Difraccion de Rayos X II

UNIVERSIDAD NACIONAL DEL CALLAO
FACULTAD DE CIENCIAS NATURALES Y MATEMTICA

INSTITUTO DE INVESTIGACIN
TEXTO: DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE

EXPERIMENTAL
Lic. Carlos Alberto Quiones Monteverde
(01-03-2011 al 31-08-2012)
(Resolucin Rectoral N 217-2011-R del 14-03-2011)
NDICE
Pgina
NDICE
RESUMEN
INTRODUCCIN
MARCO TERICO
MATERIALES Y MTODOS
RESULTADOS
10
Captulo 1. MEDIDAS DIFRACTOMTRICAS

1.1.
1.2.
1.3.
1.4.
1.5.
1.6.
1.7.
1.8.
1.9.
1.10.
1.11.
Aspectos generales del Difractmetro de rayos X

ptica de los Rayos X
Clculos de intensidad
Contadores Proporcionales
Contadores Geiger
Contadores de Centelleo
Medidores de Tasas de Conteo
Uso de Monocromadores
Laboratorio N 1. Calibracin del Equipo de Rayos X
Laboratorio N 2. Monocromatizacin de los Rayos X de Molibdeno
Laboratorio N 3. Monocromatizacin de los Rayos X de Cobre
11
11
12
13
14
15
16
17
19
22
27
Captulo 2. ORIENTACIN DE MONOCRISTALES

2.1.
2.2.
2.3.
2.4.
2.5.
2.6.
Introduccin
Mtodo de Laue de Retroreflexin
Mtodo de Laue de Transmisin
Mtodo Difractomtrico
Montaje de un cristal en una orientacin requerida
Laboratorio N 4. Orientacin del cristal LiF por el Mtodo de Laue
32
32
33
34
35
36
Captulo 3. ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS POLICRISTALINOS

3.1.
3.2.
3.3.
3.4.
3.5.
3.6.
3.7.
3.8.
3.9.
3.10.
Introduccin
Tamao de Grano
Tamao de Partcula
Perfeccin del cristal
Profundidad de Penetracin de los Rayos X
Orientacin del cristal
Textura de Alambres
Textura de Lmina
Laboratorio N 5. Textura de Lminas con Carine Crystallography 3.1
Laboratorio N 6. Examen de Textura de Lmina
40
40
40
40
40
41
41
41
43
46
1
Captulo 4. DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS I

4.1.
4.2.
4.3.
4.4.
4.5.
4.6.
4.7.
4.8.
Introduccin
Tratamiento preliminar de los datos
Indexado de Patrones de Cristales Cbicos
Mtodo Grfico para el Indexado de Patrones de Cristales No Cbicos
Laboratorio N 7. Patrones de Difraccin con Carine Crystallography 3.1
Laboratorio N 8. Determinacin de Estructuras Cbicas Simples
Laboratorio N 9. Determinacin de Estructuras Cbicas de Caras Centradas
Laboratorio N 10. Determinacin de Estructuras Cbicas de Cuerpo Centrado
50
50
51
51
55
60
64
68
Captulo 5. DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS II

5.1.
5.2.
5.3.
5.4.
5.5.
5.6.
5.7.
Mtodo Analtico para el Indexado de Patrones de Cristales No Cbicos

Efecto de la distorsin de la celda en el patrn de polvo
Determinacin del nmero de tomos en una celda unitaria
Determinacin de posiciones atmicas
Ejemplo de determinacin de estructura
Laboratorio N 11. Determinacin de Estructuras Hexagonales
Laboratorio N 12. Determinacin de Estructuras Tetragonales
72
73
74
74
75
78
84
Captulo 6. MEDIDA PRECISA DE PARMETROS

6.1.
6.2.
6.3.
6.4.
6.5.
6.6.
6.7.
6.8.
Introduccin
Cmara Debye-Scherrer
Cmaras Focalizadoras de Retroreflexin
Cmaras Pinhole
Difractmetros
Mtodo de los Mnimos Cuadrados
Mtodo de Cohen
Laboratorio N 13. Determinacin Precisa del parmetro de red del ClNa
90
90
91
91
91
92
92
93
Captulo 7. ANLISIS CUALITATIVO POR DIFRACCIN

7.1.
7.2.
7.3.
7.4.
Introduccin
Anlisis Cualitativo: Principios Bsicos
El Mtodo Hanawalt
Ejemplos de Anlisis Cualitativo
7.4.1 Muestra de una sola fase
7.4.2 Muestra de dos fases
7.5. Dificultades Prcticas
7.6. Laboratorio N 14. Anlisis Cualitativo
98
98
98
100
100
101
104
105
Captulo 8. ANLISIS CUANTITATIVO POR DIFRACCIN

8.1.
8.2.
8.3.
8.4.
Anlisis Cuantitativo: Principios Bsicos

Mtodo de Comparacin Directa
Mtodo Estndar Interno
Dificultades Prcticas
8.4.1. Orientaciones Preferidas
109
110
112
113
113
2
8.4.2. Microabsorcin
8.4.3. Extincin
8.5. Laboratorio N 15. Anlisis Cuantitativo de muestra bifsica
113
114
115
DISCUSIN
120
REFERENCIALES
122
APNDICE
123
Tabla N 1.- Constantes Fsicas

Tabla N 2.- Filtros para la supresin de radiacin K
Tabla N 3.- Ecuaciones para determinar la distancia entre planos
Cuadro N 1.- Cargado de la pelcula
Cuadro N 2.- Revelado de la pelcula
Slabo de la asignatura Difraccin de rayos X II.
124
124
125
126
127
128
ANEXOS
133
Tabla N 1.- Longitudes de onda de algunas lneas caractersticas de emisin y bordes

de absorcin.
Tabla N 2.- Coeficientes de absorcin msico
Tabla N 3.- ngulos interplanares en cristales cbicos
Tabla N 4.- Nmeros y Pesos Atmicos internacionales
Tabla N 5.- Conjunto de cocientes d12 para el indexado de cristales isomtricos.
Tabla N 6.- Conjunto de cocientes h 2 k 2 2 para el indexado de cristales cbicos
133
136
138
139
140
142
RESUMEN
Se ha elaborado un texto de naturaleza prctica, redactado en lenguaje simple, que
presenta de forma sistemtica y concreta los mtodos experimentales de la difraccin de los
rayos X y su aplicacin en la determinacin de estructuras cristalinas, el anlisis cualitativo y
cuantitativo de sustancias policristalinas y la determinacin de texturas, lo que le permitir ser
usado en forma complementaria con otros textos para el dictado de la asignatura Difraccin de
rayos X II que forma parte de los currculos de estudios de las diversas carreras de ciencias del
pas y en especial de la Escuela Profesional de Fsica de la Facultad de Ciencias Naturales y
Matemtica de nuestra Universidad.
Especficamente, el texto DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE
EXPERIMENTAL presenta en forma clara y detallada los fundamentos, configuracin,
procedimientos y ejecucin de trece (13) experimentos usando la unidad de rayos X de la
marca PHYWE y, asimismo, el diseo y la simulacin de otros dos (2) usando el software
Carine Crystallography 3.1 para una mejor comprensin del curso Difraccin de rayos X II.
Los aspectos tericos del texto se han elaborado en base a los textos mencionados en
los referenciales y la parte experimental se ha desarrollado en base a la traduccin y adaptacin
del Manual de Experimentos de PHYWE y los tutoriales de los programas Measure 4.2 y
Carine Crystallography 3.1. Se han definido experiencias estructuradas sistemticamente para
ser desarrolladas en el tiempo destinado a la sesin de trabajo, que contienen un procedimiento
bien explicado que orienta al estudiante en la ejecucin de las mismas y exhiben un
cuestionario de preguntas para fijar, ampliar o complementar los conceptos tratados.
El resultado muestra que, en contraste con los textos elaborados por otros autores, el
texto DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL hace ms
dinmico y fcil el proceso de enseanza-aprendizaje del aspecto experimental de la asignatura
Difraccin de rayos X II.
INTRODUCCIN
La difraccin de los rayos X es una potente herramienta para la investigacin de la
estructura fina de la materia. Esta tcnica tuvo sus inicios con el descubrimiento de von Laue
en 1912 quien demostr que los cristales difractaban los rayos X y que la forma de la
difraccin revelaba la estructura del cristal. En un inicio, la difraccin de los rayos X se us en
la determinacin de estructuras cristalinas, posteriormente se desarrollaron otros usos y en la
actualidad esta tcnica se aplica, no solamente para la determinacin de estructuras, sino
tambin en el anlisis cualitativo y cuantitativo de sustancias, la medida de tensiones
residuales, la determinacin de texturas, el estudio del equilibrio de fases, la medida del
tamao de las partculas, el control de calidad de materiales, entre otras muchas aplicaciones.
Debido a las muy diversas aplicaciones que tiene la difraccin de los rayos X, muchos
textos se han escrito sobre esta tcnica; cuyos autores, por lo general, exponen con extensin
muy diversa, sus fundamentos y principales aplicaciones y describen los diferentes mtodos
experimentales. Slo Azroff y Donahue (1969) enfocan el estudio de la difraccin de los
rayos X desde el punto de vista del experimento de laboratorio, en un texto en idioma ingls,
para cmaras de difraccin y un difractmetro convencional de rayos X de geometra - 2.
En la Escuela Profesional de Fsica de la Facultad de Ciencias Naturales y Matemtica
de nuestra universidad se imparte la asignatura Difraccin de rayos X II, la cual tiene un
carcter terico, prctico y experimental, en la que se ensean los mtodos experimentales de
la difraccin de los rayos X y su aplicacin en la determinacin de estructuras cristalinas, el
anlisis cualitativo y cuantitativo de sustancias policristalinas, la medida de tensiones
residuales, la determinacin de texturas, el estudio del equilibrio de fases, la medida del
tamao de las partculas, entre otras. Para desarrollar la parte experimental de esta asignatura se
requiere usar la unidad de rayos X - marca PHYWE - adquirida por nuestra Facultad y dos
programas informticos especializados. Por un lado, el Measure 4.2, que es el software usado
para la operacin de la unidad de rayos X y, asimismo, para el registro y el anlisis de los datos
5
obtenidos y, complementariamente, el Carine Crystallography 3.1, que es un software que

permite simular la creacin de estructuras cristalinas, visualizarlas, modificarlas, realizar
diversos clculos cristalogrficos en ellas y simular una variedad de situaciones experimentales
en difraccin de rayos X que incluyen la obtencin de registros difractomtricos y el anlisis de
texturas.
Es necesario expresar que los fundamentos, los mtodos experimentales y las
aplicaciones de la difraccin de los rayos X constituyen temas de asignaturas, que con otras
denominaciones, se imparten en otras carreras profesionales, tales como, Qumica, Ingeniera
Qumica, Ingeniera Metalrgica, Ingeniera de Minas y Ciencias de los Materiales, en otras
universidades.
Como es fcil de entender, la comprensin de cualquier parte de la Fsica y otras
ciencias y el desarrollo de las habilidades, destrezas y anlisis crtico en el trabajo experimental
se refuerzan en los estudiantes directamente en el laboratorio, mediante la ejecucin de
experimentos, los que deben graduarse y exponerse en funcin de los diversos temas del curso.
En este sentido, el planteamiento del problema de la investigacin concluy en la
elaboracin un texto de naturaleza prctica, que presente de forma sistemtica y concreta los
mtodos experimentales de la difraccin de los rayos X y su aplicacin en la determinacin de
estructuras cristalinas, el anlisis cualitativo y cuantitativo de sustancias y la determinacin de
texturas y que explique, asimismo, la configuracin, procedimientos y ejecucin de
experimentos usando la unidad de rayos X PHYWE y el programa informtico Carine
Crystallography 3.1, a fin de que pueda ser usado en forma complementaria con otros textos ya
editados para el dictado de la asignatura Difraccin de rayos X II.
Los principales objetivos planteados para la investigacin consideraron entonces
presentar en forma detallada, clara y precisa las pautas para la ejecucin de experimentos
relacionados a la aplicacin de los mtodos experimentales de la difraccin de los rayos X e
iniciar a los estudiantes en el mtodo cientfico de comprobacin de hiptesis que les permitan
desarrollar sus habilidades experimentales y el anlisis crtico.
La importancia del presente trabajo radica en el hecho que el texto: DIFRACCIN DE
RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL constituye un instrumento para facilitar el
proceso de enseanza-aprendizaje, de acuerdo con los objetivos y contenidos del programa
oficial, de la asignatura Difraccin de rayos X II.
MARCO TERICO
En la asignatura Difraccin de rayos X II se describen los mtodos experimentales de la

difraccin de los rayos X y su aplicacin en la determinacin de estructuras cristalinas, el anlisis
cualitativo y cuantitativo de sustancias policristalinas y la determinacin de texturas, entre otras.
Muchos autores, Buerger (1952), Klug y Alexander (1974), Peiser, Rooksby y Wilson
(1960), Jeffery (1971), Hammond (1997), Warren (1990), Dinnebier y Billinge (2008) entre
otros, han escrito textos relacionados a esta asignatura, generalmente dirigidos a estudiantes de
ciencias y metalurgia, en los que la exposicin de los conceptos, mtodos y aplicaciones son
demasiado extensos lo que limita la presentacin de problemas resueltos y prcticas
experimentales. Otros, Azaroff (1968), Cullity (1978), Bloss (1971), Woolfson (1997),
presentan una teora moderada que acompaan con algunos ejemplos y presentan al final de
cada captulo una lista de problemas propuestos. Muy pocos, Barret (1967), Clark (1955),
Azaroff y Buerger (1958), Henry, Lipson y Wooster (1961), orientan sus textos a aplicaciones
especficas de los rayos X. Slo Azroff y Donahue (1969) han enfocado en su obra el estudio
de la difraccin de los rayos X desde el punto de vista del experimento de laboratorio, en un
texto escrito en idioma ingls, donde se presentan experimentos haciendo uso de cmaras de
difraccin y un difractmetro convencional de rayos X de geometra - 2.
En la actualidad, los difractmetros de rayos X han evolucionado y su operacin, el
registro y el anlisis de los datos se realizan por medio de software, lo cual est indicado en sus
respectivos manuales de operacin y no en textos, como trata Hermbecker (2005) para el
equipo de rayos X de PHYWE. Asimismo, stos no contemplan el uso, explicacin y
aplicacin de los diversos programas informticos especializados que existen en la actualidad
para simular la creacin de estructuras cristalinas y la ejecucin de muy diversas situaciones
experimentales; por todo ello, se delinearon los objetivos del presente trabajo.
MATERIALES Y MTODOS
El texto DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL se ha

desarrollado considerado el ordenamiento clsico de los temas tal como los proponen muchos
de los autores que se citan en los referenciales, Cullity (1978), Azaroff (1968), Klug y
Alexander (1974), Peiser, Rooksby y Wilson (1960), Warren (1990), Dinnebier y Billinge
(2008), entre otros.
Los aspectos tericos del texto se han elaborado en base a los textos mencionados en
los referenciales y la parte experimental se ha desarrollado en base a la traduccin y adaptacin
del manual de experimentos de PHYWE, Hermbecker (2005), y los tutoriales de los programas
Measure 4.2 y Carine Crystallography 3.1. Se han definido experiencias estructuradas
sistemticamente para ser desarrolladas en el tiempo destinado a la sesin de trabajo, que
contienen un procedimiento bien explicado que orienta al estudiante en la ejecucin de las
mismas y exhiben un cuestionario de preguntas para fijar, ampliar o complementar los
conceptos tratados.
Toda la informacin ha sido procesada en un computador personal usando el software
Microsoft Word for Windows 2003, en concordancia con las directivas vigentes, mediante el
cual se han escrito todos los textos, editado todo el formulismo matemtico y elaborado los
esquemas y dibujos relacionados a los diversos temas y experimentos desarrollados.
El mtodo empleado es el inductivo-deductivo que permite desarrollar la Fsica en
forma concreta y ordenada. Este mtodo hace posible mostrar el desarrollo del formulismo que
describe cada uno de los conceptos, as como tambin, el anlisis de los datos y resultados que
se obtienen en las sesiones experimentales.
RESULTADOS
El resultado del presente trabajo de investigacin es el texto: DIFRACCIN DE

RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL, cuyo contenido se expone en ocho
captulos, distribuidos en el orden sealado en el ndice y que se presenta en las pginas
siguientes.
En cada captulo se exponen de manera clara, directa y concisa, a manera de repaso, los
principales conceptos, leyes y frmulas asociados a los temas tratados, a fin de que el
estudiante pueda tener una buena referencia para comprender la configuracin, el
procedimiento y la ejecucin de los experimentos que se presentan y, asimismo, dar solucin a
las preguntas que se plantean en los cuestionarios.
Por otro lado, se han incluido un total de 59 (cincuenta y nueve) figuras en el texto con
el fin de facilitar la comprensin de los temas expuestos o ilustrar, cuando fue necesario, el
montaje de los 15 (quince) experimentos que fueron diseados.
El
uso
del
texto:
DIFRACCIN
DE
RAYOS
II:
UN
ENFOQUE
EXPERIMENTAL, permite unificar los conceptos tericos con el trabajo experimental y

favorece el proceso enseanza-aprendizaje de la asignatura Difraccin de Rayos X II, de
acuerdo a la propuesta silbica para su dictado. Adems, permite afianzar en el estudiante los
conceptos relacionados con los mtodos experimentales de la difraccin de los rayos X y su
aplicacin en la determinacin de estructuras cristalinas, el anlisis cualitativo y cuantitativo de
sustancias policristalinas y la determinacin de texturas.
10
CAPTULO 1
MEDIDAS DIFRACTOMTRICAS
1.1. ASPECTOS GENERALES DEL DIFRACTMETRO DE RAYOS X
Los aspectos esenciales de un
difractmetro se muestran en la Figura
1.1. Una muestra cristalina slida o en
polvo en polvo C, se monta sobre una
mesa H, que puede girar alrededor de
un eje O perpendicular al plano del
dibujo. La fuente de rayos X es S y el
blanco del tubo de rayos X es T. Los
rayos X divergen desde la fuente y son
difractados por la muestra para formar
un haz difractado convergente que
focaliza en la rendija F y luego ingresa
al contador G. A y B son rendijas
especiales que definen y coliman a los
haces incidente y difractado.
La rendija receptora F y el contador se
soportan en un carril E que puede girar
alrededor del eje O y cuya posicin
Figura 1.1.- Esquema del Difractmetro de rayos x
angular 2 puede ser leda sobre la
escala graduada K. Los soportes E y H
estn acoplados mecnicamente de tal forma que una rotacin del contador a travs de 2x
grados es acompaada por la rotacin de la muestra a travs de x grados. Un motor produce el
movimiento del contador a velocidad angular constante.
1.2. PTICA DE LOS RAYOS X
El funcionamiento de un difractmetro de rayos X, se basa en el Principio de focalizacin de
BRAGG-BRENTANO. Este principio establece que para cualquier posicin del sistema de
deteccin de rayos X, el diafragma receptor F del sistema de deteccin y el diafragma de
entrada S (o el foco del tubo de rayos X), estn siempre localizados sobre un crculo
denominado crculo difractomtrico.
La muestra se monta de manera que pueda rotar y su superficie se ubica en el eje de rotacin de
la muestra que es concntrico al eje de rotacin del sistema detector. El haz primario
divergente que incide sobre los planos difractantes de la red, bajo un ngulo de Bragg , es
difractado bajo el mismo ngulo, y debido al acoplamiento mecnico del portamuestra con el
sistema de deteccin, los planos difractantes de la red siempre son tangentes a un crculo de
focalizacin centrado sobre la normal a la muestra y que pasa a travs de F y S.
El crculo de focalizacin no es de tamao constante sino que incrementa su radio cuando el
ngulo de difraccin 2 disminuye, como se muestra en la Figura 1.2, para dos posibles
reflexiones.
11
En el arreglo descrito, la superficie de la muestra se comporta como un espejo con el ngulo

bisector entre la direccin del haz primario y la direccin del haz reflejado. Si la muestra y el
sistema detector giran exactamente en relacin 1:2 de sus ngulos de rotacin, la focalizacin
est garantizada para todas las reflexiones. En un cristal perfecto, la reflexin ocurre
exactamente cuando el ngulo que forma el haz primario y el plano de la red satisface la
ecuacin de Bragg.
Figura 1.2.- Geometra de focalizacin para muestras planas
La apertura angular del haz incidente es seleccionada tal que una mxima porcin de la
muestra sea irradiada. Si se expresa en radianes, la longitud de la porcin de muestra
irradiada es dada por:
R
(1.1)
sen
donde: es el ngulo de difraccin y R es el radio del crculo difractomtrico.
1.3. CLCULOS DE INTENSIDAD
El uso de una muestra plana que forma ngulos iguales con los haces incidente y difractado
hace que el factor de absorcin sea independiente del ngulo .
En la Figura 1.3 el haz incidente, de 1 cm2 de
seccin transversal, tiene intensidad I 0 e
incide sobre una placa de polvo compactado a
un ngulo . La intensidad integrada dI D del
haz difractado que emerge de un elemento de
muestra, de longitud y espesor dx, bajo un
ngulo , es dada por:
I ab
dI D 0 e x (1 / sen 1 / sen ) dx
sen
(1.2)
Figura 1.3.- Difraccin de una placa de polvo
donde: es el coeficiente de absorcin lineal del polvo, a es la fraccin de volumen de la

muestra que contiene partculas que tienen la orientacin correcta para la reflexin del haz
incidente y b es la fraccin de la energa incidente que es difractada por unidad de volumen.
12
1.4 CONTADORES PROPORCIONALES

El funcionamiento de los distintos detectores gaseosos de rayos X (cmara de ionizacin,
contador proporcional, contador Geiger-Muller), se basa en el mismo fenmeno fsico. Al
incidir un haz de rayos X en el recinto de una cmara conteniendo un gas, sus molculas se
ionizan dando origen a un cierto nmero de iones positivos y negativos. El tubo contador es
generalmente un cilindro metlico, con un alambre central aislado, polarizado positivamente.
Un gas eficiente para detectar radiacin CuK es una mezcla de 90% de Xenn y 10% de
Metano, a una presin menor que la atmosfrica. La radiacin entra al contador a travs de una
ventana de Berilio. Si se establece una
ctodo
nodo de alambre
diferencia de potencial V (200 voltios) entre
aislador
dos electrodos situados dentro de la cmara,
Rayos x
Figura 1.4, los iones producidos por la
radiacin son acelerados por los electrodos
correspondientes, dando origen a una pequea
R
corriente elctrica que es una medida de la ventana
intensidad de la radiacin incidente. Este es el
V
principio de la cmara de ionizacin, y fue el
primer elemento detector acoplado a un
difractmetro. Sin embargo, este sistema se Figura 1.4.- Esquema de un detector gaseoso de
rayos X. Segn sea el valor V del potencial aplicado
dej de utilizar, puesto que las corrientes eran entre los electrodos, el detector funciona como
demasiado pequeas y su sensibilidad por lo cmara de ionizacin, contador proporcional o
contador Geiger-Muller.
tanto resultaba muy baja.
Si se aumenta el valor del potencial V hasta unos 2000 voltios, un detector, como el
esquematizado en la Figura 1.4, funciona como contador Geiger. Los iones acelerados por el
campo elctrico pueden volver a ionizar a su vez otros tomos del gas, y a travs de este efecto
de multiplicacin se genera una descarga considerablemente mayor que la de la cmara de
ionizacin. Adems, la magnitud de la descarga es la misma si al contador llegan fotones de
distinta energa, por ejemplo de radiacin CuK (8 keV) o de radiacin MoK (16 keV). El
pulso de corriente resulta de esta manera independiente de la energa de la radiacin incidente.
Como la descarga afecta a un gran nmero de molculas, los iones producidos tardan un cierto
tiempo en volver a recombinarse. Durante este tiempo, denominado tiempo muerto del
contador, del orden de los 200 s, ste no puede detectar nuevos fotones. Aunque el tiempo
muerto de un contador Geiger puede disminuirse agregando pequeas proporciones de gases
orgnicos o halgenos que limitan la magnitud de la descarga, en la medicin de altas
intensidades es necesario efectuar la correccin correspondiente.
Cuando el potencial aplicado entre los electrodos es del orden de 1500 a 1600 voltios, valor
comprendido entre los correspondientes a una cmara de ionizacin y un contador Geiger, el
detector opera como contador proporcional, pues la magnitud del pulso de tensin producida es
directamente proporcional a la energa de los fotones de la radiacin incidente. Un fotn de
radiacin MoK da por lo tanto origen a un pulso cuyo valor es aproximadamente el doble del
correspondiente a la radiacin CuK. Si adems al contador proporcional se le asocia un
circuito electrnico adecuado para distinguir pulsos de distinto tamao el sistema permite
discriminar radiaciones de distinta energa. De esta manera, se puede eliminar de una medicin
de intensidades, gran parte del espectro continuo o ms an, bajo ciertas condiciones, detectar
separadamente las radiaciones K y K de un elemento dado.
Los pulsos producidos por un contador proporcional son muy pequeos y deben ser
13
convenientemente amplificados para poder ser registrados. Los amplificadores electrnicos

deben ser estrictamente lineales, para conservar la proporcionalidad entre la altura de los pulsos
y la energa de los fotones incidentes.
Aunque el procesamiento de los pulsos originados por el contador proporcional es siempre ms
delicado, ste presenta frente al contador Geiger dos ventajas importantes:
Capacidad de discriminar energas, lo que le permite separar una componente de una
determinada longitud de onda.
Tiempo muerto muy pequeo, del orden de algunas dcimas de segundo, de manera que
cualquier correccin puede obviarse en la mayora de los trabajos de laboratorio.
El nmero de pulsos por segundo dado por un contador, sea ste proporcional o Geiger,
depende del potencial aplicado entre sus electrodos, para una radiacin incidente constante. A
partir de un cierto voltaje mnimo V0 el nmero de cuentas aumenta rpidamente, Figura 1.5.
TASA DE CONTEO
Entre V1 y V2 el conteo vara lentamente

