Boletin J Microscopia Optica de Minerales

SERIE J: TPICOS DE GEOLOGA, N 1, 2010
Hecho el Depsito Legal N 2010-15100

Razn Social: Instituto Geolgico Minero y Metalrgico
(INGEMMET)
Domicilio: Av. Canad N 1470, San Borja, Lima, Per
Primera Edicin, INGEMMET 2010
Se termin de imprimir el 15 de noviembre del ao 2010 en los
talleres de INGEMMET.
INGEMMET
Derechos Reservados. Prohibida su reproduccin
Presidente del Consejo Directivo: Walter Casquino
Secretario General: Juan Carlos Lam
Comit Editor: Walter Casquino, Humberto Chirif, Lionel Fdel,
Vctor Carlotto, Yorri Carrasco
Direccin encargada del estudio: Direccin de Recursos
Minerales y Energticos
Unidad encargada de edicin: Unidad de Relaciones
Institucionales.
Correcin Geocientfica: Csar Cnepa
Correccin gramatical y de estilo: Juan Enrique Quiroz
Diagramacin: Sonia Bermdez
Portada: Cristal de anfbol en corte basal
Referencia bibliogrfica
Chirif H. (2010) - Microscopa ptica de minerales.
INGEMMET, Boletn, Serie J: Tpicos de Geologa, 1, 118p.
A la memoria del Profesor Paul Ramdhor
Contenido
RESUMEN ................................................................................................................................................................................ 1
CAPTULO I
NATURALEZA DE LA LUZ ........................................................................................................................................................ 3
CAPTULO II
CRISTALOGRAFA Y CARACTERSTICAS PTICAS DE LOS MINERALES ........................................................................ 21
CAPTULO III
ESTUDIO CON ILUMINACIN ORTOSCPICA TRANSMITIDA ........................................................................................... 31
CAPTULO IV
ESTUDIO CON ILUMINACIN CONOSCPICA ................................................................................................................... 49
CAPTULO V
PROPUESTAS DE INTERVENCIN ...................................................................................................................................... 59
CAPTULO VI
SISTEMTICA PARA LA DETERMINACIN DE MINERALES ............................................................................................... 73
BIBLIOGRAFA ........................................................................................................................................................................ 85
ANEXO 1: PROPIEDADES DE LOS MINERALES TRANSPARENTES .................................................................................. 87
ANEXO 2: PROPIEDADES DE LOS MINERALES OPACOS ................................................................................................ 103
ANEXO 3: EL MICROSCOPIO DE POLARIZACIN Y SUS PARTES ................................................................................... 115
LISTA DE TABLAS E ILUSTRACIONES
Figuras
Figura 1.1.
Componentes de la radiacin electromagntica
Figura 1.2.
Espectro de longitudes de onda de la radiacin electromagntica
Figura 1.3.
Elementos de la onda luminosa
Figura 1.4.
Representacin de luz linealmente polarizada, monocromtica y blanca
Figura 1.5.
Frente de onda y normal al frente de onda
Figura 1.6.
Representacin de luz linealmente polarizada y elpticamente polarizada
Figura 1.7.
Mtodos para obtener luz linealmente polarizada
Figura 1.8.
Interferencia de ondas
Figura 1.9.
Refraccin y reflexin
Figura 1.10.
Dispersin de la luz
Figura 1.11.
Ley de Snell
Figura 1.12.
ngulo crtico
Figura 1.13.
El microscopio compuesto
Figura 1.14.
El microscopio de polarizacin
Figura 1.15.
Microscopio de polarizacin de luz transmitida
Figura 1.16.
Microscopio de polarizacin de luz reflejada
Figura 1.17.
Diferencias entre luz ortoscpica e iluminacin conoscpica
Figura 1.18.
Caractersticas de los oculares y objetivos
Figura 1.19.
Correccin de objetivos y fuente luminosa
Figura 1.20.
Preparacin de secciones delgadas y pulidas
Figura 2.1.
Desarrollo tridimensional de los minerales
Figura 2.2.
Caractersticas de los sistemas cristalinos
Figura 2.3.
Comparacin entre caractersticas cristalogrficas y pticas de los minerales
Figura 2.4.
Tipos de indicatrices y sus elementos
Figura 2.5.
Orientacin del corte, forma de los cristales y valores de ndices en la seccin
Figura 2.6.
Orientacin del corte y posicin sobre la platina
IV
Figura 2.7.
Comportamiento de un mineral istropo en luz transmitida y ncoles cruzados
Figura 2.8.
Comportamiento de un mineral anistropo en luz transmitida y ncoles cruzados
Figura 2.9.
Seccin delgada de una roca mostrando granos con diferentes cortes
Figura 2.10.
Luz linealmente polarizada reflejada sobre una seccin de un mineral opaco
Figura 3.1.
Mtodos para la estimacin del ndice de refraccin
Figura 3.2.
Formacin de la lnea de Becke
Figura 3.3.
Determinacin del ndice de refraccin por comparacin con aceites de inmersin
Figura 3.4.
Refractmetro de Pulfrich
Figura 3.5.
Medicin del tamao de grano
Figura 3.6.
Formas de los cristales
Figura 3.7.
Formas bidimensionales propias de los diferentes sistemas cristalinos
Figura 3.8.
Nitidez de las trazas de clivaje y tipos de clivaje
Figura 3.9.
Tipos de extincin
Figura 3.10.
Tipo de extincin segn sistema cristalogrfico y orientacin del corte
Figura 3.11.
Relacin entre el color de interferencia y orientacin del corte del mineral
Figura 3.12.
Relacin entre el color de interferencia y el espesor de la seccin
Figura 3.13.
Relacin entre color de interferencia y posicin de la muestra sobre la platina
Figura 3.14.
Carta de colores de interferencia de Michel-Lvy
Figura 3.15.
Compensadores
Figura 3.16.
Alternancia de las posiciones de adicin y sustraccin cada 90
Figura 3.17.
Tipos de elongacin
Figura 3.18.
Construccin de un esquema de orientacin
Figura 3.19.
Maclas frecuentes en minerales formadores de rocas
Figura 3.20.
Zonamiento de plagioclasas
Figura 3.21.
Diferentes grados de alteracin en una roca grantica
Figura 4.1.
Secuencia de las partes del microscopio de polarizacin para la observacin con luz transmitida con iluminacin
conoscpica
Figura 4.2.
Iluminacin conoscpica incidiendo en mineral anistropo
Figura 4.3.
Figuras de interferencia unixica y bixica
Figura 4.4.
Signo ptico de minerales unixicos
Figura 4.5.
Determinacin del signo ptico de minerales unixicos
Figura 4.6.
Formacin de figuras de interferencia unixica (centrada, descentrada y flash)
Figura 4.7.
Figura de interferencia bixica
Figura 4.8.
Determinacin del signo ptico de minerales bixicos
Figura 4.9.
Determinacin del ngulo 2V
Figura 4.10.
Diagramas de orientacin del aragonito, omfacita y adularia
Figura 4.11.
Platina Universal
Figura 5.1.
Sistemas de iluminacin vertical en el microscopio de luz reflejada
Figura 5.2.
Curvas de dispersin de longitud de onda del rayo incidente vs. reflectancia de diversos minerales
Figura 5.3.
Reflectancia en aire de los principales minerales de mena
Figura 5.4.
Dureza relativa
Figura 5.5.
Microdureza Vickers
Figura 5.6.
Tipos geomtricos de intercrecimientos de minerales
Figura 5.7.
Registro de intercrecimientos
Figura 6.1.
Secuencia de pasos para la determinacin de especies minerales
Figura 6.2.
Esquema de uso de tablas determinativas de Schneiderhhn y Schouten
Tablas
Tabla 1.1.
Caractersticas de los objetivos
Tabla 2.1.
Propiedades mineralgicas que se estudian con el microscopio de polarizacin
Tabla 2.2.
Principales minerales transparentes
Tabla 2.3.
Principales minerales opacos
Tabla 5.1.
Algunos minerales distinguibles por su color en luz reflejada
Tabla 5.2.
Birreflectancia y pleocroismo de algunos minerales observados en aire y con aceite de inmersin
Tabla 5.3.
Algunos ejemplos de minerales anistropos
Tabla 5.4.
Algunos ejemplos de minerales con reflexiones internas
Tabla 5.5.
Minerales de mena ms importantes ordenados segn su dureza relativa al pulido
Tabla 6.1.
Tabla de Michel-Lvy y rangos de birrefrigencia de los principales minerales
Tabla 6.2.
Tabla de carcter y signo ptico vs. color
Tabla 6.3.
Tabla de signo ptico-relieve-birrefringencia para minerales anistropos positivos
Tabla 6.4.
Tabla de signo ptico-relieve-birrefringencia para minerales anistropos negativos
Tabla 6.5.
Comparacin de propiedades de glaucofana, actinolita y tremolita
Boletn N 1, Serie J - INGEMMET
Direccin de Recursos Minerales y Energticos
RESUMEN
La microscopa ptica de minerales es una importante herramienta
para investigaciones geolgicas de diversa ndole. Con su ayuda
se pueden determinar minerales, describir texturas, identificar tipos
de rocas, alteraciones y asociaciones de minerales de mena, entre
otras aplicaciones. En el presente trabajo se explican los
fundamentos de la ptica necesarios para comprender el
funcionamiento del microscopio de polarizacin y se explican las
caractersticas cristalogrficas y pticas de los minerales, tanto
transparentes como opacos, que pueden ser estudiadas bajo el
microscopio.
El presente trabajo est dividido en seis captulos en los se explica
de manera sistemtica las caractersticas de la luz y las propiedades
de los minerales determinantes para su identificacin. En ellos, las
explicaciones en texto estn profusamente complementadas con
ilustraciones, las cuales permiten un acceso simplificado al
normalmente difcil terreno de la ptica de polarizacin y su
interaccin con la materia cristalina; adicionalmente hay tres anexos
con abundante material fotogrfico.
El captulo 1 est enfocado principalmente a explicar la naturaleza
de la luz, para ello se empieza con una breve resea de la evolucin
de las teoras sobre sta. El captulo 2 trata de la naturaleza cristalina

de los minerales y de sus caractersticas pticas; se definen a los
minerales ptimamente istropos y anistropos, y se explica la
interferencia de la luz linealmente polarizada en ellos, tanto en los
transparentes como en los opacos. En los captulos 3 y 4 se explican
las propiedades de los minerales transparentes que se estudian
con luz linealmente polarizada ortoscpica y conoscpica,
respectivamente. El captulo 5 trata del estudio de minerales opacos;
se describen los dispositivos del microscopio para el estudio con
luz reflejada y las propiedades fsicas y pticas de los minerales
opacos. El captulo 6 se ocupa de la sistemtica para la determinacin
de minerales transparentes y opacos; se describen las principales
tablas y se plantea un ejemplo.
En los anexos 1 y 2 se presenta una amplia coleccin de fotografas
que ilustran las propiedades de los minerales transparentes y
opacos, respectivamente. Finalmente, en el anexo 3 se muestran
fotos de las partes del microscopio de polarizacin.
El objetivo de este trabajo es proveer a los interesados de una
base terica slida que permita el uso ptimo del microscopio de
polarizacin para un adecuado estudio mineralgico.
AGRADECIMIENTOS
Este trabajo no hubiera podido ser concluido sin la participacin
del estudiante Richard Osorio y de la Ing. Teresa Velarde, quienes
se encargaron de la seleccin de secciones delgadas y la toma de
fotografas. Tambin es importante resaltar la participacin del Dr.

Csar Cnepa Iannacone, quien revis y corrigi el borrador. A
todos ellos va mi agradecimiento.
CAPTULO I
NATURALEZA DE LA LUZ
BREVE HISTORIA DE LAS TEORAS SOBRE LA
LUZ
Hasta mediados del siglo XVII fue creencia general que la luz
consista en una corriente de corpsculos emitidos por focos
luminosos, como el sol o las llamas, y que aquella se propagaba
en lnea recta. La luz poda penetrar las sustancias transparentes
y se reflejaba en las superficies de los cuerpos opacos. Cuando
los corpsculos penetraban en el ojo, excitaban el sentido de la
vista.
A mediados del siglo XVII haba comenzado a progresar la idea de
que la propagacin de la luz se daba con movimiento ondulatorio.
Christian Huygens demostr, en 1670, que las leyes de la reflexin
y la refraccin podan explicarse basndose en la teora ondulatoria
y que sta proporcionaba una interpretacin sencilla a la doble
refraccin, recientemente descubierta. La teora ondulatoria, sin
embargo, no fue aceptada en ese momento.
Recin en 1827, los experimentos sobre la interferencia, de
Thomas Young y Agustn Fresnel, y las medidas de la velocidad
de la luz en los lquidos, realizadas por Leon Foucault, en fecha
algo posterior, demostraron la existencia de fenmenos pticos
para cuya explicacin resultaba inadecuada la teora corpuscular.
El siguiente gran avance en la teora de la luz fue el trabajo del
fsico escocs James Clerk Maxwell, quien en 1873 demostr que
un circuito elctrico oscilante deba irradiar ondas electromagnticas.
La velocidad de propagacin de las ondas, calculada a partir de
medidas puramente elctricas y magnticas, result ser
aproximadamente 3x108 m/seg. Dentro de los lmites de los errores
experimentales, mostraba un resultado igual a la velocidad de
propagacin de la luz determinada experimentalmente.
Pareca evidente que la luz consista en ondas electromagnticas
de longitud de onda extremadamente corta. Quince aos ms
tarde del descubrimiento de Maxwell, Heinrich Hertz, utilizando un
circuito oscilante de pequeas dimensiones, logr producir ondas
de corta longitud de indudable origen electromagntico y demostr
que posean las propiedades de las ondas luminosas, ya que
podan ser reflejadas, refractadas, concentradas por un lente,
polarizadas, etc., lo mismo que las ondas luminosas. A finales del
siglo XIX fue aceptada plenamente la teora electromagntica de la

