Anda di halaman 1dari 2

Tamie Widjaya

1406552566
kelompok
Perbedaan Prinsip XRD, XRF, dan EDS
XRD
XRD atau X-Ray Diffraction merupakan suatu alat yang digunakan untuk
menganalisis sistem kristal pada material yang diuji. XRD dapat memberikan
informasi mengenai jenis struktur, parameter kisi, susunan atom yang berbeda
pada kristal. Prinsip kerja dari XRD ini menggunakan difraksi sinar X yang
dihamburkan oleh sudut Kristal material yang diuji. Komponen utama pada XRD
ini terdiri dari tabung katoda, sampel holder dan detektor. XRD akan memberikan
data difraksi dan juga kuantitasi intensitas difraksi pada sudut dari suatu bahan.
Setiap pola yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang Kristal yang
memiliki orientasi tertentu. Berkas sinar-X yang dihamburkan ada yang saling
menghilangkan dan saling menguatkan. Selain dari kelebihan XRD diatas,
pastinya XRD juga mempunyai kekurangan, yaitu tidak dapat digunakan untuk
analisa kuantitatif, sehingga XRD tidak dapat kita gunakan untuk menghitung
jumlah dan kadar dari mineral-mineral tersebut. Biasanya, XRD digunakan untuk
menghitung analisa jumlah yang tidak harus akurat.
XRF
XRF merupakan suatu alat yang digunakan untuk menganalisa komposisi
kimia dan juga konsentrasi unsur-unsur yang terkandung dalam material dengan
menggunakan metode spektometri. XRF hampir sama dengan XRD, tetapi
bedanya XRF dapat mengukur secara kualitatif dan juga kuantitatif. Analisa
menggunakan XRF dilakukan berdasarkan dengan identifikasi dan pencacahan
karakteristik sinar-X yang terjadi akibat adanya efek fotolistrik. Elektron dikulit
yang lebih dalam (kulit K) akan terpental keluar dari atom karena adanya sinar-X
yang datang, maka dari itu terjadi kekosongan atau vacancy elektron. Lalu, karena
terjadi kekosongan pada kulit K, elektron pada kulit L dan M takan turun disertai
dengan emisi sinar X yang khas sehingga hal tersebut mengakibatkan kekosongan
pada kulit L dan M. Ketika terjadi kekosongan pada kulit L, maka elektron pada
kulit M dan N akan turun dengan disertai sinar-X. Spektometri XRF
memanfaatkan sinar X yang dipancarkan oleh bahan yang selanjutnya ditangkap

Tamie Widjaya
1406552566
kelompok
oleh detektor untuk dianalisis kandungan unsur dalam material tersebut. XRF
mempunyai kelebihan, yaitu cukup mudah, murah, analisanya cepat,
EDS (Energy Dispresion X-ray Spectroscopy)
EDS merupakan suatu teknik analisa yang digunakan untuk menganalisis
unsur atau karakterisasi kimia dari material. EDS merupakan salah satu variasi
dari XRF yang mengandalkan penyelidikan sampel melalui interaksi antara radiasi
elektromagnetik dan material. Pada EDF, kita akan menganalisa sinar-X yang
diemisikan oleh material sebagai respon terhadap tumbukan dari partikel
bermuatan. Kemampuan karakterisasi EDF bergantung kepada setiap atom,
seperti yang kita ketahui bahwa setiap atom pastinya memiliki bentuk yang unik
sehingga, dengan diberikannya sinar-X bentuk-bentuk dari atom tersebut akan
teridentifikasi dan berbeda satu dengan yang lainnya. Kelebihan dari EDF ialah ia
dapat digunakan untuk menganalisa komponen utama, produk maupun
penambahan aditif yang jumlahnya kecil. Prinsip kerja dari EDS ini ialah dengan
cara menggunakan detector EDS. Detector ini akan mengukur emisi abudance
relatif sinar-x. Untuk dapat melihat karakteristtik dari sampel, kita harus
memfokuskan sinar-X ke sampel. Detektor yang umum

digunakan adalah

lithium-drifted silikon. Saat sinar-x menumbuk detector terjadilah charge pulse


yang sebanding dengan energi dari sinar-x. Nilai charge pulse yang telah
diperoleh akan dikonversikan menjadi tegangan. Lalu nilai dari tegangan tersebut
akan diurutkan di multichannel analyzer. Untuk setiap tumbukan yang terjadi akan
dikirimkan ke komputer, sehingga kita dapat mengidentifikasi komposisi unsur
yang terdapat pada material tersebut.
Referensi:
Smallman, R., & Bishop, R. (1999). Modern Physics Metallurgy and
Materials Engineering. Oxford: Butterworth-Heinemann.
Callister, William D. (2007) Material science and Engineering and
Introduction, eight edition. United State of America: John Wiley & Sons,
inc.