Apuntes de

Interferometra ptica
Contempornea
ideas fundamentales

GUSTAVO RODRGUEZ-ZURITA
UNIVERSIDAD AUTONOMA DE PUEBLA.
FACULTAD DE CIENCIAS FISICO MATEMATICAS.
POSGRADO EN FISICA APLICADA.
LABORATORIO DE INTERFEROMETRIA.
PUEBLA-MEXICO.

Prefacio.
John Bruning is well known as the co-inventor of the phase-shift interferometer which
revolutionized precision interferometry measurements. Prior to Johns invention one
could determine the figure of an optical flat or a lens to only about 1/50 of the
wavelength of light.
Henry Smith, Associate Director, NanoStructures Laboratory, MIT.

En los albores del siglo XIX, en 1802, Thomas Young report la

aparicin de una distribucin de mximos y mnimos de irradiancia
luminosa (patrn de interferencia). Era el resultado de un experimento que
empleaba una doble rendija. La descripcin matemtica del patrn pudo
describirse bajo la hiptesis de surgir ste como consecuencia de la
superposicin de dos disturbios ondulatorios clsicos caracterizados por
determinada longitud de onda . Este hecho contribuy decisivamente al
posterior desarrollo de la ptica Ondulatoria hacia mediados del mismo
siglo (aun previamente a la interpretacin de la luz como un fenmeno
electromagntico), notablemente por A. J. Fresnel.
Alrededor de 1880, A. A. Michelson desarroll no slo mtodos ms
eficientes y convenientes para generar y evaluar patrones de interferencia,
sino que mostr cmo los procedimientos emergentes (categorizados bajo
el nombre de Interferometra) acarreaban decisivo impacto en la Metrologa
(mediciones precisas debajo de los micrones), en la Geodesia (definicin
del metro patrn), en la Astrofsica (interferometra de intensidad), en la
Espectroscopa (lneas hiperfinas), en el concepto de Coherencia de campos
y, a la postre, en la Teora de la Relatividad.
Durante los primeros 60 aos del siglo XX, la Interferometra se consolid
y diversific, siendo la Microscopa ptica una de las disciplinas
particularmente beneficiada. Muchos sistemas interferomtricos fueron
desarrollados sobre la base de fuentes luminosas de baja coherencia
temporal (como luz policromtica emitida bajo el rgimen de Cuerpo
Negro) o de mediana coherencia temporal (como lmparas espectrales de
descarga).

Con el advenimiento de la luz lser en 1961, la Interferometra Clsica se

revitaliz inusitadamente. Las tcnicas ya establecidas recibieron un
renovado mpetu, como fue el caso de las Pruebas de Componentes
pticas. Los lseres fomentaron tambin otras nuevas tcnicas, como la
Holografa, la Interferometra Hologrfica, y la Interferometra de moteado
coherente (Speckle). Los Efectos Alineales (Non-Linear Effects) planteaban
nuevos materiales para registro y para generacin de nuevas frecuencias y
de operaciones coherentes, todo de potencial relevancia en conjunto con la
Interferometra.
A finales de los aos 70, el desarrollo de nuevos detectores con el
almacenamiento correspondiente de distribuciones en una y dos
dimensiones por un lado (vidicones, CCD), y los avances y la gran difusin
de los ordenadores por el otro lado, se conjugaron con la Interferometra
para el desarrollo de novedosas tcnicas de evaluacin (extraccin) de
distribuciones de fase clsicas. Estas propuestas se caracterizan por aliviar
(y hasta suprimir) muchas restricciones limitantes de la precisin inherente
a los procedimientos de extraccin de fase que, en base a interferogramas,
hasta entonces existan.
As, los llamados mtodos heterodinos y los cuasi-heterodinos anuncian
precisiones de /1000 y /100 respectivamente durante la dcada de los
aos 80. Las tcnicas son muy verstiles y, consecuentemente, adaptables a
un gran nmero de sistemas interferomtricos (clsicos, hologrficos o
electrnicos). La Interferometra de Corrimiento de Fase (Phase Shifting
Interferometry), por ejemplo, es una tcnica ya comercializada y rutinaria
en varios mbitos cientficos y del sector productivo.

Por los puntos anteriores, puede decirse que la interferencia,

considerando fenmenos ondulatorios, es un efecto resultante de la
superposicin de dos o ms ondas. En el mbito de los fenmenos
ondulatorios, el efecto fsico de interferencia se caracteriza por exhibir
regiones de alta actividad ondulatoria alternadas por regiones de muy baja
actividad, o hasta nula. En el caso de la luz dentro del contexto clsico, una
alta actividad se detecta como un valor alto de irradiancia, mientras que una

baja actividad se refleja en valores bajos de irradiancia, o incluso, en

valores nulos.
Es de inters prctico el caso en que estas regiones permanezcan
relativamente estables durante el tiempo de la deteccin, formndose el
referido patrn de interferencia.

La interferencia as entendida pone de manifiesto propiedades

ondulatorias clsicas de la luz. Histricamente, la observacin del efecto
con ondas luminosas segn T. Young proporcion pruebas cruciales a favor
de la teora ondulatoria de la luz, zanjando la cuestin, al menos hasta
cierto nivel, de si la luz se encuentra constituida, o bien por ondas, o bien
por partculas.
Los ulteriores estudios de las propiedades ondulatorias de la luz sealan
muchas aplicaciones, tal como demostr A. A. Michelson. Algunos
ejemplos extrados del mbito de la ptica, incluyen los siguientes:
_ se posibilita el medir translaciones dentro del rango de nanmetros,
as como giros de ngulos muy pequeos,
_ se pueden generar mtodos para mediciones de distancias con
precisin mejor que fracciones de micras,
_ se pueden medir los ndices de refraccin de muchos materiales,
aun cuando no se distribuya ste de modo homogneo, o aunque no sea
istropo,
_ se pueden caracterizar las estructuras hiperfinas de las lneas
espectrales y medir grados de coherencia de muchas fuentes,
_ resulta posible encontrar mapas topogrficos de superficies,
especialmente variaciones de altura dentro del rango de varias centenas de
nanmetros,
_ se pueden grabar todas las propiedades visuales de un objeto para
poder reconstruirlo con paralaje y en tercera dimensin (Holografa),
_ se pueden medir tensiones y esfuerzos, as como caractersticas
elsticas, de gran variedad de cuerpos slidos,
5

_ se pueden visualizar, y medir caractersticas, de estructuras

transparentes en dos y en tres dimensiones.
El xito de aplicaciones como las mencionadas depende muchas veces de la
medicin de la fase ptica. Esta medicin puede realizarse con la
interferencia de dos ondas y de all el inters por las metodologas capaces
de alcanzar precisiones de centsimas y hasta milsimas de longitud de
onda. Como se ha mencionado, esto ha sido posible gracias al desarrollo de
fuentes de alta coherencia, de los detectores pixelizados rpidos y
relativamente densos, y de la proliferacin de los ordenadores de alto
rendimiento.

En el marco ofrecido por este contexto, el objetivo del presente

compendio consiste en exponer concatenadamente las ideas fundamentales
sobre las que descansan los procedimientos de alta precisin
interferomtricos referidos, ilustrndolas mediante casos considerados
como los ms representativos. Estos casos se presentan a lo largo del
compendio con el detalle suficiente para que puedan ser reproducidos y
modificados con el auxilio de algn paquete de Matemticas Avanzadas en
potencial beneficio del Fsico Experimentalista, del Fsico Aplicado o del
Ingeniero, cualquiera de los cuales requiera de una introduccin al tema.
La revisin, lejos de pretender ser exhaustiva, contempla sistemas
interferomtricos contemporneos de potencial aplicacin metrolgica
principalmente, e incluye una somera descripcin de los procedimientos de
la interferometra electrnica. Con ello, se pretende proporcionar el
fundamento requerido para tener acceso a las ideas fundamentales de los
mtodos interferomtricos de precisin conocidos como mtodos
heterodinos y de corrimiento de fase.
Rumbo a este objetivo, en el primer captulo se revisa la interferencia de
Young de dos rendijas, especialmente en campo lejano. En el segundo
captulo, se estudian algunos efectos de polarizacin de onda en los
patrones de interferencia. En el tercer captulo, se estudian las
caractersticas bsicas de un interfermetro tipo Michelson. Se destacan
especialmente los efectos acarreados por un divisor de haz que sea
convencionalmente dielctrico.

En el captulo cuarto, se revisan diversos mtodos y componentes de

sistemas interferomtricos especficos, incluyendo los mtodos de
polarizacin y electrnicos. En el quinto captulo, se describen los
fundamentos de los mtodos heterodinos y los cuasi-heterodinos en
Interferometra. Finalmente, en el captulo sexto, se describen varios casos
ilustrativos de tcnicas en interferometra de corrimiento de fase.
Se han intercalado los cdigos en Mathcad 14 que son esenciales para
obtener las grficas ilustrativas presentadas en los diversos casos. Los
cdigos en versiones ms recientes no son tan diferentes. Otros listados en
el mismo cdigo ms amplios o redundantes, son enlistados en los
apndices. Una de las ventajas de este sistema de cmputo es el gran
parecido entre el cdigo y la forma de escribir manualmente las frmulas.
Al semejar as un pseudocdigo, se han omitido el intercalar comentarios.
Se recomienda tanto la ejecucin de los programas propuestos como su
variacin para el reforzamiento de las ideas fundamentales. El empleo del
mencionado paquete de matemticas avanzadas, por otro lado, se realiza
por eleccin personal y no bajo compromiso alguno con la compaa
propietaria.

En todos los anlisis expuestos, se supone iluminacin a niveles

moderados de irradiancia y en rgimen continuo. As mismo, se asume la
suficiente estabilidad mecnica en los arreglos experimentales. Tambin se
supone que el detector promedie un nmero suficientemente alto de motas
coherentes (speckle) y que las posibles variaciones temporales de la fase
resulten bastante menores que los tiempos de respuesta de los detectores.
Se ha enfatizado el aspecto conceptual bsico de los experimentos sobre el
de procesamiento digital de interferogramas (filtrado y desenvolvimiento).
La bibliografa incluida tampoco es exhaustiva en modo alguno. Contiene
obras bsicas de amplia cobertura para la profundizacin de algn tema
expuesto en las notas.

Reconocimientos.
Tal vez nunca agradecer lo suficiente por las enseanzas sobre estos
temas a A. Cornejo-Rodrguez, D. Malacara-Hernndez, O. Harris-Muoz,
M. Mantravadi, J. de J. Pedraza-Contreras, C. Roychoudhuri, P. Givens, W.
Schreiber, L. Wenke, B. Harnish, R. Rodrguez-Vera, A. Dvila-lvarez,
A. J. Moore, V. Arrizn-Pea, A. Cordero-Dvila, A. Morales-Romero y
F. Mendoza-Santoyo. Sirva esta modesta mencin para atenuar un poco el
peso de tan formidable compromiso.
El apoyo tcnico de J. F. Vzquez-Castillo en la elaboracin de numerosos
arreglos experimentales ha servido mucho para la concepcin, el desarrollo
y la elaboracin final de estas notas. De hecho, una buena parte de los
resultados experimentales exhibidos han sido obtenidos en el Laboratorio
de Interferometra de la Facultad de Ciencias Fsico-Matemticas de la
Benemrita Universidad Autnoma de Puebla (FCFM-BUAP). Cabe
mencionar tambin el gran inters y destacado entusiasmo desplegado por
N. I. Toto-Arellano y por C. Meneses-Fabin en relacin al trabajo del
laboratorio de ptica de la FCFM-BUAP, con lo cual ha contribuido
grandemente a la elaboracin de las presentes notas. As mismo, los apoyos
de A. Castillo-Cardoso y de C. Huerta-Alderete en la escritura del
manuscrito y la realizacin de las grficas, tambin son muy apreciados.
Se reconoce el soporte del CONACyT para el desarrollo del Laboratorio de
Interferometra ptica de la FCFM-BUAP, particularmente con los
proyectos 124145 y 154984. As mismo, se agradece a la Vicerrectora de
Investigacin y Estudios de posgrado de la BUAP por su apoyo oportuno y
constante.

ndice.
Captulo 1.
Interferencia de Young.
1.1

El experimento de Young: caso escalar ...15

1.1.1 Distribucin espacial de los puntos con interferencia constructiva y destructiva.....17

1.2

Divisin de frente de onda....21

Captulo 2.
Interferencia de dos ondas planas (interferencia de Young en Campo
Lejano).
2.1

Descripcin del patrn de interferencia... 27

2.1.1 El trmino de interferencia..... 27

2.2

El caso de la polarizacin lineal.. .28

2.2.1 Caractersticas del patrn....28
2.2.2 Polarizacin perpendicular..29
2.2.3 Polarizacin paralela...33

2.3

El caso de la polarizacin circular.....34

2.3.1 Polarizaciones circulares iguales.34
2.3.2 Polarizaciones circulares opuestas..36

2.4

Variaciones de parmetros37

2.5.

Trmino de interferencia de dos ondas con frecuencias de valores

cercanos.42

Captulo 3.
El Interfermetro tipo Michelson.
3.1

Formacin de franjas.46
3.1.1 El patrn debido a una fuente puntual.47
9

3.1.2 El patrn debido a una fuente extendida.48

3.2

El divisor de haz con espesor determinado...49

3.2.1
3.2.2
3.2.3
3.2.4

Cambio de fase en interfaz dielctrica plana...49

El cambio de fase de en un divisor de haz...51
La dispersin y la aberracin esfrica.52
Algunas mediciones con un interfermetro de Michelson.53
Medicin de longitud de onda
Estimacin de las longitudes de pulsos
Estimaciones de
Espectroscopa de transformada de Fourier
3.2.5 Divisores de haz cbicos.59
A.
Divisores cbicos de haz no polarizantes
B.
Divisores cbicos de haz polarizantes
Captulo 4.
Otros interfermetros.
4.1

Interfermetros con autorreferencia..63

4.2

Interferencia en placa dielctrica de caras plano-paralelas...68

4.3

Algunos interfermetros adicionales....75

4.3.1 Divisin de amplitud por transmisin-reflexin.75
A.
Interfermetro tipo Twyman-Green
B.
Interfermetro tipo Mach-Zehnder
C.
Interfermetro tipo Fizeau
D.
Interfermetro cclico tipo Sagnac
E.
Patrones de interferencia de frentes aberrados
observados en Twyman-Green
F.
Divisin por birrefringencia
4.3.2 Interfermetros de trayecto comn.87
A.
Interferencia por esparcimiento (scattering)
B.
Interfermetro con esparcimiento
C.
Interfermetro de trayectoria comn con difraccin.
4.3.3 Interfermetros hologrficos...92

4.4

Interfermetros electrnicos..96
4.4.1 Interferometra digital y ESPI..96

10

4.4.2 Interferometra de correlacin fotogrfica de speckle....105

4.4.3 Aplicaciones de ESPI: deformacin...106
A.
El vector de sensibilidad
B.
Sensibilidad fuera y dentro de plano
B.1 Configuracin fuera de plano
B.2 Configuracin en el plano
B.3 Deformaciones de una plancha plana combada en
cuatro puntos
Captulo 5.
Interferometras heterodina y cuasi-heterodina.
5.1

Interferencia con dos disturbios de diferente frecuencia.115

5.2

Interferometra homodina: 1 = 2 = ...117

5.3

Interferometra heterodina: 1 2120

5.3.1 Interferometra heterodina propiamente dicha...123
5.3.2 Interferometra con modulacin sinusoidal125
5.3.3 Medicin de fase: cruce por cero...127
5.3.4 Interferometra super-heterodina128
5.3.5 Ejemplo suplementario: el caso de la conjugacin de fase con
cristales fotorrefractivos silnidos.128

Captulo 6.
Tpicos de interferometra de corrimiento de fase.
6.1

Corrimiento de fase (Phase-Shifting Interferometry)..135

6.1.1 Tres corrimientos de fase...139
6.1.2 Cuatro corrimientos de fase141
6.1.3. Mtodo de Carr145
6.1.4 Modulacin espacial (Mtodo de Takeda o interferometra de
Fourier)..146
6.1.5. Corrimiento de fase con dos longitudes de onda...149

6.2

Implementacin experimental: ejemplos152

6.2.1 Corrimiento de fase...152
6.2.2 Interferometra hologrfica con doble referencia..153

11

6.3

Algunas consideraciones suplementarias155

6.3.1 Cinco corrimientos (mtodo de Hariharan)155
6.3.2 Uso de espejo auxiliar....157
6.3.3 Paquete de integracin...157
6.3.4 Error en la recuperacin de fase por corrimiento de fase...160

6.4

Modulacin y deteccin en interferometra heterodina y de

corrimiento de fase: comparaciones.160
6.4.1 Calibracin del modulador (corrimiento de fase)...161
A. Caso piezoelctrico
B.
Caso rejilla
6.4.2 Modulacin de polarizacin164
A. Holograma interferomtrico con doble referencia
B.
Interferometra de corrimiento de fase con un solo
disparo
6.4.3 Deteccin172
6.4.4 Procesamiento de interferogramas..172
A. Ejemplos de filtrado
B.
Desenvolvimiento

6.5

Comentarios Finales.179

BIBLIOGRAFA BSICA.181
APNDICES.
Apndice A. Interferogramas de frentes de onda aberrados..185
Apndice B. Elementos de un programa para ilustrar el corrimiento de
fase con tres interferogramas..201
Apndice C. Elementos de un programa para ilustrar el corrimiento de
fase con cuatro interferogramas..205
Apndice D. Elementos de un programa para ilustrar el mtodo de
Carr.209

12

Apndice E. Elementos de un programa para ilustrar el mtodo de

Hariharan..213
Apndice F. Elementos de un programa para ilustrar el mtodo de
Fourier (Takeda).217
Apndice G. Elementos de un programa para ilustrar el mtodo de dos
longitudes de onda..221
Apndice H. Elementos de un programa para ilustrar el mtodo
filtrado227
Apndice I. Elementos de un programa para ilustrar un mtodo de
desenvolvimiento 2D..231
Apndice J. Consideraciones colaterales sobre el experimento de
Young en campo lejano..237
Apndice K. Recomendaciones para observar franjas usando un
interfermetro tipo Michelson compensado y bajo
iluminacin policromtica..247

13

14

Captulo 1
Interferencia de Young.
1.1 El experimento de Young: caso escalar.
Dos disturbios planos en contra-propagacin y de igual
longitud de onda, dan lugar a una onda estacionaria. En
consecuencia, se presentan nodos en determinadas regiones del
espacio. Similarmente, la superposicin de dos ondas esfricas darn
lugar a regiones de muy reducida actividad ondulatoria y a otras de
muy alta actividad. El experimento de Young consigue aproximarse
a generar dos fuentes puntuales en sincrona con disturbios
luminosos. La fig. 1.1 muestra el esquema correspondiente, donde
dos rendijas en posiciones x' = a respectivamente se hallan en una
pantalla plana, M, contenida en el eje x. A una distancia d, se
realizan observaciones de la irradiancia resultante sobre el eje x,
paralelo al eje x'.

Figura 1.1. Esquema del Experimento de Doble Rendija de Young

15

La iluminacin de ambas rendijas se obtiene de otra rendija (nica y

centrada) practicad en la pantalla S0 al otro lado de S. Esta rendija se
ilumina con una onda plana de longitud de onda . Considerando el
principio de Huygens, la tarea de cada rendija consiste en seleccionar
fuentes secundarias de Huygens, o sea, fuentes puntuales luminosas. La
sincrona entre las fuentes en posiciones x= d se busca garantizar
con el empleo de una sola fuente puntual, que es la centrada.
Observando sobre un punto P de coordenada x a una distancia
del origen del eje x, se tendr que las distancias
de cada fuente
al punto P sern distintas en el caso general. Si x = 0, entonces
y las
ondas provenientes de cada fuente llegarn siempre en fase debido a que
cada frente de onda recorrer igual distancia (suponiendo que el medio por
el cual se propagan sea homogneo e istropo). Dicha distancia es, desde
luego,
(1.a)
En consecuencia. Los puntos sobre el eje z son indicadores de la
relacin de fase entre las fuentes y mostrarn una actividad
ondulatoria alta cuando las fuentes se hallen en sincrona, mientras
que ser baja si las fuentes estuvieran fuera de sincrona. Entonces, en
general, la fase entre las fuentes podra conocerse de la fase entre las
ondas incidentes sobre el eje z.
Pero si
entonces
. De hecho, respecto al origen O,
puesto que las posiciones de las fuentes sern (a, 0, -d), las
distancias son
(1.b)
(1.c)
En estas condiciones. La relacin de fase entre los frentes de onda
incident.es en P (
) depende de
. Se presentan dos
casos particulares importantes.
i)

que conduce al caso en que las fases de los frentes sea un

mltiplo n de 2, lo cual es muy parecido al caso
porque una fase de 0 es equivalente a una de
. La

16

diferencia consiste en que las amplitudes no son identicas por

recorrer cada frente distinta distancia. Esto es una consecuencia de la
atenuacin propia de una onda esfrica con frente de radio r.
ii)

conduce al caso en que las fases entre los

frentes sea
, lo cual indica que los frentes llegan fuera
de fase por ( 180).