luz de Maxwell y la comprobacin experimental de Hertz.
La teora electromagntica clsica no poda explicar el fenmeno
de emisin fotoelctrica, esto es, la expulsin de electrones de un
conductor por la luz que incide sobre su superficie. En 1905,
Einstein ampli una idea propuesta cinco aos antes por Planck y
postul que la energa de un haz luminoso, en lugar de estar
distribuida por el espacio en los campos elctrico y magntico de
una onda electromagntica, estaba concentrada en pequeos
paquetes o fotones. Se conservaba un vestigio de la descripcin
ondulatoria al considerar que el fotn tiene una frecuencia y que
su energa es proporcional a dicha frecuencia. El mecanismo del
efecto fotoelctrico consista en una emisin de energa de un fotn
a un electrn. Los experimentos de Millikan demostraron que la
energa cintica de los fotoelectrones coincida exactamente con la
frmula pospuesta por Einstein.
Otra confirmacin sorprendente de que la luz est formada por
fotones es el efecto descubierto por Compton, quien en 1921 logr
determinar el movimiento de un fotn y un electrn antes y despus
de un choque. Encontr que ambas partculas se comportan como
cuerpos materiales con energa cintica y cantidad de movimiento,
magnitudes que se conservan despus del choque. Tanto el efecto
fotoelctrico como el efecto Compton parecen exigir una vuelta a la
teora corpuscular de la luz.
El punto de vista actual de los fsicos, enfrentados con experimentos
aparentemente contradictorios, es aceptar el hecho de que la luz
tiene una doble naturaleza. Los fenmenos de propagacin de la
luz encuentran su mejor explicacin dentro de la teora ondulatoria
electromagntica, mientras que la accin mutua entre la luz y la
materia, en procesos de absorcin y emisin, es un fenmeno
corpuscular. La mecnica cuntica posibilita una relacin entre
ambas teoras.
En resumen, existe una teora ondulatoria y una teora corpuscular
que explican la naturaleza y las propiedades de la luz. Actualmente,
se sabe que la luz tiene un carcter dual onda-partcula. Para
efectos de la mineraloga ptica emplearemos bsicamente los
conceptos de la teora ondulatoria, ya que con su ayuda podemos
explicar mejor los fenmenos de refraccin, reflexin e interferencia.
Humberto Chirif
EL ESPECTRO ELECTROMAGNTICO
La radiacin electromagntica presenta un componente vectorial
magntico y otro elctrico; ambos son perpendiculares a la direccin
de propagacin y tambin perpendiculares entre s (ver figura
1.1).
El efecto del vector elctrico sobre la materia es el que determina
principalmente el comportamiento y propiedades de la luz, por ello,
para efectos de mineraloga ptica, no tomaremos en cuenta al
vector magntico.
Las radiaciones electromagnticas presentan diferentes longitudes
de onda; slo las comprendidas entre 3900 y 7700 pueden ser
captadas por el ojo humano (luz visible). Segn sus longitudes de
onda, las radiaciones presentan diferentes caractersticas, as por
ejemplo, las de menor longitud tienen mayor energa y mayor
poder de penetracin. Los rangos de variacin definen los tipos
de emisiones (ver figura 1.2), los cuales son empleados por el
hombre para diferentes fines.
El componente elctrico consta de un fotn que se desplaza
vibrando perpendicularmente a la direccin de propagacin. Su
movimiento vibratorio define una onda cuya longitud () determina
el tipo de radiacin, mientras que la frecuencia y la amplitud
determinan el color y la intensidad, respectivamente. Su velocidad
(V) depende del medio; de esta manera, la velocidad de la luz en
el vaco (c) es igual a 2,9979x108 m/seg.
La frecuencia (f) es el nmero de longitudes de onda que pasan
por un punto en un segundo (f = V/). La frecuencia no depende
del medio. Si un rayo de luz, emitido con una determinada longitud
de onda, cambia de medio, su velocidad y su longitud de onda
variarn, pero su frecuencia permanecer constante (ver figura
1.3).
LUZ NATURAL Y LUZ POLARIZADA. LUZ

BLANCA Y LUZ MONOCROMTICA
La luz natural es aquella compuesta por infinidad de rayos que
vibran en diferentes planos en todo el espacio, a diferencia de
la luz polarizada, que vibra solo de determinadas maneras, sea
en planos paralelos o en forma helicoidal. Sus caractersticas
sern expuestas con mayor detalle en el punto 1.4.
La luz blanca (natural o polarizada) es una mezcla de ondas
con diversas longitudes de onda que el ojo humano es incapaz
de separar, por ello, ste percibe una luminosidad sin coloracin
definida.
La luz monocromtica (natural o polarizada) consiste en ondas
de una misma longitud de onda que el ojo humano percibe
como una luminosidad con coloracin definida.
En la figura 1.4 se muestran las representaciones de la luz
natural y de la linealmente polarizada.
La luz se propaga en forma de muchas ondas con diferentes
direcciones. Considerando slo las ondas linealmente
polarizadas paralelas que provienen de una nica fuente,
podemos definir dos nuevos conceptos: frente de ondas y normal
de onda.
El frente de onda es la superficie formada por puntos homlogos
de las diferentes ondas, y la normal de onda es la perpendicular
a dicha superficie (ver figura 1.5).
En medios pticamente istropos es decir, medios en los que
las propiedades pticas son iguales en todas direcciones, la
normal de onda coincide con la trayectoria, mientras que en
medios anistropos la normal de onda y la trayectoria forman
ngulo.
Componente
elctrico
Direccin de
propagacin
Figura 1.1
Componentes de la radiacin electromagntica
Microscopa ptica de Minerales
10 -5
390
39000
RAYOS GAMMA
VIOLETA
INDIGO
AZUL
RAYOS X
ULTRAVIOLETA
VERDE
LUZ VISIBLE
10 5
4450
4450
4640
4640
5000
5000
AMARILLO
ANAR ANJADO
INFRAROJO
5780
5780
5920
5920
6200
6200
ROJO
ONDAS CORTAS
DE RADIO
10 1 0
77000
770
BANDA DE RADIODIFUSIN
ONDAS LARGAS DE RADIO
10 1 5
-10
(1= 10
(1
= 10m)-10 m)
Figura 1.2
Espectro de longitudes de onda de la radiacin electromagntica.
Direccin de vibracin
A
Direccin de
propagacin
V 1 1
Velocidad
(depende del medio)
V2 2
F= V
(La frecuencia determina el color)
Figura 1.3
Arriba. Elementos de la onda luminosa y su incidencia en el color e intensidad de la luz.

Abajo. Representacin de la variacin de velocidad de propagacin y longitud de onda en
diferentes medios.
Humberto Chirif
Rayo de luz linealmente polarizada
Haz de luz natural

Figura 1.4
Figura 1.5
Haz de luz linealente-polarizada
Frente de onda
Representacin de luz linealmente polarizada, monocromtica y blanca.
Frente de onda y normal al frente de onda.En medios istropos la normal coincide con la trayectoria;
mientras que en medios anistropos la normal de onda y la trayectoria forman un ngulo.
POLARIZACIN
La luz natural es aquella en que la radiacin vibra en todos los
planos perpendiculares a la trayectoria. La luz cuyas vibraciones
estn restringidas a determinadas direcciones en el espacio se
denomina luz polarizada. Existen tres tipos de polarizacin: lineal,
circular y elptica. En la luz linealmente polarizada el fotn se
desplaza vibrando perpendicularmente a la trayectoria y
describiendo una onda contenida en un plano. En el caso de la luz
elpticamente polarizada el fotn avanza describiendo una hlice
en torno a la trayectoria (ver figura 1.6). La polarizacin circular es
un caso especial de la elptica.
A los materiales que convierten la luz blanca en luz linealmente

polarizada se les denomina polarizadores. A la luz que emerge de
los polarizadores se le ha hecho vibrar paralelamente a una
direccin particular conocida como direccin privilegiada del
polarizador. Se puede obtener luz linealmente polarizada
principalmente por doble refraccin y por absorcin (ver figura
1.7).
El mtodo de doble refraccin consiste en hacer pasar un haz de
luz natural por un cristal de calcita de la variedad espato de Islandia
previa y adecuadamente cortado y vuelto a pegar con blsamo de
Canad. Dentro del cristal de calcita la luz se descompone en dos
Figura 1.6
Figura 1.7
Representacin de luz linealmente polarizada y elpticamente polarizada.
Mtodos para obtener luz linealmente polarizada.
rayos linealmente polarizados, uno que sigue con la trayectoria

inicial (rayo ordinario) y otro que cambia su trayectoria (rayo
extraordinario). El rayo extraordinario se refleja en la capa de
blsamo y se pierde, mientras que el otro rayo linealmente
polarizado atraviesa la capa de blsamo sin desviarse saliendo
del cristal de calcita como luz linealmente polarizada.
El mtodo de absorcin consiste en hacer incidir un haz de luz
blanca en un enrejado paralelo muy fino (cristales fibrosos,
rectos y paralelos) por donde slo podrn pasar los rayos que
vibran en la direccin del enrejado. Este tipo de polarizadores
consiste en cristales de turmalina, lminas polaroid o cristales
orgnicos en acetato.
Los polarizadores de calcita son los de mejor calidad; sin embargo,
los ms utilizados en microscopa son los de absorcin de origen
orgnico, a pesar que se despolarizan con el tiempo o con un trato
inadecuado.
INTERFERENCIA ENTRE ONDAS LUMINOSAS

Cuando dos ondas de la misma longitud de onda pero de diferente
intensidad vibran en el mismo plano y se propagan en la misma
direccin se produce el fenmeno de interferencia, es decir, de
ambas ondas se forma una resultante (ver figura 1.8). Si oscilan
acompasadamente (igualdad fsica) la amplitud de la resultante
ser igual a la suma de las amplitudes de las componentes

(interferencia constructiva).
Por el contrario, si las dos oscilaciones actan exactamente de
manera opuesta (retardo de 1/2 , 3/2 , etc.) coincidiendo los
senos y las crestas de las ondas, se origina extincin de aquellas
(interferencia destructiva).
Cuando el desplazamiento fsico no corresponda a una ni media
longitud de onda, la oscilacin resultante podr ser mayor, igual o
menor que las componentes.
REFRACCIN Y REFLEXIN
Refraccin es el fenmeno por el cual un rayo de luz cambia su
direccin de propagacin al pasar oblicuamente de un medio a
otro. Reflexin es el fenmeno por el cual un rayo de luz cambia su
direccin de propagacin al incidir sobre una superficie de
separacin de dos medios sin poder atravesarla.
Los rayos incidente, reflejado y refractado discurren en el mismo
plano. Los ngulos de incidencia (i), de reflexin (R) y de refraccin
(r) se definen como los ngulos entre la normal a la interfase y los
rayos incidente, reflejado y refractado respectivamente (ver figura
1.9). El ngulo de reflexin (R) ser siempre igual al de incidencia
(i), el ngulo de refraccin es funcin de la diferencia de ndices de
refraccin entre los dos medios.
Humberto Chirif
1/2
Figura 1.8
Representacin de dos ondas que interfieren (dibujadas con color negro y azul) y la resultante (rojo). En la parte superior se
representa una interferencia constructiva. En la parte central una interferencia totalmente destructiva generada por dos ondas
de la misma longitud desfasadas en media longitud de onda. En la parte inferior se representa la interferencia de dos ondas
desfasadas una distancia diferente a n/2 longitudes de onda (n entero).
N
Ri
RR
i
r
Rr
Figura 1.9
Rayo incidente (Ri), reflejado (Rl) y refractado (Rr) y sus respectivos ngulos con la normal: ngulo de incidencia
(i), de reflexin (l) y de refraccin (r).
DISPERSIN
Dispersin es el fenmeno por el cual un haz de luz blanca se
separa en sus colores componentes al atravesar un medio de
mayor ndice de refraccin (ver figura 1.10).
El grado de separacin angular entre dos rayos luminosos de dos
longitudes de onda diferentes depende de las diferencias entre los
dos ndices de refraccin para esas longitudes de onda.
La diferencia entre los ndices en una sustancia para los rayos con
= 4861 (azul, lnea F de Fraunhofer) y = 6563 (rojo, lnea
C de Fraunhofer) se conoce como coeficiente de dispersin. Este
coeficiente tiene un valor caracterstico para cada material.
ABSORCIN DE LA LUZ Y COLOR DE

TRANSMISIN
Absorcin luminosa es la prdida de la intensidad de luz al pasar
a travs algn medio material. Esta prdida se debe a que parte
de la energa luminosa se transforma en calorfica durante el paso.
El grado de absorcin de la luz depende considerablemente del
espesor del material. El debilitamiento de la energa sigue la ley de
Lambert:
I = I0 . e-4kd/0
donde I es la intensidad de la luz a una distancia d de recorrido
dentro del material desde la superficie de incidencia, 0 es la
V11
intensidad inicial, k es el coeficiente de absorcin y 0 la longitud de

onda de la luz en el vaco.
La absorcin luminosa es ms acentuada en algunos medios que
en otros. Muchas sustancias poseen una absorcin general para
todas las longitudes de onda de la luz visible; otros muestran
absorcin selectiva o especfica, donde determinados rangos de
longitudes de onda son absorbidos ms marcadamente. El vidrio
azul de una ventana, por ejemplo, absorbe con preferencia las
longitudes de onda rojas de la luz solar incidente, mientras que la
luz azul del espectro solar es transmitida (color de transmisin).
En los cristales se dice que el color es idiocromtico si se produce
por una absorcin selectiva del mismo mineral y alocromtico si es
el resultado de la absorcin selectiva de la luz por pequeas
impurezas dispersas dentro del mineral.
CUERPOS TRANSPARENTES, TRANSLCIDOS

Y OPACOS
En mineraloga microscpica se consideran cuerpos transparentes
y translcidos a aquellos que con un espesor de 30 m dejan
pasar la luz. En ellos el coeficiente de absorcin es bajo (k < 10-4
en los transparentes y k 10-4 en los translcidos), el ndice de
refraccin es bajo (n entre 1,4 y 2,4) y la reflectancia es baja
(<17%). En el estudio microscpico de minerales transparentes y
translcidos el ndice de refraccin juega un papel muy importante
y la reflectancia no es relevante.
V22
V33
Coeficiente de
Coeficiente
deDispersin
Dispersin = nF - nc
Figura 1.10
Dispersin de un rayo luminoso al atravesar un medio de ndice de refraccin mayor a uno. El coeficiente de
dispersin (separacin angular entre los rayos rojo y violeta refractados) depende del valor del ndice de refraccin
del material del prisma.
10
Humberto Chirif
Minerales o cuerpos opacos son aquellos que con un espesor de

30 m no dejan pasar luz. En ellos la absorcin es alta (k entre 104
y 10-1), el ndice de refraccin es por lo general mayor a 2,4 y la
reflectancia es alta. En el estudio microscpico de minerales opacos
la reflectancia es una propiedad muy importante.
Cuando la luz pasa de un medio de mayor a otro de menor ndice

de refraccin, el rayo refractado se aleja de la normal. Llamamos
ngulo crtico al ngulo de incidencia que origina un ngulo de
refraccin de 90. Rayos incidentes con ngulo mayor al ngulo
crtico sufrirn reflexin total (ver figura 1.12).
NDICE DE REFRACCIN Y LEY DE SNELL
REFLECTANCIA DE LUZ MONOCROMTICA

