INGENIERA ELECTRNICA MATERIA: FSICA DE SEMICONDUCTORES
PROFESOR: CASTELLANOS BALTAZAR ROBERTO TAMAR
ACTIVIDAD: CUADRO COMPARATIVO DE LOS FENMENOS DE RUPTURA
INTEGRANTES DE EQUIPO:
Cortez Pacheco Diego Ivn
Fausto Snchez Antonio Hernndez Martnez Luis Alejandro Jimnez Jurez Edwin ramiro Miguel Reyes Jos Carlos Ziga Flores Juan Alberto
FENMENO
RUPTURA POR AVALANCHA.
FUNCIONAMIENTO
CARACTERSTICAS DE OPERACIN
APLICACIN
Es un fenmeno provocado por la creacin
en cadena de pares eh+ en condiciones de campo elctrico intenso. El proceso de multiplicacin por avalancha ocurre cuando en presencia de un campo elctrico suficientemente elevado se genera un electrn de procedencia trmica (denotado por 1).
Existe un factor M llamado factor
multiplicativo que gobierna la corriente inversa Ii una vez iniciado el proceso de avalancha.
La aplicacin tpica de estos diodos es
la proteccin de circuitos electrnicos contra sobretensiones Los diodos avalancha generan ruido de radio frecuencia; son comnmente utilizados como fuentes de ruido en equipos de radio frecuencia. Tambin son usados como fuentes de ruido en los analizadores de antena y como generadores de ruido blanco.
Con este factor multiplicativo, la corriente
inversa en las regiones de la caracterstica corriente-tensin cercanas a la ruptura, y cuando V = Vr, la corriente se hace infinita Dicho electrn adquiere energa cintica a debido al fenmeno de avalancha. expensas de la del campo elctrico. Si este campo es suficientemente elevado, la Por otra parte, la tensin de ruptura Vr por energa cintica puede ser la suficiente avalancha tiene un coeficiente de como para producir, mediante colisin con temperatura positivo, es decir, aumenta con un tomo de la red cristalina, un par la temperatura. electrn-hueco (denotado por 2 y 2). Este hecho se denomina ionizacin por impacto. El par electrn-hueco tambin puede aumentar su energa cintica a expensas del campo aplicado y generar otro par electrn-hueco (3 y 3). Este proceso en presencia del campo elctrico puede ser multiplicativo aumentando la conductividad de las regiones P y N Este es el llamado fenmeno de ruptura a travs de la multiplicacin por avalancha
los mecanismos de multiplicacin por
avalancha pueden generar potencia a nivel de microondas (diodo IMPATT) y pueden ser utilizados para detectar seales pticas (fotodetector por avalancha).
EFECTO TNEL O ZNER
Se produce cuando un campo elctrico
intenso se aplica a la unin p-n. bajo estas condiciones de campo elctrico un electrn situado en la banda de valencia puede efectuar una transicin a la banda de conduccin penetrando o saltndose la barrera de potencial. El efecto tnel se da cuando hay presente en la unin p-n altos valores de campo elctrico, para el caso del Si y el GaAs, el valor del campo para manifestarse el efecto tnel es de 106V/cm o mayor. Esto slo es posible cuando las regiones P y N estn fuertemente dopadas (>5.1017cm-3), de forma que la anchura W de la regin espacial de carga es muy pequea. En trminos macroscpicos, el fenmeno de ruptura por efecto tnel se da para valores de la tensin de ruptura del orden de 4.Eg/q o menores donde Eg es la anchura de la banda prohibida de energa .
Al aumentar la tensin de polarizacin Estos
diodos slo encuentran inversa, esta provoca un incremento de la aplicaciones reducidas como en circuito corriente provocando la ruptura. osciladores de alta frecuencia. La tensin inversa aplicada genera un elevado campo elctrico que provoca el efecto de avalancha acelerando a los portadores que, de hecho, producen nuevos portadores.
no se puede utilizar como rectificador
debido a que tiene una corriente de fuga muy grande cuando estn polarizados en reversa