Anda di halaman 1dari 23

MODUL PENGGUNAAN

XPert HighScore Plus

Disusun oleh:

Duwi Astuti Ningsih

13030224010

(Dalam Mata Kuliah KRISTALOGRAFI)

UNIVERSITAS NEGERI SURABAYA


FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN
ALAM
JURUSAN FISIKA

2016
XRD (X-RAY DIFFRACTOMETER)
Sinar-X pertama kali ditemukan oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada
1895. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X.
Sinar-X digunakan untuk pemeriksaan yang tidak merusak pada material
maupun manusia. Selain itu, sinar-X juga digunakan untuk menghasilkan
pola difraksi tertentu dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.
Ketika suatu material dikenai sinar-X, maka intensitas sinar yang
ditrasmisikan lebih rendah dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan
adanya penyerapan dan penghamburan oleh atom-atom dalam material
tersebut.

Berkas

sinar-X

yang

dihamburkan,

ada

yang

saling

menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada pula yang saling


menguatkan

karena

fasanya

menguatkan disebut berkas

sama.

Berkas

sinar-X

yang

saling

difraksi. Persamaan Bragg merupakan

perumusan matematis tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar


berkas sinar-X yang dihamburkan merupakan berkas difraksi. Sinar-X
dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam
target.

Dari prinsip dasar ini, maka XRD adalah salah satu alat yang

memanfaatkan

prinsip

persamaan

Bragg.

XRD

digunakan

untuk

mengetahui karakterisasi suatu material. Teknik ini digunakan untuk


mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton sinar-X oleh
atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam
fasa memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar penggunaan difraksi
sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah persamaan Bragg:
n=2 d sin ; n = 1,2,
dengan

adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan; d adalah

jarak antara dua bidang kisi;

adalah sudut antara sinar datang

dengan bidang normal; n adalah bilangan bulat yang disebut orde


pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X dijatuhkan
pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X
yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam
kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor
kemudian diterjemahkan sebagai puncak difraksi. Semakin banyak bidang
kristal yang terdapat dalam sampel, semakin kuat intensitas pembiasan
yang dihasilkan. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu
bidang kristal yang memilki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi.
Puncakpuncak

yang

diperoleh

dari

hasil

pengukuran

kemudian

dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua jenis


material yang disebut JCPDS (Joint Committee of Powder Diffraction
Standard).
Sinar-X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi
tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Spektrum sinar-X memiliki panjang
gelombang 10-5 - 10 nm dengan frekuensi 1017 1020 Hz.
Keuntungan utama penggunaan sinar-X dalam karakterisasi material
adalah kemampuan penetrasinya. Sebab sinar-X memiliki energi sangat
tinggi akibat panjang gelombangnya yang pendek. Elektron mengalami
perlambatan saat masuk ke dalam logam dan menyebabkan elektron
pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk kekosongan.
Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan
memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar-X.
Metode difraksi sinar-X digunakan untuk mengetahui struktur dari
lapisan tipis yang terbentuk. Sampel diletakkan pada sampel holder
difraktometer sinar-X. Proses difraksi sinar-X dimulai dengan menyalakan
difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksi berupa difraktogram yang
menyatakan hubungan antara sudut difraksi 2

dengan intensitas sinar-

X yang dipantulkan. Untuk difraktometer sinar-X, sumbernya dari tabung


sinar-X. Sinar-X yang didifraksikan dari sampel berbentuk konvergen
kemudian diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar-

X. Sinar-X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadi sinyal
listrik lalu dieliminasi komponen noise-nya kemudian dihitung sebagai
analisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar-X juga digunakan untuk
menentukan ukuran kristal, regangan kisi, komposisi kimia dan keadaan
lain yang memiliki orde yang sama.
PEMBANGKIT SINAR-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik atau
setara dengan transmisi kuantum partikel dari satu energi state ke
lainnya. Contoh: radio (elektron berosilasi di antena), lampu merkuri
(transisi antar atom). Ketika sebuah elektron menabrak anoda:

Menabrak atom dengan kecepatan perlahan dan menciptakan

radiasi bremstrahlung atau panjang gelombang kontinu.


Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya
transmisi menghasilkan panjang gelombang garis.

Alat untuk menghasilkan sinar-X terdiri dari beberapa komponen utama


yaitu:
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron
c. Logam target (anoda)

Gambar 1 Skema Tabung Sinar-X

Sinar-X mempunyai panjang gelombang dalam orde angstrom (),


panjang gelombang tersebut sama ordenya dengan konstanta kisi kristal
sehingga sinar-X sangat berguna untuk menganalisa struktur kristal.

Gambar 2 Skema Pembangkit Sinar-X

Elektron

diemisikan

dari

katoda

dalam

tabung

vakum

dan

dipercepat oleh beda potensial tinggi yang ditimbulkan oleh anoda dan
katoda, sehingga elektron memperoleh energi kinetik. Ketika elektron
mengenai target, maka sinar-X akan diemisikan dari target tersebut.
Target yang terpasang pada anoda berupa loga, Mo, Fe, Ni atau Cu.
Emisi radiasi sinar-X mempunyai spektrum kontinu disebabkan emisi
radiasi dari interaksi elektron dengan elektron luar atom-atom dalam
target. Akibatnya gerak elektron ketika menumbuk target mengalami
perlambatan. Peristiwa itu disebut bremstrahlung, sedangkan spektrum
diskrit disebabkan emisi setelah atom-atom dalam target terksitasi karena
elektron yang datang.
Frekuensi maksimum vo dari spektrum kontinu berhubungan dengan
potensial pemercepat eV=hvo, sebab energi maksimum foton tidak dapat
melebihi energi kinetik dari elektron yang datang. Hubungan antara
potensial dengan panjang gelombang minimum o adalah:
o =

12,3

dengan V adalah tegangan dalam satuan kilovolt.


Ketika sinar-X melewati medium material, maka sebagian sinar-X
tersebut diserap oleh material. Intensitas dari sinar akan berkurang sesuai
dengan formula:
I =I 0 ex
dengan Io adalah intensitas awal pada permukaan medium; x adalah jarak
lintasan sinar; adalah koefisien serapan. Berkurangnya intensitas dalam

persamaan tersebut karena peristiwa hamburan dan serapan sinar oleh


atom medium.
PERSAMAAN BRAGG
Ketika sinar-X monokromatik datang pada permukaan kristal, sinar
tersebut akan dipantulkan. Akan tetapi pemantulan terjadi hanya ketika
sudut datang mempunyai harga tertentu. Besarnya sudut datang tersebut
bergantung dari panjang gelombang dan konstanta kisi kristal. Sehingga
peristiwa tersebut dapat digunakan sebagai salah satu model untuk
menjelaskan pemantulan dan interferensi. Model tersebut ditunjukkan

pada gambar 3.
Gambar 3 Pantulan sinar-X pada bidang kristal

Kristal digambarkan sebagai bidang paralel sesuai dengan bidang


orientasi atomnya. Sinar datang dipantulkan sebagian pada masingmasing bidangnya, dimana bidang tersebut befungsi seolah-olah sebagai
cermin, dan pantulan sinar terkumpul pada detektor. Karena kumpulan
pantulan sinar tersebut merupakan sinar-sinar yang koheren dan ada
selisih lintasan dari masing-masing pantulan bidang kristal maka akan
terjadi peristiwa interferensi ketika diterima oleh detektor. Interferensi
konstruktif terjadi ketika selisih antar dua sinar berurutan merupakan
kelipatan dari panjang gelombang ().
Berdasarkan gambar 3, jarak selisih sinar pantul 1 dan 2 adalah:
V = AB+ BDAE

dengan AB=BD=

2
d
cos

cos

2
d
=
sin ; dan AE=AD
sin

dimana d merupakan jarak antara dua bidang pantul yang berdekatan dan

adalah sudut antara sinar datang dan sinar pantul.