LINEALMENTE POLARIZADA
El ndice de refraccin se define como la relacin entre la velocidad

de la luz en el vaco y la velocidad de la luz en el medio
correspondiente (n = Vv / V).
Para fines de la mineraloga ptica se considera la velocidad de la
luz en el aire igual a la de la luz en el vaco, en consecuencia el
ndice de refraccin del vaco es igual a 1 y de cualquier otro medio
es mayor que 1.
Los medios istropos presentan un nico valor del ndice de
refraccin, mientras que los medios anistropos presentan ndices
diferentes en diferentes direcciones. La mayora de minerales
formadores de rocas presentan ndices de refraccin entre 1,4 y
2,2.
La diferencia de ndices de refraccin de dos medios es la causa
que un rayo que pasa de un medio a otro se desve; as, al pasar
a un medio de mayor ndice de refraccin el rayo refractado se
acerca a la normal a la interfase y al pasar a un medio de menor
ndice de refraccin se aleja de la normal.
En 1621 Willebrord van Roijen Snell determin la relacin entre la
trayectoria del rayo incidente y la del rayo refractado, la cual es
conocida como Ley de Snell, cuyo enunciado es ni Sen i = nr Sen
r (ver figura 1.11).
La reflectancia o poder de reflexin de un mineral est dado por la

relacin entre la intensidad de la luz reflejada y la intensidad de la
luz incidente:
R = 100 (Il/I0) %
En muchos casos resulta difcil estimar la reflectancia abstrayndola
del concepto de color.
En microscopa de minerales absorbentes (opacos) el rayo suele
incidir perpendicularmente a la superficie pulida del mineral. El
ngulo de incidencia es cero.
La ecuacin de Fresnel relaciona la reflectancia con el ndice de
refraccin. Tratndose de minerales istropos no absorbentes
(translcidos) esta ecuacin es:
R =
(n + no)2
donde R , n y no representan los valores de la reflectancia, el

ndice de refraccin del mineral y el ndice de refraccin del medio
de inmersin, ambos para un determinado valor de longitud de
onda del rayo incidente. Si el medio es el aire no se considera
igual a 1.
ni Sen i = nr Sen r
Ri
(n - no)2
i
ni
nr
Rr
Figura 1.11
ni nr == ndices
ndices
de refraccin
de refraccin
i r ==ngulos
de incidencia
Angulos de incidencia
y de refraccin
y de refraccin
Normal a a
la la
interfase
N = Normal
interfase
Ley de Snell. Relacin entre ndices y ngulos de refraccin.
11
1
r1
r2
Nr = 1,0
Ni = 2,0
i4
i2
i3
2
r3
i1
l4 = i4
3
2
Figura 1.12
r = ArcSen (2,0 Sen i)
25
5741`24``
26
6115`00``
27
6513`12``
28
6952`12``
29
7550`24``
30
90
31
Reflex.Total
32
Reflex.Total
33
Reflex.Total
0334`
0358`
0439`
0558`
1410`
ngulo crtico. Los rayos incidentes de luz linealmente polarizada discurren en un medio de mayor ndice de
refraccin. Los rayos 1 y 2 inciden con ngulos inferiores al ngulo crtico y en consecuencia cruzan la interfase y
se refractan. El rayo 3 incide con ngulo crtico, pues se refracta con un ngulo de 90. El rayo 4 incide con ngulo
superior al ngulo crtico y por ende sufre reflexin total. A modo de ejemplo notamos en la tabla, que conforme se
incrementa el ngulo de incidencia en un grado acercndose al valor del ngulo crtico, el ngulo de refraccin
aumenta cada vez ms.
Para el caso de minerales istropos absorbentes, la ecuacin

considera al coeficiente de absorcin kl (ecuacin de Beer):
R =
(n - no)2 + k2
(n + no)2 + k2
objeto y a una distancia menor a la focal a un segundo lente

biconvexo, la primera imagen ser el objeto del segundo lente el
cual generar una imagen virtual, invertida y mucho ms grande.
Esta combinacin de lentes no es otra cosa que un microscopio
compuesto (ver figura 1.13).
EL MICROSCOPIO DE POLARIZACIN
El microscopio de polarizacin es un microscopio compuesto al

que se le ha provisto de dos polarizadores y una platina giratoria.
El primer polarizador se ubica antes de la muestra, para de esta
forma estudiar los objetos con luz linealmente polarizada. La platina
giratoria permite girar a la muestra y de esta forma la direccin de
vibracin de la luz linealmente polarizada incide en la muestra con
diferentes orientaciones. El polarizador (analizador) superior se
ubica entre la muestra y el ocular permitiendo analizar si el mineral
estudiado es capaz de hacer variar la direccin de la luz linealmente
polarizada incidente (ver figura 1.14). Los microscopios de
polarizacin presentan un sistema de luz transmitida para el estudio
de minerales transparentes y otros de luz reflejada para estudio de
minerales opacos. A los equipos provistos slo de sistema de luz
transmitida comnmente se les denominan microscopios
petrogrficos, puesto que sirven para el estudio de minerales
formadores de rocas, y a los equipos provistos de ambos sistemas
se les denomina microscopios universales.
Cuando un objeto se encuentra a una distancia ligeramente mayor

a la focal genera a travs de un lente biconvexo una imagen real,
invertida y ms grande. Y si se coloca por encima de dicha imagen-
En las figuras 1.15 y 1.16 se representan las partes de los

microscopios de luz transmitida y de luz reflejada y a continuacin
se explica brevemente las caractersticas de cada parte.
Para medios anistropos es necesario considerar los dos valores

de ndices de refraccin y los dos valores del coeficiente de absorcin
del mineral en la superficie pulida, adems de los ngulos entre el
plano de vibracin de la luz incidente y las direcciones privilegiadas
de vibracin del mineral en la superficie pulida:
R =
(n 1 - n o )2 + k 12
(n1 + n o) 2 + k 12
(n 2 - n o )2 + k22
(n 2 + n o )2 + k 22
Cos21 +
Cos 22
12
Humberto Chirif
Figura 1.13
Esquema del microscopio compuesto: El objeto

de estudio ubicado debajo del lente objetivo a una
distancia mayor a la focal genera la imagen 1 (real,
inversa y ms grande), la cual constituye el objeto
(objeto 2) del lente ocular, que se ubica por encima
a una distancia menor a su distancia focal, generando una imagen final virtual, normal y mucho ms
grande.
Base
Los microscopios de polarizacin de luz transmitida tienen la fuente
luminosa en la base, donde adems se ubican el vidrio mate, un
espejo o prisma para desviar los rayos hacia arriba verticalmente,
el diafragma de campo luminoso y el filtro azul. La fuente luminosa
emite luz blanca y su intensidad puede ser regulada. El vidrio mate
permite que pase la luz sin dejar pasar la imagen del filamento de
la lmpara; la luz sale de toda la superficie del vidrio en forma
homognea, como luz natural, es decir que sus rayos componentes
no estn polarizados.
El prisma o espejo de la base en algunos modelos de microscopio
es ligeramente movible de tal manera que se pueda regular el
direccionamiento del haz hacindolo coincidir lo mejor posible con
el eje del microscopio.
El diafragma de campo luminoso restringe la cantidad de luz que
va a pasar y permite as centrar el haz con el eje del microscopio.
Figura 1.14
Esquema del microscopio de polarizacin:

Se trata de un microcopio compuesto provisto
de dos polarizadores, uno inferior ubicado
debajo de la platina y que permite estudiar a
los minerales con luz linealmente polarizada,
y otro superior, ubicado entre el objetivo y el
ocular y que permite analizar el efecto de la
luz linealmente polarizada sobre el mineral
estudiado.
El filtro azul, ltimo componente de la base, da al haz de luz blanca

una apariencia de luz de da.
Conjunto subplatina
El conjunto subplatina est conformado por el condensador de
bajo poder, el polarizador, el diafragma de apertura y el
condensador de alto poder. Los condensadores son lentes
convergentes que acercan a los rayos para que la cantidad de luz
se conserve sin iluminar sus paredes internas.
El condensador de bajo poder genera luz ortoscpica y el de alto
poder, en conjuncin con un objetivo de alto poder, genera luz
conoscpica; es decir, rayos que viajan convergentemente hacia
un punto formando as un cono de luz (ver figura 1.17).
El diafragma de apertura impide el paso de los rayos externos del
haz permitiendo aislar detalles pequeos de la muestra sin cambiar
de objetivo.
13
OCULAR
LENTE AMICCIBERTRAND
ANALIZADOR
ESTATIVO
CAVIDAD PARA
COMPENSADORES
OBJETIVO
TORNILLO
DE ENNFOQUE
MUESTRA
PLATINA
CONDESADOR
DE ALTO PODER
DIAFRAGMA
DE APERTURA
TORNILLO DEL
CONJUNTO
SUBPLATINA
POLARIZADOR
CONDENSADOR
DE BAJO PODER
BASE
FILTRO AZUL
Figura 1.15
VIDRIO
MATE
DIAFRAGMA
DE CAMPO
LMPARA DE
LUZ TRANSMITIDA
Microscopio de polarizacin de luz transmitida.
POLARIZADOR
TUBO ILUMINADOR
DE LUZ REFLEJADA
(TUBO EPI-ILUMINADOR)
DIAFRAGMA
DE APERTURA
DIAFRAGMA
DE CAMPO
OCULAR
CONDENSADOR
LENTE AMICCIBERTRAND
FILTRO AZUL
VIDRIO MATE
ANALIZADOR
LMPARA
ESPEJO
SEMIREFLECTOR
CAVIDAD PARA
COMPENSADORES
ESTATIVO
OBJETIVO
MUESTRA
PLATINA
TORNILLO
DE ENFOQUE
Figura 1.16
Microscopio de polarizacin de luz reflejada.
14
Humberto Chirif
LuzORTOSCPICA
Ortoscpica
LUZ
(Haz de rayos paralelos)
LuzCONOSCPICA
Conoscpica
LUZ
(Haz de rayos cnico con el
vrtice enfocado en la muestra)
Para observacin de caractersticas

de una superficie
Para estudio de figuras de interferencia
Lente Bertrand fuera de secuencia
Figura 1.17
Lente Bertrand en secuencia (o retirar ocular)

Ncoles cruzados
Objetivo de alto poder (40X) bien centrado
Condensador de alto poder
Compensadores (para ver el signo ptico)
Diferencias entre luz ortoscpica y luz conoscpica.
Platina
Objetivos
La platina (superficie sobre la que se coloca la muestra) es giratoria

en los microscopios de polarizacin, lo cual permite que los
minerales sean estudiados en diferentes orientaciones respecto
de sus direcciones privilegiadas de vibracin.
Por encima de la platina se ubica el objetivo o el sistema revlver

que sujeta a varios objetivos. Los objetivos tienen por funcin
producir una imagen ntida y clara, la cual se convertir luego en
el objeto del lente ocular. Consta de un cilindro en cuya parte
15
inferior se encuentra engastado el lente objetivo y en la parte

superior presenta una rosca para sujetarlo al sistema revolver.
En la superficie del cilindro se encuentran gravadas sus
caractersticas (ver figura 1.18), las cuales se resumen en los
siguientes conceptos:
AI =
AA=
NA=
Amplificacin Inicial o amplificacin del objetivo. Existen

objetivos de baja amplificacin (3,2X a 5X),
amplificacin media (10X, 20X), amplificacin alta (40X,
45X) y muy alta (100X)
Apertura Angular.- Es el ngulo entre los rayos ms
divergentes que llegan al lente objetivo desde el punto
central de la muestra.
Apertura numrica = n Sen , donde n es el ndice
de refraccin del medio (aceite o aire) y, es igual
a la mitad de la apertura numrica.
Largo del tubo vertical (distancia entre la parte inferior del tambor
objetivo y la superior del ocular). Mayormente es de
160 mm en los microscopios de luz transmitida, y 210
mm en los de luz reflejada.
Correcciones.- Se refiere a si el objetivo puede ser usado para
observacin de muestras con cubreobjeto o sin
cubreobjeto. Si se indica 0,17 significa que dicho
objetivo se puede utilizar para estudio de secciones
delgadas (0,17 mm es el espesor del cubreobjeto). Si
se indica 0 es un objetivo que puede ser usado
indistintamente para secciones con o sin
cubreobjeto.
Otros conceptos importantes relacionados a los objetivos son los
siguientes:
Distancia libre de trabajo (DLT).- Distancia entre la parte ms baja
del objetivo (que en muchos casos es un anillo

protector de metal) y la parte ms alta del objeto.
Profundidad de enfoque (PE).- Distancia entre el lmite superior e
inferior enfocado. Es una funcin inversa de la
apertura numrica. A mayor apertura numrica, menor
profundidad de enfoque (ver figura 1.18).
Lmite de resolucin.- Distancia mnima entre lneas que pueden
ser separadas (reconocidas) por cada objetivo.
Cavidad para compensadores

Es una cavidad larga ubicada entre el objetivo y el analizador con
orientacin diagonal (45) con respecto a las direcciones
privilegiadas del polarizador y analizador. Su funcin y la de los
compensadores se ven en el captulo 3.
Analizador (o polarizador superior)

Es un polarizador cuya direccin de polarizacin es perpendicular
a la del primer polarizador. Sirve para determinar una serie de
propiedades (punto 3.2), principalmente analiza si el mineral
estudiado origina algn cambio en la direccin de vibracin de la
luz linealmente polarizada incidente.
Lente Amicci-Bertrand
El lente Amicci-Bertrand, que es un lente biconvexo asimtrico y
de alto poder de amplificacin, se utiliza en combinacin con el
condensador de alto poder y un objetivo de gran aumento, para
obtener luz conoscpica para la observacin de figuras de
interferencia (captulo 4).
Tubo epi-iluminador
Se emplea exclusivamente para el estudio de minerales opacos
(luz reflejada). Es un tubo que segn los modelos de microscopios
Tabla 1.1
Caractersticas de los objetivos. Relacin numrica entre apertura angular,
apertura numrica, distancia libre de trabajo, profundidad de enfoque cantidad de
lneas que pueden ser reconocidas y lmite de resolucin para objetivos de
diferentes amplificaciones iniciales
AI
AA
NA
DLT
PE
16
Humberto Chirif
Figura 1.18
Caractersticas de los oculares (arriba) y objetivos (centro). En la parte inferior se representa la distancia libre
de trabajo (DLT) y profundidad de enfoque (PE) para un objetivo con poder de amplificacin bajo (izquierda) y
alto (derecha).
se debe instalar o est permanentemente instalado. Consta,

anlogamente a la base y conjunto subplatina del microscopio de
luz transmitida, de una fuente luminosa, vidrio mate, filtro azul,
condensador de bajo poder, diafragma de campo, diafragma de
apertura y polarizador. Adems, y a diferencia del caso de luz
transmitida, presenta un sistema de iluminacin vertical (espejo
semireflector entre otros tipos) que desva la iluminacin hacia
abajo, es decir hacia la muestra. En el captulo 6 se describe con
mas detalle el sistema de iluminacin para luz reflejada.
Oculares
El lente ocular es el que aumenta la imagen producida por el obje-
objetivo y genera la amplificacin total (amplificacin del ocular por

la del objetivo). El ocular se encuentra engastado en un cilindro
que encaja en la parte superior del tubo vertical. El lente ocular
mismo se ubica en la parte superior del cilindro, en un sistema que
permite moverlo ligeramente en forma vertical para que cada
observador enfoque segn su medida de vista.
Existen oculares de baja amplificacin (5X a 6X), amplificacin
media (10X, 12X) y amplificacin alta (16X). En la parte media del
cilindro, aproximadamente donde se forma la imagen del objetivo,
se encuentran engastados dos hilos perpendiculares que sirven
para dividir el campo visual en cuatro cuadrantes.
17
CORRECCIONES AL MICROSCOPIO DE
POLARIZACIN
Con el uso del microscopio algunas de sus partes se aflojan y
descentran y por ello es necesario regularmente hacer ciertas
correcciones, siendo las principales el centrado de objetivos,
centrado de fuente luminosa y la correccin de perpendicularidad
entre polarizador y analizador.
Correccin de objetivos descentrados

