Quieres ser un buen

tcnico en electrnica? No
dejes de ver esta gua
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Sergio Soriano
Testeo de componentes.

Un estudio completo de la siguiente gua te ayudar a ser un maestro en las siguientes

reas:
Testeo de diodos,SCRS Y Triacs
Testeo de BJTs, JFET y MOSTETS
Amplificadores operacionales
Cmo usar un multmetro para testear componentes
Bueno antes de meternos al lo te quiero hacer saber una regla de oro que me ha llevado
al xito en mis reparaciones. "LOS CIRCUITOS DE EJEMPLO" Todo parte de pensar de
que esta tarjeta ha sido diseada por uno o un equipo de ingenieros para llevar a cabo X
tipo de funciones en la mquina. Dicho esto, sabrs que los diseadores al igual que los
tcnicos reparadores utilizan las hojas de datos "Datasheet" de los componentes para
saber si estos les van a servir en el procesado de seales que ellos buscan, en esa
misma bsqueda es donde ellos tambin se valen y se apoyan en los circuitos de
ejemplo expresados en los datasheet.

Estos mismos circuitos nos pueden servir a nosotros cuando no tenemos esquemas ni
informacin sobre la tarjeta, que lamentablemente es el 97% de los casos. Siempre
acabamos lidiando con la tpica situacin de una tarjeta con una nota atada con un cordn
que pone "no funciona".
Esto me ha servido mucho, particularmente para detectar todos aquellos componentes
discretos de alrededor de transistores, opto acopladores, amplificadores operacionales
etc.

Si an, no eres muy experto y vas a ojear la siguiente gua de como testear, mi consejo es
que intentes entender bien los circuitos que testees, comprende lo que estas midiendo,
haz pequeas reingenieras inversas, te llevar tiempo la primera vez, pero las dems,
para m ha sido como "montar en bici", con suerte casi todo es repetitivo o los siguientes
casos los puedes interpretar mucho ms rpido.

Testeando diodos:
El diodo es un dispositivo semiconductor, el cual conduce corriente tan solo en una
direccin. En otras palabras, el diodo muestra una muy baja resistencia cuando es
polarizado directamente (A-K) y una resistencia muy alta cuando es polarizado
inversamente (K-A). Como ya sabemos, un hmetro aplica un voltaje conocido desde su
fuente interna (Bateras) para medir resistencia. Tericamente este voltaje puede alcanzar
entre 1.5 y 3 V. El diodo requiere un voltaje de 0.7v mnimo para ser polarizado. Por lo
tanto, si el cable positivo de hmetro est conectado al nodo (A) y el negativo al Ctodo
(K) el diodo ser directamente polarizado. En este caso el hmetro leer una resistencia
muy baja. Si le damos la vuelta a las sondas, llevando el negativo al nodo (A) y el
positivo a ctodo (K) el diodo es inversamente polarizado, entonces el hmetro deber
medir una resistencia muy alta.

Por lo que cualquier hmetro puede ser utilizado para testear un diodo.
La mayora de los multmetros digitales DDM tiene un modo de prueba de diodo, que est
marcada en el selector normalmente con smbolo pequeo caracterstico de un diodo.
Cuando el diode test-mode es seleccionado, este proporciona suficiente voltaje interno
al test del diodo en ambas direcciones. La sonda positiva del DMM (Color Rojo)
conectada al nodo (A) y la sonda negativa (Color negro) conectada al ctodo (K).

Si el diodo est en buenas condiciones el multmetro deber mostrar un valor de entre 0.5
y 0.9 v (tpicamente 0.7v).

