una revisin propuesta de la ISO Std. 2859, aparecen las designaciones de
disconformidad y unidad disconforme, que siguen la prctica recomendada actualmente.
Los procedimientos de muestreo analizados en los captulos anteriores son casos individuales,
ideados para reunir ciertas caractersticas, por ejemplo p1, P2, y datos. La Mil. Std.105D es un
conjunto de tales procesos organizado en un sistema de mtodos de muestreo. Un mtodo
(Scheme) de muestreo consiste en una combinacin de un proceso de muestreo normal, uno de
muestreo severo y uno de muestreo reducido o abreviado, con reglas para cambiar de uno a otro.
Puede tener tambin clusulas para discontinuar la inspeccin si un nmero especificado de lotes
consecutivos permanece en inspeccin severa. El funcionamiento de estos mtodos se explica el
curso de esta descripcin.
El punto bsico de Mil. Std. 105D es el nivel aceptable de calidad o AQL., al aplicar el estndar
se espera que en una conferencia (a alto nivel) entre un proveedor y una agencia militar, quedar
especificado claramente para el proveedor lo que, para fines del muestreo de aceptacin, la
agencia considera como nivel aceptable de calidad para una caracterstica del producto. Se
espera que el proveedor someta para inspeccin varios lotes de este producto, y es el propsito
del procedimiento de muestreo de la Mil. Std. 105 D, forzar al proveedor para que produzca, por lo
menos un producto de calidad AQL. Esto se logra no solamente mediante la aceptacin y rechazo
de un proceso de muestreo particular, sino al disponer el cambio a otro procedimiento de
muestreo ms exigente, en cuanto se presenten pruebas de que el producto del contratista se ha
deteriorado, pasando a ser inferior al AQL convenido.
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La Mil. Std. 105D se refiere as a una serie de AQLs. Para los procesos de fraccin
defectuosa, el AQL vara desde 0.10 a 10%. Para procedimientos de defectos/unidad hay 10 AQLs
adicionales que llegan hasta mil defectos por cada cien unidades. Se observar que para los
niveles ms bajos de AQL, el mismo proceso de muestreo puede ser utilizado para controlar, ya
sea una fraccin defectuosa o el nmero de defectos por unidad. Los AQLs relacionados en la
norma, se han elegido de manera que cada uno de ellos tenga una proporcin de 1.585 con el
AQL situado inmediatamente abajo del mismo. La razn para esto se indica a continuacin.
Adems de una decisin inicial acerca de un AQL, es tambin necesario, al aplicar la Mil. Std.
105D, decidir acerca del nivel de inspeccin. Esto determina la relacin entre los tamaos del
lote y la muestra. Se ofrecen tres niveles generales de inspeccione. El nivel II es el que se
considera como normal. El nivel I puede especificarse cuando se necesita menos seleccin, y el
nivel III cuando se requiere una diferencia mayor. Hay tambin cuatro niveles especiales. La
decisin acerca de cual nivel de inspeccin se usar, se basa en el tipo de producto que se trate.
Para elementos poco costosos y sencillos, el nivel puede ser bajo; para piezas costosas y
complejas deber ser alto. Si la inspeccin es perjudicial para el producto puede utilizarse un bajo
nivel de inspeccin. El nivel de inspeccin se adopta al iniciar el programa de muestreo, y no se le
cambia, en general a partir de este momento.
Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dados, el Mil. Std. 105D
da un proceso de muestreo normal, que se utiliza en tanto el proveedor est generando productos
que aparentemente tengan la calidad AQL o mejor. Ofrece tambin un proceso ms severo al cual
cambiar si hay pruebas de que la calidad se ha deteriorado. La regla es que el cambio del proceso
normal ms exigente, se realice despus que dos de cinco lotes consecutivos han sido
rechazados durante la inspeccin original. Se vuelve a implementar la inspeccin normal, cuando
cinco lotes consecutivos han sido aceptados en el curso de la inspeccin original. Si se
encuentran diez lotes consecutivos de acuerdo con el proceso ms estricto, se detiene la
inspeccin para proceder como convenga con respecto a la calidad. Se observar que este
cambio de una inspeccin ms estricta a la normal o viceversa, se refiere a un proveedor en
particular, y es independiente de los niveles de inspeccin originalmente adoptados, los cuales se
refieren al tipo de producto y no al proveedor.
