DRX

Se empacaron varios polvos refractarios en Portamuestras aluminio redondos, y

se anivelaron con un portaobjetos de vidrio. No se requiri ningn esfuerzo
especial para controlar la orientacin preferente de los granos. Se coleccionaron
datos estndar /2 usando un difractmetro de sobremesa, MiniFlex de Rigaku.
Los patrones experimentales fueron comparados con los barridos de difraccin de
compuestos puros almacenados en el Archivo de Difraccin de Polvos (ADP)
ICDD. Todos los barridos fueron alisados, theta-corregidos, y se les removi el
fondo. Los resultados de los anlisis de bsqueda/coincidencia se presentan bajo
cada grafica a continuacin como conjuntos de lneas rectas del ADP. [1]

[1]

Los perfiles de difraccin de los polvos 1, 2, y 3 presentados anteriormente

sugieren que los especmenes estn compuestos de componentes casi idnticos.
El corindn, la mullita, el moissanite, la silimanita, el fosfato de aluminio, y el xido
de silicio coinciden en los tres especmenes. La Mullita y la silimanita son
materiales aluminosilicatos, y tienen patrones de difraccin muy diferentes. El
fosfato de aluminio y el xido de silicio son isoestructurales. Informacin elemental
adicional facilitara una identificacin positiva. Hay diferencias de intensidad entre
las muestras. Ya que la intensidad de los picos orientados azarosamente es
proporcional a la cantidad de la substancia, se pueden hacer conclusiones
cualitativas. La fase mayor ce cada muestra es el Corindn. El polvo 1 contiene la
mayor cantidad de Corindn, y el polvo 3 contiene la menor cantidad. Sera
posible obtener informacin cuantitativa ms precisa si hubiera una serie de
estndares disponibles para relacionar el rea de la intensidad con la
concentracin. [1]
1-http://www.rigaku.com/es/products/xrd/miniflex/app008
2-http://www.uco.es/~iq2sagrl/nanomateriales/Tema8-diapositivas.pdf

AFM
Aplicaciones de las microscopias STM y AFM Herramienta indiscutible de
caracterizacin de materiales y superficies a nanoescala.
Microelectrnica Medida de semiconductores al vaco y ultra-vaco,
cristalografa, estructura, etc.
Nanolitografa utilizacin de la punta para modificar las superficies.
Identificacin sustratos: epitaxias (dislocacin, defectos, ngulos, etc.); rugosidad
del sustrato; seguimiento de los procesos de limpieza y de los diferentes
tratamientos relacionados con el proceso; etc.
Capas finas Medidas de tamao de grano, distribucin, rugosidad y perfil.
Caracterizacin de materiales orgnicos e inorgnicos Clculos de parmetros
de celda unidad, orientacin cristalina, defectos puntuales, crecimientos de
monocapas, absorcin de molculas, etc.
Aplicaciones relacionadas con polmeros y composites Medidas de elasticidad
y de friccin local.
Biologa Visualizacin de clulas vivas. [2]

1-http://www.rigaku.com/es/products/xrd/miniflex/app008
2-http://www.uco.es/~iq2sagrl/nanomateriales/Tema8-diapositivas.pdf

[2]

1-http://www.rigaku.com/es/products/xrd/miniflex/app008
2-http://www.uco.es/~iq2sagrl/nanomateriales/Tema8-diapositivas.pdf