Una vez revisado este valor, le damos la vuelta a las sondas, y en este caso el diodo
aparecer como un circuito abierto en el multmetro.
Un diodo defectuoso aparece en ambas direcciones ya sea como un cortocircuito o un
circuito abierto. En el caso del circuito abierto, el fallo ms comn, ya que este suele ser
causado por un dao en la unin PN del componente debido a un sobrecalentamiento,
estos diodos presentan una impedancia muy alta tanto si es polarizado directamente
como inversamente polarizado. Por otro lado, en el caso de corto circuito, el multmetro
leer 0v en ambas direcciones. A veces, un diodo no presenta un corto circuito complejo
(0v), por lo que aqu se comportar como una resistencia, en este caso el multmetro
medir la misma resistencia en ambos sentidos.
Como mencion, anteriormente si diode test-mode no est disponible en nuestro
multmetro podemos usar el hmetro, midiendo impedancia en ambos sentidos.
Ponemos nuestro multmetros en Ohm. Cuando polarizo el diodo directamente el
multmetro leer de unos pocos cientos a unos miles ohmios. La resistencia de un diodo
normalmente no excede los 100 ohm, pero el voltaje interno del muchos multmetros es
relativamente bajo en el rango de ohm y no es suficiente para polarizar completamente la
unin PN. Por esta razn el valor que muestra es ms alto. Cuando el diodo es polarizado
inversamente, el multmetro suele indicar fuera de rango OL porque la resistencia del
diodo en este caso es muy alta y no puede ser medida por el multmetro. Lo valores de
medida de resistencia son relevantes, lo que es importante, es asegurarse de que hay
una diferencia grande en la lecturas cuando el diodo es directamente polarizado e
inversamente polarizado. De hecho esto es lo ms importante a destacar ya que este
indica que un diodo esta funcionado propiamente.

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electrnica
Testeando SRC
El SCR es un diodo con una puerta de activacin adicional. Los SRC pueden ser
conducidos tan solo si estn polarizados directamente y se les aplica un pulso a la Gate
o puerta de activacin. Por esto, el SRC puede ser testeado de una manera similar a la
del diodo, mediante el uso de nuestro multmetro en Diode test-mode o con un hmetro.

La sonda positiva se conecta al nodo y la negativa al ctodo de nuestro SRC. El

multmetro deber mostrar una resistencia muy alta. Hacemos un puente o jumper para
activar nuestro SCR mediante el la puerta Gate. Sin desconectar las sondas, tan solo
puenteamos entre la sonda positiva y la puerta, entonces el multmetro deber mostrar un
gran descenso de la resistencia.
Cuando el puente entre nodo y puerta es desconectado el SRC tal vez siga conduciendo
o tal vez no.

Eso depende de las propiedades de ambos, tanto las del SRC como las del multmetro. Si
la corriente de retencin del SRC es pequea, el hmetro podra ser capaz de suministrar
suficiente corriente como para mantenerlo encendido. Sin embargo, si la corriente de
retencin del SRC es alta, este se apagar tras la desconexin del puente.

Algunos SRC de alta potencia pueden que tengan una resistencia interna conectada entre
el ctodo y la puerta, para prevenir que el SRC se active debido a pequeas
interferencias que puedan surgir. Un tcnico de mantenimiento que no es consciente de la
existencia de esta resistencia puede llegar a diagnosticar errneamente como siendo un
SRC con fugas entre ctodo y puerta. El valor de esta resistencia se puede medir con un
hmetro durante la prueba.

Testenando TRIACs:
El Triac es bsicamente un par SRC conectados en paralelo y en direccin opuesta, por lo
que el proceso de testeo es esencialmente el mismo que el del SRC. La sonda positiva es
conectada al MT2 y la negativa a MT1. Cuando la puerta est abierta el hmetro debe
indicar una resistencia infinita. Entonces de manera similar al testeo del SRC,
puenteamos entre nodo y puerta observando as que se cumpla un gran descenso de la
resistencia medida. Esto nos indica que al menos uno de los SRC funciona.

Ahora le damos al vuelta a las sonda con respecto a nodo y

ctodo. De nuevo si la puerta est abierta, el multmetro deber displayar resistencia
infinita o fuera de rango. Puenteando desde MT2 con la puerta deberemos ver como la
resistencia medida desciende generosamente, lo que nos est indicando un correcto
funcionamiento del segundo par de SRC, fcil, sencillo y para toda la familia.

Aprender todo estos y muchos ms componentes y consejos

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electrnica
Testeando transistores BJT
Los BJT son dispositivos que consisten en tres capas de material semiconductor y que
pueden ser NPN o PNP. Por lo tanto cada transistor puede ser representado como una
combinacin de dos diodos. El equivalente de un transistor NPN aparecer con
referencia a la base como los ctodos de ambos diodos conectados. Si el transistor es un
PNP, el equivalente ser con respecto a la base de ambos diodos conectados por los
nodos. En ambos ejemplos los dos terminales sobrantes de los diodos representaran el
colector y emisor. Ambas uniones PN del transistor se testean por separado como si

fueran dos diodos independientes. Si ambos diodos no presentan falla entonces el

transistor funciona correctamente.

