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INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERA MECNICA Y ELCTRICA


UNIDAD ZACATENCO
INGENIERA EN COMUNICACIONES Y ELECTRNICA.
DISPOSITIVOS

ACTIVIDAD 2
Maestro: Sergio Acenzua Bravo
Grupo: 5CM5

Integrantes del equipo:

Garca Garca Mara Fernanda


Mendieta Cruz Jos Faustino
Luis Ramrez Renero
Gabriela Segura Ramrez
Carlos Alejandro Hernndez Arellano

Introduccin

En esta prctica analizaremos el funcionamiento del osciloscopio con un


circuito de prueba y obtendremos las graficas correspondientes segn se pida
la conexin en los elementos.
Objetivo
Obtener las grficas correspondientes en el osciloscopio segn los elementos
empleados en el circuito.

1.- Obtener y comparar las curvas caractersticas (V&I) de un diodo rectificador


de Si y uno de Ge. En cada caso, determinar el valor del voltaje de umbral y

calcular la resistencia esttica y dinmica en la regin directa de conduccin,


para un punto de operacin Q(V0,I0) arbitrario.

2.Utilizando el mismo circuito, acercar un cerillo encendido (por tiempo no mayor


a 5 seg)al diodo bajo prueba y reportar en la misma grafica (en otro color) lo
que se observa

3.- Para el diodo de Si aumentar la temperatura ambiente acercando el cerillo


encendido el tiempo que sea necesario para observar el cambio de la curva
caracterstica al convertirse por unos instantes el diodo en resistencia de pocos
ohms

Conclusiones
Fue interesante ver la estructura interna del diodo de silicio al igual que el
cambio que sufren las curvas caractersticas al momento de entrar en contacto
con el calor, produciendo as que el diodo en determinado momento se
convierta en una pequea resistencia.

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