Cuando el eje del objetivo no coincide exactamente con el eje del
microscopio decimos que el objetivo se encuentra descentrado. Al
girar la platina veremos que el objeto ubicado en el centro del
campo visual no gira sobre su propio eje sino que sale del centro
y hace una rbita circular. Si el objetivo est muy descentrado la
rbita sale del campo visual. Si la rbita tiene forma de e es
porque adems del objetivo, la platina tambin est descentrada,
para lo cual se requiere la intervencin de un tcnico especialista
en mantenimiento de microscopios.
luminosa o el prisma de la base o el conjunto subplatina,

segn el modelo del microscpio.
5)
Enfocar una seccin delgada y retirarla.
6)
Centrar el punto luminoso con los tornillos moleteados del

conjunto subplatina, o del prisma de la base, segn el
modelo del microscopio.
7)
Abrir diafragma de campo luminoso hasta que el polgono

quede circunscrito al campo visual.
8)
Colocar filtro azul, vidrio mate y seccin delgada.
9)
Graduar diafragma de apertura e intensidad.
Correccin de perpendicularidad de
polarizadores
Para corregir objetivos descentrados se empieza con el de menor

aumento procediendo de la siguiente manera (ver figura 1.19):
Cuando la direccin privilegiada del polarizador y la del analizador

no son perfectamente perpendiculares, las observaciones entre
ncoles cruzados no sern las correctas (los minerales istropos
no se ven oscuros y los anistropos presentan colores diferentes
a los correspondientes a su birrefringencia).
1)
Para corregir ello se procede de la siguiente manera:
2)
3)
Enfocar una seccin delgada y ubicar algn detalle puntual

en el cruce de los retculos.
1)
Girar la platina hasta que el detalle est lo ms alejado

posible del cruce reticular.
Enfocar una seccin delgada y ubicar algn medio istropo

(vidrio, blsamo) o retirar la seccin.
2)
Con ayuda de los tornillos para centrar objetivos, mover el

detalle hasta la mitad de su distancia con el cruce reticular
Colocar el analizador en secuencia (ncoles cruzados).

No debe pasar luz.
3)
Si pasa luz entonces girar el polarizador hasta conseguir

la oscuridad.
4)
A mano llevar el detalle hasta el cruce de los retculos.
5)
Girar la platina y si el objetivo aun no est centrado volver

al paso 1.
Correccin de fuente luminosa

Cuando el eje del haz de luz transmitida no coincide con el del
microscopio decimos que la fuente luminosa est descentrada.
El campo visual no se ve homogneamente iluminado y los
minerales presentan sombras hacia un lado. Para corregir ello se
procede de la siguiente manera (ver figura 1.19):
PREPARACIN DE LA MUESTRA (SECCIONES

DELGADAS Y PULIDAS)
El microscopio de polarizacin requiere de una preparacin
adecuada de la muestra que empieza con una rigurosa seleccin
de la zona a estudiar; esto puede ser una venilla, una capa, la
masa fundamental de una roca, etc. Si el objetivo es estudiar
minerales transparentes se debe preparar una seccin delgada y
si se quiere estudiar minerales opacos se preparar una seccin
pulida.
1)
Colocar el objetivo de menor aumento correctamente

centrado.
En la figura 1.20 se representa el proceso de preparacin de

secciones delgadas o pulidas.
2)
Retirar el filtro azul, vidrio mate, polarizador y condensador

de alto poder.
3)
Cerrar diafragmas de apertura y de campo luminoso.
4)
Ver la proyeccin del filamento de la fuente luminosa en el

diafragma de apertura y centrar moviendo la fuente
Si la muestra es deleznable o muy delicada, ser recomendable

impregnarla con resina o blsamo de Canad al vaco, con lo cual
la muestra adquiere mayor cohesin. Luego se realiza el corte de
la porcin seleccionada. Si se trata de una seccin delgada se
debern realizar dos cortes paralelos con una separacin de
aproximadamente 1 mm, pulir una cara y pegarla sobre una lmina
18
Humberto Chirif
CorreccinDE
deOBJETIVOS
Objetivos Descentrados
CORRECCIN
DESCENTRADOS
(1)
(2)
(4)
(3)
(5)
Correccin
FuenteLUMINOSA
Luminosa Descentrada
CORRECCIN
DEde
FUENTE
DESCENTRADA
Figura 1.19
Esquema de la correccin de objetivos descentrados (arriba) y de fuente luminosa descentrada (abajo).
porta objeto. Si se desea preparar una seccin pulida, el trozo

cortado se engastar en una briqueta de resina epoxy u otro
producto similar.
Luego las muestras se desgastarn sobre superficies de pulido
con abrasivos cada vez ms finos empezando con carburundum y
culminando con alminas o, mejor an, con polvo fino de diamante.
Con cada abrasivo se trabajar hasta que desaparezcan las

irregularidades obtenidas con el abrasivo anterior. En el caso de
las secciones delgadas se deber obtener un espesor de 30 m,
lo cual se comprueba con la coloracin del cuarzo visto entre
ncoles cruzados. Finalmente la seccin delgada deber ser cubierta
con una lmina cubre objeto.
19
Seccin delgada
Seccin pulida
Abrasivos:
ABRASIVOS:
Carburundum
Almina
Polvo de diamante
Lubricantes:
LUBRICANTES:
Agua
Alcohol
Aceites
Figura 1.20
Preparacin de secciones delgadas y secciones pulidas.
Superficie de
SUPERFICIE
Pulido:
DE
PULIDO:
Vidrio
Plomo
Plstico
Hierro fundido
PGINA EN BLANCO
CAPTULO II
CRISTALOGRAFA Y CARACTERSTICAS PTICAS
DE LOS MINERALES
GENERALIDADES SOBRE LOS MINERALES
formas de pentadodecaedros, de octaedros, de cubos o

combinaciones de estas formas, y en cada caso con diferentes
calidades de desarrollo de stas (a veces en cristales bien formados
y otras con aristas redondeadas o hasta totalmente anhedrales,
sin caras planas). El desarrollo de las formas externas depender
de las condiciones de formacin en el yacimiento, tales como
disponibilidad de espacio, velocidad de variacin de la presin o
la temperatura, entre otras. Pero absolutamente en todos los casos,
todos los cristales de pirita que se formen tendrn siempre el mismo
ordenamiento cristalino (isomtrico, diploidal 2/m3), de lo contrario
ya no sera pirita y estaramos hablando de una transformacin de
una especie en otra.
Los minerales son compuestos naturales, inorgnicos, slidos, con

composicin qumica ms o menos definida, propiedades fsicoqumicas relativamente constantes y estructura interna caracterstica.
Tomemos el ejemplo de la pirita, que es un mineral del grupo de los
sulfuros de frmula general FeS2. Sus elementos constituyentes
presentan un ordenamiento cristalino nico (isomtrico, diploidal
2/m3) que resulta caracterstico de esa y solo de esa especie. Sin
embargo, en la composicin qumica pueden haber pequeas
modificaciones producidas por sustituciones de nquel o cobalto
por el hierro, las cuales no influyen en el arreglo cristalino, pero s
en sus propiedades (por ejemplo, con el incremento de nquel
disminuye ligeramente la dureza del mineral y ste adquiere una
tonalidad tenuemente roscea).
CARACTERSTICAS CRISTALOGRFICAS Y
PTICAS DE LOS MINERALES. INDICATRICES
PTICAS
Los minerales se forman por ordenamiento de elementos con

disposiciones tridimensionales especficas y repeticin de la molcula
elemental a distancias especficas en direcciones especficas. Ello
obedece a clases de simetra de los sistemas cristalinos, de tal
manera que cada especie mineral presenta una estructura interna
propia, la cual se puede manifestar o no en formas externas. El
desarrollo de estas formas depende del ambiente de formacin.
En la figura 2.1 se representa el desarrollo de un cristal.
Las caractersticas cristalogrficas ms generales de un mineral

son los periodos con que se repite la partcula elemental o embrin
del cristal y los ngulos entre las direcciones de repeticin, lo cual
define a los sistemas cristalinos (figura 2.2). Segn dichas
caractersticas podemos reconocer tres grupos de minerales:
As, por ejemplo, el mineral pirita puede presentarse en la naturaleza

con diversas formas externas; en algunos casos, cristales con
a)
Minerales cuyas direcciones de repeticin son ortogonales

entre s, y los periodos de igual magnitud (sistema cbico).
b)
Minerales con periodos de repeticin de igual magnitud
Molcula
Figura 2.1
Retculo
Cristal
Desarrollo tridimensional de los minerales. Existiendo la disponibilidad qumica y las condiciones fsicas apropiadas, los
elementos se unen ordenadamente formando un arreglo cristalogrfico caracterstico. El desarrollo de las caras externas
depende de las condiciones fsicas particulares del yacimiento.
22
Humberto Chirif
Sistema
Caractersticas
Cbico
Clases de Simetra
Hexaquisoctadrica
Girodica
Hexaquistetradrica
Diplodrica
Tetratodica
Tetragonal
Bipiramidal tetragonal
Trapezodrica tetragonal
Piramidal ditetragonal
Escalenodrica tetragonal
Piramidal tetragonal
Biesfenodica tetragonal
Hexagonal
Bipiramidal dihexagonal
Trapezodrica hexagonal
Piramidal dihexagonal
Bipiramidal ditrigonal
Bipiramidal hexagonal
Piramidal hexagonal
Bipiramidal trigonal
Trigonal
Escalenodrica hexagonal
Trapezodrica trigonal
Piramidal ditrigonal
Rombodrica
Piramidal trigonal
Rmbico
Bipiramidal rmbica
Biesfenodica rmbica
Piramidal rmbica
Monoclnico
Prismtica
Esfenodica
Domtica
Triclnico
Figura 2.2
Pinacoidal
Pedial
Caractersticas de los sistemas cristalinos.
23
en direcciones coplanares y un periodo diferente en otra

direccin (sistemas tetragonal, hexagonal y trigonal).
c)
Minerales con periodos de repeticin diferentes en cada

direccin (sistemas rmbico, monoclnico y triclnico).
Anlogamente, los minerales presentan ndices pticos (de refraccin

o de reflexin, segn sea el caso de minerales transparentes u
opacos) en tres diferentes direcciones siempre ortogonales entre
s (conocidas como direcciones privilegiadas).
El modelo que representa las caractersticas pticas de un mineral
(variacin de la magnitud de los ndices segn la direccin) es
conocido como indicatriz ptica. Segn las caractersticas pticas
y por ende la morfologa de las indicatrices, se pueden
reconocer tres grupos de minerales:
a)
Minerales que presentan el mismo valor de ndice en

cualquier direccin (istropos). Su indicatriz ser una
esfera (igual radio en cualquier direccin).
b)
Minerales con ndices de igual magnitud en direcciones

coplanares y de magnitud diferente en la direccin ortogonal
a dicho plano (anistropos unixicos). La indicatriz ser
un elipsoide de revolucin.
Figura 2.3
c)
Minerales con ndices de diferentes magnitudes en cada

una de tres direcciones ortogonales entre s (anistropos
bixicos). La indicatriz ser un elipsoide triaxial.
En la figura 2.3 se comparan las caractersticas cristalogrficas con

las pticas y se muestran los tres tipos de indicatrices.
En la figura 2.4 se explican las caractersticas de las indicatrices de
minerales istropos y anistropos. All se puede observar que los
minerales istropos presentan un nico valor de ndice de refraccin
(n); por otro lado, los minerales anistropos unixicos presentan
dos valores (n y n , ndice ordinario y extraordinario
respectivamente), y los anistropos bixicos presentan tres valores
(n, n y n).
La indicatriz de minerales unixicos presenta una nica seccin
circular, es decir, una seccin en la cual los ndices tienen la misma
magnitud en cualquier direccin de ese plano (n), mientras que
las indicatrices de minerales bixicos presentan dos secciones
circulares (n). Los ejes perpendiculares a las secciones circulares
se conocen como ejes pticos. El ngulo que hacen los ejes pticos
de los minerales bixicos se denomina ngulo 2V.
Comparacin entre caractersticas cristalogrficas y pticas de los minerales.
24
Humberto Chirif
Figura 2.4
Tipos de indicatrices y sus elementos.
REDUCCIN DE TRES A DOS DIMENSIONES

Si se hace un corte al cristal para preparar una seccin delgada o
pulida, estaremos reduciendo los aspectos morfolgicos y pticos
de tres a dos dimensiones. As, por ejemplo, si cortamos un cubo,
obtendremos superficies triangulares, cuadrangulares,
pentagonales o hexagonales, segn la orientacin del corte,
pasando de esa manera de un volumen a una superficie. Igualmente,
en una seccin de un mineral, encontramos slo dos de sus tres
ndices pticos, los que estn en direcciones ortogonales entre s
(direcciones privilegiadas del mineral en la seccin) y corresponden
a los radios principales de la elipse de interseccin de la indicatriz
con el plano de corte (ver figura 2.5).
LUZ LINEALMENTE POLARIZADA TRANSMITIDA