La funcin Diode test-mode de nuestro multmetro puede ser utilizada para testear
transistores. Por ej, supongamos que tenemos un transistor tipo PNP para testear. La
sonda negativa la conectamos a la base del transistor y la sonda positiva al emisor y
luego al colector. De esta manera las uniones PN sern directamente polarizadas.

El multmetro deber leer entre 0.5v y0.9 en ambos casos. Cuando la sonda positiva es
conectada a la base del transistor en vede la negra y repetimos el proceso, los diodos
sern inversamente polarizados y el multmetro deber leer resistencia muy alta en ambos
casos. El procedimiento para testear un transistor NPN es idntico, pero empezando por
testear los diodos con la sonda positiva en la base.
Si el multmetro no tiene diode test-mode el transistor puede testearse con el hmetro.
La ejecucin es similar a la descrita previamente. Pero es importante enfatizar de nuevo,
que la lectura de unos pocos cientos a unos pocos miles de ohmios de la polarizacin
directa no necesariamente indica un transistor con falla. Es ms bien una seal de que la
fuente de alimentacin de nuestro multmetro no es suficiente como para polarizar
directamente la unin PN. La indicacin de fuera de rango para la polarizacin inversa del
mismo transistor indica claramente que el dispositivo esta funcionando correctamente. Lo
importante aqu es la diferencia entre los valores medidos y no su valor numrico como
tal.
Qu puede pasar con un transistor en falla?

Un transistor con falla presentar en las uniones PN aproximadamente la misma

resistencia en ambas direcciones. De la misma manera que los diodos, la uniones PN de
un transistor fallado mostrarn una resistencia muy alta en ambas direcciones (Un circuito
abierto interno), o cero resistencia en ambas direcciones (corto circuito interno). Algunas
veces una unin PN daada muestra una ligera resistencia, que es igual en ambos
sentidos. Por ejemplo. El multmetro mide en ambas direcciones 1.2v en vez de el
correcto 0.7v. En este caso el transistor es defectuoso y tiene que ser reemplazado.
La mayora de multmetros son capaces de medir la ganancia en corriente de los
transistores bDC. Los tres terminales del transistor son conectados a un socket especial
marcado como E, B y C respectivamente. Entonces un valor conocido IB es aplicado al
transistor y el IC respectiva es medida. Como ya sabes, el ratio de IC/IB es igual a bDC. A
pesar de que este es un mtodo muy rpido y conveniente para comprobar un transistor,
uno debe ser consciente de que algunos multmetros miden el valor BDC con una
precisin muy baja. Las especificaciones del multmetro han de ser comprobadas antes
de confiar en el valor medido de la ganancia de corriente. Algunos multmetros tienen la
caracterstica til de chequear la BDC dentro del circuito, aqu no hay necesidad de
desconectar el transistor bajo sospecha del resto del circuito y se puede comprobar
directamente en la PCB.

Cuidado!! En ocasiones el transistor como tal no est daado, sino que el fallo puede ser
debido a que su circuitera externa no est operando correctamente. Por ejemplo, una
soldadora fra en la base del transistor que asla el contacto de la base del resto del
circuito, por lo que la tensin de polarizacin del transistor es de 0V, que har que el
transistor este en corte. Al comprobar un transistor como este desde el lado de los
componentes de la PCB, puede parecer estar funcionando correctamente.
Sin embargo, no hay seal a la salida.
Consejo: Haz los clculos en papel fijndote en circuito tpico y haciendo una pequea
reingeniera inversa de ese transistor y los componentes de alrededor. Una vez puestos lo
nmeros sobre el papel, deberas medir los mismos en el circuito. De esta manera
conseguirs comprender bien que estas midiendo y podrs determinar un anlisis ms
lgico de las posibles causas de la falla. El tema de investigar las causas de la falla es tan
importante como el proceso de bsqueda de fallos en s, aunque ya estemos tirando
cohetes al descubrir los componentes fallados, analizar las posibles causas nos pueden
conducir a ms fallas y en el mejor de los casos a reconocer sntomas similares en el

futuro. Hablar ms a fondo de esto en el articulo de estragetia de "Troubleshooting PCB"

estrategia de solucion de problemas.