En el primer caso, al coincidir mximos de una fuente con mximos

de la otra (o mnimos), se obtiene un reforzamiento de la actividad
ondulatoria conocido como interferencia constructiva. En el segundo
caso, como coinciden mximo con mnimo, aparece una tendencia a
anular la actividad ondulatoria en la medida en que las amplitudes de
los frentes provenientes de cada fuente no difieran mucho. Dicha
tendencia se conoce como interferencia destructiva.
Se hace notar que
y que
puede adoptar un signo
positivo o negativo simtricamente respecto al eje z.
1.1.1 Distribucin espacial de
constructiva o destructiva.

los

puntos

con

interferencia

Los casos i) o ii) determinan las condiciones geomtricas

(1.2.a)

(1.2.b)
respectivamente. Dichas condiciones definen familias de hiprbolas
homofocales con focos en (a, 0, d). Para n = 0, se tiene una hiprbola
cuyas dos ramas degeneran en la misma lnea recta que bisecta la
distancia entre los focos. En los dems casos
, cada valor de n
define dos ramas (para z > -d si se consideran propagaciones slo
en direccin +z para las ondas secundarias de Huygens).
Cada hiprbola viene a ser el lugar de puntos de igual diferencia de
distancias, o los puntos a donde llegan las ondulaciones con igual
diferencia de fase. El valor de
puede aproximarse usando la
17

aproximacin de Taylor

Usndola en la expresin 1.2.a, resulta

(1.3)
Para la condicin de mximo. As, la posicin de cada mximo puede
escribirse como:
(1.4.a)
Por lo cual se tiene que, bajo la aproximacin usada, las posiciones de
dos mximos adyacentes
cualesquiera resultan constantes. Es
directamente proporcional a y a d, inversamente proporcional a la
separacin 2a entre las rendijas.
Anlogamente, para las posiciones de los mnimos se puede
obtener que:

(1.4.b)
En el experimento de Young, conociendo los datos d, a y posiciones de
mximos
(o mnimos
), puede determinarse el valor de . Esta es
la regin asinttica de las hiprbolas. Ejemplo, dos rendijas
separadas por 0.65 mm proporcionan una separacin entre mnimos
adyacentes de 1mm al observarlos a 1m de distancia. Con estos
datos, se obtiene por sustitucin que:

18

valor que corresponde a un estmulo cromtico rojo. Note que

diferentes valores de proporcionaran distintas separaciones
bajo iguales condiciones de d y de a.
0.5145 0.532 0.488 0.400
514.5 532
488
400
Vale la pena inspeccionar la incertidumbre en la determinacin de
con el mtodo de Young. Por propagacin de error

donde
,
y
son la respectivas incertidumbres en la separacin de
las rendijas, en la distancia de rendijas y pantalla y en la separacin de
mnimos. Con

, resulta

por lo cual,
debe ser cuando mucho, del orden de
para no
exceder un error en
de
que significara una precisin
de apenas

. As, la precisin en la medicin de la

separacin entre rendijas debe ser alta, por lo que resulta crucial para
mediciones significativas. Note que usar luz policromtica, las
familias de hiprbolas por cada no van a coincidir, excepto en la
lnea recta del orden cero. Es entonces de esperarse que tienda a ser
una lnea blanca.

19

Los elementos de un programa que use cdigo en Mathcad y que

muestre la superposicin de amplitudes de dos ondas esfricas se
enlistan a continuacin. Las grficas son de tres dimensiones y se
pueden animar con las herramientas del mencionado paquete.
2

r2 ( xy ) ( y a) x

r1 ( xy ) ( y a) x

Am 1

10

FRAME

r 0.000000001
E2( xy t)

E1( xy t)

Am
r2( xy) r
Am
r1( xy) r

cos ( 15 r2( xy) t)

i j

E1 x y t E2 x y t
j

cos ( 15 r1( xy) t)

Figura 1.2. Superposicin de las amplitudes de dos ondas esfricas.

En tres dimensiones, las regiones de igual diferencia de fase son

superficies (considerando las condiciones 2). Estas son hiprbolas de
revolucin con eje situado en la lnea recta uniendo a las fuentes,
cuyas posiciones coinciden con los focos de las hiperboloides.
Las observaciones de las actividades ondulatorias se realizan en un
plano que interseca a la familia de hiperboloides homofocales.
Cuando el plano es paralelo al eje de rotacin y si
,
(asntotas), las lneas de igual diferencia de fase sobre dicho plano

20

tienden a ser lneas rectas. Cuando el plano es normal al eje de

simetra, las lneas de igual diferencia de fase tienden a ser crculos
concntricos.
Para encontrar la grafica (3D y las lneas de nivel) del disturbio total
formado por ondas esfricas en posiciones (0, ) se puede recurrir a un
paquete de clculo avanzado para PC considerando los siguientes
elementos en cdigo Mathcad:
N 256

i 01 N 1

a 1

xm 0

x xm i

i j

Am
r1( xy) r

10

N 1

yM 5
2

r1 ( xy ) ( y a) x

E2( xy t)

Am
r2( xy) r

cos ( 15 r2( xy) t)

1.2 Divisin de frente de onda.

Existen otras posibilidades para obtener dos fuentes a partir de una
sola, como es en el caso de la doble rendija de Young. Se
esquematizan dos posibilidades: el biprisma de Fresnel y el espejo de
Lloyd.

Figura 1.3. Biprisma de Fresnel

21

r2 ( xy ) ( y a) x

FRAME

cos ( 15 r1( xy) t)

E1 x y t E2 x y t
j

yM ym

r 0.000000001

E1( xy t)

ym 5

y ym j

N 1

Am 1

xM 10

xM xm

j 01 N 1

Figura 1.4. Espejo de Lloyd

Las analogas con el mtodo de doble rendija se reconocen mediante el

uso de similar notacin. Existen tambin algunas diferencias debido a
las particularidades de cada sistema. Ntese que todos los arreglos
comparten una caracterstica en su mtodo de producir dos fuentes a
partir de una. Al menos, una de estas dos es una imagen de la otra.
Puesto que las fuentes son fuentes puntuales tomadas como
porciones pequeas de una fuente original, los mtodos pueden
adolecer de un importante desperdicio de luz. El mtodo se conoce
como divisin de frente de onda.
Los lugares de igual diferencia de fase definen determinadas curvas.
Si las amplitudes de las ondas lleguen a estos puntos con iguales
amplitudes, estos lugares de igual diferencia de fase proporcionarn
puntos de igual irradiancia. Pero en el caso del experimento de Young,
esta condicin solo ocurre aproximadamente en campo lejano por
efecto de la atenuacin de la amplitud de las ondas esfricas
involucradas en el caso r1 r2. Por tanto, los puntos de igual
diferencia de fase no se corresponden exactamente con los puntos de
igual irradiancia. En particular, no podr existir interferencia
destructiva exacta ms que en la bisectriz de las fuentes puntuales si,
adems, se ajusta su fase relativa a que sea de . Los dems puntos
con diferencia de fase de algn mltiplo impar de media longitud de

22

onda no proporcionarn, en general, un valor de irradiancia igual a

cero.
Sin tener que usar distancias muy grandes, una lente de focal positiva
puede acercarse a la condicin referida en la aproximacin paraxial.
La razn estriba en que se pueden generar ondas planas que
interfieran, en vez de ondas esfricas, tal como se describe en el
siguiente captulo.
Algunos efectos que puedan alterar de modo importante a las
posiciones de los valores extremos de los patrones de interferencia se
discuten en el apndice J.

23

24

Captulo 2.
Interferencia de dos ondas planas
(interferencia de Young en campo
lejano).
Para facilidad de anlisis, conviene considerar el caso
en el experimento de Young (campo lejano). Es el caso en el cual
las ondas circulares o esfricas se convierten en ondas planas. Tal
conversin puede conseguirse experimentalmente para valores
finitos de d usando Una lente de longitud focal positiva, como se
esquematiza en la fig. 2.1.

Figura 2.1. Experimento de Young en campo lejano.

25

Una doble rendija apropiadamente iluminada se coloca en el plano

focal anterior de la lente de focal f > 0. Por su posicin respecto a la
lente, de ser onda esfrica, al emerger de la misma lente lo hace
como una onda plana. La inclinacin del vector de onda
est dada por

(i = 1,2)

( 2.1 )

por lo cual

. Entonces, las expresiones de los

disturbios, escritos en forma compleja, son

y

( 2.2 )

donde
denota la amplitud del campo electromagntico, es la
frecuencia temporal angular que, en el vaco, cumple la relacin de
dispersin
( 2.3 )

con

,y

es la fase de cada disturbio. Como se ha

considerado la orientacin de
respecto de algn sistema
coordenada en 3-D, estos vectores definen el estado de polarizacin de
cada disturbio. En la regin donde se superpongan las ondas planas, el
disturbio total es
(2.4.a)
En consecuencia, la irradiancia total

es
(2.4.b)

26

Habiendo dejado aparte el factor

para usar unidades

arbitrarias. As para dos ondas,

(2.5.a)

donde
, por lo cual la suma de las irradiancias de cada
onda no es siempre igual a la irradiancia total, porque, en general,
aparece un trmino adicional. Este ltimo se ha expresado en
trminos de
pero puede hacerse en trminos de
alternativamente. Dicho trmino se conoce como el trmino de
interferencia.
2.1 Descripcin del patrn de interferencia.
A continuacin, se analiza la irradiancia de la ec. 2.5.a, irradiancia
que, considerada en un plano (por ejemplo, el plano
en 3-D, o
el eje en 2-D), se conoce como patrn de interferencia.
2.1.1 El trmino de interferencia.
Sustituyendo en la ecuacin 2.5.a las relaciones 2.2 se obtiene para
una expresin independiente del tiempo:

(2.5.b)

donde se han introducido los parmetros

27

y
siendo este ltimo, la diferencia de fase entre los disturbios. Se observa
que el valor del trmino de interferencia depende del producto ( ) entre
los valores de amplitud (uno de ellos, complejo conujugado). Por ello,
dicho trmino depende de los estados de polarizacin de los disturbios.
Por ejemplo, si los estados de polarizacin fueran ortogonales,
, y el trmino de interferencia sera nulo para cualquier
valor de x. Es un caso en el cual
. Este caso de
ortogonalidad surge si los estados de polarizacin de
son lineales y
adems, son mutuamente perpendiculares. Tambin aparece cuando
los estados de polarizacin sean circulares, pero de giros opuestos.
Esta propiedad es importante porque puede indicar si dos disturbios
dados son ortogonales entre s.
2.2 El caso de la polarizacin lineal.
Cuando los disturbios tienen polarizacin lineal, las amplitudes de los
disturbios son vectores de coordenadas reales, por lo cual, la ec. 2.5.b
se simplifica a
(2.5.c )
que es una expresin oscilante en dependencia de . Para considerar el
plano
, se restringen los valores de
,
obteniendo para

, donde

. Por definicin,

, siendo entonces el patrn de interferencia dado

por
( 2.5.d)

2.2.1 Caractersticas del patrn.

Al obtener una expresin espacialmente peridica, debe de existir un
perodo para ella (que es el periodo espacial del trmino de

28

interferencia). Dado que

tener la relacin

es una frecuencia angular espacial, se debe

de la cual se puede obtener que,

de donde
.

( 2.6 )

Se destacan dos casos extremos para segn el valor de :

(ondas colineales),
(campo uniformemente iluminado)
(ondas en contra-propagacin),
Asi que
el valor de es inversamente proporcional al
(o proporcional al
) y vara entre
(un campo uniformemente iluminado) y un
mnimo de
. Se nota que aun si
, y los disturbios no son
ortogonales de todos modos puede ocurrir que
segn la ec.
2.5.d. debe corresponderse con la separacin entre mximos y
mnimos para el caso paraxial (ngulos
pequeos). En dicha
aproximacin
y, por la ec. 2.1,
,

( 2.7 )

si sustituye a . Aqu,
es la separacin entre mximos
adyacentes (o entre mnimos adyacentes) segn la seccin 1.1.1. As, en
aproximacin paraxial,

Existe, pues, coincidencia entre las aproximaciones empleadas en los caps.

1 y 2.

2.2.2 Polarizacin perpendicular.

Cuando las polarizaciones lineales de las ondas planas en
superposicin son perpendiculares al plano que contiene a ambos
vectores de onda, se tiene justamente el caso perpendicular. Entonces
y

de modo que:
29

( 2.8 )

Figura 2.2. Vectores de onda y direccin de campos elctricos al ngulo 1. Caso

perpendicular.

cantidad independiente de . Bajo esta condicin, la irradiancia (ec.

2.5.d) se simplifica a
(2.8.a )
donde se ha retornado al uso de y
por ser
las nicas contribuciones a las amplitudes. Se grafican a continuacin
algunos casos. En el caso general de la fig. 2.3 , se ilustra el hecho de
que los valores de irradiancia se encuentran entre un mnimo dado por
y un mximo dado por
. Dentro de
dicho rango, los valores siguen una regla cosinusoidal de perodo
espacial .

30

Figura 2.3. Irradiancia total como funcin de la posicin (patrn de interferencia)

El corrimiento de la curva trazada por estos valores, se determina por

y es, en distancia . El promedio de los valores en un nmero alto
de perodos es
Se acostumbra definir a dicho
promedio como la luz de fondo y se factoriza en la ec. 2.8.a para
obtener
(2.8.b)
donde
(2.8.c,d)

siendo la modulacin de las franjas". Las franjas vienen a ser los

valores extremos entre los que oscilan los valores intermedios de
irradiancia (
). La modulacin es un parmetro que indica la
detectabilidad de las franjas. Otro es el parmetro conocido como
"visibilidad de franjas , definido como:

(2.9.a)
y que para el caso de polarizacin perpendicular adopta la forma

31

(2.9.b)

Inspeccionando

se encuentra que su anulacin ocurre cuando

por lo cual esta igualdad es condicin de valor extremo.

Como

se tiene un mximo de visibilidad y la ec. 1.13.b

se reduce a
( 2.10 )
con
(fig. 2.4). Al caso de mxima modulacin de franjas le
corresponde un valor de irradiancia de
.

Figura 2.4. Irradiancia total como funcin de la posicin (patrn de interferencia)

Se nota que
es independiente de
. La modulacin de las
franjas como funcin del cociente de irradiancias
se
muestra en la fig.2.5. El mximo valor
es 1 para
.

32

Figura2.5. Modulacin de franjas (caso escalar) en funcin del cociente de irradiancias

.

2.2.3 Polarizacin paralela.

Cuando las polarizaciones de las ondas planas en superposicin
siempre estn contenidas en el plano de los vectores de onda, se
tiene el caso paralelo. De la fig. 2.6, al considerar la transversalidad
de los campos,

Figura 2.6. Vectores de onda y direccin de campos elctricos al ngulo 1. Caso

paralelo.

33

Se halla que

forman un angulo de

diferencia del caso perpendicular. De hecho,

(

entre s. Esto es una

(

)y

) de donde, en coincidencia con el anlisis

grafico,
( 2.11 )
La irradiancia para este caso se obtiene sustituyendo la ec. 1.16 en la
ec.1.9.d, obtenindose
( 2.12 )
Entonces,
establecindose
una
dependencia adicional del trmino de interferencia que no aparece en
el caso anterior (perpendicular).
Como el caso ms simple ocurre en la polarizacin perpendicular, es
el que se prefiere en muchas aplicaciones y en anlisis (enfoque
escalar). Ntese que en polarizacin paralela, si
el trmino de
interferencia se anula (lo que no sucede en el caso perpendicular).
2.3 El caso de la polarizacin circular.
Los haces que interfieren formando un ngulo
entre s, pueden
tener polarizaciones circulares. Se consideran dos casos.

2.3.1 Polarizaciones circulares iguales.

Cuando las polarizaciones de los haces son circulares e iguales,
. Puede describirse cada polarizacin en trminos
de las componentes paralela y perpendicular con un desfasamiento
mutuo de
que es igual en ambos haces. Las componentes de
los disturbios puede expresarse, de acuerdo a la fig. 2.7

34

Figura 2.7. Superposicin de campos con polarizaciones circulares iguales.

como sigue

( 2.13 )

Dadas las anteriores componentes rectangulares, el producto del trmino de

interferencia resulta

(2.14.a)

y la correspondiente modulacin es (ec.1,9.b)

(2.14.b)

Entonces,
contraste de

por lo cual no habra el cambio de

para

35

2.3.2 Polarizaciones circulares opuestas.

Las componentes rectangulares de este caso son

( 2.15 )

Figura 2.8. Superposicin de campos con polarizaciones circulare opuestas.

El producto punto resulta

(2.16.a)

y la modulacin viene a ser

(2.16.b)

36

Entonces, en el caso colineal, cuando efectivamente las polarizaciones

son ortogonales, la modulacin es cero. Pero cuando haya franjas,
surge un cambio de signo en su contraste.
Se define al tensor de interferencia

para dos disturbios. La

traza
de su matriz
resulta ser
proporciona informacin sobre la modulacin.

2.4. Variaciones de parmetros.

Algunas variaciones de parmetros se muestran en las grficas
siguientes. En la
se grafican los valores de periodos
obtenibles como funcin del ngulo entre las ondas para dos
longitudes de onda en los extremos del espectro visible, verificndose
un mnimo
. Similarmente, los valores del nmero de onda
del patrn se observan que parten de cero a ciertos valores mximos.
Las variaciones en amplitud y modulacin de franjas para diversos
casos de polarizacin pueden tambin observarse en las grficas
posteriores.
Ntese que la fase de la ec. 2.5 determina una translacin del patrn
de interferencia. Por ello, si la fase no permaneciese constante
durante el tiempo de deteccin, dicha translacin cambiara
correspondientemente. Si estos cambios fuesen tan rpidos que no
pudieran ser resueltos en tiempo, slo se registrara un promedio
temporal que ocultara la naturaleza peridica del patrn. Esto explica
la dificultad de observar interferencia usando fuentes independientes,
ya que cada fuente tendra variaciones azarosas de 1 y 2,
proporcionando en su resta, por lo general, una funcin con
fluctuaciones al azar cuya rpida variacin impida la observacin de
un patrn de franjas.
Es debido a ello que, de no contar con fuentes sin variaciones
aleatorias rpidas, se puede conseguir una constante a partir de la
generacin de una imagen de una fuente con variacin 1. Esta imagen
resultara con una fase de variacin aleatoria 2 que resultara ser la

37

imagen de 1. En otras palabras, 1 y 2 estaran correlacionadas. Se

esperara entonces que la fuente reproducida tendra una variacin 2 =
1 + constante, de modo que la resta resulte en dicha constante. sta
puede ser cero.
En resumen, el mtodo de divisin de frente de onda busca
precisamente la generacin de dos ondas con fluctuaciones de fase
idnticas.
Por lo anterior, un patrn de interferencia viene a ser un indicador de
la correlacin entre dos fuentes.
Algunos ejemplos de las propiedades del patrn de interferencia de
dos haces se muestran en la siguiente seccin.
***

Las siguientes grficas realizadas con cdigo en Mathcad muestran

las variaciones (en funcin del ngulo ) para el perodo de un patrn
de interferencia de dos ondas, , as como las variaciones del
correspondiente nmero de onda K.
Se consideran dos longitudes de onda en el rango visible: = 600 nm
y 0 = 450 nm.
N 128

i 0 N 1

2 sin

180

K0 2

600 10

K 2

p 0.0000000000001
9

0 450 10

1 i
i

38

N 1

0
2 sin

180

90

110

810
i

610

0 i

410

7
7
7

210

20

40

60

80

100

1 i
7

310

210

Ki
K0i

110

20

40

60

80

100

1 i

Los perodos deben variar desde para cero rads, hasta /2, mientras
que K, desde cero hasta 4 .
Similarmente, las grficas siguientes exhiben diversos patrones
de interferencia de dos ondas, atendiendo a diferentes casos de
polarizacin de cada onda. Se utilizan las relaciones de modulacin
m() para los casos de a) polarizaciones perpendiculares, b)
polarizaciones paralelas, c) polarizaciones circulares iguales en giro d)
polarizaciones circulares opuestas en giro.
M 256

I1 1
9

600 10

x xMin j
j

xMin 5 10

I2 1

p 0.0000000000001

xMax xMin
M 1

1 j
j

xMax 5 10

j 0 M 1

22.5
M 1

2 sin

180

39

Kp 2

CASO POLARIZACIN PERPENDICULAR

IT1( Kp x) I1 I2 2 I1 I2 cos ( Kp x )

a I1 I2

m1 2

I1 I2

m1 1 a 2

2
1.5
IT1 Kp 2 x
a

1 0.176

Kp 6.451 10

0.5

0
0.06 0.04 0.02 0

Kp 3.225 10
1

0.02 0.04 0.06

Kp 2.094 10
0

CASO POLARIZACIN PARALELA

m2(1) m1cos
(21)

IT2(Kp x1) a(1 m2(1)cos (Kpx ))

IT1 Kp 3 x

1.5

a
IT2 Kp 3 x1 3

a
0.5

0
0.06

0.04

0.02

0
x

40

0.02

0.04

0.06

CASO POLARIZACIN CIRCULAR (IGUALES)

2

m3(1) m1cos
( 1) IT3(Kp x1) a(1 m3(1)cos (Kpx ))

1.5
IT1 Kp 5 x
a
IT3 Kp 5 x1 5

a
0.5

0
0.06

0.04

0.02

0.02

0.04

0.06

CASO POLARIZACIN CIRCULAR (OPUESTOS)

m4(1) m1 sin(1)

IT4(Kp x1) a(1 m4(1)cos (Kpx ))

2

1.5
IT1 Kp 5 x
a
IT4 Kp 5 x1 5

a
0.5

0
0.06

0.04

0.02

0
x

41

0.02

0.04

0.06

Ntese el cambio del signo del contraste de franjas en el ltimo caso

(circulares opuestas).
2.5. Trmino de interferencia de dos ondas con frecuencias de valores
cercanos.
Puede considerarse el caso de superposicin de dos ondas de
frecuencias distintas (
). De particular inters ser el caso de
frecuencias semejantes. Estrictamente, para ondas planas exactas los
nmeros de onda tambin deben diferir en sus valores absolutos
(
). De acuerdo a la ec.2.3,
, con
, i =1,2.
De la ec.2.5.a, el trmino de interferencia resulta ser

(2.17)

con
, y ahora
. Esto se interpreta como un
patrn de interferencia de comportamiento temporal, oscilado a la
frecuencia
(pulsaciones o beats). Despreciando el ngulo que
tienda

con el eje x, se obtienen las aproximaciones siguientes

siendo

(2.18)

Entonces, para el caso escalar y tomando

interferencia se puede aproximar como sigue

, el trmino de

(2.19)

En muchas situaciones prcticas, el cociente influye ms en el

trmino temporal de la fase que el espacial. Si
, por
-1
ejemplo, en x = 10 cm = 10 m se inducira un cambio de una diez
milsimas de 2 rad. Sin embargo, en el trmino temporal se tendra,
durante un tiempo

42

rads. Para

observar un patrn, debe permanecer suficientemente constante en

trminos del tiempo de respuesta del detector como otra condicin
necesaria.
Ntese que, atendiendo a la estructura del trmino espacial de la fase,
surge una longitud de onda

, llamada en ocasiones,
longitud de onda sinttica. Anlogamente, para el trmino temporal, se
tiene una frecuencia

. La tabla 2.1 muestra algunos valores de

y
para casos usuales de pares de longitudes de onda cercanas, o
muy cercanas.
Tabla 2.1
1 [nm]

RojoAzul
Doblete
Na
Zeema
n Hg
VerdeAzul Ar

2 [nm]

[nm]

-1

[nm ]

[nm]

[Hertz]

68.6

[nm]
584.3

0.597

589.294

1.72 X 10-6

5.813X105

5.157X1011

2.11

578.015

6.315X10-6

1.583X105

1.893X1012

26.5

501.25

1.055X10-4

9.481X103

3.162X1013

2 X10-4

5 X 103

6.024X1013

Este permite generar patrones de interferencia como si se empleara,

para su formacin, una longitud de onda diferente a cada una de las
dos reales 1 y 2.
Una longitud de onda mayor, puede ser de mucha utilidad para
inspeccionar superficies con diferencias de caminos pticos muy altos,
como en la inspeccin de superficies aesfricas, o lentes oftlmicas. De
emplear longitudes de onda en el visible, se tendran demasiadas
franjas y se incrementara su densidad por rea. Al emplear una
longitud de onda mayor, se reduce el nmero de franjas.
Una manera de crear patrones como si estuvieran formados por
longitudes de onda altas consiste en grabar un patrn de interferencia
formado con 1 (holograma) y colocarlo en el mismo arreglo
interferomtrico con el cual se obtuvo; pero sustituyendo en dicho arreglo a
la iluminacin original, con otra de longitud de onda 2. La superposicin
43

del nuevo interferograma con el grabado se puede describir como la

superposicin de dos rejillas de distinto perodo, por lo cual se formarn
franjas de moir.
El perodo de estas franjas de moir est dado por . En este caso, no
existira inconveniente con los valores altos de
puesto que ambos
patrones son estticos. Slo se reproduce el patrn y no la onda de
periodo . La tcnica tampoco demanda de un detector a .
El trmino de interferencia en la ec.2.5 es una medida de ortogonalidad
y, en general, de la correlacin entre los dos campos superpuestos.
Aunque muchas veces proporcione una funcin oscilante del espacio,
puede llegar a ser de un valor constante (caso colineal, por ejemplo).
Otros factores pueden modificar los patrones de interferencia: Algunos
de ellos se repasan en el apndice J.

