Anda di halaman 1dari 67

DETEKTOR LEVEL ZAT CAIR

SISTEM DIGITAL
TUGAS AKHIR
Diajukan untuk memenuhi salah satu persyaratan memperoleh gelar Ahli Madya
Program D3 Teknik Elektro Instrumentasi dan Kendali
Universitas Negeri Semarang

Disusun Oleh :

Nama

: Fatkhul Yaasin

NIM

: 5352302511

Program Studi

: D3 Teknik Elektro

Jurusan

: Teknik Elektro

FAKULTAS TEKNIK
UNIVERSITAS NEGERI SEMARANG
2007

ABSTRAK

Fatkhul Yaasin. 2007. Detektor Level Zat Cair Sistem Digital. Tugas Akhir
(TA). Diploma III Teknik Elektro. Fakultas Teknik. Universitas Negeri Semarang.
Perkembangan dibidang digital atau lebih dikenal dengan digitalisasi
dewasa ini sangat diperlukan. Dalam pengukuran level air masih banyak
menggunakan sistem manual atau analog, yang mempunyai kekurangan faktor
ketelitian dalam pengukuran. Cara lain untuk mengukur level air adalah dengan
menggunakan pengukuran sistem digital.
Instrumen yang digunakan dalam alat ini terdiri dari sensor pelampung,
rangkaian analog to digital converter (A/D converter), BCD seven segment, dan
sebagai tampilan menggunakan seven segment, serta catu daya sebagai pencatu
tegangan untuk masing-masing rangkaian.
Detektor level zat cair sistem digital bekerja dari pelampung sebagai
sensor, tuas pelampung terhubung dengan potensiometer sehingga jika tinggi
permukaan air berubah maka nilai resistansi akan berubah. Besarnya perubahan
tegangan yang masuk pada ADC 0804, hasil dari konversi tegangan menjadi
kode-kode biner diubah dalam tampilan desimal, kemudian ditampilkan pada
seven segment.
Alat ini dapat mengukur level air dalam bejana terukur dan mempunyai
bentuk yang pasti, tidak dapat mengukur bejana yang bentuknya tidak beraturan.
Kemampuan alat ini masih terbatas yaitu menghasilkan pengukuran hanya
mencapai 4 liter saja. Untuk mengukur level air yang lebih besar maka dengan
cara mengubah nilai resistansi potensiometer atau menggunakan mikrokontroller.

ii

iii

MOTTO DAN PERSEMBAHAN

MOTTO
Jadikanlah sabar dan sholat sebagai penolongmu. Dan sesungguhnya yang demikian
itu sungguh berat, kecuali bagi orang-orang yang khusyu
(Qs. Al Baqarah : 45).
Sahabat sejati adalah penghibur kita dalam sedih, harapan kita dalam susah, dan
sandaran kita tatkala lemah, dia adalah sumber kebaikan, simpati, kebahagiaan dan
maaf
(Kahlil Gibran).
Cinta kasih yang suci tidak terdiri dari ungkapan perasaan, materi ataupun harta,
melainkan dari motivasi dan perbuatan yang tulus serta ikhlas dari lubuk hati
(Faya).

PERSEMBAHAN

Bapak dan Ibu tersayang dengan segala kasih sayang,


keikhlasan, limpahan do a dan pengorbanannya.

Kakak dan Adik-adikku

Sahabat dan teman setiaku


Teman-teman D3 TE 02

iv

My H 4WA_

Almamaterku

KATA PENGANTAR

Dengan mengucapkan syukur dipanjatkan kehadirat Tuhan Yang Maha


Esa, yang Maha Pengasih lagi Maha Penyayang. Karena dengan rahmat dan
karuniaNya dapat terselesaikan laporan Tugas Akhir yang berjudul DETEKTOR
LEVEL ZAT CAIR SISTEM DIGITAL. Adapun penulisan laporan Tugas Akhir
ini adalah untuk memenuhi salah satu syarat kelulusan.
Atas terselesaikannya laporan tugas akhir ini tidak lupa penulis
menyampaiakan banyak terima kasih kepada semua pihak yang telah membantu
dalam segala hal sejak awal dimulainya laporan tugas akhir hingga
terselesaikannya laporan ini.
Secara khusus penulis menyampaiakan ucapan terima kasih kepada :
1. Prof. Dr. H.Sudijono Sastroatmojo, M.Si, selaku Rektor Universitas
Negeri Semarang.
2. Prof. Dr. Soesanto, selaku Dekan Fakultas Teknik.
3. Drs. Djoko Adi Widodo, M.T, selaku Ketua Jurusan Elektro.
4. Drs. Agus murnomo, M.T, selaku Ketua Program Studi Diploma III
Teknik Elektro.
5. Drs. Suryono, M.T, selaku Dosen penguji Tugas Akhir.
6. Drs. Rafael Sri Wiyardi, M.T, selaku Pembimbing yang telah
membimbing, mengarahkan dan memberi dorongan semangat pada
Penulis dalam penyelesaian Tugas Akhir ini.

7. Segenap Dosen Jurusan Elektro yang telah menularkan ilmunya pada


Penulis selama menuntut ilmu di Jurusan Elektro.
8. Orang tua, Kakak, dan Adik-adik serta keluarga besar Penulis yang selalu
mendorong Penulis untuk lebih maju.
9. Rekan-rekan mahasiswa Diploma III Teknik Elektro.
Penulis menyadari bahwa dalam penulisan Tugas Akhir ini masih jauh dari
kesempurnaan, maka dengan segala kerendahan hati penulis menerima saran dan
kritik yang bersifat membangun demi kesempurnaan Tugas Akhir ini. Akhir kata
semoga Tugas Akhir ini bermanfaat bagi Penulis pada khususnya dan Pembaca
pada umumnya.

Semarang,

Agustus 2007

Penulis

Fatkhul Yaasin

vi

DAFTAR ISI

Halaman
HALAMAN JUDUL ....................................................................................... i
ABSTRAK ...................................................................................................... ii
HALAMAN PENGESAHAN.......................................................................... iii
MOTTO DAN PERSEMBAHAN.................................................................... iv
KATA PENGANTAR ..................................................................................... v
DAFTAR ISI ................................................................................................... vii
DAFTAR GAMBAR....................................................................................... ix
DAFTAR TABEL ........................................................................................... x
DAFTAR LAMPIRAN.................................................................................... xi

BAB I

PENDAHULUAN.......................................................................... 1
A. Latar Belakang ......................................................................... 1
B. Permasalahan............................................................................ 2
C. Tujuan ...................................................................................... 3
D. Manfaat .................................................................................... 3
E. Batasan Masalah....................................................................... 3
F. Metode Penyusunan.................................................................. 4
G. Sistematika Laporan ................................................................. 5

BAB II

ISI .................................................................................................. 6
A. Dasar Teoritis ........................................................................... 6
1. Sensor................................................................................. 6
2. ADC (Analog to Digital Converter) ................................... 7
3. Pengubah Analog ke Digital ADC 0804.............................. 11
4. Tampilan ............................................................................ 14
5. Catu Daya ........................................................................... 15
B. Proses Pembuatan, Konstruksi dan Cara Kerja ......................... 17
1. Proses Pembuatan ............................................................... 17
vii

a. Perencanaan Alat .......................................................... 17


b. Proses Pembuatan Papan Rangkaian Tercetak ............... 18
c. Proses Pembuatan Jalur................................................. 18
d. Proses Pelarutan Dan Pelapisan..................................... 19
e. Proses Pengeboran ........................................................ 19
f. Pemasangan Komponen ................................................ 20
g. Proses Perakitan ............................................................ 21
h. Hasil Perakitan Komponen............................................ 22
2. Konstruksi .......................................................................... 23
3. Cara Kerja .......................................................................... 24
C. Hasil dan Pembahasan .............................................................. 26
1. Cara Pengukuran dan Hasilnya ........................................... 26
2. Pembahasan ........................................................................ 27

BAB III

PENUTUP. 29
A. Kesimpulan .............................................................................. 29
B. Saran ........................................................................................ 29

DAFTAR PUSTAKA ...................................................................................... 30

viii

DAFTAR GAMBAR

Halaman
Gambar 1.

Ilustrasi sensor pelampung...................................................

Gambar 2.

Bagan ADC 0804 ................................................................

Gambar 3.

Diagram fungsional ADC 0804............................................

10

Gambar 4.

Diagram pena pada ADC 0804 ............................................

12

Gambar 5.

Seven segment display .........................................................

15

Gambar 6.

Rangkaian catu daya ............................................................

16

Gambar 7.

Rangkaian detektor level zat cair sistem digital....................

17

Gambar 8.

Sensor pelampung ...............................................................

18

Gambar 9.

Layout PCB.........................................................................

22

Gambar 10.

Tata letak komponen............................................................

22

Gambar 11.

Box alat ukur .......................................................................

24

Gambar 12.

Blok detektor permukaan zat cair sistem digital ...................

25

Gambar 13.

Grafik hasil pengukuran.......................................................

27

ix

DAFTAR TABEL
Halaman
Tabel 1. Daftar komponen yang dipakai....................................................

23

Tabel 2 . Hasil pengukuran ........................................................................

26

DAFTAR LAMPIRAN

Halaman
Lampiran 1.

Data sheet IC ADC0804 ...........................................................31

Lampiran 2.

Data sheet IC 74LS48...............................................................44

Lampiran 3.

Data sheet IC 4081 ..................................................................49

xi

BAB I
PENDAHULUAN

A. Latar Belakang
Dengan kemajuan teknologi elektronika dan meningkatnya jumlah
penduduk, maka kebutuhan akan sandang makin meningkat. Faktor kecepatan,
ketepatan dan keamanan sangatlah diperlukan guna menunjang kelangsungan
kerja yang maksimal tanpa ada kerugian yang begitu berarti. Hal ini ditandai
dengan begitu pesatnya kemajuan yang terjadi dengan diciptakannya pesawat
elektronika yang semakin canggih. Banyak keuntungan yang diperoleh dari
perkembangan yang pesat dibidang elektronika diantaranya dapat membantu
manusia dalam menyelesaikan beban tugas.
Peralatan elektronika yang terdapat dipasaran ada yang menggunakan
analog dan ada juga yang sudah memakai digital. Pada peralatan yang memakai
analog, penunjukan yang digunakan merupakan persamaan dari nilai satuan yang
diukur, sedangkan pada peralatan yang memakai digital penunjukkan hasil ukur
langsung ditampilkan dalam bentuk angka atau digit. Jika dibandingkan antara
peralatan yang analog dan digital, maka hasil pengukuran digital lebih mudah
diamati.
Sistem digital yang digunakan sebagai alat detektor level zat cair,
kaitannya dengan pengaturan dalam memenuhi kebutuhan akan kondisi air,

manusia banyak merancang suatu alat yang dapat digunakan untuk mengetahui
level zat cair tersebut.
Pemanfaatan

sistem

pengukuran

instrumentasi

ini

memberikan

kemudahan bagi manusia dalam memberikan nilai atau harga. Saat ini alat
pengukuran level zat cair dalam bentuk tampilan digital dapat dijumpai
penggunaanya pada kendaraan bermotor dan di perusahaan-perusahaan air
minum. Hanya skala penggunaan masih terbilang kecil, selain itu untuk
mendapatkannya harus mengeluarkan biaya yang tidak sedikit. Hal ini tentu akan
memberatkan bagi konsumen yang menginginkan adanya ketepatan pengukuran.
Atas dasar pertimbangan dan alasan tersebut, penulis mencoba membuat
suatu peralatan instrumentasi berupa alat pegukur level zat cair (ketinggian air)
sistem digital untuk memenuhi mata kuliah Tugas Akhir.
B. Permasalahan
Setelah melihat latar belakang yang berkaitan dengan hal tersebut diatas,
maka pembatasan masalah pada laporan tugas akhir ini adalah :
1. Bagaimana membuat rancang bangun suatu detektor level zat cair
dengan tampilan sistem digital untuk memudahkan manusia dalam
mengukur jumlah level.
2. Dapatkah detektor level zat cair sistem digital di buat sesuai rancangan?
3. Dapatkah alat ini dapat mengukur dalam bejana yang tempatnya tidak
beraturan?
4. Obyek yang akan di ukur harus berupa zat cair.

C. Tujuan
Tujuan yang diperoleh dari Tugas Akhir ini adalah :
a. Membuat alat detektor level zat cair sistem digital dengan sensor
pelampung dan ditampilkan oleh seven segmen.
b. Dapat menguji serta mangamati level air dalam bejana yang telah
dirancang.
D. Manfaat
Manfaat dari Tugas Akhir ini adalah:
a. Dapat mengetahui level air dengan tampilan digital dari bejana yang
telah dibuat.
b. Alat ini dapat digunakan untuk mengukur level air dalam galon air
minum.
E. Batasan Masalah
Dari topik bahasan Detektor Level Zat Cai Sistem Digital, penulis
mencoba memberi batasan sebagai berikut :
1. Alat ini hanya dapat mengukur jumlah level berbentuk cair.
2. Alat ini hanya dapat digunakan untuk mengukur jumlah air dalam
bejana terukur, (bejana dengan ukuran antara batas bawah dan batas
atas sama) atau bejana tidak berbentuk kerucut.
3. Alat ini tidak dapat digunakan untuk mengukur level air dalam sungai,
laut dan sebagainya.