Testeando amplificadores operacionales:

Los amplificadores operacionales son complejos y sofisticados dispositivos que estn
sujetos a muchos fallos internos mientras se encuentran funcionando. Sin embargo, un
amplificador operacional como tal no puede ser testeado.
Si hubiera algn problema interno, no es posible detectarlo y repararlo.
Por lo tanto si el amplificador no funciona la nica opcin es reemplazarlo.
Por lo general hay tan solo unos pocos componentes externos a los amplificadores
operaciones. Un circuito tpico consiste en una resistencia de entrada, una resistencia de
feedback y un potencimetro para la compensacin del voltaje offset.

Si el circuito funciona mal, los componentes de alrededor son los que tienen que ser
testeados primero. Puede haber soldaduras fras, o componentes quemados o fuera de
rango. Si no es ninguna de las anteriores, tenemos que chequear los contactos del mismo
amplificador operacional. Es posible que alguno de ellos este daado. Finalmente, si todo
lo dems parece estar en buen funcionamiento, pero el circuito sigue sin funcionar,
podemos asumir que el amplificador operacional: Esta daado. Es este caso el
amplificador es reemplazado tal y como reemplazaras una resistencia, un transistor o
cualquier otro componente. Algunos fallo tpicos de amplificadores operacionales:
Voltaje de alimentacin: Esta es una de las primeras cosas que se deben ser
comprobadas (como en el caso de testea cualquier otro circuito). Un correcto voltaje de
alimentacin y tierra tiene que estar presentes. Debe recordarse que el nivel de voltaje
de alimentacin es bastante crtico para los CI.
Resistencia de feedback abierta: este fallo se traduce en un importante recorte
de voltaje a la salida, ya que el amplificado funciona a su mxima ganancia de voltaje
(por ej. El circuito para como esta como un amplificador en bucle abierto)
Cortocircuito de la resistencia de feedback: En este caso, la salida tiene que ser
de la misma que la entrada de la seal.
Entrada de circuito abierta: Es el caso de un amplificador inversor, no hay seal a
la salida, ya que no hay seal a la entrada. En el caso de un amplificador no inversor, la
ganancia es igual a 1 y la salida de voltaje sigue exactamente lo que haya a la entrada.
En otras palabras el amplificador actuar como un seguidor de voltaje.
Potencimetro mal ajustado: es fallo te traduce en tan solo el pico positivo o
negativo en la tensin salida.

Testeando FETs & MOSFET

Estos amigos son mucho ms complicados que los compaeros BJT, por eso aunque os
dejo aqu explicado lo bsico, ms adelante har un articulo con tcnicas para
diagnsticar estos transistores dentro y fuera del circuito.
Antes de testear un FET, es necesario saber si el transistor es un JFET o un MOSFET. A
partir de ah se tiene verificar si es de canal N o canal P. JFETs pueden ser testeados
con un hmetro ordinario.

Aparecer en el hmetro como dos diodos conectados en serie entre el drenador y el

surtidor, la polaridad de los diodos est invertida. El terminal de la puerta es tomado
desde el punto medio entre ellos. En el caso de uno de tipo canal-N, la puerta est
conectada a los nodos de ambos diodos. Si el transistor es de tipo canal-P, la puerta est
conectada a los ctodos de ambos diodos. La capa de aislamiento de SiO2 aparecer en
el hmetro como una resistencia conectada ente el drenador y el surtidor en paralelo a
ambos diodos.
Por lo tanto los JFETs se pueden testear usando un hmetro testeando las uniones PN
ente la puerta y drenador por un lado y por otro la puerta y el surtidor. Si el JFET est en
buenas condiciones ambas uniones PN se comportarn de manera como un diodo
normal, mostrando una muy alta resistencia en una direccin y muy baja en la otra. Luego
se mide la resistencia entre drenador y surtidor, esta nos debe dar un cierto valor de
resistencia que depender de las caractersticas del JFET.
En el mejor de los casos la medicin de un MOSFET con un hmetro es una tarea muy
difcil.
Esto es as porque una capa muy fina de metal-oxido separa la unin de la puerta con el
canal. Esta propiedad de los MOSFET asegura una impedancia de entrada muy alta en el
dispositivo, pero lo hace vulnerable a daos permanentes incluso cuando se producen
pequeas tensiones estticas en los terminales del transistor.