meseta - en forma aproximadamente
Meseta
Voltaje
lineal, con una pendiente del orden de
terminal
0.05% por voltio en un rango aproximado
de 200 voltios. Para mantener un error de
Descarga
Voltaje de
conteo menor que 0.2% en un punto
Umbral de
Continua
partida
Voltaje de
intermedio de la meseta, tal como el
Voltaje
operacin
indicado con VT en la misma figura, es
V1
VT
V2
suficiente una estabilidad de la alta
tensin de 6 volts. En el caso del contador
VOLTAJE APLICADO
proporcional, la posicin de la "meseta"
Figura 1.5.- Variacin del conteo en funcin del
voltaje aplicado a un contador proporcional o Geiger
depende adems de la energa de la
radiacin incidente, y se desplaza hacia
valores menores de potencial a medida que disminuye la longitud de onda.
En toda medicin de intensidades con un Difractmetro, es necesario determinar previamente
la posicin de la meseta del tubo contador utilizado.
1.5 CONTADORES GEIGER
Si el voltaje de un contador proporcional se incrementa algunos cientos de voltios, actuar
como un contador Geiger. El voltaje exacto de operacin se determina de la siguiente forma. El
contador es expuesto a un haz de rayos X de intensidad constante y conectado a un circuito
apropiado que medir su tasa de conteo, esto es, la tasa de produccin de pulsos de corriente en
el circuito externo. El voltaje aplicado se incrementa gradualmente desde cero, y se encuentra
que la tasa de conteo vara con el voltaje en la forma que se muestra en la Figura 1.5. Ninguna
cuenta se obtiene debajo de un cierto voltaje mnimo llamado voltaje de partida, pero arriba de
este valor la tasa de conteo se incrementa rpidamente con el voltaje hasta que se alcanza el
umbral de la regin Geiger. En esta regin, llamada la meseta, la tasa de conteo es casi
independiente del voltaje. A voltajes ms all de la meseta, el contador pasa a un estado de
descarga continua. Un contador Geiger se opera en la meseta, normalmente a un sobre voltaje
de aproximadamente 100 voltios, esto es, a 100 voltios ms alto que el umbral. La meseta tiene
una pendiente finita, aproximadamente 0.05 %/voltio, lo que significa que el voltaje de
operacin debe ser estabilizado si la tasa de conteo va a ser exactamente proporcional a la
intensidad de los rayos X. Cifras exactas no pueden darse para el voltaje de partida, el voltaje
del umbral y la longitud de la meseta del contador Geiger, como estas dependen de tales
14
variables como las dimensiones del contador y la naturaleza de la mezcla del gas, pero el
voltaje de operacin de la mayora de contadores se encuentra comnmente en el rango de
1000 a 1500 voltios. Debera notarse que algunos contadores pueden daarse permanentemente
si se somete, por breves perodos, a altos voltajes suficientes para originar una descarga
continua.
Existen varias diferencias importantes entre la accin de un contador Geiger y el de un
contador proporcional:
La absorcin de un cuanto de rayos X en cualquier lugar dentro del volumen de un contador
Geiger provoca una avalancha que se extiende sobre toda la longitud del contador.
El factor de amplificacin del gas de un contador Geiger es por lo tanto mucho ms grande,
aproximadamente 108 a 10 9 , y as el pulso de voltaje en el alambre, ahora es
aproximadamente 1 a 10 voltios. Esto significa que menos amplificacin se necesita en el
circuito externo.
A un voltaje aplicado constante, todos los pulsos Geiger son del mismo tamao,
independiente de la energa del cuanto de rayos X que caus la ionizacin primaria.
1.6 CONTADORES DE CENTELLEO
Este tipo de contador utiliza la capacidad de los rayos X para originar fluorescencia en ciertas
sustancias. La cantidad de luz emitida es proporcional a la intensidad de los rayos X y puede
ser medido por medio de un foto-tubo. Puesto que la cantidad de luz emitida es pequea, una
clase especial de foto-tubo llamado el Foto-multiplicador tiene que ser empleado para obtener
una corriente de salida medible.
La sustancia generalmente usada para detectar los rayos X es un cristal de NaI activado con
una pequea cantidad de Tl(1%). Emite luz azul bajo el bombardeo de rayos X. El cristal es
fijado a la cara de un tubo foto-multiplicador, como es indicado en la Figura 1.6 y protegido de
la luz externa por medio de hojas de Aluminio.
Luz
Fotoctodo
+ 200 V
nodo
+ 400 V
+ 600 V
+ 800 V
+ 1000 V
Rayos X
Sustancia
Luminiscente
+ 100 V + 300 V
+ 500 V
+ 700 V
+ 900 V
Dinodo
Figura 1.6.- Contador de centelleo
Un destello de luz es producido en el cristal para cada cuanto de rayos X absorbido, y esta luz
pasa por el tubo foto-multiplicador y expulsa un nmero de electrones desde el foto-ctodo, el
cual es un material foto-sensitivo generalmente hecho de un compuesto metlico de Cs-Sb. Por
simplicidad, slo uno de estos electrones es mostrado en la Figura 1.6. Los electrones emitidos
son luego arrojados al primero de varios dinodos metlicos, cada uno mantenido a un potencial
positivo de aproximadamente 100 voltios ms que el que le precede, el ltimo est conectado al
circuito de medida. Al alcanzar el primer dinodo, cada electrn del fotoctodo golpea dos
electrones, fuera de la superficie metlica, como es indicado en el dibujo. Estos son arrojados
al segundo dinodo donde cada uno golpea a dos electrones mas y as sucesivamente.
Actualmente, la ganancia en cada dinodo puede ser 4 o 5 y existen por lo menos 10 dinodos.
15
As el factor de absorcin de un cuanto de rayos X en el cristal resulta en la coleccin de un

nmero muy grande de electrones en el dinodo final, produciendo un pulso tan grande como un
pulso Geiger. Adems, todo el proceso requiere menos de un microsegundo, tal que un
contador de centelleo puede operar a tasas tan altas como 10 5 cuentas por segundo sin
prdidas. Como en el contador proporcional, los pulsos producidos en un contador de centelleo
tiene tamaos proporcionales a la energa del cuanto absorbido.
Pero el tamao del pulso correspondiente a un cierto cuanto de energa es mucho menos agudo
que en un contador proporcional, esto es, los pulsos de un contador de centelleo producido por
cuanto de rayos X de una energa dada tiene un tamao medio caracterstico de esa energa,
pero existe tambin un ancho de distribucin de tamaos de pulso alrededor de este promedio.
Como resultado, es difcil discriminar entre cuantos de rayos X de diferentes energas sobre la
base del tamao de pulso.
La eficiencia de un contador de centelleo se aproxima al 100% sobre todo el rango de
longitudes de onda de rayos X, cortas y largas, porque todos los cuantos de rayos X incidentes
son absorbidos en el cristal. Su capital desventaja es su alto ruido de fondo; una llamada
"corriente oscura" de pulsos es producida an cuando ningn cuanto de rayos X incide sobre el
contador. La principal fuente de esta corriente oscura es la emisin termoinica de los
electrones desde el foto-ctodo.
1.7 MEDIDORES DE TASAS DE CONTEO
El medidor de tasa de conteo es un aparato que indica directamente
la tasa de conteo promedio sin necesitar de medidas separadas del
nmero de cuentas y el tiempo. Hace esto por un circuito el que, en
efecto, suaviza la sucesin de pulsos espaciados aleatoriamente del
contador a una corriente estable, cuya magnitud es proporcional a la
tasa promedio de la produccin de pulsos en el contador.
El corazn de un circuito medidor de tasas de conteo es un arreglo en
Figura 1.7.- Circuito
serie de un capacitor y un resistor. Para entender la accin de un
Resistor-capacitor
medidor de tasa de conteo, se debe revisar algunas de las
propiedades del circuito, principalmente la manera en la que la corriente y el voltaje varan con
el tiempo. Considerando el circuito mostrado en la Figura 1.7, en la cual el conmutador S
puede usarse para conectar a a c y as aplicar un voltaje al capacitor, o para conectar b a c y as
cortocircuitar el capacitor y el resistor. Cuando a es
conectado repentinamente a c, el voltaje a travs del
capacitor alcanza su valor final V no
instantneamente sino solamente durante un perodo
Cargando
de tiempo y a una tasa que depende de la resistencia
R y la capacitancia C, como se muestra en la Figura
1.8. El producto de R y C tiene las dimensiones de
Descargando
tiempo y puede demostrarse que el voltaje a travs
del capacitor alcanza el 63% de su valor final en un
tiempo dado por RC, conocido como la constante de
Tiempo
tiempo del circuito. El tiempo necesario para
Figura 1.8.- Variacin de voltaje
alcanzar el 99% de su valor final es 4.6 RC.
con el tiempo en el circuito RC.
Inversamente, si el capacitor completamente
cargado, portando una carga Q C V , es rpidamente cortocircuitado a travs del resistor
conectando b a c, la carga inmediatamente no desaparece sino que se escapa a una tasa que
16
depende de la constante de tiempo. La carga decae al 37% de su valor inicial en un tiempo

igual a RC y al 1% en un tiempo igual a 4.6 RC.
Un circuito completo de un medidor de tasa de conteo consta de dos partes. La primera es una
parte de formacin y amplificacin de pulso que convierte electrnicamente los pulsos del
contador, los cuales varan en amplitud y forma de contador a contador, en pulsos rectangulares
de dimensiones fijas en voltaje y tiempo. Estos
Entrada de pulsos
pulsos son luego alimentados a la segunda parte, la
cual es el circuito de medida mostrado en la Figura
1.9, que tiene una constate de tiempo R 2 C 2 . S,
mostrado como un conmutador simple, es
actualmente un circuito electrnico que conecta a a c
cada vez que un pulso llega y luego conecta b a c
acto seguido. Una carga constante es as adicionada
al capacitor para cada pulso recibido y esta carga
Figura 1.9.- Parte del circuito del
fuga a travs del resistor hasta que, en equilibrio, la
medidor de tasas de conteo
tasa de adicin de carga es justamente equilibrada
por la tasa de fuga. La tasa de fuga de carga es simplemente la corriente a travs del micro
ampermetro M, el cual indica por lo tanto la tasa de produccin de pulsos en el contador y, a la
vez, la intensidad de los rayos X. El circuito usualmente contiene, adicionalmente al medidor,
un registrador de grficos que produce un registro continuo de la intensidad.
An cuando la intensidad de los rayos X es constante, el espaciado de los pulsos del contador
es aleatorio en el tiempo, lo cual significa que la tasa de conteo vara con el tiempo en perodos
cortos. El medidor de tasa de conteo responde a estas fluctuaciones estadsticas en la tasa de
conteo, y su rapidez de respuesta es mayor que la constante de tiempo ms pequea. Esto sigue
del anlisis del circuito capacitor-resistor: cualquier cambio en la tasa de pulsos origina un
cambio en la corriente a travs del circuito. Las fluctuaciones al azar en la tasa de conteo son
ms evidentes con una constante de tiempo pequea, debido a que la corriente en el circuito
entonces sigue los cambios en la tasa de conteo ms estrechamente.
1.8 USO DE MONOCROMADORES
Algunos problemas de investigacin, principalmente la medida de dispersin difusa fuera de
ngulos Bragg, necesitan de un haz incidente estrictamente monocromtico si los efectos a ser
medidos son ocultados por el espectro continuo. En tal caso, un monocromador cristalino de
focalizacin puede usarse en conjunto con un
difractmetro en la forma que se muestra en
la Figura 1.10. Los rayos de la fuente lineal S
en el blanco T del tubo de rayos X son
difractados por el cristal arqueado y cortado
M hacia un foco lineal en S', localizado en el
crculo difractomtrico, y luego divergen
hacia el espcimen C. Despus de la
difraccin desde el espcimen, ellos son otra
vez focalizados en F, la rendija receptora del
contador. La geometra del difractmetro es
Figura 1.10.- Uso de un cristal monocromador
por lo tanto idntica con la mostrada en la
con un difractmetro
Figura 1.1 pero con la diferencia importante
que los rayos X incidentes sobre el espcimen son monocromticos y surgen de la fuente
virtual S, la lnea focal del cristal monocromador.
17
Existe otro mtodo de operacin bajo condiciones esencialmente monocromticas, un mtodo

tpico para el difractmetro, y que consiste en el uso de filtros de Ross, tambin llamados
filtros balanceados. Este mtodo depende del hecho que los coeficientes de absorcin de todas
las sustancias varan de la misma manera con la longitud
-1
CuK
de onda; esto es, son proporcionales a 3 . Si los filtros se 4000 (cm )
hacen con dos sustancias que difieren en uno en nmero
atmico, y sus espesores son ajustados tal que producen
la misma absorcin para una longitud de onda particular, 3000
entonces tendrn las mismas longitudes de onda excepto
aquellas que se ubican en la regin estrecha de longitudes
de onda entre los bordes de absorcin K de las dos 2000
sustancias. Esta regin es llamada la banda de paso de la
combinacin de filtros. Si esos filtros son ubicados
alternativamente en un haz de rayos X heterocromtico,
Co
1000 Ni
Ni
esto es un haz que contiene rayos de diferentes longitudes
Co
de onda, entonces la diferencia entre las intensidades
transmitidas en cada caso es debido solamente a las
(A)
0
longitudes de onda ubicadas en la banda de paso. Cuando
2.0
0.5
1.0
1.5
la banda de paso se elige para incluir una componente Figura 1.11.- Coeficientes de absorcin
caracterstica fuerte del espectro, entonces el efecto neto lineal de los filtros
es el de un haz monocromtico fuerte.
El aislamiento de la radiacin CuK se puede tomar como ejemplo. Su longitud de onda es
1.542 A, lo cual significa que el cobalto y el nquel pueden usarse como materiales filtros
debido a que sus bordes de absorcin K, 1.608 y 1.488 A, respectivamente, efectivamente aisla
I
la lnea CuK. Sus coeficientes de absorcin lineal son
CuK
x Ln x
representados grficamente en la Figura 1.11, la cual muestra
I0
que el balanceo puede obtenerse haciendo que el filtro de
nquel sea ms delgado que el de cobalto. Cuando sus
espesores x se ajustan a la razn correcta, entonces
Co
Ni x Ni Co x Co excepto en la banda de paso, y una grfica
de x vs. tiene la apariencia de la Figura 1.12. Puesto que
Banda
de paso
x Ln I x / I 0 , los factores de transmisin I x / I 0 , razn de
Ni y Co
la intensidad transmitida a la incidente, de los dos filtros son
Ni y Co
Ni
ahora iguales para todas las longitudes de onda excepto
aquellas de la banda de paso, la que tiene una ancho de 0.12 A
solamente. Para cada ngulo 2 al cual la intensidad va a
(A)
medirse con el difractmetro, se ubica primero un filtro y 0.5
2.0
1.0
1.5
despus el otro en el haz difractado antes de que entre al
contador. Luego se mide la intensidad del haz difractado que Figura 1.12.- Valores x despus
del balanceo.
pasa a travs de cada filtro y la diferencia de las medidas da
solamente la intensidad difractada de la lnea CuK y de las longitudes de onda relativamente
dbiles inmediatamente adyacentes a ella en la banda de paso.
18
LABORATORIO 1
CALIBRACIN DEL EQUIPO DE RAYOS X
OBJETIVOS.
Calibrar el gonimetro de la unidad de rayos X PHYWE.

Verificar la calibracin del gonimetro.
TEORA.Los aspectos esenciales del equipo de rayos X PHYWE se muestran en la Figura 1. Un cristal
C o una muestra cristalina en polvo, en un portamuestra plano, se monta sobre una base B, que
puede girar alrededor de un eje perpendicular al plano del dibujo. Los rayos X divergen desde
el tubo T y son difractados por el cristal o la muestra para formar un haz difractado
convergente que se focaliza en la rendija R y luego ingresa al tubo contador G. El cristal o la
muestra deben quedar a distancias iguales del diafragma tubular D del tubo de rayos X y de la
rendija R del tubo contador, de tal forma que se cumpla el Principio de focalizacin de
BRAGG-BRENTANO que establece que para cualquier posicin del sistema de deteccin de
rayos X, el diafragma receptor del sistema de deteccin y el diafragma de entrada del tubo de
rayos X siempre deben estar localizados sobre el crculo difractomtrico.
Crculo Difractomtrico
G
T
R
B
2
C
Figura 1.- Esquema de la unidad de rayos X PHYWE
El brazo que soporta el tubo contador puede acoplarse con la base que soporta el cristal de tal
forma que a una rotacin 2 del contador le corresponda una rotacin del cristal. Un motor
produce el movimiento del tubo contador a velocidad angular constante.
19
Si el cristal y el tubo contador giran exactamente en relacin 1:2 de sus ngulos de rotacin, la
focalizacin est garantizada para todas las reflexiones. Para que esto sea posible es necesario
ajustar apropiadamente la posicin del cristal respecto al tubo contador.
Debido a que la posicin correcta del cristal respecto al tubo contador puede ser inapropiada
debido al transporte de la unidad de rayos X, o a que los cristales analizadores pueden tener un
error en sus orientaciones por la desviacin de sus principales ejes cristalogrficos tal que las
lneas caractersticas del espectro de rayos X no son halladas en los ngulos de difraccin
esperados, o despus de reemplazar un cristal analizador por otro, es necesario calibrar el
gonimetro ajustando correctamente la posicin del cristal analizador respecto al tubo
contador.
En un cristal perfecto la reflexin ocurre exactamente cuando el ngulo que forma el haz
primario y el plano de la red cristalina satisface la ecuacin de Bragg:
(1)
n 2 d sen
donde n es el orden de difraccin, la longitud de onda del haz incidente y d la distancia entre
los planos (hkl) del cristal.
El mtodo de Bragg conduce a la ventaja de obtener grandes intensidades con una alta
resolucin de las reflexiones. La intensidad registrada por el contador, en cada posicin
angular, queda determinada por el nmero de cuentas por unidad de tiempo. Los diferentes
valores (hkl) de las reflexiones de Bragg son registradas como una serie de picos, logrando as
un registro denominado difractograma, que indica cmo vara la intensidad de los rayos X
difractados en funcin del ngulo 2, siempre y cuando las condiciones de operacin del tubo
de rayos X se mantengan constantes.
MATERIALES Y EQUIPOS.Unidad de rayos X
Gonimetro
Tubo de rayos X con nodo de Cu
Tubo contador tipo B

Cristal de LiF (100) d = 2.01410-10 m
Computador personal
PROCEDIMIENTO.Calibracin del gonimetro

1. Instalar el tubo de rayos X con nodo de cobre e insertar en el orificio de salida del haz el
diafragma tubular que tenga el agujero de dimetro ms ancho para permitir la mxima
intensidad de radiacin.
2. Montar el cristal de LiF en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
Figura 2.- Panel de control de la unidad de rayos X PHYWE
3. Usando el botn 3 del panel de control de la unidad de rayos X, mostrado en la Figura 2,

fijar el voltaje a 35 kV y la corriente a 1 mA girando la rueda 1. Confirmar cada valor
presionando el botn 2 "Enter".
4. Presionar el botn 5.2 para seleccionar el modo acoplado (cristal + tubo Geiger-Mller).
20
5. Girar la rueda 1 al ngulo 22.6 , que est documentado como el ngulo para el cual se
espera que la intensidad sea la ms alta para el tipo de cristal seleccionado.
6. Usando el botn 6 encender el alto voltaje. De no encender el tubo de rayos X revisar el
cierre y el seguro de la puerta.
7. Con el botn 5.2 cambiar del modo acoplado al modo tubo o modo cristal. Alternar los
modos tubo y cristal mientras se cambia, respectivamente, la posicin del tubo y el cristal
individualmente en pasos de 0.1 hasta que se alcance la mxima intensidad.
8. Regresar al modo acoplado con el botn 5.2, leer la posicin del ngulo y calcular la
desviacin. Por ejemplo, si resulta que el ngulo es 23.0, entonces la desviacin es + 0.4.
9. Apagar el alto voltaje con el botn 6.
10. Girar la rueda 1 a la posicin corregida cero del ngulo que equivale a la desviacin del
ngulo esperado. En nuestro ejemplo, la posicin corregida cero debe ser + 0.4. Presionar
el botn 2 Enter y la lectura del ngulo en la pantalla cambiar a 0.0. Apagar la unidad
de rayos X.
Verificacin de la calibracin del gonimetro
11. Ubicar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro en la salida del tubo de rayos X, cerrar y
asegurar la puerta.
12. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure. Seleccionar
del men Archivo/Nueva medida o presionar el botn rojo de registro ubicado en la barra
de accesos directos de la pantalla principal del programa.
13. En el cuadro de dilogo introducir los siguientes valores:
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Registro de datos : ngulo del cristal
Tiempo de integracin : 3 s
Tensin constante : 35 kV
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: LiF
ngulo de arranque
: 3
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 55
Filtro
: sin filtro
Incremento del ngulo : 0,1
14. Seleccionar Continuar y en el cuadro de dilogo que aparece seleccionar iniciar medida.
Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X.
CUESTIONARIO.1. Considerando que la distancia interplanar del cristal LiF es 2.01410-10 m y que la longitud
de onda de la radiacin K del cobre es 1.54178 A, determinar la posicin angular de los
correspondientes picos de intensidad para el primer y segundo orden de difraccin.
2. Comparar los valores de los ngulos obtenidos en la pregunta anterior con los observados
directamente en el registro para los picos de intensidad del primer y segundo orden de
difraccin. Determinar los errores absoluto, relativo y porcentual de la medicin.
3. Considerando que la distancia interplanar del cristal LiF es 2.01410-10 m y que la longitud
de onda de la radiacin K del cobre es 1.39217 A, determinar la posicin angular de los
correspondientes picos de intensidad para el primer y segundo orden de difraccin.
4. Comparar los valores de los ngulos obtenidos en la pregunta anterior con los observados
directamente en el registro para los picos de intensidad del primer y segundo orden de
difraccin. Determinar los errores absoluto, relativo y porcentual de la medicin.
5. En qu posicin angular del espectro del cobre debera aparecer el pico de intensidad K
en un tercer orden de difraccin usando el cristal LiF como analizador?
6. Cules son las fuentes de error que influyen en el experimento y originan la aparicin de
los errores determinados en las preguntas 2 y 4?
7. De qu factores, cree usted, depende la aparicin de un determinado nmero de picos de
intensidad en un espectro de difraccin?
21
LABORATORIO 2
MONOCROMATIZACIN DE LOS RAYOS X DE MOLIBDENO
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X emitidos por un tubo de rayos X con nodo de
molibdeno en funcin del ngulo de Bragg, usando monocristales de LiF y KBr como
analizadores.
Calcular los valores de la energa de las lneas caractersticas del molibdeno.
Filtrar la lnea caracterstica MoK usando el monocristal de LiF y registrar la
monocromatizacin que tiene lugar.
Registrar la intensidad de los rayos X emitidos por un tubo de rayos X con nodo de
molibdeno en funcin del ngulo de Bragg, usando monocristales de Li y KBr como
analizadores y un filtro de Zirconio.
TEORA.Los rayos X emitidos desde un tubo de rayos X son policromticos. Las lneas caractersticas
para el material del nodo, cuyas energas no son dependientes del voltaje del nodo, se
superponen en el espectro continuo. Radiacin monocromtica se requiere para muchas
investigaciones en rayos X, por ejemplo, el anlisis estructural mediante el mtodo DebyeScherrer. Tal radiacin puede obtenerse usando filtros cristalinos o filtros de absorcin.
Monocromatizacin por medio de cristales
Cuando rayos X de longitud de onda incide sobre un monocristal bajo un ngulo de
inclinacin , interferencia constructiva despus de la dispersin solamente ocurre cuando los
recorridos de las ondas parciales sobre los planos de la red difieren en una o ms longitudes de
onda. Esta situacin es explicada por la ecuacin de Bragg:
(1)
2 d sen n
donde: d es la distancia interplanar y n es el orden de difraccin.
Cuando el valor de d es conocido y el ngulo de desviacin es medido, la energa de los
rayos X puede calcularse usando la siguiente relacin:
nhc
E
(2)
2 d sen
donde: h 6.6256 10 34 Js y c 2.9979 10 8 m / s .
Si slo se requiere una porcin estrecha del espectro policromtico, entonces el cristal
analizador debe ser llevado a la posicin angular de desvo apropiada, por ejemplo, la lnea
K. Un anlisis posterior, llevado a cabo usando la rotacin independiente del tubo contador y
la correspondiente salida anloga para la posicin angular del tubo contador, indica que la
porcin dispersada consiste solamente de una aguda lnea intensa de energa E K .
Monocromatizacin por medio de absorcin
Si una lamina metlica delgada de espesor x se introduce en la trayectoria de un haz de rayos X
de intensidad I 0 , la atenuacin de la intensidad puede ser descrita por la ley de absorcin:
22
I I0 e x
(3)
donde: es el coeficiente de absorcin lineal.
Aun cuando el coeficiente de absorcin es dependiente de la longitud de onda o la energa,

generalmente no muestra un cambio drstico dentro de un intervalo de energas de varios keV.
As, puede esperarse una atenuacin muy similar a la absorcin normal. Una absorcin
completamente diferente, discontinua y caracterstica aparece, cuando la energa de los quantos
de rayos X apenas es suficiente para ionizar los tomos de las capas ms internas del material
absorbente. Este borde de absorcin puede usarse para eliminar ciertos rangos de longitud de
onda del espectro original.
Por ejemplo, las laminas delgadas del circonio (Z = 40) se usan para eliminar la lnea K del
espectro de rayos X del molibdeno (Z = 42), debido a que la energa del nivel K del circonio
( E K ( Zr ) 17.997 keV ) se ubica ligeramente debajo de la energa de la lnea K
( E K (Mo) 19.599 keV ).
La energa de la lnea MoK es demasiada baja para producir la ionizacin en las capas K del
circonio; as, debido a la absorcin normal, esta lnea es slo ligeramente atenuada por el filtro
de Zr.
EQUIPOS Y MATERIALES.Unidad de rayos X
Gonimetro
Tubo de rayos X con nodo de Mo
Cristal de LiF (100) d = 2.01410-10 m

Cristal de KBr (100) d = 3.2910-10 m
Diafragma tubular con lmina de Zr
Computador personal
PROCEDIMIENTO.1. Instalar el tubo de rayos X con nodo de molibdeno y montar el experimento como se
muestra en la Figura 1.
Figura 1.- Montaje experimental para la monocromatizacin de los rayos X del molibdeno
23
2. Fijar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro en la salida del tubo de rayos X y montar el

monocristal de LiF en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
del men Archivo/Nueva medida o presionar el botn de registro rojo en el panel de
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Tiempo de integracin
Modo rotacin
Cristal
: LiF
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: sin filtro
Incremento del ngulo
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 4
: 35
: 0,1

6. Retirar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro de la salida del tubo de rayos X y fijar en
ella el diafragma tubular con lmina de Zr. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: LiF
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: Zr
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 4
: 35
: 0,1

Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido con el filtro de Zr y apagar el
equipo de rayos X.
10. Retirar el diafragma tubular con lmina de Zr de la salida del tubo de rayos X y fijar en ella
el diafragma tubular de 2 mm de dimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
24
12. Completar el cuadro de dilogo como se indica en la figura.
Cuando termine el registro, archivar el espectro de monocromatizacin obtenido con el
cristal de LiF y apagar el equipo de rayos X.
14. Desmontar el monocristal de LiF del soporte del gonimetro y montar el monocristal de
KBr en l. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: KBr
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: sin filtro
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 4
: 30
: 0,1
ella el diafragma tubular con lmina de Zr. Cerrar y asegurar la puerta.
25

botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: KBr
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: Zr
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 4
: 30
: 0,1
CUESTIONARIO.1. Determinar los valores de los ngulos correspondientes a las lneas de intensidad K y K de
los tres primeros rdenes del registro de intensidad del molibdeno con el cristal de LiF como
analizador.
2. Determinar los valores medios de las longitudes de onda correspondientes a las lneas de
intensidad K y K del molibdeno y compararlos con los valores aceptados en tablas.
3. Calcular la energa, en keV, de cada una de las lneas del registro de intensidad obtenido del
molibdeno. Considere que 1 eV 1.6021 10 19 J .
4. Determinar los valores de los ngulos correspondientes a las lneas de intensidad K y K de
los cuatro primeros rdenes del registro de intensidad del molibdeno con el cristal de KBr
como analizador.
molibdeno. Considere que 1 eV 1.6021 10 19 J .
6. Obtener los valores promedios de las energas, en keV, de cada una de las lneas y
compararlos con los valores tericos.
7. Comparar el registro de intensidad obtenido con analizador de LiF y filtro de Zr con el
correspondiente registro de intensidad obtenido sin filtro. Qu observa en las intensidades
K y K? Cul es la razn de intensidad K a K en cada registro?
8. Comparar el registro de intensidad obtenido con analizador de KBr y filtro de Zr con el
9. Qu observa en el registro de monocromatizacin de los rayos X del molibdeno obtenido
usando el cristal de LiF?
26
LABORATORIO 3
MONOCROMATIZACIN DE LOS RAYOS X DE COBRE
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X emitidos por un tubo de rayos X con nodo de cobre
en funcin del ngulo de Bragg, usando monocristales de LiF y KBr como analizadores.
Calcular los valores de la energa de las lneas caractersticas del cobre.
Filtrar la lnea caracterstica CuK usando el monocristal de LiF y registrar la
monocromatizacin que tiene lugar.
Registrar la intensidad de los rayos X emitidos por un tubo de rayos X con nodo de cobre
en funcin del ngulo de Bragg, usando monocristales de Li y KBr como analizadores y un
filtro de Nquel.
TEORA.Los rayos X emitidos desde un tubo de rayos X son policromticos. Las lneas caractersticas
para el material del nodo, cuyas energas no son dependientes del voltaje del nodo, se
superponen en el espectro continuo. Radiacin monocromtica se requiere para muchas
investigaciones en rayos X, por ejemplo, el anlisis estructural mediante el mtodo DebyeScherrer. Tal radiacin puede obtenerse usando filtros cristalinos o filtros de absorcin.
Monocromatizacin por medio de cristales
Cuando rayos X de longitud de onda incide sobre un monocristal bajo un ngulo de
inclinacin , interferencia constructiva despus de la dispersin solamente ocurre cuando los
recorridos de las ondas parciales sobre los planos de la red difieren en una o ms longitudes de
onda. Esta situacin es explicada por la ecuacin de Bragg:
(1)
2 d sen n
donde: d es la distancia interplanar y n es el orden de difraccin.
Cuando el valor de d es conocido y el ngulo de desviacin es medido, la energa de los
rayos X puede calcularse usando la siguiente relacin:
nhc
E
(2)
2 d sen
donde: h 6.6256 10 34 Js y c 2.9979 10 8 m / s .
Si slo se requiere una porcin estrecha del espectro policromtico, entonces el cristal
analizador debe ser llevado a la posicin angular de desvo apropiada, por ejemplo, la lnea
K. Un anlisis posterior, llevado a cabo usando la rotacin independiente del tubo contador y
la correspondiente salida anloga para la posicin angular del tubo contador, indica que la
porcin dispersada consiste solamente de una aguda lnea intensa de energa E K .
Monocromatizacin por medio de absorcin
Si una lamina metlica delgada de espesor x se introduce en la trayectoria de un haz de rayos X
de intensidad I 0 , la atenuacin de la intensidad puede ser descrita por la ley de absorcin:
27
I I0 e x
(3)
donde: es el coeficiente de absorcin lineal.
Aun cuando el coeficiente de absorcin es dependiente de la longitud de onda o la energa,

generalmente no muestra un cambio drstico dentro de un intervalo de energas de varios keV.
As, puede esperarse una atenuacin muy similar a la absorcin normal. Una absorcin
completamente diferente, discontinua y caracterstica aparece, cuando la energa de los quantos
de rayos X apenas es suficiente para ionizar los tomos de las capas ms internas del material
absorbente. Este borde de absorcin puede usarse para eliminar ciertos rangos de longitud de
onda del espectro original.
Por ejemplo, las laminas delgadas del nquel (Z = 27) se usan para eliminar la lnea K del
espectro de rayos X del cobre (Z = 29), debido a que la energa del nivel K del nquel
( E K ( Ni) 8.33 keV ) se ubica ligeramente debajo de la energa de la lnea K
( E K (Cu ) 8.90 keV ).
La energa de la lnea CuK es demasiada baja para producir la ionizacin en las capas K del
nquel; as, debido a la absorcin normal, esta lnea es slo ligeramente atenuada por el filtro de
Ni.
Gonimetro
Cristal de LiF (100) d = 2.01410-10 m

Cristal de KBr (100) d = 3.2910-10 m
Diafragma tubular con lmina de Ni
Computador personal
PROCEDIMIENTO.1. Instalar el tubo de rayos X con nodo de cobre y montar el experimento como se muestra
en la Figura 1.
Figura 1.- Montaje experimental para la monocromatizacin de los rayos X del cobre
28

monocristal de LiF en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: LiF
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: sin filtro
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 3
: 55
: 0,1

ella el diafragma tubular con lmina de Ni. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: LiF
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: Ni
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 3
: 55
: 0,1

Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido con el filtro de Ni y apagar el
equipo de rayos X.
10. Retirar el diafragma tubular con lmina de Ni de la salida del tubo de rayos X y fijar en ella
el diafragma tubular de 2 mm de dimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
29
12. Completar el cuadro de dilogo como se indica en la figura.
Cuando termine el registro, archivar el espectro de monocromatizacin obtenido con el
cristal de LiF y apagar el equipo de rayos X.
14. Desmontar el monocristal de LiF del soporte del gonimetro y montar el monocristal de
KBr en l. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: KBr
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: sin filtro
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 3
: 55
: 0,1
ella el diafragma tubular con lmina de Ni. Cerrar y asegurar la puerta.
30

botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
Modo rotacin
Cristal
: KBr
ngulo de arranque
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
Filtro
: Ni
: 1 mA
:2s
: acoplado 2:1
: 3
: 55
: 0,1
CUESTIONARIO.1. Determinar los valores de los ngulos correspondientes a las lneas de intensidad K y K de
los tres primeros rdenes del registro de intensidad del cobre con el cristal de LiF como
analizador.
2. Determinar los valores medios de las longitudes de onda correspondientes a las lneas de
intensidad K y K del cobre y compararlos con los valores aceptados en tablas.
cobre. Considere que 1 eV 1.6021 10 19 J .
4. Determinar los valores de los ngulos correspondientes a las lneas de intensidad K y K de
los tres primeros rdenes del registro de intensidad del cobre con el cristal de KBr como
analizador.
cobre. Considere que 1 eV 1.6021 10 19 J .
6. Obtener los valores promedios de las energas, en keV, de cada una de las lneas y
compararlos con los valores tericos.
7. Comparar el registro de intensidad obtenido con analizador de LiF y filtro de Ni con el
8. Comparar el registro de intensidad obtenido con analizador de KBr y filtro de Ni con el
9. Qu observa en el registro de monocromatizacin de los rayos X del cobre obtenido usando
el cristal de LiF?
31
CAPTULO 2
ORIENTACIN DE MONOCRISTALES
2.1. INTRODUCCIN
Mucho de nuestro conocimiento de las propiedades de los materiales policristalinos ha sido
obtenido a partir del estudio de monocristales aislados, debido a que tales estudios permiten la
medida de las propiedades de los bloques individuales en la masa del compuesto. Debido a que
los monocristales son usualmente anisotrpicos, el investigar esta clase siempre requiere del
conocimiento exacto de la orientacin del monocristal para que esas medidas puedan ser
hechas a lo largo de direcciones o planos cristalogrficos conocidos. Variando la orientacin
del cristal, podemos obtener datos sobre la propiedad fsica medida como una funcin de la
orientacin del cristal.
Los tres principales mtodos de rayos x para la determinacin de la orientacin de un cristal
son:
El mtodo de Laue de retroreflexin
El mtodo de Laue de transmisin
El mtodo difractomtrico
2.2. MTODO DE LAUE DE RETROREFLEXIN
En este mtodo todos los planos de una zona
reflejan haces que se ubican sobre la superficie de
un cono cuyo eje es el eje de zona y cuyo ngulo
de semi-vrtice es igual al ngulo que forma el
eje de zona con el haz transmitido, como se
muestra en la Figura 2.1. Para 45 90 , el
cono intercepta la pelcula en una hiprbola. Las
manchas de difraccin sobre una pelcula de
retroreflexin se ubican sobre hiprbolas o lneas
rectas y la distancia de cualquier hiprbola del
centro de la pelcula es una medida de la
inclinacin del eje de zona.
Figura 2.1.- Cono de haces difractados en el

mtodo de Laue de retroreflexin
En la Figura 2.2 la pelcula es vista desde el cristal.

El haz reflejado por el plano mostrado golpea a la pelcula en el punto S(x,y). La normal a este
plano reflectante es CN y se asume que el plano pertenece a una zona cuyo eje se ubica en el
plano yz.
La orientacin de la normal al plano en el espacio puede ser descrito por sus coordenadas
angulares y a partir de las coordenadas x e y medidas sobre la pelcula, las mismas que se
relacionan segn:
(2.1)
x D tan 2 sen
(2.2)
y D tan 2 cos
tan
tan
donde: D es la distancia de la muestra a la pelcula, tan
y tan
.
sen
sen cos
32
Los valores de y son medidos directamente usando la carta de Greninger que se muestra en
la Figura 2.3.
Figura 2.2.- Localizacin de una mancha de

Laue de retroreflexin
Figura 2.3.- Carta de Greninger
2.3. MTODO DE LAUE DE TRANSMISIN

En este mtodo las manchas de
difraccin sobre la pelcula, debido a los
planos de una zona en el cristal, siempre
se ubican sobre una elipse completa para
valores suficientemente pequeos de ,
el ngulo entre el eje de zona y el haz
transmitido, como se muestra en la
Figura 2.4. Para valores ms grandes de
, la elipse es incompleta debido al
tamao finito de la pelcula. Cuando
45 , la curva pasa a ser una
parbola, cuando 45 es una
Figura 2.4.- Cono de haces difractados en el mtodo de
hiprbola y cuando 90 , es una lnea
Laue de transmisin.
recta. En todos los casos la curva pasa a
travs de la mancha central formada por el haz transmitido.
Las relaciones angulares involucradas en el mtodo de Laue de transmisin se muestran en la
Figura 2.5, aqu una esfera de referencia es descrita alrededor del cristal en C, el haz incidente
entra en la esfera en I y el haz transmitido la abandona en O. La pelcula es ubicada tangente a
la esfera en O, y su esquina superior derecha, vista desde el cristal, es cortada para la
identificacin de su posicin durante la exposicin a los rayos X. El haz reflejado por el plano
mostrado de la red golpea a la pelcula en R y la normal a este plano intercepta a la esfera en P.
33
Considerando la difraccin desde una zona de planos cuyo eje se ubica en el plano yz a un
ngulo al haz transmitido. Si un solo plano de esta zona es rotado tal que su polo,
inicialmente en A, viaja a lo largo del crculo grande APEBWA, entonces pasar a travs de
todas las orientaciones en el cual los planos de esta zona podran ocurrir en un cristal actual.
Durante esta rotacin, la mancha de difraccin sobre la pelcula, inicialmente en D, viajar a lo
largo de la trayectoria elptica DROD mostrado en lneas a trazos.
Figura 2.5.- Posicin de una mancha de

difraccin en el mtodo de Laue de
transmisin
Figura 2.6.- Carta de Leonhardt
Cualquier orientacin particular del plano, tal como el mostrado en el dibujo, es caracterizado
por valores particulares de y , las coordenadas angulares de su polo. Estas coordenadas a la
vez, para una distancia cristal-pelcula dada D, determinan las coordenadas x,y de la mancha de
difraccin R sobre la pelcula. De la posicin de la mancha podemos por lo tanto determinar la
orientacin del plano usando la carta de Leonhardt que se muestra en la Figura 8.6. Esta carta
consiste de una grilla compuesta por dos conjuntos de lneas: las lneas a trazos de constante
que corresponden a los meridianos de una red de Wulff y las lneas slidas de constante que
corresponden a lneas de latitud. Mediante esta carta, los polos de un plano que causan
cualquier mancha particular de difraccin pueden ser representados estereograficamente.
2.4. MTODO DIFRACTOMTRICO
Con radiacin monocromtica usada en el difractmetro, un monocristal producir una
reflexin solamente cuando su orientacin es tal que cierto conjunto de planos reflectantes est
inclinado al haz incidente a un ngulo que satisface la ley de Bragg para ese conjunto de
planos y la radiacin caracterstica empleada. Pero cuando el contador, fijado en la posicin al
correspondiente ngulo 2, indica que una reflexin es producida, entonces la inclinacin de
los planos reflectantes a cualquier lnea o plano elegido sobre la superficie del cristal es
conocida a partir de la posicin del cristal. Dos clases de operacin son requeridas:
Rotacin del cristal alrededor de varios ejes hasta que se encuentra una posicin para la
cual se produce la reflexin,
Ubicacin del polo del plano reflectante sobre una proyeccin estereogrfica a partir de los
ngulos conocidos de rotacin.
34
Existen muchas variaciones del mtodo difractomtrico, dependiendo de la clase particular de

gonimetro usado para sostener y rotar la muestra. El
mtodo difractomtrico que se usa ms frecuentemente
incluye el gonimetro usado en el mtodo de reflexin
para la determinacin de orientaciones preferidas con
muy pocas modificaciones para su uso con
monocristales; lo esencial es incrementar el ancho de las
rendijas del haz primario en una direccin paralela al eje
del difractmetro para aumentar la intensidad difractada.
Este tipo de portamuestras proporciona los tres ejes de
rotacin posibles mostrados en la Figura 2.7: un eje
coincide con el eje del difractmetro, el segundo eje AA
se ubica en el plano que forman el haz de incidente I y el
haz difractado D segn la tangente a la superficie del
contador
espcimen, mostrado aqu como una placa plana,
mientras que el tercer eje BB es normal a la superficie Figura 2.7.- Ejes de rotacin del cristal
del espcimen.
2.5. MONTAJE DE UN CRISTAL EN UNA ORIENTACIN REQUERIDA
Algunas investigaciones en rayos X requieren que un patrn de
difraccin sea obtenido de un monocristal que tiene una orientacin
especfica en relacin al haz incidente. Para obtener esta orientacin,
el cristal se monta en un gonimetro de tres crculos, como el
mostrado en la Figura 2.8, cuyos arcos se han puesto en cero y su
orientacin se determina por el mtodo de Laue de retroreflexin.
Luego se hace una proyeccin del cristal y de esta proyeccin se
determina la orientacin requerida mediante las rotaciones
goniomtricas.
Existe otro mtodo de montar un cristal en una orientacin estndar,
el cual no requiere ni de registro fotogrfico del patrn de difraccin
ni de manipulacin estereogrfica de los datos. Depende del hecho Figura 2.8.- Gonimetro de
tres crculos
que los haces difractados formados en el mtodo de transmisin de
Laue son tan intensos, para un cristal de espesor apropiado, que las manchas que ellas forman
sobre una pantalla fluorescente son visibles en un cuarto oscuro. El observador rota
cuidadosamente el cristal alrededor de diferentes arcos del gonimetro hasta que el patrn
correspondiente a la orientacin requerida aparece sobre la pantalla.
35
LABORATORIO N 4
ORIENTACIN DEL CRISTAL LiF POR EL MTODO DE LAUE
OBJETIVO.Obtener el patrn de difraccin de un monocristal de LiF para determinar su orientacin
mediante el mtodo de Laue de transmisin.
TEORA.Las fotografas de Laue se obtienen irradiando monocristales con rayos X policromticos. Este
mtodo se utiliza principalmente para determinar simetras cristalinas y orientaciones
cristalogrficas. Se puede hacer una evaluacin a los patrones de reflexin de Laue de
estructuras simples.
La figura. 1 muestra el patrn de reflexin Laue de
un monocristal de LiF que tiene una estructura de
red cbica cara centrada (FCC). Si el patrn da una
rotacin de 90 alrededor de la direccin del haz
primario, es de nuevo coherente consigo mismo.
Por tanto, tenemos aqu una cudruple simetra, con
la coincidencia entre la direccin del haz y la
direccin cristalogrfica (100). La intensidad de las
reflexiones depende tanto de las caractersticas
cristalogrficas como de la distribucin espectral
de la intensidad de los rayos X.
La condicin de interferencia constructiva est
determinada por relacin de Bragg:
2 d sen n
donde:
d = la distancia entre los planos reticulares
= longitud de onda
(1)
Figura 1.- Foto de Laue de un cristal de LiF
= el ngulo de Bragg
n = el orden de la difraccin
La muestra de LiF consiste en un cristal cbico con constante de red a.

La siguiente ecuacin es vlida para las distancias d( hk ) entre la red y los planos del sistema
a
cbico:
(2)
d (hk)
h 2 k 2 2
Si L es la distancia entre una reflexin y el centro del patrn de difraccin, y D la distancia
entre la muestra y la pelcula, entonces el ngulo experimental determinado es:
1
L
L x 2 y2
exp tan 1 ;
(3)
2
D

Donde x e y son las coordenadas de la reflexin medidos desde el centro del patrn de
difraccin.
Si el haz de rayos X que coincide con la direccin cristalogrfica [ h * k * * ] (que aqu es
[100]) incide en un plano ( hk ) del cristal, ver Figura 2, entonces el ngulo de incidencia
est determinado por el producto escalar del vector normal del plano y el vector incidente.
36
cos
hh * kk * *
(h 2 k 2 2 ).(h *2 k *2 *2 )
(4)
De la Figura 2, cal 90 y considerando que

(h * k * * ) (100) , de (4) se obtiene que:
h
(5)
sen cal
h 2 k 2 2
La asignacin de las reflexiones individuales
correspondientes a los planos reticulares se
encuentra cuando:
exp cal
(6)
Adems de (6), la relacin k / x / y tambin
debe ser vlida, cuando x e y son las coordenadas
de la reflexin medidas desde el centro del patrn.
Figura 2.- Reflexin de un plano de la red

con orientacin al azar.
Las relaciones angulares involucradas en el mtodo de Laue de transmisin se muestran en la

Figura 3, aqu una esfera de referencia se ubica alrededor del cristal en C, el haz incidente entra
en la esfera en I y el haz transmitido sale por O. La pelcula se ubica tangente a la esfera en O,
y su esquina superior derecha, vista desde el cristal, se corta para identificar su posicin
durante la exposicin a los rayos X. El haz reflejado por el plano mostrado de la red golpea a la
pelcula en R y la normal a este plano intercepta a la esfera en P.
Figura 3.- Posicin de una mancha de

difraccin en el mtodo de Laue de
transmisin
Figura 4.- Carta de Leonhardt
Considerando la difraccin desde una zona de planos cuyo eje se ubica en el plano yz a un
ngulo al haz transmitido. Si un solo plano de esta zona rota tal que su polo, inicialmente en
A, viaja a lo largo del gran crculo APEBWA, entonces pasar a travs de todas las
orientaciones en las cuales los planos de esta zona podran estar en un cristal. Durante esta
rotacin, la mancha de difraccin sobre la pelcula, inicialmente en D, viajar a lo largo de la
trayectoria elptica DROD mostrada en lneas a trazos.
Cualquier orientacin particular del plano, tal como la mostrada en la figura, se caracteriza por
valores particulares de y , las coordenadas angulares de su polo. Estas coordenadas a la vez,
37
para una distancia cristal-pelcula D, determinan las coordenadas x,y de la mancha de

difraccin R sobre la pelcula. De la posicin de la mancha podemos por lo tanto determinar la
orientacin del plano usando la carta de Leonhardt que se muestra en la Figura 4. Esta carta
consiste de una grilla compuesta por dos conjuntos de lneas: las lneas a trazos de constante
que corresponden a los meridianos de una red de Wulff y las lneas slidas de constante que
corresponden a lneas de latitud. Mediante esta carta, los polos de un plano que causan
cualquier mancha particular de difraccin pueden ser representados estereograficamente.
EQUIPOS Y MATERIALES.Unidad bsica de Rayos X
Cristal de LiF(100) d 2.014 10 10 m
Portapelculas
Pelcula Polaroid, (ISO 3000), (9 12) cm
Tubo de Rayos X con nodo de Cu
Portamuestras para la difraccin de Laue

Calibrador Vernier de plstico
Adaptador de pelcula Polaroid
Net de Wulff
Carta de Leonhardt
PROCEDIMIENTO.1. Instalar el tubo de rayos X con nodo de cobre y montar el experimento como se muestra en
la Figura 5.
Figura 5.- Montaje experimental para el mtodo de Laue

monocristal de LiF con sus dos alfileres en el portamuestra de la difraccin de Laue, de
manera que el lado ovalado del cristal est siempre hacia la fuente de rayos-X.
3. Colocar la pelcula de rayos X con su envoltura resistente a la luz en el soporte de pelcula
con la ayuda de las dos lminas imantadas y a una distancia de 3 cm del cristal, a fin de
obtener un patrn de Laue sin distorsiones
4. Asegrese de que las superficies del cristal y la pelcula plana sean paralelas entre s, y que
ambas son perpendiculares al haz principal.
38
5. Exponer la pelcula en los valores mximos de tensin de nodo, esto es 35KV y 1mA, con
un tiempo de exposicin de 2 horas.
6. Medir exactamente la distancia D entre el cristal y la pelcula para la determinacin
posterior de las direcciones.
7. Luego de haber expuesto la pelcula a la radiacin durante el tiempo mencionado
anteriormente, proceda a revelarla, como se indica en el Apndice.
8. Trazar un sistema de ejes coordenados XY cuyo centro coincida con el centro de la
fotografa, enumerar las manchas ms intensas, medir sus coordenadas (x,y) y completar la
siguiente Tabla.
Mancha
N
1
2
3
4
5
6
7
8
x
(mm)
y
(mm)
L
(mm)
exp
()
hk
cal
()
k/
x/y
d
(pm)
(pm)
9. Representar los puntos de coordenadas (x,y) en una hoja de papel y superponer sobre ellos
una carta Leonhardt para determinar los valores de y .
10. Plotear los polos de los planos que causan las manchas de difraccin de Laue en una
proyeccin estereogrfica.
CUESTIONARIO.1. Determinar los valores experimentales de para cada mancha de Laue de la fotografa,
usando la ecuacin (3).
2. Asignar los ndices de Miller a cada una de las manchas de Laue de la fotografa.
3. Calcular los valores de para cada mancha de Laue de la fotografa y comparar sus
resultados con los hallados en la pregunta 1.
4. Usando la ecuacin (2), determinar las distancias interplanares de los planos que han
producido las reflexiones en la fotografa. Considerar que la constante de red del LiF es
402.8 pm.
5. Hallar las longitudes de onda de los haces de rayos X que han producido las manchas de
Laue de la fotografa, usando la ecuacin (1).
6. En una net de Wulff, obtener la proyeccin estereogrfica de los polos que causan las
manchas de difraccin de Laue usando los valores de y obtenidos en la carta de
Leonhardt.
7. En la proyeccin estereogrfica, identificar los ndices de cada uno de los polos de los
planos que causan las manchas de difraccin de Laue.
8. Interpretar la proyeccin estereogrfica para determinar la orientacin del cristal de LiF.
39
CAPTULO 3
ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS POLICRISTALINOS
3.1. INTRODUCCIN
La manera normal en la que se usan los metales y las aleaciones es en la forma de agregados
policristalinos, compuestos de una gran cantidad de cristales individuales de tamaos
microscpicos.
3.2. TAMAO DE GRANO
El mtodo ms exacto de medir el tamao de grano en el rango de 10 2 a 10 3 cm es el examen
microscpico; el procedimiento usual es determinar el nmero promedio de granos por unidad de
rea de la seccin pulida y reportar esto en trminos de un nmero ndice establecido por la
American Society for Testing Materials. El nmero n de granos por pulgada cuadrada cuando es
visto a una magnificacin 100 es dado por:
(3.1)
n 2 N 1
donde N es el nmero ndice ASTM o nmero de tamao de grano.
3.3. TAMAO DE PARTCULA
Este trmino es usado cuando el tamao de los cristales individuales es menor que 10 5 cm. Los
cristales en este rango de tamao causan el ensanchamiento B de los anillos de Debye. El
dimetro t de las partculas cristalinas es dada por:
0,9
(3.2)
t
B cos
siendo la longitud de onda de la radiacin incidente y el ngulo de Bragg.
3.4. PERFECCIN DEL CRISTAL
Cuando una pieza policristalina de metal es deformada plsticamente por laminado, el
deslizamiento ocurre en cada grano y el grano cambia su forma llegando a ser aplanada y estirada
en la direccin del laminado encontrndose en un estado de tensin uniforme. La relacin entre
el ensanchamiento b producido en la lnea de difraccin, debido a una variacin fraccional
d / d , y la no uniformidad de la deformacin se obtiene diferenciando la ley de Bragg:
d
(3.3)
b 2 2
tan
d
donde es el ngulo de Bragg.
Eb
1 d
El mximo esfuerzo presente max es dado por: max E
(3.4)
2 d 4 tan
siendo E el mdulo elstico de Young.
3.5. PROFUNDIDAD DE PENETRACIN DE LOS RAYOS X
La intensidad integrada difractada por una capa infinitamente delgada localizada a una
profundidad x debajo de su superficie es dada por:
40
Con formato
I ab
(3.5)
dI D 0 e x (1 / sen 1 / sen ) dx
sen
donde: I 0 es la intensidad del haz incidente, es el coeficiente de absorcin lineal del polvo, a
es la fraccin de volumen de la muestra que contiene partculas que tienen la orientacin
correcta para la reflexin del haz incidente y b es la fraccin de la energa incidente que es
difractada por unidad de volumen.
3.6. ORIENTACIN DEL CRISTAL
Cada grano en un material policristalino normalmente tiene una orientacin cristalogrfica
diferente de la de sus vecinos. Considerado como un todo, las orientaciones de todos lo granos
pueden estar distribuidas al azar en relacin a algn sistema de coordenadas elegido, o pueden
tender a agruparse, en un mayor o menor grado, alrededor de alguna orientacin particular.
Cualquier agregado caracterizado por esta condicin se dice que tiene una orientacin preferida
o textura, la cual puede definirse como una condicin en la cual la distribucin de las
orientaciones del cristal no es al azar.
3.7. TEXTURA DE ALAMBRES
Un
alambre
estirado
en
fro
normalmente tiene una textura en la cual
cierta direccin cristalogrfica [uvw] en
muchos de los granos es paralela o casi
paralela al eje del alambre o eje de fibra.
En la Figura 3.1, se puede determinar el
ngulo , que forma la normal PC al
plano reflectante con el eje de fibra NS,
usando la ecuacin:
cos cos cos
(3.6)
Donde: es el ngulo que forma el haz