La Mil. Std. 105D ofrece tres tipos de procedimientos de muestreo, correspondiendo
generalmente la decisin al inspector del gobierno a cargo de la operacin. Los tres tipos se
refieren al proceso de muestreo sencillo, doble y mltiple. La seleccin entre uno y otro se hace
generalmente sobre la base de la conveniencia administrativa.
Debido a la posibilidad de escoger entre los tres tipos de procesos, el estndar no muestra
inmediatamente el tamao de la muestra, sino que suministra inicialmente una letra cdigo para el
tamao. Esto, junto con la decisin del tipo de procedimientos, seala el proceso de muestreo
especfico por utilizar.
Los pasos en el uso de las normas pueden resumirse como siguen:
Decisin del AQL.
Decisin el nivel de inspeccin.
Determinacin del tamao del lote.
Consultar la tabla para encontrar la letra cdigo correspondiente al tamao de la muestra.
Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar.
Uso de la tabla correcta para encontrar el proceso por utilizar.
Uso de la tabla de inspeccin ms estricta, para el mismo tipo de proceso, cuando se requiera
cambiar a una inspeccin ms estricta.
La norma contiene curvas CO para los distintos procesos de muestreo sencillo. Un ejemplo se
da en la figura 10.1., estas curvas CO tipo B. Para AQLs hasta de un 10%, y tamao de muestras
menores de 80, se utiliz la distribucin binomial en su clculo; para AQLs y tamaos de muestras
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mayores, se utiliz la distribucin de Poisson, ya que esta es la distribucin adecuada para los
procesos de defectos/unidad. Las curvas CO para los procesos doble y mltiple igualados son en
general comparables con las de procedimientos de muestreo sencillo correspondientes. Las
normas tambin proporcionan valores numricos para varias curvas CO. Los valores numricos
para la figura 10.1 se dan en la tabla 10.1.
Las curvas CO presentadas en el estndar, son las correspondientes al proceso de muestreo
inicial. La norma no da las curvas CO del mtodo que resultara de seguir las reglas para el
cambio manteniendo el promedio del proceso en un valor p dado. Sin embargo, las ltimas se
proporcionan en la revisin de la ANSI Z1.4 que se describe en la seccin 4 de este captulo.
Pueden verse ejemplos en la figura 10.4. La Mil. Std. 105D tambin presenta curvas ASN para
muestreo sin reduccin en sus procesos doble y mltiple. Vase la figura 10.2.
Como auxiliar en los procedimientos de muestro descritos antes, la Mil. Std. 105D admite
cambios a inspeccin reducida si la calidad se manifiesta como especialmente buena. Para esto,
la produccin debe seguir un ritmo normal, se deben haber aceptado a los 10 ltimos lotes
durante la inspeccin normal, y el nmero total de defectuosos (o defectos) debe ser menor que
el valor estipulado en la tabla 10.10. La idea bsica de la inspeccin abreviada, es ahorrar dinero
gubernamental cuando la calidad esta resultando buena.