44

Captulo 3.
El interfermetro tipo Michelson.
El interfermetro de Michelson, una versin ms simple del ms
famoso interfermetro de Michelson-Morley, realiza una divisin de la
luz en dos haces basndose en la reflexin y transmisin propias de una
placa dielctrica. El esquema incluye dos espejos
a los lados de
una placa conocida como divisor de haz (DH, fig. 3.1).

Figura 3.1. Interfermetro tipo Michelson

Una onda proveniente de una fuente S incide sobre una placa plano
paralela a 45 aproximadamente, de modo que una parte del haz se
refleja, digamos que en la primera cara de la placa (externamente) y
parte se transmite rumbo a la segunda cara. En ella, vuelve a
transmitirse e incide normalmente en un espejo
. Este retorna al
haz a la placa divisora. Por otro lado, el haz que primero se reflej es
tornado a la placa divisora por otro espejo
. As, las ondas se renen

45

en la placa divisora y, al transmitirse rumbo a la lente L, se superponen,

pudindose observar su interferencia sobre un plano X.
Las ondas dirigidas a la fuente tambin producirn una interferencia
que no es tan directa de observar porque se superpone a la fuente.
Este patrn puede servir para ajustar al arreglo en su alineacin.
La placa divisora separa el haz incidente en dos partes principales, pero
sin cortar el frente de onda incidente en pequeas porciones. Este
mtodo para obtener dos ondas a partir de una sola se conoce como
divisin de amplitud y resulta ser una alternativa a la divisin de frente
de onda (Young). Una de sus ventajas consiste en aprovechar ms de la
luz incidente.
3.1. Formacin de franjas.
Sin considerar el espesor de la placa divisora por el momento, el
interfermetro de Michelson puede esquematizarse segn la lnea de
observacin coincidente con el eje de la lente L de la fig. 3.2.

Figura 3.2. Esquema plegado para el anlisis de la formacin de franjas.

El esquema desenvuelve al interfermetro siguiendo las propiedades de

los espejos planos aplicadas a DH,
. Si las distancias de los
espejos al divisor son distintas, entonces
. Esta distancia ocasiona
que entre las imgenes de la fuente, exista una distancia de

46

( 3.1 )
Un punto de P de S tendr imgenes puntuales P1 y P2 sobre
y
respectivamente, puntos a igual altura. Si del punto P emerge un rayo
al ngulo , de los puntos imagen P1 y P2 saldrn rayos al mismo
ngulo . Este par de rayos se propaga paralelamente y, al captarse por
la lente, se concentra sobre el plano focal, a la distancia de la lente.
Al superponerse en el punto
, su irradiancia depender de la
diferencia de fases entre estos rayos. Esta diferencia depende de la
diferencia de caminos pticos, la cual se puede determinar con la
perpendicular a los rayos que pasa por el extremo del rayo ms corto
(el que sale de P2). La interseccin con el punto de partida del rayo ms
largo es la diferencia de caminos. El resto de los trayectos deben ser de
igual camino ptico por el principio de Fermat, por ejemplo.
Entonces la diferencia de caminos resulta ser
( 3.2 )
Esta diferencia de caminos pticos contribuye a la diferencia de fase
junto con otras diferencias de fase que pueden tenerse, pero si estas
ltimas son de valor constante, la dependencia de es con , a
constante.
3.1.1 El patrn debido a una fuente puntual.
La irradiancia observada en
ser de la forma de la ec.( 2,11 ),
sustituyendo el argumento del coseno por . Este valor de irradiancia
ser el mismo que corresponda a otro par de rayos partiendo de los
mismos puntos
y
con tal que tengan igual inclinacin, - por
ejemplo, que es el caso simtrico. Los rayos a este ngulo se unirn
sobre la posicin
, simtrica respecto al eje ptico de L. Si se
consideran los rayos sobre la superficie de un cono con pex sobre P
y con un ngulo 2, se tendrn dos conos imagen de igual ngulo, pero
centrados en P1 y P2 respectivamente. Por pares coplanares, estos
rayos se unen sobre el plano focal L de modo similar a los dos casos
47

considerados inicialmente definiendo un crculo de radio

centrado en el centro del plano focal. La irradiancia sobre dicho
crculo ser igual si la asociada a cada rayo tiene igual valor. Esto
se debe a que
. Se concluye que P contribuye con un
patrn de franjas circulares concntricas en el plano focal de L.
Se ve que se relaciona esto con el esquema de la fig. 1.1, en el cual
la observacin se hara sobre un plano cuya normal fuese paralela al
eje x' (y no a z). En esas condiciones los hiperboloides seran
intersectados por un plano perpendicular a su eje comn de rotacin
proporcionando as crculos concntricos.
3.1.2 El patrn debido a una fuente extendida.
Al considerar otro punto
distinto , de se puede comprobar que
se debe obtener un patrn de franjas circulares. Al igual que para el
punto , el radio
depender slo del valor del
. Como
, puede esperarse una relacin cuadrtica para
valores relativamente pequeos de . Puesto que en estas
condiciones (aproximacin paraxial)
( 3.3 )
Se tiene dependencia de

con

. La irradiancia es de la forma
( 3.4 )

y no cambia sobre el plano focal si cambia P.

Entonces cada punto de la fuente S contribuye con un patrn
circular idntico en posicin y escala: el patrn resultante es
entonces ms brillante.
Este tipo de franjas se conoce como franjas de igual inclinacin.

48

3.2. El divisor de haz con espesor determinado.

Antes de considerar en otras contribuciones a , conviene revisar
los efectos de fase ocurridos en reflexin y transmisin. Para el caso
dielctrico, estos efectos se encuentran descritos por los coeficientes
de Fresnel para la reflexin y la transmisin, denotados por r y t.
Pero para evitar inspeccionar sus detalles puede bastar el formalismo
de Stokes, que se trata en lo siguiente.
3.2.1 Cambio de fase en interfaz dielctrica plana.
Considere primero una frontera separando dos dielctricos ideales (sin
absorcin), homogneos, istropos y lineales. Un haz monocromtico
incide con una amplitud
y con determinada polarizacin respecto al
plano de incidencia, formando un ngulo en relacin a la normal a la
frontera, considerada como plana. De esta superficie surgen un rayo
reflejado, de amplitud
, y otro transmitido, de amplitud
donde
denota el coeficiente de reflexin de Fresnel (que depende del estado
de polarizacin
de los ndices de refraccin
y de
los ngulos
). As mismo, denota el coeficiente de la
transmisin de Fresnel de similares dependencias. La reflexin y
transmisin se ilustran en la fig. 3.3.a.

Figura 3.3. Esquema de reversibilidad para deduccin de las Frmulas de Stokes.

En la fig. 3.3.b, se muestra la situacin obtenida al invertir las

direcciones de los rayos de la fig. 3.3.a) manteniendo todo lo dems
sin variar. El principio de reversibilidad establece que la situacin
obtenida por inversin de direcciones es totalmente posible. En la fig.

49

3.3.a se muestran, sin embargo todos los rayos involucrados al

considerar las 2 incidencias de la fig.3.3.b. Esto incluye una amplitud
del rayo incidente desde el medio de ndice , y a la
amplitud transmitida al medio de ndice
, que es
.
Igualmente, el rayo incidente desde el medio
se refleja con
amplitud
indicando por el coeficiente de reflexin
de Fresnel de un medio con ndice
a otro ndice . Finalmente, el
haz transmitido al medio superior tiene amplitud
.
Para hacer compatibles las figs.3.3.b con 3.3.c, se identifican los haces
superpuestos con los haces de igual direccin, obtenindose
i)
ii)
resultando, con inclusin de dependencias angulares, que
(3.5.a )
(3.5.b )
estando relacionados los valores angulares por
( 3.6 )
El factor (-1) de la ec. 3.5.b puede escribirse como
tiene

, por lo cual se

( 3.7 )
Por lo cual se considera que existe una fase de entre
y
.
Esta fase aparece en un divisor de haz dielctrico y resulta la otra
contribucin importante a la total.
Las relaciones 3.5 se conocen como las frmulas de Stokes.

50

3.2.2 El cambio de fase de

en un divisor de haz.

Un divisor de haz esencialmente de comportamiento dielctrico

muestra el efecto del corrimiento en fase. El rayo (1) sufre una
reflexin externa (fig. 3.4), mientras que el rayo (2), una interna

Figura 3.4. Divisor de haz con placa dielctrica de caras plano-paralelas.

Los ngulos de reflexin son

y
respectivamente, estando
relacionados por la ley de Snell. Entonces, aparece una diferencia de
fase adicional de que contribuye al valor de .
En estas condiciones, la diferencia total de fase, sin otra influencia
adicional, resulta
( 3.8 )
Una consecuencia del desfasamiento consiste en que el patrn
observado sufre un cambio de contraste respecto al esperado si solo se
considerara la contribucin "geomtrica" a . Como el patrn de
interferencia que se encuentra en direccin a la fuente no es formado
por haces con reflexiones internas, ste muestra el contraste opuesto al
de la salida propia del interfermetro. Cuando se consigue un patrn
cromtico, resulta ms evidente la diferencia de contrastes.
Existen tcnicas para compensar el corrimiento, con apilamientos
multicapa en la cara reflectora.

51

3.2.3 La dispersin y la aberracin esfrica.

Dos efectos adicionales resultan de usar un divisor de placa
dielctrica.
A. Uno de ellos es la dispersin del material, que significa
.
El rayo vertical (1) de la fig. 3.4 recorre una longitud AB con ndice de
refraccin , mientras que el horizontal (2) recorre 2AB + AC; esto es,
un exceso de 2AB. El camino ptico es entonces
correspondientemente mayor si las distancias geomtricas fueran
iguales para cada rayo.
Acortando la trayectoria del rayo (1) podra compensarse, pero la
cantidad requerida depende de
.
Por ello no se puede compensar simultneamente para dos (o ms)
frecuencias. La compensacin simultnea se da colocando una placa
del mismo material y dimensiones en el trayecto del rayo (1).
Ajustando su inclinacin de modo que permanezca paralela al divisor,
se obtiene el camino ptico
requerido
. La fig.
3.5 muestra dos posibles posiciones de la placa compensadora (o
compensador), aunque la 3.5.a es ms usada.

Figura 3.5. Dos posiciones posibles de compensadores respecto al divisor de haz.

Ntese que el compensador se debe encontrar en el lado de la cara

reflectora (un depsito reflector parcialmente, determina cul es ella).

52

Los patrones de interferencia bajo iluminacin policromtica

requieren de una compensacin simultnea de la dispersin.
B. El segundo efecto consiste en la aberracin originada por el paso
de un frente de onda a travs de una frontera plana separando dos
medios (aberracin de esfericidad). Esta aberracin es notable cuando
la forma del frente no es plana. Si es esfrica, por ejemplo; al salir de
la frontera deja de serIo. En un interfermetro sin compensador, el
rayo (2) sufre mayor deformacin por aberracin de esfericidad que
el (1) por que atraviesa por un mayor nmero de fronteras. Pero al
incorporarse el compensador, la deformacin resulta comparable en
ambos haces.
La ausencia de compensador en un interfermetro bajo iluminacin
monocromtica puede ocasionar que las franjas circulares se vean
deformadas en franjas elpticas.
Con el interfermetro de Michelson se consigue trabajar con ondas
formando ngulos de pequeo valor entre los vectores de onda
.
3.2.4 Algunas mediciones con un interfermetro de Michelson.
Algunas mediciones tiles con interfermetro de Michelson incluyen

Medicin de distancias
Mediciones de longitudes de onda monocromtica
Medicin de anchos de paquetes de onda
Extraccin de espectros de fuentes por modulacin de franjas

Algunos detalles se discuten en las siguientes secciones. Se considera el

caso escalar.
Medicin de longitud de onda.
Ajustando los brazos a manera de observar un patrn de franjas
circulares concntricas bajo iluminacin monocromtica conviene

53

observar el centro de estas franjas. Es la condicin

3.2 la diferencia de caminos es nicamente de

de la ec.

( 3.9.a )
o bien, de la ec. ( 3,8 )
(3.9.b)
Los cambios de fase en el centro de las franjas son slo dependientes
de d. En ese punto un cambio de franja obscura a franja obscura
adyacente es
entre dos posiciones
y
fases

de modo que, en general

(3.10)
puede medirse al registrar posiciones inicial y final de uno de los
brazos de un interfermetro Michelson contando el paso de N franjas
circulares por su centro. Con N=100, por ejemplo
y
. Usualmente,
leda es proporcional al desplazamiento
real
. El valor K es obtenible con una
conocida (de un lser) y con dicho valor pueden medirse otros
valores previamente desconocidos siguiendo el procedimiento de
contar franjas.
Estimacin de las longitudes de pulsos.
Ajustar los brazos a caminos pticos iguales. Puede usarse una
lmpara espectral como fuente (lnea verde Hg) y buscar el mnimo
nmero de franjas con el mejor contraste posible. Sustituir la fuente
por una lmpara de luz blanca (de halgeno, por ejemplo). Variando

54

continuamente cerca de la posicin inicial, llega un momento en el

que se observan franjas coloreadas de interferencia (ver apndice I).
Cambiando la longitud de un brazo hacia un sentido o hacia el opuesto,
se pierden las franjas coloreadas rpidamente. Conociendo k segn el
prrafo 3.2.4.1 y leyendo las posiciones alrededor de aquella en que se
ven las franjas y para las cuales se pierden stas, se tiene una
estimacin del ancho del paquete formado por luz blanca.
El patrn de interferencia debido l las superposicin de dos ondas de
igual amplitud A en unidades arbitrarias es, sobre un punto fijo del
plano de observacin,
( 3.11 )
con
en el caso de divisor dielctrico. Se han ignorado
los posibles efectos frecuenciales al no tomar en cuenta los trminos
cruzados, tal como la experiencia lo sugiere al no surgir variaciones
temporales detectables (por lo general, vara de modo alto tambin,
sec.2.5). Al superponerse los patrones correspondientes a los valores de
en un rango amplio (400 - 700 nm, por ejemplo), la irradiancia total
resulta ser
( 3.12 )
que puede escribirse como

(3.13.a)

Estas franjas superpuestas cesan de ser visibles cuando el segundo

trmino resulte menor que el primero, el cual no depende de lo
determina el factor
. Este valor es el apreciado
experimentalmente.
55

Estimaciones de .
Para obtener una mejor idea del parmetro , ntese primero que se
anula cuando
(3.13.b)
o bien, se tiene un conjunto de valores

dado por
(3.13.c)

Siendo

. Tomando
(3.13.d)

Con

, y si

,
, se tiene

(ver sec.2.7). Para

que es el valor esperado para la tolerancia en observar interferencia con

un haz de luz blanca (policromtico).
Para el caso en que
anterior

. De lo

Entonces, para una lmpara de mercurio con ancho de banda

, la tolerancia es de 61 m.

56

Espectroscopia de transformada de Fourier.

A. Si a uno de los espejos de la fig. 3.1 en un interfermetro de
Michelson se le translada continuamente durante un cierto intervalo,
se obtiene una variacin de la irradiandiancia como funcin de la
diferencia de caminos pticos.
Retomando la ec. 3.12, pero con
y
, en el caso de que
la amplitud A no sea constante, sino G(k) dependiente de k, se obtiene
para un punto ,

(3.14 )

Expresin que puede escribirse como

(3.15.a)
Con

la irradiancia para

,y
(3.15.b)

Es la transformada inversa de Fourier de G(k). Entonces, de la

transformada de Fourier de la ec. 3.15.a,
(3.15.c)
En conclusin, W(x) -que puede obtenerse como el registro en el
tiempo de la irradiancia sobre un punto a medida que un espejo se
desplaza- es prcticamente la transformada inversa de Fourier del
espectro de amplitudes. As, calculando dicha transformada del
registro realizado, se puede obtener G(k).

57

B. La misma situacin puede enfocarse pensando en que el divisor

de haz genera dos pulsos iguales de amplitudes
y
de modo que, al superponerse sobre el campo de
observacin se obtiene un promedio estimable en

(3.16)

donde se ha aplicado el teorema de convolucin. El tercer trmino

de la ec. 3,16 es la transformada de Fourier inversa del mdulo
cuadrado del espectro
del pulso
. Entonces
debe ser proporcional a G(k), por lo cual G(k) se conoce tambin como
espectro de potencias. Se ha supuesto que es
real.
C. El mtodo de transformada de Fourier fue aplicado primeramente
por M. M. Michelson, con lo que pudo descubrir las estructuras
hiperfinas de las lneas espectrales de diversos elementos,
encontrando que la lnea roja del Cadmio era la ms pura de los
espectros a disposicin. Por esa razn, bas una nueva definicin de
metro usando dicha lnea. La estructura hiperfina tuvo enorme
importancia histrica en el desarrollo de los estudios de los niveles
energticos atmicos. El estudio de espectros complicados, como los
de absorcin de infrarrojo en gases, se realiza con esta tcnica.
Actualmente, puede implementarse con un osciloscopio con
memoria equipado con anlisis de Fourier.

58

3.2.5 Divisores cbicos de haz.

Existe una gran variedad de divisores de haz prismticos, como los
empleados en microscopa interferencial; pero los ms ampliamente
usados son los divisores cbicos de haz, por lo que se considerarn
en lo siguiente.
A.

Divisores cbicos de haz no polarizantes.

Se puede formar a partir de dos prismas de 45 unidos con cemento

ptico por sus caras hipotensas. Las interfaces las define una capa
reflectora ah, que resulta as protegida. Sin embargo no es muy
resistente a impacto trmico. De usarse en un interfermetro de
Michelson, los caminos pticos resultan compensados, aunque es
particularmente cierto para haces colimados (y ms estrechos que la
abertura que ofrezca el divisor) debido sobre todo a la aberracin de
esfericidad. Presenta cierta sensibilidad espectral y de polarizacin si
la capa semireflejante no se disea apropiadamente puede haber
capas hbridas dielctrico-metal, dielctricas, de apilamientos.

Figura 3.6. Divisor de haz cbico no polarizante

B.

Divisores cbicos de haz polarizantes.

Estos divisores separan un haz incidente de polarizacin apropiada en

sus dos componentes perpendiculares y , como esquematiza la fig.
3.7. Las hipotenusas de los prismas componentes (de ndice de

59

refraccin np) se unen con un apilamiento multicapa al ngulo de

Brewster alternando ndices alto na y bajo nb de espesor efectivo /4.
Se debe cumplir que
. A menudo se requiere el
uso de placas retardadoras de
y de
, como se ejemplifica ms
adelante.

Figura 3.7. Divisor de haz cbico polarizante

B.1 Considere un campo de amplitud

incidiendo en una placa
retardadora
con su eje rpido a radianes del campo, como se
esquematiza en la fig. 3.8.

Figura 3.8. Campo linealmente polarizado incidente en una placa retardadora de un medio
(/2) y separado por un divisor cbico de haz.

60

El efecto consiste en que la componente del campo en direccin de

eje rpido se adelanta medio periodo respecto de la componente
perpendicular a dicho eje.

Grficamente: a) entrada a la placa y b) salida de la placa. Entonces,

la orientacin del campo emergente es de 2 respecto al incidente.
Sus nuevas componentes respecto a los ejes y del divisor son, la
(reflejada)
, mientras que la (horizontal, transmitida) es
.
Para ajustar estas polarizaciones de salida del divisor de modo que
sean paralelas, basta emplear otro retardador de
con su eje rpido
a 45 respecto a la vertical en el brazo en que se necesite realizar el
cambio. La razn del haz transmitido al reflejado es, en amplitud, de
. Se consigue entonces un divisor variable con
como el
parmetro de ajuste.
B.2 Otro ejemplo lo constituye el interfermetro esquematizado en la
fig.3.9, que es un interfermetro tipo Michelson con prismas de
esquina de cubo en vez de espejos planos. El divisor es uno cbico
polarizante y se emplean retardadores de
(debido al doble paso).

61

El haz incidente es circularmente polarizado y de frecuencia

. Los
retardadores tienen su eje rpido a 45 del plano del esquema para
ajustar las polarizaciones reincidentes en el divisor de modo que se
transmitan o reflejen hacia los detectores A o B segn el caso (Qu
sucedera si no estuvieran presentes los retardadores?).

Figura 3.9. Interfermetro de polarizacin para medicin de distancias.