incidente con el plano C y es el ngulo
que forma la proyeccin del haz
Figura 3.1.- Geometra de la reflexin de un alambre
con textura de fibra.
difractado CR sobre la pelcula con el
plano vertical que contiene al haz
incidente IC y al eje NS del alambre que pasa por C.
3.8. TEXTURA DE LMINA
La anisotropa plstica en los metales presenta una fuerte dependencia con respecto al
desarrollo de textura en los procesos de transformacin, ya sea por procesos tales como
solidificacin, deformacin, recristalizacin o transformaciones de fase. Consecuentemente, la
respuesta mecnica del material queda fuertemente condicionada por la textura cristalogrfica
y morfolgica desarrollada durante estos procesos de transformacin. En particular nos
referiremos a procesos de laminado en fro.
En las chapas laminadas en fro, la mayora de los granos estn orientados con un cierto plano
(hk) aproximadamente paralelo a la superficie de la chapa, y una cierta direccin [uvw] en
ese plano aproximadamente paralelo a la direccin en la cual la chapa fue laminada.
41
Por lo indicado, las orientaciones cristalogrficas de los granos en chapas metlicas laminadas
son generalmente representadas por los ndices de Miller ( hk) [ uvw ] , siendo ( hk) el plano
cristalogrfico paralelo al plano de la chapa, mientras que [uvw] indica la direccin paralela a
la direccin del laminado. Convencionalmente, las texturas cristalogrficas se describen
mediante las figuras de polos.
La textura de una lmina puede ser descrita adecuadamente solamente por medio de una figura
de polos para obtener un mapa completo de la distribucin de la orientacin del cristal por
cuanto en este caso no existe una direccin cristalogrfica comn alrededor de la cual los
granos puedan tener posicin rotacional.
La figura de polos puede obtenerse mediante dos mtodos:
El mtodo fotogrfico, usando una cmara pinhole de transmisin y una lmina de muestra
reducida en espesor por ataque de cido.
El mtodo difractomtrico, en el que la intensidad de los rayos difractados son medidos
cuantitativamente mediante contadores y corregidos para los cambios en absorcin.
42
LABORATORIO N 5
TEXTURA DE LMINAS CON CARINE CRYSTALLOGRAPHY 3.1
OBJETIVO.Usar el programa CaRIne Crystallography 3.1 para representar grficamente, en perspectiva, la
textura de estructuras cristalinas cbicas, correspondiente a lminas metlicas.
TEORA.La anisotropa plstica en los metales presenta una fuerte dependencia con respecto al
desarrollo de textura en los procesos de transformacin, tales como solidificacin,
deformacin, recristalizacin o transformaciones de fase. Consecuentemente, la respuesta
mecnica del material queda fuertemente condicionada por la textura cristalogrfica y
morfolgica desarrollada durante estos procesos de transformacin. En particular nos
referiremos a procesos de laminacin de chapa en fro.
En las chapas laminadas en fro, la mayora de los granos estn orientados con un cierto plano
( hk) aproximadamente paralelo a la superficie de la chapa, y con una cierta direccin [uvw]
en ese plano aproximadamente paralelo a la direccin en la cual la chapa fue laminada. Luego,
se debe cumplir que: h u k v w 0 .
Las orientaciones cristalogrficas preferidas de los granos en chapas metlicas laminadas son
generalmente representadas por los ndices de Miller ( hk) [ uvw ] , pero pueden ser descritas
adecuadamente solamente por medio de una figura de polos para obtener un mapa completo de
la distribucin de la orientacin del cristal.
EQUIPOS Y MATERIALES.Computadora personal
Programa CaRIne Crystalloghraphy 3.1
PROCEDIMIENTO.1. Para crear la celda unidad, abrir el men Cell, seleccionar el sistema cristalino cubic y
hacer click en el tipo de celda deseado, como se muestra en la Figura 1.
Figura 1.- Comandos del Men Cell
Figura 2.- Caja de dilogo BRAVAIS
43
2. Al aparecer la caja de dilogo BRAVAIS, como la que se muestra en la Figura 2, escribir

en ella el valor del parmetro a
de la celda y hacer click en
Mendeleev para obtener la caja
de dilogo Periodic Table,
donde podr seleccionar el
elemento a considerar, como se
muestra en la Figura 3. Una vez
seleccionado el elemento hacer
click en OK para obtener el
grfico de la celda unidad. La
Tabla de Mendeleev tambin
podr usarse para dar otras
caractersticas de la celda como
el smbolo qumico, el nivel de
Figura 3.- Tabla peridica
oxidacin, radio, color, etc.
3. Abrir el men View y seleccionar el comando Radii
Scale para abrir la caja de dilogo mostrada en la
Figura 4. Escribir en el espacio New scale el valor que
corresponda para disminuir significativamente el
tamao de los tomos y hacer OK para mostrar la
celda.
4. Usando los controles correspondientes de la caja Figura 4.- Caja de dilogo Radii Scale
Rotations, que aparece en la pantalla, realizar
rotaciones apropiadas en la celda respecto a cada uno de los ejes X, Y, Z de tal forma que
se muestre la mejor presentacin posible de la celda que permita una buena observacin de
sus planos.
5. Abrir el men hkl/uvw y usando el comando ? (hkl)
with mouse seleccionar un plano de la celda
haciendo click con el puntero del mouse en tres
tomos que no se encuentren en una misma fila.
6. Abrir el men hkl/uvw y haciendo uso del comando
? [hkl] with mouse elegir una direccin en el plano
seleccionado haciendo click con el puntero del
mouse en dos tomos del plano.
Figura 5.- Caja de dilogo Texture
7. En el men Specials seleccionar Texture para abrir

la caja dilogo mostrada en la Figura 5 a fin de
conocer los ndices correspondientes al plano y la
direccin seleccionados y hacer OK para mostrar la
textura en un dibujo.
8. Abrir el men View y seleccionar el comando
General Scale para abrir la caja de dilogo
mostrada en la Figura 6. Escribir en el espacio New Figura 6.- Caja de dilogo General Scale
scale el valor que corresponda para aumentar significativamente el tamao del dibujo y
hacer OK para mostrar la textura.
44
CUESTIONARIO.1. Considerando que el Cu tiene una estructura cbica de cara centrada de constante de red
3,6153 A, construir su celda unitaria.
2. En la celda creada del Cu, determinar los ndices de Miller correspondientes al plano y la
direccin seleccionadaos y verificar si cumplen la condicin establecida para los ndices.
3. Expresar la textura del Cu y representarla grficamente.
Con formato: Numeracin y vietas
3.4.Considerando que el Al tiene una estructura cbica de cara centrada de constante de red
4.5.En la celda creada del Al, determinar los ndices de Miller correspondientes al plano y la
direccin seleccionada y verificar si cumplen la condicin establecida para los ndices.
5.6.Expresar la textura del Al y representarla grficamente.
7. Considerando que el Fe tiene una estructura cbica cuerpo centrado de constante de red
8. En la celda creada del Fe, determinar los ndices de Miller correspondientes al plano y la
direccin seleccionada y verificar si cumplen la condicin establecida para los ndices.
9. Expresar la textura del Fe y representarla grficamente.

10. Es posible representar grficamente la textura (212) [112 ] ? Explique porqu.
Con formato: Fuente: 12 pto, Espaol

(Espaa - alfab. tradicional), Disminuido
5 pto
Con formato: Derecha, Sangra:
Izquierda: 0 cm, Primera lnea: 0 cm
45
LABORATORIO N 6
Con formato: Sangra: Izquierda: 0
cm, Primera lnea: 0 cm
EXAMEN DE TEXTURA DE LMINA
Con formato: Fuente: Negrita
OBJETIVO.-
Con formato: Centrado

cm, Sangra francesa: 0,42 cm, Punto
de tabulacin: -5,08 cm, Lista con
tabulaciones + No en 2,25 cm
Obtener, interpretar y comparar registros de difraccin de muestras de cobre en polvo y en

lmina y determinar su constante de red.
Determinar la textura que adquiere una lmina de cobre al ser sometida a tratamiento
trmico.
TEORA.Cuando rayos X, de longitud de onda , inciden sobre un conjunto de planos de la red de un

cristal, de espaciado d, a un ngulo , entonces los rayos reflejados sern sujetos a interferencia
constructiva cuando se satisface la ley de Bragg:
2 d sen n
(1)
El cobre cristaliza en una red cbica cara centrada, la celda unidad tiene 4 tomos ubicados en
las coordenadas 000, 0, 0 y 0 . Para una red cara centrada que consiste slo de
una clase de tomos, el factor de estructura, el cual determina qu planos de la red contribuyen
a la interferencia constructiva de las ondas dispersadas, cumple que:
| F | 2 16f 2 con hk slo pares o slo impares
| F | 2 0
con hk mezclados
(2)
donde h, k, son los ndices de Miller de los planos reflectantes de la red.
Con formato: Subrayado
Con formato: Fuente: Times New

Roman, Disminuido 5 pto
Con formato: Sangra: Izquierda: 5,8
cm, Primera lnea: 0,8 cm

El factor de dispersin atmico f describe el poder de dispersin de un tomo individual y es

definido como la amplitud de la dispersin de un tomo dividido por la amplitud dispersada de
un electrn libre.
Para el sistema cristalino cbico, de parmetro de red a, los espaciados d de los planos
individuales de la red con ndices ( hk) se obtienen de la forma cuadrtica:
1
d 2hk
1
a2
(h 2 k 2 2 )
(3)
sen
2
4a2
(h k )
2

(4)
Cuando no se usa filtro para la monocromatizacin de los rayos X, el hecho de que lneas muy
intensas - resultantes de la radiacin K - estn acompaadas por lneas secundarias - resultantes
de la radiacin ms dbil K - debe tomarse en consideracin cuando se evalan las lneas
individualmente.
Los pares de lneas K y K se pueden identificar de la ecuacin (1), si consideramos que:
(K) 154.18 pm sen
1.11
(K) 139.22 pm sen

De (1) y (3), se obtiene la ecuacin cuadrtica de Bragg para n 1 :

2


(5)
46
Con formato: Fuente: 12 pto, Espaol

(Espaa - alfab. tradicional),
Comprimido 0,1 pto, Disminuido 19
pto
EQUIPOS Y MATERIALES.Con formato: Fuente: 12 pto
Unidad de rayos X
Gonimetro
Cristal de LiF (100);
d = 2.01410-10 m
Portacristal universal
Porta muestra de polvo
Diafragma tubular de 2 mm de dimetro
Con formato: Fuente: 12 pto
Diafragma tubular con hoja de nquel

Polvo de cobre
Lmina de cobre
Mechero Bunsen
Tijeras
Esptula
Vaselina
Computador personal

Con formato: Francs (Francia)
Con formato: Francs (Francia)
Con formato: Espaol (alfab.
internacional)
PROCEDIMIENTO.-
Con formato: Fuente: 12 pto, Francs

(Francia)
I. Registro de difraccin del cobre en polvo

Roman
1. Mezclar con la esptula una pequea cantidad de polvo de cobre con un poquito de vaselina
sobre una hoja de papel y llenar con la pasta el porta muestra.
2. Instalar el tubo de rayos X con nodo de cobre y montar el experimento como se muestra
en la Figura 1.

Roman
Con formato: Fuente: Negrita, Cursiva
Figura 12.- Montaje experimental para el anlisis de rayos X

3. Fijar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro en la salida del tubo de rayos X y montar la

muestra en polvo de cobre en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Cu
ngulo de arranque
: 18
47


Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 50
Filtro
: sin filtro
Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido como Registro N 1 y apagar el
equipo de rayos X.
7. Con los datos del registro y tomando en cuenta las formas cuadrticas de los ndices de
Miller para una red cara centrada, que es la que le corresponde a la estructura del cobre,
completar la informacin solicitada en la Tabla N 1.
Tabla N 1
hk
Lnea
d (pm)
a (pm)
h 2 k 2 2
()
sen
sen2

Con formato: Numerado + Nivel: 1 +
Estilo de numeracin: 1, 2, 3, +
Iniciar en: 1 + Alineacin: Izquierda +
Alineacin: 0 cm + Tabulacin despus
de: 0,63 cm + Sangra: 0,63 cm
Con formato: Centrado
Con formato: Disminuido 3 pto
Con formato: Superndice
Tabla con formato
II. Registro de difraccin del cobre en lmina

8. Con las tijeras cortar de la lmina de cobre un rectngulo de 2.5 4 cm. Observar que la
superficie de esta muestra se encuentre libre de xido y bien pulida, caso contrario remover
cuidadosamente el xido con papel esmeril fino (1000) y usar pasta especial para pulirla.
9. Fijar el diafragma tubular con hoja de nquel en la salida del tubo de rayos X y montar la
lmina de cobre sujeta sobre una tira de papel en el portacristal universal - en el soporte
del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Cu
ngulo de arranque
: 18
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 50
Filtro
: Ni
equipo de rayos X.
III. Registro de difraccin del cobre en lmina con tratamiento trmico

13. Recristalizar la lmina de cobre calentndola cuidadosamente al rojo vivo por 2 a 3
segundos en la llama de un mechero Bunsen, aproximadamente 700C. Luego, dejar enfriar
la lmina en aire lentamente.
48
14. Mantener el diafragma tubular con hoja de nquel en la salida del tubo de rayos X y montar
la lmina de cobre recristalizada sujeta sobre una tira de papel en el portacristal universal
- en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Cu
ngulo de arranque
: 18
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 50
Filtro
: Ni
equipo de rayos X.
CUESTIONARIO.-

cm, Punto de tabulacin: No en 1,27
cm
Con formato: Sin vietas ni
numeracin
cm, Punto de tabulacin: No en 1,27
cm
numeracin
cm, Punto de tabulacin: -4,02 cm,
Lista con tabulaciones + No en 1,27
cm
1. Usando la ecuacin (5) identificar las lneas K y K del Registro N 1 y asignarles los
ndices de Miller que correspondan.
2. Usando la ecuacin (1) determinar el espaciado entre los planos que han producido la
difraccin de los rayos X.
3. Con los resultados obtenidos en la Tabla N 1, determinar el valor experimental de la
constante de red del cobre usando la ecuacin (3).
4. Qu error experimental se ha cometido al determinar la constante de red del cobre?
Identificar las fuentes de error.
5. Identificar los ndices de Miller de las lneas de difraccin del Registro N 2 y compararlas
con las lneas de difraccin del Registro N 1. Qu puede decir en relacin a sus
intensidades?
6. Interpretar el Registro N 2 para identificar qu planos de los granos de cobre se encuentran
ms alineados en el plano de la lmina.
7. Identificar los ndices de Miller de las lneas de difraccin del Registro N 3 y compararlas
con las lneas de difraccin del Registro N 2. Qu puede decir en relacin a sus
intensidades?

numeracin
cm
numeracin
cm
numeracin
cm
numeracin
cm
8. Interpretar el Registro N 3 para identificar qu planos de los granos de cobre se encuentran

ms alineados en el plano de la lmina.
9. Determinar la textura inducida en la lmina de cobre en el proceso de recristalizacin

seguido.
Con formato

numeracin
... [1]

numeracin
Con formato
... [2]
49
Pgina 49: [1] Con formato
Carlos Quiones M.
11/09/2011 1:19:00
Sangra: Izquierda: 0 cm, Punto de tabulacin: -4,02 cm, Lista con tabulaciones + No en 1,27 cm
Pgina 49: [2] Con formato
Carlos Quiones M.
11/09/2011 1:19:00
Sangra: Izquierda: 0 cm, Punto de tabulacin: -4,02 cm, Lista con tabulaciones + No en 1,27 cm
CAPTULO 4
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS I
4.1. INTRODUCCIN
El mtodo que se adopta para la determinacin de las estructuras cristalinas es esencialmente la
de prueba y error. Sobre la base de un buen pronstico, se asume una estructura, se calcula su
patrn de difraccin, y el patrn calculado se compara con el observado. Si los dos concuerdan
en todos los detalles, la estructura asumida es correcta; si no, el proceso se repite las veces que
sea necesario hasta encontrar la solucin correcta.
La determinacin de una estructura desconocida se realiza en tres etapas principales:
(1) Se deducen la forma y el tamao de la celda unidad a partir de las posiciones angulares de
las lneas de difraccin.
(2) Se calcula el nmero de tomos por celda unidad a partir de la forma y el tamao de la
celda, la composicin qumica del espcimen y la medida de su densidad.
(3) Se deducen las posiciones de los tomos en la celda unidad a partir de las intensidades
relativas de las lneas de difraccin.
4.2. TRATAMIENTO PRELIMINAR DE LOS DATOS
El patrn de polvo de una sustancia desconocida se obtiene con una cmara Debye-Scherrer o
un difractmetro, el propsito es cubrir un rango angular 2 tan ancho como sea posible. La
preparacin de la muestra debe asegurar orientacin al azar de las partculas individuales de
polvo, si las intensidades relativas observadas de las lneas de difraccin van a tener
significancia en trminos de la estructura del cristal. Despus que se obtiene el patrn, el valor
del sen 2 se calcula para cada lnea de difraccin; este conjunto de valores de sen 2 es la
materia prima para la determinacin del tamao y la forma de la celda. O se puede calcular el
valor de d de cada lnea y trabajar a partir de este conjunto de nmeros.
Puesto que el problema de la determinacin de estructura es el de encontrar una estructura que
responder por todas las lneas en el patrn, en posicin e intensidad, el investigador debe
asegurarse en un principio que el patrn observado no contiene ninguna lnea extraa. El
patrn ideal contiene lneas formadas por rayos x de una sola longitud de onda, difractadas slo
por la sustancia cuya estructura va a ser determinada. Existen por consiguiente dos fuentes de
lneas extraas:
(1) La difraccin de los rayos X tienen diferentes longitudes de onda que la de la componente
principal de la radiacin. Si se usa radiacin filtrada, entonces la radiacin K es la
componente principal y los rayos X caractersticos de cualquier otra longitud de onda,
radiacin K entre ellas, pueden producir lneas extraas cuando son difractadas por planos
de la red cristalina de alto poder reflectante. Otra posible fuente de lneas extraas es la
radiacin caracterstica L a partir de la contaminacin del tungsteno sobre el blanco del
tubo de rayos X, particularmente si el tubo es antiguo.
50
(2) Difraccin por otras sustancias aparte de la sustancia desconocida debido a las impurezas
en la muestra pero tambin puede influir el montaje de la muestra o rendijas mal alineadas.
Una preparacin muy cuidadosa de la muestra y una buena tcnica experimental eliminarn
lneas extraas debido a estas causas.
Debido a la absorcin de la muestra, la excentricidad de la muestra y otros factores, los valores
de sen 2 siempre contienen pequeos errores sistemticos, los cuales no son suficientemente
grandes para causar alguna dificultad en el indexado de patrones de cristales cbicos, pero
pueden interferir seriamente con la determinacin de alguna estructuras no cbicas. El mejor
mtodo de remover tales errores de los datos es calibrar la cmara o el difractmetro con una
sustancia de parmetro de red conocido mezclado con la desconocida.
4.3. INDEXADO DE PATRONES DE CRISTALES CBICOS
Un cristal cbico de parmetro de red a produce lneas de difraccin cuyos valores sen 2
satisfacen la ecuacin:
sen 2
sen 2
2
(4.1)
s
(h 2 k 2 2 )
4a2
Puesto que la suma s ( h 2 k 2 2 ) es siempre un nmero entero y 2 / 4 a 2 es una
constante para cualquier patrn, el problema del indexado del patrn de una sustancia cbica es
hallar un conjunto de enteros s que conduzcan a un cociente constante cuando se dividen una a
uno los valores observados de sen 2 . Una vez que los enteros s se encuentran, los ndices hk
de cada lnea se pueden escribir por inspeccin o de una Tabla de formas cuadrticas de los
ndices de Miller, como la que se incluye en el Apndice 2.
Si no se puede hallar un conjunto de enteros que satisfagan la ecuacin (4.1), entonces la
sustancia en estudio no pertenece al sistema cbico y deben probarse otras posibilidades.
Cada uno de los cuatro tipos comunes de redes cbicas es reconocida por una secuencia
caracterstica de las lneas de difraccin, y stas a su vez pueden ser descritas por sus valores
secuenciales s, a saber:
Cbica simple
Cbica centrada en el cuerpo
Cbica centrada en las caras
Cbica diamante
: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16,

: 2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16,
: 3, 4, 8, 11, 12, 16,
: 3, 8, 11, 16,
4.4. MTODO GRFICO PARA EL INDEXADO DE PATRONES DE CRISTALES NO

CBICOS
El problema de indexar patrones de polvo llega a ser ms difcil cuando el nmero de parmetros
desconocidos se incrementa. A diferencia de los cristales cbicos, donde existe solamente un
parmetro desconocido, la arista a de la celda, los cristales no cbicos tienen dos o ms
parmetros desconocidos por determinar, por lo que se han desarrollado tcnicas grficas para
indexar sus patrones de difraccin.
En el Sistema Tetragonal, la ecuacin del espaciado entre planos para este sistema incluye dos
parmetros desconocidos, las aristas a y c de la celda:
51
h2 k2
(4.2)
c2
2
1 2
2)
(
h
k
Esta ecuacin puede escribirse en la forma:
d2 a2
(c / a ) 2
2
2
2
2 log d 2 log a log ( h k )
Tomando logaritmos:
(4.3)
(c / a ) 2
Aplicando este resultado a dos planos cualesquiera 1 y 2 del cristal tetragonal y luego restando
las dos ecuaciones, tenemos:
2
2
12
2) 2
2 log d1 2 log d 2 log ( h12 k12 )
log
(
h
2
( c / a ) 2
( c / a ) 2
Esta ecuacin muestra que la diferencia entre los valores de 2 log d para dos planos
cualesquiera es independiente de a y depende solamente de la razn axial c / a y los ndices
hk de cada plano.
d2
a2
1
Figura 4.1.- Carta Hull-Davey para redes tetragonales simples
La Figura 4.1 muestra una carta de Hull-Davey, en la que la variacin de la cantidad

[( h 2 k 2 ) 2 /( c / a ) 2 ] con c / a es ploteada en una hoja de papel semilogartmico de dos
ciclos para valores particulares de hk . Cada conjunto de ndices hk , mientras correspondan
a planos de diferentes espaciados, producen una curva diferente, y cuando 0 la curva es
una lnea recta paralela al eje c / a . Planos de diferentes ndices pero del mismo espaciado,
tales como (100) y (010), son representados por la misma curva sobre la carta, la cual se marca
con los ndices de uno de ellos, en el caso de la figura (100).
Para usar la carta, se calculan los espaciados d de los planos reflectantes correspondientes a
cada lnea del patrn de difraccin. Se ubica una tira de papel a lo largo de la escala d en la
52
posicin I de la Figura 4.1, y los valores observados de d se marcan en este borde con un lpiz.
Luego, la tira de papel se ubica sobre la carta y se mueve, vertical y horizontalmente, hasta
encontrar una posicin en la que cada marca sobre la tira coincida con una lnea de la carta.
Cuando se obtiene un fijado correcto, como el mostrado en la posicin II de la Figura 4.1, los
ndices de cada lnea se leen simplemente de las curvas correspondientes, y el valor
aproximado de c / a desde la posicin vertical de la tira de papel.
Despus de que todas las lneas han sido indexadas en esta forma, los valores de d de las dos
lneas de ngulo ms alto se usan para establecer dos ecuaciones de la forma de la ecuacin
4.2, las que sern resueltas simultneamente para encontrar los valores de a y c. De estos dos
valores, la razn axial c / a puede calcularse con ms precisin.
La carta de Hull-Davey puede usarse para indexar patrones de polvo de redes tetragonales
cuerpo centrado omitiendo todas las curvas para las cuales (h k ) es un nmero impar. Se
construye una escala logartmica de un ciclo d que se extiende sobre dos ciclos de la escala
[( h 2 k 2 ) 2 /( c / a ) 2 ] y corre en direccin opuesta puesto que el coeficiente de log d en la
ecuacin 4.3 es - 2 veces el coeficiente de log[(h 2 k 2 ) 2 / (c / a) 2 ] . Esto significa que los
valores de d de dos planos, para una razn c/a dada, estn separados por la misma distancia
sobre la escala como la separacin horizontal, a la misma razn c/a, de las dos curvas
correspondientes sobre la carta.
La carta de Hull-Davey tambin puede usarse para indexar patrones de polvo de redes cbicas,
tomando en cuenta que cuando la razn c / a 1 , la red tetragonal llega a ser cbica. Para este
fin, la tira de papel siempre debe mantenerse sobre la lnea horizontal correspondiente a
c / a 1.
Los patrones de los cristales del Sistema Hexagonal tambin pueden indexarse por mtodos
grficos, puesto que su celda unidad, como la celda unidad tetragonal, se caracteriza por tener
dos parmetros desconocidos, las aristas a y c. En este caso, la ecuacin del espaciado entre
planos es:
1 4 h 2 hk k 2 2

