Laboratorio de Mecnica de Materiales II

Departamento de Ingeniera Mecnica

Fotoelasticidad
INTRODUCCIN
La tcnica experimental conocida como fotoelasticidad ha servido para determinar niveles
de esfuerzo sobre distintos materiales utilizando algunas propiedades pticas. Es en cierta forma
una herramienta alterna al uso de extensometra para conocer niveles de esfuerzo presentes
sobre distintos elementos mecnicos. Por otro lado, esta tcnica ha servido tambin para verificar
la eficacia de algunos mtodos computacionales como el mtodo de elemento finito cuando se
analizan problemas de concentracin de esfuerzos, ya que por medio de la tcnica de
fotoelasticidad es posible obtener imgenes como la mostrada en la fig. 1 en donde los colores
indican distintas intensidades de esfuerzo sobre los materiales analizados.

Figura 1.- Patrones de colores obtenidos a travs de un experimento de

fotoelasticidad. En la figura se aprecia el contacto entre dos dientes de
engranes. Los colores representan distintas intensidades de esfuerzo.
La principal desventaja que tiene la tcnica de fotoelasticidad con respecto a
extensometra es que es difcil o imposible realizar anlisis de esfuerzos en zonas ocultas debido
a que es necesaria la presencia de una fuente de luz. Un problema adicional radica en el hecho
de que es necesario contar con cierta experiencia para interpretar los resultados.
POLARIZACIN DE LA LUZ
La tcnica experimental de fotoelasticidad proporciona informacin sobre los niveles de
esfuerzo presentes en los materiales. Dicha informacin en general no podra obtenerse a travs
de extensometra, sobre todo cuando se trata de un anlisis de concentracin de esfuerzos.
Como la tcnica requiere la utilizacin de fuentes luminosas existen algunas consideraciones
pticas que deben discutirse.
La luz es un conjunto de ondas electromagnticas similares a las ondas de radio. Una
fuente incandescente emite energa de radiacin que se propaga en todas las direcciones y
contiene un espectro de ondas de varias frecuencias y longitudes de onda. De todo este
espectro, solo una porcin entre 400 y 800 nm (15 y 30x10-6 pulg) es til en funcin de los
lmites de percepcin del ojo humano.
La vibracin asociada con la luz es perpendicular a la direccin de propagacin. Una
fuente de luz emite un conjunto de ondas conteniendo vibraciones en todos los planos
perpendiculares a su direccin de propagacin. Con la introduccin de un filtro polarizador P (fig.
2) solo una componente de estas vibraciones ser transmitida (aquella que es paralela al eje
privilegiado del filtro). El haz de luz resultante se conoce como luz polarizada o polarizada en un
plano debido a que la vibracin est contenida en un solo plano. Si otro filtro polarizador A es
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puesto en la trayectoria de la luz polarizada se producir una extincin completa de la luz si los
ejes de los filtros (A y P) son perpendiculares entre si.

Figura 2.- Polarizacin de la luz. El filtro P restringe la vibracin a

un solo plano. Si el eje del filtro A es perpendicular al eje de P la
luz deja de propagarse a la salida de A.
La luz se propaga en el vaco a una velocidad C de 3x1010 cm/seg. En otros cuerpos
transparentes la velocidad de propagacin de la luz V es menor y a la razn C/V se le conoce
como ndice de refraccin. En un cuerpo homogneo este ndice es constante
independientemente de la direccin de propagacin de la luz, a diferencia materiales cristalinos
en los cuales el ndice depende de la orientacin del material y de la direccin de propagacin de
la luz. Ciertos materiales (conocidos como materiales birrefringentes), donde destacan algunos
plsticos, se comportan pticamente isotrpicos cuando se encuentran libres de esfuerzos, pero
cambian a una condicin pticamente anisotrpica cuando se someten a un estado de esfuerzos.
El cambio en el ndice de refraccin de dichos materiales es una funcin de la deformacin
resultante, de manera anloga al cambio de resistencia en una galga extensomtrica. Este
fenmeno es el principio fundamental a partir del cual funciona el mtodo experimental de
fotoelasticidad para determinar esfuerzos sobre los materiales.
Cuando un vector de luz polarizada a se propaga a travs de un plstico birrefringente
con espesor t, donde X y Y son las direcciones de deformaciones principales en el punto bajo
consideracin, el vector de luz se separa en dos componentes ortogonales que son propagados
en los planos X y Y (fig. 3). Si la intensidad de deformacin a lo largo de X y Y es x y y y la
velocidad de la luz vibrando en estas direcciones es Vx y Vy respectivamente, entonces el tiempo
necesario para cruzar el material para cada uno de estos vectores ser t/V, y el retardo relativo
entre ambos rayos ser