F. Metode Penyusunan
1. Metode Studi Pustaka
Metode ini dimaksudkan untuk mendapatkan landasan teori yang
tepat, data-data dan informasi sebagai bahan acuan dalam perencanaan,
percobaan dan pembuatan Tugas Akhir ini.
2. Metode Studi Laboratorium
Perancangan dilakukan dengan cara membuat rancangan rangkaian
dalam PCB dan pengujian (studi laboratorium), dilakukan dengan menguji
rangkaian dan cara kerja alat ukur.

Sistematika Laporan Tugas Akhir

HALAMAN JUDUL
ABSTRAK
HALAMAN PENGESAHAN
KATA PENGANTAR
DAFTAR ISI
DAFTAR GAMBAR
DAFTAR TABEL

BAB I PENDAHULUAN (bisa berisi)


A. Latar Belakang
B. Permasalahan
C. Tujuan
D. Manfaat
E. Batasan Masalah
F. Metode Penyusunan

BAB II ISI (bisa berisi)


A. Dasar Teoritis
B. Proses Pembuatan, konstruksi, dan Cara Kerja
C. Hasil dan Pembahasan

BAB III PENUTUP (bisa berisi)


A. Kesimpulan
B. Saran
DAFTAR PUSTAKA
LAMPIRAN

BAB II
ISI

A. Dasar Teoritis
Detektor level zat cair sistem digital ini pada dasarnya terdiri dari tiga
komponen utama yaitu sensor pelampung, ADC (Analog to Digital Converter)
dan Seven Segment.

1. Sensor
Komponen penting yang dipakai dalam membuat alat pengukur level
zat cair ini adalah sensor, yang berfungsi sebagai pengindra atau membaca.
Sensor itu sendiri berfungsi untuk mengubah resistansi atau hambatan yang
mengakibatkan tegangan pembanding (0/1) berubah terhadap tegangan
reverensi atau tegangan acuan.
Pelampung tersebut yang menentukan besar kecilnya tegangan yang
masuk pada IC ADC 0804 yang kemudian dikonversi menjadi kode-kode
biner. Pelampung merupakan tabung udara yang akan terangkat jika
diletakkan dipermukaan zat cair yang kemudian tuas pelampung tersebut
dihubungkan pada potensiometer. Sehingga jika tinggi permukaan zat cair
naik turun, maka tuas akan mengubah posisi wiper potensiometer.
Ilustrasi sensor pelampung dengan potensiometer terlihat pada gambar 1.

Gambar 1. Ilustrasi sensor pelampung.

2. ADC (Analog to Digital Converter) 0804


ADC (Analog to Digital Converter), yaitu rangkaian untuk mengubah
tegangan analog pada masukan menjadi data dengan bit paralel pada keluaran.
ADC 0804 merupakan salah satu Analog to Digital Converter yang
banyak digunakan untuk menghasilkan data 8 bit. Adapun metode pengukur
aras tegangan cuplikan dan mengubahnya ke dalam sandi biner menggunakan
metode pengubahan dengan tipe pembanding langsung atau successive
approximation.
Pada ADC tipe ini masukan cuplikan dibandingkan dengan tegangan
berurutan yang dibangkitkan oleh successive approximation register (SAR)
programmer. Perubahan dimulai dari signifikan terbesar dari keluarga biner.
Keadaan ini dinyatakan sebagai logika l, diumpankan ke pengubah digital ke
analog, yang akan mengubahnya menjadi bentuk analog yang akan

dibandingkan dengan arus tegangan masukan cuplikan. Jika l akan berubah


menjadi 0. Jika logika l pada MSB menunjukkan nilai lebih kecil
dibandingkan masukan, sampai tegangan keluaran ADC sama dengan arus
masukan kira-kira separuh bit signifikan terkecil. Perbedaan yang ada
disebabkan adanya kesalahan kuantisasi yang muncul pada pengubahan
digitalm, bagan ADC 0804 dapat dilihat pada gambar 2.

comparator

8 bit
succsessive approximation register
(SAR)

Digital Output

analog
level

digital

8-bit digital to analogue converter


Gambar 2. Bagan ADC 0804.

Succesessive approximation dapat dikendalikan oleh perangkat lunak,


dan hal ini yang dikenal dengan sistem berdasarkan mikroprosesor. ADC ini
relatif cepat dan mempunyai ukuran kecil. Keuntungan tambahan adalah
setiap cuplikan diubah dalam selang waktu yang sama tidak tergantung pada
arus masukan dan secara keseluruhan ditentukan oleh frekuensi yang
mengendalikan detak dan resolusi dari pengubah. Sebagai contoh, pengubah 8

bit digunakan untuk menentukan arus logika setiap bit secara berurutan mulai
dari bit signifikan terbesar jika frekuensi detak 10 KHz, waktu pengubahan 0
8 x periode detak = 8 x 0,1 mdetik.
Jika frekuensi detak dinaikkan menjadi 1 MHz, waktu pengubahan
akan berkurang menjadi 8 detik.
Kekurangan pengubahan jenis ini adalah mempunyai kekebalan
rendah terhadap derau dan diperlukan adanya pengubah digital ke analog yang
tepat dan pembanding dengan unjuk kerja yang tinggi, gambar 3
menunjukkan diagram fungsional ADC 0804.

Gambar 3. Diagram fungsional ADC 0804.

10

3. Pengubahan Analog ke Digital ADC 0804


Suatu sinyal keluaran yang berupa tegangan ordo yang sangat kecil
akan sulit dideteksi, agar tegangan analog ini mudah dimengerti maka harus
diubah kesuatu keluaran biner. Unutuk menghasilkan keluaran biner ini
diperlukan suatu converter dalam hal ini ADC 0804 mampu melakukannya.
Dalam fungsinya ada beberapa jenis ADC, yang masing-masing mempunyai
kelebihan berdasarkan pada metode pengubahan isyarat analog ke digital
ADC dibedakan menjadi :
a. Metode pencacah
b. Metode dual slope
c. Metode pendekatan berurutan
d. Metode pendekatan paralel
Untuk menentukan ADC yang digunakan dalam sistem akuisisi data
ada beberapa hal yang perlu diperhatikan yaitu :
a. Kecepatan konversi
b. Resolusi
c. Rentang masukan analog maksimum
d. Jumlah kanal masukan
Pemilihan ADC pada umumnya ditentukan oleh metode yang
digunakan untuk konversi data. Dengan pertimbangan diatas penulis sengaja
memilih ADC 0804 sebagai converter A/D. ADC 0804 adalah suatu IC
CMOS pengubah analog ke digital delapan bit dengan satu kanal masukan.
Bentuk dan tampilan IC ADC 0804 ditunjukkan pada Gambar 4.

11

U2
6
7
9
4
19
2
3
1
20

+IN
-IN
VREF/2
CLKIN
CLKR
RD
WR
CS

DB0
DB1
DB2
DB3
DB4
DB5
DB6
DB7
INTR

18
17
16
15
14
13
12
11
5

VCC/VREF

Gambar 4. Diagram pena pada ADC 0804.

Keterangan pada masing-masing pena pada IC ADC 0804 adalah :


1. Pena 1-3 (CS, RD, WR)
Masukan kontrol digital dengan level tegangan logika TTL. Pena CS dan
RD jika tidak aktif maka keluaran digital akan berada pada keadaan
impedansi tinggi. Pena WR bila dibuat aktif bersamaan dengan CS akan
memulai konversi. Konversi akan riset bila WR dibuat tidak aktif.
Konversi dimulai setelah WR berubah menjadi aktif.
2. Pena 4 dan 19 (clock in dan clock R)
Pena masukan dari rangkaian schmit tringger. Pena ini digunakan sebagai
clock internal dengan menambah rangkaian RC.
3. Pena 5 (INTR)

12

Pena interupsi keluaran yang digunakan didalam sistem mikroprosesor.


Pena 5 menunjukkan bahwa konversi telah selesai. Pena 5 akan
mengeluarkan logika tinggi bila konversi dimulai dan mengeluarkan pena
rendah bila konversi selesai.
4. Pena 6 dan 7 (Vin (+) dan Vin (-))
Pena interupsi untuk masukan tegangan analog. Vin (+) dan Vin (-) adalah
sinyal masukan differensial. Vin (+) digunakan untuk masukan positif jika
Vin (-) dihubungkan ground.
5. Pena 8 dan 10 (AGND dan DGND)
Pena ini dihubungkan dengan ground.
6. Pena 9 (Vref/2)
Pena masukan tegangan referensi yang digunakan sebagai referensi untuk
tegangan masukan dari pena 6 dan 7.
7. Pena 11 sampai 18 (bus data 8 bit)
Jalur keluaran data digital 8 bit. Pena 11 merupakan data MSB dan pena
18 merupakan data LSB.
8. Pena 20 (V+)
Pena ini dihubungkan ke VCC (5volt).
Ada beberapa metode untuk mengukur aras tegangan cuplikan dan
mengubahnya kedalam sandi biner. Metode-metode tersebut berbeda dalam
hal ketepatannya dan kecepatan pengubahannya, yang ditunjukkan oleh waktu
pengubahan. Waktu pengubahan adalah selang waktu antara dimulainya

13

proses pengubahan dan munculnya sandi biner pada keluaran. Pengubahan


bervariasi mulai dari tipe pencacah undak lamban (waktu pengubahan dalam
orde milidetik) yang digunakan dalam peralatan penunjukkan digital sampai
ke paralel sangat cepat atau tipe perbandingan langsung (waktu pengubah
dalam orde nanodetik) yang banyak digunakan dalam instrumentasi dan
kontrol.

4. Tampilan
Kebanyakan tampilan angka menggunakan konfigurasi sebuah seven
segment untuk membentuk karakter desimal dari 0 sampai 9, dan kadangkadang karakter heksadesimal A sampai F. Setiap segment terbuat dari bahan
yang mengeluarkan cahaya ketika dilewati arus listrik. Segmen-segmen yang
banyak dipakai menggunakan prinsip lampu LED.
Terdapat dua macam seven segment display, yaitu common anoda dan
common catoda. Pada common anoda dari kesepuluh dua kaki yang tengah
sebagai negatif satu kaki sebagai dot, dan ketujuh kaki yang lain sebagai
positif. Sedangkan pada common catoda kebalikan dari common anoda.
Tampilan tujuh segment ini terdiri dari tujuh buah segment yang
disusun sedemikian rupa membentuk angka delapan seperti tampak pada
gambar (a). Tiap-tiap segment tersebut diberi tanda dengan huruf a, b, c, d, e,
f, dan g. Gambar 5, menunjukkan pola dari segment-segment yang digunakan
untuk menampilkan bermacam-macam angka.

14

b
g

(c) Pengaturan

(b) Segment-segment aktif

Segment-segment

Untuk setiap digit

Gambar 5. Seven segment display.


5. Catu Daya
Perangkat elektronika mestinya dicatu oleh suplai arus searah DC
(direct current) yang stabil agar dapat dengan baik. Baterai atau accu adalah
sumber catu daya DC yang paling baik. Namun untuk aplikasi yang
membutuhkan catu daya yang besar, sumber dari baterai tidak cukup. Sumber
catu daya yang besar adalah sumber bolak-balik AC (alternating current) dari
pembangkit tenaga listrik. Untuk itu diperlukan suatu perangkat catu daya
yang dapat mengubah arus AC menjadi DC.
Rangkaian yang berfungsi memberikan / membagi tegangan DC pada
rangkaian. Fungsi dari catu daya sangatlah vital karena sumber tegangan dari
semua rangkaian yaitu catu daya. Catu daya ini hanya menggunakan baterai
12 Volt yang memberikan arus semaksimal mungkin yang dibutuhkan oleh
rangkaian diatas. Untuk memperoleh tegangan yang stabil perlu digunakan

15

sebuah IC LM7805 agar arus menjadi presisi. Apabila rangkaian catu daya
kurang stabil maka semua rangkaian tidak akan berfungsi dengan baik.
Catu daya merupakan komponen yang sangat penting dalam sebuah
peralatan elektronik. Agar rangkaian dapat bekerja dengan baik diperlukan
catu daya yang stabil, sehingga digunakan IC regulator 7805 seperti terlihat
pada gambar 6.

Gambar 6. Rangkaian catu daya.

16

B. Proses Pembuatan, Konstruksi dan Cara Kerja


1. Proses Pembuatan
a. Perencanaan alat
Gambar 7 merupakan gambar rangkaian detektor level zat cair sistem
tampilan digital.

