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LABORATORIO DE FSICA N7

INTERFERMETRO DE MICHELSON-MORLEY

DIEGO MIGUEL BARRETO SOLER


DUVIS ALEJANDRO GMEZ NEIRA
CARLOS DUVAN NUNCIRA MARTINEZ

UNIVERSIDAD PEDAGGICA Y TECNOLGICA DE COLOMBIA


FACULTAD DE INGENIERA
TUNJA
2016

Interfermetro de Michelson-Morley
Objetivo General:
-

Estudiar experimentalmente el principio de superposicin de las ondas


electromagnticas e interpretar el fenmeno de interferencia de la luz.

Objetivos Especficos:
-

Comprender el montaje experimental del experimento de Michelson-Morley.


Utilizar el interfermetro de Michelson para la determinacin de la longitud
de onda de la luz lser empleada.

Marco terico
-

Interferencia

La interferencia es un fenmeno en el que dos o ms ondas se superponen para


formar una onda resultante de mayor o menor longitud. El efecto de interferencia
puede ser observado en cualquier tipo de ondas, como luz, radio, sonido, ondas
en la superficie del agua, etc.1
-

Interfermetro de Michelson

El interfermetro de Michelson utiliza la separacin de un haz de luz para producir


interferencia. Los dos haces, separados por una interface semireflectora, recorren
caminos pticos distintos: uno de referencia, Ojo, y otro de prueba, el cual permite
medir diminutas diferencias de camino ptico. Los dos haces son nuevamente
superpuestos por la misma interface, para producir un patrn de interferencia.

1 Fenmenos ondulatorios. Recursostic educacin. Consultado el 20 de Abril, 2016. En


lnea. Disponible en:
(http://recursostic.educacion.es/secundaria/edad/4esofisicaquimica/4quincena11/4q11_
contenidos_2d.htm)

El montaje 1 muestra un diagrama de un interfermetro de Michelson. El haz de


luz laser atraviesa el separador de haz, el cual refleja el 50 % de la luz incidente y
transmite el otro 50 %. As, el haz original se divide en dos haces. Un haz se
transmite hacia el espejo mvil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2.
Ambos espejos reflejan la luz hacia atrs, hacia el separador del haz. La mitad de
la luz procedente de M1 se refleja desde el separador hacia la pantalla y la mitad
de la luz procedente de M2 se transmite a travs del separador del haz hacia la
pantalla. De esta forma, el haz original de luz se separa y parte de los haces
resultantes se vuelven a reunir. Puesto que los haces proceden de la misma
fuente, sus fases estn correlacionadas. Cuando se coloca una lente entre la
fuente de luz y el separador, el haz se dispersa y en la pantalla se observa un
patrn de interferencia de anillos brillantes (en fase) alternados con anillos oscuros
(desfases de media longitud de onda).

Ya que los dos haces de luz que interfieren proceden del mismo haz inicial,
inicialmente estaban en fase. Su fase relativa, cuando se encuentran en cualquier
punto de la pantalla de observacin depende, por tanto, de la diferencia en la
longitud de sus caminos pticos cuando alcanzan ese punto:

La diferencia de fase y la diferencia de caminos son directamente proporcionales.


Moviendo M1 en una cantidad x, se est cambiando la longitud de camino ptico
para el haz que se refleja en este en una cantidad L de 2x. Este cambio hace
que la diferencia de fase de los haces cambie y el patrn de interferencia se
mueva. Cada vez que esta diferencia de camino sea un nmero entero de la
longitud de onda el patrn volver a la forma original. As se establece una

relacin para el desplazamiento del espejo mvil y el cambio entre N posiciones


indistinguibles del patrn de interferencia dada por

Obedeciendo el principio de superposicin, la intensidad media est dada por

Interfermetro y medidas del ndice de refraccin

Como ya se mencion, las caractersticas del patrn de interferencia producido por


el interfermetro de Michelson dependen de la relacin de fase entre los dos
haces a interferir.
Hay dos formas de cambiar la relacin de fase. La primera, consiste en cambiar la
distancia que recorre uno de los dos haces. La segunda consiste en cambiar el
medio a travs del cual viaja uno, o los dos haces. El segundo mtodo se emplea
para medir el ndice de refraccin del aire.
Para radiacin electromagntica de una frecuencia especfica, la longitud de onda
vara de acuerdo a la expresin

donde

corresponde a la longitud de onda de la radiacin en el vaco y n al

ndice de refraccin del medio en el cual la radiacin se est propagando. Para


presiones razonablemente bajas, el ndice de refraccin de un gas varia
linealmente con la presin del gas. En el vaco, donde la presin es prcticamente
nula, el ndice de refraccin es 1.

En un experimento de interferometra empleado para analizar el ndice de


refraccin de un medio, el haz de luz viaja de ida y vuelta hacia uno de los espejos
en el interfermetro, por lo que pasa dos veces a travs de un medio de ndice de
refraccin diferente de 1. As fuera de este medio, el camino ptico recorrido por
los dos haces a interferir no cambia a lo largo del experimento. Sin embargo, en el
medio a analizar, la longitud de onda de la radiacin es ms larga a medida que la
presin en el medio se reduce. A medida que el haz de luz pase por el medio de
anlisis exhibir menos oscilaciones dentro del medio (es decir, "menos longitudes
de onda"), hecho que se manifestar en la produccin del patrn de interferencia.