EN MINERALES TRANSPARENTES
Con el microscopio de polarizacin de luz transmitida podemos
estudiar la interferencia de luz linealmente polarizada en un
determinado corte del mineral transparente (seccin delgada) y
en diferentes posiciones, esto ltimo gracias a la platina giratoria
del microscopio (ver figura 2.6).
En minerales istropos (sistema cbico y

mineraloides)
Como sabemos, cualquier corte que se haga en un mineral istropo
(sistema cbico o sustancias amorfas) permitir obtener secciones
con ndices de refraccin de la misma magnitud en cualquier
direccin. En consecuencia, en los minerales istropos, cualquiera
sea la orientacin del corte, tendremos siempre una seccin circular,
y cualquiera sea la posicin sobre la platina, el rayo de luz
linealmente polarizada atravesar al mineral sin variar su direccin
de vibracin y, en consecuencia, llegar al analizador con una
direccin de vibracin perpendicular a la direccin privilegiada de
ste y no lo podr cruzar. Los minerales istropos entre ncoles
cruzados se vern permanentemente en extincin (ver figura 2.7).
En minerales anistropos
En los minerales anistropos, en el caso de cortes basales, se
obtendrn secciones circulares en las cuales el comportamiento
de la luz linealmente polarizada es semejante al caso de minerales
istropos, y para cualquier otro corte se tendrn secciones con
dos ndices de diferentes magnitudes dispuestos en direcciones
Figura 2.5
Orientacin del corte, forma de los cristales y valores de ndices en la seccin. A la izquierda se muestra la forma
tridimensional de un cristal, donde X, Y y Z indican las direcciones en que se encuentran los ndices a, b y g, respectivamente. Si se hace un corte segn el plano A, se obtendr una seccin con ndices b y g; si se hace un corte
como B, se obtendr una seccin con ndices a y b,y si se hace un corte como C, se obtendr una seccin con un
ndice a y otro ndice intermedio entre b y g, al que se denomina g. Obsrvese que los ndices siempre estn incluidos
en direcciones perpendiculares entre s.
Figura 2.6.
Orientacin del corte y posicin sobre la platina.
25
A. Cristal de piroxeno atravesado por tres rayos de diferentes trayectorias. El rayo 1 encontrar los ndices de refraccin y , el rayo 2
encontrar los ndices y y el rayo 3 a los ndices y .
B. Cristal de piroxeno y superficie de corte de una seccin delgada.
C. Los rayos de luz linealmente polarizada del microscopio que atraviesan a la seccin delgada cortada como se muestra en B encontrarn
a los ndices de refraccin y . Si la seccin delgada est orientada sobre la platina de tal manera que la direccin de uno de los ndices
de refraccin coincide con la direccin de vibracin del rayo incidente, entonces la luz pasar por el mineral sin que cambie su direccin
de vibracin. Esta situacin se repite si giramos la platina 90.
26
Humberto Chirif
Analizador
Analizador
Polarizador
Polarizador
Figura 2.7
Comportamiento de un mineral istropo en luz transmitida y ncoles cruzados.
perpendiculares entre s (direcciones privilegiadas del mineral).

En el segundo caso, cuando la direccin de vibracin del rayo
linealmente polarizado incidente coincide con una de las direcciones
privilegiadas del mineral, el rayo atravesar al mineral sin variar
su direccin de vibracin y, en consecuencia, entre ncoles
cruzados, veremos el mineral en extincin (ver figura 2.8,
izquierda). Si giramos la platina a cualquier lado en un ngulo
diferente a 90, el rayo linealmente polarizado incidente se
descompondr en dos rayos que vibran en cada una de las
direcciones privilegiadas del mineral con diferentes velocidades y
longitudes de onda. Al llegar a la superficie superior de la seccin,
los rayos estarn desfasados y al abandonar el mineral interferirn
y se propagarn con igual velocidad y longitud de onda (la
correspondiente al medio aire o aceite), pero cada uno seguir
vibrando en la direccin del ndice respectivo (ver figura 2.8,
derecha). Al llegar al analizador, de ambas componentes habr
una resultante con direccin de vibracin coincidente con la del
analizador, la cual la podr atravesar y har posible que se vea al
mineral anistropo entre ncoles cruzados (colores de interferencia).
Concluimos, entonces, que de un mismo mineral se pueden obtener
secciones con diferentes caractersticas segn el corte, tal como
ocurre en una roca en cuya seccin se vern diversos cristales
de una misma especie; los cristales de corte circular los veremos
permanentemente en extincin, los de corte vertical mostrarn la
mxima anisotropa, mientras que los de cortes intermedios
mostrarn anisotropas intermedias (ver figura 2.9).
LUZ LINEALMENTE POLARIZADA REFLEJADA

EN MINERALES OPACOS
Anlogamente a lo visto con los ndices de refraccin en minerales
transparentes, los rayos de luz linealmente polarizados se reflejan
en superficies pulidas de minerales opacos istropos sin que vare
la direccin de vibracin, en consecuencia, se vern entre ncoles
cruzados permanentemente en extincin.
En superficies pulidas de minerales opacos anistropos, los rayos
de luz linealmente polarizados se reflejan variando la direccin de
vibracin, en consecuencia, se podrn ver entre ncoles cruzados
(ver figura 2.10).
PROPIEDADES QUE SE ESTUDIAN CON EL

MICROSCOPIO DE POLARIZACIN
El estudio de minerales con el microscopio de polarizacin es una
especialidad notoriamente diferente al estudio macroscpico.
Algunas propiedades macroscpicas de minerales son diferentes
bajo el microscopio de polarizacin, como el color, mientras que
otras, como el relieve, pueden ser determinadas exclusivamente
con dicho equipo.
En la tabla 2.1 se indican las propiedades que se estudian con
ayuda del microscopio, tanto con luz transmitida como con reflejada.
En las tablas 2.2 y 2.3 estn consignados los principales minerales
transparentes y opacos agrupados por clases o subclases.
27
Vci ci
Analizador
Analizador
V 1 1
Polarizador
Polarizador
Figura 2.8
Comportamiento de mineral anistropo en luz transmitida y ncoles cruzados.
ROCA
PLANO DE CORTE
SECCIN
DELGADA
Seccin
Delgada
Figura 2.9
Seccin delgada de una roca mostrando granos con diferentes cortes.
28
Humberto Chirif
Analizador
Analizador
Polarizador
Polarizador
Mineral anistropo
Mineral istropo
Figura 2.10
Luz linealmente polarizada reflejada sobre una seccin de un mineral opaco. Esta luz se refleja en el espejo semireflector e
incide en la superficie de la seccin pulida. Si se trata de un mineral istropo (izquierda), la luz se reflejar sin cambiar su
direccin de vibracin y al llegar al analizador no habr componente en la direccin privilegiada de ste, por ello, no podr pasar.
Si se trata de un mineral anistropo (derecha), la luz se reflejar cambiando su direccin de vibracin y al llegar al analizador
habr un componente en la direccin privilegiada de ste, por ello, pasar luz.
Tabla 2.1
Propiedades mineralgicas que se estudian con el microscopio de polarizacin
Tipo de Iluminacin
Luz Ortoscpica
Ncoles paralelos
Tipo de
Propiedades
pticas
Estructurales
Ncoles cruzados
pticas
Estructurales
Luz Conoscpica
Ncoles cruzados
pticas
Luz Transmitida
Color
Pleocrosmo
Relieve
Tamao
Morfologa
Clivaje
Anisotropa
Color de
Interferencia
Birrefringencia
Extincin
Elongacin
Maclas
Zonamiento
Carcter ptico
Signo ptico
ngulo 2V
(*) El carcter y el signo ptico con luz reflejada no se observa fcilmente.
Luz Reflejada
Color Pleocrosmo
Reflectancia
Birreflectancia
Dureza relativa
Tamao
Morfologa
Clivaje
Anisotropa
Reflexiones
Internas
Maclas
Zonamiento
(Carcter ptico)*
(Signo ptico)*
29
Tabla 2.2
Principales minerales transparentes ordenados por clase, subclase, grupo y especie
Sub
clase
NSILs
Grupo
SSILs
CSILs
ISILs
PXs
ANFs
Especie
Olivino
Andalucita
Cianita
Silimanita
Topacio
Circn
Titanita
Dumortierita
GRANATE
Vesubiana
Epdota
Turmalina
Berilo
Cordierita
Omfacita
Egirina-augita
Jadeita
Egirina
Dipsido
Hedenbergita
Augita
Pigeonita
Clinoenstatita
Clinoferrosilita
Ortoenstatita
Hiperstena
Ortoferrosilita
Espodumena
Rodonita
Wollastonita
Antofilita
Cummingtonita
Tremolita
Actinolita
Hornblenda
Riebeckita
Glaucofana
Abreviaturas:
NSILs = Nesosilicatos
ARCs = Arcillas
HLs = Haluros
SSILs = Sorosilicatos
MCs = Micas
OXs = xidos
CSILs = Ciclosilicatos
SPTs = Serpentinas
HOXs = Hidrxidos
ISILs = Inosilicatos
CLOs = Cloritas
CBTs = Carbonatos
FSILs = Filosilicatos
FPs
= Feldespatos
SFTs = Sulfatos
Sub
clase
FSILs
Grupo
Especie
Clase
ARCs
Caolinita
Dickita
Illita
Esmectita
Montmorillonita
Pirofilita
Talco
Muscovita
Paragonita
Glauconita
Flogopita
Biotita
Margarita
Lepidolita
Antigorita
Crisotilo
Clorita
Apofilita
Cuarzo
Tridimita
Cristobalita
Coesita
Estishovita
palo
Ortosa
Hialofana
Celsiana
Sanidina
Microclina
Anortoclasa
Albita
Oligoclasa
Andesina
Labradorita
Bytownita
Anortita
Nefelina
Leucita
Sodalita
Noseana
Hayna
Analcita
Cancrinita
Escapolita
Natrolita
Thomsonita
Phillipsita
Chabasita
Laumontita
HLs
MCs
SPTs
CLOs
TSILs
Slice
FPs
PGs
FDs
ZEOs
TSILs
PGs
FFs
PXs
= Tectosilicatos
= Plagioclasas
= Fosfatos
= Piroxenos
FDs = Feldespatoides
ANFs = Anfboles
ZEOs = Zeolitas
OXs
HOXs
CBT
SFTs
FFTs
Sub
Clase
Especie
Halita
Silvita
Cerargirita
Bromargirita
Fluorita
Atacamita
Corindn
Periclasa
Rutilo
Anatasa
Espinela
Perovskita
Brookita
Casiterita
Brucita
Gibbsita
Diaspora
Goethita
Lepidocrocita
Calcita
Rodocrosita
Siderita
Smithsonita
Magnesita
Aragonito
Estroncianita
Cerusita
Witherita
Dolomita
Anquerita
Baritina
Celestita
Anglesita
Anhidrita
Yeso
Calcantita
Melanterita
Epsomita
Goslarita
Jarosita
Alunita
Xenotimo
Monacita
Vivianita
Apatito
Piromorfita
Vanadinita
Lazulita
Turqueza
30
Humberto Chirif
Tabla 2.3
Principales minerales opacos ordenados por clase, grupo y especie
Clase
ENs
SULs
Abreviaturas:
ENs
=
PGRs =
SULs =
PRJs =
SFSs =
CGRs =
OXs =
SFSsPb=
WFTs =
Grupo
Especie
Abrev.
Oro
Plata
Cobre
Arsnico
Antimonio
Bismuto
Grafito
Argentita
Calcosita
Digenita
Bornita
Calcopirita
Galena
Escalerita
Pirrotita
Pentlandita
Covelita
Rejalgar
Oropimente
Estibnita
Bismutinita
Pirita
Bravoita
Marcasita
Arsenopirita
Molibdenita
Au
Ag
Cu
As
Sb
Bi
gf
arg
cc
dg
bn
cp
gn
ef
po
pnt
cv
rj
orp
stb
bmt
py
bv
mc
apy
mb
Elementos nativos
Platas grises
Sufuros
Platas rojas
Sulfosales
Cobres grises
xidos
Sulfosales de plomo
Wolframatos.
Clase
Grupo
PGRs
PRJs
CGRs
SFSs
SFSsPb
OXs
WFTs
Especie
Abrev.
Pearcita
Polibasita
Proustita
Pirargirita
Tetraedrita
Tennantita
Bournonita
Boulangerita
Jamesonita
Enargira
Luzonita
Cuprita
Tenorita
Magnetita
Hematina
Ilmenita
Rutilo
Pirolusita
Casiterita
Cromita
Wolframita
prc
plb
pro
pgt
tet
ten
bnn
blg
jm
en
luz
cup
tn
mt
hm
il
rt
prl
cst
crm
Wfm
CAPTULO III
ESTUDIO CON ILUMINACIN ORTOSCPICA TRANSMITIDA
ESTUDIO CON NCOLES PARALELOS
Las propiedades que se estudian con luz ortoscpica transmitida y
ncoles paralelos son el color, el pleocrosmo, el relieve, el tamao,
la morfologa y el clivaje, tal como se vio en el captulo 2.
Color
El color de un mineral en lmina delgada no presenta tantas
variaciones como se veran macroscpicamente; esto se debe a
que con un espesor de 30 m el efecto de las impurezas es mnimo
(por ejemplo, tanto el cuarzo rosado como el blanco o el gris los
veremos incoloros en seccin delgada).
La descripcin del color la hacemos tomando en cuenta el color
principal, la intensidad y la tonalidad (por ejemplo, amarillo claro
verdoso). Es preferible evitar las comparaciones. A continuacin
citamos algunos ejemplos de colores de minerales en seccin
delgada:
Incoloro: Cuarzo, feldespato, circn, apatito, cloritoide, espinela,
fluorita, calcita, dolomita, anhidrita, baritina, muscovita.
Rojizo:
Almandina, piropo, espesartina, circn, rutilo, esfena,

biotita, hiperstena, hornblenda.
Verdoso: Clorita, augita, diopsido, olivino, pumpelita, esfena, biotita,

epdota, glaucofana, hornblenda, hiperstena.
Pleocrosmo
Es la capacidad de algunos minerales de mostrar diferentes colores
(o intensidad o tonalidad) cuando la luz es transmitida en direcciones
diferentes. Como se vio en el captulo inicial (punto 1.8), el grado
de absorcin depende del espesor de la muestra, en consecuencia,
hay que resaltar que el pleocrosmo observado en secciones
delgadas de 30 mm de espesor ser radicalmente diferente al
observado en muestras gruesas. En funcin a la magnitud del
cambio podemos calificar al pleocrosmo como fuerte (por ejemplo,
biotita, glaucofana), moderado (clorita, hornblenda) o dbil
(cordierita, sillimanita).
Determinacin del ndice de refraccin