Gambar 7. Rangkaian detektor level zat cair sistem tampilan digital.

Dari gambar 7 kemudian dihubungkan pada gambar 8 yaitu sensor


pelampung, agar dapat mengatur posisi pengukuran level air.

17

Gambar 8. Sensor pelampung.

b. Proses pembuatan papan rangkaian tercetak


Alat dan bahan yang digunakan dalam pembuatan papan rangkaian
tercetak (PRT) ini adalah meliputi :
1. Mata bor diameter 0,8 mm; 3,5mm
2. Pengupas kabel
3. Solder
4. Bahan PRT (PCB)
5. Ferri Chloride (FeCL3)
6. Lotfet
7. Tiner
8. Mur, baut
9. Timah
c. Proses pembuatan jalur
Pada tahap ini pertama-tama merancang ukuran PRT sehingga
membentuk ukuran posisi dan loyout yang bagus, baik dan benar.

18

Kemudian memasang tata letak komponen dan merancang jalur antar


komponen sehingga membentuk jalur yang singkat, rapi dan benar.
Setelah semua selesai dilanjutkan dengan memotong PCB sesuai
dengan ukuran yang telah ditentukan. Kemudian memindahkan hasil
rancangan alur tadi ke PCB. Proses pembuatan layout ada yang
mengunakan penggambaran manual.
d. Proses pelarutan dan pelapisan
1). Melarutkan PRT yang telah tergambar jalur PRT dengan Ferri
Chlorida (FeCL3) untuk menghilangkan lapisan tembaga yang
tidak terpakai.
2). Mengangkat PRT dari Ferri Chlorida apabila lapisan tembaga
yang tidak terpakai sudah terlarut semua. Kemudian mencuci PRT
tersebut dengan air sampai bersih.
3). membersihkan sisa lapisan cat sablon pada jalur PRT dengan
menggunakan tinner.
e. Proses pengeboran
Tujuan dilakukan proses pengeboran terlebih dahulu pada titiktitik untuk kaki komponen adalah agar lubang yang dibuat sesuai yang
diharapkan, untuk mendapat hasil yang baik, pengeboran dilakukan
dengan hati-hati agar tidak merusak jalur-jalur papan rangkaian
tercetak.

19

f. Pemasangan Komponen
Urutan pemasangan komponen sebagai berikut :
1. Mengecek

terhadap

hubungan

antar

jalur-jalurnya

untuk

menghindari hubung singkat.


2. Mengetes semua komponen satu persatu untuk mendapatkan
komponen yang mempunyai karakteristik sesuai dengan yang
diharapkan. Komponen yang rusak atau tidak sesuai dengan
karakteristik harus diganti untuk menghindari rangkaian dari
kegagalan operasi.
3. Memasang soket-soket rangkaian terintegrasi (IC) dan kabel
penghubung.
4. Memasang komponen-komponen pasif, dimulai dari komponen
yang tahan terhadap panas seperti resistor, kapasitor non polaritas
baru kemudian kapasitor polaritas, pemasangan komponen ini
harus sesuai dengan posisi dan polaritasnya masing-masing, jadi
tidak boleh terbalik.
5. Memasang komponen-komponen aktif mulai dari komponen yang
tahan terhadap panas, misalnya dioda.
6. Memasang komponen-konponen aktif, yang kurang tahan panas,
seperti transistor.Pemasangan komponen ini tidak boleh tertukar
kaki-kaki basis, emitor, dan kolektor.

20

7. Memasang komponen yang memakai soket, misalnya rangkaian


terintegrasi (IC).
8. Melakukan penyolderan dengan solder yang dayanya tidak terlalu
besar, yaitu sekitar 30 Watt. Hal ini dilakukan untuk menghindari
pemasangan yang berlebihan terutama terhadap komponen aktif.
g. Proses Perakitan
Urutan proses perakitan sebagai berikut:
1). Merakit bagian dalam kotak atau bok yaitu tempat rangkaian
tercetak dengan cara memasang penampil yang berupa seven
segment.
2). Memasang

soket-soket

atau

penghubung

yang

menempel

langsung pada kotak.


3). Menghubungkan papan rangkaian tercetak yang satu dengan yang
lain dengan menggunakan kabel penghubung (jumper).
4). Memeriksa kembali untuk memastikan ada atau tidak rangkaian
yang salah sambung antara satu dengan lainnya.
5). Mencuci bagian-bagian yang sudah diberi lubang dengan
mengunakan sekrup sehingga diperoleh penempatan yang
permanen.

21

h. Hasil perakitan komponen


Dari gambar 7 maka dapat dirakit seperti pada gambar 9 yaitu
layout PCB, dan pada gambar 10, merupakan gambar tataletak
komponen.

Gambar 9. Layout PCB.

Gambar 10. Tata letak komponen.

22

Adapun komponen-komponen yang dipakai dalam rangkaian detektor


level zat cair sistem digital, terlihat pada tabel 1 yaitu daftar komoponen.
Tabel 1. Daftar komponen yang dipakai.
No
1

Nama bahan
IC

2
3
4

Seven segment
Dioda
Kondensator

Variabel resistor

Resistor

Identitas
- ADC 0804
- 4081
- 74LS48
Common Catoda
3,3V
- 100pF
- 10F

Jumlah
1 buah
1 buah
2 buah
2 buah
1 buah
1 buah
1 buah

- 5K
- 10K
- 330
- 1K
- 10K

1 buah
1 buah
8 buah
1 buah
2 buah

2. Konstruksi
Perencanaan bok alat ukur ini bertujuan untuk membuktikan dan
mengaplikasikan secara nyata sehingga dapat dipahami dengan mudah dan
jelas, yang ditunjukkan pada gambar 11 :

23

a.

b.
1

Gambar 11. Box alat ukur ;


a.Tampak depan, b.Tampak belakang.

Keterangan gambar :
1. Tampilan digital
2. Sakelar ON -OFF
3. Kabel AC 220V
4. Output ke pelampung
3. Cara kerja
Alat pengukur level zat cair ini, pada dasarnya mengukur ketinggian
air yang tertampung pada bejana pengukuran. Dengan teori dasar sensor
ketinggian air, ADC, dan tampilan seven segment. Perencanaan alat ini
berpedoman pada tujuan penelitian yaitu mewujudkan alat pengukur level zat

24

cair dengan tampilan digital, gambar 12 adalah diagram blok detektor level
zat cair sistem digital.

Sensor /
Pelampung

ADC

Penggerak BCD to
Seven Segment

Tampilan

Catu daya

Gambar 12. Blok detektor level zat cair sistem digital.


Cara kerjanya yaitu pertama diperlukan tegangan sumber tegangan
DC 5 volt untuk mengaktifkan sensor ketinggian zat cair, ADC, dan seven
segment. Sensor yang berupa pelampung yang akan menentukan besarnya
perubahan tegangan yang masuk ADC. Hasil dari konvrensi tegangan menjadi
kode-kode biner diubah dalam tampilan desimal, dan kemudian ditampilkan
pada seven segment sebagai hasil pengukuran.
Pada prinsipnya cara kerja dari detektor permukaan zat cair analog
hampir sama, dapat diterapkan pada detektor permukaan zat cair sistem
digital. Dari pelampung sebagai sensor yang merupakan tabung udara yang
akan terangkat jika diletakkan di permukaan zat cair yang kemudian
pelampung tersebut dihubungkan dengan tuas yang terhubung pada
potensiometer. Sehingga jika tinggi permukaan zat cair berubah, maka tuas

25

juga akan merubah posisi wiper potensiometer, dan memberikan masukkan


perubahan tegangan akibat perbedaan atau selisih tegangan. Masukkan
tegangan tersebut diterima oleh IC ADC0804 yang akan mengubah sinyal
analog menjadi keluaran sinyal digital, dan ditampilkan melalui seven segmet.
C. Hasil dan pembahasan
1. Cara pengukuran dan hasilnya
Pengukuran dilakukan dengan cara terlebih dahulu memasukkan air
kurang lebih 600 ml atau 0,6 liter kedalam bejana, sebagai toleransi agar
disaat pengukuran dimulai pelampung sudah bisa langsung bergerak.
Kemudian pengukuran dimulai dengan menuangkan air sedikit demi sedikit
agar dapat mengamati pergerakkan digitnya apakah sesuai dengan takaran
yang dituangkan atau tidak. Hasil yang didapat dari pengukuran alat detektor
level zat cair sistem digital, seperti terlihat pada tabel 2.
Tabel 2. Hasil Pengukuran.
No
1
2
3
4
5
6
7
8

Jumlah air pada gelas ukur


(liter)
0,5
1
1,5
2
2,5
3
3,5
4

26

Penunjukkan pada alat yang dibuat


0,6
1,1
1,7
2,2
2,7
3,1
3,8
4,2

Dari data tabel diatas maka diperoleh grafik hasil pengukuran alat
detektor level zat cair sistem digital yang ditunjukkan gambar 13.
Hasil Pengukuran
4.5
4

Level

3.5
3

Jumlah air pada gelas


ukur (liter)

2.5
2

Penunjukkan pada
alat yang dibuat

1.5
1
0.5
0
1

Nomor

Gambar 13. Grafik hasil pengukuran.

2. Pembahasan
Pendeteksian level dimulai dari input sinyal analog dari pergeseran
potensiometer oleh pelampung, jika bejana diisi air sesuai takaran yang
diinginkan, maka pelampung akan naik dan menggerakkan potensiometer.
dari pergerakkan potensiometer tersebut maka tegangan yang keluar dari
potensiometer akan diumpankan ke rangkaian pengubah analog ke digital
ADC (Analog Digiital to Converter). Oleh ADC 0804 hasil dari konversi
tegangan menjadi kode-kode biner diubah dalam tampilan desimal, kemudian

27

dalam bentuk sinyal digital ditampilkan pada seven segment yang sesuai
dengan takaran air yang dituangkan dalam bejana sebagai hasil pengukuran.
Untuk pengukuran dengan cara menuangkan air sedikit demi sedikit
agar dapat mengamati pergerakan digit apakah sesuai dengan takaran yang
dituangkan atau tidak. Hasil pengukuran seperti yang diperoleh pada tabel 2,
antara jumlah air yang dituangkan oleh gelas ukur kedalam bejana dengan
hasil yang ditunjukkan pada digital atau alat yang dibuat terdapat perbedaan
yang cukup signifikan antara pengukuran 1, 2, 3, 4, 5 dan seterusnya. Adanya
beda yang terdapat pada data hasil pengukuran disebabkan oleh potensiometer
yang digunakan kurang linier, serta kurangnya penyesuaian antara alat atau
rangkaian penampil dengan penampung air yang telah di buat.
Untuk mendapatkan hasil yang maksimal atau sesuai dengan
kenyataan maka antara alat yang di buat dengan penampung air atau sensor
pelampung harus di buat selinier mungkin agar mendapatkan data pengukuran
yang sesuai dengan kenyataan atau pengukuran yang presisi.

28

BAB III
PENUTUP

A. KESIMPULAN
Berdasarkan hasil penelitian dan analisis maka penulis dapat mengambil
kesimpulan sebagai berikut :
2. Untuk kalibrasi maka dibutuhkan air sekitar 600 ml atau 0,6 liter.
3. Alat yang dibuat dapat mendeteksi level air dalam bejana terukur serta
bentuknya pasti ( bejana rata).
4. Dapat mengamati dan menganalisis data yang ditunjukkan dalam
pengukuran level air dengan menggunakan takaran 1 liter.
5. Terealisasinya detektor level zat cair dengan sistem digital
B. SARAN
1. Kemampuan alat ini masih terbatas yaitu hanya mencapai 4 liter saja, untuk
mengembangkan alat ini untuk mengukur level air yang lebih besar maka
dengan jalan memperbesar potensiometer atau dengan menggunakan
mikrokontroller.
2. Penggunaan sensor akan lebih presisi jika menggunakan pelampung yang
lebih ringan atau potensiometer yang lebih peka.
3. Untuk mendapatkan output sensor berupa kode-kode digital secara langsung
maka sensor pelampung dapat diganti dengan sistem timbangan atau dengan
menggunakan sensor berat (LOAD CELL).

29

DAFTAR PUSTAKA

Deddy Rusmady. 1989. Mengenal Teknik Digital. Bandung : Penerbit Sinar Baru.
Gatot Soedartono. 2001. Teknik Digital. Surabaya : Penerbit Usaha Nasional
M. Barmawi. 1996. Prinsip-prinsip Elektronika. Jakarta : Penerbit Erlangga.
Warsito. S. 1994. Vademekum Elektronika. Jakarta : Penerbit Gramedia.
www.alldatasheet.com
www.datasheetcatalog.com
www.elektroindonesia.com

30

Revised April 2002

CD4071BC CD4081BC
Quad 2-Input OR Buffered B Series Gate
Quad 2-Input AND Buffered B Series Gate
General Description

Features

The CD4071BC and CD4081BC quad gates are monolithic


complementary MOS (CMOS) integrated circuits constructed with N- and P-channel enhancement mode transistors. They have equal source and sink current
capabilities and conform to standard B series output drive.
The devices also have buffered outputs which improve
transfer characteristics by providing very high gain.