(4.4)
2
c
d 2 3
a2
1
1 4 2
2
Esta ecuacin puede escribirse en la forma:
(h hk k 2 )
d 2 a 2 3
(c / a) 2
4 2
2
2
Tomando logaritmos:
2 log d 2 log a log (h hk k )
,
(c / a) 2
3
la cual es exactamente de la misma forma que la ecuacin 4.3 para el sistema tetragonal. Por lo
tanto, se puede construir una carta Hull-Davey para indexar el patrn de difraccin de un cristal
del sistema hexagonal ploteando la variacin de log[(4 / 3) (h 2 hk k 2 ) 2 / (c / a) 2 ] con la
razn c / a .
Combinando la ecuacin 4.4 con la de la ley de Bragg, se obtiene:
2 4 (h 2 hk k 2 ) 2
sen 2
,
.
4 3
a2
c2
53
donde 2 / 4 es un valor conocido para la radiacin usada. Aplicando este resultado a dos planos
cualesquiera del cristal hexagonal se obtienen dos ecuaciones que al ser resueltas permitir
determinar los valores de a y c.
Los cristales del Sistema Rombodrico tambin se caracterizan por tener celdas unidad que
tienen dos parmetros desconocidos, la arista a y el ngulo . Si el cristal rombodrico se refiere
a ejes hexagonales, la carta Hull-Davey para cristales hexagonales puede usarse para indexar el
patrn de difraccin de cristales rombodricos. Los ndices que se encuentren se referirn al
cristal hexagonal y debern convertirse a ndices rombodricos.
Los cristales pertenecientes a los Sistemas Ortorrmbico, Monoclnico y Triclnico producen
patrones de difraccin que son casi imposibles de indexar por mtodos grficos. La principal
dificultad es el gran nmero de parmetros desconocidos. En el sistema ortorrmbico existen tres
parmetros desconocidos, las aristas a, b y c de la celda unidad; en el sistema monoclnico
existen cuatro parmetros, las aristas a, b y c y el ngulo de la celda unidad y en el sistema
triclnico existen seis parmetros, las aristas a, b y c y los ngulos , y de la celda unidad.
54
LABORATORIO N 7
PATRONES DE DIFRACCIN CON CARINE CRYSTALLOGRAPHY 3.1
OBJETIVO.Obtener e interpretar registros de difraccin de rayos X de un cristal cbico usando el
programa aplicativo CaRIne Crystallography 3.1.
TEORA.Cuando los rayos X son dispersados por el entorno ordenado de un cristal, tienen lugar
interferencias - tanto constructivas como destructivas - entre los rayos dispersados ya que las
distancias entre los centros de dispersin son del mismo orden de magnitud que la longitud de
onda de la radiacin. El efecto acumulativo de esta dispersin desde los centros regularmente
espaciados del cristal es la difraccin.
Los requisitos para la difraccin de rayos X son:
(1) que el espaciado entre capas de tomos sea aproximadamente el mismo que la longitud de
onda de la radiacin.
(2) que los centros de dispersin estn distribuidos en el espacio de una manera muy regular.
La difraccin de los rayos X por los cristales fue estudiada
por W. L. Bragg quien estableci que para un haz
monocromtico de rayos X, de longitud de onda , habr
slo ciertos valores del ngulo de incidencia , segn la
configuracin de la Figura 1, determinados por la distancia
d entre los planos del cristal, a los cuales ocurrir la
difraccin, de acuerdo a la relacin:
Normal
Rayo incidente,
Plano ( hk)
Rayo transmitido
Figura 1.- Configuracin de Bragg
n 2 d sen
donde n es el orden de la difraccin.
(1)
La relacin que predice el ngulo de difraccin para cualquier conjunto de planos se obtiene
combinando la ley de Bragg y la ecuacin de los espaciados de los planos.
Para un cristal cbico:
por lo que:
1
d2
sen 2
(h 2 k 2 2 )
a2
2
4a2
(h 2 k 2 2 )
(2)
(3)
El diagrama de difraccin de una sustancia cristalina est constituido por una serie de lneas
distribuidas en un registro. Teniendo en cuenta que las posiciones de estas lneas y sus
intensidades relativas dependen de la periodicidad y posiciones de los tomos en la sustancia y
que cada sustancia posee una distribucin caracterstica de sus tomos, da como resultado que
su diagrama de difraccin sea nico, no existiendo dos sustancias que posean exactamente el
mismo diagrama de difraccin.
55
La intensidad de los rayos X difractados es proporcional a la magnitud del cuadrado del factor
de estructura F. Este ltimo se obtiene de la suma de las amplitudes dispersadas y sus fases de
todos los n tomos de la celda unidad del cristal. Si las coordenadas de los n tomos se
designan por u n , v n y w n , la siguiente relacin es vlida para F (h , k , ) , donde h , k , son los
ndices de Miller del plano reflectante de la red:
(4)
F (h , k , ) f n . exp [2 i (h u n k v n w n ) ]
n
Observar que:
(a) Para una red cbica simple, se cumple que:
La posicin del tomo en la celda unidad es: (0, 0, 0) .
Ff
| F | 2 f 2 , es independiente de h, k y y pueden ocurrir todas las reflexiones de Bragg.
(b) Para una red cbica centrada en el cuerpo (bcc), se cumple que:
Las posiciones de los tomos en la celda unidad son: (0, 0, 0) y (1 / 2,1 / 2,1 / 2) .
F 0 , si la suma de los ndices ( h k ) 2 n 1 , (esto es, un nmero impar)
| F | 2 4f 2 , si la suma de los ndices ( h k ) 2 n (esto es, un nmero par).
(c) Para una red cbica cara centrada (fcc), se cumple que:
Las posiciones de los tomos en la celda unidad son: (0, 0, 0) , (1 / 2,1 / 2, 0) ,
(1 / 2 , 0,1 / 2) y (0,1 / 2,1 / 2) .
F 0 , si h, k y estn mezclados, es decir, ndices pares e impares estn presentes.
| F | 2 16f 2 , si los ndices h, k y son todos pares o todos impares.
(d) Para una red cbica cara centrada (fcc) con tomos A y B, se cumple que:
Los tomos A se ubican en : (0, 0, 0) , (1 / 2,1 / 2, 0) , (1 / 2 , 0,1 / 2) y (0,1 / 2,1 / 2) , y los
tomos B en: (1/ 2,1/ 2,1/ 2) , (0, 0,1/ 2) , (0,1/ 2, 0) y (1/ 2, 0, 0) .
| F | 2 16 ( f A f B ) 2 , con (h k ) par.
| F | 2 16 ( f A f B ) 2 , con (h k ) impar.
EQUIPOS Y MATERIALES.Computador personal

Software CaRIne Crystallography 3.1
PROCEDIMIENTO.I. Creacin del cristal
1. Cargar
el
programa
CaRIne
Crystalloghraphy 3.1, hacer click en el
men Cell y pulsando el comando
Creation/List hacer aparecer la caja de
dilogo Cell Creation/Cell List, que se
muestra en la Figura 2. Aqu deber
Figura 2.- Caja de dilogo Cell Creation
56
ingresar los parmetros de la celda (a, b, c, , , ), las posiciones atmicas, el smbolo

qumico, el nivel de oxidacin y el factor de ocupacin.
2. Hacer click en el botn Mendeleev para obtener la Tabla Peridica, mostrada en la Figura
3, donde puede seleccionar el elemento qumico a considerar. Una vez seleccionado el
elemento qumico y el nivel de oxidacin hacer click en OK.
Figura 3.- Tabla Peridica
3. Escribir el valor de las coordenadas X, Y y Z y hacer click en el botn Add.

4. Cuando haya completado de definir todas las posiciones de los tomos hacer click en el
botn Apply. Luego hacer click en OK para construir la celda unidad. Utilizar la funcin
Spread of crystal del men Crystal con n 4 para construir el cristal.
II. Obtencin del registro de difraccin
5. Seleccionar el men Specials de la barra de mens, que se muestra en la ventana de la
Figura 4, y elegir el comando XRD.
Figura 4.- Comandos del men Specials
57
6. Hacer click izquierdo en Creation y el software le mostrar la ventana XRD (Powder) que se muestra en la Figura 5 donde seleccionar la longitud de onda del tipo de radiacin
y digitar los valores mnimo y mximo del ngulo de barrido theta. Hacer click en OK.
Figura 5.- Ventana XRD (Powder)
CUESTIONARIO.1. Considerando que el KCl tiene una estructura cbica de constante de red 6.29 A, que
11
1 1
11
contiene cuatro tomos K en las posiciones 000,
y cuatro tomos
0, 0 y 0
22
2 2
22
1
1
1
111
, 00 , 0 0 y 00 , construir y mostrar su celda unitaria.
Cl en las posiciones
2
2
2
222
2. Usando la funcin Spread of crystal, construir y mostrar el cristal de KCl. Indicar y
justificar el tipo de red de Bravais.
3. Obtener y mostrar el registro de difraccin del KCl, usando radiacin de cobre con
1.540562 A con un barrido desde min 5 hasta max 50 .
4. Identificar los picos de intensidad del registro de difraccin del KCl y registrar en la Tabla
N 1 los ndices de Miller, que proporciona el software, de los planos que producen la
difraccin de los rayos X.
5. Identificar los valores de que corresponden a los picos de intensidad del registro de
difraccin del KCl y tomando en cuenta los valores dados en la Tabla N 6 de los Anexos,
determinar los ndices de Miller correspondientes. Registrar los resultados en la Tabla N 1.
6. Contrastar los ndices hallados con los identificados en la pregunta 4, Qu observa?
Corresponden los ndices al tipo de red determinado en la pregunta 2?
7. Usando la ecuacin (1) determinar las distancias interplanares que corresponden a los
planos hallados en la pregunta 5 y registrar los resultados en la Tabla N 1.
58
8. A partir de los resultados obtenidos de la pregunta anterior, completar la Tabla N 1

determinando la constante de red a de la estructura cristalina del KCl usando la ecuacin
(2). Comparar el valor hallado con el usado para construir la celda unidad.
Tabla N 1
Pico
( hk ) soft
sen 2 i
sen 2 i
sen 2 1
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
59
LABORATORIO N 8
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CBICAS SIMPLES
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una muestra en polvo de un cristal
con estructura cbica simple como una funcin del ngulo de difraccin.
Asignar las reflexiones de Bragg a los correspondientes planos de la red cristalina.
Determinar la constante de red de la muestra cristalina y el tipo de red de Bravais.
TEORA.Cuando rayos x de longitud de onda inciden sobre un conjunto de planos de la red de un

cristal de espaciado d bajo un ngulo de inclinacin , entonces los rayos reflejados slo sern
sujetos a interferencia constructiva cuando se satisface la condicin de Bragg, esto es:
2 d sen
(1)
La condicin de Bragg implica que todas las ondas dispersadas por el tomo estn en fase y por
lo tanto se amplifican unas a otras, mientras que las ondas parciales que son dispersadas en
direcciones que no satisfacen las condiciones de Bragg estn en fase opuesta y por lo tanto se
cancelan unas a otras. Una forma ms realista de observar esto, sin embargo, debe tomar en
cuenta las relaciones reales de fase de todas las ondas parciales dispersadas por el tomo en una
cierta direccin bajo consideracin.
Cuando existen N tomos en una celda unidad, entonces la amplitud total de los rayos x
dispersados por la celda es descrita por el factor de estructura F, que se calcula totalizando los
factores de dispersin atmica f de los N tomos individuales, teniendo en cuenta sus fases.
En general, para el factor de estructura F, se cumple que:
N
Fhk f n e2i (hu n kv n w n )
(2)
donde h, k, son los ndices de Miller de los planos reflectantes de la red cristalina y, u n , v n ,
w n son las coordenadas de los tomos en fracciones de las longitudes particulares de las
aristas de la celda unidad.
Como en general F es un nmero complejo, la intensidad total dispersada es descrita por
| Fhk | 2 .
Una celda unidad cbica simple contiene slo un tomo con las coordenadas 000. De acuerdo a
la ecuacin (2), por consiguiente, el factor de estructura F para este tipo de red cristalina es
dada por:
F f e2i(0) f ; F
f2
(3)
Esto significa que F2 es independiente de h, k y y por consiguiente, pueden ocurrir todas las
reflexiones Bragg.
60
Para el sistema cristalino cbico, de constante de red a, el espaciado d de los planos

individuales de la red cristalina, con ndices (hk ), se obtiene de la forma cuadrtica:
1
1 2
(4)
(h k 2 2 )
2
2
d hk a
De las ecuaciones (4) y (1), con n 1 , se obtiene la ecuacin cuadrtica de Bragg:
sen 2
(h 2 k 2 2 )
(5)
4a
intensas resultantes de la radiacin K - estn acompaadas por lneas secundarias
resultantes de la radiacin ms dbil K - debe tomarse en consideracin cuando se evalan las
lneas individualmente.
2
Los pares de lneas K y K se pueden identificar de la ecuacin (1) si consideramos que:

(K) sen 154.18 pm
1.11
(6)
(K) sen 139.22 pm
Por otro lado, para una masa m de tomos o molculas contenidas en un volumen V de la celda
m NM
unidad, se tiene que su densidad es dada por:
.
V N0V
N0 a3
(7)
M
es el Nmero de Avogadro, a es la constante de red y M es el peso atmico o
Luego, el nmero N de tomos o molculas en la celda unidad es:

Donde: N 0
molecular.

Gonimetro
Soporte universal de cristales
Portamuestra de polvo

Cloruro de amonio (NH4Cl)
Cuchara con extremo en forma de esptula
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal
PROCEDIMIENTO.I. Preparacin de la muestra

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de Cloruro de amonio
(NH4Cl) en el mortero y molerla hasta lograr pulverizarla.
2. Transferir un poco de la muestra a una hoja de papel y usar la esptula para amasarla hasta
lograr una pasta firme. Para lograr la concentracin ms alta posible del material, usar muy
poca vaselina, slo una punta de la esptula.
3. Llevar la muestra en pasta relativamente slida dentro del espcimen para muestras de
polvo y aplanarla al mismo nivel. Usar el soporte universal de cristales para sujetar la
muestra.
61
II. Calibracin del gonimetro

diafragma tubular de 2 mm de dimetro.
5. Montar el cristal de LiF en el soporte del gonimetro y, considerando que tericamente la
reflexin ms intensa 200 del cristal se ubica a un ngulo de 22.6, calibrar el gonimetro
como se indic en el Laboratorio N 1.
III. Obtencin del Registro de difraccin
6. Montar el experimento como se muestra en la Figura 1 fijando la lnea de marca del bloque
del gonimetro en la posicin 4.5. Para obtener un buen ngulo de resolucin empuje el
soporte del tubo contador a la parte posterior.
Figura 1.- Montaje experimental para la obtencin del registro

muestra de Cloruro de amonio en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: NH4Cl
ngulo de arranque
: 5
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 45
Filtro
: sin filtro
62
CUESTIONARIO.1. Identificar los picos de intensidad del registro de difraccin del Cloruro de amonio (NH4Cl)
y usando la ecuacin (6) diferenciar los picos de difraccin K y K.
2. Seleccionar los picos de difraccin K y registrar en la Tabla N 1 los valores
correspondientes del ngulo de difraccin .
Tabla N 1
Pico
sen i
2
sen 2 i
sen 2 1
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
3. Completar la Tabla N 1 y, tomando en cuenta los valores dados en la Tabla N 6 de los
Anexos, asignar los ndices de Miller correspondientes a los planos que producen la
difraccin.
5. A partir de los resultados obtenidos de la pregunta 4, completar la Tabla N 1 determinando
la constante de red a de la estructura cristalina del NH4Cl usando la ecuacin (2).
6. Considerando que la densidad del Cloruro de amonio (NH4Cl) es 1.527 g/cm3, usando la
ecuacin (7) determinar el nmero de molculas en la celda unitaria.
7. Del anlisis de sus resultados, determinar el tipo de red de Bravais que le corresponde al
Cloruro de amonio (NH4Cl) y representarla en un dibujo.
63
LABORATORIO N 9
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CBICAS DE CARA CENTRADAS
OBJETIVOS.
con estructura cbica de caras centradas como una funcin del ngulo de difraccin.

2 d sen
(1)
N
(2)
| Fhk | 2 .
Una celda unitaria cbica de caras centradas tiene cuatro tomos con coordenadas 000, 0,
0 y 0. De acuerdo a la ecuacin (2), por consiguiente, el factor de estructura F para este
tipo de red cristalina es dada por:
(3)
| F | 2 16f 2 con hk slo par o slo impar
| F | 2 0
con hk mezclados
64

1
1 2
(4)
(h k 2 2 )
2
2
d hk a
sen 2
(h 2 k 2 2 )
(5)
4a
2

(K) sen 154.18 pm
1.11
(6)
(K) sen 139.22 pm
m NM
.
V N0V
N0 a3
(7)
M

Donde: N 0
molecular.

Gonimetro

Bromuro de potasio (KBr)
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de Bromuro de potasio (KBr)
en el mortero y molerla hasta lograr pulverizarla.
muestra.
65


muestra de Bromuro de potasio en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: KBr
ngulo de arranque
: 5
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 55
Filtro
: sin filtro
66
CUESTIONARIO.1. Identificar los picos de intensidad del registro de difraccin del Bromuro de potasio (KBr) y
usando la ecuacin (6) diferenciar los picos de difraccin K y K.
Tabla N 1
Pico
sen i
2
sen 2 i
sen 2 1
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
difraccin.
la constante de red a de la estructura cristalina del KBr usando la ecuacin (2).
6. Considerando que la densidad del Bromuro de potasio (KBr) es 2.75 g/cm3, usando la
ecuacin (7) determinar el nmero de molculas en la celda unitaria.
Bromuro de potasio (KBr) y representarla en un dibujo.
67
LABORATORIO N 10
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CBICAS DE CUERPO CENTRADO
OBJETIVOS.
con estructura cbica de cuerpo centrado como una funcin del ngulo de difraccin.

2 d sen
(1)
Cuando existen N tomos en una celda unidad, entonces la amplitud total de los rayos X
N
(2)
| Fhk | 2 .
Una celda unitaria cbica de cuerpo centrado tiene dos tomos con coordenadas 000 y .
De acuerdo a la ecuacin (2), por consiguiente, el factor de estructura F para este tipo de red
cristalina es dada por:
con (h k ) par
(3)
| F | 2 4f 2
| F |2 0
con (h k ) impar
68

1
1 2
(4)
(h k 2 2 )
2
2
d hk a
sen 2
(h 2 k 2 2 )
(5)
4a
2

(K) sen 154.18 pm
1.11
(6)
(K) sen 139.22 pm
m NM
.
V N0V
N0 a3
(7)
M

Donde: N 0
molecular.

Gonimetro

Molibdeno (Mo)
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de Molibdeno (Mo) en el
mortero y molerla hasta lograr pulverizarla.
muestra.
69


muestra de Molibdeno en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Mo
ngulo de arranque
: 15
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: sin filtro
70
CUESTIONARIO.1. Identificar los picos de intensidad del registro de difraccin del Molibdeno (Mo) y usando
la ecuacin (6) diferenciar los picos de difraccin K y K.
Tabla N 1
Pico
sen i
2
sen 2 i
sen 2 1
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
difraccin.
la constante de red a de la estructura cristalina del Mo usando la ecuacin (2).
6. Considerando que la densidad del Molibdeno (Mo) es 10.2 g/cm3, usando la ecuacin (7)
determinar el nmero de molculas en la celda unitaria.
Molibdeno (Mo) y representarla en un dibujo.
71
CAPTULO 5
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS II
5.1. MTODO ANALTICO PARA EL INDEXADO DE PATRONES DE CRISTALES
NO CBICOS
Los mtodos analticos de indexado requiere manipulaciones aritmticas de los valores
observados sen 2 en un intento de hallar ciertas relaciones entre ellas. Puesto que cada sistema
cristalino se caracteriza por relaciones particulares entre los valores de sen 2 , el reconocimiento
de estas relaciones identifica el sistema cristalino y conduce a la solucin de los ndices de las
lneas.
Para el Sistema cristalino Hexagonal - de constantes de red a y c - el espaciado d de los
planos individuales de la red cristalina, con ndices (hk ), se obtiene de la forma cuadrtica:
1
4 h 2 h k k 2 2

(5.1)
2
c
d 2hk 3
a2
De la ecuacin (5.1) y la ley de Bragg, con n 1 , se obtiene la ecuacin cuadrtica de Bragg:

2 4 (h 2 h k k 2 ) 2
sen 2

(5.2)
4 3
a2
c2
Los valores del sen 2 deben obedecer la relacin:
donde: A
y C
sen 2 A (h 2 h k k 2 ) C 2
(5.3)
son constantes para cualquier patrn. El problema es hallar estas

3a 2
4 c2
constantes, puesto que ellas permitirn determinar los parmetros a y c de la celda y harn
posible que se calculen los ndices de las lneas.
El valor de A se obtiene a partir de las lneas hk0 . Cuando 0 , la ecuacin (5.3) se convierte
en sen 2 A (h 2 h k k 2 ) . Los valores permitidos de (h 2 hk k 2 ) se determinan de una
Tabla de Formas Cuadrticas de los ndices de Miller, como la que se incluye en el Apndice 2;
estos valores son 1, 3, 4, 7, 9, 12, 13, etc. Por lo tanto, las lneas hk0 deben tener valores de
sen 2 en la proporcin de estos enteros y A ser algn nmero como 1, 1/3, 1/4, 1/7, 1/9, etc.,
veces los valores del sen 2 de estas lneas. Determinado el valor de A se puede hallar el
parmetro a de la celda.
El valor de C se obtiene de las otras lneas del patrn y el uso de la ecuacin (5.3) en la forma:
(5.4)
sen 2 A (h 2 h k k 2 ) C 2
Las diferencias representadas por el lado izquierdo de la ecuacin (5.4) se establecen para
diversos valores asumidos de h y k, en un intento de hallar un conjunto consistente de valores de
C 2 , los cuales deben estar es la proporcin 1, 4, 9, 16, etc. Una vez que estos valores se
encuentran, puede calcularse C. Determinado el valor de C se puede hallar el parmetro c de la
celda.
Para el Sistema cristalino Tetragonal, - de constantes de red a y c - el espaciado d de los
planos individuales de la red cristalina, con ndices (hk ), se obtiene de la forma cuadrtica:
72
(h 2 k 2 ) 2
(5.5)

d 2hk a 2
c2
De la ecuacin (5.5) y la ley de Bragg, con n 1 , se obtiene la ecuacin cuadrtica de Bragg:
2 (h 2 k 2 ) 2
sen 2

(5.6)
4 a 2
c2
1
Los valores de sen 2 deben obedecer a la relacin:

donde: A
y C
sen 2 A (h 2 k 2 ) C 2
(5.7)
, son constantes para cualquier patrn. El problema es hallar estas

4a
4 c2
constantes, puesto que ellas permitirn determinar los parmetros a y c de la celda y harn
posible que se calculen los ndices de las lneas.
2
El valor de A se obtiene a partir de las lneas hk0 . Cuando 0 , la ecuacin (5.7) se convierte
en sen 2 A (h 2 k 2 ) . Los valores permitidos de (h 2 k 2 ) son 1, 2, 4, 5, 8, 9, 10, etc. Por lo
tanto, las lneas hk0 deben tener valores de sen 2 en la proporcin de estos enteros, y A ser
algn nmero como 1, 1/2, 1/4, 1/5, 1/8, etc., veces los valores del sen 2 de estas lneas.
Determinado el valor de A se puede hallar el parmetro a de la celda.
El valor de C se obtiene de las otras lneas del patrn y el uso de la ecuacin (5.7) en la forma
(5.8)
sen 2 A (h 2 k 2 ) C 2
Las diferencias representadas por el lado izquierdo de la ecuacin (5.8) se establecen para
diversos valores asumidos de h y k, en un intento de hallar un conjunto consistente de valores de
C 2 , los cuales deben estar es la proporcin 1, 4, 9, 16, etc. Una vez que estos valores se
encuentran, puede calcularse C. Determinado el valor de C se puede hallar el parmetro c de la
celda.
Las sustancias cristalinas Monoclnicas y Triclnicas producen patrones de polvo de gran
complejidad debido a que el nmero de constantes independientes involucradas es ahora cuatro y
seis, respectivamente. Todava no se ha creado algn mtodo exitoso, analtico o grfico para
indexar tales patrones.
Se puede concluir que el patrn de polvo de una sustancia que tiene ms de dos parmetros de
celda independientemente variables es extremadamente difcil, si no imposible de resolver. Las
estructuras de tales sustancias se determinan casi siempre examinando un monocristal de la
sustancia.
5.2. EFECTO DE LA DISTORSIN DE LA CELDA EN EL PATRN DE POLVO
Cuando la celda unitaria de la sustancia se distorsiona en diversas formas, existen muchas ms
lneas en el patrn de una sustancia de baja simetra - tal como la triclnica - que en el patrn de
una sustancia de alta simetra - tal como la cbica - y se puede tomar como regla general que
cualquier distorsin de la celda unidad que disminuya su simetra, en el sentido de introducir
parmetros variables adicionales, incrementar el nmero de lneas en el patrn de polvo.
73
El incremento en el nmero de lneas se debe fundamentalmente a la introduccin de nuevos

espaciados en los planos, originados por la distorsin no uniforme. As, por ejemplo, en la celda
cbica los planos (200), (020) y (002) tienen el miso espaciado y solamente se forma una lnea en
el patrn, llamada lnea 200; pero esta lnea se divide en dos cuando la celda llega a ser
tetragonal, cuando se distorsiona a travs de un solo eje, puesto que ahora el espaciado de los
planos (002) difiere de los otros dos. Si por distorsin la celda llega a ser ortorrmbica, los tres
espaciados son diferentes y se formarn tres lneas.
5.3. DETERMINACIN DEL NMERO DE TOMOS EN UNA CELDA UNITARIA
Despus de establecer la forma y el tamao de la celda unidad, se debe hallar el nmero de
tomos en la celda, debido a que el nmero de tomos debe conocerse antes que sus posiciones
puedan ser determinadas. Para hallar este nmero, se usa el hecho que el volumen V de la celda
unidad, calculada a partir de los parmetros de la red, multiplicada por la densidad de la
sustancia es igual al peso de todos los tomos en la celda.
As tenemos que para una masa m de tomos o molculas contenidas en la celda unidad, su
m NM
densidad es dada por:
(5.9)