Los polarizadores lineales frente a los detectores proporcionan

patrones de interferencia en cuadratura, para una medicin de fase de
muy buena precisin.
Estas aplicaciones requieren de iluminaciones monocromticas
debido al cromatismo de los retardadores, principalmente. Una
influencia importante para dicho cromatismo la constituye la
dispersin de los ndices de refraccin.
Otros aspectos que influyen en el patrn de interferencia se repasan
brevemente en el apndice J.

62

Captulo 4.
Otros interfermetros.
4.1

Interfermetros con autorreferencia.

En el interfermetro de Michelson (o sus variantes) y en el

experimento de Young se ha considerado que las dos ondas
superpuestas posen distintas distribuciones de fase. En muchas
ocasiones, para visualizar la distribucin de fase de una de estas dos
ondas, se usa la otra onda con una distribucin de fase conocida (una
onda plana o una onda esfrica). Esta onda se conoce como onda de
referencia.
Pero es posible usar la misma onda de inspeccin como referencia
de s misma a condicin de modificarla apropiadamente antes de una
superposicin. La interpretacin de las franjas es distinta a la del caso
con referencia simple y depende del tipo de modificacin realizada.
Dicha modificacin puede expresarse como una transformacin, por
ejemplo, un desplazamiento lateral, un desplazamiento radial, o un
giro (desplazamiento rotacional). Puede ser un plegado o una
conjugacin de fase (holografa convencional o en tiempo real). Estos
casos se muestran en la tabla 4.1, donde se incluyen posibles cambios
temporales, los cuales pueden usarse con memorias hologrficas
voltiles.
En la tcnica del desplazamiento lateral, un haz por inspeccionar se
copia y se desplaza lateralmente una cierta distancia s en una
direccin (etiquetada como x para su discusin en este prrafo). Cada
punto de un frente se corresponde con otro punto del segundo frente a
lo largo de la direccin x. El desplazamiento entre ellos, Si (i=1,2), es
constante e igual a s. Si la copia del frente de onda descrito por
fuera ideal, tras la superposicin del haz original con su copia
63

desplazada
se generara un patrn de interferencia con un
trmino de interferencia dependiente de la diferencia de fases
. El patrn de interferencia puede
interpretarse aproximadamente como si sus variaciones se
describieran por la derivada

En el desplazamiento radial, una copia del frente de onda se contrae

de escala segn
, con el cociente de la distancia radial de
un punto del patrn de interferencia con el radio mximo del frente de
onda sin contraer, y el cociente de la misma distancia radial con el
mximo radio del frente contrado. Si el segundo frente de onda se
expande
, con similar definicin para , el desplazamiento
radial efectivo es
. Las distancias Si medidas radialmente,
son iguales para dos puntos correspondientes. Puede realizarse con un
interfermetro Mach-Zehnder con un par telescopios intercalados en
cada brazo de distinto dimetro de salida. Tambin, se logra con
interfermetros cclicos y lentes colocadas asimtricamente respecto
al divisor de haz empleado.
Con la tcnica rotacional, la copia del frente de onda se rota por un
cierto ngulo
(con prismas Dove, por ejemplo). El resultado puede
interpretarse como debida a una derivada angular del frente de onda
. Puntos de un mismo radio sufren igual desplazamiento Si. El
desplazamiento inverso es un caso especial (
= 180) con doble
sensibilidad, pero slo a la parte impar del frente de onda (la parte par
no es detectada).
En el plegado, un frente se invierte respecto de alguna lnea,
resultando en un desplazamiento perpendicular a dicha lnea. El
desplazamiento Si se incrementa conforme el punto est ms separado
de dicha lnea. Se pueden usar prismas o espejos retro-reflectores para
lograr la inversin.
En conjugacin de fase, la copia de la onda con factor espacial
se superpone con su onda compleja conjugada, de factor
. La diferencia de fase determinando el patrn de
interferencia resulta
, duplicndose as la
sensibilidad del sistema respecto de uno basado en interferencia con
referencia plana. La onda conjugada puede obtenerse mediante

64

procedimientos hologrficos, ya sea estticos (fotogrficos con alta

resolucin, por ejemplo, H) o dinmicos (en tiempo casi real, con
materiales no lineales como los cristales fotorrefractivos, NLH).
El esquema de la tabla 4.1 solo muestra la generacin de la onda
conjugada. Para superponerla con la onda seal, se requiere un divisor
de haz que forme un segundo brazo con un espejo convencional en
configuracin Michelson (no mostrado). El primer brazo, entonces, se
forma teniendo como espejo a un elemento conjugador.
Usando procedimientos de holografa dinmica, tambin puede
compararse una onda conjugada grabada al tiempo t con la onda
conjugada actualizada al tiempo
. Esto es posible cuando el
holograma al tiempo t se va borrando por el holograma al tiempo
. Dos frentes de onda pueden coexistir con similares
amplitudes. Uno de stos va desapareciendo cuando el holograma que
lo genera se halla en proceso de ser borrado. El segundo, va surgiendo
cuando el nuevo holograma est en proceso de grabarse. Entonces, se
puede generar un interferograma transitorio generado por la
superposicin de las dos ondas reconstruidas durante el tiempo en que
las respectivas amplitudes sean similares. Las franjas las determina la
diferencia de fase
,
expresin que puede aproximarse a

. Ver tambin la sec. 4.3.3 B.

En configuracin Michelson con espejo convencional en el segundo

brazo, no se presentara el retraso del conjugador.
Para un rpido vistazo comparativo, estos seis casos de autoreferencia se esquematizan en la Tabla 4.1.
Uno de los casos ms empleados es el de desplazamiento lateral,
rpidamente realizable con una placa de vidrio con sus caras plano
paralelas. Debido a su empleo para verificacin y medicin del estado
de colimacin de un haz, se inspeccionarn algunos de sus detalles.

65

Tabla 4.1. Casos de Autorreferencia

Nombre

Desplazamiento
(shear)

Lateral

Radial

Rotacional

66

Superposicin

Patrn de
interferencia
(desplazamiento
pequeo)

mtodo

Plegado

Conjugacin
de fase

Temporales

67

4.2

Interferencia en placa dielctrica de caras plano paralelas.

A. Dos haces pueden emerger paralelos de una placa paralela por reflexin
y transmisin de un haz incidente, corno muestra la fig. 4.1.

Figura 4.1. Reflexin y transmisin de haces en una placa paralela

Si las interfaces planas son interdielectricas separando ndices de

refraccin
, las amplitudes reflejadas y transmitidas se pueden
describir con los coeficientes de Fresnel respectivos.
La diferencia de caminos pticos viene a ser
( 4.1 )
Donde los segmentos marcados cumplen con las relaciones siguientes:

De la segunda y tercera se obtiene que

68

donde se uso tambin la ley de Snell, ec. 3.6. De la cuarta igualdad,

, de modo que

( 4.2 )

El termino adicional de fase por reflexin en los puntos A y B depende de

los valores de ndices; pero si
, la diferencia de fase requerida es
( 4.3 )
La expresin anterior resulta anloga a la e c. 3.2 si se expresa en trminos
del ngulo . La formacin de franjas es, pues, semejante a las de un
interfermetro de Michelson.

B. Ntese tambin que, si los rayos de la figura son los centrales de un haz
de seccin finita (circular o rectangular, por ejemplo), se obtendrn dos
haces abandonando la placa de igual seccin con sus centros mutuamente
desplazados por la cantidad
(caso de haz colimado). Como
consecuencia de las relaciones geomtricas anteriores (
)

( 4.4 )

Rangos tpicos de
para
se pueden obtener
con una placa debido a que la ec. 1.4 presenta un mximo en
para
. La deteccin de una ptima colimacin ser al obtener el

69

nmero ms reducido de franjas rectas dentro del campo de superposicin,

siendo paralelas al desplazamiento.
***
El siguiente segmento de programa en cdigo Mathcad exhibe una
grfica mostrando las desviaciones respecto al rayo original y la
desviacin entre rayos emergentes.
N 1024

i 0 N 1

0 0

n1 1
n2
nr
n1

n2 1.5

0 i
i

M 0
N 1

parmetros: ndices de refraccin y espesor

d 1

shear_r ( ) d sin ( 2)

2
2
nr sin ( )

shear_t ( ) d sin ( ) 1

desviacin respecto al rayo original

2
2
nr sin ( )
cos ( )

desviacin entre rayos emergentes

Desplazamientos de direcciones de rayos en placas de caras plano paralelas

1
0.9
0.8
0.7
shear_t i

0.6

0.5
shear_r i
0.4
0.3
0.2
0.1
0

20

40

60
i

70

180

80

100

C. EI espesor y el ndice de refraccin

de una placa puede estimarse
con conteo de franjas. Para ello, considrese la diferencia de caminos
pticos de placas plano paralelas inclinadas, segn la figura 4.2. Un rayo
vertical incide por abajo al ngulo respecto de la normal,

Figura 4.2. Diferencia de caminos pticos entre dos rayos incidentes paralelos. Slo uno de
ellos, atraviesa la placa dielctrica.

refractndose al ngulo . La diferencia de caminos pticos respecto a un

haz paralelo al incidente, pero que no cruza por la placa, es
(4.5.a )
donde
(4.5.b )
y
(4.5.c )
entonces, con

71

(4.6.a )

expresin que, para el caso

se simplifica a

( 4.6.b )

Figura 4.3. Arreglo interferomtrico para conteo de franjas como funcin del ngulo de
incidencia en placa dielctrica.

72

D. La anterior situacin puede realizarse mediante un arreglo MachZehnder, como se muestra en la figura 4.3.
En dicho arreglo, los espejos
y
no regresan a los haces en direccin del
divisor
que los origin sino que los enva a un segundo divisor de
DH2 despus del cual se observa un patrn de interferencia de la forma
( 4.7.a )
con
( 4.7.b )
El patrn puede verse en ambos lados del divisor DH2 con un contraste
que depende del comportamiento de la superficie parcialmente reflectora
a (ya sea dielctrico o hbrido).
es peridica con periodo y rango
de valores

(4.7.c)

de donde el espesor cumple

(4.8.a)
y

73

(4.8.b)

Las grficas de las fases y se muestran a continuacin, realizadas

en base a los renglones siguientes en el paquete empleado multicitado.
Los parmetros usados se describen ms adelante.
7

6.32810

0 0
( ) 2

N 1024

M 2
d

i 0 N 1
M 0
0 i
i
N 1

n2 sin( ) 1 sin( )

d 1

n2 1.5

( 0)
2

( ) (( ) (0))

74

710

6.310

5.610

4.910

4.210

( ) 3.5106
6

2.810

2.110

1.410

710

0 20 40 60 80 100 120 140160 180 200220 240 260 280300 320 340 360

180

1.210

110
i

810

( 0)
6

610

410

100

200
i

180

75

300

400

La ec. 4.8.b puede usarse para ajustar datos experimentales con

parmetros de ajuste
y
(o
para calcular ) estimando
por
conteo de franjas como funcin del ngulo .
El conteo de franjas es la tcnica empleada para medicin de longitudes y de
longitudes de onda usada con el interfermetro de Michelson. Equivale a
determinar el cambio en el orden de las franjas cruzando un punto central
a medida que el ngulo formado con el haz incidente, vara.
Un resultado tpico arroja los valores
con
un cambio total de
radianes (ec. 4.7.c) para un cubre objetos
comercial.
4.3 Algunos interfermetros adicionales.
Existen otros interfermetros, algunos con divisin por transmisinreflexin y otros, usando diversos principios, como difraccin o
esparcimiento. Se revisarn algunos de ellos.

4.3.1 Divisin de amplitud por transmisin-reflexin

A.

Interfermetro tipo Twyman-Green.

Pueden pensarse como una variante del Michelson con iluminacin

monocromtica colimada y adaptaciones para prueba interferomtrica de
componentes pticas.
El ngulo formado por el haz y el divisor puede elegirse distinto a los 45,
para usarse el ngulo de Brewster y disminuir reflejos parsitos.
B.

Interfermetro tipo Mach-Zehnder.

Mencionado en la sec.4.2, fig.4.3. No es un interfermetro de doble

recorrido, lo cual puede facilitar la interpretacin de las franjas a costa de
una reduccin en sensibilidad comparado con un sistema Michelson. Por
76

razones de compensacin de trayectorias, los divisores usados son

cbicos.
C.

Interfermetro tipo Fizeau.

Cuando dos superficies pulidas de cuerpos transparentes igualmente

pulidos se acercan suficientemente, se forma una pelcula de aire muchas
veces. Esta pelcula se comporta como una placa de caras, en general, no
paralelas. En incidencia normal,
en la ec. 4.2 y el
generando franjas de igual espesor. Estas franjas se comportan como
lneas de nivel aproximadamente Los anillos de Newton son un ejemplo
de este tipo de franjas, que son formadas por dos superficies esfricas.
Para una pelcula en forma de cua con ngulo entre dos superficies
planas
, donde es la posicin de observacin. La separacin entre
mximos adyacentes es
. Para una superficie de radio R enfrente
de otra plana, se cumple que
si
,
entonces, el radio del anillo (franja) de orden es
(4.9)

Figura 4.4. Interfermetro del tipo Fizeau.

77

D.

Interfermetro cclico tipo Sagnac.

Considere un divisor de haz cuyos haces transmitido y reflejado entran por

cada extremo de una fibra ptica que forma un crculo, interrumpido slo
por el divisor y los dobleces necesarios para introducir a los haces. Si el
sistema gira con velocidad angular entorno al centro de crculo, la
posicin del divisor cambiar en
durante el tiempo
en que
un haz emergiendo del divisor lo rencuentre despus de recorrer la fibra de
longitud aproximada
.

Figura 4.5. Interfermetro cclico del tipo Sagnac

Pero mientras un haz viaja hacia el encuentro con el divisor, el otro se

aleja de l por igual cantidad. As, la diferencia de trayectos de los haces
al salir del haz rumbo a la fuente es de
, donde C es la
velocidad de fase del haz en la fibra. Por lo anterior, se ve que el
es
y, por tanto, algn cambio en ocasionar un corrimiento en el patrn
de franjas (o en la intensidad sobre un punto). La dependencia con y con A es
compartida por otros arreglos cclicos (en tringulo o en rectngulo, por
ejemplo). Usado extensivamente en giroscopa.

78

E.
Patrones de interferencia de frentes aberrados observados en
Twyman-Green.
Considrese un interfermetro tipo Michelson con iluminacin colimada.
Suponiendo uno de los espejos idealmente plano, los cambios en el frente
de onda plano incidente se pueden atribuir al espejo no plano
exclusivamente.
El primer espejo se puede entonces considerar como un espejo de
referencia. El segundo espejo, puede llamarse espejo de prueba.
Si el frente de onda emergente del espejo de prueba puede describirse
como una desviacin de un frente de onda dado expresado segn

se dice que el frente de onda est afectado de aberraciones. El polinomio

se conoce como el polinomio de aberraciones. Los nombres de cada
coeficiente corresponde a los nombres de una aberracin de acuerdo a la
siguiente lista:
a: esfericidad
b: coma
c: astigmatismo
d: defoco
e: inclinacin en direccin y
f : inclinacin en direccin x
g: fase constante
Las grficas de algunos patrones se han obtenido atendiendo a los valores
marcados en la tabla siguiente (adaptado de Malacara ed., 1978):

79

Coef.

Grfica
I
II
III
IV
V

6
0
0
0
0

0
5
5
0
0

0
0
0
2
2

0
0
1.6
0
-4

0, 1.7
0. 1.7
0, 1.7
0, 1.7
0, 1.7

0, 1.7
0, 1.7
0, 1.7
0, 1.7
0, 1.7

0
0
0
0
0

El coeficiente g, aqu tomado siempre con valor cero, adquiere especial

aplicacin en los mtodos heterodinos y de corrimiento de fase que se
tratarn en el cap. 5.

80

I. Esfericidad en foco paraxial e inclinaciones.

I0_1I 127

I_10 127

I0_1I 127

I0_1 127

I00 127

I0_1 127

I0_3I 127

I10 127

I0_1D 127

81

II. Coma en foco paraxial e inclinaciones.

I0_3I 127

I_10 127

I0_3D 127

I0_1 127

I00 127

I01 127

I0_1I 127

I10 127

I0_1D 127

82

III. Coma con defoco e inclinaciones.

I0_1D 127

I_10 127

I0_1I 127

I0_1 127

I00 127

I01 127

I0_3I 127

I10 127

I0_3D 127

83

IV. Astigmatismo sin defoco (foco de Petzval).

I0_1I 127

I_10 127

I0_1D 127

I0_1 127

I00 127

I01 127

I0_3I 127

I10 127

I0_3D 127

84

V. Astigmatismo en mejor foco (medio).

I0_3I 127

I10 127

I0_3D 127

I0_1 127

I00 127

I01 127

I0_1I 127

I_10 127

I0_1D 127

85

F.

Divisin por birrefringencia.

Una de las anisotropas pticas ms usadas en sistemas pticos es la

birrefringencia. Una onda cruzando por un material birrefringente observar
dos ndices de refraccin de acuerdo a su estado de polarizacin lineal y a
su direccin de propagacin respecto al eje ptico del material. En
general entonces, habr una separacin de rayos con polarizaciones
asociadas lineales y perpendiculares en una interfaz de acuerdo a la ley de
Snell (ejem. en 4.6).

Figura 4.6. Divisin con birrefringencia.

Dicha separacin ser a cierto ngulo, muchas veces menor a 90 (ondas

ordinarias y extraordinarias). Esta propiedad posibilita a la formacin de
interferencia por desplazamiento lateral, con la ventaja de poder usar
iluminacin policromtica, como es el caso de la interferometra de
contraste diferencial (o de Nomarsky, de empleo en microscopa). Otro
arreglo para visualizar flujo de corrientes de aire (tnel de viento) se
muestra en el esquema de la fig. 4.7, donde se emplean dos espejos
parablicos (fuera de eje con focos
y ) y luz policromtica de tamao
limitado por un pequeo diafragma.

86

Figura 4.7. Interfermetro diferencial con elementos birrefringentes.

4.3.2 Interfermetros de trayectoria comn.

En un interfermetro de dos brazos como algunos de los ya considerados,
los trayectos de cada haz cruzan por distintas componentes pticas, lo
que demanda de buena estabilidad mecnica. Pero cuando resulte posible
hacer pasar ambos haces por las mismas componentes del sistema, dicho
requisito puede relajarse. As mismo, la monocromaticidad del haz puede
no necesitarse. Esto sucede con el tnel de viento con divisin por
birrefringencia, pero puede realizarse tambin bajo otros principios,
como se expone continuacin.
A.

Interferencia por esparcimiento (scattering)

La luz puede difundirse en varias direcciones por el efecto de
partculas esparsoras, cuyo tamao es del orden o mayor que Partculas
de polvo, gis talco pueden usarse para observar el efecto, aunque resulta
muy conveniente el preparar una placa de vidrio esmerilada finamente
primero y luego, semipulida.

87

En la fig.4.8 se esquematiza una superficie plana con partculas o granos

de esparcimiento. Puesto que la superficie puede pertenecer a una placa,
habr una segunda superficie a una distancia d. Se supondr aquella
fuente puntual de alta reflectividad. Dos rayos coherentes

Figura 4.8. Interferencia con esparcimiento (scattering).

emergen de la fuente situada a una distancia de la primera superficie.

Uno de ellos cruza la primera interfaz sin ser esparcido y se refleja en la
segunda, de regreso a la primera. Pero esta vez s toca una partcula y es
esparcido hacia P. El otro rayo incide sobre la misma partcula, por lo
que es esparcido y reflejado en la segunda superficie. De regreso a la
primera, no toca otra partcula y no se difunde rumbo a P. Existen otros
dos tipos de rayos: los que no se difunden y los que se difunden dos
veces (directo-directo y esparcido-esparcido).
De la fig. 4.8.

. Entonces,

88

( 4.10 )

si
(incidencia normal) y
mximos de orden m deben cumplir,

. Las posiciones de los

( 4.11 )
Note que el efecto es equivalente a tener dos placas esparsoras idnticas.
B.

Interfermetro con esparcimiento.

Considrese el sistema esquematizado con un espejo esfrico

cncavo (
en fig. 4.9).

Figura 4.9. Interfermetro con placas esparsoras idnticas.