Los principales mtodos para la estimacin o determinacin del
ndice de refraccin de un mineral son la observacin del relieve,
la lnea brillante y la iluminacin oblicua, y el empleo del
refractmetro. Los tres primeros se basan en la comparacin del

ndice del mineral a estudiar con el del medio en el que ste se
encuentra inmerso, que puede ser otro mineral, blsamo de Canad
o aceite (ver figura 3.1).
El relieve (en realidad, la sensacin ptica de relieve) es una
propiedad de los minerales transparentes que hace ver ms altos
a los granos de minerales de ndice de refraccin mayor que el de
los vecinos, mientras que los granos con ndice menor, se ven
como depresiones. A mayor diferencia entre los ndices, mayor
ser la sensacin ptica de relieve. Tomando como material de
referencia al blsamo de Canad (n = 1,55) diremos que tienen
relieve negativo los minerales de ndice menor a ste, y relieve
positivo los minerales de ndice mayor (ver figura 3.1).
La linea brillante o linea de Becke es aquella que se forma al
desenfocar el mineral, aumentando ligeramente la distancia entre
el objetivo y el objeto. Cuando la diferencia entre el ndice de
refraccin del mineral a estudiar y del medio en que este se encuentra
inmerso es marcada, se forma una lnea brillante ntida que se
dirige claramente al medio de mayor ndice. Por el contrario, si la
diferencia es mnima, se formar una lnea tenue y ser necesario
aumentar el contraste (bajar intensidad de la luz y cerrar diafragma
de apertura) y enfocar y desenfocar varias veces para poder
apreciarla. El fundamento de la formacin de esta lnea lo podemos
ver en la figura 3.2.
El mtodo de la sombra o iluminacin oblicua consiste en interrumpir
con un obstculo opaco un lado del haz de luz del microscopio
entre la fuente luminosa y el conjunto subplatina, acercndolo
lentamente hacia el centro, para luego observar cmo se
ensombrece el grano mineral a estudiar. Si ste tiene ndice de
refraccin similar al medio en el que se encuentra inmerso, entonces
se ensombrecer homogneamente; pero si su ndice es mayor,
aparecer una sombra por el mismo lado por donde se introduce
el obstculo opaco (ver figura 3.1).
Estos tres primeros mtodos pueden ser aplicados tanto en
secciones delgadas convencionales como en preparados
especiales de granos sueltos inmersos en aceite de ndice de
refraccin conocido. Este segundo tipo de muestra permite una
determinacin ms precisa. En la figura 3.3 se dan indicaciones
para su preparacin.
32
Humberto Chirif
Figura 3.1
Mtodos para la estimacin del ndice de refraccin relieve (arriba), lnea de Becke (centro) y mtodo de la
sombra (abajo).
Figura 3.2
Formacin de la lnea de Becke. Al aumentar la distancia entre el objetivo y el objeto, se observa que se desenfoca el borde
y aparece una lnea brillante que se dirige hacia el material de mayor ndice de refraccin.
33
34
Humberto Chirif
Malla 100
Malla 170
Figura 3.3
Determinacin del ndice de refraccin por comparacin con aceites de inmersin. (A) Tomar algunos pequeos fragmentos
del mineral problema y tratarlo con el mortero de percusin. (B) Colocar el material pulverizado en una luna de reloj y controlar
su pureza con ayuda de un estereoscopio. (C) Tamizar el material y trabajar con la fraccin granulomtrica -100+170 M. En
cada paso se debe desechar la primera porcin de muestra tratada y tener especial cuidado con la contaminacin. (D)
Preparacin de la muestra: espolvorear con una esptula unos cuantos granos sobre un portaobjeto limpio y seco; colocar
una gota del aceite de inmersin elegido en la superficie inferior de un trozo de cubreobjeto sin tocar la muestra ni el vidrio con
la bagueta; tapar y presionar ligeramente para expulsar las burbujas. (E) Determinar el ndice o el rango de los ndices del
mineral problema haciendo comparaciones con diferentes aceites.
35
Gema
GEMA
Ocular
OCULAR
Aceite
ACEITE
Hemisferio
HEMISFERIO
DEVidrio
VIDRIO
de
PANTALLA
Pantalla
GRADUADA
2
1
Graduada
Para rayo
2: 2:
Para
rayo
NVIDRIO
NGEMA
Entonces:
Entonces:
1,80
Sen 90
Sen ic
1,70
Sen ic
1,60
1,50
NGEMA = NVIDRIO Sen ic
NACEITE
NGEMA
= 1,55
1,40
1,30
Figura 3.4
Refractmetro de Pulfrich. Por la ventana frontal ingresan rayos luminosos con diferentes ngulos; slo nos
interesan los que inciden en el centro del hemisferio de vidrio, o lo que es lo mismo, en el centro de la ventana
superior. En dicha ventana se coloca una gota de aceite de ndice conocido (1,81), y sobre sta una cara plana y
limpia del cristal; el aceite permite expulsar el aire y conseguir un buen contacto entre el refractmetro y la gema.
Los rayos que inciden en la interfase vidrio-gema con ngulo inferior al crtico (como el rayo 1) cruzan la gema y
se pierden. Los rayos que inciden con ngulo superior al crtico se reflejan e iluminan la pantalla graduada. El lmite
de la zona iluminada en la pantalla indica el ndice de refraccin de la gema. El aceite es muy txico y corrosivo.
Despus de usar el refractmetro, la ventana superior y la gema deben ser cuidadosamente limpiadas con alcohol.
Los refractmetros son instrumentos para medir el ndice de

refraccin tanto de materiales slidos como lquidos. Existen
diferentes tipos; uno de los ms usados, principalmente en el estudio
de gemas, es el de Pulfrich. Este instrumento consiste en un
hemisferio de vidrio de ndice de refraccin alto y conocido,
engastado en una armadura de metal con tres ventanas (una por
donde ingresan los rayos luminosos, otra donde se coloca una
cara plana de la muestra y la tercera que es el ocular). En la
muestra se reflejan los rayos que incidan con ngulo superior al
ngulo crtico e iluminan una pantalla graduada donde se indican
los valores de ndices de refraccin. Por el ocular se observa la
pantalla graduada y se hace la lectura del ndice de refraccin de
la muestra (ver figura 3.4).
Tamao
Para la medicin del tamao de los cristales, se requiere previamente
saber la medida de las unidades marcadas en el ocular. Para ello,
comparamos las unidades del ocular con las de un objeto
micromtrico para cada objetivo. Conociendo el valor de las
unidades del ocular se puede medir el tamao de los minerales
(ver figura 3.5). Para determinar el espesor de los granos, se
requiere previamente conocer la magnitud del desplazamiento
vertical de la platina al girar una unidad el tornillo de enfoque
(aproximadamente 2 m). Luego, bastar pasar de la posicin de
enfoque de la superficie superior a la de enfoque de la superficie
inferior del grano, observando la cantidad de unidades del tornillo
giradas.
36
Humberto Chirif
Figura 3.5
Medicin del tamao de grano. Estimar el largo y ancho del cristal del dibujo inferior. Hacer una tabla de los dimetros
de los campos visuales para cada uno de los objetivos.
37
Forma
Segn el desarrollo de sus formas externas, los cristales pueden
ser euhedrales, subhedrales o anhedrales. Son euhedrales o
idiomorfos si presentan totalmente formas externas geomtricas
definidas; son subhedrales o hipidiomorfos si presentan slo
parcialmente dichas formas, y son anhedrales o xenomorfos si no
las presentan. La forma de los cristales depende en gran medida
de las condiciones del medio en que stos se han desarrollado, y
por lo tanto, no es una caracterstica distintiva del mineral. Por el
desarrollo preferencial de una, dos o tres dimensiones, los cristales
Figura 3.6
Figura 3.7
pueden ser aciculares, listonados, laminares, tabulares, columnares

o isomtricos (ver figura 3.6). La forma de presentarse (hbito)
que tienen los minerales depende del mineral mismo y de las
condiciones del medio.
Las formas que observamos en las secciones delgadas son
reducciones bidimensionales de realidades de tres dimensiones.
La observacin de diferentes granos de un mismo mineral permite
interpretar la forma tridimensional del mismo. En la figura 3.7 se
muestran formas bidimensionales propias de los diferentes sistemas
cristalinos.
Arriba. Forma de los cristales segn el desarrollo de las caras. Abajo. Forma segn
el nmero de dimensiones preferentemente desarrolladas. (Fuente desconocida).
Formas bidimensionales propias de los diferentes sistemas cristalinos (tomado de CHUDOBA, 1932).
38
Humberto Chirif
Clivaje
La calidad del clivaje la podemos calificar como perfecta, buena,
mediana, mala, imperfecta o ausente. Para el estudio de esta
propiedad se debe indicar tanto la calidad como las direcciones;
para ello es conveniente buscar cortes perpendiculares al plano
de clivaje, esto es, cortes con trazas de clivaje ntidas y finas (ver
figura 3.8).
ESTUDIO CON NCOLES CRUZADOS

Al usar el microscopio con el analizador insertado (ncoles cruzados)
podemos identificar las direcciones de los ndices de refraccin del
mineral en la seccin delgada, tambin, podemos identificar el
ndice mayor y menor y determinar la diferencia entre ellos. Estas
determinaciones las hacemos a travs del estudio de las
propiedades extincin, los colores de interferencia, la birrefringencia
y la elongacin. Finalmente, la informacin cristalogrfica y ptica
la reunimos en un grfico al que llamamos diagrama de orientacin.
En este punto veremos en qu consiste cada una de las propiedades
mencionadas.
Anisotropa
La anisotropa se refiere a la capacidad de ciertos minerales de
dejar pasar luz entre ncoles cruzados. Los minerales que poseen
esta propiedad son los minerales anistropos en cortes diferentes
PLANO DE
CLIVAJE
al circular. Los minerales anistropos con corte circular no dejan

pasar luz entre ncoles cruzados y su anisotropa se comprueba
con luz conoscpica (ver captulo 4).
Extincin
Como se vio en el captulo anterior, cuando las direcciones
privilegiadas del mineral y del microscopio coinciden, la direccin
de vibracin del rayo de luz linealmente polarizada, que incide en
el mineral, no cambia al atravesarlo y en consecuencia no pasa
luz a travs del analizador (ver figura 2.6). Decimos, entonces,
que el mineral se encuentra en su posicin de extincin, la cual se
repite cada 90.
Si tenemos cristales subhedrales o euhedrales, podremos relacionar
las direcciones de los ndices de refraccin con las formas externas
del cristal. Si el ngulo entre la direccin de uno de los ndices y la
direccin de uno de los ejes cristalogrficos es cero, diremos que
el mineral presenta extincin paralela; si es diferente a cero, diremos
que se trata de extincin oblicua. Si las direcciones privilegiadas
coinciden con las trazas de planos de simetra en ese corte, diremos
que el mineral presenta extincin simtrica. Si el grano estudiado
es anhedral y no presenta clivaje o algn otro rasgo estructural
que nos sirva de referencia para indicar las direcciones de los
ndices de refraccin, entonces, no se podr calificar la propiedad
extincin. En la figura 3.9 se presentan los diferentes tipos de
TRAZAS
GRUESAS
Y DIFUSAS
SECCIN
OBLICUA
SECCION
PERPENDICULAR
TRAZAS
FINAS Y
NTIDAS
CLIVAJE
PERFECTO
CLIVAJE
BUENO
CLIVAJE
MEDIANO
CLIVAJE
MALO
CLIVAJE
IMPERFECTO
trazas
contnuas
trazas
discontnuas
largas
trazas
discontnuas
largas
trazas
discontnuas
cortas
trazas
irregulares
TRAZAS ATRAVIESAN AL CRISTAL
Figura 3.8
TRAZAS NO ATRAVIESAN AL CRISTAL
Arriba. Nitidez de las trazas de clivaje. Abajo. Tipos de clivaje.
39
Extincin
paralela o
recta
Figura 3.9
Extincin
oblicua
Extincin
simtrica
Extincin
oblicua
respecto
al clivaje
No se puede
calificar la
extincin
Tipos de extincin. Arriba. Representacin de cristales en posicin de extincin, tal como se observan en el microscopio.
Abajo. Representacin de las relaciones entre la forma del cristal y las direcciones de los ndices de refraccin.
extincin, y en la 3.10, los tipos de extincin de cristales de diferentes

sistemas en diferentes cortes.
Un tipo especial de extincin es la llamada ondulante, en la cual
la superficie del grano no se oscurece homogneamente, sino por
zonas que cambian conforme se gira la platina, dando as la
impresin de una onda en movimiento. Este tipo de extincin se
debe a deformaciones estructurales del grano, lo cual es muy
frecuente en el cuarzo de origen metamrfico.
t = d/Vr + /V
donde t es el lapso, d es el espesor de la muestra, Vl es la velocidad
del rayo lento, Vr es la velocidad del rayo rpido, D es el desfase
y V es la velocidad de la luz en el aire. Igualando ambas ecuaciones
tenemos:
d/Vl = d/Vr + /V
= d(V/Vl - V/Vr) = d(nl - nr) = d
La propiedad extincin es una caracterstica diagnstica de muchos

minerales, incluso, en algunos casos (plagioclasas, anfboles,
piroxenos), el ngulo de extincin permite identificar la composicin
en series isomrficas.
donde nl y nr son los ndices de refraccin mayor y menor,

respectivamente, y es la birrefringencia (diferencia de ndices).
Entonces el desfase es igual al espesor del mineral por la
birrefringencia.
Color de interferencia
Segn el desfase sea menor a una, dos o ms longitudes de onda,

los colores de interferencia se clasifican en colores de primer,
segundo o mayor orden.
Es el color formado por la interferencia de los rayos desfasados al

abandonar un medio anistropo (ver figura 2.8). El color de
interferencia depende de la magnitud del desfase y ello depende a
su vez de la birrefringencia del mineral y del espesor de la lmina.
En un determinado lapso el rayo que vibra en la direccin del
ndice mayor (rayo lento) habr recorrido el espesor de la lmina.
Esto es:
t = d/Vl
En ese mismo lapso, el rayo que vibra en la direccin del ndice
menor (rayo rpido) habr recorrido el espesor de la lmina ms
el desfase fuera del mineral. Esto es:
El color de interferencia de un mineral vara segn el corte, el

espesor de la seccin y la posicin sobre la platina (ver figuras
3.11, 3.12 y 3.13), por ello es necesario estandarizar dichos
parmetros. El espesor de una seccin delgada debe ser 30 m y
la posicin sobre la platina debe ser de 45 a partir de la extincin
(posicin de mxima anisotropa). El corte normalmente no lo
podemos estandarizar, por ello buscamos el grano en el que se
observe el mximo color de interferencia en la posicin de mxima
anisotropa.
El color de interferencia es una caracterstica diagnstica muy
40
Humberto Chirif
Figura 3.10
Tipo de extincin segn sistema cristalogrfico y orientacin del corte (fuente desconocida).
importante; permite, adems, conocer la birrefringencia y calcular

el espesor de la muestra.
En algunos minerales fuertemente coloreados, como la biotita pardo
oscura, el color del mineral puede enmascarar al color de
interferencia.
Si el grano no presenta espesor constante (durante la preparacin
de la seccin delgada frecuentemente los minerales se desgastan
ms en los contactos o en los planos de clivaje que en las zonas
centrales), entonces podremos observar diferentes colores de
interferencia a modo de curvas de nivel que indican los
espesores.
Birrefringencia. La tabla de Michel-Lvy