Low power TTL compatibility:


Fan out of 2 driving 74L or 1 driving 74LS
5V10V15V parametric ratings
Symmetrical output characteristics
Maximum input leakage 1 A at 15V over full
temperature range

All inputs protected against static discharge with diodes to


VDD and VSS.

Ordering Code:
Order Number
CD4071BCM

Package Number
M14A

Package Description
14-Lead Small Outline Integrated Circuit (SOIC), JEDEC MS-012, 0.150" Narrow

CD4071BCN

N14A

14-Lead Plastic Dual-In-Line Package (PDIP), JEDEC MS-001, 0.300" Wide

CD4081BCM

M14A

14-Lead Small Outline Integrated Circuit (SOIC), JEDEC MS-012, 0.150" Narrow

CD4081BCN

N14A

14-Lead Plastic Dual-In-Line Package (PDIP), JEDEC MS-001, 0.300" Wide

Devices are also available in Tape and Reel. Specify by appending the suffix letter X to the ordering code.

Connection Diagrams
CD4071B

CD4081B

Top View

Top View

2002 Fairchild Semiconductor Corporation

DS005977

www.fairchildsemi.com

CD4071BC CD4081BC Quad 2-Input OR Buffered B Series Gate Quad 2-Input AND Buffered B Series Gate

October 1987

CD4071BC CD4081BC

Schematic Diagrams
CD4071B

/4 of device shown

J=A+B
Logical 1 = HIGH
Logical 0 = LOW
*All inputs protected by standard CMOS protection circuit.

CD4081B

/4 of device shown

J=AB
Logical 1 = HIGH
Logical 0 = LOW
All inputs protected by standard CMOS protection circuit.

www.fairchildsemi.com

Recommended Operating
Conditions

(Note 2)

0.5V to VDD +0.5V

Voltage at Any Pin

Operating Range (VDD)

Power Dissipation (PD)

3 VDC to 15 VDC

Operating Temperature Range (TA)

Dual-In-Line

700 mW

Small Outline

500 mW

0.5 VDC to +18 VDC

VDD Range

65C to +150C

Storage Temperature (TS)


Lead Temperature (TL)

Note 2: All voltages measured with respect to VSS unless otherwise specified.

260C

(Soldering, 10 seconds)

DC Electrical Characteristics

55C to +125C

CD4071BC, CD4081BC

Note 1: Absolute Maximum Ratings are those values beyond which the
safety of the device cannot be guaranteed. Except for Operating Temperature Range they are not meant to imply that the devices should be operated at these limits. The table of Electrical Characteristics provides
conditions for actual device operation.

(Note 2)

CD4071BC/CD4081BC
Symbol
IDD

VOL

Parameter

55C

Conditions

Min

VIH

IOL

IOH

IIN

+125C

Typ

Max

Min

VDD = 5V

0.25

0.004

0.25

7.5

VDD = 10V

0.5

0.005

0.5

15

VDD = 15V

1.0

0.006

1.0

30

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

LOW Level

VDD = 5V

Output Voltage

VDD = 10V

|IO| < 1 A

HIGH Level

VDD = 5V

Output Voltage

VDD = 10V

|IO| < 1 A

4.95

4.95

9.95

9.95

10

9.95

14.95

14.95

15

14.95

Units

Max

Quiescent Device

VDD = 15V
VIL

+25C
Min

Current

VDD = 15V
VOH

Max

4.95
V

LOW Level

VDD = 5V, VO = 0.5V

1.5

1.5

1.5

Input Voltage

VDD = 10V, VO = 1.0V

3.0

3.0

3.0

VDD = 15V, VO = 1.5V

4.0

4.0

4.0

HIGH Level

VDD = 5V, VO = 4.5V

3.5

3.5

Input Voltage

VDD = 10V, VO = 9.0V

7.0

7.0

7.0

VDD = 15V, VO = 13.5V

11.0

11.0

11.0

LOW Level Output

VDD = 5V, VO = 0.4V

0.64

0.51

0.88

0.36

Current

VDD = 10V, VO = 0.5V

1.6

1.3

2.25

0.9

(Note 3)

VDD = 15V, VO = 1.5V

4.2

3.4

8.8

2.4

HIGH Level Output

VDD = 5V, VO = 4.6V

0.64

0.51

0.88

0.36

Current

VDD = 10V, VO = 9.5V

1.6

1.3

2.25

0.9

(Note 3)

VDD = 15V, VO = 13.5V

4.2

3.4

8.8

2.4

Input Current

VDD = 15V, VIN = 0V

0.1

105

0.1

1.0

VDD = 15V, VIN = 15V

0.1

105

0.1

1.0

3.5
V

mA

mA

Note 3: IOH and IOL are tested one output at a time.

AC Electrical Characteristics

(Note 4)

CD4071BC TA = 25C, Input tr; tf = 20 ns, CL = 50 pF, RL = 200 k, Typical temperature coefficient is 0.3%/C
Symbol
tPHL

Parameter
Propagation Delay Time,
HIGH-to-LOW Level

tPLH

tTHL, tTLH

Conditions

Typ

Max

100

250

VDD = 10V

40

100

VDD = 15V

30

70

VDD = 5V

Propagation Delay Time,

VDD = 5V

90

250

LOW-to-HIGH Level

VDD = 10V

40

100

VDD = 15V

30

70

Transition Time

VDD = 5V

90

200

VDD = 10V

50

100

VDD = 15V

40

80
7.5

CIN

Average Input Capacitance

Any Input

CPD

Power Dissipation Capacity

Any Gate

18

Units
ns

ns

ns
pF
pF

Note 4: AC Parameters are guaranteed by DC correlated testing.

www.fairchildsemi.com

CD4071BC CD4081BC

Absolute Maximum Ratings(Note 1)

CD4071BC CD4081BC

AC Electrical Characteristics

(Note 5)

CD4081BC TA = 25C, Input tr; tf = 20 ns, CL = 50 pF, RL = 200 k, Typical temperature coefficient is 0.3%/C
Symbol
tPHL

Parameter
Propagation Delay Time,

tTHL, tTLH

Conditions

Max

100

250

VDD = 10V

40

100

VDD = 15V

30

70

Propagation Delay Time,

VDD = 5V

120

250

LOW-to-HIGH Level

VDD = 10V

50

100

VDD = 15V

35

70

HIGH-to-LOW Level
tPLH

Typ

VDD = 5V

Transition Time

VDD = 5V

90

200

VDD = 10V

50

100

VDD = 15V

40

80
7.5

CIN

Average Input Capacitance

Any Input

CPD

Power Dissipation Capacity

Any Gate

18

Note 5: AC Parameters are guaranteed by DC correlated testing.

Typical Performance Characteristics


Typical Transfer Characteristics

Typical Transfer Characteristics

Typical Transfer Characteristics

Typical Transfer Characteristics

www.fairchildsemi.com

Units
ns

ns

ns
pF
pF

CD4071BC CD4081BC

Typical Performance Characteristics

(Continued)

www.fairchildsemi.com

CD4071BC CD4081BC

Physical Dimensions inches (millimeters) unless otherwise noted

14-Lead Small Outline Integrated Circuit (SOIC), JEDEC MS-012, 0.150" Narrow
Package Number M14A

www.fairchildsemi.com

14-Lead Plastic Dual-In-Line Package (PDIP), JEDEC MS-001, 0.300" Wide


Package Number N14A

Fairchild does not assume any responsibility for use of any circuitry described, no circuit patent licenses are implied and
Fairchild reserves the right at any time without notice to change said circuitry and specifications.
LIFE SUPPORT POLICY
FAIRCHILDS PRODUCTS ARE NOT AUTHORIZED FOR USE AS CRITICAL COMPONENTS IN LIFE SUPPORT
DEVICES OR SYSTEMS WITHOUT THE EXPRESS WRITTEN APPROVAL OF THE PRESIDENT OF FAIRCHILD
SEMICONDUCTOR CORPORATION. As used herein:
2. A critical component in any component of a life support
device or system whose failure to perform can be reasonably expected to cause the failure of the life support
device or system, or to affect its safety or effectiveness.

1. Life support devices or systems are devices or systems


which, (a) are intended for surgical implant into the
body, or (b) support or sustain life, and (c) whose failure
to perform when properly used in accordance with
instructions for use provided in the labeling, can be reasonably expected to result in a significant injury to the
user.

www.fairchildsemi.com

www.fairchildsemi.com

CD4071BC CD4081BC Quad 2-Input OR Buffered B Series Gate Quad 2-Input AND Buffered B Series Gate

Physical Dimensions inches (millimeters) unless otherwise noted (Continued)

ADC0802, ADC0803
ADC0804

Semiconductor

8-Bit, MicroprocessorCompatible, A/D Converters

August 1997

Features

Description

80C48 and 80C80/85 Bus Compatible - No Interfacing


Logic Required

The ADC0802 family are CMOS 8-Bit, successive-approximation A/D converters which use a modified potentiometric
ladder and are designed to operate with the 8080A control
bus via three-state outputs. These converters appear to the
processor as memory locations or I/O ports, and hence no
interfacing logic is required.

Conversion Time < 100s


Easy Interface to Most Microprocessors
Will Operate in a Stand Alone Mode
Differential Analog Voltage Inputs

The differential analog voltage input has good commonmode-rejection and permits offsetting the analog zero-inputvoltage value. In addition, the voltage reference input can be
adjusted to allow encoding any smaller analog voltage span
to the full 8 bits of resolution.

Works with Bandgap Voltage References


TTL Compatible Inputs and Outputs
On-Chip Clock Generator
0V to 5V Analog Voltage Input Range (Single + 5V Supply)
No Zero-Adjust Required

Ordering Information
PART NUMBER

ERROR

ADC0802LCN

1/2 LSB

ADC0802LCD

3/4 LSB
1 LSB

ADC0802LD
ADC0803LCN

1/2 LSB

ADC0803LCD

3/4 LSB

TEMP. RANGE (oC)

EXTERNAL CONDITIONS
VREF/2 = 2.500VDC (No Adjustments)

0 to 70

PACKAGE

PKG. NO

20 Ld PDIP

E20.3

-40 to 85

20 Ld CERDIP

F20.3

-55 to 125

20 Ld CERDIP

F20.3

20 Ld PDIP

E20.3

-40 to 85

20 Ld CERDIP

F20.3

VREF/2 Adjusted for Correct Full Scale


Reading

0 to 70

ADC0803LCWM

1 LSB

-40 to 85

20 Ld SOIC

M20.3

ADC0803LD

1 LSB

-55 to 125

20 Ld CERDIP

F20.3

ADC0804LCN

1 LSB

20 Ld PDIP

E20.3

ADC0804LCD

1 LSB

-40 to 85

20 Ld CERDIP

F20.3

ADC0804LCWM

1 LSB

-40 to 85

20 Ld SOIC

M20.3

VREF/2 = 2.500VDC (No Adjustments)

Pinout

0 to 70

Typical Application Schematic

ADC0802, ADC0803, ADC0804


(PDIP, CERDIP)
TOP VIEW

CS

RD

V+ 20
CLK R 19

WR

CLK IN

INTR

11

DB7

DB4

VIN (+)

DB3

VIN (-)

20 V+ OR VREF

RD

19 CLK R

WR

18 DB0 (LSB)

CLK IN

17 DB1

INTR

16 DB2

15

VIN (+)

15 DB3

16

VIN (-)

14 DB4

17

AGND

13 DB5

18

VREF/2

12 DB6

DGND 10

ANY
PROCESSOR

P BUS

CS

12
13
14

150pF

10K

DB6
DB5

DB2
DB1
DB0

AGND 8
VREF/2 9
DGND 10

DIFF
INPUTS

8-BIT RESOLUTION
OVER ANY
DESIRED
ANALOG INPUT
VOLTAGE RANGE

VREF/2

11 DB7 (MSB)

CAUTION: These devices are sensitive to electrostatic discharge. Users should follow proper IC Handling Procedures.
Copyright

+5V

Harris Corporation 1997

6-5

File Number

3094.1

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Functional Diagram

RD
CS
WR

READ

1
3

SET

1 = RESET SHIFT REGISTER


0 = BUSY AND RESET STATE

RESET

INPUT PROTECTION
FOR ALL LOGIC INPUTS

CLK R
19

CLK

INPUT
CLK A

CLK IN

TO INTERNAL
CIRCUITS

G1

RESET

4
CLK OSC

BV = 30V

CLK
GEN CLKS

DFF1
Q

START F/F

10
DGND

START
CONVERSION

CLK B
MSB
V+
(VREF)

VREF/2

20
LADDER
AND
DECODER

SUCCESSIVE
APPROX.
REGISTER
AND LATCH

8-BIT
SHIFT
REGISTER

IF RESET = 0

R
RESET

AGND

DAC
VOUT

LSB

INTR F/F

CLK A

V+

VIN (+)

VIN (-)

DFF2

COMP

Q
XFER

THREE-STATE
OUTPUT LATCHES

G2

SET
5

LSB

MSB

CONV. COMPL.
11 12 13 14 15 16 17 18
8 X 1/f
DIGITAL OUTPUTS
THREE-STATE CONTROL
1 = OUTPUT ENABLE

6-6

INTR

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Absolute Maximum Ratings

Thermal Information

Supply Voltage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.5V


Voltage at Any Input . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . -0.3V to (V+ +0.3V)

Thermal Resistance (Typical, Note 1)


JA (oC/W) JC (oC/W)
PDIP Package . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
125
N/A
CERDIP Package . . . . . . . . . . . . . . . . . .
80
20
SOIC Package . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
120
N/A
Maximum Junction Temperature
Hermetic Package . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175oC
Plastic Package . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150oC
Maximum Storage Temperature Range . . . . . . . . . .-65oC to 150oC
Maximum Lead Temperature (Soldering, 10s) . . . . . . . . . . . . 300oC
(SOIC - Lead Tips Only)

Operating Conditions
Temperature Range
ADC0802/03LD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . -55oC to 125oC
ADC0802/03/04LCD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . -40oC to 85oC
ADC0802/03/04LCN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .0oC to 70oC
ADC0803/04LCWM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . -40oC to 85oC

CAUTION: Stresses above those listed in Absolute Maximum Ratings may cause permanent damage to the device. This is a stress only rating and operation
of the device at these or any other conditions above those indicated in the operational sections of this specification is not implied.