89

El haz procedente de la fuente cruza por la placa

antes de enfocarse por
la lente L en el centro del espejo cncavo. La posicin de
se elige sobre
el centro de curvatura de , de modo que su imagen aparecer al otro
lado del centro cc con amplificacin unitaria. Si ah se coloca una
rplica de
( ), se tendr la situacin de la fig. 4.8. Diversas tcnicas se
han sugerido para obtener rplicas de placas esparsoras; pero puede
colocarse un espejo plano en su lugar, y observar atrs de un divisor de haz
que sustituya a . En este caso, sin embargo, slo los trminos pares del
frente de onda podran contribuir al patrn de interferencia (aunque su
contribucin sera doble).
Ntese que los haces involucrados en la interferencia (directo-esparcido y
esparcido-directo) atraviesan por las mismas componentes pticas. Sus
caminos pticos son muy parecidos y puede iluminarse en luz
policromtica. Usado en pruebas de taller ptico.
Otros elementos de efectos similares al de las placas de esparcimiento
tambin pueden usarse, como las placas zonales de difraccin.
C. Interfermetro de trayectoria comn con difraccin.
El esquema anterior puede implementarse sustituyendo a las placas
esparsoras por elementos difractivos. Usualmente, estos ltimos son
placas zonales idnticas, la cuales pueden realizarse fotografiando un
mismo patrn de interferencia de Newton formado con luz lser (placas
zonales generalizadas).
Otro tipo de arreglo con rejillas de difraccin se muestra en la fig. 4.10. Dos
ventanas ( ,
separadas por ) se colocan en el plano focal anterior de
una lente
de focal f. En su plano focal posterior se tiene una rejilla de
periodo .
Este plano est separado de una segunda lente
por su respectiva
longitud focal, que es igualmente . En su plano focal posterior, se
forman las imgenes paraxiales de
y
(denotadas por
y
); pero, producidos por la rejilla, tambin aparecen rdenes de

90

Figura 4.10. Interfermetro con rejilla de difraccin.

difraccin igualmente separados por

(como seala la llave en la
figura). Se muestran slo dos rdenes:
(orden de difraccin +1,
hacia arriba) y
(orden de difraccin -1, hacia abajo).
En el caso en que
se ajuste convenientemente, se puede conseguir la
superposicin de, por ejemplo, los rdenes
con
. Para ello
se requiere que
.
Satisfecha la condicin, automticamente se obtiene tambin que
y
se superponen, as como otros rdenes adyacentes.
Para una rejilla binaria de perfil cuadrado con anchos iguales (rejilla de
Ronchi), las dos superposiciones mencionadas son aquellas originando
los patrones de interferencia ms brillantes como resultado de la
superposicin de campos.
Puede mostrarse que un desplazamiento u = u0 transversal de la rejilla
induce una diferencia de fase entre rdenes superpuestos proporcional a
la longitud de la translacin,
. Esto permite introducir una o
varias fases tanto para ajustar las franjas resultantes dentro de un campo

91

de observacin, como para implementar el mtodo interferomtrico de

corrimiento de fase (descrito en el captulo 6).
La generacin de varios patrones simultneos puede aprovecharse muy
eficientemente, ya que existen maneras de introducir fases diferentes en
cada patrn (modulacin de polarizacin, por ejemplo).
Las rejillas de fase ofrecen adicionales ventajas sobre las de absorcin, ya
que sus eficiencias difractivas pueden generar un superior nmero de
patrones tiles simultneamente.
Adems, debido a que la amplitud de los rdenes difractivos se
determinan por funciones de Bessel de 1 clase y de orden entero, pueden
introducir corrimientos de fase de segn la paridad de los rdenes
superpuestos. Este cambio de fase puede ser tambin aprovechado.
El mtodo es de desplazamiento lateral para una sola y para un solo
valor de , por lo cual no puede usarse bajo iluminacin policromtica
propiamente.
4.3.3 Interfermetros hologrficos.
Para comparar dos frentes de onda que se hayan modificado en tiempos
diferentes se requiere del registro de uno de estos frentes de onda cuando
menos.
Una tcnica para almacenar un frente de onda es la holografa. En su
forma clsica la interferencia del frente a grabar y alguna referencia
adecuada se registra en una emulsin fotogrfica de resolucin adecuada
(2000 ln/mm o an, un mayor nmero de franjas). El patrn de
interferencia as registrado, despus de revelada la emulsin forma una
rejilla de difraccin no necesariamente peridica (holograma). Cuando el
holograma se ilumina con la referencia, los primeros rdenes de difraccin
( 1) reconstruye el frente de onda del objeto original y su complejo
conjugado, respectivamente.

92

A. En una holografa de doble exposicin, en una misma emulsin

fotogrfica se exponen dos hologramas en distintos tiempos. Cuando el
estado del objeto genera distintos frentes de onda en cada tiempo de
registro, al iluminar la rejilla resultante, se reconstruyen los dos frentes al
mismo tiempo. As, estos frentes interfieren entre s, ofreciendo al
espectador un patrn de interferencia en tres dimensiones por lo general
(fig.4.11).
Si el cambio en el frente de onda fuera relativamente pequeo (algunas
longitudes de onda), no se llegan a distingir dos objetos reconstruidos
como imagen doble. Slo se detecta una imagen, aparentemente la misma
que estuvo presente en ambas tomas. Entonces, el patrn resultante
observable se superpone al objeto y contiene la informacin de la
diferencia entre los dos frentes de onda (Figs.4.11 y 6.7). Si otro objeto
estuvo ausente en alguna toma, se percibir como transparente y sin
franjas. Mientras permanezcan los dos frentes reconstruidos, el patrn de
franjas no puede modularse.

Figura 4.11. Interferometra hologrfica. Izquierda: grabacin o registro hologrfico clsico. R 1, expansor de
haz de referencia. Derecha: con la misma referencia, lectura de dos frentes de onda grabados en la misma
placa en tiempos diferentes.

93

Figura 4.12. Interferometra hologrfica con emulsiones fotogrficas Holograma tipo Fresnel de figurilla
Confucio con bculo y cervatillo (izquierda). Misma figurilla en doble exposicin con nica referencia
mostrando franjas de interferencia (derecha). El cambio se produjo con un baln sobre la plataforma perforada
en una toma, y sin l (fig.4.11, izquierda), en la otra. El baln se aprecia como un elemento transparente sin
franjas.

B. En materiales hologrficos dinmicos puede grabarse un holograma de

referencia al tiempo t, con un tiempo de borrado relativamente largo. Al
grabar un siguiente frente de onda (pero un tiempo despus t + t y bajo
condiciones de registro que no borren totalmente al primer holograma), se
formar un patrn de interferencia momentneo durante un tiempo
(interferograma voltil) entre el primer frente reconstruido y el segundo,
reunidos y observados con el divisor de haz DH. Como puede irse
grabando un segundo holograma a intervalos controlables con obturadores
S, se puede ir observando la evolucin del frente de onda relativa al
inicial mediante las franjas de interferencia hologrfica.
En la fig.4.13 se muestra un caso donde la grabacin se realiza con una
longitud de onda al cual un cristal fotorrefractivo BGO es sensible ( 1 =
514.5 nm) y se reconstruye con otra longitud de onda diferente a la cual
no lo sea tanto (lectura no destructiva, 2 = 632.8 nm). Puede considerarse
como una mezcla no degenerada de cuatro ondas. El efecto es semejante
si las longitudes de onda fueran iguales.

94

Figura 4.13. Interferencia hologrfica con cristales fotorrefractivos Bi12GeO20 (BGO) en mezclas de dos ondas
con lectura no destructiva.

Los mtodos hologrficos de doble exposicin requieren una referencia en

cada exposicin pero el patrn de interferencia hologrfico observado
tiene como haz de referencia al frente de onda inicial (ver. tabla 4.1).
Otras tcnicas hologrficas para inspeccin, medicin y
caracterizacin de desplazamientos dinmicos son:
Interferometra con holografa promediada en tiempo
Interferometra hologrfica estroboscpica.
Interferometra hologrfica de pulso dual.

95

4.4. Interfermetros electrnicos

Una alternativa a los mtodos hologrficos es el aprovechamiento de
moteado coherente (speckle) en conjunto de cmaras de estado slido
(CCD) y almacenamiento en memorias de ordenadores. La alternativa
resultante es bastante ms prctica y verstil para muchos propsitos
prcticos.
4.4.1 Interferometra digital y ESPI.
Considrese un interfermetro Mach-Zehnder como se esquematiza en la
fig. 4.14. Los haces de cada brazo se expanden, de manera que las placas
esmeriladas esparsoras
y
resulten uniformemente iluminadas. Un
sistema ptico L forma sus imgenes sobre un charge couple device
(CCD).
La imagen captada y digitalizada puede grabarse en memoria de un
ordenador. Cada placa produce su propio patrn speckle (moteado o
granulado coherente), el cual puede pensarse como una distribucin de
fase aleatoria
Adems de estas fases, pueden haber otras no
aleatorias
y .

Figura 4.14. Arreglo experimental (Mach-Zehnder) para un interfermetrro electrnico.

96

En un determinado tiempo , se adquiere el patrn de interferencia

existente sobre la cmara CCD. Dicho patrn debe ser de la forma (caso
escalar).
(4.12.a)
donde
denota el valor de
t. Despus de un lapso, al tiempo
la forma

en el tiempo
se tendr sobre el CCD otro patrn de

( 4.12.b )
donde se ha supuesto la importante condicin de que
e
. Contando con las dos
imgenes e en memoria, se puede buscar su correlacin. Una manera
de hacerla consiste en obtener su resta digitalmente lo cual proporciona
(4.12.c)
Notando la propiedad trigonomtrica

tomando
y
debe ser

y
se tiene que
. Entonces el mdulo de la diferencia de irradiancias

( 4.13 )

97

donde la diferencia de fase

contiene la diferencia
con un trmino aleatorio
es de rpida variacin, ser visible slo con alta resolucin.

que si

En un despliegue de con baja resolucin, los factores trigonomtricos

con argumento
,
resultan imperceptibles. Sin embargo,
en el monitor de despliegue se deben observar franjas debidas a los
factores trigonomtricos dependientes slo de
. En otras palabras, en
despliegue de baja resolucin, se cumplen las dos condiciones

de donde, por la ec. 4.13,

debe mostrar franjas dependientes
esencialmente de
. sta, a su vez, cambia por las modificaciones de
fase macroscpicas.
Otra manera de correlacionar los patrones de interferencia es a travs de
la suma, esto es

(4.14)
que resulta en un patrn de menor contraste que el de la resta, por lo cual
se prefiere a sobre . Al grabar en memoria
(patrn llamado de
referencia), puede restarse continuamente de un patrn actual,
observndose la interferencia de correlacin casi en tiempo real (a razn de
video).
Cuando se usan las placas esparsoras
especficamente para
producir speckle, se habla de Electronic Speckle Pattern Interferometry
(ESPI). Sin ellas, se tiene un interfermetro dgital en general. Es
importante mencionar que el sistema funciona en reflexin tambin.
Las imgenes siguientes resultan de los cdigos bsicos enlistados.
Simulan el speckle de dos estados diferentes de la superficie (primera

98

fila), as como la resta de ellos (segunda fila, izquierda) y la suma

(segunda fila, derecha).
N 512

i 0 N 1

x Xm 2 i
i

I0

i j

XM
N 1

ij

1 cos R

j 0 N 1
y Ym 2 j
j

I1

i j

XM 10

XM

i j

N 1

1 cos R

i j

i j

Xm XM

YM 10

rnd ( 2 3.14159)

ID

i j

I0 128

I1 128

ID 128

IS 128

99

I0

i j

I1

i j

i j

IS

i j

Ym YM

1.5 y
I0

i j

I1

i j

N 512
x Xm 2 i
i

I0

i j

i 0 N 1
XM
N 1

ij

1 cos R

j 0 N 1

y Ym 2 j
j

I1

i j

XM 10

XM

i j

N 1

1 cos R

i j

i j

Xm XM

YM 10

rnd ( 2 3.14159)

ID

i j

I0 128

I1 128

ID 128

IS 128

I0

i j

I1

i j

100

i j

IS

Ym YM

3 x

i j

I0

i j

I1

i j

N 512
x Xm 2 i
i

a 1.2
I0

i j

i 0 N 1
XM

j 0 N 1

y Ym 2 j
j

N 1

b 1.3

ij

1 cos R

I1

i j

i j

XM 10

XM

i j

N 1

a x b y
i

1 cos R

i j

Xm XM

YM 10

Ym YM

rnd ( 2 3.14159)

i j

ID

i j

I0

I0 128

I1 128

ID 128

IS 128

101

i j

I1

i j

IS

i j

I0

i j

I1

i j

N 512

i 0 N 1

x Xm 2 i
i

a 0
I0

i j

XM

j 0 N 1
y Ym 2 j
j

N 1

b 0.6

ij

1 cos R

I1

i j

i j

XM 10

YM

Xm XM

i j

N 1

YM 10

Ym YM

rnd ( 2 3.14159)

i2 b yj2

a x

1 cos R

i j

i j

ID

i j

I0

I0 128

I1 128

ID 128

IS 128

i j

I1

i j

102

IS

i j

I0

i j

I1

i j

N 512

i 0 N 1

x Xm 2 i
i

a 0.25
I0

i j

XM

j 0 N 1
y Ym 2 j
j

N 1

b 0.07

ij

1 cos R

I1

i j

i j

XM 10

YM

Xm XM

i j

N 1

YM 10

Ym YM

rnd ( 2 3.14159)

i2 b yj2

a x

1 cos R

i j

i j

ID

i j

I0

I0 128

I1 128

ID 128

IS 128

i j

I1

IS

i j

i j

103

I0

i j

I1

i j

N 512

i 0 N 1

x Xm 2 i
i

i j

N 1

a x

i j

1 cos R

IP

I0 I1

ID 128

i j

ij

I0

i j

b 5 10

1
i j

y Ym 2 j
2

a 8 10

XM

j 0 N 1

I1

XM

i j

N 1

c 2 10

b x

XM 10

d 4 10

Xm XM

YM 10

Ym YM

rnd ( 2 3.14159)
1

e 5 10

f 5 10

g 0 10

2 yj2 yj cxi2 3yj2 d xi2 yj2 eyj f xi g

i j

i j

1 cos R

i j

i j

ID

i j

I0

i j

I1

i j

i j

IS 64

IP 64

ID: diferencia
IS: suma
IP: producto

104

IS

i j

I0

i j

I1

i j

4.4.2 Interferometra de correlacin fotogrfica de speckle.

Otra forma de correlacionar dos patrones puede ser mediante el producto
de los mismos.
De hecho, superponiendo los negativos de los patrones es una de las
primeras tcnicas de la Interferometra por correlacin de speckle. ESPI
evita el proceso fotogrfico y la relocalizacin del patrn de referencia. La
fig. 4.15 muestra un arreglo tipo Michelson (para comparar dos
superficies rugosas

Figura 4.15. Interferometra fotogrfica de speckle.

y ) obtenido sustituyendo a los espejos por placas esparsoras aunque la

equivalencia con el arreglo Mach-Zehder de la fig.4.11 es directa,
muestra cmo es prcticamente la superposicin de PA con
(a travs de
, la imagen de ). Fotografiando el patrn de interferencia resultante
al tiempo inicial y sobre el plano imagen, tras revelarlo y colocarlo en
su posicin original se puede proceder a desplazar (o modificar) alguna
de las placas y observar
detrs de la fotografa (usualmente el
negativo) de . Es as como se obtiene un trmino proporcional a
. La
observacin puede realizarse en tiempo real una vez contando con la

105

fotografa, aunque debe indicarse que un cambio en arriba de cierto nivel,

puede perder la correlacin con y requerir de otra fotografa. Las franjas
tienen
.
4.4.3 Aplicaciones de ESPI: deformacin.
Una de las aplicaciones de ESPI consiste en la inspeccin
interferomtrica de objetos de reflexin difusa, como los que se presentan
como partes metlicas en la industria mecnica (o madera o plsticos
opacos). Los interfermetros puramente pticos usualmente inspeccionan
superficies de reflexin especular (como vidrios pulidos) o transparentes,
lo cual muchas veces impide su uso en materiales de reflexin difusa o
translcidos. Y aunque la interferometra hologrfica puede superar estos
inconvenientes, las tcnicas ESPI suelen ser una opcin ms prctica.
A.

EI vector de sensibilidad.

Considrese la superficie de un cuerpo deformada en dos instantes distintos.

Un rayo incide en el punto P en un primer estado de la superficie y se
refleja horizontalmente al ngulo
respecto del rayo incidente (fig.
4.16).

Figura 4.16. Geometra para el vector de sensibilidad.

106

En el segundo estado de la superficie, otro rayo, paralelo al primero

incidente, se encuentra con el mismo punto P pero en otra posicin (P).
Suponiendo que es dispersado igual que el primero por tratarse del mismo
punto, emerge de la superficie paralelamente al primer rayo emergente y a
una distancia . Esta distancia es la separacin de P entre sus dos estados
en direccin vertical. En la otra direccin ortogonal existir una separacin
. A lo largo de la direccin del haz incidente, la separacin de los planos
perpendiculares a dicho haz que pasan por los puntos
es cada estado
. Entonces, la DCO entre el par de rayos considerados es
(4.15)
Este resultado puede rescribirse en trminos del vector que une a los
puntos
. Considerando las coordenadas
del sistema en la fg.
4.16,
. Si las normales de los rayos incidente y difundido son
y
respectivamente, pueden expresarse como.
(4.16.a)
habiendo considerado las orientaciones de la figura. As, la expresin
(4.16.b)
es equivalente a la ec. 4.15. El vector
sensibilidad.
B.

es conocido como el vector de

Sensibilidad fuera y dentro de plano.

Dado que el vector de sensibilidad puede darse en tres dimensiones, se

separan los desplazamientos en dos partes mediante dos distintas
configuraciones. Una permite detectar y medir los desplazamientos fuera
del plano (del plano
, por ejemplo). La segunda detecta y mide
desplazamientos en el plano.

107

B.1

Configuracin fuera de plano

Figura 4.17.a. Deteccin de variaciones fuera del plano.

En la configuracin de la fig. 4.17.a se procura trabajar con

ecuacin 4.15

. Por la

(4.17.a)
Posibilitando la medicin de w nicamente.

B.2 Configuracin en el plano.

En la configuracin de la fig. 4.17.b se tienen dos haces separados
(A,B). Entonces,

y en consecuencia,
(4.17.b)
Lo cual permite medir

aparte de w.

108

Figura 4.17.b. Deteccin de cambios dentro del plano.

B.3 Deformacin de una plancha plana combando en cuatro

puntos.
Como un ejemplo de Ia configuracin fuera de plano, se considera una
plancha rectangular de seccin transversal uniforme, rgidamente
mantenida en posicin por los apoyos
y
a igual distancia de su
centro. Se aplican cargas simtricas aplicando fuerzas iguales en los
puntos
y
(combando en cuatro puntos). Como resultado, en referencia al
sistema coordenada de la fig. 4.18, se obtienen las siguientes componentes
del vector

(4.18.a.b.c)

109

de donde, para el caso de la inspeccin fuera de plano, por la ec. 4.17.a,

( 4.19)

Figura 4.18. Deteccin de plancha combada.

donde R2 es el radio de curvatura en direccin , M el momento de

combado aplicado, la razn de Poisson del material, el grueso o
espesor de la placa o plancha, E el mdulo de Young del material e el
momento de inercia de la seccin transversal de la plancha. De la ec.1.19
se tiene que las franjas observadas cumplen la condicin
(4.20.a)
que representan hiprbolas. Las asntotas de ngulo ms pequeo forman
un ngulo que satisface
(4.20.b)

110

Midiendo experimentalmente el ngulo , puede obtenerse la razn de

Poisson.
***
Los elementos de un programa en cdigo Mathcad son los siguientes.
Para distintos valores del parmetro v:

N 512

i 0 N 1

Ym YM

x Xm 2 i

i j

XM

0.08

I0

j 0 N 1

N 1

XM 10

y Ym 2 j
j

I1

i j

1 cos R

i j

i j

0.35
I0

i j

I0

i j

I1

i j

( ) tan

I0

I1

i j

i j

i j

1 cos R

i j

i j

i j

I0

i j

I1

i j

i2 yj2

ij

i j

i2 yj2

1 cos R

2 tan

i j

I1

i j

i j

ij

I0

1 cos R

0.65

i j

i j

i2 yj2
I0 1 cos R
I1 1 cos R
i j
i j
i j
i j
i j
i j

rnd ( 2 3.14159)

N 1

i2 yj2

ij

XM

YM 10

i j

1 cos R

0.2

Xm XM

180

I1

i j

1 cos R

2 tan

i j

180

i j

i j

I0

2 tan

i j

I1

i j

180

2 tan

180

0.089
180

0.271

180

0.633

180

111

2.936

180

I 128

I 128

I 128

I 128

Otros casos de inters que pueden detectarse con el procedimiento

interferomtrico incluyen los siguientes:
Traslaciones de cuerpo rgido
Gradiente de desplazamiento en plano
Gradiente de desplazamiento fuera de plano
Desplazamiento rgido con rotacin fuera de plano
112

 Desplazamiento rgido con rotacin fuera de plano

Esfuerzo en plano bajo carga axial
Aunque las tcnicas de medicin puedan realizarse con arreglos
fotogrficos (hologrficos de doble exposicin o de correlacin de speckle)
pueden llevarse a cabo as mismo con interferometra electrnica, o con
ESPI, conllevando decisivas ventajas prcticas.
Una de stas consiste en que un interfermetro electrnico permite la
generacin de patrones de interferencia aun con superficies no pulidas.
Esta propiedad permite la aplicacin de los mtodos interferomtricos a
objetos que puedan estar constituidos por superficies rugosas y
relativamente opacas. De all se deriva su importante impacto en la
mecnica y en otros sectores donde las tcnicas interferometricas ms
usuales no se podan aplicar.

113

114

Captulo 5.
Interferometras heterodina y cuasiheterodina.
Un problema fundamental en interferometra consiste en extraer
informacin de fase a partir de interferogramas. Varios procedimientos se
han propuesto y usado para lograrlo cuando slo se dispone de un
interferograma. Muchos de dichos mtodos se basan en el examen de
franjas de valores extremos (mximos o mnimos), como la tcnica de
esqueletizacin de franjas, entre otras. Pero al final de la dcada de los
70's se ha desarrollado Un nuevo paradigma, conocido corno
interferometra heterodina. Discutiendo esta idea, puede desprenderse la
tcnica del corrimiento de fase como un caso especial. La interferometra con
un solo interferograma tambin ocupa un lugar dentro de dicho esquema.
En lo siguiente se discute la idea general.
5.1 Interferencia con dos disturbios de diferente frecuencia.
Se supondrn dos disturbios de polarizacin , (perpendicular) que son
aproximadamente ondas planas, aunque con variaciones espaciales de
fase. Tienen estas ondas las siguientes expresiones
(5.1.a)
( 5.1.b)
donde las amplitudes
se permiten poseer variaciones en el
espacio(fig. 5.1), la polarizacin de ambas ondas es (por lo cual la
115

cuestin puede simplificarse al caso escalar),

son los vectores de la
direccin de principal de cada disturbio,
es la frecuencia angular de
cada onda.

Figura 5.1. Superposicin de dos ondas, una plana y otra con desviaciones locales de fase respecto
de un frente de onda plano.

Aunque
, no se suponen muy diferentes
para poder
mantener la simplificacin de que
. Las distribuciones
espaciales de fase
representan entonces algunas desviaciones de
una onda plana. Al depender aquellas de las DCO en cada disturbio, son
las portadoras de la informacin buscada (ndices de refraccin,
desplazamientos, topografa, etc.).
La irradiancia resultante de la superposicin de

resulta en

( 5.1.c )

116

donde
,
y
en el caso
colineal
Esta simplificacin no es esencial ya que de no
cumplirse la aproximacin colineal, en la siguiente aproximacin,
es un trmino lineal que proporciona un patrn de franjas (que,
por otro lado, pueden observarse implcitamente en
).
Generalmente en interferometra, se busca conocer
en base a .
Comnmente, se elige una distribucin de fase (
, por ejemplo) y
entonces de
se conoce la otra distribucin (
). La conocida,
usualmente una onda plana o esfrica, se llama "onda de referencia o
"referencia". La desconocida es la "seal.
Alternativamente, puede escribirse
( 5.2.a )
con
(5.2.b)
y
( 5.2.c )

En cualquier caso, las ecs. 5.1.c 5.2.a revelan que

slo
(

de

sino
).

de

otros

dependen no
parmetros

ms

5.2 Interferometra homodina:

En el caso en que ambos disturbios posean igual frecuencia

y
en la ec. 5.2.a, reducindose la irradiancia a
( 5.3 )
117

que deja de ser una expresin dependiente de t. Es el caso homodino. Sus

caractersticas esenciales se discuten en el ejemplo de una distribucin de la
forma arbitraria polinomial unidimensional dada por el camino ptico f(x) y
= 632.8 nm.
31.16
31.16 28.044
24.928
21.812
f ( x) 18.696
2
15.58
12.464
9.348
6.232
0 3.116
0
0.1
0.1

0.075

0.05

0.025

0
x

0.025

0.05

0.075

0.1
0.1

PI0 Distribucin de fase hipottica y patrn de interferencia correspondiente.