TABLA 10.1
Valores tabulados para curvas caractersticas de operacin de procesos de muestreo sencillo, letra cdigo K (Mil. Std. 105D,
tabla X-K-1)
0.10
0.40
0.65
1.0
1.5
2.5
4.0
6.5
10
0.0081
0.119
0.349
0.658
1.43
2.33
2.81
3.82
4.88
5.98
8.28
10.1
95.0
0.0410
0.284
0.654
1.09
2.09
3.19
3.76
4.94
6.15
7.40
9.95
11.9
90.0
0.0840
0.426
0.882
1.40
2.52
3.73
4.35
5.62
6.92
8.24
10.9
13.0
75.0
0.230
0.769
0.382
2.03
3.38
4.77
5.47
6.90
8.34
9.79
12.7
14.9
50.0
0.554
1.34
2.14
2.94
4.54
6.14
6.94
8.53
10.1
11.7
14.9
17.3
25.0
1.11
2.15
3.14
4.09
5.94
7.75
8.64
10.4
12.2
13.9
17.4
20.0
10.0
1.84
3.11
4.26
5.35
7.42
9.42
10.4
12.3
14.2
16.1
19.8
22.5
5.0
2.40
3.80
5.04
6.20
8.41
10.5
11.5
13.6
15.6
17.5
21.4
24.2
1.0
3.68
5.31
6.73
8.04
10.5
12.8
18.3
16.1
18.3
20.4
24.5
27.5
0.15
0.65
1.0
1.5
2.5
4.0
6.5
10
FIGURA 10.1
Una muestra de las curvas CO del Military Estndar 105D (las curvas pertenecen al muestreo sencillo. Las curvas para
muestreo doble o mltiple se aproximan tanto como sea posible. Todas son para la letra cdigo de muestra K)
Por ciento de lotes que se espera sean aceptados (Pa)
100
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1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
6.0
7.0
La norma tiene tablas suplementarias que abarcan los puntos del 5 y 10% de las curvas CO.
Estos valores se dan en beneficio de aquellos lectores que estn interesados en limitar el riesgo
de aceptacin de lotes individuales peores que una fraccin defectuosa de la tolerancia del lote, o
cierto nmero de defectos por unidad2 en la tolerancia del lote. Hay adems una tabla de valores
AOQL, para procedimientos de inspeccin normal y estricta para los que se interesen en este
aspecto.
La norma diferencia los defectos crticos, mayores y menores. Es prctica comn el escoger un
AQL = 1% para defectos mayores, y un AQL = 2.5% para defectos menores. Los defectos crticos
no son aceptados.
En la seccin siguiente, se reproduce el texto completo de la norma estndar, con las tablas
respectivas, excluyendo las correspondientes a los procedimientos de inspeccin abreviada
dobles y mltiples.
2. TEXTO DE MILITARY STANDARD 105D
1)
Alcance
1.1. Propsito. Esta publicacin establece los procesos de muestreo y los procedimientos
de inspeccin por atributos. Al ser indicado por una autoridad responsable, esta
publicacin deber ser mencionada en las especificaciones, contratos, instruccin de
inspeccin u otros documentos, aplicndose las previsiones que se contienen. La
autoridad responsable ser designada en uno de los documentos que antes se
mencionan.
1.2. Aplicacin. Los procesos de muestreo mencionados en esta publicacin son
aplicables, pero no limitados a la inspeccin de:
a)
b)
c)
d)
e)
Productos finales.
Componentes y materia prima.
Operaciones.
Materiales de proceso.
Suministros de almacenamiento.
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Operaciones de mantenimiento.
Datos o registros.
Procedimientos administrativos.
Estos procesos tienen como objetivo fundamental, el ser usado para series continas
de lotes o conjuntos. Los procedimientos pueden utilizarse tambin para la inspeccin
de lotes o conjuntos aislados, aunque en este caso, el usuario debe tener la precaucin
de consultar las curvas caractersticas de operacin para encontrar un proceso que le
suministre la proteccin deseada (vase 11.6)
1.3. Inspeccin. La inspeccin es el proceso de medir, examinar, o comparar de cualquier
otra forma, la unidad del producto (vase 1.5) con los requerimientos.
1.4. Inspeccin por atributos. La inspeccin por atributos es aquella mediante la cual la
unidad del producto es clasificada sencillamente como defectuosa o no defectuosa, o
el nmero de defectos en la unidad del producto es contado con respecto al requisito o
conjunto de requisitos dados.
1.5. Unidad del producto. La unidad del producto es el elemento inspeccionado, con
objeto de determinar su clasificacin como defectuosa o no defectuosa, o para contar
el nmero de sus defectos. Puede ser un solo artculo, un par, un conjunto, una
longitud, un rea, una operacin, un volumen, un componente de un producto final, o
el propio producto final. La unidad del producto puede ser, o no ser, la misma que la
unidad de compra, suministro, produccin o embarque.