NOTE:
1. JA is measured with the component mounted on an evaluation PC board in free air.

Electrical Specifications
PARAMETER

(Notes 1, 7)
TEST CONDITIONS

MIN

TYP

MAX

UNITS

CONVERTER SPECIFICATIONS V+ = 5V, TA = 25oC and fCLK = 640kHz, Unless Otherwise Specified
Total Unadjusted Error
ADC0802

VREF/2 = 2.500V

1/2

LSB

ADC0803

VREF/2 Adjusted for Correct Full


Scale Reading

1/2

LSB

ADC0804

VREF/2 = 2.500V

LSB

1.0

1.3

VREF/2 Input Resistance

Input Resistance at Pin 9

Analog Input Voltage Range

(Note 2)

GND-0.05

(V+) + 0.05

DC Common-Mode Rejection

Over Analog Input Voltage Range

1/16

1/8

LSB

Power Supply Sensitivity

V+ = 5V 10% Over Allowed Input


Voltage Range

1/16

1/8

LSB

1/2

LSB
LSB

CONVERTER SPECIFICATIONS V+ = 5V, 0oC to 70oC and fCLK = 640kHz, Unless Otherwise Specified
Total Unadjusted Error
ADC0802

VREF/2 = 2.500V

ADC0803

VREF/2 Adjusted for Correct Full


Scale Reading

1/

ADC0804

VREF/2 = 2.500V

LSB

VREF/2 Input Resistance

Input Resistance at Pin 9

Analog Input Voltage Range

(Note 2)

1.0

1.3

GND-0.05

(V+) + 0.05

1/8
1/16

1/4
1/8

LSB

3/4

LSB

3/

LSB

LSB

1.0

1.3

DC Common-Mode Rejection

Over Analog Input Voltage Range

Power Supply Sensitivity

V+ = 5V 10% Over Allowed Input


Voltage Range

LSB

CONVERTER SPECIFICATIONS V+ = 5V, -25oC to 85oC and fCLK = 640kHz, Unless Otherwise Specified
Total Unadjusted Error
ADC0802

VREF/2 = 2.500V

ADC0803

VREF/2 Adjusted for Correct Full


Scale Reading

ADC0804

VREF/2 = 2.500V

VREF/2 Input Resistance

Input Resistance at Pin 9

Analog Input Voltage Range

(Note 2)

GND-0.05

(V+) + 0.05

DC Common-Mode Rejection

Over Analog Input Voltage Range

1/8

1/4

LSB

Power Supply Sensitivity

V+ = 5V 10% Over Allowed Input


Voltage Range

1/16

1/8

LSB

6-7

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Electrical Specifications
PARAMETER

(Notes 1, 7) (Continued)
TEST CONDITIONS

MIN

TYP

MAX

UNITS

CONVERTER SPECIFICATIONS V+ = 5V, -55oC to 125oC and fCLK = 640kHz, Unless Otherwise Specified
Total Unadjusted Error
ADC0802

VREF/2 = 2.500V

LSB

ADC0803

VREF/2 Adjusted for Correct Full


Scale Reading

LSB

VREF/2 Input Resistance

Input Resistance at Pin 9

Analog Input Voltage Range

(Note 2)

1.0

1.3

GND-0.05

(V+) + 0.05

1/8
1/8

1/4
1/4

LSB

kHz

DC Common-Mode Rejection

Over Analog Input Voltage Range

Power Supply Sensitivity

V+ = 5V 10% Over Allowed Input


Voltage Range

LSB

AC TIMING SPECIFICATIONS V+ = 5V, and TA = 25oC, Unless Otherwise Specified


Clock Frequency, fCLK

V+ = 6V (Note 3)

100

640

1280

V+ = 5V

100

640

800

kHz

62

73

Clocks/Conv

8888

Conv/s

100

ns

Access Time (Delay from Falling CL = 100pF (Use Bus Driver IC for
Edge of RD to Output Data Valid), Larger CL)
tACC

135

200

ns

Three-State Control (Delay from


Rising Edge of RD to Hl-Z State),
t1H, t0H

125

250

ns

Delay from Falling Edge of WR to


Reset of INTR, tWI, tRI

300

450

ns

Input Capacitance of Logic


Control Inputs, CIN

pF

Three-State Output Capacitance


(Data Buffers), COUT

pF

Clock Periods per Conversion


(Note 4), tCONV
Conversion Rate In Free-Running INTR tied to WR with CS = 0V,
Mode, CR
fCLK = 640kHz
Width of WR Input (Start Pulse
Width), tW(WR)I

CS = 0V (Note 5)

CL = 10pF, RL= 10K


(See Three-State Test Circuits)

DC DIGITAL LEVELS AND DC SPECIFICATIONS V+ = 5V, and TMIN to TMAX , Unless Otherwise Specified
CONTROL INPUTS (Note 6)
Logic 1 Input Voltage (Except
Pin 4 CLK IN), VINH

V+ = 5.25V

2.0

V+

Logic 0 Input Voltage (Except


Pin 4 CLK IN), VINL

V+ = 4.75V

0.8

CLK IN (Pin 4) Positive Going


Threshold Voltage, V+CLK

2.7

3.1

3.5

CLK IN (Pin 4) Negative Going


Threshold Voltage, V-CLK

1.5

1.8

2.1

CLK IN (Pin 4) Hysteresis, VH

0.6

1.3

2.0

Logic 1 Input Current


(All Inputs), IINHI

VlN = 5V

0.005

Logic 0 Input Current


(All Inputs), IINLO

VlN = 0V

-1

-0.005

Supply Current (Includes Ladder


Current), I+

fCLK = 640kHz,TA = 25oC


and CS = Hl

1.3

2.5

mA

lO = 1.6mA, V+ = 4.75V

0.4

DATA OUTPUTS AND INTR


Logic 0 Output Voltage, VOL

6-8

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Electrical Specifications

(Notes 1, 7) (Continued)
MIN

TYP

MAX

UNITS

Logic 1 Output Voltage, VOH

PARAMETER

lO = -360A, V+ = 4.75V

TEST CONDITIONS

2.4

Three-State Disabled Output


Leakage (All Data Buffers), ILO

VOUT = 0V

-3

Output Short Circuit Current,


ISOURCE

VOUT Short to Gnd TA = 25oC

4.5

mA

Output Short Circuit Current,


ISINK

VOUT Short to V+ TA = 25oC

9.0

16

mA

VOUT = 5V

NOTES:
1. All voltages are measured with respect to GND, unless otherwise specified. The separate AGND point should always be wired to the
DGND, being careful to avoid ground loops.
2. For VIN(-) VIN(+) the digital output code will be 0000 0000. Two on-chip diodes are tied to each analog input (see Block Diagram) which
will forward conduct for analog input voltages one diode drop below ground or one diode drop greater than the V+ supply. Be careful,
during testing at low V+ levels (4.5V), as high level analog inputs (5V) can cause this input diode to conduct - especially at elevated temperatures, and cause errors for analog inputs near full scale. As long as the analog VIN does not exceed the supply voltage by more than
50mV, the output code will be correct. To achieve an absolute 0V to 5V input voltage range will therefore require a minimum supply voltage of 4.950V over temperature variations, initial tolerance and loading.
3. With V+ = 6V, the digital logic interfaces are no longer TTL compatible.
4. With an asynchronous start pulse, up to 8 clock periods may be required before the internal clock phases are proper to start the conversion
process.
5. The CS input is assumed to bracket the WR strobe input so that timing is dependent on the WR pulse width. An arbitrarily wide pulse
width will hold the converter in a reset mode and the start of conversion is initiated by the low to high transition of the WR pulse (see
Timing Diagrams).
6. CLK IN (pin 4) is the input of a Schmitt trigger circuit and is therefore specified separately.
7. None of these A/Ds requires a zero-adjust. However, if an all zero code is desired for an analog input other than 0V, or if a narrow full scale span
exists (for example: 0.5V to 4V full scale) the VIN(-) input can be adjusted to achieve this. See the Zero Error description in this data sheet.

Timing Waveforms

2.4V

V+

tr = 20ns
tr
90%
50%

RD
RD

0.8V

DATA
OUTPUT

CS

t1H

VOH

10K

CL

10%

90%

DATA
OUTPUTS
GND

FIGURE 1A. t1H

FIGURE 1B. t1H , CL = 10pF

tr = 20ns
V+

V+

tr
2.4V
RD

10K

0.8V
RD

DATA
OUTPUT

CS

V+

CL

DATA
OUTPUTS
VOI

90%
50%
10%
t0H

10%

FIGURE 1D. t0H , CL = 10pF

FIGURE 1C. t0H

FIGURE 1. THREE-STATE CIRCUITS AND WAVEFORMS

6-9

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Typical Performance Curves
500
-55oC TO 125oC
1.7
400
DELAY (ns)

LOGIC INPUT THRESHOLD VOLTAGE (V)

1.8

1.6

1.5

300

200
1.4

100

1.3
4.50

4.75

5.00

5.25

5.50

200

V+ SUPPLY VOLTAGE (V)

FIGURE 2. LOGIC INPUT THRESHOLD VOLTAGE vs SUPPLY


VOLTAGE

1000
R = 10K

3.1

VT(+)
R = 50K
fCLK (kHz)

2.7
-55oC TO 125oC
2.3

1.9

VT(-)

1.5
4.50

4.75

5.00

R = 20K

5.25

100

5.50

10

V+ SUPPLY VOLTAGE (V)

FIGURE 4. CLK IN SCHMITT TRIP LEVELS vs SUPPLY VOLTAGE

100
CLOCK CAPACITOR (pF)

16

VIN(+) = VIN(-) = 0V

14

ASSUMES VOS = 2mV

12

THIS SHOWS THE NEED


FOR A ZERO ADJUSTMENT
IF THE SPAN IS REDUCED

OFFSET ERROR (LSBs)

V+ = 4.5V

5
4
3
V+ = 5V

1000

FIGURE 5. fCLK vs CLOCK CAPACITOR

7
FULL SCALE ERROR (LSBs)

1000

FIGURE 3. DELAY FROM FALLING EDGE OF RD TO OUTPUT


DATA VALID vs LOAD CAPACITANCE

3.5
CLK IN THRESHOLD VOLTAGE (V)

400
600
800
LOAD CAPACITANCE (pF)

10
8
6
4

1
2
V+ = 6V

0
0

400

800
1200
fCLK (kHz)

1600

0
0.01

2000

0.1

1.0

VREF/2 (V)

FIGURE 6. FULL SCALE ERROR vs fCLK

FIGURE 7. EFFECT OF UNADJUSTED OFFSET ERROR

6-10

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Typical Performance Curves

(Continued)

1.6
V+ = 5V
POWER SUPPLY CURRENT (mA)

fCLK = 640kHz

OUTPUT CURRENT (mA)

7
DATA OUTPUT
BUFFERS
6
ISOURCE
VOUT = 2.4V

-ISINK
VOUT = 0.4V

2
-50

-25

25

50

75

100

1.5
V+ = 5.5V
1.4
1.3
V+ = 5.0V
1.2

V+ = 4.5V

1.1
1.0

125

-50

-25

TA AMBIENT TEMPERATURE (oC)