De hecho un MOSFET puede ser daado cuando lo tocamos con los dedos. Por esta
razn, los MOSFETs viene en paquetes que proporcionan un conexin elctrica entre
todos los terminales para prevenir la acumulacin de electricidad esttica.

MOSFETs pueden ser testeados cuidadosamente con un hmetro de bajo voltaje,

configurado al mayor rango de resistencia. N-MOSFET que funcionen correctamente
presentan una cierta continuidad entre el surtidor y el drenador. Sin embargo no debera
haber ninguna resistencia entre la puerta y el drenador y la puerta y el surtidor. PMOSFET que estn funcionando correctamente no muestran continuidad entre ninguno
de sus terminales.

Solucion de problemas en JFET polarizados:

No es una prctica recomendable desoldar un transistor FET para testarlo. Despus de
una inspeccin visual buscando componentes daados o malas soldaduras, lo voltajes en
el drenador y en el surtidor tiene que ser medidos con respecto a tierra. Un sntoma de
fallo tpico es el voltaje en el drenador, el cual es casi igual que el voltaje de alimentacin.
Esta condicin ocurre cuando la corriente del drenador es cero y por lo cual no hay cada
de voltaje a travs de la resistencia de drenador RD, los siguientes fallos pueden ser la
causa:

Soldadura fra en RS (Resistencia del Surtidor aparece como un circuito abierto)

RS est daada o fuera de su rango
Soldadura fra en RD (Resistencia del Drenador aparece como un circuito abierto)
RD est daada o fuera de su rango
Soldadura fra en el terminal del surtidor
Soldadura fra en el terminal del drenador
Circuito abierto interno en el JFET entre el surtidor y la puerta
Otro sntoma tpico de fallo es un voltaje mucho menor del normal en el drenador. Esta
condicin ocurre cuando la corriente del drenador es ms alta de lo normal, en este caso
la cada de voltaje a travs de la RD resistencia es mayor. Los siguientes fallos pueden
provocar que esto suceda:
Soldadura fra en RG (La resistencia de la puerta aparece como un circuito abierto)
RG est daada o fuera de rango
Soldadura fra en el terminal de la puerta
Un circuito abierto interno en el JFET en el terminal de la puerta
Algunas de las fallas son muy difciles de solucionar. Un buen ejemplo es una puerta
abierta internamente en un D-MOSFET polarizado. Despus de que este fallo ocurra, la
tensin de la puerta el drenador sigue siendo la misma 0v. Por esta razn la corriente del
drenador no cambia su valor y la polarizacin parece estar correcta. En general el testeo
de FETs es una tarea mucho ms difcil y requiere de ms habilidades y experiencia que
al testear BJTs.

Aprender todo estos y muchos ms componentes y consejos

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electrnica
En resumen:
La mayora de los multmetros proporcionan funciones especiales para testear diodos y
BJTs. Sin embargo si tales funciones no estn disponibles, muchos componentes
electrnicos pueden ser testeados con un hmetro ordinario. Si un diodo esta en buenas
condiciones, las lectura del hmetro deben cambiar de alta a baja y viceversa cada vez
que la sondas se cambian entre nodo y ctodo. Los SRCs son testeados de forma
similar, la nica diferencia es un puente entre la puerta y nodo para activar el SRC.
Cuando un SRC es activado, su resistencia cae significativamente de alta a baja. Los
TRIACs son testeados como los SCR pero en ambas direcciones. (ej. Las sondas son
puestas al revs y el test es repetido). BJTs son tratado como 2 diodos y cada uno de
ellos es comprobado independientemente. FETs son ms difciles de testear, hay que
tener especial cuidado de no ocasionar descargas electroestticas en ellos cuando son
testeados. Los transistores JFET pueden ser representados como 2 diodos conectados en
serie con una resistencia adicional en paralelo a ellos. Ambos diodos son testeados de
forma independiente. Tambin se mide el valor de la resistencia. Para encontrar fallos en
transistores polarizados, en un principio, se calcula las tensiones aproximadas en cada
uno de los terminales del transistor y entonces medimos los voltajes. Cualquier desviacin
de los valores calculados son analizados lgicamente, lo cual conduce esencialmente a
encontrar y corregir el problema. Los amplificadores operacionales no pueden ser
testeados como los otros dispositivos, sino que todos los componentes externos y
soldaduras tienen que ser chequeados y si el circuito sigue sin operar correctamente el
AP es reemplazado.