2)
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3)
Porcentaje defectuoso =
3.3. Defectos por cada cien unidades. El nmero de defectos por cada cien unidades de
cualquier cantidad de unidades del producto es cien veces el nmero de defectos
contenido en el mismo (uno o mas defectos son posibles en una sola unidad del
producto) dividido por el nmero total de unidades del producto, es decir:
Defectos por cada cien unidades =
4)
x 100
Uso. El AQL, junto con la letra cdigo para el tamao de la muestra, se utiliza para
marcar, los procesos de muestreo que aqu analizan.
4.2.
4.3.
Nota acerca del significado del AQL. Cuando un consumidor designa algn valor
especfico de AQL para cierto para cierto defecto o conjuntos de defectos, indica al
proveedor que su aceptacin, (la del consumidor) mediante un proceso de muestreo
dar por buena la mayora de los lotes o conjuntos que el proveedor someta, con tal
que el nivel promedio del proceso, en cuanto al por ciento defectuoso (o defectos por
cada cien unidades) en dichos lotes o conjuntos, no sea mayor que el valor asignado
CDIGO:
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al AQL, en esta forma el AQL es un valor asignado del por ciento defectuoso (o
defectos por cada cien unidades) que el consumidor indica ser aceptado por el
procedimiento de muestreo a utilizar la mayor parte del tiempo. Los procedimientos
de muestreo que se analizan se disponen en forma tal, que la probabilidad de
aceptacin para el valor asignado de AQL, depende del tamao de la muestra,
siendo en general mayor para muestras grandes que para pequeas, para
determinado AQL. El AQL, por si mismo, no representa proteccin para el
consumidor en lotes o conjuntos individuales, sino que se relaciona mas
directamente con lo que puede esperarse de una serie de lotes o conjuntos, siempre
y cuando los pasos indicados sean los que siguen. Es necesario referirse a la curva
caracterstica de operacin del proceso para determinar cual ser la proteccin que
alcance el consumidor.
5)
4.4.
4.5.
4.6.
AQL preferente. Los valores de AQL sealados en estas tablas se conocen como
AQLs preferentes. Si para cualquier producto se especifica un AQL distinto del
preferente, estas tablas no son aplicables.
5.2.
5.3.
5.4.
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Aceptacin y rechazo
6.1. Aceptabilidad de lotes o conjuntos. La aceptabilidad de un lote o conjunto estar
determinada por el uso de un proceso o procesos de muestreo asociados con el, o
los AQLs asignados.
6.2. Unidades defectuosas. Se reserva el derecho de rechazar cualquier unidad del
producto que se encuentre defectuosa durante la operacin, ya sea que dicha unidad
del producto forme parte de una muestra o no, o que el lote o conjunto en su
totalidad sea aceptado o rechazado. Las unidades rechazadas pueden ser reparadas
o corregidas y volver a someterse a inspeccin con la aprobacin de la autoridad
responsable y en forma que sta estipule.
6.3. Consideraciones especiales para defectos crticos. Se puede exigir al proveedor
a discrecin de la autoridad competente, el inspeccionar cada elemento del lote o
conjunto en busca de defectos crticos. Se reserva el derecho de inspeccionar cada
unidad proporcionada por el proveedor en busca de defectos crticos, y rechazar el
lote o conjunto inmediatamente, cuando se encuentre un defecto crtico. Tambin se
reserva el derecho para muestrear, en busca de defectos crticos, cada lote o
conjunto presentado por el proveedor, y rechazar cualquier lote o conjunto si una
muestra tomada de los mismos se encuentra que tiene uno o ms defectos crticos.
6.4. Resonamiento de lotes o conjuntos para inspeccin. Los lotes o conjuntos que
se encuentran inaceptables podrn ser resometidos a inspeccin, solo despus de
que todas las unidades se vuelvan a examinar y probar, y todas las unidades sean
separadas o los defectos corregidos. La autoridad responsable determinar se aplica
la inspeccin normal o severa, y tambin, si la reinspeccin incluir a todos los tipos
y clases de defectos, o se concretar nicamente a los tipos o clases de defectos
particulares que dieron lugar al rechazo inicial.
7)
8)
Obtencin de muestras.
7.1.