La birrefringencia es la diferencia entre el ndice de refraccin
mayor y menor de un mineral. Si nos referimos al cristal en tres
dimensiones, la birrefringencia ser |n-n| en el caso de
minerales unixicos, y (n-n), en el caso de los bixicos. Si nos
referimos a la superficie de corte, la birrefringencia ser igual a la
diferencia entre los ndices existentes en ese corte.
La tabla de Michel-Lvy (ver figura 3.14) relaciona el color de
interferencia en trminos del desfase o retardo () expresado en
nanmetros; la birrefringencia () y el espesor (d) de la lmina
delgada expresado en micras:
= 1000 d
(nm)
(m)
El valor 1000 es la correccin por el empleo de dos unidades de
longitud diferentes (nanmetros y micras). Esta ecuacin
corresponde a una recta que pasa por el origen de coordenadas
de un sistema XY, donde X representa a los valores del retardo ,
Y a los valores del espesor d, y la pendiente vendra a ser
1/1000. Tenemos, entonces, en el diagrama vs. d, una serie
de rectas que pasan por el origen de coordenadas y cada recta
corresponde a un determinado valor de , es decir, a un conjunto
de minerales.
La recta de un determinado valor de permite ver la retardacin
de los colores de interferencia para diferentes valores de espesor
d de la lmina. As por ejemplo, un mineral de birrefringencia 0,021
en una lmina de 30 m de espesor producir una retardacin de
630 nm. Tal mineral en su posicin de mxima anisotropa se ver
azul de 2.o orden.
En la parte inferior de la figura 3.14 se explican los dos principales
usos de la tabla de Michel-Lvy: uno de ellos es calcular el espesor
de la lmina a partir del color de interferencia observado en un
mineral de r conocido, y el otro uso es el de calcular la birrefringencia
de un mineral en lmina de 30m a partir del color de interferencia
observado.
Figura 3.11
Relacin entre el color de interferencia y orientacin del corte del mineral.
41
42
Humberto Chirif
Figura 3.12
Figura 3.13
Relacin entre el color de interferencia y el espesor de la seccin.
Relacin entre color de interferencia y posicin de la muestra sobre la platina.
Figura 3.14
Carta de colores de interferencia de Michel-Lvy. En la parte superior se explica la posicin en que deben observarse los
colores de interferencia (posicin 45). Algunas aplicaciones en la parte inferior: Determinando el color de interferencia de un
mineral conocido (r conocido), se puede saber el espesor de la seccin delgada. Conociendo el espesor de la seccin y
observando el mximo color de interferencia de cualquier mineral, se puede determinar su birrefringencia.
43
44
Humberto Chirif
La primera aplicacin mencionada se utiliza para la preparacin

de lminas delgadas. El preparador controla el espesor de la
lmina en preparacin con el color de interferencia del cuarzo (=
0.009): si se ve amarillo, la lmina debe tener alrededor de 40 m,
y al alcanzar el espesor ptimo de 30m, el cuarzo se ver gris
blanquecino.
La segunda aplicacin mencionada se usa en la identificacin de
minerales. Por ejemplo, si en una lmina de 30 m de espesor
vemos que un mineral presenta en su posicin de mxima
anisotropa color de interferencia rojo de primer orden (480 nm),
su birrefringencia ser 0.016. Hay que sealar que no es
conveniente pretender ser muy precisos en la estimacin del retardo
del color de interferencia y del espesor, sino ms bien estimar
rangos y de esta manera se obtendr tambin rangos de estimacin
de la birrefringencia.
Los minerales de birrefringencia muy baja (0.009 por ejemplo)
presentan colores de interferencia de tonalidades grises en su
posicin de mxima anisotropa, y los minerales de birrefringencia
muy alta (0.090 por ejemplo) presentan colores de interferencia
de orden alto, que se ven como una mezcla mal definida de
tonalidades verdosas y rojizas (colores anmalos).
Compensadores
Los compensadores son accesorios pticos que se interponen en
ESPESOR
el paso de los rayos entre el objeto y el analizador para producir

retardacin. Consisten en barras de metal con cristales engastados
y adecuadamente orientados con la direccin del ndice mayor en
sentido transversal (ver figura 3.15). Existen dos tipos: de espesor
constante y de espesor variable. Los de espesor constante pueden
ser de yeso, que producen una retardacin de 550 nm (), o de
mica, que producen una retardacin de 150 nm (/4). Los de
espesor variable consisten en una cua de cuarzo que produce
una retardacin variable entre 275 y 1650 nm.
La cavidad para compensadores, que est ubicada entre el objetivo
y el analizador, forma un ngulo de 45 con las direcciones
privilegiadas del microscopio; de esta manera, cuando se coloca
un mineral en su posicin de mxima anisotropa, la direccin de
uno de sus ndices de refraccin coincidir con la direccin del
ndice mayor del compensador (ver figura 3.16 derecha).
Cuando la direccin del ndice mayor del mineral coincide con la
direccin del ndice mayor del compensador habr una interferencia
constructiva (o adicin); en este caso, la retardacin del color de
interferencia aumenta un valor igual a la retardacin del
compensador. Si giramos la platina 90, el ndice menor del mineral
pasar a coincidir con la direccin del ndice mayor del
compensador y se producir una interferencia destructiva (o
sustraccin); en este caso, la retardacin del color de interferencia
disminuye un valor igual a la retardacin del compensador.
COMPENSADOR
RETARDO (nm)
COLOR DE
INTERFERENCIA
Yeso ()
550
Rojo 1er orden
Mica (/4)
150
Gris 1er orden
Cua de cuarzo
(/2 a 3)
275 a 1650
Variable
Constante
Variable
COMPENSADORES DE YESO
COMPENSADORES DE MICA
CUA DE CUARZO
Figura 3.15
SECUENCIA PARA EL
ESTUDIO DE LA RETARDACIN
Caractersticas de los diferentes tipos de compensadores. A la derecha se representa la secuencia correcta para el
estudio de la retardacin: polarizador, mineral en su posicin de mxima anisotropa, compensador y analizador.
45
Figura 3.16
Alternancia de las posiciones de adicin y sustraccin cada 90. Partiendo de un mineral de color de interferencia azul de
2.o orden (aproximadamente 550 nm), si insertamos el compensador de yeso (550 nm) al mineral, lo veremos verde en
la posicin de adicin y gris oscuro en la de sustraccin.
Las posiciones de adicin y sustraccin se alternan cada 90 al

girar la platina y no constituyen en s una caracterstica diagnstica
del mineral, pero nos permiten identificar las direcciones de cada
uno de los ndices mayor y menor, y relacionarlas con la forma del
cristal (comparacin entre caractersticas pticas y cristalogrficas),
lo cual s es una caracterstica diagnstica de los minerales.
Elongacin y diagramas de orientacin

Con el trmino elongacin nos referimos a la relacin entre las
direcciones de los ndices de refraccin ya identificados y el largo
de un cristal de extincin paralela o subparalela.
Si el largo es paralelo al ndice mayor, diremos que el mineral tiene
elongacin positiva o que es largo-lento, y si el largo es paralelo
al ndice menor, diremos que tiene elongacin negativa o que es

largo-rpido (ver figura 3.17).
La elongacin es una forma particular de explicar las relaciones
entre las caractersticas cristalogrficas y pticas; es vlida slo
para cristales alargados de extincin paralela o subparalela,
aunque, en general, a todo cristal le podemos hacer un esquema
donde se relacionen dichas caractersticas, lo cual se conoce como
esquema de orientacin (ver figura 3.18).
Maclas
La macla es el agrupamiento regular de dos o ms individuos de
un mismo mineral con diferente orientacin y segn alguna ley de
simetra (plano, eje o centro de macla).
46
Humberto Chirif
Largo // N mayor
NMENOR
Figura 3.17
ELONGACIN
NEGATIVA
ELONGACIN
POSITIVA
NMAYOR
Largo // Rayo lento
NMENOR
NMAYOR
Largo // N menor
Largo // Rayo rpido
"Length-slow"
"Length-fast"
"Largo-lento"
"Largo-rpido"
Tipos de elongacin. Despus de analizar la posicin de adicin o sustraccin en relacin

al largo del cristal, podemos llegar a uno de los siguientes casos:
- Elongacin positiva (ndice de refraccin mayor del mineral paralelo al largo).
- Elongacin negativa (ndice de refraccin mayor del mineral perpendicular al largo).
c
Z
Extincin simtrica
Extincin paralela
Extincin oblicua
001
b
Y
Sustraccin
Sustraccin
X
Diagrama de Orientacin
Figura 3.18
Construccin de un esquema de orientacin. Izquierda. Observaciones a travs del microscopio (arriba) y esquemas
de orientacin bidimensionales (abajo). Derecha. Esquema de orientacin tridimensional, donde a, b c son ejes
cristalogrficos. X, Y, Z son ejes que contienen a los ndices a, b, g, respectivamente.
La ley de macla indica el elemento de simetra y su orientacin

cristalogrfica.
Existen maclas de contacto, en las cuales los individuos estn
separados por una superficie plana, y maclas de compenetracin,
en las cuales la superficie de macla es irregular.
En contraposicin a las maclas simples, si son ms de dos los
individuos que se repiten, diremos que se trata de una macla
mltiple. En el ltimo caso, si los individuos estn dispuestos
paralelamente, diremos que la macla es polisinttica, pero si no lo
estn, la llamaremos cclica.
Los minerales formadores de rocas que frecuentemente se

presentan maclados son los feldespatos, anfboles, piroxenos y
carbonatos. En la figura 3.19 se muestran las maclas ms frecuentes
en minerales formadores de rocas.
Desmezclas
Las desmezclas o exsoluciones son separaciones de un mineral a
partir de otro que ha dejado de ser estable. Las desmezclas pueden
presentar formas de discos, husos o lamelas de diferentes tamaos
y frecuencia de ocurrencia. Entre los minerales formadores de
rocas, las desmezclas ms frecuentes son de albita en ortosa
47
010
010
010
010
010
010
010
Baveno
Periclina
Karlsbad de
contacto
Karlsbad de
compenetracin
Albita
Albita
Polisinttica
Combinada
Albita-Karlsbad
E
010
Calcita
1011
Dolomita
Hornblenda
1011
010
110
Manebach
Figura 3.19
Lamelar polisinttica
Lamelar cruzada
Maclas frecuentes en minerales formadores de rocas y sus cortes tpicos en seccin delgada: A, B, C, D y E en
feldespatos; F en carbonatos, y G en anfboles. (Fuente desconocida)
Figura 3.20
Zonamiento de plagioclasa. En ncoles paralelos, el zonamiento se evidencia por la concentracin

de minerales de alteracin; mientras que en ncoles cruzados se nota la diferencia de anisotropa
de cada una de las zonas concntricas.
(pertita), de ortosa en albita (antipertita) y de clinopiroxeno en

ortopiroxeno. Todas ellas se forman por enfriamiento de una fase
intermedia estable a alta temperatura.
Zonamiento
Durante el desarrollo de un cristal se presentan casos de variacin
de la composicin, ya sea a nivel de elementos mayores (caso de
las series isomrficas) o de elementos trazas.
La variacin de composicin se puede evidenciar por la
concentracin de inclusiones o de minerales de alteracin en
determinadas zonas del cristal y, si la variacin composicional ha

afectado tambin la orientacin del arreglo cristalino, el zonamiento
se evidencia tambin por variacin del color, del pleocrosmo o de
la anisotropa de una zona a otra (ver figura 3.20). Los minerales
que frecuentemente presentan zonamiento son la plagioclasa y la
augita, entre otros.
El estudio del zonamiento permite conocer la evolucin del desarrollo
del cristal. Existen equipos que permiten conocer la composicin
de elementos mayores y trazas en cada una de las zonas de un
cristal.
48
Humberto Chirif
Inclusiones
Las inclusiones son sustancias extraas (minerales, vidrio o fluido)
atrapados por un cristal durante su crecimiento. La naturaleza de
las inclusiones y la geometra de la distribucin en el cristal anfitrin
pueden dar pautas para interpretaciones petrolgicas. En el caso
de inclusiones fluidas (compuestas de gas y lquido), la medicin
de la temperatura a la cual se homogenizan el gas y el lquido da
pautas para la determinacin de la temperatura de formacin de la
roca. Tales mediciones se realizan con una platina trmica.
Alteraciones
Los minerales de alteracin (o secundarios) son aquellos que se
forman por descomposicin de un mineral preexistente. La
alteracin comienza a verificarse por los bordes o por los planos
de debilidad de los granos (clivaje, fracturas), y en algunos casos,
ataca selectivamente determinadas zonas. Si la alteracin llega a
destruir totalmente a un mineral preservando sus formas externas
(seudomorfismo), diremos que se ha formado un molde del mineral

primario. Si la alteracin se produce en los ltimos estados
magmticos por accin de los mismos fluidos magmticos, diremos
que se trata de alteracin deutrica. Si la alteracin se forma
despus de la consolidacin de la roca (gnea, metamrfica o
sedimentaria) por accin de fluidos acuosos a alta temperatura,
nos referiremos a ella como alteracin hidrotermal. La alteracin
producida en la superficie, o cerca de ella, por accin de aguas
metericas y por la alta concentracin de oxgeno se denomina
alteracin suprgena.
Por la naturaleza de los minerales secundarios, tambin se
reconocen los diferentes tipos de alteraciones, tales como propiltica,
arglica, potsica, silicea, etc. En ninguno de stos tipos la alteracin
se verifica homogneamente en toda la roca, siempre habrn
minerales mas propensos que otros a ser alterados. La figura 3.21
muestra una forma prctica de calificar la alteracin total de una
roca grantica en funcin a su intensidad.
Sin alteracin
Alteracin
incipiente
Alteracin
moderada
Figura 3.21
Diferentes grados de alteracin en una roca grantica.
Alteracin
dbil
Alteracin
fuerte
CAPTULO IV
ESTUDIO CON ILUMINACIN CONOSCPICA
LUZ CONOSCPICA
A diferencia de la luz ortoscpica que est compuesta por rayos de
propagacin paralela (o subparalela), la luz conoscpica consiste
en un haz de rayos convergentes (ver figura 1.17).
Para observacin con luz transmitida conoscpica, previamente

debe enfocarse el mineral a estudiar con un objetivo de alto aumento
correctamente centrado, y luego debe insertarse el lente AmicciBertrand. La secuencia de partes del microscopio debe ser como
indica la figura 4.1.
Figura de
interferencia
Lente de
Amicci-Bertrand
Analizador
Imagen
fuertemente
ampliada
Objetivo de
alto poder
Objeto
Condensador de
alto poder
Polarizador
Figura 4.1
Secuencia de las partes del microscopio de polarizacin para observacin con luz
transmitida conoscpica.
50
Humberto Chirif
En algunos casos, se observa mejor la figura de interferencia

retirando de la secuencia el lente Amicci-Bertrand y el ocular.
El vrtice del cono de luz coincide con el grano, que previamente
ha sido enfocado con luz ortoscpica en una zona sin alteraciones,
inclusiones y lejos de las trazas de clivaje. Se debe buscar
preferentemente granos basales o perpendiculares al eje ptico.
Los diferentes rayos que componen el cono inciden en el mineral
con diferente orientacin, de esta forma cada rayo tiene su propia
superficie de corte y su propia distancia a recorrer dentro del
mineral (ver figura 4.2).
Las diferentes orientaciones con que cruzan los rayos al mineral
originan las isgiras (zonas de extincin), y las diferentes distancias
que recorren dentro de l originan las isocromas (zonas
concntricas de igual retardo). El punto (o puntos) por donde pasa
el eje ptico se denomina melatopo. Isgira, isocroma y melatopo
son los elementos de las figuras de interferencia, las cuales nos
permiten reconocer el carcter ptico (ver figura 4.3).
Figura 4.2
LA FIGURA DE INTERFERENCIA UNIXICA