Figura 5.2.

Con la distribucin planteada, suponiendo

(esto es, el
caso partculas de amplitudes constantes), el interferograma
es
inmediato de calcular y resulta constar de las franjas en tonos gris
expuestas. Puesto que para x > O la fase cambia ms rpidamente que
para
, la primera regin corresponde con una zona del
PI1
interferograma
con varias franjas. La zona izquierda con solo una franja
se corresponde con una lente de variacin de fase. Notese que el mximo
cambio de fase en
es cercano a rads, pero no alcanza ese valor.
En consecuencia, la franja obscura tampoco llega a ser completamente de
valor cero en gris (no es totalmente negra).

PI2

118

Por el contrario, para

, en cada valor de fase que es mltiplo de , se
genera un mximo o un minimo (gris de valor cero).
Pero experimentalmente el problema es uno de carcter inverso: se parte
de un interferograma para hallar la distribucin de fase. El uso de un
nico interferograma, como plantea la interferometra clsica, acarrea las
siguientes inconveniencias:

depende de tres cantidades desconocidas en general

2

,
. Slo conociendo 1, 2, por ejemplo,
puede definirse un problema inverso biunvoco, pero no siempre se
puede tener esa informacin.

los datos ms confiables ocurren en las posiciones de los valores extremos

(x) de (para esqueletizar, por ejemplo). Pero por ser valores
extremos, es en ellas donde precisamente existe menor sensibilidad en
la deteccin
.
los datos en valores extremos aparecen equidistantes en fase (cada
cambio de ) y no equidistantes en el espacio. Entonces, las regiones
de pocas franjas (o cambios menores a
) pueden quedar
submuestradas.
la incertidumbre en la posicin de las franjas depende de
por lo cual resulta no uniforme.
la interpolacin entre franjas es poco confiable porque
no son precisamente constantes en lo general.

119

En algn tipo de problemas,

y
pueden mantenerse constantes,
como es el caso en la prueba de componentes pticas. Pero cuando los
objetos de estudio son reflectores difusos, como en mecnica o en
holografa, esa condicin no puede cumplirse. El resto de inconvenientes,
sin embargo, son ms difciles de superar.
Aunado a estos ltimos, cabe mencionar la ambigedad en cuanto al
orden de interferencia (el orden del mltiplo de ) y el signo del mismo,
ya que estos aspectos se hallan encubiertos por una funcin oscilante.

5.3 Interferometra heterodina:

Aunque diversos esquemas atacan algunos de los inconvenientes

mencionados, la introduccin de un trmino adicional conocido (tal como
en la ec. 5.2.a) puede dar cuenta de todos los problemas indicados
alcanzando precisiones en mediciones de fase mejores que)
uniformemente en el campo de interferencia.

Para ver la razn de lo afirmado, considrese el interfermetro tipo

Michelson de la fig. 5.3. En l, un elemento fundamental consiste en la
modulacin sistemtica del DCO. Se consigue mediante un apilamiento
piezoelctrico cuyo desplazamiento a lo largo del brazo horizontal se
controla con un voltaje V (funcin del tiempo t) opcional de cuatro
alternativas indicadas por los conmutadores 1, 2, 3 y 4.

120

Figura 5.3. Esquema general de modulacin de fase para interferometras heterodina y

cuasi-heterodina.
1.t 2.
3.
4. t con deteccin continua por
etapas.

Cada alternativa determina un tipo de enfoque de captura de datos. Sobre

el apilamiento, se fija el espejo de referencia. Otro elemento opcional y
menos usual es el espejo auxiliar. Colocado junto al espejo de prueba,
permite el monitoreo del desplazamiento real del espejo de referencia.
Con cualquiera de las posibles modulaciones del espejo a travs del
piezoelctrico, se introduce una fase en el patrn de interferencia, f(t),
proporcional a V(t). As, la irradiancia puede expresarse como
( 5.4 )
Para las dos modulaciones superiores esquematizadas,
. Pero
existen procedimientos basados en modulaciones discretas (tercer y

121

cuarto tipo de modulacin,

,) y en modulaciones espaciales (en los
cuales
). Segn sea (t),
o
, surge la Tabla 5.1.
Modulacin

Tabla 5.1
Deteccin
Analgica, fotomultiplicador
Sincrnica, fotomultiplicador
Discreta, CCD, CMOS
Discreta, CCD, CMOS
Discreta, CCD, vidicn

Procesamiento
Medicin
Electrnica
Sistema de ecuaciones
Sistema de ecuaciones
Filtraje de Fourier con
PC

La primera modulacin (voltaje en forma de seal diente de sierra),

simula un voltaje lineal t en tanto genere un patrn de interferencia
cuyas franjas aparenten trasladarse constantemente. Es la modulacin
heterodina propiamente. La segunda modulacin, sinusoidal tipo
, puede dar lugar a detecciones sincronizadas de amarre de
fase con lock-in, tal como se describe ms adelante.
En el tercer caso de modulacin esquematizado en la fig.5.3, ciertos
valores de corrimientos de fase
son introducidos por el trasductor
bajo aplicacin de voltajes escalonados Vi. Cada voltaje es aplicado por
etapas (de duracin t). Si la deteccin de la irradiancia es de un solo
interferograma por etapa, se habla de interferometra de corrimiento de
fase. Al introducir fases discretas
, se puede construir un sistema de
ecuaciones para despejar la fase
(mdulo ). Dado que el nmero
de incgnitas es de tres por punto (dos amplitudes y una fase
;o
bien una luz de fondo a(x), una modulacin de franjas m(x) y una fase
), i debe variar de 0 a 2 cuando menos, para as construir un
sistema 3X3 de ecuaciones resoluble. En el cuarto voltaje modulador
alternativo, se tiene nuevamente un voltaje diente de sierra; pero en la
deteccin de irradiancia se acumulan los interferogramas continuamente
durante tiempos de varios periodos t. Se habla entonces de paquete de
integracin (integrated bucket).
Cuando se introduce una fase espacial,
, se habla del mtodo de
Takeda, o de interferometra de Fourier (quinto en la tabla). No se

122

muestra en el esquema, pero puede introducirse inclinando el espejo de

modulacin (frecuencia portadora espacial). Para mtodos como los
mencionados (corrimiento de fase, paquete de integracin o mtodo de
Takeda) algunos autores han empleado el trmino genrico de
interferometra cuasi-heterodina.
Los mtodos cuasi-heterodinos citados se discutirn en el siguiente
captulo a travs del estudio de casos ilustrativos.
5.3.1 Interferometra heterodina propiamente dicha.
Aunque algunos autores usan el trmino heterodino para englobar a las
tcnicas que involucran las modulaciones referidas, otros reservan el
trmino a slo la primera mencionada
. En este caso la
irradiancia se encuentra expresada como la ec. 5.2.a. Aunque
no es fsicamente realizable, es prcticamente posible una excelente
aproximacin utilizando un voltaje tipo "diente de sierra con tiempo de
retroceso pequeo.
De esta manera, se obtiene un patrn de interferencia desplazndose con
velocidad constante. Ajustando el perodo del voltaje, su pendiente y el
perodo del patrn, puede conseguirse un patrn en movimiento
constante sin discontinuidades. En la fig. 5.4 se muestran dos detectores A
y B separados una distancia
sensando el patrn mvil. En rango
lineal, cada detector enva sendas seales a dos canales de un osciloscopio.
En el modo
de ste, debe desplegarse una elipse debido a que la
frecuencia de
(las seales de cada detector) es la misma .
La elipticidad, inclinacin y sentido de giro de la elipse dependen de las
amplitudes de cada seal, as como tambin de la fase
ptica entre
los puntos. Debido a las limitaciones de medir los parmetros referidos
en base a una elipse, puede emplearse un medidor de fase. Dado que las
fases electrnicas pueden medirse con precisiones del orden de
, la
potencialidad en precisin del mtodo es
. Ntese que esta propiedad
no depende de la variacin del patrn de interferencia sobre los puntos de
123

medicin, eliminando as algunas de las inconveniencias propias de la

interferometra homodina.

Figura 5.4. Conversin de fase ptica en fase de seales electrnicas.

Si ambos canales se despliegan paralelamente, se exhibiran dos seales

con diferente valor de DC
, diferente
modulacin de franjas (
) y, sobre todo, una
mutua diferencia de fase
. Los parmetros que influyen en la
irradiancia total resultan separados aun cuando pueden variar a lo largo de
la posicin x.
Puede fijarse un punto
variar
, escaneando"
como se
considere apropiado a fin de hallar la distribucin de fase
respecto
a la fase sobre el punto de posicin .
Alternativamente puede barrerse el campo con el par de detectores a
distancia constante
para conocer directamente el gradiente de la
distribucin
, de ms directa relacin con la tensin y el esfuerzo de
muestra slidas bajo inspeccin (F(x)=(x+DAB)-(x)
).

124

5.3.2 Interferometra con modulacin sinusoidal.

El segundo caso consiste en una modulacin sinusoidal de amplitud
(oscila dentro del perodo del patrn) a inspeccionar. Se
ejemplifica con dos situaciones.
A. Un solo detector registra la oscilacin del patrn sobre un punto. La
seal se divide en tres partes y cada una se filtra con un filtro distinto: uno
centrado en , otro en 2 y el ltimo en 3.

Figura 5.5. Estimacin de la fase con un detector puntual nico.

La irradiancia del patrn resulta

( 5.5 )

Para amplitudes de oscilacin Am pequeas, se justifica la aproximacin

cortada hasta J3. Con el cociente
se determina
, lo
cual permite conocer
y
para obtener
a partir de

125

( 5.6 )

y sobre el valor de
. Esto equivale a obtener la fase
mdulo (
), que se conoce como "fase envuelta"'. Para obtener
se requiere algn mtodo de desenvoltura de "fase envuelta.
B. El esquema muestra un sistema con amarre de fase.
Con dicho sistema, se obtiene una irradiancia total dada por
( 5.7 )
Por el desarrollo en serie finita como el caso anterior,

( 5.8.a )

Figura 5.6. Sistema de estabilizacin con bucle de retroalimentacin.

126

(5.8.b )

Notndose que, para cuando

,
y

Alcanzando la condicin, obtenida es el valor de

. Algunos
bloques pueden ser parte de un mismo amplificador lock-in. Las
precisiones de los ejemplos resultan del orden de
.
5.3.3 Medicin de fase: cruce por cero.
En la fig. 5.7 se muestra un esquema para medir la diferencia de fase entre
dos seales
y
como las obtenidas en la fig. 5.4. Las seales
y
obtenidas por deteccin lineal se transforman en seales cuadradas
y
(con disparadores Schmitt, por ejemplo).

Figura 5.7. Esquema de medicin y desplegado de fase con cruce por cero.

127

La fase (mod
) se determina con dos flip-flops en paralelo: un reloj
arranca cuando la seal de referencia alcanza determinado valor y se
detiene cuando la seal de prueba cruza ese mismo valor.
El cociente del tiempo medido por el reloj y el perodo de la seal
proporciona la diferencia buscada. El signo se determina por el conteo de
pulsos en un mismo intervalo.
Dos contadores adicionales en serie con cada seal y controlados por las
pendientes baja/alta proporcionan valores que, al restarse, proveen el
nmero de saltos de fase. El mtodo ofrece precisiones de
. El
error en la medicin de la fase depende inversamente de (frecuencia
heterodina).
5.3.4 Interferometra super-heterodina.
Se ha tratado de reducir la frecuencia de trabajo de un sistema heterodino
empleando la diferencia de dos frecuencias pticas con la longitud de onda
sinttica (sec.2.5). La fuente puede constar de dos lseres mutuamente
coherentes o, mejor, de un lser multilnea muy estable. Se han logrado
alcanzar resoluciones de micras. Las frecuencias se han logrado disminuir
an ms con el uso de rejillas de difraccin en diversas configuraciones
(giratorias, por ejemplo).
5.3.5 Ejemplo suplementario: el caso de la conjugacin de fase con
cristales fotorrefractivos silnidos.
Los cristales fotorrefractivos son materiales con capacidades hologrficas
en los cuales pueden grabarse rejillas de interferencia de fase por efecto
Pockels (efecto electroptico lineal) de modo reversible. Los mecanismos
involucrados en la formacin y borrado de la rejilla pueden ser debidos a
difusin, deriva (arrastre por campo elctrico) o el llamado efecto
fotovoltico, efectos presentados por los portadores de carga. La diferencia
de fase espacial entre una rejilla formada por interferencia y la resultante
de ndice de refraccin depende del mecanismo especfico que contribuya
al proceso con mayor eficiencia. A su vez, este valor de fase determina el
acoplamiento entre haces en mezclas de dos y cuatro ondas. En mezcla de

128

cuatro ondas (de amplitudes Ak, k =1,2,3,4), una de ellas es la llamada

onda con frente conjugado, A3, por expresarse como la amplitud compleja
conjugada de alguna de las tres, llamada seal A4, cumplindose que
.
La eficiencia en la generacin de la onda conjugada es mayor si la
diferencia de fase equivalente en radianes es de /2. En ferroelctricos
como BaTiO3 o LiNbO3, por ejemplo, el efecto de difusin y fotovoltico
determinan una fase de /2, lo que hace que sean muy eficientes para
generar ondas conjugadas (espejo conjugador de fase). En contraste, en
cristales silnidos (silenitas) como los Bi 12(Si,Ge.Ti)O20 (abreviados BSO,
BGO y BTO respectivamente), la deriva (arrastre) es el mecanismo ms
importante para la formacin de rejillas y suele mejorarse con la aplicacin
de un campo elctrico transversal E0 de entre 5,000 y 10,000 volts/cm.
Pero, como resultado de esta tcnica, la diferencia de fase espacial difiere
del valor para el ptimo acoplamiento, reduciendo la reflectividad del
espejo conjugador de fase.
Aprovechando el tiempo de respuesta de los cristales silnidos (del orden
de ms; pero en dependencia del valor del campo aplicado E0 entre otros
parmetros), la diferencia de fase espacial ptima puede aproximarse (y
eventualmente, alcanzarse) imprimiendo una velocidad determinada en la
rejilla de interferencia (rejilla mvil). Al desplazarse sta con velocidad
constante, deja atrs de s a la rejilla de fase formada en el material. Puede
existir una velocidad ptima
entonces, tal que mantenga una
separacin espacial de fase apropiadamente aproximada de /2. La tcnica
de la rejilla mvil en rgimen de difusin para cristales fotorrefractivos
silnidos optimiza la reflectividad de conjugacin de fase en tiempo casi
real. La translacin de la rejilla de interferencia puede realizarse con un
espejo montado sobre un trasductor piezoelctrico. Si el voltaje V aplicado
sobre el apilamiento es constante, se obtiene una modulacin tipo
.
Con esta tcnica, al tener una rejilla transladndose constantemente, se
consigue una onda conjugada con una fase temporal lineal.
Consecuentemente, de usarse como uno de los dos brazos de un

129

interfermetro, la variacin
heterodina.
A.

, puede servir tambin como seal

Un arreglo experimental heterodino con BSO y rejilla mvil.

La fig.5.8 muestra el esquema de un interfermetro heterodino con espejo

conjugador de fase a base de un BGO (BGO) con rejilla mvil para
incrementar su reflectividad. Dicho espejo conjugador se realiza con los
haces A1 y A2 (ondas de bombeo), donde el segundo haz se consigue del
primero por reflexin en el espejo montado sobre el apilamiento PZT.
Eligiendo a las ondas de bombeo como ondas planas, se observa la
condicin
para PZT esttico. Si en movimiento ptimo, A2
adquirir una fase temporal (
).

Figura 5.8. Interfermetro heterodino con fase conjugada usando BGO y

rejilla mvil.

130

Las ondas de bombeo A1 y A2 se forman siguiendo las trayectorias e1-Tdh1-BGO y e1-T-dh1-BGO-PZT-BGO respectivamente. La seal A4 se
forma con la trayectoria dh1-e2-T-DH-e3-e4-BGO y se genera la conjugada
A3=A4* si PZT permanece esttico, como si el cristal BGO fuera un
holograma, viajando esta onda conjugada en direccin inversa a la seal.
Una onda del interfermetro atraviesa entonces por DH-M1-DH, que es la
onda A4 pero propagada a lo largo del doble de la separacin entre esas
componentes. La otra onda del interfermetro es la conjugada. Se
superpones as, A4 con A4* (autorreferencia, Tabla 4.1). Si PZT recibe un
voltaje tal que
, el patrn oscilar correspondientemente como
se describe en la sec.5.3.
La distribucin de onda medida es la que justamente incide en DH.
Entonces, el lugar que debera de ocupar una muestra de fase a
inspeccionarse por autorreferencia se halla en el espacio comprendido por
el telescopio T y el divisor DH.
Los caminos pticos dh1-T-BGO-PZT-BGO y el dh1-e2-T-DH-e3-e4-BGO
deben igualarse. As mismo, el camino ptico dh1-T-BGO-e4-e3-DH debe
igualarse con el dh1-e2-T-DH-M1-DH.
Debido a que los silnidos muestran birrefringencia inducida por campo
elctrico, puede requerirse de una optimizacin en la polarizacin de los
haces (no se muestran las componentes respectivas, tales como
polarizadores lineales).
Bajo estas condiciones, un detector puntual en algn punto, A, del campo
de interferencia generar una seal sinusoidal si detectado linealmente por
un fotomultiplicador FMA auxiliado por una fibra ptica, como puede
verificarse en un osciloscopio (OSC). La fase elctrica puede medirse
con un amplificador lock-in respecto a un punto fijo del interferograma, B,
similarmente detectado por FMB. El punto A puede variar de posicin para
muestrear representativamente al campo de interferencia.

131

B.

Monitoreo y resultados.

Un interferograma tpico observado bajo las condiciones esquematizadas

en la fig.5.8 se muestra en la fig.5.9a (plano x,y).Un ejemplo de
mediciones con un sistema como el descrito se muestra en la fig.5.9b.
Dado que las seales desde A y B son sinusoidales, las figuras observadas
en un osciloscopio en modo horizontal-vertical sern elipses. Su
elipticidad e inclinacin depende de la fase y las amplitudes detectadas.
Mientras permanezcan constantes, el proceso observado es suficientemente
estable. A bajas frecuencias (< 10 Hz), puede determinarse el signo de la
fase visualmente con observar el sentido de giro de la traza de Lissajouss.

a)

b)

Figura 5.9 a) Patrn de interferencia con espejo conjugador. b) lecturas de diferencia de fase
y monitoreo en osciloscopio. La superficie es la diferencia de fases en una regin del campo de
interferencia x,y.

132

Algunas elipses capturadas de la pantalla de un osciloscopio se aprecian en

la columna izquierda de la fig.5.9b. Su aparicin y permanencia sin
deformacin es una manera de monitorear la estabilidad del sistema
(fig.5.8). Algunas mediciones de la fase realizadas con un amplificador
lock-in entre un punto fijo referencial B y otro movible a lo largo de
campo de interferencia, A, se muestran en la grfica de lneas de nivel,
obtenida por interpolacin de las lecturas realizadas.
La grfica de superficie correspondiente a la diferencia de fases registradas
e interpoladas se puede apreciar en la fila inferior y debe interpretarse
como aproximadamente el doble de la diferencia real.
Otros materiales pueden emplearse como espejos de fase conjugada y
formar con ellos interfermetros heterodinos; pero en el caso de los
silnidos se puede aprovechar la tcnica de la rejilla mvil tambin como
seal heterodina. La modulacin ejerce as dos funciones. Dicha seal, sin
embargo, puede ser de bajas frecuencias, limitando un poco la precisin en
las mediciones.
En general, la deteccin heterodina tiene alta relacin seal/ruido,
especialmente con fotomultiplicadores. stos son capaces de realizar una
conversin de seales pticas a elctricas muy lineal. Al medir en torno a
la frecuencia heterodina , cualquier influencia de distinta frecuencia, se
filtra y puede suprimirse.
En interferometra ptica, una de las fuentes de error ms importante
puede ser el speckle. Contribuye al error con cero si las franjas tienen
contraste unitario; pero aumenta rpidamente si el nmero de speckles en
el rea de deteccin es reducido (
) para contraste
ligeramente menores a 1.

133

134

Captulo 6.
Tpicos de interferometra de
corrimiento de fase.
Como se mencion en referencia a la fig.5.3, un elemento
modulador tal como un trasductor piezoelctrico puede introducir
corrimientos de fase discretos
. stos corresponden a N
desplazamientos aparentes de cada interferograma resultante o, en otros
trminos, se determinan N irradiancias. Puede entonces formarse un
sistema de ecuaciones, teniendo como a la incgnita principal a la
distribucin de fase, para despejarla en cada situacin particular. En este
captulo se considerarn los casos N = 3 y 4 principalmente, discutiendo
las tcnicas tpicas con simulaciones en Mathcad .
6.1

Corrimiento de Fase (Phase-Shifting Interferometry).