t
t
= t ( nx n y )
Vx Vy

=C

(1)

donde n es el ndice de refraccin del material birrefringente.

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Figura 3.- Polariscopio plano.

La ley de Brewster establece que el cambio relativo en el ndice de refraccin es
proporcional a la diferencia entre las deformaciones principales sobre el material en el punto en
cuestin. Esta ley puede escribirse como

(n

ny ) = K ( x y )

(2)

donde la constante K es llamada coeficiente ptico de deformacin y define una

propiedad fsica del material. Esta es una constante tpicamente adimensional (usualmente
establecida mediante calibracin) y puede ser considerada en forma anloga al factor de galga
para extensometra.
Combinando las Ecs. (1) y (2) se tiene que

= qtK ( x y )

(3)

donde q es una constante que depende del tipo de polariscopio utilizado. El valor de la
constante es q=1 en un polariscopio de transmisin (fig. 4a) y q=2 en un polariscopio de
reflexin (fig. 4b), debido a que en este ltimo caso la luz debe pasar dos veces a travs del
material fotoelstico, el cual es colocado sobre la superficie de algn elemento que se desee
analizar (fig. 5).

(a)

(b)

Figura 4.- Tipos de polariscopios. (a) Transmisin.- La luz polarizada es

transmitida a travs del objeto analizado. (b) Reflexin.- La luz polarizada es
reflejada sobre el objeto analizado.

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Figura 5.- Recubrimiento fotoelstico para analizar niveles de

esfuerzo utilizando un polariscopio de reflexin.
En base a lo anterior, la relacin bsica para medicin de deformacin utilizando la
tcnica de fotoelasticidad es

x y =

(4)

qtK

Debido al retardo relativo , las dos ondas dejan de estar en fase cuando emergen del
material fotoelstico. El filtro analizador A transmitir nicamente un componente de cada una
de dichas ondas (aquellos componentes paralelos a A) como se muestra en la fig. 3. Estas
componentes interfieren entre si y la luz resultante estar en funcin de

El retardo .
El ngulo entre el analizador y la direccin de deformaciones principales (-).

En el caso de un polariscopio plano (fig. 3), la intensidad de la luz que emerge del
analizador A es

I = a 2 sin 2 ( ) sin 2

(5)

La intensidad de luz es cero cuando -=0 o cuando los filtros de polarizacin cruzados
son paralelos a la direccin de las deformaciones principales. Por tal motivo un polariscopio plano
es utilizado para medir las direcciones principales de deformacin.
Si se agregan filtros pticos de un cuarto de onda (fig. 6) en la direccin de propagacin
de la luz, se produce luz polarizada circularmente y la imagen observada no est influenciada por
la direccin de las deformaciones principales. La intensidad de la luz obtenida mediante este
polarizador es

I = a 2 sin 2

(6)

En un polariscopio circular, la intensidad de luz es cero cuando =0, =1, =2 , o en

general cuando =N (donde N es 1,2,3, etc.). A este nmero N se le conoce como orden de
franja y expresa el tamao de . La longitud de onda usualmente utilizada es =22.7x10-6 pulg
(575 nm).
El retardo o seal fotoelstica es descrito por N. Por ejemplo: si N=2 entonces el retardo
() es 2 franjas, o bien =2, que es igual a =45.4x10-6 pulg (1150 nm).

