See

discussions, stats, and author profiles for this publication at: https://www.researchgate.net/publication/267337266

Une Nouvelle Approche de Vieillissement

Acclr pour l'Optimisation de la Fiabilit des
Cellules Photovoltaques sous Concentration
Conference Paper July 2014
DOI: 10.13140/2.1.4348.9289

CITATIONS

READS

247

12 authors, including:
Ioannis (John) A Tsanakas

Alexis Vossier

Atomic Energy and Alternative Energies Co

French National Centre for Scientific Resea

24 PUBLICATIONS 51 CITATIONS

21 PUBLICATIONS 175 CITATIONS

SEE PROFILE

SEE PROFILE

Bruno Levrier

Richard Ars

Bruno Levrier Expertises

Universit de Sherbrooke

31 PUBLICATIONS 26 CITATIONS

133 PUBLICATIONS 503 CITATIONS

SEE PROFILE

SEE PROFILE

Some of the authors of this publication are also working on these related projects:

consultant engineer in reliability field View project

All in-text references underlined in blue are linked to publications on ResearchGate,

letting you access and read them immediately.

Available from: Ioannis (John) A Tsanakas

Retrieved on: 07 October 2016

Journes Nationales sur l'nergie Solaire

8 au 10 juillet 2014 Campus universit Perpignan
UNE NOUVELLE APPROCHE DE VIEILLISSEMENT ACCELERE POUR L'OPTIMISATION
DE LA FIABILITE DES CELLULES PHOTOVOLTAIQUES SOUS CONCENTRATION
Carolyn CARRIERE *a , John A. TSANAKAS *a , Mathieu SICRE a , Rachid ELOUAMARI a , Alexis VOSSIER a
Jean-Edouard DE SALINS b , Laurent BECHOU c , Bruno LEVRIER c , Arnaud PERONA d, Richard ARES e,
Vincent AIMEZ e, Alain DOLLET *d
Laboratoire PROMES, CNRS, 7 Rue du Four Solaire, 66120 Font Romeu - Odeillo, France
b Heliotrop SAS, 60 Cours Lafayette, 69003 Lyon, France
c Laboratoire IMS, CNRS-Universit de Bordeaux 1 - Bat A31, 351 Cours de la Libration, 33405 Talence Cedex, France
d Laboratoire PROMES, CNRS, Rambla de la Thermodynamique, Tecnosud, 66100 Perpignan, France
e Laboratoire LN2, Institut Interdisciplinaire dinnovation technologique, 3000 Bd de lUniversit, Sherbrooke, QC J1K0A5, Canada
a

*Contact e-mail: carolyn.carriere@promes.cnrs.fr, ioannis.tsanakas@promes.cnrs.fr, dollet@univ-perp.fr

Mots Cls: Cellules solaires multijonctions; Conversion photovoltaque sous concentration, test de vieillissement
acclr; mcanismes de dgradation; fiabilit