Considrense N interferogramas con corrimientos

. Ntese que el
trmino g de la ecuacin para aberraciones pticas de la sec.4.3.1.E, se
corresponde con un cierto corrimiento fi.
El i-simo patrn de interferencia puede escribirse como

con

135

( 6.1 )

( 6.2 )

La solucin por mnimos cuadrados (ec.6.29) proporciona los siguientes

resultados tras derivacin apropiada respecto de las tres incgnitas Ai(x,y),

( 6.3 )
donde, para N interferogramas,

( 6.4 )
e

( 6.5 )

siendo la solucin para la fase (mdulo )

( 6.6 )

A.
Por ejemplo, para el caso de N = 3, si
como

, la fase resulta calculable

( 6.7 )

136

mientras que si

, se obtiene

( 6.8 )

Un poco ms general, si

, se tiene
( 6.9 )

Para tres corrimientos

, en general diferentes, con

( 6.10 )

B.
Para cuando se tiene el caso de N=4, si

, la fase viene siendo

dada por
( 6.11 )

C.
Como

otro

ejemplo

ms general para el caso de N=4, si

, aunque no se conozca de antemano y pueda variar
en cada punto del campo, puede calcularse a partir de los interferogramas como
( 6.12 )
de modo que,

( 6.13 )
y, combinando las dos frmulas previas,

137

( 6.14 )

Este es la tcnica de Carr y las soluciones para y son las Frmulas de

Carr.
Algunos ejercicios numricos relacionados con corrimientos equidistantes se
muestran en las siguientes secciones.
En los ejercicios, se usa la misma distribucin de fase de la fig.5.2. sta es
obtenida basndose en el polinomio

con a0 = 0x10-7, a1 = 1.0x10-7, a2 = 0.5x10-4, a3 = 0.5x10-3, a4 = 1.0x10-5,

a5 = 1.0x10-4.
Se ha tomado indistintamente

como la distribucin
de diferencia de caminos pticos. Con ello, la correspondiente distribucin de
fase en radianes se ha escrito como
.

138

6.1.1 Tres corrimientos de fase.

Dos corrimientos de 2 /3 a ambos lados del corrimiento cero
proporcionan los siguientes tres patrones de interferencia.

PI0

PI1

PI2

Las tres irradiancias obtenidas

proporcionan la relacin siguiente:
139

con

corrimientos

equidistantes

Usando la expresin para corrimientos equidistantes y obteniendo la

tangente inversa, se obtiene la grfica adjunta:

i j

atan Tan

i j

El corte longitudinal del patrn se muestra a continuacin, siendo una

distribucin de fase llamada envuelta. Las discontinuidades de fase son
consecuencia de la inversa de la tangente, que proporciona la fase mdulo
nicamente.
200

100

Tan i 10
100

i j

200
300
0

200

400
i

Las expresiones correspondientes explcitamente empleadas en Mathcad

son las siguientes:

3 PI2
Tan

i j

2PI0

i j

i j

PI1

i j

PI1

i j

PI2

i j

i j

atan Tan

i j

Note la semejanza entre la fase envuelta y la original, que es la

previamente mostrada en la fig.5,2.
140

6.1.2 Cuatro corrimientos de fase.

Con cuatro patrones de interferencia y corrimientos de /2, se obtiene:

PI0

PI1

PI2

PI3

141

Las cuatro irradiancias obtenidas con corrimientos equidistantes de /2

proporcionan la relacin siguiente:

que, como puede mostrarse, es equivalente al cdigo siguiente (ver

Apndice C)

TanC

i j

3PI1i j PI2i j PI0i j PI3i j PI1i j PI2i j PI0i j PI3i j

.

PI1ij PI2ij PI0ij PI3ij

Usando la expresin para corrimientos equidistantes para este caso y

obteniendo la tangente inversa, se obtiene la grfica adjunta:

Las discontinuidades de fase son consecuencia de la inversa de la

200

100

Tan i 10
100

200
300
0

i j

200

400
i

tangente, que proporciona la fase mdulo nicamente (envuelta).

142

Las expresiones correspondientes explcitamente empleadas en Mathcad

son las siguientes.

Tan

i j

PI3

PI1

PI0

PI2

i j
i j

i j
i j

i j

atan Tan

i j

Note la semejanza entre la fase envuelta y la original, mostrada en la

fig.5,2. Hay similitud tambin con la fase envuelta obtenida en el caso de
tres corrimientos.
El mtodo de cuatro corrimientos se caracteriza por generar dos pares de
interferogramas de contrastes opuestos, lo que facilita su automatizacin
en conjunto con un modulador (piezoelctrico) lineal.
6.1.3 Mtodo de Carr.
Con cuatro patrones de interferencia y corrimientos de /2, se obtienen los
interferogramas de la siguiente pgina, donde se ha considerado
, con
dentro de un rectngulo y
fuera de l.
Esto representa un corrimiento heterogneo, simulando algn error
sistemtico no uniforme en el modulador.
La aplicacin de las Frmulas de Carr resultan entonces en las grficas
de enfrente a los inerferogramas.
Para el corrimiento efectivo
y para la fase en cada
punto,
.

143

PI0

PI1

PI2

PI3

144

Para la fase envuelta (x,y), su tangente y la tangente inversa

correspondiente son
174.17

200

100

1.5

1.567

0
Tan i 10
100

200
280.733
300
0
0

i j

0.5

3.40810
200

400
i

511

habiendo tomado el mdulo de la funcin tangente.

El resultado envuelto es comparable a los dems mtodos considerados.

145

6.1.4 Modulacin Espacial (Mtodo de Takeda, o interferometra de

Fourier).
Como anteriormente se haba apuntado, el corrimiento puede ser espacial.
Por ejemplo, un corrimiento dado por la expresin
.
Entonces, la irradiancia de un patrn formado por la inclusin de dicha
fase es:

donde se ha rescrito a la funcin coseno en forma de usar exponenciales

complejas. El patrn as formado para la misma distribucin hipottica de
fase de la fig. 5.2 adopta el siguiente aspecto.

PT

La influencia de la frecuencia fa0, llamada frecuencia portadora se

patentiza en un incremento de la frecuencia espacial del patrn.
Obteniendo la transformada de Fourier unidimensional de esta expresin,
se llega a la siguiente:

146

(6.16)
Una grfica de la transformada unidimensional de Fourier para el caso
considerado se muestra a continuacin.
30
22.653
20
CFTT i
10
0.026
0

51

102

153

204

255

306

357

408

459

510
510

Se aprecia que la informacin de la fase se distribuye en los espectros

centrados en fa0 = /2.
Entonces, la transformada inversa de cualquiera de estos espectros puede
proporcionar a la fase. Sin embargo, antes de realizar la transformacin
inversa, alguno de dichos espectros debe de trasladarse al origen para
evitar trminos de fase.
Concretamente, el trmino c(x) cumple con lo siguiente:

por lo cual, la fase de c(x) es la misma fase buscada.

En la siguiente figura, se muestra la traslacin al origen del segmento
derecho del espectro anterior, naturalmente centrado.

147

Debido al empleo de la Transformada numrica de Fourier Rpida, la

figura adyacente muestra al espectro centrado partido por mitad. Una de
estas mitades se halla en el extremo izquierdo del campo, mientras que la
otra mitad, en el extremo derecho (trazos continuos). La posicin relativa
FilteredC FTT2
if 0 i 50se
FilteredC
FTT1en lnea
FilteredC
FTT1
original
deli espectro
muestra
segmentada
para comparacin.
i 460
i 51
6
FilteredCFTT1 i 4
FilteredCFTT2 i

2
0

200

400
i

La fase mdulo de la transformada inversa del espectro centrado se

muestra a continuacin.
4
3.127
2
i 10 0
2
3.119
4

0
0

50

100

150

200

250
i

300

350

400

450

500
500

Este resultado es comparable con los obtenidos por corrimientos de tres y

cuatro fases. Como diferencia respecto a stos, con el mtodo de Fourier
aparecen algunas oscilaciones espreas y cierta modulacin. Estos efectos
se deben a las aproximaciones numricas realizadas y, de modo
particularmente importante, al valor efectivo introducido en el
desplazamiento del espectro. En la medida de que exista una discrepancia
con el valor preciso, las oscilaciones y la modulacin pueden aparecer de
manera ms notable.

148

Cabe mencionar que este mtodo, a diferencia de los mtodos

secuenciales descritos para corrimiento de fase, requiere de una sola toma
para adquirir los datos interferomtricos.
Sin embargo, los mtodos de corrimiento de fase tambin pueden
implementarse en modo con una sola toma si se introduce algn
procedimiento de generacin de copias de las dos amplitudes involucradas
en el mismo interferograma. Adems, se debe poder cambiar la fase entre
las amplitudes de modo independiente para cada interferograma.
El mtodo de Fourier recibe beneficios de detecciones con excelente
resolucin y de un amplio rango dinmico.
6.1.5 Corrimiento de fase con dos longitudes de onda.
La utilidad de la longitud de onda sinttica se manifiesta en la
caracterizacin de discontinuidades de fase mayores que una longitud de
onda simple. Como ejemplo, una distribucin de camino ptico se supone
con una discontinuidad (o salto) en x = 0.025 por estarse calculando la
siguiente funcin:
(6.18)
siendo
la distribucin empleada en casos anteriores y Heav(x) la
funcin escaln de Heaviside. Usando dos longitudes de onda 1 y 2 para
una misma distribucin de espacial de camino ptico f(x), pueden
extraerse las fases por corrimiento de fase para cada una. Las grficas de
interferogramas muestran los resultados de utilizar las longitudes de onda
1= 514.5 nm y 2= 488 nm sin corrimiento (
).
.
Para 1 puede identificarse una franja oscura muy delgada cerca del punto
306.6.

149

Las fases respectivas a cada longitud de onda son:

,
La resta de diferencias de fase resulta ser, usando definiciones de la
sec.2.5,

(6.19)

Considerando los cocientes

, se tiene que
. Los nmeros N1 y N2 pueden ser mayores que la
unidad, significando que en el proceso de desenvolvimiento slo se
rescatar la resta entre el mltiplo de longitudes de onda ms cercano
menor y Ni. Pero la diferencia entre estos nmeros puede ser menor que
, en cuyo caso, la discontinuidad ser una fraccin de , y la diferencia
de caminos pticos equivalente pierde dicha ambigedad.
La diferencia de las fases con desenvoltura se muestra en la grfica
siguiente. Se compara con los saltos de fase mdulo (lnea punteada).
En el ejemplo,
y
, mientras que
alcanza
150

apenas un valor de 0.077. As, los datos en la diferencia podrn

desenvolverse debido a que sta resulta menor que /2. Algunos detalles
sobre la desenvoltura, en seccin 6.3.4.B.

La reduccin de rango de valores en un factor menor que 0.1 se refleja en

la grfica en tonos de gris del interferograma equivalente, realizado con la
longitud de onda sinttica
m. Se tiene que
. Ms detalles en apndice G.

PI

El muestreo de fase se ha realizado entonces prcticamente a menos de

una franja de la longitud de onda
. No es necesario realizar ni
siquiera una captura del producto de los dos interferogramas por
corrimiento de fase (holograma).
Otros procedimientos para el procesamiento con este tipo de datos
tambin son posibles. Este mtodo es adaptable a interfermetros
electrnicos tambin.

151

6.2 Implementacin experimental: ejemplos.

6.2.1 Corrimiento de fase.
La fig.5.8 muestra un sistema de corrimiento de fase automatizado basado
en un apilamiento piezoelctrico. Un interfermetro ptico tipo Michelson
tiene un espejo controlado por un apilamiento piezoelctrico en uno de
sus brazos. Una seal sale de un ordenador hacia l y es, eventualmente,
amplificada atendiendo a las demandas de voltaje del apilamiento.
El interferograma resultante es captado por una cmara CCD, cuya seal
es desplegada en un monitor y digitalizada en el ordenador. Una tercera
seal se obtiene del ordenador para controlar el disparo de la cmara.

Figura 6.1. Sistema de Medicin de Fase ptica por corrimiento de Fase (

Para calibracin de cuatro interferogramas equidistantes en fase por /2,

primero se define el rea de trabajo. Distintos voltajes de reducido nivel
se empiezan a aplicar al apilamiento, incrementando cada valor de modo
progresivo. Cada valor correr al patrn por cierta cantidad. Grabando el
152

interferograma con cero voltaje, cada nuevo interferograma se puede

comparar con el grabado a cero volts; por ejemplo, por suma. Cuando se
consiga un interferograma de contraste complementario al grabado, se
obtiene el voltaje V que genera un corrimiento de en el interferograma
particular de trabajo.
Conocido el comportamiento del apilamiento, se pueden determinar as
los voltajes V y V requeridos para corrimientos respectivos de /2 y
de 3/2. Por ejemplo, en el caso lineal, los voltajes seran V = (V
yV = 3(V.
Los voltajes 0, V , V y V se aplican en secuencia, capturando el
respectivo interferograma. Se usa la relacin de arco tangente por pixel, y
la tangente modulo 2 se busca en tablas. En un proceso intermedio,
pueden filtrarse los interferogramas si as se necesitara.
La calibracin final puede realizarse mediante las frmulas de Carr
(ec.5.20) tras observar las condiciones arriba expuestas. Un histograma
del nmero de puntos en funcin del corrimiento debe mostrar un
mximo en el corrimiento deseado, acompaado de una dispersin
reducida. Cada cambio en el interfermetro requiere de un proceso nuevo
de calibracin para el transductor piezoelctrico.
6.2.2 Interferometra Hologrfica con doble referencia.
La fig. 6.2 muestra un arreglo experimental para grabar un holograma de
doble exposicin con doble referencia segn el procedimiento descrito por
Dndliker.
La doble referencia demandar de dos haces de lectura simultneamente
para obtener un patrn de interferencia en la doble imagen reconstruda.
La existencia de dos haces de lectura permite modular la fase de cada haz
independientemente.
Esto representa una diferencia importante con la interferometra
hologrfica de doble exposicin con una sola referencia. En este ltimo
caso, no es posible la introduccin arbitraria de corrimientos debido a la
imposibilidad de modular un haz independientemente del otro (sec.4.3.3).

153

Para el propsito de modulacin de franjas, un transductor piezoelctrico

modula la fase de un haz de reconstruccin nicamente. De ese modo, el
patrn de interferencia hologrfico puede desplazarse durante la
reconstruccin a determinado ngulo de deteccin segn la posicin de la
cmara empleada.
Para cada interferograma hologrfico, las tcnicas de extraccin de fase
descritas pueden aplicarse de modo similar.
La calibracin del transductor es tambin anloga a la descrita para un
interfermetro ptico de dos brazos.
En la reconstruccin del holograma, se deben usar las dos referencias
como ondas de lectura simultneamente para poder observar las franjas de
interferencia (doble onda de lectura o de reconstruccin). La diferencia de
fase extrable del patrn acarrea informacin de los cambios de estado del
objeto entre las dos exposiciones.

Figura 6.2. Holograma de doble exposicin con dos referencias (

154

6.3

Algunas consideraciones suplementarias.

6.3.1 Cinco corrimientos (mtodo de Hariharan).

Si
, los denominadores de Carr tienden a cero junto con los
numeradores y se incrementa la incertidumbre en
y en
.
Introduciendo un corrimiento ms de modo que los cinco valores de fase a
diferencia constante adopten los valores (i,j=1,2,3,4,5):
( 6.20)
las expresiones de Carr se modificarn a las siguientes

(6.21)

Si
la variacin tiende a cero. Para calibrar el ngulo
emplearse la relacin

, puede

( 6.22)
Usando la previa formulacin, es posible obtener los siguientes
interferogramas para el mismo ejemplo de la sec.6.1.3.

155

PI0

PI1

PI2

PI3

PI4

mientras que las grficas para el corrimiento y para la fase envuelta

resultan como se muestra.
50

44.635

1.557
1.5

0
Tan i 10

1
50

0.5

71.944

i j
5

8.73410
100
0
0

200

400
i

511

La ec.6.22 puede ser empleada tambin para la calibracin del elemento

modulador.

156

6.3.2 Uso de un espejo auxiliar.

El esquema muestra un interfermetro tipo Twyman-Green con espejo de
referencia montado en apilamiento piezoelctrico (PZT).
En el otro brazo, el haz es reflejado por un espejo de prueba. Junto a ste
espejo, se coloca otro espejo plano auxiliar. Entonces, se trata de detectar
dos patrones de interferencia en el mismo campo de observacin: un
patrn es el producido por los campos del espejo de prueba y de la
referencia. El otro patrn, surge de de la superposicin de los campos del
espejo de prueba y del otro espejo plano fijo auxiliar, cercano al de
prueba.
Los corrimientos efectivos fi generados por el desplazamiento del
apilamiento, se pueden determinar midiendo los desplazamientos del
patrn auxiliar.

Figura 6.3. Sistema interferomtrico de corrimiento de fase con espejo auxiliar.

6.3.3 Paquete de Integracin.

El corrimiento de fase puede realizarse de manera continua, tal como se
efecta en la modulacin heterodina con constante por perodos (diente
de sierra). Pero la deteccin puede llevarse a cabo acumulando los valores
157

de irradiancia por intervalos de tiempo t. En consecuencia, se obtiene

una integracin de patrones, uniformemente trasladados, de la forma
siguiente

( 6.23)

con c una constante de calibracin (caso lineal ideal, c=1). Para el caso
cuadrtico, la fase introducida es de la forma
( 6.24)
Ajustando el valor de c, puede compensarse el efecto determinado por el
trmino que incluye a d como factor.

Figura 6.4. Acumulacin de irradiancia por paquetes en un tiempo de medicin t

(irradiancia promediada en el tiempo t).

158

La irradiancia In acumulada durante el tiempo t puede expresarse como

( 6.25)

El resultado de la integracin puede escribirse como

( 6.26)

donde las integrales coseno y seno son

,

(6.27a,b)

con

(6.28a,b,c)

El procesamiento de irradiancias es semejante al de corrimiento de fase.

El error en la estimacin de la fase se reduce con series de corrimientos
y
tales que
.

159

6.3.4 Error en la recuperacin de la fase por corrimiento de fase.

Para un conjunto
de R-1 corrimientos (R interferogramas Ii) no
necesariamente equidistantes en fase se tiene un error cuadrtico medio E
dado por

( 6.29)

con el valor de la irradiancia medida. Los coeficientes ai se relacionan

con la luz de fondo y con la fase desconocida, como se describi.
La minimizacin del error E, determina el sistema de ecuaciones ya
apuntado al inicio de la sec.6.1.
El comportamiento del error est estudiado en Ohyama, Kinoshita,
Cornejo-Rodriguez, Honda, Tsujiuchi, JOSA A5, 12, 1988.
6.4 Modulacin y deteccin en interferometra heterodina y de
corrimiento de fase: comparaciones.
La introduccin de modulacin continua de fase, o de valores discretos de
corrimiento de fase, puede realizarse con elementos diferentes. Los
mtodos de modulacin de fase ms empleados se enlistan a continuacin,
siendo el procedimiento basado en apilamientos piezoelctricos uno de los
ms prcticos para corrimiento de fase realizado secuencialmente.
Empleo de efecto Zeeman con fuente Hg
Rejillas radiales giratorias
Celdas acusto-pticas (de Bragg)
Placas retardadores giratorias
Espejos montados en apilamientos piezoelctricos
Placas divisoras de haz a velocidad constante
Rejillas de Ronchi o de fase
Modulacin de polarizacin (retardadores
y polarizadores lineales)

160

Para el caso de modulacin por efecto Zeeman, se deben tomar en cuenta

las observaciones de la se.2.5 para lograr frecuencias convenientemente
bajas.
En corrimiento de fase, el conocimiento del modulador debe de incluir un
procedimiento particular de calibracin. Este procedimiento de
calibracin puede necesitar de ser repetido si se modifica el
interferograma, an sin cambiar de interfermetro.
De los mtodos de modulacin ms usados, destacan los de apilamientos
piezoelctricos y los de rejillas. De hecho, la modulacin basada en
apilamientos piezoelctricos se ha usado extensamente en sistemas
comercializados. La modulacin es secuencial, lo que limita su uso
fundamentalmente a fases estticas. La calibracin debe repetirse si el
interferograma se modifica sustancialmente.
Por su parte, el corrimiento con rejilla demandan de desplazamientos
laterales con valores de fracciones del perodo de la rejilla. Si se usa un
perodo de rejilla que sea corto, se generarn rdenes de difraccin ms
separados y, en consecuencia, pueden usarse campos o pupilas de mayor
tamao; pero el desplazamiento lateral debe ser correspondientemente
corto. Esto demanda mayor precisin para el actuador que efecte la
translacin, limitando entonces la frecuencia de la rejilla usada. El
desplazamiento no depende del interferograma, pero debe de ser
secuencial.
En sub-secciones posteriores, se puede mostrar que la modulacin de
polarizacin puede simplificar algunos de los inconvenientes
mencionados.
6.4.1 Calibracin del modulador (corrimiento de fase).
La calibracin del modulador es particular del mismo y del nmero de
corrimientos. En el caso de los apilamientos piezoelctricos, se requiere la
determinacin de los voltajes que realizarn los corrimientos demandados.
Similarmente, para la calibracin de rejillas, se requiere encontrar los
161

voltajes que un actuador usa para trasladar la rejilla por fracciones de su

periodo (usualmente, mltiplos de de periodo).
A. Caso piezoelctrico.
En un ejemplo especfico, referido al corrimiento de fase con cuatro
interferogramas, primero se puede determinar el voltaje que consiga un
patrn complementario del patrn inicial. Para ello, pueden incrementarse
valores de voltaje desde uno pequeo inicial. Cada patrn as obtenido se
puede suma numricamente del patrn inicial, el cual ha sido previamente
digitalizado y grabado. En general, se obtendr un nuevo patrn de suma,
excepto cuando el patrn obtenido con cierto corrimiento sea
complementario del inicial, en cuyo caso se obtendr una constante. El
patrn complementario se interpreta como debido a un corrimiento de y
el voltaje con el cual se obtuvo,
, servir para determinar los voltajes
que producirn otros corrimientos.
Si el apilamiento tuviera un comportamiento lineal (desplazamiento
contra voltaje aplicado), para conseguir los corrimientos de /2, , 3/2 y
2, se usaran los voltajes /2, , 3 /2 y 2 . Como los corrimientos
reales pueden estimarse a partir del interferograma suma segn algunos
procedimientos, una estadstica de los valores de voltaje y los
corrimientos medidos proporciona la etapa final de la calibracin del
modulador piezoelctrico. Si el modulador piezoelctrico no fuera lineal,
habr que conocer su curva piezoelctrica (desplazamiento vs. voltaje
aplicado).