FIGURE 8. OUTPUT CURRENT vs TEMPERATURE

0
25
50
75
100
TA AMBIENT TEMPERATURE (oC)

FIGURE 9. POWER SUPPLY CURRENT vs TEMPERATURE

Timing Diagrams
CS

WR
tWI
ACTUAL INTERNAL
STATUS OF THE
CONVERTER

BUSY

tW(WR)I

DATA IS VALID IN
OUTPUT LATCHES

NOT BUSY
1 TO 8 x 1/fCLK

INTERNAL TC

(LAST DATA READ)


INTR

INTR
ASSERTED

(LAST DATA NOT READ)


tVI

FIGURE 10A. START CONVERSION

INTR

CS

INTR RESET

tRI

RD

VALID
DATA

DATA
OUTPUTS
tACC

125

THREE-STATE
(HI-Z)

VALID
DATA

t1H , t0H

FIGURE 10B. OUTPUT ENABLE AND RESET INTR

6-11

1/ f
2 CLK

+1 LSB

D+1

5 6

ERROR

DIGITAL OUTPUT CODE

ADC0802, ADC0803, ADC0804

3 4

D-1

+1/2 LSB

* QUANTIZATION ERROR

-1/2 LSB

1 2

-1 LSB
A-1

A+1

A-1

ANALOG INPUT (VIN)

A+1

ANALOG INPUT (VIN)

TRANSFER FUNCTION

ERROR PLOT

+1 LSB
1

5
D+1

ERROR

DIGITAL OUTPUT CODE

FIGURE 11A. ACCURACY = 0 LSB; PERFECT A/D

3
D

QUANTIZATION
ERROR

1
D-1

4
2

-1 LSB
A-1

A+1

A-1

ANALOG INPUT (VIN)

A+1

ANALOG INPUT (VIN)

TRANSFER FUNCTION

ERROR PLOT
FIGURE 11B. ACCURACY = 1/2 LSB

FIGURE 11. CLARIFYING THE ERROR SPECS OF AN A/D CONVERTER

Understanding A/D Error Specs


A perfect A/D transfer characteristic (staircase wave-form) is
shown in Figure 11A. The horizontal scale is analog input voltage and the particular points labeled are in steps of 1 LSB
(19.53mV with 2.5V tied to the VREF/2 pin). The digital output
codes which correspond to these inputs are shown as D-1, D,
and D+1. For the perfect A/D, not only will center-value (A - 1,
A, A + 1, . . .) analog inputs produce the correct output digital
codes, but also each riser (the transitions between adjacent
output codes) will be located 1/2 LSB away from each centervalue. As shown, the risers are ideal and have no width. Correct
digital output codes will be provided for a range of analog input
voltages which extend 1/2 LSB from the ideal center-values.
Each tread (the range of analog input voltage which provides
the same digital output code) is therefore 1 LSB wide.
The error curve of Figure 11B shows the worst case transfer
function for the ADC0802. Here the specification guarantees
that if we apply an analog input equal to the LSB analog voltage center-value, the A/D will produce the correct digital code.
Next to each transfer function is shown the corresponding error
plot. Notice that the error includes the quantization uncertainty of
the A/D. For example, the error at point 1 of Figure 11A is
+1/2 LSB because the digital code appeared 1/2 LSB in advance
of the center-value of the tread. The error plots always have a

constant negative slope and the abrupt upside steps are always
1 LSB in magnitude, unless the device has missing codes.

Detailed Description
The functional diagram of the ADC0802 series of A/D
converters operates on the successive approximation principle (see Application Notes AN016 and AN020 for a more
detailed description of this principle). Analog switches are
closed sequentially by successive-approximation logic until
the analog differential input voltage [VlN(+) - VlN(-)] matches
a voltage derived from a tapped resistor string across the
reference voltage. The most significant bit is tested first and
after 8 comparisons (64 clock cycles), an 8-bit binary code
(1111 1111 = full scale) is transferred to an output latch.
The normal operation proceeds as follows. On the high-to-low
transition of the WR input, the internal SAR latches and the
shift-register stages are reset, and the INTR output will be set
high. As long as the CS input and WR input remain low, the
A/D will remain in a reset state. Conversion will start from 1 to
8 clock periods after at least one of these inputs makes a lowto-high transition. After the requisite number of clock pulses to
complete the conversion, the INTR pin will make a high-to-low
transition. This can be used to interrupt a processor, or
otherwise signal the availability of a new conversion. A RD
operation (with CS low) will clear the INTR line high again.

6-12

ADC0802, ADC0803, ADC0804


The device may be operated in the free-running mode by connecting INTR to the WR input with CS = 0. To ensure start-up
under all possible conditions, an external WR pulse is required
during the first power-up cycle. A conversion-in-process can
be interrupted by issuing a second start command.
Digital Operation
The converter is started by having CS and WR simultaneously
low. This sets the start flip-flop (F/F) and the resulting 1 level
resets the 8-bit shift register, resets the Interrupt (INTR) F/F
and inputs a 1 to the D flip-flop, DFF1, which is at the input
end of the 8-bit shift register. Internal clock signals then transfer this 1 to the Q output of DFF1. The AND gate, G1, combines this 1 output with a clock signal to provide a reset
signal to the start F/F. If the set signal is no longer present
(either WR or CS is a 1), the start F/F is reset and the 8-bit
shift register then can have the 1 clocked in, which starts the
conversion process. If the set signal were to still be present,
this reset pulse would have no effect (both outputs of the start
F/F would be at a 1 level) and the 8-bit shift register would
continue to be held in the reset mode. This allows for asynchronous or wide CS and WR signals.
After the 1 is clocked through the 8-bit shift register (which
completes the SAR operation) it appears as the input to
DFF2. As soon as this 1 is output from the shift register, the
AND gate, G2, causes the new digital word to transfer to the
Three-State output latches. When DFF2 is subsequently
clocked, the Q output makes a high-to-low transition which
causes the INTR F/F to set. An inverting buffer then supplies
the INTR output signal.
When data is to be read, the combination of both CS and RD
being low will cause the INTR F/F to be reset and the threestate output latches will be enabled to provide the 8-bit digital
outputs.
Digital Control Inputs
The digital control inputs (CS, RD, and WR) meet standard
TTL logic voltage levels. These signals are essentially equivalent to the standard A/D Start and Output Enable control signals, and are active low to allow an easy interface to
microprocessor control busses. For non-microprocessor
based applications, the CS input (pin 1) can be grounded and
the standard A/D Start function obtained by an active low
pulse at the WR input (pin 3). The Output Enable function is
achieved by an active low pulse at the RD input (pin 2).
Analog Operation
The analog comparisons are performed by a capacitive
charge summing circuit. Three capacitors (with precise ratioed
values) share a common node with the input to an autozeroed comparator. The input capacitor is switched between
VlN(+) and VlN(-) , while two ratioed reference capacitors are
switched between taps on the reference voltage divider string.
The net charge corresponds to the weighted difference
between the input and the current total value set by the successive approximation register. A correction is made to offset
the comparison by 1/2 LSB (see Figure 11A).
Analog Differential Voltage Inputs and Common-Mode
Rejection
This A/D gains considerable applications flexibility from the analog differential voltage input. The VlN(-) input (pin 7) can be used

to automatically subtract a fixed voltage value from the input


reading (tare correction). This is also useful in 4mA - 20mA current loop conversion. In addition, common-mode noise can be
reduced by use of the differential input.
The time interval between sampling VIN(+) and VlN(-) is 41/2
clock periods. The maximum error voltage due to this slight
time difference between the input voltage samples is given by:
4.5
V E ( MAX ) = (V PEAK ) ( 2f CM ) -----------f CLK

where:
VE is the error voltage due to sampling delay,
VPEAK is the peak value of the common-mode voltage,
fCM is the common-mode frequency.
For example, with a 60Hz common-mode frequency, fCM ,
and a 640kHz A/D clock, fCLK , keeping this error to 1/4 LSB
(~5mV) would allow a common-mode voltage, VPEAK , given
by:
V E ( MAX ) ( f

CLK )

V PEAK = -------------------------------------------------- ,
( 2f CM ) ( 4.5 )

or
3

( 5 10 ) ( 640 10 )
V PEAK = ---------------------------------------------------------- 1.9V .
( 6.28 ) ( 60 ) ( 4.5 )

The allowed range of analog input voltage usually places


more severe restrictions on input common-mode voltage
levels than this.
An analog input voltage with a reduced span and a relatively
large zero offset can be easily handled by making use of the
differential input (see Reference Voltage Span Adjust).
Analog Input Current
The internal switching action causes displacement currents to
flow at the analog inputs. The voltage on the on-chip capacitance to ground is switched through the analog differential
input voltage, resulting in proportional currents entering the
VIN(+) input and leaving the VIN(-) input. These current transients occur at the leading edge of the internal clocks. They
rapidly decay and do not inherently cause errors as the onchip comparator is strobed at the end of the clock perIod.
Input Bypass Capacitors
Bypass capacitors at the inputs will average these charges
and cause a DC current to flow through the output resistances
of the analog signal sources. This charge pumping action is
worse for continuous conversions with the VIN(+) input voltage
at full scale. For a 640kHz clock frequency with the VIN(+)
input at 5V, this DC current is at a maximum of approximately
5A. Therefore, bypass capacitors should not be used at
the analog inputs or the VREF/2 pin for high resistance
sources (>1k). If input bypass capacitors are necessary for
noise filtering and high source resistance is desirable to minimize capacitor size, the effects of the voltage drop across this
input resistance, due to the average value of the input current,
can be compensated by a full scale adjustment while the
given source resistor and input bypass capacitor are both in
place. This is possible because the average value of the input
current is a precise linear function of the differential input
voltage at a constant conversion rate.

6-13

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Input Source Resistance

V+
(VREF)

Large values of source resistance where an input bypass


capacitor is not used will not cause errors since the input
currents settle out prior to the comparison time. If a lowpass filter is required in the system, use a low-value series
resistor (1k) for a passive RC section or add an op amp
RC active low-pass filter. For low-source-resistance
applications (1k), a 0.1F bypass capacitor at the inputs
will minimize EMI due to the series lead inductance of a long
wire. A 100 series resistor can be used to isolate this
capacitor (both the R and C are placed outside the feedback
loop) from the output of an op amp, if used.

20

R
VREF/2

9
DIGITAL
CIRCUITS

Stray Pickup
The leads to the analog inputs (pins 6 and 7) should be kept
as short as possible to minimize stray signal pickup (EMI).
Both EMI and undesired digital-clock coupling to these inputs
can cause system errors. The source resistance for these
inputs should, in general, be kept below 5k. Larger values of
source resistance can cause undesired signal pickup. Input
bypass capacitors, placed from the analog inputs to ground,
will eliminate this pickup but can create analog scale errors as
these capacitors will average the transient input switching currents of the A/D (see Analog Input Current). This scale error
depends on both a large source resistance and the use of an
input bypass capacitor. This error can be compensated by a
full scale adjustment of the A/D (see Full Scale Adjustment)
with the source resistance and input bypass capacitor in
place, and the desired conversion rate.

AGND

10

DGND

FIGURE 12. THE VREFERENCE DESIGN ON THE IC

Reference Voltage Span Adjust

VREF
(5V)

For maximum application flexibility, these A/Ds have been


designed to accommodate a 5V, 2.5V or an adjusted voltage
reference. This has been achieved in the design of the IC as
shown in Figure 12.

ICL7611

Notice that the reference voltage for the IC is either 1/2 of the

FS
ADJ.

voltage which is applied to the V+ supply pin, or is equal to


the voltage which is externally forced at the VREF /2 pin. This
allows for a pseudo-ratiometric voltage reference using, for
the V+ supply, a 5V reference voltage. Alternatively, a voltage less than 2.5V can be applied to the VREF/2 input. The
internal gain to the VREF/2 input is 2 to allow this factor of 2
reduction in the reference voltage.
Such an adjusted reference voltage can accommodate a
reduced span or dynamic voltage range of the analog input
voltage. If the analog input voltage were to range from 0.5V to
3.5V, instead of 0V to 5V, the span would be 3V. With 0.5V
applied to the VlN(-) pin to absorb the offset, the reference
voltage can be made equal to 1/2 of the 3V span or 1.5V. The
A/D now will encode the VlN(+) signal from 0.5V to 3.5V with
the 0.5V input corresponding to zero and the 3.5V input corresponding to full scale. The full 8 bits of resolution are therefore
applied over this reduced analog input voltage range. The requisite connections are shown in Figure 13. For expanded
scale inputs, the circuits of Figures 14 and 15 can be used.