1. INTRODUCTION
Assurer une fiabilit optimale des cellules et des assemblages pendant toute la dure de service ( 25 ans) d'un
systme HCPV est une proccupation majeure. Les tudes exprimentales portant sur la fiabilit des cellules ou des
modules PV et les mcanismes de leur dgradation ventuelle sont souvent bases sur des tests de vieillissement
acclr (AAT : de l'anglais Accelerated Ageing Tests), qui visent provoquer les dgradations ou dfaillances dans un
laps de temps beaucoup plus court que la dure de vie des systmes. De telles tudes ont t assez largement
ralises avec les technologies photovoltaques traditionnelles et des procdures standard de test ont t labores,
mais la littrature sur cette question est peu abondante s'agissant de la conversion PV sous concentration (voir par
exemple les rfrences [1,2]). Les cellules HCPV, qui gnrent des densits de courant beaucoup plus importantes que
les cellules traditionnelles exposes au flux solaire non-concentr, ne convertissent que le rayonnement solaire direct
(DNI). Dans des priodes de nbulosit gnrant de fortes intermittences de la ressource solaire directe, l'intensit
d'irradiation reue par les cellules varie trs brutalement et frquemment, induisant des variations concomittantes de leur
temprature. Les contraintes thermomcaniques ainsi induites peuvent provoquer terme des dommages ou des
dfaillances prmatures sur les cellules et les assemblages, en particullier au niveau de la brasure de la cellule sur son
support, en raison des diffrences de coefficients de dilatation des 2 matriaux mis en uvre. Des tests standards de
vieillissement ont nanmoins t proposs pour les cellules HCPV, notamment des cyclages thermiques raliss en
chambre climatique. Ces tests dfinis dans le standard IEC 62108 durent typiquement 2 mois et les variations de
temprature provoques sont bien plus lentes que celles rencontres dans les conditions d'opration relles sur le
terrain; de plus, les mcanismes de dgradation des assemblages HCPV ne sont pas encore parfaitement compris.
Nous prsentons ici de premiers rsultats obtenus l'aide d'un dispositif exprimental innovant qui permet de raliser
des tests de vieillissement acclr des assemblages de cellules plus ralistes et surtout beaucoup plus rapides que les
tests standards actuels.

2. DISPOSITIF EXPERIMENTAL
Le dispositif que nous utilisons pour raliser les nouveaux tests de vieillissement acclr des cellules solaires sous flux
concentr est reprsent shmatiquement sur la Figure 1. Il s'agit d'un systme double rflexion utilisant un miroir
parabolique qui concentre le flux solaire rflechi par un hliostat qui suit la course du soleil. L'intensit du flux concentr
reue au foyer de la parabole peut tre ajuste au moyen d'un systme de volets orientables pilot par un gnrateur de
signaux qui permet d'appliquer la cellule un scnario de cyclage thermique programm. Un kaleidoscope plac au
foyer permet d'homogniser le flux reu par la cellule solaire dont on mesure en permanence la temprature et les
caractristiques Intensit-Tension (I-V).

Journes Nationales sur l'nergie Solaire

8 au 10 juillet 2014 Campus universit Perpignan

FIGURE 1. Montage exprimental utilis pour limplmentation des cycles thermiques par irradiation.
En marge des mesures de temprature et de caractristiques I-V qui sont ralises in situ, les chantillons sont
caractrises diffrentes tapes de leur vieillissement par thermographie IR et microscopie acoustique (SAM), ainsi
que par inspection aux rayons X.

CYCLES THERMIQUES
Le scnario de cyclage thermique alterne de brusques montes et descentes en temprature, spares par des paliers
temprature constante : l'un haute temprature et l'autre basse temprature. L'ouverture des volets varie
typiquement entre 0% (pas dirradiation) et 65% (2150 soleils), les niveaux de temprature atteints lors des tests de
dissipateurs munis de dispositifs de refroidissement passifs sont respectivement de 55C et de 105C. Les rampes de
temprature durent typiquement 1,3 s lors de l'ouverture et de la fermeture des volets. Le temps de maintien en
ouverture est de 1,5 s contre 8,3 s en fermeture. La dure totale d'un cycle est donc de 12,4 s, comparer une dure
de cycle typique de 1h20 lors des tests effectus en chambre climatique selon le standard IEC 62108, pour lequel les
tempratures extrmes sont de - 40C/+110 C.
Plusieurs assemblages constitus de cellules triple-jonctions InGaP/InGaAs/Ge de 1 cm sur substrat SMI (Substrat
Mtal Isol) ont t tests. Pour chaque squence dAAT, les volutions temporelles de la temprature de la cellule (Tc)
et de la tension en circuit-ouvert (Voc), qui donnent la rponse thermique et lectrique de la cellule ont t obtenues. Un
rgime priodique stable est assez rapidement atteint, et on observe les profils prsents sur la figure 2.

FIGURE 2. Signature thermique et rponse lectrique d'un chantillon reprsentatif au cours d'un test AAT.