Dari kedua persamaan di atas dapat disubtitusikan dan diperoleh

persamaan:
V=

2 d ( 1cos2 )
=2 d sin
sin

Sehingga interferensi konstruktif terjadi jika :


n=2 d sin

dengan n=1,2,3, berturut-turut menunjukkan orde pertama, kedua,


ketiga, dst. Persamaan di atas pada umumnya disebut persamaan Bragg.
Jika panjang gelombang sinar-X ( ) dapat ditentukan dari macam
target tabung generator sinar-X dan
(sudut

dapat diukur dari percobaan

merupakan setengah sudut antara sinar datang dengan sinar

difraksi). Menurut persamaan Bragg, peristiwa difraksi terjadi apabila

>2d, sehingga untuk gelombang optik tidak dapat digunakan.


KOMPONEN DALAM XRD
Komponen XRD ada dua macam, yaitu:
1. Slit atau film
2. Monokromator
Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katoda dengan pemanasan kawat
pijar untuk menghasilkan elektron yang kemudian dipercepat terhadap
suatu target dengan memberikan suatu voltase dan menembak target
dengan elektron. Ketika elektron yang dipancarkan mempunyai energi
yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, maka
dapat diperoleh spektrum sinar-X. Spektrum ini terdiri atas beberapa
komponen seperti K

dan K . K

berisi, pada sebagian, dari K

dan K

. K

mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek

dan intensitasnya dua kali lebih besar dari K

. Panjang gelombang

yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr).
Disaring, oleh kertas perak atau kristal monokrometer yang akan
menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi.
Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk difraksi
kisi tunggal dengan radiasi Cu K =0,5418 Angstrom. Sinar-X ini bersifat
collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor
diputar, intensitas sinar-X pantul itu direkam. Ketika geometri dari
peristiwa

sinar-X

tersebut

memenuhi

persamaan

Bragg,

terjadi

interferensi konstruktif dan timbul intensitas puncak. Detektor akan

merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversinya


menjadi arus yang akan ditampilkan pada komputer.
Gambar 4 Seperangkat alat XRD; (a) komputer; (b) tabung XRD; (c) cooler; (d)
difraktometer

RANGKUMAN XRD
Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah
satu metode karakterisasi material yang paling tua dan paling sering
digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi
fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur
kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
Kegunaan dan aplikasi :
1. Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf

2. Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.


3. Karakterisasi material Kristal
4. Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
5. Penentuan dimensi-dimensi sel satuan
Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:
1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film
Keuntungan dan Kerugian dari XRD untuk sampel kristal dan serbuk
a. Kristal Tunggal:
Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
b. Bubuk:
Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk
Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya

XPERT HIGHSCORE PLUS

Berikut ini merupakan contoh langkah-langkah menganalisis pola XRD


dengan nama file bajaST37.RD. Ekstensi RD merupakan file pola XRD
dari mesin PANalytical. Tiap mesin XRD memiliki tipe file tersendiri.
CATATAN:
Untuk mengkonversi file pola XRD ke tipe lain dapat menggunakan
software POWDLL.
Berikut langkah-langkah untuk menganalisis pola XRD menggunakan
metode Rietvield dengan aplikasi XPERT HIGHSCORE PLUS.
1. SEARCH-MATCH
Pada langkah ini akan dilakukan pencocokkan pola XRD dari sampel
dengan pola XRD dari database. Database pola XRD ada beberapa, yaitu
JCPDS/ICDD, COD dan lain-lain. Saat pencocokkan pola XRD yang menjadi
acuan adalah sudut /d spacing puncak dengan intensitas tertinggi dan
komposisi yang sebelumnya diperoleh dari XRF atau EDS (bila sampel
batuan/bahan yang tidak dikenal).
Dari database diperoleh data sistem kristal, space group, parameter
kisi, posisi atom dan hkl dari puncak-puncak pola difraksi. Database ICDD
PDF2 tidak menyediakan data posisi atom, sehingga diperlukan sumber
lain, sedangkan COD sudah disertakan namun jumlah kartu pola difraksi
lebih sedikit daripada ICDD. Database ICDD yang menyediakan data posisi

atom adalah PDF4, namun lisensinya hanya berlaku satu tahun saja, yang
berbeda dengan PDF2.