V N0V
donde: N es el nmero de tomos o molculas en la celda unidad, N 0 es el Nmero de Avogadro
y M es el peso molecular. Luego, el nmero de tomos por celda se puede calcular a partir de N y
la composicin de la fase.
Si la sustancia es un elemento de peso atmico A, entonces la ecuacin (5.9) se convierte en:
N A N 0 V , donde N es el nmero de tomos por celda unidad.
Cuando se determina en esta forma, el nmero de tomos por celda es siempre un entero, dentro
del error experimental.
5.4. DETERMINACIN DE POSICIONES ATMICAS
Para hallar las posiciones de un nmero conocido de tomos en una celda unidad de forma y
tamao conocidos, se debe usar las intensidades relativas observadas de los haces difractados,
puesto que estas intensidades son determinadas por las posiciones de los tomos. Para hallar las
posiciones atmicas, sin embargo, se debe proceder por prueba y error, porque no existe mtodo
conocido de calcular directamente las posiciones atmicas a partir de las intensidades
observadas. Para ver porqu es esto as, consideraremos las dos ecuaciones bsicas involucradas,
a saber:
2
2 1 cos 2
I F p
(5.10)
sen 2 cos
que proporciona las intensidades relativas de los haces reflejados y

N
F fn e
2 i (hu n kv n w n )
(5.11)
que proporciona el valor del factor de estructura F para la reflexin hk en trminos de las
posiciones atmicas uvw.
74
Puesto que la intensidad relativa I, el factor de multiplicidad p y el ngulo de Bragg se conocen

para cada lnea del patrn, se puede hallar el valor de F para cada reflexin de la ecuacin
(5.10). Pero F mide solamente la amplitud relativa de cada reflexin, mientras que para usar la
ecuacin (5.11), para calcular las posiciones atmicas, se debe conocer el valor de F, el cual mide
la amplitud y la fase de una reflexin relativa a la otra. Esta es la esencia del problema. Las
intensidades de dos haces reflejados son proporcionales a los cuadrados de sus amplitudes pero
independientes de sus fases relativas. Puesto que todo lo que se puede medir es la intensidad, se
puede determinar la amplitud pero no la fase, lo cual significa que no se puede calcular el factor
de estructura sino solamente su valor absoluto.
Las posiciones atmicas, por lo tanto, se pueden determinar solamente por prueba y error. Se
asume un conjunto de posiciones atmicas, se calculan las intensidades correspondientes a esas
posiciones y las intensidades calculadas se comparan con las observadas, el proceso se repite
hasta que se alcanza una concordancia satisfactoria.
5.5. EJEMPLO DE DETERMINACIN DE ESTRUCTURA
El patrn de difraccin de una muestra en polvo de
CdTe se obtuvo usando una cmara Debye-Scherrer
y radiacin K de Cu. Los valores observados del
sen 2 para las primeras 16 lneas se listan en la
Tabla 5-1, junto con las intensidades relativas de las
lneas estimadas visualmente.
Este patrn puede indexarse sobre la base de una

celda unidad cbica y los ndices de las lneas
observadas se dan en la Tabla. El parmetro de red,
calculado del valor de sen 2 para la lnea de ms
alto ngulo, es de 6.46 A. La densidad medida de la
muestra fue de 5.82 g/cm3 y su peso molecular es
240.02 g/mol.
La aplicacin de la ecuacin (5.9) da el nmero de
N0V
molculas por celda unidad: N
.
M
Reemplazando los valores, se tiene:
Tabla 5-1
Lnea
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
Intensidad
fuerte
muy fuerte
muy fuerte
muy dbil
media
media
fuerte
media
dbil
media
media
dbil
dbil
media
muy fuerte
fuerte
sen 2
0.0462
0.1198
0.1615
0.1790
0.2340
0.2750
0.3460
0.3910
0.4610
0.5040
0.5750
0.6160
0.6880
0.7290
0.7990
0.8400
hk
111
220
311
222
400
331
422
511, 333
440
531
620
533
444
711, 551
642
731, 553
(5.82 g / cm3 )(6.023 1023 molec / mol)(6.46 108 cm)3

3.94 4
240.02 g / mol
En este punto, se conoce que la celda unidad del CdTe es cbica y que contiene 4 molculas de
CdTe, esto es, 4 tomos de Cd y 4 tomos de Te. Se debe ahora considerar los posibles arreglos
de estos tomos en la celda unidad. Examinando los ndices listados en la Tabla 5-1 se observa
que los ndices son todos no mezclados, por lo que la red de Bravais debe ser cara centrada. Sin
embargo se observa, adems, que no estn presentes todos los posibles conjuntos de ndices no
mezclados: 200, 420, 600, 442, 622 y 640 no se encuentran en el patrn. Pero estas reflexiones
pueden ser demasiado dbiles para ser observadas y el hecho de que ellas no aparezcan no
invalida la conclusin de que la red es cara centrada. Existen dos estructuras cbicas caras
centradas del tipo AB, esto es, que contienen dos tomos diferentes en iguales proporciones y
N
75
ambas contienen cuatro molculas por celda unidad: estas son la estructura NaCl, de enlace
inico y la forma blenda de zinc del ZnS, de enlace covalente.
El siguiente paso es calcular las intensidades difractadas relativas para cada estructura y
compararlas con el experimento, para determinar cual de estas estructuras es la correcta.
Si el CdTe tiene la estructura del NaCl entonces su factor de estructura para ndices no
mezclados es dado por:
F2 16 (f Cd f Te ) 2 , si (h k ) es par
F2 16 (f Cd f Te ) 2 , si (h k ) es impar
(5.12)
Por otro lado, si la estructura ZnS es correcta, entonces el factor de estructura para ndices no
mezclados es dado por:
2
2
2
F 16 (f Cd
f Te
) , si (h k ) es impar
2
F 16 (f Cd f Te ) 2 , si (h k ) es un impar mltiplo de 2
(5.13)
F 16 (f Cd f Te ) 2 , si (h k ) es un par mltiplo de 2.
Si antes de realizar un clculo detallado de intensidades difractadas relativas por medio de la

ecuacin (5.10), casi se puede descartar la estructura NaCl como una posibilidad simplemente
inspeccionando las ecuaciones (5.12). Los nmeros atmicos del Cadmio y el Teluro son 48 y
52, respectivamente, as que los valores de (f Cd f Te ) 2 es varios cientos ms grande que el
valor de (f Cd f Te ) 2 , para todos los valores del sen / . Entonces, si el CdTe tiene la
estructura del NaCl, la reflexin 111 debera ser muy dbil y la reflexin 200 muy fuerte. En la
Tabla 5-1, la reflexin 111 es fuerte y la 200 no se observa. Evidencia posterior que la estructura
NaCl es incorrecta se da en la cuarta columna de la Tabla 5-2, donde las intensidades calculadas
de las primeras ocho posibles lneas se listan: no existe concordancia entre estos valores y las
intensidades observadas.
Por otro lado, si se asume la estructura ZnS, los clculos de intensidad conducen a los valores
listados en la quinta columna. La concordancia entre estos valores y las intensidades observadas
es excelente, excepto para un poco menor inconsistencia entre las reflexiones a bajo ngulo y que
se debe a que se ha despreciado el factor de absorcin. En particular, se nota que la estructura
ZnS cuenta satisfactoriamente para todas las reflexiones perdidas (200, 420, etc.) puesto que las
intensidades calculadas de estas reflexiones son todas extremadamente bajas. Se puede concluir,
por lo tanto, que el CdTe tiene la estructura de la forma blenda de zinc del ZnS.
Antes de que una estructura sea mostrada que est en concordancia con la data de difraccin, es
recomendable calcular las distancias interatmicas incluidas en esa estructura. Este clculo no
slo es de inters por si mismo, sino que sirve para revelar cualquier error que pudo haberse
cometido, puesto que existe obviamente algo incorrecto con una estructura propuesta si ubica
ciertos tomos juntos lo que es imposible. En nuestro caso, el vecino ms prximo al tomo de
Cd en 000 es el tomo de Te en . La distancia interatmica Cd-Te es por lo tanto
3 a / 4 2.80 A . Para comparar, se puede calcular una distancia interatmica Cd-Te terica
promediando las distancias de aproximacin de los tomos ms prximos en los elementos
puros. Para hacer esto, consideramos los tomos como esferas rgidas en contacto e ignoramos
los efectos del nmero de coordinacin y el tipo de enlace sobre el tamao del tomo.
76
Tabla 5-2
1
Lnea
hk
Intensidad
observada
111
200
220
311
222
400
331
420
422
511, 333
440
531
600, 442
620
533
622
444
711, 551
640
642
731, 553
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
fuerte
muy fuerte
muy fuerte
muy dbil
media
media
fuerte
media
dbil
media
media
dbil
dbil
media
muy fuerte
fuerte
4
5
Intensidad calculada
Estructura NaCl
0.05
13.2
10.0
0.02
3.5
1.7
0.01
4.6
Estructura ZnS
12.4
0.03
10.0
6.2
0.007
1.7
2.5
0.01
3.4
1.8
1.1
2.0
0.005
1.8
0.9
0.004
0.6
1.8
0.005
4.0
3.3
Estas distancias de aproximacin son 2.98 A en el Cadmio puro y 2.87 A en el Teluro puro, el
promedio es 2.93 A. La distancia interatmica observada Cd-Te es 2.80 A, casi el 4.5% ms
pequeo que el valor calculado; esta diferencia es razonable y puede ser debido al enlace
covalente que caracteriza esta estructura.
77
LABORATORIO N 11
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS HEXAGONALES
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una muestra en polvo de zinc como
una funcin del ngulo de difraccin.
Calcular las constantes de red del zinc a partir de las posiciones angulares de las lneas
individuales de Bragg.
Asignar las reflexiones de Bragg a los correspondientes planos de la red del zinc y
determinar el tipo de red de Bravais.
Determinar el nmero de tomos en la celda unitaria del zinc.

2 d sen
Donde n es el orden de difraccin.
(1)
d
Cuando existe slo un tomo en la celda unidad,
entonces todas las reflexiones que ocurren satisfacen
d sen
d sen
las condiciones de Bragg, ver Figura 1. Cuando
Figura 1.- Condicin de Bragg para
existen N tomos en una celda unidad, sin embargo,
reflexin constructiva de los rayos X por
entonces la amplitud total de los rayos x dispersados
los planos de un cristal.
por la celda es descrita por el factor de estructura F,
que se calcula totalizando los factores de dispersin atmica f de los N tomos individuales,
teniendo en cuenta sus fases.
N
(2)
Fhk
La celda unitaria de un sistema hexagonal con la mayor densidad de empaquetamiento de

esferas contiene dos tomos con posiciones 0,0,0 y 2/3,1/3,1/2. De acuerdo a la ecuacin (2),
por consiguiente, el factor de estructura F para este tipo de red cristalina es dada por:
(3)
F f{e2i (0) e2i[(2/3) h (1/3) k (1/2) ]}
La Tabla N 1 proporciona las reglas de seleccin para el factor de estructura F, considerando
que n 0,1, 2,3, 4,...
78
Para el sistema cristalino hexagonal, de constantes de red a y c, el

espaciado d de los planos individuales de la red cristalina, con
ndices (hk ), se obtiene de la forma cuadrtica:
1
4 h 2 h k k 2 2

(4)
2
c
d 2hk 3
a2
Tabla N 1.- Reglas de

seleccin para el factor
de estructura F de
sistemas hexagonales
h 2k
3n
Impar
De las ecuaciones (4) y (1), con n 1 , se obtiene la ecuacin
2n
Par
cuadrtica de Bragg:
3n 1
Impar
2 4 (h 2 h k k 2 ) 2
sen 2

(5)
4 3
3n 1
Par
a2
c2
Para la evaluacin del registro de difraccin, la ecuacin (5) se puede escribir como:
sen 2 A (h 2 h k k 2 ) C 2
Donde se ha considerado que: A
y C
F
0
4f 2
3f 2
f2
(6)
.
3a 2
4 c2
El valor de A se obtiene a partir de las lneas hk0 . Cuando 0 , la ecuacin (6) se convierte
sen 2 A (h 2 h k k 2 )
en:
(7)
Los valores permitidos de (h 2 hk k 2 ) se determinan de una Tabla de Formas Cuadrticas de

los ndices de Miller, como la que se incluye en el Apndice 2; estos valores se reproducen en la
Tabla N 2. Por lo tanto, las lneas hk0 deben tener valores de sen 2 en la proporcin de estos
enteros y A ser algn nmero como 1, 1/3, 1/4, 1/7, 1/9, etc., veces los valores del sen 2 de
estas lneas. Determinado el valor de A se puede hallar el parmetro a de la celda.
Tabla N 2.- Combinaciones permitidas h, k.
hk
2
h hkk
1 0
1 1
2 0
2 1
3 0
2 2
3 1
12
13
El valor de C se obtiene de las otras lneas del patrn y el uso de la ecuacin (6) en la forma:
(8)
sen 2 A (h 2 h k k 2 ) C 2
Las diferencias representadas por el lado izquierdo de la ecuacin (8) se establecen para diversos
valores asumidos de h y k, en un intento de hallar un conjunto consistente de valores de C 2 , los
cuales deben estar es la proporcin 1, 4, 9, 16, etc. Una vez que estos valores se encuentran,
puede calcularse C. Determinado el valor de C se puede hallar el parmetro c de la celda.
(K) sen 154.18 pm
1.11
(K) sen 139.22 pm
(9)
79
m NM
.
V N0V
N 0 ( 3 a 2c / 2)
(10)
M
Donde: N 0 es el Nmero de Avogadro, a y c son las constantes de la red y M es el peso atmico.
Gonimetro

Polvo de zinc
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de polvo de zinc en el
2. Transferir un poco de polvo de zinc a una hoja de papel y usar la esptula para amasarla
hasta lograr una pasta firme. Para lograr la concentracin ms alta posible del material, usar
muy poca vaselina, slo una punta de la esptula.
muestra.
como se indic en el Laboratorio 1.
6. Montar el experimento como se muestra en la Figura 2, fijando la lnea de marca del bloque
muestra de zinc en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
80
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Zn
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: sin filtro
11. Fijar el diafragma tubular con hoja de Nquel en la salida del tubo de rayos X y montar la
muestra de zinc en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.

botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: Zn
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: Ni
CUESTIONARIO.1. Observar el registro de difraccin del Zinc, obtenido sin filtro, y registrar en la Tabla N 3
los valores de correspondientes a cada pico de difraccin. Determinar los valores de
sen 2 en cada caso para identificar los picos de difraccin K y K usando la ecuacin (9).
81
2. Usar el registro de difraccin del Zinc, obtenido con filtro de Nquel, para corroborar que la
identificacin de los picos de difraccin K ha sido correcta. Qu observa respecto a la
intensidad los picos? Qu ocurre con la deteccin de las reflexiones a grandes ngulos de
difraccin?
3. Completar la Tabla N 3 y buscar los cocientes que sean aproximadamente iguales entre si,
o a los valores de sen 2 , ya que puede asumirse que los picos correspondientes tienen
ndices con 0 . Asignar los ndices de Miller a estos picos, tomando como referencia las
combinaciones permitidas h, k que se listan en la Tabla N 2.
Tabla N 3
Pico
seni
sen 2 i
sen 2i / 3
sen 2i / 4
sen 2i / 7
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
9
4. Promediar los valores de los cocientes identificados aproximadamente iguales para
determinar el valor de A.
5. A partir de la ecuacin A 2 / 3a 2 , determinar la constante de red a, usando los valores
de A y (K) 154.18 pm .
6. Completar la Tabla N 4 y buscar valores C 2 que estn a una razn 1, 4, 9, 16, etc.
Asignar los ndices de Miller a estos picos, tomando como referencia las combinaciones
permitidas h, k que se listan en la Tabla N 2.
Tabla N 4
Pico
sen 2 i
sen 2i A
sen 2i 3A
sen 2i 4A
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
82
7. Usando la ecuacin (8) determinar los valores correspondientes de C y determinar su valor

promedio.
8. A partir de la ecuacin C 2 / 4 c 2 , determinar la constante de red c, usando los valores de
C y (K) 154.18 pm .
9. Considerando los valores aceptados de a 266.3pm y c 492.5 pm para las dos
constantes de la red hexagonal del zinc, determinar el error relativo en la determinacin
experimental de estos parmetros.
10. Demostrar que para una celda unitaria hexagonal de parmetros a y c su volumen es dado
3 2
por V
a c.
2
11. Considerando que la densidad del zinc es 7.14 g/cm3 y que su peso atmico es 63.38
gramos, usando la ecuacin (10) determinar el nmero de tomos en la celda unitaria de la
red del zinc.
12. Del anlisis de sus resultados, determinar el tipo de red de Bravais que le corresponde al zinc
y representarla en un dibujo.
83
LABORATORIO N 12
DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS TETRAGONALES
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una muestra en polvo de dixido de
plomo (PbO 2 ) como una funcin del ngulo de difraccin.
Calcular las constantes de red del PbO 2 partir de las posiciones angulares de las lneas
individuales de Bragg.
Asignar las reflexiones de Bragg a los correspondientes planos de la red del PbO 2 y
determinar el tipo de red de Bravais.
Determinar el nmero de tomos en la celda unitaria del PbO 2 .

2 d sen
(1)
Donde n es el orden de difraccin.

Cuando existe slo un tomo en la celda unidad, entonces todas las reflexiones que ocurren
satisfacen las condiciones de Bragg. Cuando existen N tomos en una celda unidad, sin
embargo, entonces la amplitud total de los rayos x dispersados por la celda es descrita por el
factor de estructura F, que se calcula totalizando los factores de dispersin atmica f de los N
tomos individuales, teniendo en cuenta sus fases.
N
Fhk f n e 2 i (hu n kv n w n )
(2)
Fhk
La celda unitaria de un sistema tetragonal puede ser simple, esto es, tener slo un tomo en el
origen de la red. Adicionalmente a esto, pueden existir otras variantes: celdas unidad caras
centradas y cuerpo centrado. Solamente la ltima, que contiene dos tomos o molculas en las
coordenadas 0,0,0 y 1/2,1/2,1/2 ser considerada aqu. De acuerdo a la ecuacin (2), por
consiguiente, el factor de estructura F para este tipo de red cristalina es dada por:
F f{e2 i (0) e2 i[(1/2) h (1/2) k (1/2) ]}

Cuando h k 2n 1 , con n 1, 2, 3, 4... , la suma es impar, as que F 0 .
Si h k 2n , la suma es par, entonces F 2 f y Fhk
(3)
4f 2.
84
Para el sistema cristalino tetragonal, de constantes de red a y c, el espaciado d de los planos

h 2 k 2 2
1
(4)
d 2hk a 2 c2
2 h 2 k 2 2
sen 2

(5)
4 a 2
c2
Para la evaluacin del registro de difraccin, la ecuacin (5) se puede escribir como:
sen 2 A (h 2 k 2 ) C 2
(6)
y C 2 .
2
4a
4c
El valor de A se obtiene a partir de las lneas hk0 . Cuando 0 , la ecuacin (6) se convierte
Donde se ha considerado que: A
sen 2 A (h 2 k 2 )
en:
(7)
Los valores permitidos de (h 2 k 2 ) son 1, 2, 4, 5, 8, 9, 10, etc., ver Tabla 1.

Tabla N 1.- Combinaciones permitidas h, k.
hk
h k
2
1 0
1
1 1
2
2 0
4
2 1
5
2 2
8
3 0
9
3 1
10
Por lo tanto, las lneas hk0 deben tener valores de sen 2 en la proporcin de estos enteros, y A
ser algn nmero como 1, 1/2, 1/4, 1/5, 1/8, 1/9, 1/10, etc., veces los valores del sen 2 de estas
lneas. Determinado el valor de A se puede hallar el parmetro a de la celda.
El valor de C se obtiene de las otras lneas del patrn y el uso de la ecuacin (6) en la forma:
(8)
sen 2 A (h 2 k 2 ) C 2
Las diferencias representadas por el lado izquierdo de la ecuacin (8) se establecen para diversos
valores asumidos de h y k, en un intento de hallar un conjunto consistente de valores de C 2 , los
cuales deben estar es la proporcin 1, 4, 9, 16, etc. Una vez que estos valores se encuentran,
puede calcularse C. Determinado el valor de C se puede hallar el parmetro c de la celda.
(K) sen 154.18 pm
1.11
(9)
(K) sen 139.22 pm
m NM
.
V N0V
N 0 (a 2c)
M
(10)
85
Donde: N 0 es el Nmero de Avogadro, a y c son las constantes de la red y M es el peso

molecular.
Gonimetro

Polvo de PbO 2
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de polvo de PbO 2 en el
2. Transferir un poco de polvo de PbO 2 a una hoja de papel y usar la esptula para amasarla
hasta lograr una pasta firme. Para lograr la concentracin ms alta posible del material, usar
muy poca vaselina, slo una punta de la esptula.
muestra.
como se indic en el Laboratorio 1.
6. Montar el experimento como se muestra en la Figura 1, fijando la lnea de marca del bloque
muestra de PbO 2 en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: PbO 2
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 45
Filtro
: sin filtro
86
muestra de PbO 2 en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.

botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: PbO 2
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 45
Filtro
: Ni
CUESTIONARIO.1. Observar el registro de difraccin del PbO 2 , obtenido sin filtro, y registrar en la Tabla N 2
los valores de correspondientes a cada pico de difraccin. Determinar los valores de
sen 2 en cada caso para identificar los picos de difraccin K y K usando la ecuacin (9).
2. Usar el registro de difraccin del PbO 2 , obtenido con filtro de Nquel, para corroborar que la
identificacin de los picos de difraccin K ha sido correcta. Qu observa respecto a la
intensidad los picos? Qu ocurre con la deteccin de las reflexiones a grandes ngulos de
difraccin?
87
3. Completar la Tabla N 3 y buscar los cocientes que sean aproximadamente iguales entre si,
o a los valores de sen 2 , ya que puede asumirse que los picos correspondientes tienen
ndices con 0 . Asignar los ndices de Miller a estos picos, tomando como referencia las
combinaciones permitidas h, k que se listan en la Tabla N 1.
Tabla N 2
Pico
seni
sen 2 i
sen 2i / 2
sen 2i / 4
sen 2i / 5
sen 2i / 8
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
4. Promediar los valores de los cocientes identificados que sean aproximadamente iguales
para determinar el valor de A.
5. A partir de la ecuacin A 2 / 4 a 2 , determinar la constante de red a del PbO 2 , usando
los valores de A y (K) 154.18 pm .
6. Completar la Tabla N 3 y buscar valores C 2 que estn a una razn 1, 4, 9, 16, etc.
Asignar los ndices de Miller a estos picos, tomando como referencia las combinaciones
permitidas h, k que se listan en la Tabla N 1.
Tabla N 3
Pico
sen 2 i
sen 2i A sen 2i 2A
sen 2i 4A
sen 2i 5A
sen 2i 8A
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
88
7. Usando la ecuacin (8) determinar los valores correspondientes de C y determinar su valor

promedio.
8. A partir de la ecuacin C 2 / 4 c 2 , determinar la constante de red c del PbO 2 , usando los
valores de C y (K) 154.18 pm .
9. Considerando los valores aceptados de a 266.3pm y c 492.5 pm para las dos
constantes de la red tetragonal del PbO 2 , determinar el error relativo en la determinacin
experimental de estos parmetros.
10. Considerando que la densidad del PbO 2 es 9.375 g/cm3 y que su peso molecular es 239.19
gramos, usando la ecuacin (10) determinar el nmero de tomos en la celda unitaria de la
red del PbO 2 .
PbO 2 y representarla en un dibujo.
89
CAPTULO 6
MEDIDA PRECISA DE PARMETROS
6.1. INTRODUCCIN
Muchas aplicaciones de difraccin de rayos x requieren del conocimiento preciso de los
parmetros de red. El proceso de medir un parmetro de red es indirecto y es difcil obtener una
alta precisin. El parmetro de red a0 de una sustancia cbica es directamente proporcional al
espaciado d de cualquier conjunto particular de planos de la red. Si se mide el ngulo de Bragg
para este conjunto de planos, se puede usar la ley de Bragg para determinar d y despus calcular
a0. Pero es sen , y no , lo que aparece en la ley de Bragg. La precisin en d, o a0, depende por
lo tanto de la precisin en sen , una cantidad derivada, y no de la precisin de , la cantidad
medida. Puede demostrarse que si los valores medidos de a0 se grafican versus ciertas funciones
de , en lugar de 2 directamente, la curva resultante es una lnea recta la cual puede
extrapolarse de manera confiable. En este captulo se mostrarn esas funciones de extrapolacin
y como pueden ser derivadas.
6.2. CMARA DEBYE-SCHERRER
Para determinar la funcin de extrapolacin en esta cmara se deben considerar los diversos
efectos que pueden conducir a error en los valores medidos de . Estas fuentes de error son las
siguientes: el encogimiento de la pelcula, el radio incorrecto de la cmara, la excentricidad de la
muestra y la absorcin en la muestra.
En la Figura 6.1, S es la distancia sobre la pelcula entre
dos lneas de retro-reflexin correspondientes; 2 es el
suplemento de 2 , esto es, 90 0 . Estas cantidades
estn relacionadas al radio R de la cmara por la ecuacin:
S'
(6.1)
4R
El error en debido al encogimiento de la pelcula y al
error en el radio es dado por:
S' R'
(6.2)

R'
S'
La Figura 6.2, muestra el
desplazamiento de la muestra
respecto al centro de la
cmara, representado por las
componentes x paralela al
haz incidente, Figura (a), y y
en ngulo recto al haz
incidente, Figura (b). El error
en debido a la excentricidad
de la muestra es:
Figura 6.1.- Distancia sobre la

pelcula en la cmara Debye Scherrer
Figura 6.2.- Efecto del desplazamiento de la muestra sobre las

posiciones de las lneas
90
x
(6.3)
sencos
R
El error en debido a la absorcin de la muestra se asume que est incluido en el error de
centrado de la muestra dado por la ecuacin (6.3).