162

B. Caso rejilla.
Considerando el interfermetro de rejilla de la sec.4.3.2 (fig.5), el caso
una rejilla como elemento modulador proporciona otro ejemplo
calibracin. sta se da en conjunto con el actuador que efecta
translacin de la rejilla (fig.5.13). La rejilla puede ser de absorcin o
fase.

de
de
la
de

(b)

Figura.6.5. Interfermetro con rejilla: O, objeto; DC, actuador; CCD, camera; PC,
ordenador. Interfermetro Michelson para calibracin translacin de rejilla en dependencia
del ancho de pulso de voltaje en actuador: M (sujeto al desplazador), M, espejo; BS, divisor
de haz; PIN, detector al centro del patrn; OSC, osciloscopio. a) doble ventana (plano
objeto). Una contiene a la onda de inspeccin (objeto O) y la segunda a la onda de referencia.
b) Ancho temporal de pulso en funcin del nmero de franjas contadas (seis diversas alturas
de pulso).

Un espejo adherido al soporte (M) se complementa con las componentes

necesarias (BS, M) para construir un interfermetro tipo Michelson, de
modo que la traslacin del actuador se encuentre alineada con un brazo
del interfermetro. Un detector tipo PIN se coloca en el centro de un
patrn preferentement4e circular. Aplicando un pulso de voltaje al
actuador de cierta altura V y duracin del pulso (ancho en ms), se pueden
contar el nmero de las franjas generadas (conteo de franjas). La curva del
tiempo de aplicacin de voltaje en el actuador como funcin del
desplazamiento medido interferomtricamente, permite la eleccin de los

163

tiempos requeridos para inducir los corrimientos elegidos (fig.5.13.b).

stos generalmente son submltiplos del perodo de la rejilla empleada.
A diferencia del mtodo piezoelctrico, esta calibracin resulta
independiente del interferograma. Sin embargo, tambin debe ser
secuencial.

6.4.2 Modulacin de polarizacin.

Por la versatilidad ofrecida por el mtodo de modulacin con
polarizacin, vale la pena detallar
su fundamento.
Dos disturbios elpticamente polarizados pueden ser expresados como

( 6.25 )

donde es una fase introducida por algn retardador. Los disturbios

emergentes de un Polarizador Lineal l al ngulo caracterizado por una
transmisin dada por

( 6.26 )

determina las amplitudes de salida

Entonces, la irradiancia total de la superposicin de los disturbios emergentes

es

El CORRIMIENTO

( 6.27 )

originado es

164

( 6.28 )

con una amplitud

dada por

( 6.29 )

Estas relaciones se verifican para el caso ms conocido de modulacin, que es

cuando se tienen dos polarizaciones circulares opuestas con = /2.

( 6.30 )

Pero la tcnica puede aplicarse an cuando el defasamiento adopte otro

valor distinto, como cuando el retardador disponible no est diseado para
la longitud de onda de trabajo.
El corrimiento de fase, en todo caso, se realiza ajustando el ngulo de
inclinacin del polarizador lineal.
El corrimiento puede hacerse de manera local, por lo que se han
desarrollado elementos polarizantes pixelizados para realizar esta tarea en
muestreos intercalados. Como alternativa, en combinacin con un
elemento multiplexor (rejilla difractiva o interfermetros cclicos en
serie), un polarizador lineal puede actuar en un interferograma de modo
independiente de los dems. En este caso, la calibracin se realiza una
vez, aunque el interfermetro vare al patrn. Esto es una diferencia
importante en comparacin con los sistemas de modulacin, como los
basados en apilamientos piezoelctricos.

165

A.

Holografa interferomtrica con doble referencia.

A.1 Como un ejemplo concreto, considrese el holograma de doble

exposicin con doble referencia. Como se indic en la fig. 6.2, sec. 6.2.2,
la observacin de las franjas requiere de la reconstruccin con ambas
referencias originales (ahora actuando como ondas de lectura) iluminando
al mismo tiempo, tal como se muestra en la fig.6.6. La modificacin que
se indujo en el objeto del caso particular por discutir (esculturilla
representando a un pez), consisti en incorporar a un baln, en slo una
exposicin, sobre la plataforma en que se asentaba la estatuilla (como en
sec.4.3.3).
En la fig. 6.6, se ve que es posible introducir corrimientos de fase fi en una
onda independientemente de la otra. Aunque puede introducirse un
apilamiento piezoelctrico, el esquema muestra la posibilidad de la
modulacin de polarizacin ya descrita.

Figura 6.6. Reconstruccin de holograma heterodino con doble onda de lectura.

Para ello, se imponen polarizaciones circulares de giros opuestos con las

componentes apropiadas en cada onda de lectura, observando al objeto a

166

travs de un polarizador lineal con eje de transmisin al ngulo . Esto

induce un corrimiento en el interferograma.
A.2 La fig. 6.7 es un ejemplo de un patrn observado bajo las
condiciones descritas. La fig. 6.7a es la reconstruccin de una estatuilla
usando una sola onda de lectura, mientras que la fig.6.7b es la
reconstruccin con las dos ondas de lectura segn la fig.6.6. El patrn se
define fuera del objeto en este caso.
Las franjas cubren un rea del detector relativamente grande y tienen un
rango amplio de frecuencias espaciales.

(a)

(b)

Figura 6.7. Reconstruccin de holograma heterodino. a) Una referencia, b) las dos

referencias.

Obteniendo cuatro patrones a distintos ngulos y secuencialmente, se

obtienen resultados de la extraccin de la fase entre los dos diferentes
estados del objeto como los mostrado en la fig.6.8. El procedimiento
seguido para extraccin es el mismo descrito en la sec.6.1.2.

167

Figura. 6.8.a. Determinacin de la fase observada a dos ngulos distintos en el holograma de

la figura previa. b) Desenvolturas respectivas.

El holograma de doble referencia lo describe Dndliker en el marco de la

deteccin heterodina (holograma heterodino). La versatilidad de la tcnica
de modulacin de polarizacin resulta manifiesta, al menos en procesos
donde se mantenga el grado de polarizacin suficientemente.
B.

Interferometra de corrimiento de fase con un solo disparo.

Como otro ejemplo de la modulacin de polarizacin, considrese un

interfermetro de rejilla con doble ventana como el descrito en la sec.4.3.2. La
fig.6.9 muestra un interfermetro de ese tipo, con G(, ) la rejilla o malla de
perodo d y colocada en el plano de Fourier de un sistema telecntrico 4f. El
procedimiento para formar las dos ventanas echa mano de un interfermetro
cclico triangular con divisor de haz polarizante (PBS). PBS-M-M-PBS es el
trayecto del haz con polarizacin contenida en el plano del esquema
(horizontal), mientras que PBS-M-M-PBS es el trayecto del otro haz, con su
polarizacin perpendicular al plano del esquema (vertical). Cada uno de los dos
campos emergentes puede considerarse como ventana si se encuentran
suficientemente separados. Los campos emergentes de PBS tendrn una
separacin transversal s ajustable rumbo al sistema telecntrico. Tal ajuste se
realiza con la translacin de un espejo del interfermetro cclico (M, lnea
punteada indicando posicin con separacin variable distinta a la de M, fija,

168

respecto a PBS). En la figura, a la entrada del sistema telecntrico, se muestra

una separacin de ventanas x0 (comparar con la fig.4.10). La distancia F0 es la
separacin entre rdenes adyacentes

Figura 6.9. Interfermetro de trayectoria comn con dos ventanas generadas con un interfermetro
cclico equipado con divisor de haz cbico polarizante (PBS). El retardador Q (/4) y el polarizador
lineal P a continuacin del lser nicamente permiten ajustar una polarizacin lineal de inicio
apropiada.

Con el arreglo mostrado, la polarizacin del campo de cada ventana generada

ser lineal, aunque de orientaciones mutuamente perpendiculares. Al colocar
un retardador de onda de /4 (Q) frente a estos campos, se consiguen dos
polarizaciones circulares de giros mutuamente contrarios si el eje rpido de la
placa retardadora se halla a 45 de una de las polarizaciones lineales incidentes.
Como se apunt, por ajuste del espejo M, las ventanas saldrn con la
separacin x0 que puede ser, en un caso, menor a F0, o, en otro caso, igual o
mayor a F0. Los rdenes de difraccin (los cuales son repeticiones de las
amplitudes de las ventanas) se muestran en los recuadros A y B de la fig. 6.9,
segn alguno de los dos casos referidos, respectivamente. En trazo continuo, se
esquematizan tres rdenes causados por una ventana. En trazo segmentado, se
esquematizan tres rdenes causados por la otra ventana. Note que las
polarizaciones asociadas a cada trazo son circulares de giros opuestos.

169

Entonces, cualquier patrn de interferencia en la superposicin slo se

observar a travs de un polarizador lineal a determinado ngulo .
B.1 En el caso del recuadro A, en el plano imagen se obtiene la superposicin
de rdenes iguales con desplazamiento lateral s = x0 (sombreado). En el caso
del recuadro B se obtiene la superposicin de rdenes adyacentes con
desplazamiento lateral s = F0-x0 (sombreado).
Cada configuracin es la de un interfermetro de desplazamiento lateral con
desplazamiento s. La rejilla o malla G(, ) acta tanto como desplazador
lateral, como un multiplexor. Los correspondientes patrones de interferencia
pueden detectarse a travs de un polarizador lineal. En dependencia del ngulo
i del polarizador lineal con que se ve la superposicin del i-simo patrn, se
obtendr un corrimiento i. Si los ngulos i se eligen de valores diferentes, se
generarn distintos interferogramas con diferentes corrimientos i. Todo estos
interferogramas podrn estar en un mismo campo, por lo que pueden capturarse
simultneamente con un solo disparo del detector.
B.2 Como un caso especial del recuadro B, si se realizara el ajuste F0 = x0 , se
obtendra la superposicin de iguales rdenes sin desplazamiento (s = 0). El
sistema slo repetira la superposicin de campos sin mutuo desplazamiento (la
rejilla o malla G(, ) actuara como multiplexor nicamente). Pero los
interferogramas resultantes se observarn con diferentes corrimientos si los
ngulos i se eligen diferentes.
En cualquier situacin, en el plano de la imagen se consiguen varios
interferogramas con distintos valores de corrimiento fi = i de manera
simultnea (fig.6.10). Los procedimientos usuales de corrimiento de fase
pueden aplicarse a pesar de la posible variacin en los contrastes de
franjas de cada patrn. Esto se debe a que cada patrn puede normalizarse
entre sus valores mximo y mnimo.

170

Figura 6.10. Interferogramas obtenidos con mallas de fase G(, ) simultnemente registrados en un
solo disparo. Se muestran resultados de cinco, siete y hasta nueve corrimientos. Los corrimientos
emplearon polarizadores lineales a distintos ngulos. Ver plano (x,y) en fig. 6.9.

El procedimiento tal como se ha descrito, sin embargo, resulta apropiado

para frecuencias espaciales de franjas ms bien bajas (una franja en unos
150 pixeles, por ejemplo), especialmente si no se introdujese algn
procedimiento de acoplamiento de pixeles. Cada pixel, en general,
registrara distintas regiones de cada copias de interferograma, por lo que
el error resultante tendera a reducirse cuando la variacin de la franja
fuera pequea en pixeles vecinos.
Esto marca una diferencia en comparacin con el mtodo de Takeda, que
introduce frecuencias espaciales altas.
Si el elemento multiplexor fuese una rejilla, de hacerse el corrimiento con
modulacin de polarizacin no sera necesario trasladar la rejilla
transversalmente una fraccin de perodo. sta puede muy bien
permanecer esttica durante las capturas y algn traslado lateral sera slo
para ajustar la posicin de las franjas que se considere ms conveniente.
As, no se tendra limitante de la frecuencia de la rejilla a emplearse
debida al desplazamiento.

171

6.4.3 Deteccin.
La deteccin en enfoques heterodinos se report inicialmente con
fotomultiplicadores en deteccin puntual. El procesamiento poda ser
analgico. Esto, quiz por las etapas iniciales en que se hallaba el
desarrollo de los detectores bidimensionales como los CCD.
En el caso del mtodo de Takeda, el llamado vidicn jug un papel
importante. El empleo de fotomultiplicadores, por otra parte, determin
mediciones puntuales secuenciales, requiriendo escaneo mecnico para la
cobertura de campos extendidos. El aprovechamiento del rango dinmico
es esencial.
Deteccin
Cmaras TV
Fotomultiplicadores,

Diodos (de avalancha),

Arreglos de diodos,

Mtodo
Heterodino analgico

CuasiHeterodino (secuencial, temporal, one-shot)digital

CCD. CMOS

Vidicn, CCD, CMOS CuasiHetero.( espacial, one-shot Takeda) digital (Fourier)

6.4.4 Procesamiento de interferogramas.

A fin de obtener la distribucin de fase sobre un dominio plano, se
destacan brevemente dos tareas para el procesamiento de interferogramas
capturados digitalmente en dos dimensiones:
_ filtrado de los interferogramas
_ desenvolvimiento de la fase

172

A.

Ejemplos de filtros.

El filtrado se requiere fundamentalmente para suavizar las franjas y, en

general, mejorar su relacin seal a ruido. Estos filtros muchas veces
actan en plano imagen y son empleados particularmente en ESPI. Un
ejemplo se muestra en la fig.6.11.
Muy empleados son los que promedian los valores ponderados de algunos
pixeles vecinos de uno central. Pueden emplearse matrices cuadradas
3X3. Se ejemplifican los efectos de stas y de una 5X5 empleando una
funcin de Mathcad : quantfilt(Imagen, filtro, ponderacin, fig.6.12). Se
usan ponderaciones de valores 0.2 y 0.4. El patrn original est graficado
en I00, mientras que el I01 es su versin con ruido agregado
(fluctuaciones azarosas dentro de 2 con 1.5 de ponderacin) y se
muestran ambos en la fig.6.11. Los detalles y valores se pueden
inspeccionar en el apndice H. El valor 127 normaliza los tonos de gris a
128 bits.

I00 127

I01 127

Figura 6.11. Interferogramas calculados sin ruido (izquierda) y con ruido aditivo azaroso
(derecha).

173

FiltroCuadro32127

FiltroCruz32127

FiltroCuadro52127

FiltroCruz52127

FiltroCuadro34127

FiltroCruz34127

FiltroCuadro54127

FiltroCruz54127

Figura 6.12. Interferogramas con ruido filtrados usando filtros cuadrado y en cruz de 3X3(recuadro
izquierdo) y 5X5 (recuadro derecho) con ponderaciones 0.2 (filas superiores) y 0.4 (filas inferiores).

B.

Desenvoltura.

Debido al empleo de las frmulas involucrando tangentes, la fase obtenida

por los procedimientos del corrimiento de fase se encuentra en un rango
restringido, por ejemplo [-,]. Significa esto que la fase es desconocida
en mltiplos: se encuentra envuelta. Los procedimientos de
desenvoltura de fase se pueden basar en la deteccin de discontinuidades
en la fase envuelta. En los puntos de discontinuidad, se prueban
iterativamente mltiplos (positivos o negativos) de hasta que algn
valor consiga la continuidad en dichos puntos. Este enfoque resulta muy
directo en una dimensin (ver apndices B-G); pero puede complicarse
considerablemente en dos dimensiones (consultar, por ejemplo, Malacara
et al. 1998).
Para ejemplificar, la figura muestra un interferograma de una distribucin
de fase (frente de onda aberrado en interfermetro tipo Twyman-Green
con astigmatismo) de la forma

174


. Por simplicidad, =1.

con

Con el procedimiento de cuatro corrimientos (

resultado de la fase envuelta se muestra en la siguiente grfica,

), el

distribucin de fase envuelta que se busca desenvolver.

Para ello, puede usarse el procedimiento siguiente para una fila (fila 0,s) y
determinar los saltos mayores a /2

175

ind

0 0

for s 0 M 1
F
s

0 s

for s 1 M 1
m

1 if F F

1 if F F

0 s
0 s
0 s

0 s 1
0 s 1
0 s 1

if F F

s 1

s 1

s 1

(6.31)

Para desenvolver, se suman o restan mltiplos de a la distribucin

envuelta (trazo punteado)
Desenvuelta

0 j

0 j

T j

ind

(6.32)

obtenindose la curva continua. En trazo segmentado es el factor de a

sumar o restar (ind).
5

1.553

0
1

0
Desenvuelta0 j
0 j

2 ind j

10

12.566

4
15
0

40

80

120

160

4
200
200

Para dos dimensiones, basndose en la primera fila, se usa el

procedimiento siguiente. El resultado del mltiplo de a sumar o restar a
la fase envuelta se denota por ind2.
A la izquierda se muestran las grficas de la distribucin bidimensional de
los mltiplos, mientras que a la izquierda, las lneas de nivel de los
mismos.

176

ind2

for r 0 N 1
for s 0 M 1
F

r s

0 0

r s

for s 0 M 1
m

0 s

ind

for r 1 N 1
for s 0 M 1
m

1 if F

1 if F

r s
r s
r s

r 1 s
r 1 s
r 1 s

if F

r s

r 1 s

r s
r s

r 1 s

r 1 s

2
2

ind2

(6.33)

ind2

Con la instruccin en dos dimensiones dada por

Desenvuelta2

i j

i j

ind2

i j

(6.34)

se obtiene la siguiente superficie, ya desenvuelta (superficie a la izquierda

y lneas de nivel a la derecha).

177

Desenvuelta2

Desenvuelta2

En el apndice I pueden consultarse mayores detalles del programa usado.

La rutina de desenvolvimiento empleada en la sec.5.4.5 se aprecia en el
apndice G, y ah puede verse que es muy semejante a la descrita para el
caso unidimensional de la presente seccin.
En los apndices B-D se emplearon procedimientos manuales de
desenvolvimiento; pero es claro que pueden incorporarse procedimientos
de desenvolvimiento no manual, como el presentado.
Otros paquetes de matemticas avanzadas cuentan con procedimientos
estndar de desenvolvimiento. En dos dimensiones, el orden en que se
tomen las filas puede cambiar del aqu mostrado.

178

6.5

Comentarios finales.

Se puede finalizar sealando algunos comentarios referentes a los

mtodos heterodinos y de corrimiento de fase.
Las tcnicas interferomtricas heterodina y cuasi-heterodina
superan algunos inconvenientes de la interferometra homodina y
son realizables con equipo similar.
Algunos de los efectos discutidos en el apndice J pueden tener
influencia muy reducida en los errores intrnsecos de estos mtodos.
Estas tcnicas heterodina y cuasi-heterodina se diferencian en la
deteccin y en el procesamiento de los datos.
Las heterodinas (

) han sido reportadas

usando uno, dos o tres detectores fotomultiplicadores, muestreo
mecnico y procesamiento analgico.
Las cuasi-heterodinas (corrimiento de fase con
, integrated
bucket o Fourier) usan arreglos matriciales (CCD, CMOS) y
procesamiento digital.
Los mtodos cuasi-heterodinos pueden aplicarse tanto con
interfermetros pticos como con interfermetros electrnicos
(como en la tcnica de Electronic Speckle Pattern Interferometry,
ESPI).
Las tcnicas heterodinas pueden alcanzar de
a
,
siendo la granulacin coherente (speckle) una de sus mayores
limitaciones.
Los cuasi-heterodinos alcanzan
, siendo sus limitantes:
La linealidad de la modulacin
Los cambios en
y
durante las mediciones
Agentes externos
Constancia en el intervalo de corrimientos
(en ciertos
mtodos que lo requieren)
Mientras los interfermetros heterodinos no empleen detectores de
rpido posicionamiento y direccionamiento, sus velocidades de

179

ejecucin estarn ms limitadas que las contrapartes cuasiheterodinos.

El mtodo de Fourier (Takeda) es de una sola toma, por lo que
pueden analizarse distribuciones de fase variables en tiempo.
El corrimiento de fase no est restringido a ser secuencial si se
adopta un mtodo de copiado de amplitudes (amplitude
multiplexing) junto con un procedimiento de corrimiento de fase
independiente en cada copia.
La modulacin de la polarizacin resulta ser un mtodo de
modulacin de fase con ventajas sobre otros procedimientos. En
particular, posibilita capturas simultneas de varios interferogramas
de la misma situacin, teniendo cada interferograma un valor
diferente de corrimiento de fase. Esta propiedad posibilita el estudio
de evoluciones de fase dinmicas.
La modulacin de polarizacin simplifica los procedimientos de
calibracin.
Como tcnicas de un solo disparo, las de Takeda y de modulacin
de polarizacin se distinguen actualmente en que, la primera de
ellas trabaja con frecuencias espaciales relativamente altas para el
patrn de interferencia, mientras que la segunda, por el contrario,
usa frecuencias espaciales bajas (aun en su modelacin, que es
paraxial).
Las tcnicas heterodinas y las de corrimiento de fase pueden
aplicarse a interfermetros hologrficos, a interfermetros
electrnicos, a interfermetros ESPI y a interfermetros con fibras
pticas.

180

BIBLIOGRAFA BSICA.
Born, M. and E. Wolf, Principles of Optics, Pergamon Press, 1987.
Creith, K., Phase-measurement interferometry techniques, Progress in Optics
XXVI, 1984.
Dndliker, R., Heterodyn holographic interferometry, Progress in Optics XVII,
1980.
Dvila-lvarez, A., Manual de operacin para el paquete ESPI Opto Fringe,
CIO-Len, 1999.
Koliopoulos, C. L., Interferometric optical phase measurement techniques,
Ph.D. dissertation (University of Arizona, Tucson, Arizona, 1981)
Kreis, T., Holographic Interferometry: Principles and Methods, Akademie
Verlag, 1996.
Malacara, D., ed., Optical Shop Testing, Wiley, 1988.
Malacara, D., M. Servn, Z. Malacara, Interferogram Analysis for Optical
Testing, 1998.
Maxfield, B., Essential MATHCAD for Engineering, Science and Math,
Academic Press, 2009.
Michelson, A. A., Studies in Optics, Courier Dover Publications, 1995.
Rodrguez-Zurita, G., Interferometras heterodina y cuasi-heterodina: ideas
fundamentales, Rev. Mex. de Fs. Vol.37 N 3, 1991, pp. 396-417.
Steel, W. H., Interferometry, Cambridge Studies in Modern Optics, Cambridge
University Press, 1983.
Yahaya, A., Y. Munajat, 2D and 3D Phase mapping of laser interacted
interferograms, Jabatan Fizik Universiti Teknologi Malaysia (J. Fiz. UTM),
vol.4, 2009.

181

182