ANALOG
CIRCUITS

DECODE

SPAN/2

5V
300

TO VREF/2

+
0.1F

TO VIN(-)

ZERO SHIFT VOLTAGE

FIGURE 13. OFFSETTING THE ZERO OF THE ADC0802 AND


PERFORMING AN INPUT RANGE (SPAN)
ADJUSTMENT
5V
(VREF)
R

VIN 10V

2R

VIN(+)

V+

ADC0802ADC0804

2R
7

20
+
10F

VIN(-)

FIGURE 14. HANDLING 10V ANALOG INPUT RANGE

6-14

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Full Scale Adjust

5V
(VREF)

The full scale adjustment can be made by applying a


differential input voltage which is 11/2 LSB down from the
desired analog full scale voltage range and then adjusting
the magnitude of the VREF/2 input (pin 9) for a digital output
code which is just changing from 1111 1110 to 1111 1111.
When offsetting the zero and using a span-adjusted VREF/2
voltage, the full scale adjustment is made by inputting VMlN
to the VIN(-) input of the A/D and applying a voltage to the
VIN(+) input which is given by:

VIN 5V

VIN(+)

V+

ADC0802ADC0804
7

20
+
10F

VIN(-)

( V MAX V MIN )
V IN ( + ) f SADJ = V MAX 1.5 ----------------------------------------- ,
256

where:

FIGURE 15. HANDLING 5V ANALOG INPUT RANGE

VMAX = the high end of the analog input range,


Reference Accuracy Requirements

and

The converter can be operated in a pseudo-ratiometric mode


or an absolute mode. In ratiometric converter applications,
the magnitude of the reference voltage is a factor in both the
output of the source transducer and the output of the A/D
converter and therefore cancels out in the final digital output
code. In absolute conversion applicatIons, both the initial
value and the temperature stability of the reference voltage
are important accuracy factors in the operation of the A/D
converter. For VREF/2 voltages of 2.5V nominal value, initial
errors of 10mV will cause conversion errors of 1 LSB due
to the gain of 2 of the VREF/2 input. In reduced span applications, the initial value and the stability of the VREF/2 input
voltage become even more important. For example, if the
span is reduced to 2.5V, the analog input LSB voltage value
is correspondingly reduced from 20mV (5V span) to 10mV
and 1 LSB at the VREF/2 input becomes 5mV. As can be
seen, this reduces the allowed initial tolerance of the reference voltage and requires correspondingly less absolute
change with temperature variations. Note that spans smaller
than 2.5V place even tighter requirements on the initial accuracy and stability of the reference source.

VMIN = the low end (the offset zero) of the analog range.
(Both are ground referenced.)

In general, the reference voltage will require an initial


adjustment. Errors due to an improper value of reference
voltage appear as full scale errors in the A/D transfer function. IC voltage regulators may be used for references if the
ambient temperature changes are not excessive.

FIGURE 16. SELF-CLOCKING THE A/D

Zero Error
The zero of the A/D does not require adjustment. If the
minimum analog input voltage value, VlN(MlN) , is not ground, a
zero offset can be done. The converter can be made to output
0000 0000 digital code for this minimum input voltage by biasing the A/D VIN(-) input at this VlN(MlN) value (see Applications
section). This utilizes the differential mode operation of the A/D.
The zero error of the A/D converter relates to the location of
the first riser of the transfer function and can be measured by
grounding the VIN(-) input and applying a small magnitude
positive voltage to the VIN(+) input. Zero error is the difference
between the actual DC input voltage which is necessary to
just cause an output digital code transition from 0000 0000 to
0000 0001 and the ideal 1/2 LSB value (1/2 LSB = 9.8mV for
VREF/2 = 2.500V).

Clocking Option
The clock for the A/D can be derived from an external source
such as the CPU clock or an external RC network can be
added to provIde self-clocking. The CLK IN (pin 4) makes
use of a Schmitt trigger as shown in Figure 16.

CLK R
19
ADC0802ADC0804

R
CLK IN
C

fCLK

1
1.1 RC

R 10k

CLK

Heavy capacitive or DC loading of the CLK R pin should be


avoided as this will disturb normal converter operation.
Loads less than 50pF, such as driving up to 7 A/D converter
clock inputs from a single CLK R pin of 1 converter, are
allowed. For larger clock line loading, a CMOS or low power
TTL buffer or PNP input logic should be used to minimize the
loading on the CLK R pin (do not use a standard TTL buffer).
Restart During a Conversion
If the A/D is restarted (CS and WR go low and return high)
during a conversion, the converter is reset and a new conversion is started. The output data latch is not updated if the
conversion in progress is not completed. The data from the
previous conversion remain in this latch.
Continuous Conversions
In this application, the CS input is grounded and the WR
input is tied to the INTR output. This WR and INTR node
should be momentarily forced to logic low following a powerup cycle to insure circuit operation. See Figure 17 for details.

6-15

ADC0802, ADC0803, ADC0804


10K

signal leads. Exposed leads to the analog inputs can cause


undesired digital noise and hum pickup; therefore, shielded
leads may be necessary in many applications.

5V (VREF)

ADC0802 - ADC0804

150pF

1 CS

N.O.
START
ANALOG
INPUTS

V+ 20

2 RD

CLK R 19

3 WR

DB0 18

4 CLK IN

DB1 17

5 INTR

DB2 16

6 VIN (+)

DB3 15

7 VIN (-)

DB4 14

8 AGND

DB5 13

9 VREF/2

DB6 12

10 DGND

DB7 11

+
10F
LSB

DATA
OUTPUTS

MSB

A single-point analog ground should be used which is separate


from the logic ground points. The power supply bypass capacitor and the self-clockIng capacitor (if used) should both be
returned to digital ground. Any VREF/2 bypass capacitors, analog input filter capacitors, or input signal shielding should be
returned to the analog ground point. A test for proper grounding
is to measure the zero error of the A/D converter. Zero errors in
excess of 1/4 LSB can usually be traced to improper board
layout and wiring (see Zero Error for measurement). Further
information can be found in Application Note AN018.

Testing the A/D Converter


There are many degrees of complexity associated with testing
an A/D converter. One of the simplest tests is to apply a
known analog input voltage to the converter and use LEDs to
display the resulting digital output code as shown in Figure 18.

FIGURE 17. FREE-RUNNING CONNECTION

Driving the Data Bus


This CMOS A/D, like MOS microprocessors and memories,
will require a bus driver when the total capacitance of the
data bus gets large. Other circuItry, which is tied to the data
bus, will add to the total capacitive loading, even in threestate (high-impedance mode). Back plane busing also
greatly adds to the stray capacitance of the data bus.
There are some alternatives available to the designer to handle this problem. Basically, the capacitive loading of the data
bus slows down the response time, even though DC specifications are still met. For systems operating with a relatively
slow CPU clock frequency, more time is available in which to
establish proper logic levels on the bus and therefore higher
capacitive loads can be driven (see Typical Performance
Curves).
At higher CPU clock frequencies time can be extended for
I/O reads (and/or writes) by inserting wait states (8080) or
using clock-extending circuits (6800).
Finally, if time is short and capacitive loading is high,
external bus drivers must be used. These can be three-state
buffers (low power Schottky is recommended, such as the
74LS240 series) or special higher-drive-current products
which are designed as bus drivers. High-current bipolar bus
drivers with PNP inputs are recommended.

For ease of testing, the VREF/2 (pin 9) should be supplied


with 2.560V and a V+ supply voltage of 5.12V should be
used. This provides an LSB value of 20mV.
If a full scale adjustment is to be made, an analog input voltage of 5.090V (5.120 - 11/2 LSB) should be applied to the
VIN(+) pin with the VIN(-) pin grounded. The value of the
VREF/2 input voltage should be adjusted until the digital output code is just changing from 1111 1110 to 1111 1111. This
value of VREF/2 should then be used for all the tests.
The digital-output LED display can be decoded by dividing the 8
bits into 2 hex characters, one with the 4 most-significant bits
(MS) and one with the 4 least-significant bits (LS). The output is
then interpreted as a sum of fractions times the full scale voltage:
MS LS
VO UT = --------- + ---------- ( 5.12 )V .
16 256
10k
150pF
1

N.O.
START
VIN (+)

Noise spikes on the V+ supply line can cause conversion


errors as the comparator will respond to this noise. A
low-inductance tantalum filter capacitor should be used
close to the converter V+ pin, and values of 1F or greater
are recommended. If an unregulated voltage is available in
the system, a separate 5V voltage regulator for the converter
(and other analog circuitry) will greatly reduce digital noise
on the V+ supply. An lCL7663 can be used to regulate such
a supply from an input as low as 5.2V.
Wiring and Hook-Up Precautions
Standard digital wire-wrap sockets are not satisfactory for
breadboarding with this A/D converter. Sockets on PC
boards can be used. All logic signal wires and leads should
be grouped and kept as far away as possible from the analog

19

18

17

Power Supplies

0.1F
AGND

2.560V
VREF/2
0.1F

20

ADC0802ADC0804

5.120V
10F
TANTALUM
LSB

16
15

14

13

12

10

11

DGND

5V

MSB
1.3k LEDs
(8)
(8)

FIGURE 18. BASIC TESTER FOR THE A/D

For example, for an output LED display of 1011 0110, the


MS character is hex B (decimal 11) and the LS character is
hex (and decimal) 6, so:
11
6
VO UT = ------ + ---------- ( 5.12 ) = 3.64V .
16 256

6-16

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Interfacing the Z-80 and 8085

Figures 19 and 20 show more sophisticated test circuits.


8-BIT
A/D UNDER
TEST

VANALOG OUTPUT

10-BIT
DAC

R
R
B

ANALOG
INPUTS

A1

R
100R
R

A2

100X ANALOG
ERROR VOLTAGE

Additional I/O advantages exist as software DMA routines are


available and use can be made of the output data transfer
which exists on the upper 8 address lines (A8 to A15) during
I/O input instructions. For example, MUX channel selection for
the A/D can be accomplished with this operating mode.

FIGURE 19. A/D TESTER WITH ANALOG ERROR OUTPUT. THIS


CIRCUIT CAN BE USED TO GENERATE ERROR
PLOTS OF FIGURE 11.
DIGITAL
INPUTS
10-BIT
DAC

The 8085 also provides a generalized RD and WR strobe, with


an IO/M line to distinguish I/O and memory requests. The circuit
of Figure 22 can again be used, with IO/M in place of IORQ for
a memory-mapped interface, and an extra inverter (or the logic
equivalent) to provide IO/M for an I/O-mapped connection.

DIGITAL
OUTPUTS

VANALOG

The Z-80 and 8085 control buses are slightly different from
that of the 8080. General RD and WR strobes are provided
and separate memory request, MREQ, and I/O request,
IORQ, signals have to be combined with the generalized
strobes to provide the appropriate signals. An advantage of
operating the A/D in I/O space with the Z-80 is that the CPU
will automatically insert one wait state (the RD and WR
strobes are extended one clock period) to allow more time
for the I/O devices to respond. Logic to map the A/D in I/O
space is shown in Figure 22. By using MREQ in place of
IORQ, a memory-mapped configuration results.

A/D UNDER
TEST

Interfacing 6800 Microprocessor Derivatives (6502, etc.)

FIGURE 20. BASIC DIGITAL A/D TESTER

Typical Applications
Interfacing 8080/85 or Z-80 Microprocessors
This converter has been designed to directly interface with
8080/85 or Z-80 Microprocessors. The three-state output
capability of the A/D eliminates the need for a peripheral
interface device, although address decoding is still required
to generate the appropriate CS for the converter. The A/D
can be mapped into memory space (using standard memory-address decoding for CS and the MEMR and MEMW
strobes) or it can be controlled as an I/O device by using the
I/OR and I/OW strobes and decoding the address bits A0
A7 (or address bits A8 A15, since they will contain the
same 8-bit address information) to obtain the CS input.
Using the I/O space provides 256 additional addresses and
may allow a simpler 8-bit address decoder, but the data can
only be input to the accumulator. To make use of the additional memory reference instructions, the A/D should be
mapped into memory space. See AN020 for more discussion of memory-mapped vs I/O-mapped interfaces. An
example of an A/D in I/O space is shown in Figure 21.

The control bus for the 6800 microprocessor derivatives does


not use the RD and WR strobe signals. Instead it employs a
single R/W line and additional timing, if needed, can be derived
from the 2 clock. All I/O devices are memory-mapped in the
6800 system, and a special signal, VMA, indicates that the current address is valid. Figure 23 shows an interface schematic
where the A/D is memory-mapped in the 6800 system. For simplicity, the CS decoding is shown using 1/2 DM8092. Note that
in many 6800 systems, an already decoded 4/5 line is brought
out to the common bus at pin 21. This can be tied directly to the
CS pin of the A/D, provided that no other devices are
addressed at HEX ADDR: 4XXX or 5XXX.
In Figure 24 the ADC0802 series is interfaced to the MC6800
microprocessor through (the arbitrarily chosen) Port B of the
MC6820 or MC6821 Peripheral Interface Adapter (PlA). Here
the CS pin of the A/D is grounded since the PlA is already
memory-mapped in the MC6800 system and no CS decoding
is necessary. Also notice that the A/D output data lines are connected to the microprocessor bus under program control
through the PlA and therefore the A/D RD pin can be grounded.