Tomando en cuenta todas las fuentes de error en esta cmara, para sustancias cbicas se puede
d a
demostrar que:
(6.4)
K cos 2
d
a
donde K es una constante. Si el valor de a calculado para cada lnea sobre el patrn de
difraccin se grafica versus cos 2 , resultar una lnea recta y a 0 , el valor verdadero de a,
puede hallarse extrapolando esta lnea a cos 2 0 .
6.3. CMARAS FOCALIZADORAS DE RETROREFLEXIN
An cuando esta clase de cmaras es preferida para el trabajo de alta precisin, no est libre de
fuentes de error sistemtico. Las ms importantes de estas fuentes de error son las siguientes: el
encogimiento de la pelcula, el radio incorrecto de la cmara, el desplazamiento de la muestra de
la circunferencia de la cmara y la absorcin en la muestra.
Un anlisis detallado de estas fuentes de error demuestra que producen errores fraccionales en la
d
distancia interplanar d, tal que:
(6.5)
K tan
d
Donde K es una constante y (90 ) . Esta funcin es por lo tanto la usada para extrapolar
parmetros de red medidos con esta cmara.
6.4. CMARAS PINHOLE
Esta cmara, en el arreglo de retro-reflexin, produce lneas de difraccin que son relativamente
ms anchas que las deseadas por lo que no es realmente un instrumento de alta precisin en la
medida de los parmetros de red, pero se menciona aqu debido a su gran utilidad en el trabajo
metalrgico.
Las ms importantes fuentes de error sistemtico en estas cmaras son las siguientes: el
encogimiento de la pelcula, la distancia incorrecta muestra-pelcula y la absorcin en la muestra.
En este caso puede demostrarse que el error fraccional en la distancia interplanar d, es dado por:
d
(6.6)
K sen 4 tan K cos 2 (2 cos 2 1)
d
Donde K es una constante y (90 ) . Con cualquiera de estas funciones de extrapolacin
puede obtenerse un valor casi preciso del parmetro de red.
6.5. DIFRACTMETROS
Cuando un difractmetro se usa para medir los espaciados d entre los planos, las ms importantes
fuentes de error sistemtico son las siguientes: el desalineamiento del instrumento, el uso de
muestra plana en lugar de una muestra curvada, la absorcin de la muestra, el desplazamiento de
la muestra del eje del difractmetro y la divergencia vertical del haz incidente.
91
Estas fuentes de error originan que el error fraccional en d vare de manera complicada con , tal
que ninguna funcin de extrapolacin simple pueda ser usada para obtener alta exactitud.
Debido a algunas de estas fuentes de error, pero no a todas, se origina que el error fraccional en
d
la distancia interplanar d, sea dado aproximadamente por:
(6.7)
K cos 2
d
donde K es una constante. Un valor casi aproximado del parmetro de red a 0 puede obtenerse
por simple extrapolacin contra cos 2 , como en la cmara Debye-Scherrer.
6.6. MTODO DE LOS MNIMOS CUADRADOS
Todos los mtodos para la medida exacta de los parmetros de red dependen en parte de la
grfica de extrapolacin. Sus exactitudes por lo tanto dependern de la exactitud con la cual una
lnea recta pueda ser trazada a travs de un conjunto de puntos experimentales, cada uno de los
cuales est sujeto a errores al azar.
Consideremos que diferentes puntos tienen coordenadas x 1 y1 , x 2 y 2 , x 3 y 3 ,, x n y n y que se
conoce que x e y estn relacionadas por la ecuacin de la forma:
(6.8)
y a bx
donde a y b son constantes a determinar a partir de las siguientes ecuaciones normales:
y
ab
x
(6.9)

xy a x b x
(6.10)
Las ecuaciones normales se obtienen sustituyendo los valores experimentales de x e y en la

ecuacin (6.8), obtenindose n ecuaciones en a y b. Para obtener la primera ecuacin normal, se
multiplica cada una de esas n ecuaciones por el coeficiente de a en cada ecuacin y luego se
suma. Para obtener la segunda ecuacin normal, se multiplica cada una de las ecuaciones por el
coeficiente de b y luego se suma.
6.7. MTODO DE COHEN
En este mtodo se aplica el mtodo de los mnimos cuadrados directamente a los valores
observados de sen 2 en lugar de usar el mtodo de los mnimos cuadrados para hallar la mejor
lnea recta a una grfica de a, el parmetro de red, versus la funcin de extrapolacin.
Para una sustancia cbica que es examinada en una cmara Debye-Scherrer se obtiene:
sen 2 C A
(6.11)
2
D
donde: C 2 ; (h 2 k 2 2 ) ; A
y 10 sen 2 2 . Los valores de C y A se
10
4a 0
determinan a partir de las siguientes ecuaciones normales:
sen 2 C
2 A
(6.12)
sen C A
2
(6.13)
Estas ecuaciones se obtienen sustituyendo los valores experimentales de sen 2 , y en la

ecuacin (6.11) para cada una de las n lneas de retro-reflexin, obtenindose n ecuaciones en C
y A. Estas ecuaciones pueden resolverse para los valores ms probables de C y A por el mtodo
de los mnimos cuadrados. Una vez hallado C, a 0 puede calcularse directamente de la relacin
dada.
92
LABORATORIO N 13
DETERMINACIN PRECISA DEL PARMETRO DE RED DEL ClNa
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una muestra en polvo de Cloruro de
sodio (ClNa) como una funcin del ngulo de difraccin.
Asignar las reflexiones de Bragg a los correspondientes planos de la red cristalina y
determinar en cada caso el parmetro de red del Cloruro de sodio (ClNa).
Usar la funcin de extrapolacin correspondiente para la determinacin precisa del
parmetro de red del Cloruro de sodio (ClNa).

2 d sen
(1)
N
(2)
| Fhk | 2 .
Una celda unitaria cbica de caras centradas tiene 4 tomos en 000, 0, 0 y 0. De

acuerdo a la ecuacin (2), por consiguiente, el factor de estructura F para este tipo de red
cristalina es dada por:
(3)
| F | 2 16 f 2 con hk slo par o slo impar
| F|2 0
con hk mezclados
93
La situacin es algo diferente cuando la red est hecha de diferentes clases de tomos. Una
celda unitaria cbica de caras centradas que consiste de tomos A y B, como el Cloruro de
sodio (ClNa), donde los tomos A se ubican en 000, 0, 0 y 0, y los tomos B en
, 00, 00 y 00, la siguiente condicin adicional es dada para el factor de estructura F:
| F | 2 16 (f A f B ) 2 con (h k ) par y
(4)
| F | 2 16 (f A f B )2 con (h k ) impar
1
1 2
(5)
(h k 2 2 )
2
2
d hk a
sen 2
(h 2 k 2 2 )
(6)
4a
2

(K) sen 154.18 pm
1.11
(K) sen 139.22 pm
(7)

Gonimetro

Cloruro de sodio (ClNa)
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de Cloruro de sodio (ClNa)
en el mortero y molerla hasta lograr pulverizarla.
2. Transferir un poco de la muestra a una hoja de papel, agregar un poco de vaselina y usar la
esptula para amasar hasta lograr una pasta firme. Para lograr la concentracin ms alta
posible del material, usar muy poca vaselina, slo una punta de la esptula.
muestra.
94


muestra de Cloruro de sodio en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: ClNa
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: sin filtro
95
muestra de Cloruro de sodio en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
: ClNa
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: Ni
CUESTIONARIO.1. Observar el registro de difraccin del Cloruro de sodio (ClNa), obtenido sin filtro, y
registrar en la Tabla N 1 los valores de correspondientes a cada pico de difraccin.
Determinar los valores de sen 2 en cada c aso para identificar los picos de difraccin K y
K usando la ecuacin (7).
Tabla N 1
Pico
sen 2 i
sen 2 i
sen 2 1
hk
1
2
3
4
5
6
7
8
2. Usar el registro de difraccin del Cloruro de sodio (ClNa), obtenido con filtro de Nquel,
para corroborar que la identificacin de los picos de difraccin K ha sido correcta. Qu
observa respecto a la intensidad de los picos? Qu ocurre con la deteccin de las
reflexiones a grandes ngulos de difraccin?
Anexos, asignar los ndices de Miller (hk ) correspondientes a cada uno de los planos que
producen la difraccin.
4. Usando la ecuacin (1) determinar las distancias interplanares d que corresponden a cada
uno de los planos hallados en la pregunta 3 y registrar los resultados en la Tabla N 1.
los valores del parmetro de red a del Cloruro de sodio (ClNa) para cada reflexin, usando
la ecuacin (5).
96
6. Completar la Tabla N 2 tomando en cuenta los ngulos de difraccin para cada

reflexin, los valores correspondientes para la funcin de extrapolacin cos 2 y los
valores hallados del parmetro de red del Cloruro de sodio (ClNa) en cada caso.
Tabla N 2
i
cos 2 i
o
a i (A)
7. Usando los valores de la Tabla N 2, graficar los valores del parmetro de red a del Cloruro
de sodio (ClNa) versus los valores de la funcin de extrapolacin cos 2 para cada reflexin.
8. Aplicar el mtodo de los mnimos cuadrados para la determinacin precisa del parmetro de
red del Cloruro de sodio (ClNa) y su error experimental.
9. Considerando que el valor terico del parmetro de red del Cloruro de sodio (ClNa) es
o
5.639 A , cul es el error experimental cometido por comparacin?
97
CAPTULO 7
ANLISIS CUALITATIVO POR DIFRACCIN
7.1. INTRODUCCIN
Una sustancia siempre produce un patrn de difraccin caracterstico, ya sea que la sustancia
est presente en un estado puro o como una componente de una mezcla de sustancias. Este
hecho es la base para el mtodo del anlisis qumico por difraccin. El anlisis cualitativo para
una sustancia particular se realiza identificando el patrn de difraccin de la sustancia. El
anlisis cuantitativo tambin es posible, porque las intensidades de las lneas de difraccin
originadas por una componente de una mezcla dependen de la proporcin de esa componente
en la muestra.
La ventaja particular del anlisis por difraccin es que da a conocer la presencia de una
sustancia tal como esa sustancia existe en la muestra, y no en trminos de sus elementos
qumicos constituyentes.
El anlisis por difraccin es por lo tanto muy til ya sea si es necesario conocer el estado de
combinacin qumica del elemento involucrado o las fases particulares en la cual ellas estn
presentes. Como resultado, el mtodo de difraccin ha sido ampliamente aplicado para el
anlisis de materiales como polvos minerales, arcillas, materiales refractarios, aleaciones,
productos de corrosin, polvos industriales, etc. Comparado con el anlisis qumico ordinario,
el mtodo de difraccin tiene las ventajas adicionales de ser usualmente ms rpido, de requerir
solamente muy poca muestra y de no ser destructivo.
7.2. ANLISIS CUALITATIVO: PRINCIPIOS BSICOS
El patrn de polvo de una sustancia es caracterstico de esa sustancia y forma una especie de
huella digital por la cual la sustancia puede ser identificada. Si se cuenta con una coleccin de
patrones de difraccin de una gran cantidad de sustancias, se puede identificar una sustancia
desconocida obteniendo su patrn de difraccin y luego localizar en el archivo de patrones
conocidos uno de los cuales corresponda exactamente al patrn de la sustancia desconocida.
Lo que se necesita es un sistema de clasificacin de los patrones conocidos de tal forma que
uno de los que corresponda al desconocido pueda ser localizado rpidamente. Este sistema fue
desarrollado por Hanawalt en 1936. Cualquier patrn de polvo es caracterizado por un conjunto
de lneas de posiciones 2 y un conjunto de lneas de intensidad relativa I. Pero las posiciones
angulares de las lneas dependen de la longitud de onda usada y el espaciado d de los planos de
la red. Hanawalt decidi describir cada patrn listando los valores de d e I de sus lneas de
difraccin y arreglar los patrones conocidos en valores decrecientes de d para la lnea ms
intensa en el patrn. Este arreglo hizo posible un proceso de bsqueda para localizar
rpidamente el patrn deseado.
7.3. EL MTODO HANAWALT
La tarea de construir una coleccin de patrones conocidos fue iniciada por Hanawalt y sus
asociados, quienes obtuvieron y clasificaron datos de algunas 1000 sustancias diferentes. Este
trabajo fue extendido por la American Society for Testing Materials (ASTM) y posteriormente
98
por The Joint Comitte for Powder Diffraction Standars (JCPDS) con la asistencia, a escala
internacional, de un gran nmero de otras sociedades cientficas. Actualmente, esta
informacin, como base de datos, se conoce como The Powder Diffraction File (PDF) y se
puede obtener en medios magnticos.
Puesto que ms de una sustancia puede tener los mismos, o casi los mismos, valores de d para
sus lneas ms intensas e incluso sus segundas lneas ms intensas, Hanawalt caracteriz cada
sustancia por los valores d de sus tres lneas ms intensas, llamadas d1, d2 y d3 para la lnea ms
intensa, la segunda lnea ms intensa y la tercera lnea ms intensa, respectivamente. Los
valores de d1, d2 y d3, junto con las intensidades relativas, son generalmente suficientes para
caracterizar el patrn de una sustancia desconocida y hacer posible que sea localizado el patrn
correspondiente en el archivo.
En cada una de las secciones de los archivos del PDF, las tarjetas estn arregladas en grupos
caracterizados por un cierto rango de espaciados d1. Los grupos mismos estn arreglados en
orden decreciente de sus rangos d1.
Figura 7.1.- Tarjeta tpica de datos de difraccin del PDF para el xido de Silicio.
Una tarjeta tpica de los archivos del PDF se reproduce en la Figura 7.1. En la parte superior
izquierda se ubica el nmero de serie de la tarjeta que indica el nmero de la seccin y el
nmero de la tarjeta en esa seccin. Debajo aparecen los valores de d para las tres lneas ms
intensas y, adicionalmente, el valor ms grande de d para la estructura. Debajo de los valores
de d se listan las intensidades relativas I/I1, expresadas como porcentajes de la lnea ms
intensa en el patrn. Debajo de los datos de intensidad se dan detalles del mtodo usado para la
obtencin del patrn y una referencia al trabajo experimental original. El resto de la porcin del
lado izquierdo de la tarjeta contiene espacios para diversos datos cristalogrficos, pticos y
qumicos. La porcin inferior del lado derecho de la tarjeta lista los valores de d e I/I1 para
todas las lneas observadas.
99
La localizacin de un patrn particular se realiza consultando el libro ndice que acompaa al

archivo. Cada libro contiene dos ndices:
Un ndice alfabtico de cada sustancia por nombre. Este ndice se usa si se tiene algn
conocimiento de uno o ms elementos qumicos en la muestra.
Un ndice numrico que proporciona los espaciados e intensidades de las tres lneas ms
intensas, la frmula qumica, nombre y nmero de serie de la tarjeta. El uso de este ndice
no requiere conocimiento de la composicin qumica de la muestra.
El anlisis cualitativo por el mtodo de Hanawalt comienza con la elaboracin del patrn de
difraccin de la sustancia desconocida. Esto puede ser hecho con una cmara Debye-Scherrer o
un difractmetro y una radiacin caracterstica conveniente que produzca un adecuado nmero
de lneas en el patrn. La preparacin de la muestra deber evitar en lo posible la presencia de
orientacin preferida para producir los valores normales de las intensidades de las lneas.
Despus que se ha obtenido el patrn de difraccin de la sustancia desconocida, se calculan los
espaciados d de los planos correspondientes a cada lnea del patrn. Si el patrn de difraccin
se ha obtenido en una pelcula, las intensidades relativas de las lneas son estimadas
visualmente. Si se ha usado un difractmetro para obtener el patrn, el registro automtico
proporcionar suficiente exactitud, y es habitual tomar la intensidad mxima arriba del ruido de
fondo en lugar de la intensidad integrada como una medida de la intensidad de cada lnea.
Despus de que los valores experimentales de d e I/I1 son tabulados, la sustancia desconocida
se puede identificar mediante el siguiente procedimiento:
1. Localizar el grupo apropiado d1 en el ndice numrico.
2. Leer la segunda columna de valores de d para hallar la concordancia ms prxima a d2 con
un error de 0,01 A.
3. Despus que se ha hallado la concordancia para d1, d2 y d3, se comparan sus intensidades
relativas con los valores tabulados.
4. Cuando se ha encontrado una buena concordancia para las tres lneas ms intensas listadas
en el ndice, se localiza la tarjeta de datos apropiada en el archivo y se comparan los valores
de d e I/I1 de todas las lneas observadas con las lneas tabuladas. Cuando se obtiene una
completa concordancia la identificacin se ha completado.
7.4. EJEMPLOS DE ANLISIS CUALITATIVO
7.4.1 MUESTRA DE UNA SOLA FASE
Consideremos los valores de d e I/I1 de la Tabla
adjunta, que fueron obtenidos del patrn de
difraccin de una sustancia desconocida. Se debe
identificar la sustancia usando los archivos de
difraccin del PDF.
d(A)
3,67
3,17
2,24
1,91
1,83
I/I1 d(A)
60 1,60
100 1,46
80 1,42
40 1,31
30 1,23
De la Tabla dada se observa que los valores

experimentales de d1, d2 y d3 son 3,17 A, 2,24 A y 3,67 A, respectivamente.
I/I1 d(A)
20 1,12
10 1,08
50 1.06
30 1,01
10 0,96
I/I1
10
10
10
10
10
100
Examinando el ndice numrico de los archivos de difraccin del PDF encontramos que esas
lneas ms intensas caen dentro del grupo 3,69 A a 3,60 A de valores de d1, como se observa en
la reproduccin parcial del ndice numrico que se muestra a continuacin.
La inspeccin de los valores listados de d2 revela dos sustancias que tienen valores d2 prximos
a 2,24 A: el Barium Sulfide y el Calcium Telluride. De esas dos sustancias, solamente el
Barium Sulfide tiene un valor d3 prximo al de la sustancia desconocida y tambin se puede
notar que las intensidades relativas listadas para las tres lneas ms intensas de esta sustancia
concuerdan bien con las intensidades observadas.
Luego nos referimos a la tarjeta de datos que lleva el nmero de serie 8-454, reproducida en la
Figura adjunta, y se compara el patrn completo con el observado.
Puesto que la concordancia es satisfactoria para todas las lneas observadas, la sustancia
desconocida es identificada como Barium Sulfide, BaS.
7.4.2 MUESTRA DE DOS FASES
Consideremos los valores de d e I/I1 de la Tabla
adjunta, que fueron obtenidos de un patrn de
difraccin de una sustancia desconocida. Se debe
identificar la sustancia usando los archivos de
difraccin del PDF.
d(A)
2,40
2,09
2,03
1,75
1,47
I/I1 d(A)
50 1,26
50 1,25
100 1,20
40 1,06
30 1,02
I/I1 d(A)
10 0,92
20 0,85
10 0.81
20 0,79
10
I/I1
10
10
20
20
101
De la Tabla dada se observa que los valores experimentales de d1, d2 y d3 son 2,03 A, 2,40 A y
2,09 A, respectivamente.
Examinando el ndice numrico de los archivos de difraccin del PDF en el grupo d1 de 2,04 A
a 2,00 A, se observa que varias sustancias tienen valores d2 cerca de 2,40 A, pero en ningn
caso las tres lneas ms intensas, tomadas juntas, concuerdan con las de la sustancia
desconocida.
Este impase sugiere que la sustancia desconocida es una mezcla de fases y que sera incorrecto
asumir que las tres lneas ms intensas en el patrn de la sustancia desconocida son todas
debida a la misma sustancia.
Supongamos que asumimos que la lnea ms intensa d = 2,03 A y la segunda lnea ms intensa
d = 2,40 A son formadas por dos fases diferentes y que la tercera lnea ms intensa d = 2,09 A
se debe a la primera fase. En otras palabras, asumiremos que d1 = 2,03 A y d2 = 2,09 A para
una fase.
Una bsqueda del mismo grupo de valores de d1, pero ahora en la vecindad de d2 = 2,09 A,
revela que no existe coincidencia entre las dos lneas ms intensas consideradas con una
tercera; por lo que se propone el siguiente arreglo: d1 = 2,03 A y d2 =1,75 A para una fase.
como se muestra en la reproduccin del ndice que se anexa, revela que existe coincidencia
entre las dos lneas ms intensas consideradas con una tercera de 1,25 A para una fase.
Se observa que existe coincidencia entre las tres lneas propuestas del patrn de la sustancia
desconocida con las tres lneas ms intensas del patrn del Nickel, tarjeta con nmero de serie
4-0850 que se reproduce a continuacin.
102
Observando la tarjeta 4-0850, encontramos que existe coincidencia entre todas las lneas del
patrn de Nickel con algunas de las lneas de la Tabla dada de la sustancia desconocida.
En este estado, una fase de la mezcla ha sido determinada como Nickel y podemos considerar
que las lneas restantes se deben a otra sustancia.
Multiplicamos todas las intensidades observadas de las lneas restantes por un factor de
normalizacin 2 para incrementar la intensidad de la lnea ms intensa a 100.
Asumimos ahora que para la nueva fase, la lnea ms intensa es d1 = 2,40 A y que la segunda
lnea ms intensa es d2 = 2,09 A.
como se muestra en la reproduccin del ndice que se anexa, revela que existe coincidencia
entre las dos lneas ms intensas consideradas con una tercera de 1,48 A para la nueva fase.
103
Se observa que existe coincidencia entre las tres lneas propuestas del patrn de la sustancia
desconocida con las tres lneas ms intensas del patrn del Nickel Oxide, tarjeta con nmero de
serie 4-0835 que se reproduce a continuacin.
Observando la tarjeta 4-0835, encontramos que existe coincidencia entre todas las lneas del
patrn de Nickel Oxide con las lneas restantes de la Tabla dada.
En este estado, una nueva fase de la mezcla ha sido determinada como Nickel Oxide y
podemos concluir que la sustancia desconocida es una mezcla de Nquel y xido de Nquel.
7.5. DIFICULTADES PRCTICAS
En la aplicacin del mtodo de Hanawalt surgen dificultades que se deben a:
1. Errores en el patrn de difraccin de la sustancia desconocida que afectan las posiciones
observadas y las intensidades de las lneas de difraccin. Debido a la absorcin de la
muestra, las lneas a bajo ngulo de la mayora de sustancias aparecen ms intensas en
comparacin con las lneas a media o alto ngulo, en un registro difractomtrico que en una
fotografa Debye-Scherrer.
2. Errores en las tarjetas de los archivos de difraccin del PDF que no pueden ser detectadas
por el investigador y conducen a identificaciones erradas.
3. La sustancia desconocida no se encuentra en los archivos de difraccin del PDF o cuando la
sustancia desconocida es una mezcla y el componente a ser identificado no est presente en
cantidad suficiente para producir un buen patrn de difraccin.
104
LABORATORIO N 14
ANLISIS CUALITATIVO
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una sustancia en polvo como una
funcin del ngulo de difraccin usando un difractmetro de rayos X.
Identificar la sustancia aplicando el Mtodo de Hanawalt, haciendo uso de los archivos de
difraccin del Powder Diffraction File (PDF).

2 d sen
(1)
La identificacin de fases cristalinas por difraccin de rayos X se basa en el hecho de que cada
sustancia en estado cristalino produce un patrn de difraccin de rayos X que le es
caracterstico. Los patrones de difraccin de muchas sustancias estn coleccionadas en fichas,
libros y bases de datos publicados por The Joint Comitte for Powder Diffraction Standars
(JCPDS) y se encuentran agrupados en ndices de compuestos orgnicos, inorgnicos y
minerales. Se trata entonces de encontrar el mejor ajuste del patrn de difraccin de una
sustancia desconocida con el patrn de difraccin de un compuesto perteneciente a los archivos
del Powder Diffraction File (PDF).
El anlisis cualitativo por el mtodo de Hanawalt se inicia con la obtencin del patrn de
difraccin de la sustancia desconocida. Esto puede hacerse con un difractmetro y una
radiacin caracterstica conveniente que produzca un adecuado nmero de lneas en el patrn.
La preparacin de la muestra deber evitar en lo posible la presencia de orientacin preferida
para producir los valores normales de las intensidades de las lneas.
Despus que se ha obtenido el patrn de difraccin de la sustancia desconocida, se calculan los
espaciados d de los planos correspondientes a cada lnea del patrn. Si el patrn de difraccin
se ha obtenido con un difractmetro, el registro automtico proporcionar suficiente exactitud,
y es habitual tomar la intensidad mxima arriba del ruido de fondo en lugar de la intensidad
integrada como una medida de la intensidad de cada lnea.
Despus de que los valores experimentales de d e I/I1 son tabulados, la sustancia desconocida
se puede identificar mediante el siguiente procedimiento:
105
1. Ordenar los valores de d en orden decreciente de intensidad.