Berikut ini adalah langkah-langkah dalam penggunaan program


XPert HighScore Plus (XHP):
1. Menjalankan program XHP
Klik dua kali pada icon XHP di desktop

2. Membuka file pola XRD

3. Menentukan puncak-puncak pola XRD sampel


Klik Treatment lalu pilih Search Peaks
Setelah itu, klik serch peaks lalu
accept

4. Dari data XRF diketahui baja yang dianalisis unsur utamanya adalah
Fe (besi), sehingga pencarian yang dilakukan hanya pada elemen Fe
saja. Berikut ini langkah-langkahnya.
Klik Reference Patterns - Retrieve Pattern By - Restriction.
Pencocokkan ini akan memakan waktu dan mungkin tidak akan

memperoleh hasil.

Ditampilkan entries pada Pattern List

Berikutnya menyisihkan pola difraksi yang tidak sesuai. Dari gambar di


atas, yang cocok adalah pola difraksi 00-001-1267

Pada Pattern List, hilangkan tanda check list pada kolom Visible untuk pola
difraksi yang tidak cocok, kemudian tekan CTRL+A untuk memilih semua
pola difraksi, tahan tombol CTRL dan klik kiri pada pola difraksi 00-0011267 untuk membatalkan pemilihan pada pola difraksi tersebut.
Selanjutnya klik kanan pada pola difraksi yang terpilih, klik pada pilihan
Remove Pattern.

5.

Me
mu
lai

Analisis Rietvield
Bila database PDF-4 yang digunakan, pola difraksi pada Pattern List
dapat langsung dijadikan acuan untuk analisis Rietvield.
Oleh karena itu diperlukan data kristalografi dari database COD
yang sudah berisi data posisi atom. Untuk keperluan analisis
diperoleh data CIF dari COD (bias melihat penggunaan aplikasi
MATCH!) dengan nomor kartu 96-900-8537 dan 96-900-6604.

6. Selanjutnya, pertama kali Refine


Nilai Goodness of Fit yang diperoleh 1.51205

Untuk melihat parameter apa saja yang di Refine klik kanan pada area
Global Parameter lalu klik Show Refined Values/Costrains

7. Proses Refine Lanjutan


Untuk melakukan proses Refine lanjutan pilih mode refinement
menjadi semi-automatic. Selanjutnya lakukan penambahan checklist
pada parameter global ataupun parameter phase.

2. MEMBUAT LAPORAN
Pada langkah ini akan membuat laporan ditampilkan dari XHP.

BERIKUT ADALAH LAMPIRAN FILE YANG TERBENTUK

Untuk mengubah tampilan Report sesuai dengan kebutuhan

DAFTAR PUSTAKA
Handono, A., Harjana. 2004. Fisika Zat Padat I. Jurusan Fisika UNS:
Surakarta.
Irvina, F., Astuti, D.W., Fatimah, Luthfiana, N.H., Maharani, R.,
Maestuti, N., dan Widhyastuti, Y . 2009. X-Ray Difractometer (XRD).
Jurusan Teknik Kimia UNS: Surakarta.
I.chorkendroff, J.W. Niemantsverdiet. Concepts of Modern Catalysis
and Kinetics. Wliey-VCH GmbH&Co. New York. 2003. Hal 143 -147.
Masriyanti. 2012. Prinsip-prinsip Spektroskopi.
http://ardiannisworld.blogspot.com/2008/01/difraksi-neutron_31.htm
http://www.chem-is-try.org/
http://labinfo.files.wordpress.com
http://serc.carleton.edu/