Muestra. Una muestra est formada por uno o mas elementos del producto,
tomados del lote o conjunto, efectundose esta seleccin en forma al azar y sin
tomar en cuenta su calidad. El nmero de elementos del producto en la muestra
constituye el tamao de la misma.
7.2.
7.3.
Tiempo para muestrear. Las muestras pueden ser tomadas despus de que
todos los elementos que comprenden el lote o conjunto hayan sido reunidos, o las
muestras pueden ser tomadas durante el ensamble del lote o conjunto.
7.4.
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Procesos
9.1. Proceso de muestreo. Un proceso de muestreo indica el nmero de elementos del
producto de cada lote o conjunto que habrn de ser inspeccionados (tamao de la
muestra o series de tamaos de las muestras) y los criterios para determinar la
aceptabilidad del lote o conjunto (nmeros de aceptacin y rechazo).
9.2. Nivel de inspeccin. El nivel de inspeccin determina la relacin entre el tamao del
lote o conjunto y el tamao de la muestra. El nivel de inspeccin que deba utilizarse
en un caso en particular, ser establecido por la autoridad responsable. En la tabla I
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(tabla 10.2 de este texto) aparecen tres niveles de inspeccin: I, II y II, para uso
general. A menos que se especifique otra cosa, se utilizar el nivel II. Sin embargo, el
nivel I puede especificarse cuando se necesite menos distincin, o bien el nivel III
para un discernimiento mas elevado. Hay cuatro niveles especiales adicionales: S-1.
S-2, S-3 y S-4, los cuales aparecen en la misma tabla, y pueden utilizarse donde los
tamaos de las muestras necesarias sean relativamente pequeos y los grandes
riesgos de muestreo pueden o deben ser tolerados.
NOTA: en la seleccin de los niveles de inspeccin S-1 a S-4, debe obrarse con
precaucin para evitar inconsistencias del AQL con estos niveles de inspeccin.
9.3. Letras cdigo. Los tamaos de la muestra estn designados por letras cdigo. la
tabla I (tabla 10.2 de este texto) ser la que se utilice para encontrar las letras cdigo
aplicable para el lote o conjunto en particular, en cuanto a su tamao y nivel de
inspeccin prescrito.
9.4. Obtencin del proceso de muestreo. El AQL y la letra cdigo sern utilizados para
obtener el procedimiento de muestreo, tomndolo de las tablas II, III o IV (tablas 10.3
a 10.9 de este texto) cuando no hay un proceso de muestro disponible para cierta
combinacin de AQL y letra cdigo, las tablas indican al usuario una letra distinta.
El tamao de muestra a utilizar, esta dado por la nueva letra cdigo, no por la letra
original. Si este procedimiento conduce a diferentes tamaos de muestra para
diferentes clases de defectos, la letra cdigo correspondiente al tamao mas grande,
podr ser utilizada para todas las clases de defectos, cuando as lo apruebe o
acuerde la autoridad responsable. Como alternativa a un proceso de muestreo
sencillo con el nmero da aceptacin de 0, el procedimiento con un nmero de
aceptacin de 1 con su tamao correspondiente, de tamao mayor de muestra para
un AQL asignado (siempre que sea disponible), podr utilizarse cuando as lo
acuerde o apruebe la autoridad responsable.
9.5. Tipos de procesos de muestreo. Hay tres tipos de procesos de muestreo: sencillo,
doble y mltiple, y aparecen en las tablas II, III y IV, respectivamente (tablas 10.3,
10.6 y 10.8 de este texto). Cuando hay varios tipos de muestreo
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11.3. Calidad promedio de salida (AOQ). El AOQ es la calidad promedio a la salida del
producto, incluyendo todos los lotes o conjuntos aceptados mas los rechazados,
despus de que estos han sido inspeccionados exhaustivamente un 100%, y todos
los elementos defectuosos reemplazados por otros no defectuosos (vase captulo
16, seccin 1).
11.4. Lmite promedio de la calidad de salida (AOQL). El AOQL es el mximo AOQ
para todas las calidades posibles de entrada, para determinado muestreo de
aceptacin. Los valores de AOQL aparecen en la tabla V-A (tabla 10.11 de este
texto) para cada uno de los procesos de muestreo sencillo para inspeccin normal,
y en la tabla V-B (tabla 10.12. de este texto) para cada uno de los muestreos
sencillos con inspeccin severa (ver captulo 16, seccin1).