Para observar una figura de interferencia unixica perfectamente
centrada se debe buscar cristales con corte basal o cercano a l,
los cuales se reconocen por permanecer en extincin entre ncoles
cruzados. En la figura de interferencia de tales cristales el ndice
ordinario () se proyectar siempre en verdadedera magnitud y
con una distribucin tangencial a crculos concntricos, mientras
que un ndice intermedio entre el ordinario y el extraordinario ()
ser proyectado con distribucin radial (ver figura 4.4). Como la
indicatriz unixica es una elipsoide de revolucin, las caratersticas
de la figura unixica centrada no cambian cuando giramos la platina.
Si insertamos un compensador, habr interferencia constructiva
(adicin) en los cuadrantes donde el ndice mayor del mineral
tenga una disposicin paralela o subparalela al ndice mayor del
compensador (NE-SO). En los minerales unixicos positivos esto
ocurrir en el I y el III cuadrante, y en los unixicos negativos en
el II y el IV cuadrante.
Luz conoscpica incidiendo en mineral anistropo. Arriba. El cono de luz est compuesto por infinitos
rayos que salen de la superficie del condensador de alto poder, convergen en un punto dentro del mineral
y continan hasta la superficie del objetivo. Cada rayo tiene su propia direccin e inclinacin. Abajo. La
interseccin de la indicatriz del mineral con la superficie normal a la trayectoria de los rayos (superficie
de corte) tiene orientacin propia para cada uno de stos.
51
Figura 4.4
Figuras de interferencias unixica y bixica. Se forman por la integracin de las infinitas superficies de corte que
cada uno de los rayos encuentra en el mineral.
Figura 4.3
Signo ptico de los minerales unixicos. En la figura de interferencia unixica, el ndice de refraccin e presenta
distribucin radial, y el w, distribucin perpendicular a e. Al insertar un compensador se producir adicin en los
cuadrantes donde el ndice mayor del mineral coincida con el del compensador; esto ocurre en el I y el III cuadrante
en los minerales unixicos positivos (izquierda), y en el II y el IV cuadrante, en los negativos (derecha).
Sin compensador, los cuadrantes se ven de color gris (70 nm). Si

hay adicin con el compensador de yeso, el retardo final ser |70
+ 550| = 620 nm, que corresponde al azul de 2.o orden. Si hay
sustraccin, con el yeso el retardo final ser |70 - 550| = 480 nm,
que corresponde al rojo-anaranjado de 1.o orden. En conclusin,
si se usa el compensador de yeso, los cuadrantes de adicin

aparecern azules, y los de sustraccin, rojo-anaranjado. Con el
compensador de mica insertado se vern las zonas de adicin de
color blanco grisceo, y las de sustraccin, gris oscuro (ver figura
4.4).
52
Humberto Chirif
n
Figura 4.5
Determinacin del signo ptico de minerales unixicos.
cu
a
El corte ms apropiado para la observacin de figuras de

interferencia bixicas es aquel normal a la bisectriz del ngulo 2V
agudo (ver figura 4.7).
LA FIGURA DE INTERFERENCIA BIXICA
Si insertamos un compensador, habr interferencia constructiva

(adicin) en los cuadrantes donde el ndice mayor del mineral
tenga una disposicin paralela o subparalela al ndice mayor del
compensador (NE-SO). En los minerales bixicos positivos esto
ocurrir en el I y el III cuadrante, y en los negativos, en el II y el IV
cuadrante. Debido a que los cuadrantes se ven deformados por la
curvatura y separacin de las isogiras, se recomienda hacer la
verificacin del signo ptico siempre en la posicin 45 con el I y el
III cuadrante comunicados (ver figura 4.8).
cu
a
La figura 4.6 muestra la formacin de figuras de interferencia

centradas, descentradas y flash. Muestra, asimismo, como se
observa la figura de interferencia descentrada al girar la platina.
n
/
4
Si el cristal que se est estudiando en luz conoscpica no presenta

un corte basal, se observar una figura de interferencia
descentrada. Cuanto ms inclinado sea el corte ms descentrada
ser la figura, hasta llegar a un lmite en el que se forma la figura
flash (isgiras muy anchas y difusas, en la que basta un pequeo
giro de la platina para que desaparezca). Ms all de dicho lmite
no se observar figura de interferencia.
A diferencia de la figura unixica, la bixica cambia de forma al

girar la platina. En la posicin 0 (las direcciones privilegiadas del
mineral coinciden con las del microscopio) se formar una figura
idntica a la unixica (dos isogiras rectas y perpendiculares), pero
al girar ligeramente la platina observaremos que la cruz se separa
en dos arcos (en el I y el III cuadrante, o en el II y el IV). La
distancia entre los melatopos (ubicados en la parte ms angosta y
ntida de los arcos) y la curvatura de los arcos adquiere su mximo
valor en la posicin 45. Al seguir girando, los melatopos se acercan
y la forma de los arcos de las isogiras se hace cada vez ms
abierta y rectilnea hasta formar nuevamente una cruz en la posicin
90 (0). Si continuamos girando la platina en la misma direccin,
se repite el ciclo, pero esta vez las isogiras con formas de arco se
separan en los otros dos cuadrantes.
n
/
4
En minerales unixicos con birrefringencia alta (capaces de formar

isocromas), al insertar la cua de cuarzo, las isocromas de menor
orden sern reemplazadas por las de orden superior en los
cuadrantes de adicin y suceder lo contrario en los de sustraccin.
Esto se observa como un movimiento de las isocromas hacia el
centro de la figura en los cuadrantes de adicin y hacia afuera en
los de sustraccin (ver figura 4.5).
53
Anlogamente al caso de los minerales unixicos, veremos que, al

insertar la cua de cuarzo, las isocromas migran hacia el melatopo
en los cuadrantes de adicin y hacia afuera en los de sustraccin.
En el caso de cortes inclinados, veremos que las isogiras discurren
por el campo visual con cierta curvatura o inclinacin, a diferencia
de las figuras unixicas descentradas cuyas isogiras discurren
paralelamente a las direcciones NS o EW. En ambas siempre ser
posible reconocer el cuadrante.
MEDICIN DEL NGULO 2V

Existen diferentes mtodos para la estimacin del ngulo 2V agudo,
siendo los de mayor uso el de Mallard, el de Tobi y el de la
curvatura de las isogiras (ver figura 4.9).
El mtodo de Mallard requiere de un corte centrado normal a la
bisectriz aguda, en cuya figura de interferencia en posicin 45 se
mide la distancia entre los melatopos. El ngulo 2V se calcula a
partir de la ecuacin de Mallard:
D = K SenE = K n SenV
donde D es la mitad de la distancia entre los melatopos, K es la
constante de Mallard (funcin de la apertura numrica del objetivo,
amplificacin del ocular y escala del micrometro), 2E es el ngulo
FIGURA DE INTERFERENCIA
CENTRADA
OCULAR
2V refractado al abandonar el mineral (este ngulo es el que se

proyecta en la figura de interferencia y el que condiciona la distancia
entre los melatopos) y n es el ndice de refraccin del mineral. El
valor de K es propio para cada microscopio, objetivo y ocular. Se
puede calcular midiendo la distancia entre melatopos de un mineral
con 2V e ndice n conocidos.
El mtodo de Tobi es parecido al de Mallard: en una figura de
interferencia centrada y en posicin 45 se mide la distancia entre
melatopos (2D) y se la divide entre el dimetro del campo visual
(2R). Si las mediciones se han hecho con un objetivo de apertura
numrica diferente a 0,85, se debe aplicar al cociente un factor de
correccin igual a la apertura numrica del objetivo utilizado divido
entre 0,85.
El resultado obtenido se ingresa al diagrama de Tobi (ver figura
4.9) y se halla directamente el ngulo 2E. Para hallar el ngulo 2V
es necesario saber el ndice ndel mineral.
El mtodo de la curvatura de las isgiras se aplica en cortes
centrados o tambin en cortes perpendiculares al eje ptico. En
tales cortes, la curvatura de la isogira da una idea aproximada del
valor del ngulo 2V. En la figura 4.9 se representan curvaturas de
isogiras correspondientes a diferentes valores de 2V, observadas
con un objetivo de apertura numrica igual a 0,85.
FIGURADE INTERFERENCIA DESCENTRADA
OCULAR
FIGURA FLASH
OCULAR
Giro de
la platina
Giro de la
platina
CORTE BASAL DE
CRISTAL UNIAXICO
Figura 4.6
CORTE INCLINADO DE
CRISTALUNIAXICO
CORTE MUY INCLINADO

DE CRISTALUNIAXICO
Formacin de figuras de interferencia unixica centrada (izquierda), descentrada (centro) y flash (derecha). Las isgiras de figuras
descentradas unixicas, al pasar por el campo visual, se mueven paralelamente a alguno de los hilos reticulares, sin inclinarse,
a diferencia de las figuras bixicas.

Boletin J Microscopia Optica de Minerales

Diunggah oleh

Informasi Dokumen

Hak Cipta

Format Tersedia

Bagikan dokumen Ini

Bagikan atau Tanam Dokumen

Opsi Berbagi

Apakah menurut Anda dokumen ini bermanfaat?

Apakah konten ini tidak pantas?

Hak Cipta:

Format Tersedia

Boletin J Microscopia Optica de Minerales

Diunggah oleh

Hak Cipta:

Format Tersedia

SERIE J: TPICOS DE GEOLOGA, N 1, 2010

Hecho el Depsito Legal N 2010-15100

A la memoria del Profesor Paul Ramdhor

LISTA DE TABLAS E ILUSTRACIONES

Componentes de la radiacin electromagntica

Espectro de longitudes de onda de la radiacin electromagntica

Elementos de la onda luminosa

Representacin de luz linealmente polarizada, monocromtica y blanca

Frente de onda y normal al frente de onda

Representacin de luz linealmente polarizada y elpticamente polarizada

Mtodos para obtener luz linealmente polarizada

Microscopio de polarizacin de luz transmitida

Microscopio de polarizacin de luz reflejada

Diferencias entre luz ortoscpica e iluminacin conoscpica

Caractersticas de los oculares y objetivos

Correccin de objetivos y fuente luminosa

Preparacin de secciones delgadas y pulidas

Desarrollo tridimensional de los minerales

Caractersticas de los sistemas cristalinos

Comparacin entre caractersticas cristalogrficas y pticas de los minerales

Tipos de indicatrices y sus elementos

Orientacin del corte, forma de los cristales y valores de ndices en la seccin

Orientacin del corte y posicin sobre la platina

Comportamiento de un mineral istropo en luz transmitida y ncoles cruzados

Comportamiento de un mineral anistropo en luz transmitida y ncoles cruzados

Seccin delgada de una roca mostrando granos con diferentes cortes

Luz linealmente polarizada reflejada sobre una seccin de un mineral opaco

Mtodos para la estimacin del ndice de refraccin

Formacin de la lnea de Becke

Determinacin del ndice de refraccin por comparacin con aceites de inmersin

Medicin del tamao de grano

Formas de los cristales

Formas bidimensionales propias de los diferentes sistemas cristalinos

Nitidez de las trazas de clivaje y tipos de clivaje

Tipo de extincin segn sistema cristalogrfico y orientacin del corte

Relacin entre el color de interferencia y orientacin del corte del mineral

Relacin entre el color de interferencia y el espesor de la seccin

Relacin entre color de interferencia y posicin de la muestra sobre la platina

Carta de colores de interferencia de Michel-Lvy

Alternancia de las posiciones de adicin y sustraccin cada 90

Construccin de un esquema de orientacin

Maclas frecuentes en minerales formadores de rocas

Diferentes grados de alteracin en una roca grantica

Iluminacin conoscpica incidiendo en mineral anistropo

Figuras de interferencia unixica y bixica

Signo ptico de minerales unixicos

Determinacin del signo ptico de minerales unixicos

Formacin de figuras de interferencia unixica (centrada, descentrada y flash)

Figura de interferencia bixica

Determinacin del signo ptico de minerales bixicos

Determinacin del ngulo 2V

Diagramas de orientacin del aragonito, omfacita y adularia

Sistemas de iluminacin vertical en el microscopio de luz reflejada

Reflectancia en aire de los principales minerales de mena

Tipos geomtricos de intercrecimientos de minerales

Secuencia de pasos para la determinacin de especies minerales

Esquema de uso de tablas determinativas de Schneiderhhn y Schouten

Caractersticas de los objetivos

Propiedades mineralgicas que se estudian con el microscopio de polarizacin

Principales minerales transparentes

Principales minerales opacos

Algunos minerales distinguibles por su color en luz reflejada

Birreflectancia y pleocroismo de algunos minerales observados en aire y con aceite de inmersin

Algunos ejemplos de minerales anistropos