Resumen
Se ubic la base del interfermetro de tal manera que el tornillo micromtrico
apuntara al cuerpo de la persona que manipul el instrumento. El lser con el que
se trabaj se ubic a la izquierda de la base, apuntando de forma perpendicular a
la base del interfermetro. Se utiliz una lente convergente entre el interfermetro
y el lser de modo que se magnificara el patrn de interferencia. Una lente
convergente de longitud focal 50 mm.
La posicin del lser se ajust de tal manera que el rayo de incidencia ira en la
misma direccin que el rayo reflejado por el espejo plano. Los espejos se
graduaron para que los haces de luz reflejados en la pantalla de observacin se
superpusieran para lograr la interferencia deseada. Cuando se visualizaron
claramente las imgenes reflejadas por los dos espejos, se realiz un fijo ajuste de
M1, como en la figura 1.
A medida que se giraba lentamente el tornillo micromtrico se contaban los anillos
que iban apareciendo en la pantalla de observacin. Nmero (N) de franjas
brillantes u oscuras que van apareciendo al realizar esta operacin. Se tomaron
los datos de

y el nmero N de anillos que aparecan, estos datos se

encuentran relacionados en la tabla 1. El interfermetro de michelson emitiendo


las imgenes de interferencia se encuentra reflejado en el montaje 1.

Montajes

Montaje 1: Interfermetro de Michelson emitiendo imgenes de interferencia.


Figuras

Figura 1: Esquema del dispositivo interfermetro de Michelson

Materiales
Laser

Interfermetro demostrativo

Lente convergente de longitud


focal 50 mm

Soportes

Cuidados del montaje.


Interfermetro demostrativo
o Tomar la precaucin que el espejo 2 est bien ajustado de manera

que permita observar el patrn de interferencia.


Laser
o No golpear, ni interrumpir o modificar la trayectoria del haz con otro
elemento que no sea el interfermetro de Michelson

Tabla de datos

N
0,06
0,07
0,11
0,03
2,24

10
11
9
7
14

Tabla 1.
Grficas

x Vs N
2.5
2
1.5
x

f(x) = 0.31x - 2.67


R = 0.68

1
0.5
0
0

10

12

14

16

Grafica 1
y = 0,3107x 2,6676
Pendiente: 0,3107 m

Anlisis de datos
Acorde a los datos tomados en el laboratorio, se puede llegar a determinar la
longitud de onda del lser que se obtiene de la grfica 1, es as que la pendiente
nos indica el valor de m= /2.
Es as que m=0,3107, de esta manera se puede concluir que la onda posee como
longitud de 0,6214 m.

Igualmente se puede llegar a determinar el porcentaje de error en la determinacin


de la longitud verdadera del lser, sabiendo que el lser es de 685 nm, que
haciendo las respectivas conversiones es de valor de 0,685 m. Tomando ese
valor como terico decimos que:
%Error=

Valor teoricovalor experimental


100
Valor teorico

%Error=

0,6850,6214
100
0,685

%Error=9,28

Podemos ver que ese valor de error que se lleg a una medida ms menos
cercana del valor terico. Es as que podemos observar que todo el grado de
imprecisin est determinado por factores externos como el ndice del aire, la
intensidad de corriente as como la limpieza de los cristales con los que funciona
el interfermetro.
Para ayudarnos al anlisis de resultados responderemos a las preguntas:
Cmo se puede mejorar la determinacin experimental de la longitud de onda de
la luz producida por la luz del lser empleado?
Cmo a travs del procedimiento realizado se puede realizar una calibracin del
micrmetro que regula la posicin del espejo mvil?
Cuestionario
1. Cmo se compara el valor de obtenido con las especificaciones del lser
empleado?
2. Cmo se puede mejorar la determinacin experimental de la longitud de
onda de la luz producida por el lser empleado?
Una de ellas eliminando las variables contaminantes como son el aire, los
mesones inestables, as como los movimientos bruscos, tambin podemos

eliminar las impurezas de los espejos utilizados. Otra de las causas es debido
al carcter subjetivo de medida, as que una sola medicin no es suficiente se
debe realizar varias, y adems de ellos

un promedio como la desviacin

estndar respectiva que pueda formarse.

3. Si se conoce la longitud de onda de la luz producida por el lser empleado,


Cmo a travs del procedimiento realizado se puede realizar una
calibracin del micrmetro que regula la posicin del espejo mvil?
El micrmetro se puede calibrar por medio de llegar a los momentos donde los
cambios es decir X llegue a representar el mismo valor de la onda siguiendo X
= /2.
4. Cmo se emplea el procedimiento realizado en la medida de
desplazamientos dinmicos pequeos?

Conclusiones

Se estableci las diferentes causas de error en la determinacin de la longitud

de onda.
Son necesarias ms mediciones de X y de nmeros de anillos.
Es necesario determinar o aproximar los errores atmosfricos que intervengan

en los aparatos pticos.


Como vimos en la grfica 1 el comportamiento de los anillos con respecto a los
X es lineal respetando las ecuaciones de la parte terica.

Bibliografa

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