11.5. Curvas del tamao promedio de la muestra. Las curvas del tamao promedio
de la muestra, para muestreos dobles y mltiples, se aprecian en la tabla IX (figura
10.3 de este texto). Estas muestran los tamaos promedio de las muestras que
puede esperarse con los diferentes procedimientos de muestreo para una
determinada calidad del proceso. Las curvas no suponen abreviacin de la
inspeccin, y son aproximadas hasta el extremo de estar basadas en la
distribucin de Poisson, y de que los tamaos de las muestras para muestreo
doble o mltiple, se supone son 0.631n y 0.25n respectivamente, donde n es
tamao equivalente de la muestra sencilla.
11.6. Limitacin de calidad de proteccin. Los procesos de muestreo y los
procedimientos asociados enunciados aqu, fueron ideados para usarse donde las
unidades del producto se fabrican en series continuas de lotes o conjuntos durante
cierto periodo de tiempo. Sin embargo, si el lote o conjunto es de naturaleza
aislada, es deseable limitar la seleccin de los procesos de muestreo, a aquellos
asociados con un valor dado de AQL, que suministre una proteccin no inferior a
una calidad limitada especfica. Los procedimientos de muestreo para este
propsito pueden seleccionarse escogiendo una calidad lmite (LQ) y un riesgo al
consumidor asociado con ella. Las tablas VI-A (tabla 10.13 de este texto) y VII*
tabulan valores de LQ para los riesgos al consumidor usados habitualmente, de 10
y 5% respectivamente. Si se requieren valores distintos de riesgo del consumidor,
pueden usarse las curvas CO y sus valores tabulados. El concepto de LQ tambin
puede ser til al especificar el AQL y los niveles de inspeccin para una serie de
lotes o conjuntos, fijando en esta forma el tamao mnimo de muestra, all, donde
hay alguna razn para evitar (con riesgo mayor para el consumidor) mas de una
proporcin lmite de elementos defectuosos (o defectos) en un lote o conjunto
sencillo.
3. CONSIDERACIONES SOBRE LA MILITARY STANDARD 105D
Debe insistirse en que el Mil. Std. 105D es un sistema organizado de mtodos (schemes) de
muestreo a aplicar en una serie de conjuntos de algn proceso de produccin. Con dos
excepciones, si un proceso estndar se usa sin precaucin alguna para cambiar a una
inspeccin ms severa de acuerdo con las circunstancias, no puede decirse que se est
empleando el Mil. Std. 105D. El propsito principal del manual estndar es presionar al
proveedor para que produzca materiales que, en calidad, sean por lo menos tan buenos como
el AQL escogido: y este propsito no se logra en ausencia de una provisin para inspeccin
ms severa. La precaucin para inspeccin abreviada es opcional, y no es esencial para la
operacin del estndar. Las dos excepciones a las que nos referimos, son la seleccin de un
procedimiento de tolerancias del lote y un proceso especial AQL. As es posible: 1) obtener un
proceso normal del estndar que cumplir con la proteccin deseada contra la aceptacin de
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un lote malo aislado, y 2) es posible escoger una inspeccin mas severa para la cual el AOQL
casi iguale al AQL. Estos, sin embargo, son usos especiales del manual estndar.3
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TABLA 10.2
Letras cdigo para el tamao de las muestras (Mil. Std. 105D, tabla 1)
Tamao del lote o conjunto
S-1
S-2
S-3
S-4
II
III
2
9
16
a
a
a
8
15
25
A
A
A
A
A
A
A
A
B
A
A
B
A
A
B
A
B
C
B
C
D
26
51
91
a
a
a
50
90
150
A
B
B
B
B
B
B
C
C
C
C
D
C
C
D
D
E
F
E
F
G
151
281
501
a
a
a
280
500
1200
B
B
C
C
C
C
D
D
E
E
E
F
E
F
G
G
H
J
H
J
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EDICIN: 1
REVISIN No. : 1
PG.: 15