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Tecnolgico Nacional De Mxico.

Instituto Tecnolgico De Minatitln.


Materia: Control Digital.
Practica #1: Muestreo Y Retencin.

Integrantes:
Guillen Francisco Diego Alberto.
Reyes Cruz Ismael.
Vidal Rueda David.

Ingeniera Electrnica.
Semestre: 8.

Observaciones:____________________________________
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Minatitln, Ver., jueves 21 de abril de 2016.

Objetivo.
Visualizar una seal muestreada, asi como tambin poner en prctica lo visto en
clase, si se cumplen los parmetros de la frecuencia.

Introduccin
Tipos de seales. Una seal en tiempo continuo es aquella que se define sobre
un intervalo continuo de tiempo. La amplitud puede tener un intervalo continuo de
valores o solamente un nmero finito de valores distintos. El proceso de
representar una variable por medio de un conjunto de valores distintos se
denomina cuantificacin y los valores distintos resultantes se denominan valores
cuantificados. La variable cuantificada slo cambia en un conjunto finito de valores
distintos. Una seal analgica es una seal definida en un intervalo continuo de
tiempo cuya amplitud puede adoptar un intervalo continuo de valores. La figura llo) muestra una seal analgica en tiempo continuo y la figura 1-1 b) una seal
cuantificada en tiempo continuo (cuantificada slo en amplitud).

Figura 1-1 a) Seal analgica en tiempo continuo; b) seal cuantificada en tiempo


continuo; c) seal de datos muestreados; d) seal digital.

Una seal en tiempo discreto es una seal definida slo en valores discretos de
tiempo (esto es, aquellos en los que la variable independiente t est cuantificada).

En una seal en tiempo discreto, si la amplitud puede adoptar valores en un


intervalo continuo, entonces la seal se denomina seal de datos muestreados.
Una seal de datos muestreados se puede generar muestreando una seal
analgica en valores discretos de tiempo. sta es una seal de pulsos modulada
en amplitud. La figura 1 -1 c) muestra una seal de datos muestreados.
Proceso de muestreo. El muestreo de seales en tiempo continuo reemplaza la
seal en tiempo continuo por una secuencia de valores en puntos discretos de
tiempo. El proceso de muestreo se emplea siempre que un sistema de control
involucra un controlador digital, puesto que son necesarias una operacin de
muestreo y una de cuantificacin para ingresar datos a ese controlador.
Tambin, se da un proceso de muestreo cuando las mediciones necesarias para
control se obtienen en forma intermitente.
Muestreador y retenedor (S/H). Muestreador y retenedor Un trmino general
que se utiliza para un amplificador de muestreo y retencin. Este trmino describe
un circuito que recibe como entrada una seal analgica y mantiene dicha seal
en un valor constante durante un tiempo especfico. Normalmente la seal es
elctrica, pero son posibles otras formas de sta, tales como ptica o mecnica.

Figura 1-2 Seal de datos muestreados.

Desarrollo.

Poner en funcionamiento el circuito muestreador y retenedor bsico


con el C.I. lF398.

Figura 1-3 Circuito para el muestreo y retencin de seal (obtenido de la hoja de


datos del LF398).

1. Implementar el circuito de la prctica, una vez armado


el circuito utilizando un osciloscopio, generadores de
seal y fuente de +-12v. Realizar lo siguiente: con uno de
los generadores insertar una seal muestreada y con el
otro una seal modulada, con las seales conectadas
visualizar en el osciloscopio la seal de salida.
2. Teniendo conectado el circuito y visualizando la seal
muestreada observar lo los parmetros para comprobar
lo visto en clase.

Paso 1. Verificar en la hoja del fabricante del dispositivo el valor


correspondiente al capacitor Ch usado para el tiempo de adquisicin.
El valor en tiempo que corresponde al capacitor ser el inverso de la

frecuencia de muestreo que en este caso es de 8 KHz que nos da


como resultado 125us verificando en la grfica corresponde a un valor
de .01uF aproximadamente. En la prctica se us un capacitor
cermico 103 = 10000pF.
Paso 2. Ajustar un generador de funciones para una seal senoidal de
300 Hz y 1.5 Vpp. Ajustar un generador de seal para una seal TTL
de 8 KHz
Paso 3. Conectando e insertando las seales en el LF398 se puede
observar la siguiente seal muestreada de salida:

Figura 1-4. Seal de salida visualizada en osciloscopio.

Como se observa en la figura, la seal senoidal esta muestreada a la


frecuencia TTL (8 KHz). Por cada ciclo de la seal TTL se observa una
muestra en la seal senoidal. En caso de obtener ruido en la seal se
pueden usar filtros RC calculados para la frecuencia del ruido en la
seal.
Paso 4. Realizar nuevamente los pasos 2 y 3 pero ahora usando una
frecuencia de muestreo de 300 Hz, 600 Hz, 3 KHz y 6KHz.
Figura 1-5: Seal muestreada a 300 Hz

Como se observa en la
imagen, la seal muestreada
no se alcanza a reconstruir,
recordando la teora la
frecuencia de la seal de
muestro debe ser al menos el
doble de la seal a muestrear
para que se alcance a
reconstruir.

En la imagen observamos que


la seal muestreada apenas y
se alcanza a reconstruir a una
frecuencia de muestreo de
600 Hz, el doble de la seal a
muestrear.

Figura 1-6. Seal muestreada a 600 Hz.

En esta figura observamos que


la seal ya se alcanza a
reconstruir un poco ms, debido
a que la seal de muestreo es
de 3 KHz.

Figura 1-7. Seal muestreada a 3 KHz

La seal ya se observa con mayor


resolucin al usar una frecuencia
de muestreo de 6 KHz.

Figura 1-8 Seal muestreada a 6 KHz.

A 8 KHz podemos concluir que entre


mayor sea la frecuencia de muestreo
tendremos mayor resolucin en la
seal a muestrear.

Resultados.
Figura 1-9 Seal muestreada a 8 KHz.

Observamos diferentes frecuencias de muestreo, poniendo en


evidencia lo visto en la teora; para muestrear una seal necesitamos
al menos el doble de frecuencia de esa seal para poder muestrearla y
se alcance a reconstruir.
Las seal se puede muestrear cuando la seal modulada es ms de
dos veces mayor que la muestreo por eso en algunas figuras
mostradas se puso en prctica lo visto en clase y se comprueba que si
se cumple, que cuando la seal es menor o igual a la de muestreo,
esta no puede ser muestreada, a diferencia que sea mayor que se
puede observar mejor con mejor calidad.

Conclusin.
En las imgenes vistas a lo largo de esta prctica observamos que
entre ms se aumentaba la frecuencia de muestreo mayor era la
resolucin de nuestra seal muestreada, actualmente se cuenta con
procesadores en el orden de los GHz los cuales nos permiten tener el
menores prdidas de informacin en el momento de muestrear una
seal, sigue existiendo prdida de informacin pero es muy difcil no
detectar perturbaciones en esos instantes de tiempo debido a la
frecuencia en la que trabajan actualmente los equipos.

Bibliografas.

Sistemas de control en tiempo discreto, 2da edicin. Katsuhiko Ogata.


Prentice hall hispanoamericana, s.a. Introduccin a los sistemas de control
en tiempo discreto captulo 1(pag2-10).