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Figura 6.- Polariscopio circular.

Una vez que =N es conocido, la diferencia entre deformaciones principales es obtenida
a partir de la Ec. (4) como

x y =

qtK

=N

qtK

(7)

MAGNITUDES DE ESFUERZO Y DEFORMACIN

Los rdenes de franja observados en experimentos de fotoelasticidad son proporcionales
a la diferencia entre las deformaciones principales presentes en el material fotoelstico (y en la
superficie de la pieza de prueba si se trata de un recubrimiento fotoelstico). Esta relacin es la
misma que se estableci en la Ec. (7).
La Ec. (7) puede escribirse en trminos de la deformacin de corte xy como

xy =

qtK

=N

qtK

(8)

En algunas ocasiones los ingenieros y diseadores trabajan con frecuencia con esfuerzo
en lugar de deformaciones. En este sentido, las Ecs. (7) y (8) pueden ser transformadas
utilizando la ley de Hooke para esfuerzos biaxiales en materiales isotrpicos. De tal manera que
se tiene

x =

E
( x y )
1 2

(9)

y =

E
( y x )
1 2

(10)

x y =

E
( x y )
1 +

(11)

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Si se utiliza un polariscopio de transmisin q=1, de tal manera que sustituyendo la Ec.

(7) en la Ec. (11) se tiene

x y =

E
1 +

tK

(12)

donde

x, y son los esfuerzos principales sobre el material fotoelstico.

E es el mdulo de elasticidad del material fotoelstico.
es la razn de Poisson del material fotoelstico.

El esfuerzo cortante mximo max est dado por (x-y)/2, de tal manera que

max =

1 E
N

2 (1 + ) tK

(13)

si se define una constante C como la constante ptica de esfuerzo a partir de la

expresin

C=

E
(1 + ) K

(14)

la Ec. (13) puede escribirse entonces como

max =

CN
2t

(15)

donde

C es una constante ptica de esfuerzo.

N es el orden de franja obtenido experimentalmente (birrefringencia observada

expresada en unidades de franja).

t es el espesor del modelo hecho con material fotoelstico.

Si se utiliza un polariscopio de reflexin q=2, de tal manera que sustituyendo la Ec. (7)
en la Ec. (11) se tiene

x y =

E

N

1 + 2tK

(16)

donde

x, y son los esfuerzos principales sobre la superficie de la pieza de prueba

(recubierta de material fotoelstico).

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E es el mdulo de elasticidad del material del cual est hecha la pieza (fig. 5).
Debe notarse la diferencia con el otro tipo de polariscopio, pues en este caso el
material de la pieza ser el que se encuentre sometido a un estado de esfuerzo).
es la razn de Poisson del material de la pieza (fig. 5).

El esfuerzo cortante mximo max est dado por (x-y)/2, de tal manera que

max =

1
E
N

2 (1 + ) 2tK

(17)

Si se define al valor de franja (f) como

f =

(18)

2tK

entonces la Ec. (17) puede escribirse como

1 E

max =
Nf
2 1 +

(19)

Las Ecs. (15) y (19) sirven para calcular la intensidad mxima de esfuerzo cortante max
utilizando polariscopios de transmisin y de reflexin respectivamente. En la prctica de
laboratorio se har uso de un polariscopio de transmisin, razn por la cual se considerar que
q=1 y el esfuerzo cortante max ser determinado utilizando la Ec. (15).
Referencias
Rally, James W., Riley, William F. Experimental Stress Analysis, Third Edition,
McGraw-Hill, USA. 1991.
Measurements Group. Introduction to the stress analysis by the PhotoStress
Method. Measurements Group, Inc. Raleigh, North Carolina, USA. Technical Note TN-702-1.
Measurements Group. 080 Series Teaching
Measurements Group, Inc. Raleigh, North Carolina, USA.

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