Application Notes

The standard control-bus signals of the 8080 (CS, RD and


WR) can be directly wired to the digital control inputs of the
A/D, since the bus timing requirements, to allow both starting
the converter, and outputting the data onto the data bus, are
met. A bus driver should be used for larger microprocessor
systems where the data bus leaves the PC board and/or
must drive capacitive loads larger than 100pF.
It is useful to note that in systems where the A/D converter is
1 of 8 or fewer I/O-mapped devices, no address-decoding
circuitry is necessary. Each of the 8 address bits (A0 to A7)
can be directly used as CS inputs, one for each I/O device.

6-17

NOTE #

DESCRIPTION

AnswerFAX
DOC. #

AN016

Selecting A/D Converters

9016

AN018

Dos and Donts of Applying A/D


Converters

9018

AN020

A Cookbook Approach to High Speed


Data Acquisition and Microprocessor
Interfacing

9020

AN030

The ICL7104 - A Binary Output A/D


Converter for Microprocessors

9030

ADC0802, ADC0803, ADC0804

INT (14)
I/O WR (27) (NOTE)
I/O RD (25) (NOTE)
10K
ADC0802 - ADC0804

ANALOG
INPUTS
150pF

1 CS

V+ 20

2 RD

CLK R 19

5V

+
10F

3 WR

DB0 18 LSB

4 CLK IN

DB1 17

DB1 (16) (NOTE)

5 INTR

DB2 16

DB2 (11) (NOTE)

6 VIN (+)

DB3 15

DB3 (9) (NOTE)

7 VIN (-)

DB4 14

DB4 (5) (NOTE)

8 AGND

DB5 13

DB5 (18) (NOTE)

9 VREF/2

DB6 12

10 DGND

DB7 11

DB0 (13) (NOTE)

DB6 (20) (NOTE)


MSB

DB7 (7) (NOTE)

5V

OUT

V+

B5

AD15 (36)

B4

AD14 (39)

B3

AD13 (38)

B2

AD12 (37)

T1

B1

AD11 (40)

T0

B0

AD10 (1)

T5
T4
T3
T2

8131
BUS
COMPARATOR

NOTE: Pin numbers for 8228 System Controller: Others are 8080A.
FIGURE 21. ADC0802 TO 8080A CPU INTERFACE

6-18

ADC0802, ADC0803, ADC0804


IRQ (4) [D]

R/W (34) [6]


10K
+

ADC0802 - ADC0804

RD

RD

ANALOG
INPUTS

IORQ

ADC0802ADC0804
150pF

V+ 20

2 RD

CLK R 19

10F
ABC
5V (8) 1 2 3

3 WR

DB0 18 LSB

D0 (33) [31]

4 CLK IN

DB1 17

D1 (32) [29]

5 INTR

DB2 16

D2 (31) [K]

6 VIN (+)

DB3 15

D3 (30) [H]

7 VIN (-)

DB4 14

D4 (29) [32]

8 AGND

DB5 13

D5 (28) [30]

9 VREF/2

DB6 12

10 DGND

WR

WR

1 CS

DB7 11

D6 (27) [L]
MSB

D7 (26) [J]

3
1

74C32

A12 (22) [34]

2
6

1/ DM8092
2

A13 (23) [N]


A14 (24) [M]

A15 (25) [33]

VMA (5) [F]

Numbers in parentheses refer to MC6800 CPU Pinout.


Numbers or letters in brackets refer to standard MC6800 System Common Bus Code.

FIGURE 22. MAPPING THE A/D AS AN


I/O DEVICE FOR USE
WITH THE Z-80 CPU

FIGURE 23. ADC0802 TO MC6800 CPU INTERFACE

18
19

CB1
CB2

10K
ADC0802 - ADC0804

ANALOG
INPUTS

150pF

1 CS

V+ 20

2 RD

CLK R 19

MC6820
(MCS6520)
5V
PIA

3 WR

DB0 18 LSB

10

PB0

4 CLK IN

DB1 17

11

PB1

5 INTR

DB2 16

12

PB2

6 VIN (+)

DB3 15

13

PB3

7 VIN (-)

DB4 14

14

PB4

8 AGND

DB5 13

15

PB5

9 VREF/2

DB6 12

16

PB6

17

PB7

10 DGND

DB7 11

MSB

FIGURE 24. ADC0802 TO MC6820 PIA INTERFACE

6-19

ADC0802, ADC0803, ADC0804


Die Characteristics
DIE DIMENSIONS:

PASSIVATION:

(101 mils x 93 mils) x 525m x 25m

Type: Nitride over Silox


Nitride Thickness: 8k
Silox Thickness: 7k

METALLIZATION:
Type: Al
Thickness: 10k 1k

Metallization Mask Layout


ADC0802, ADC0803, ADC0804
AGND

VIN (-)

VIN (+)

INTR

CLK IN
WR

VREF/2
RD
DGND
CS
DB7 (MSB)

DB6
V+ OR VREF

V+ OR VREF
DB5

CLK R
DB4

DB3

DB2

DB1

6-20

DB0

SN54/74LS48
BCD TO 7-SEGMENT
DECODER
The SN54 / 74LS48 is a BCD to 7-Segment Decoder consisting of NAND
gates, input buffers and seven AND-OR-INVERT gates. Seven NAND gates
and one driver are connected in pairs to make BCD data and its complement
available to the seven decoding AND-OR-INVERT gates. The remaining
NAND gate and three input buffers provide lamp test, blanking input/rippleblanking input for the LS48.
The circuit accepts 4-bit binary-coded-decimal (BCD) and, depending on
the state of the auxiliary inputs, decodes this data to drive other components.
The relative positive logic output levels, as well as conditions required at the
auxiliary inputs, are shown in the truth tables.
The LS48 circuit incorporates automatic leading and / or trailing edge
zero-blanking control (RBI and RBO). Lamp Test (LT) may be activated any
time when the BI / RBO node is HIGH. Both devices contain an overriding
blanking input (BI) which can be used to control the lamp intensity by varying
the frequency and duty cycle of the BI input signal or to inhibit the outputs.
Lamp Intensity Modulation Capability (BI/RBO)
Internal Pull-Ups Eliminate Need for External Resistors
Input Clamp Diodes Eliminate High-Speed Termination Effects
CONNECTION DIAGRAM DIP (TOP VIEW)
VCC
16

15

14

13

12

11

10

BCD TO 7-SEGMENT
DECODER
LOW POWER SCHOTTKY

J SUFFIX
CERAMIC
CASE 620-09
16
1

N SUFFIX
PLASTIC
CASE 648-08

16
1

D SUFFIX
SOIC
CASE 751B-03

16
1

LT BI / RBO RBI

GND

ORDERING INFORMATION
SN54LSXXJ
SN74LSXXN
SN74LSXXD

LOGIC DIAGRAM

Ceramic
Plastic
SOIC

LOGIC SYMBOL

7 1 2 6 3 5

b
B
INPUT
C

SN54 / 74LS48

BLANKING INPUT OR
RIPPLE-BLANKING
OUTPUT

RIPPLE-BLANKING
INPUT
LAMP-TEST
INPUT

A B C D LT RBI

c
OUTPUT

13 12 11 10 9 15 14 4

FAST AND LS TTL DATA


5-1

b c d

BI/
f g RBO

VCC = PIN 16
GND = PIN 8

SN54/74LS48
PIN NAMES

LOADING (Note a)
LOW

HIGH
A, B, C, D
RBI
LT
BI / RBO

0.5 U.L.
0.5 U.L.
0.5 U.L.
0.5 U.L.
1.2 U.L.
0.5 U.L.
Open-Collector

BCD Inputs
Ripple-Blanking (Active Low) Input
Lamp-Test (Active Low) Input
Blanking Input or RippleBlanking Output (Active Low)
Blanking (Active Low) Input

BI

0.25 U.L.
0.25 U.L.
0.25 U.L.
0.75 U.L.
2(1) U.L.
0.25 U.L.
3.75 (1.25) U.L. (48)

NOTES:
a) Unit Load (U.L.) = 40 A HIGH / 1.6 mA LOW
b) Outut current measured at VOUT = 0.5 V
Output LOW drive factor is SN54LS / 74LS48: 1.25 U.L. for Military (54), 3.75 U.L. for Commercial (74).

10

11 12

13

14

15

NUMERICAL DESIGNATIONS RESULTANT DISPLAYS

TRUTH TABLE
SN54 / 74LS48
INPUTS

OUTPUTS

DECIMAL
OR
FUNCTION

LT

RBI

B A

BI / RBO

NOTE

H H

H H

NOTES:
(1) BI/RBO is wired-AND logic serving as blanking input (BI) and/or
ripple-blanking output (RBO). The blanking out (BI) must be open
or held at a HIGH level when output functions 0 through 15 are
desired, and ripple-blanking input (RBI) must be open or at a HIGH
level if blanking of a decimal 0 is not desired. X=input may be HIGH
or LOW.
(2) When a LOW level is applied to the blanking input (forced condition)
all segment outputs go to a LOW level, regardless of the state of any
other input condition.
(3) When ripple-blanking input (RBI) and inputs A, B, C, and D are at
LOW level, with the lamp test input at HIGH level, all segment
outputs go to a HIGH level and the ripple-blanking output (RBO)
goes to a LOW level (response condition).
(4) When the blanking input/ripple-blanking output (BI/RBO) is open or
held at a HIGH level, and a LOW level is applied to lamp-test input,
all segment outputs go to a LOW level.

10

11

H H

12

13

14

15

H H

BI

RBI

LT

FAST AND LS TTL DATA


5-2

SN54/74LS48
GUARANTEED OPERATING RANGES
Symbol

Parameter

Min

Typ

Max

Unit

VCC

Supply Voltage

54
74

4.5
4.75

5.0
5.0

5.5
5.25

TA

Operating Ambient Temperature Range

54
74

55
0

25
25

125
70

IOH

Output Current High

a to g

54, 74

100

IOH

Output Current High

BI / RBO

54, 74

50

IOL

Output Current Low

a to g

54
74

2.0
6.0

mA

IOL

Output Current Low

BI / RBO
BI / RBO

54
74

1.6
3.2

mA

DC CHARACTERISTICS OVER OPERATING TEMPERATURE RANGE (unless otherwise specified)


Limits
S b l
Symbol

P
Parameter

Min

VIH

Input HIGH Voltage

VIL

Input LOW Voltage

VIK

Input Clamp Diode Voltage

VOH

Output HIGH Voltage

24
2.4

IO

Output Current a to g

1.3

VOL

Output LOW Voltage a to g

VOL

Output
p LOW Voltage
g
BI / RBO

IIH

Input
p HIGH Current
(Except BI / RBO)

IIL

Typ

Max

U i
Unit

T
Test
C
Conditions
di i

Guaranteed Input HIGH Voltage for


All Inputs

Guaranteed Input
p LOW Voltage
g for
All Inputs

VCC = MIN, IIN = 18 mA

42
4.2

VCC = MIN,, IOH = 50 A,


,
VIN = VIH or U.L. per Truth Table

2.0

mA

VCC = MIN, VO = 0.85 V


Input Conditioner as for VOH

2.0
54

0.7

74

0.8
1.5

54, 74

0.4

IOL = 2.0 mA

74

0.5

IOL = 6.0 mA

54, 74

0.4

IOL = 1.6 mA

74

0.5

IOL = 3.2 mA

VCC = MIN,, VIH = 2.0 V


VIL = VIL MAX
VCC = MAX,, VIH = 2.0 V
VIL = VIL MAX

20

VCC = MAX, VIN = 2.7 V

0.1

mA

VCC = MAX, VIN = 7.0 V

Input LOW Current


(Except BI / RBO)

0.4

mA

VCC = MAX, VIN = 0.4 V

IIL

Input LOW Current BI / RBO

1.2

mA

VCC = MAX, VIN = 0.4 V

ICC

Power Supply Current

38

mA

VCC = MAX

IOS

Short Circuit Current BI / RBO (Note 1)

2.0

mA

VCC = MAX

25
0.3

Note 1: Not more than one output should be shorted at a time, nor for more than 1 second.

AC CHARACTERISTICS (VCC = 5.0 V, TA = 25C)


Limits
S b l
Symbol

Max

U i
Unit

tPHL

Propagation Delay Time, HIGH-to-LOW


Level Output from A Input

P
Parameter

100

ns

tPLH

Propagation Delay Time, LOW-to-HIGH


Level Output from A Input

100

ns

tPHL

Propagation Delay Time, HIGH-to-LOW


Level Output from RBI Input

100

ns

tPLH

Propagation Delay Time, LOW-to-HIGH


Level Output from RBI Input

100

ns

Min

Typ

T
Test
C
Conditions
di i

pF RL = 4.0
4 0 k
CL = 15 pF,

pF RL = 6.0
6 0 k
CL = 15 pF,

FAST AND LS TTL DATA


5-3

Anda mungkin juga menyukai