Journes Nationales sur l'nergie Solaire

8 au 10 juillet 2014 Campus universit Perpignan

3. DIAGNOSTIC FINAL ET INITIAL

La caractrisation d'chantillons a t ralise pour des pourcentages spcifiques d'ouverture des volets de 30 %, 35 %,
40 % et 45 % (qui correspondent respectivement des concentrations de 686, 891, 1107 et 1327 soleils). Le tableau 1
rcapitule les valeurs initiales et finales des principaux paramtres lectriques mesurs sur un chantillon reprsentatif
avec une ouverture maximale des volets correspondant 891 soleils. On estime 12,86 % la perte d'efficacit de
l'assemblage HCPV.
Paramtre
ISC (A)
VOC (V)
PMAX (W)
FF (%)
(%)

Valeur initiale
9,033
3,015
23,34
85,69
27,77

Valeur finale
8,255
2,939
20,40
84,07
24,28

TABLEAU 1. Principaux paramtres lectriques avant l'AAT (diagnostic initial) et aprs 1000 cycles thermiques
(diagnostic final) pour un chantillon reprsentatif, normalis par rapport une valeur DNI de rfrence.
On constate que dans le cas prsent, le test permet d'observer une dgradation nette des performances lectriques des
chantillons aprs moins d'un millier de cycles, ce qui ncessite moins de 3h30

4. CONCLUSION ET PERSPECTIVES
Cette tude prliminaire a prsent de premiers rsutats obtenus en utilisant une nouvelle approche pour la ralisation
de tests de vieillissement acclr sur des assemblages de cellules, reposant sur des cycles thermiques
considrablement plus rapides (400 500 fois) que ceux raliss habituellement en chambre climatique selon la norme
IEC 62108. Les techniques spcifiques de diagnostic et de caractrisation mises en uvre, avant, pendant, et aprs
chaque squence d'AAT permettent de suivre l'volution dans le temps des performances lectriques et les
dgradations induites. Ces rsultats valident notre dmarche et dmontrent la pertinence de la nouvelle procdure de
vieillissement acclr propose. Un nombre significatif d'chantillons devra tre test et les paramtres slectionns
devront encore tre optimiss afin de pouvoir tudier plus finement les mcanismes de dgradation et in fine apporter
des amliorations pour renforcer la fiabilit des composants. En particulier, les squences exprimentales prsentes
devront tre appliques des assemblages munis d'un systme de refroidissement actif permettant d'obtenir des
tempratures minimales plus basses pendant les plateaux infrieurs du scnario de cyclage thermique test, et donc
des amplitudes de variation de temprature plus importantes lors des cycles. De futurs travaux seront galement
consacrs lanalyse de la fiabilit, grce notamment l' estimation du facteur dacclration (AF) et du temps moyen
avant dfaillance (Mean Time To Failure, MTTF). Des simulations des assemblages de cellules reposant sur une
modlisation par lments finis (Finite Element Modeling, FEM) sont en cours, qui permettront le calcul des contraintes
mcaniques induites lors de ces cycles thermiques et la mise en vidence des zones les plus critiques.

5. REFERENCES
1. N. Nunez, M. Vazquez, J.R. Gonzalez, C. Algora and P. Espinet, Microelectron. Reliab. 50, 1880-1883 (2010).
2. N. Bosco, T. Silverman, and S. Kurtz, Simulation and Experiment of Thermal Fatigue in the CPV Die Attach in AIP
Conference Proceedings 1477, Melville, New York, 2012.
3. J.A. Tsanakas, D. Jaffre, M. Sicre, R. Elouamari, A. Vossier, J.-E. de Salins, L. Bechou, B. Levrier, A. Perona, A.
Dollet. A Novel Approach On Accelerated Ageing Towards Reliability Optimization Of High Concentration Photovoltaic
Cell in CPV-10 Conference Proceeding, Albuquerque, New Mexico, 2014.