2. Localizar, en el ndice numrico, el grupo Hanawalt apropiado para el valor d1
correspondiente a la lnea de mayor intensidad.
3. Leer la segunda columna de valores de d para hallar la concordancia ms prxima al valor
d2 de la segunda lnea ms intensa con un error de 0,01 A.
4. Tomar el valor de la tercera lnea ms intensa d3 y comprobar si se ajusta con el valor de la
tercera columna.
5. Despus de que se ha hallado la concordancia para d1, d2 y d3, comparar sus intensidades
relativas con los valores tabulados.
6. Cuando se ha encontrado una buena concordancia para las tres lneas ms intensas listadas
en el ndice, localizar la tarjeta de datos apropiada en el archivo y comparar los valores de d
e I/I1 de todas las lneas observadas con las lneas tabuladas. Cuando se obtiene una
completa concordancia la identificacin se ha completado.
7. En el caso de que el patrn de difraccin de la sustancia desconocida corresponda a una
mezcla de sustancias, sustraer el patrn encontrado del experimental y repetir de nuevo los
pasos 1 al 6 del procedimiento hasta que todas las lneas significantes del patrn de
difraccin experimental se ajusten a algn patrn de las fichas. Al momento de repetir el
procedimiento, tener en cuenta que un mismo pico de difraccin puede corresponder a ms
de una sustancia, lo que se puede evidenciar observando las intensidades del pico del
patrn experimental y del patrn de la ficha, pues cuando el pico experimental muestra una
intensidad muy superior al pico de l patrn de la ficha se puede sospechar que corresponde
a ms de una sustancia.
Gonimetro

Cloruro de potasio (KCl)
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de sustancia en el mortero y
molerla hasta lograr pulverizarla.
posible de la muestra, usar muy poca vaselina, slo una punta de la esptula.
muestra.
4. Para preparar una muestra de dos fases, mezclar cantidades iguales de dos sustancias en el
mortero y molerla hasta lograr pulverizarla, luego repetir los pasos 2 y 3.
106

muestra en polvo en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
:
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: Ni
107
CUESTIONARIO.1. Observar el registro de difraccin de la muestra de una fase y registrar en la Tabla N 1 los
valores de e I correspondientes a cada pico de difraccin.
Tabla N 1
Pico
i ()
d(A)
I(Imp/s)
I/Imax
1
2
3
4
5
6
7
8
2. Usando la ecuacin (1), determinar los valores de d correspondientes a cada pico de
difraccin, calcular las intensidades relativas y registrar los valores en la Tabla N 1.
3. Usar el mtodo de Hanawalt para identificar la muestra analizada, indicando el nmero de
la ficha perteneciente a los archivos del Powder Diffraction File (PDF) que hizo posible el
anlisis.
4. Observar el registro de difraccin de la muestra de dos fases y registrar en la Tabla N 2 los
Tabla N 2
Pico
i ()
d(A)
I(Imp/s)
I/Imax
1
2
3
4
5
6
7
8
5. Usando la ecuacin (1), determinar los valores de d correspondientes a cada pico de
6. Usar el mtodo de Hanawalt para identificar los compuestos presentes en la muestra
analizada, indicando los nmeros de las fichas pertenecientes a los archivos del Powder
Diffraction File (PDF) que hicieron posible el anlisis.
108
CAPTULO 8
ANLISIS CUANTITATIVO POR DIFRACCIN
8.1. ANLISIS CUANTITATIVO: PRINCIPIOS BSICOS
El anlisis cuantitativo por difraccin se basa en el hecho de que la intensidad del patrn de
difraccin de una fase particular en una mezcla de fases depende de la concentracin de esa fase
en la mezcla. La relacin entre la intensidad y la concentracin generalmente no es lineal, puesto
que la intensidad difractada depende marcadamente del coeficiente de absorcin de la mezcla y
sta vara con la concentracin.
Para hallar la relacin entre la intensidad difractada y la concentracin, consideraremos la
ecuacin para la intensidad difractada por una muestra en polvo, de una sola fase, en un
difractmetro, a saber:
I e4 3A 1 2 1 cos 2 2 e2M
I o
| F | p
(8.1)

m 2c4 32 r v 2
2
sen cos 2
Donde: I es la intensidad integrada por unidad de longitud de la lnea de difraccin, Io es la

intensidad del haz incidente, e es la carga del electrn, m es la masa del electrn, c es la
velocidad de la luz, es la longitud de onda de la radiacin incidente, r es el radio del crculo
difractomtrico, A es el rea de la seccin transversal del haz incidente, v es el volumen de la
celda unitaria, F es el factor de estructura, p es el factor de multiplicidad, es el ngulo de Bragg,
e2M es el factor de temperatura y es el coeficiente de absorcin lineal.
La ecuacin (8.1) se aplica a una muestra en polvo de una sustancia pura en la forma de una
placa plana de espesor efectivamente infinito, que hace ngulos iguales con los haces incidente y
difractado, pero se puede usar para analizar una mezcla de dos fases y , por ejemplo. Para una
lnea particular de la fase escribimos la ecuacin (8.1) en trminos de esa fase sola. I es ahora
I , la intensidad de la lnea seleccionada de la fase , y el lado derecho de la ecuacin debe ser
multiplicada por c , la fraccin de volumen de en la mezcla, para tomar en cuenta el hecho de
que el volumen difractante de en la mezcla es menor de lo que sera si la muestra fuera pura.
Adems, debemos sustituir m por , donde m es el coeficiente de absorcin lineal de la
mezcla. En esta nueva ecuacin, todos los factores son constantes e independientes de la
concentracin de excepto c y m , y podemos escribir
Kc
(8.2)
I 1
m
donde K1 es una constante.
Para poner la ecuacin (8.2) es una forma til, debemos expresar m en trminos de la
concentracin. Entonces,

m
(8.3)

donde es la fraccin en peso y la densidad. Considerando un volumen unitario de la mezcla,
su peso es m y el peso del contenido es m . Por lo tanto, el volumen de es m / ,
109
el cual es igual a c , y una expresin similar se cumple para c . La ecuacin (8.3) entonces
llega a ser
m c c c (1 c ) c ( )
K1c
I
c ( )
(8.4)
Esta ecuacin relaciona la intensidad de una lnea de difraccin de una fase a la fraccin de
volumen de esa fase y a los coeficientes de absorcin de ambas fases.
La ecuacin (8.4) se puede expresar en una base en peso considerando la masa unidad de la
mezcla. El volumen del contenido es / y el volumen de es / . Por lo tanto,
c
/
( / ) ( / )
/
[(1/ ) (1/ )] (1/ )
Combinando las ecuaciones (8.4) y (8.5) y simplificando, se obtiene

K1
I
{ [( / ) ( / )] ( / )}
Para la fase pura , de las ecuaciones (8.2) o (8.6) tenemos
K
I p 1
Dividiendo (8.6) por (8.7) se elimina la constante desconocida K1 y se obtiene

I
( / )
Ip [( / ) ( / )] ( / )
(8.5)
(8.6)
(8.7)
(8.8)
Esta ecuacin permite el anlisis cuantitativo de una mezcla de dos fases, siempre y cuando los
coeficientes de absorcin msico de cada fase sean conocidos. Si ellos no son conocidos, se
puede preparar una curva de calibracin usando mezclas de composiciones conocidas. En cada
caso, una muestra de pura deber estar disponible como un material de referencia y las
medidas de I e Ip debern ser hechas bajo condiciones idnticas.
Por varias razones, este procedimiento analtico no puede aplicarse a la mayora de muestras de
inters industrial. Una diversidad de mtodos, sin embargo, se han desarrollado para resolver
problemas particulares, y los dos ms importantes de stos, el mtodo de comparacin directa y
el mtodo estndar interno, se describirn en las secciones siguientes. Es importante notar que
todos estos mtodos de anlisis tienen un aspecto esencial en comn: la medida de la
concentracin de una fase particular depende de la medida de la razn de la intensidad de una
lnea de difraccin de esa fase a la intensidad de alguna lnea de referencia estndar. En el
mtodo de lnea sola descrito anteriormente, la lnea de referencia es una lnea de la fase pura. En
el mtodo de comparacin directa, es una lnea de otra fase en la mezcla. En el mtodo estndar
interno, es una lnea de un material forneo mezclado con la muestra.
8.2. MTODO DE COMPARACIN DIRECTA
Para explicar este mtodo, asumiremos que la muestra contiene dos fases que tienen la misma
composicin pero diferentes estructuras cristalinas. El mtodo de lnea sola podra usarse si una
muestra de una de las fases o el contenido de la fase conocida se encuentra disponible como un
estndar. Procederemos como se indica. En la ecuacin (8.1) de la intensidad, hacemos
110
I e 4 3A
1 2 1 cos 2 2 2M
y
R
)
(8.9)
K 2 o
(e
2 | F | p
m 2c4 32 r
2
v
sen cos
Por lo tanto, la intensidad difractada es dada por:

K R
I 2
(8.10)
2
Donde K 2 es una constante, independiente de la clase y cantidad de sustancia difractante y R
depende de , hk y la clase de sustancia. Si designamos a una fase por el subndice y a la otra
fase por el subndice , podemos escribir la ecuacin (8.10) para una lnea particular de
K 2R c
K R c
difraccin de cada fase:
e
I
I 2 .
2 m
2 m
La divisin de estas ecuaciones conduce a:
I
R c
(8.11)
I R c
El valor de c / c se puede obtener a partir de una medida de I / I y el clculo de R y R .

Una vez que se encuentra c / c , el valor de c se puede obtener de la relacin adicional:
c c 1 .
Se puede hacer as una medida absoluta del contenido de una fase de la muestra por comparacin
directa de la intensidad integrada de una lnea de la fase con la intensidad integrada de una lnea
de la otra fase. Comparando varios pares de lneas de las fases, se pueden obtener varios valores
independientes del contenido de una fase; cualquier discordancia seria entre estos valores indica
un error de observacin o de clculo.
Si la muestra contiene una tercera fase, de subndice , se puede determinar su concentracin por
examen microscpico cuantitativo o por difraccin. Si medimos la intensidad integrada I de una
lnea particular de la fase y se calcula R , se puede considerar una ecuacin similar a la
ecuacin (8.11) en la cual se puede obtener c / c . Luego, el valor de c se puede encontrar de
la relacin:
c c c 1 .
En la eleccin de las lneas de difraccin para medir, debemos estar seguros de evitar la
superposicin de lneas o lneas adyacentes muy prximas de las diferentes fases.
En el clculo del valor de R para una lnea de difraccin particular, deberan mantenerse en
mente diversos factores. El volumen v de la celda unidad se calcula a partir los parmetros
medidos de la red, los cuales son una funcin del contenido de las fases. El factor de estructura F
y la multiplicidad p se calculan sobre la base del tipo de la red; de ser necesario, el factor de
dispersin atmica f deber corregirse para dispersin anmala. El factor de Lorentz-polarizacin
dado en la ecuacin (8.9) se aplica solo a radiacin incidente no polarizada. El valor del factor de
temperatura e2M puede tomarse de tablas.
En la medida de la intensidad de la lnea de difraccin, es fundamental que se mida la intensidad
integrada y no la intensidad mxima. Pueden ocurrir grandes variaciones en la forma de la lnea
debido a variaciones del tamao de grano. Estas variaciones en la forma de la lnea no afectarn a
la intensidad integrada, pero pueden hacer insignificantes los valores de la intensidad mxima.
111
8.3. MTODO ESTNDAR INTERNO

En este mtodo una lnea de difraccin de la fase que est siendo determinada se compara con
una lnea de una sustancia estndar mezclada con la muestra en proporciones conocidas. Por lo
tanto, el mtodo de estndar interno est restringido a muestras en forma de polvo.
Supongamos que se desea determinar la cantidad de fase A en una mezcla de fases A, B, C, ,
donde las cantidades relativas de las otras fases presentes B, C, D, , pueden variar de muestra
a muestra. Con una cantidad de muestra original se mezcla una cantidad conocida de una
sustancia estndar S para formar una nueva muestra compuesta. Sean cA y cA, las fracciones de
volumen de la fase A en la muestra original y en la muestra compuesta, respectivamente, y sea
cS la fraccin de volumen de la sustancia estndar S en la muestra compuesta. Si un patrn de
difraccin se obtiene de la muestra compuesta, entonces de la ecuacin (8.2) la intensidad de una
lnea particular de la fase A es dada por IA
estndar S es dada por IS
K 4cS
m
K 3cA,
m
, y la intensidad de una lnea particular del
. De la divisin se estas expresiones se obtiene

IA
IS
K 3cA,
(8.12)
K 4cS
Observar que m , el coeficiente de absorcin lineal de la mezcla y una cantidad desconocida, se

eliminan. Fsicamente, esto significa que las variaciones en absorcin, debido a variaciones en
las cantidades relativas de B, C, D, , no afectan a la razn IA / IS debido a que ellas afectan a
IA y a IS en la misma proporcin.
Extendiendo la ecuacin (8.5) a un nmero de componentes, se puede escribir
cA,
A, / A
(A, / A ) (B, / B ) (C, / C ) ... (S / S )
c,
,
Y una expresin similar para cS . Por lo tanto, A A S .
cS A S
Reemplazando esta relacin en la ecuacin (8.12) tenemos:
IA
IS
K 3SA,
K 4A S
K 5A,
(8.13)
si S se mantiene constante en todas las muestras compuestas. La relacin entre las fracciones
en peso de A en la muestra original y la muestra compuesta es
A, A (1 S ) .
(8.14)
IA
Combinando las ecuaciones (8.13) y (8.14) tenemos:
(8.15)
K 6A .
IS
La razn de intensidad de una lnea de la fase A y una lnea del estndar S es por lo tanto una
funcin lineal de A , la fraccin en peso de A en la muestra original. Se puede preparar una
curva de calibracin de las medidas sobre un conjunto de muestras preparadas, que contienen
concentraciones conocidas de A y una concentracin constante de un estndar adecuado. Una vez
que se ha establecido la curva de calibracin, la concentracin de A en una muestra desconocida
112
se obtiene simplemente midiendo la razn IA / IS para una muestra compuesta que contiene la
sustancia desconocida y la misma proporcin del estndar como fue usado en la calibracin.
Estrictamente hablando, la ecuacin (8.15) es vlida solo para intensidades integradas, as como
para todas las otras ecuaciones de intensidad en este captulo. Este medio rpido es aceptable
solo porque la forma de las lneas de difraccin son halladas fundamentalmente constantes de
muestra a muestra. Existe por lo tanto una proporcionalidad constante entre la intensidad mxima
y la intensidad integrada y, siempre y cuando todos los patrones sean hechos bajo idnticas
condiciones experimentales, las medidas de las intensidades mximas dan resultados
satisfactorios. Resultados considerablemente errneos pueden obtenerse por este procedimiento
si el tamao de las partculas fueran muy pequeas y variables, puesto que puede ocurrir
entonces una cantidad variable de ensanchamiento de la lnea, y podra originar una variacin en
la intensidad mxima independiente de la composicin de la muestra.
8.4. DIFICULTADES PRCTICAS
Existen ciertos efectos que pueden causar grandes dificultades en el anlisis cuantitativo debido
a que originan que las intensidades observadas se aparten en gran medida de las intensidades
tericas. Los factores ms importantes son:
8.4.1 ORIENTACIONES PREFERIDAS
La ecuacin (8.1) que define la intensidad difractada por una muestra en polvo se deriva sobre la
premisa de orientacin al azar de los cristales constituyentes de la muestra y no es vlida si existe
orientacin preferida. Es por esto que, en la preparacin de las muestras en polvo para el
difractmetro, se debera realizar todo el esfuerzo posible para evitar la orientacin preferida. Si
la muestra es un agregado policristalino, el analista no tiene control sobre la distribucin de las
orientaciones en l, pero por lo menos debera estar al tanto de la posibilidad de error debido a la
orientacin preferida.
8.4.2 MICROABSORCIN
Considere la difraccin de un cristal dado en una mezcla de cristales y . El haz incidente
pasa a travs de ambos cristales y en su recorrido hacia un cristal particular difractante , y
as tambin lo hace el haz difractado en su recorrido hacia afuera de la muestra. Ambos haces
son atenuados en intensidad por la absorcin y la disminucin puede calcularse a partir de la
longitud total del trayecto y m , el coeficiente de absorcin lineal de la mezcla. Pero una
pequea parte de la trayectoria total se ubica completamente al interior del cristal difractante ,
y para esta porcin es el coeficiente de absorcin aplicable.
Si es mucho mayor que , o si el tamao de la partcula es mucho mayor que el tamao
de la partcula , entonces la intensidad total del haz difractado por los cristales ser mucho
menor que la intensidad calculada, puesto que el efecto de la microabsorcin en cada cristal
difractante no est incluido en la ecuacin bsica de la intensidad. Evidentemente, el efecto
de la microabsorcin es insignificante cuando y ambas fases tienen el mismo tamao
de partcula, o cuando el tamao de las partculas de ambas fases es muy pequeo. Por
consiguiente, las muestras en polvo deberan ser finamente molidas antes del anlisis.
113
8.4.3 EXTINCIN
Este efecto, es la reduccin de la intensidad difractada a medida que un cristal llega a ser cada
vez ms perfecto. La ecuacin (8.1) se deriv para el cristal idealmente imperfecto, en el cual
est ausente la extincin. Por lo tanto, las muestras para el anlisis qumico deberan estar
libres de extincin, y para muestras en polvo esto se logra por molienda o limadura. Si un
agregado slido debe ser analizado directamente, deber tenerse presente la posibilidad de
alguna extincin en los granos individuales del agregado. La microabsorcin y la extincin, si
estn presentes, pueden disminuir seriamente la exactitud del mtodo de comparacin directa,
debido a que ste es un mtodo absoluto.
Por otro lado, la presencia de la microabsorcin y la extincin no invalida el mtodo estndar
interno, siempre y cuando estos efectos sean constantes de muestra a muestra, incluyendo las
muestras de calibracin. La microabsorcin y la extincin afectan slo los valores de las
constantes K 3 y K 4 , en la ecuacin (8-12), y por lo tanto la constante K 6 , en la ecuacin
(8.15), y la constante K 6 determina slo la pendiente de la curva de calibracin. Por lo tanto,
la microabsorcin y la extincin, si estn presentes, no tendrn efecto en la exactitud del
mtodo estndar interno mientras que los cristales de la fase que est siendo determinada y los
de la sustancia estndar, no varen en grado de perfeccin o tamao de partcula de una muestra
a otra.
114
LABORATORIO N 15
ANLISIS CUANTITATIVO DE MUESTRA BIFSICA
OBJETIVOS.
Registrar la intensidad de los rayos X difractados por una sustancia bifsica en polvo como
una funcin del ngulo de difraccin usando un difractmetro de rayos X.
Identificar las fases presentes en una sustancia bifsica aplicando el Mtodo de Hanawalt,
haciendo uso de los archivos de difraccin del Powder Diffraction File (PDF).
Realizar el anlisis cuantitativo de una sustancia bifsica, hallando las fracciones en peso de
cada una de sus fases, a partir de la determinacin de los coeficientes de absorcin msico de
cada fase.
TEORA.El anlisis cuantitativo por difraccin se basa en el hecho de que la intensidad del patrn de
difraccin de una fase particular en una mezcla de fases depende de la concentracin de esa fase
en la mezcla. La relacin entre la intensidad y la concentracin generalmente no es lineal, puesto
que la intensidad difractada depende marcadamente del coeficiente de absorcin de la mezcla y
sta vara con la concentracin.
La intensidad integrada I por unidad de longitud de una lnea de difraccin de una muestra en
polvo, de una sola fase, en un difractmetro, es dada por:
I e4 3A 1 2 1 cos 2 2 e2M
I o
| F | p
(1)

m 2c4 32 r v 2
2 cos 2
sen
donde: Io es la intensidad del haz incidente, e es la carga del electrn, m es la masa del electrn,
c es la velocidad de la luz, es la longitud de onda de la radiacin incidente, r es el radio del
crculo difractomtrico, A es el rea de la seccin transversal del haz incidente, v es el volumen
de la celda unitaria, F es el factor de estructura, p es el factor de multiplicidad, es el ngulo de
Bragg, e2M es el factor de temperatura y es el coeficiente de absorcin lineal.
Si bien, la ecuacin (1) se aplica a una muestra en polvo de una sustancia pura en la forma de una
placa plana de espesor efectivamente infinito, que hace ngulos iguales con los haces incidente y
difractado, tambin se puede usar para analizar una mezcla de dos fases y . Para una lnea
particular de la fase escribimos la ecuacin (1) en trminos de esa fase sola. I es ahora I , la
intensidad de la lnea seleccionada de la fase , y el lado derecho de la ecuacin debe ser
multiplicada por c , la fraccin de volumen de en la mezcla, para tomar en cuenta el hecho de
que el volumen difractante de en la mezcla es menor de lo que sera si la muestra fuera pura.
Adems, debemos sustituir por m , el coeficiente de absorcin lineal de la mezcla. En esta
nueva ecuacin, todos los factores son constantes e independientes de la concentracin de
excepto c y m , y podemos escribir
Kc
(2)
I 1
m
donde K1 es una constante.
115
La expresin de m en trminos de la concentracin es,

(3)

m

donde: es la fraccin en peso y la densidad. Considerando un volumen unitario de la mezcla,
su peso es m y el peso del contenido es m . Por lo tanto, el volumen de es m / ,
m
el cual es igual a c , y una expresin similar se cumple tambin para c . La ecuacin (3)
entonces llega a ser:
m c c c (1 c ) c ( )
K1c
I
(4)
c ( )
Esta ecuacin relaciona la intensidad de una lnea de difraccin de una fase a la fraccin de
volumen de esa fase y a los coeficientes de absorcin de ambas fases.
La ecuacin (4) se puede expresar en una base en peso considerando la masa unidad de la
mezcla. El volumen del contenido es / y el volumen de es / . Por lo tanto,
c
De (4) y (5), se obtiene:
/
( / ) ( / )
I
(5)
[(1/ ) (1/ )] (1/ )

K1
(6)
{ [( / ) ( / )] ( / )}
De las ecuaciones (2) o (6) para la fase pura , tenemos:
I p
K1
(7)
Dividiendo (6) por (7) se elimina la constante desconocida K1 y se obtiene

I
( / )
Ip [( / ) ( / )] ( / )
(8)
Esta ecuacin permite el anlisis cuantitativo de una mezcla de dos fases, siempre y cuando los
coeficientes de absorcin msico de cada fase sean conocidos. Si ellos no son conocidos, se
puede preparar una curva de calibracin usando mezclas de composiciones conocidas. En cada
caso, una muestra de pura deber estar disponible como un material de referencia y las
medidas de I e Ip debern ser hechas bajo condiciones idnticas.
Gonimetro
Balanza

Cloruro de potasio (KCl)
Vaselina
Mortero y pistilo
Computador personal
116

1. Preparar la muestra en polvo, echando una suficiente cantidad de sustancia en el mortero y
molerla hasta lograr pulverizarla.
posible de la muestra, usar muy poca vaselina, slo una punta de la esptula.
muestra.
4. Para preparar una muestra de dos fases, mezclar dos sustancias en polvo en el mortero, en
la proporcin en peso de 60% a 40%, y molerlas hasta lograr pulverizarlas; luego, repetir
los pasos 2 y 3.
III. Obtencin de los Registros de difraccin
117
muestra bifsica en polvo en el soporte del gonimetro. Cerrar y asegurar la puerta.
del men Archivo/Nueva medida o presionar el botn rojo de registro en el panel de
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Registro de datos
: ngulo del cristal
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
:
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: Ni
12. Interpretar el registro de difraccin obtenido para identificar las fases y presentes en la
muestra analizada.
muestra en polvo, correspondiente a la fase , en el soporte del gonimetro. Cerrar y
asegurar la puerta.
del men Archivo/Nueva medida o presionar el botn rojo de registro en el panel de
botones.
Tipo de medida
: espectro
Corriente de emisin
: 1 mA
Registro de datos
: ngulo del cristal
Modo rotacin
: acoplado 2:1
Cristal
:
ngulo de arranque
: 10
Absorbedor
: sin absorbedor
ngulo de parada
: 60
Filtro
: Ni
17. Repetir los pasos 13 al 16 para la muestra en polvo correspondiente a la fase .
CUESTIONARIO.1. Observar el registro de difraccin de la muestra bifsica y registrar en la Tabla N 1 los
Tabla N 1
Pico
i ()
d(A)
I(Imp/s)
I/Imax
1
2
3
4
5
6
7
8
118
2. Usando la ley de Bragg, determinar los valores de d correspondientes a cada pico de

3. Usar el mtodo de Hanawalt para identificar las fases presentes en la muestra analizada,
indicando los nmeros de las fichas pertenecientes a los archivos del Powder Diffraction
File (PDF) que hicieron posible el anlisis.
4. Tomando en cuenta la radiacin usada, determine los coeficientes de absorcin lineal de las
fases halladas, as como sus densidades. Registre los valores en la Tabla N 2.
Tabla N 2
Fase
Compuesto
(cm-1)
(g/cm3)
()
Fase
Fase
5. En el patrn de difraccin identifique las posiciones angulares en las que se producen los
picos de intensidad mxima y con ayuda del programa measure determine las intensidades
integradas para cada fase. Anote los valores en la Tabla N2.
6. Observar el registro de difraccin de la muestra correspondiente a la fase y determine la
intensidad integrada del pico de mxima intensidad.
7. Usando la ecuacin (8) y la intensidad integrada de la fase de la Tabla N 2, determine la
fraccin en peso de esta fase.
8. Observar el registro de difraccin de la muestra correspondiente a la fase y determine la
intensidad integrada del pico de mxima intensidad.
9. Usando la ecuacin (8) y la intensidad integrada de la fase de la Tabla N 2, determine la
fraccin en peso de esta fase.
10. Corresponde la relacin de las fracciones en peso de las fases determinadas en la muestra
bifsica a la relacin de los porcentajes en peso de las sustancias en polvo usadas en la
experiencia?
11. Identifique las fuentes de error en la experiencia.
119
DISCUSION
Muchos autores, Klug y Alexander (1974), Peiser, Rooksby y Wilson (1960), Jeffery
(1971), Hammond (1997), Warren (1990), Dinnebier y Billinge (2008), entre otros, han escrito
textos relacionados a la asignatura Difraccin de rayos X II, dirigidos generalmente a
estudiantes de ciencias e ingenieras qumica, mineralgica y metalrgica; en los que se
exponen, de manera muy extensa, los principales mtodos experimentales para su aplicacin en
el anlisis de las sustancias policristalinas. En estos textos, la insercin de tablas, grficos y
fotografas limitan la presentacin de problemas resueltos y prcticas experimentales. Otros,
Azaroff (1968), Cullity (1978), Bloss (1971), Woolfson (1997), presentan una teora ms
moderada que acompaan con pocos ejemplos y presentan al final de cada captulo una lista de
problemas propuestos. Muy pocos, Barret (1967), Clark (1955), Azaroff y Buerger (1958),
Henry, Lipson y Wooster (1961), orientan sus textos a aplicaciones especficas de los rayos X
con muy pocos ejemplos. Slo Azroff y Donahue (1969) han enfocado en su obra el estudio
de la difraccin de los rayos X desde el punto de vista del experimento de laboratorio, en un
texto escrito en idioma ingls, donde se presentan experimentos haciendo uso de cmaras de
difraccin y un difractmetro convencional de rayos X de geometra - 2.
En la actualidad, los difractmetros de rayos X han evolucionado y su operacin, el
registro y el anlisis de los datos se realizan por medio de software, lo cual es explicado en los
respectivos manuales de operacin de los equipos y no en textos, como lo hace Hermbecker
(2005) especficamente para el equipo de rayos X de PHYWE con el que cuenta el Laboratorio
de Difractometra de nuestra Facultad. Asimismo, los textos no explican el uso de los diversos
programas informticos especializados que han sido desarrollados recientemente para simular
la creacin de estructuras cristalinas y la ejecucin de diversas situaciones experimentales.
El texto DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL, a
diferencia de los citados, presenta en forma detallada, clara y precisa las pautas para la
ejecucin y simulacin de una diversidad de experimentos relacionados con los mtodos
120
experimentales de la Difraccin de los rayos X que se aplican en la determinacin y el anlisis

de las sustancias policristalinas; con un enfoque terico-experimental que incluye el uso de
tecnologas informticas, lo que le permitir ser usado ventajosamente para el desarrollo
sistemtico y concreto de la asignatura Difraccin de rayos X II que se imparte a los
estudiantes de ciencias e ingenieras. El detalle en el diseo, el montaje y las pautas para la
ejecucin de los experimentos, tambin marca una sustancial diferencia con el enfoque
propuesto en otros textos.
Por lo expuesto, se puede concluir que mediante el uso del texto DIFRACCIN DE
RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL es posible:
1. Conseguir una introduccin equilibrada de los fundamentos relacionados a los mtodos
experimentales de la difraccin de los rayos X que se aplican en la determinacin y el
anlisis de las sustancias policristalinas, con nfasis en el trabajo en el laboratorio.
2. Desarrollar las habilidades, las destrezas y el anlisis crtico de los estudiantes y, asimismo,
su capacidad para trabajar en equipo.
3. Ejecutar experimentos que permiten al estudiante observar el uso de herramientas
informticas para el estudio de diversos aspectos de las estructuras cristalinas.
4. Realizar el anlisis cualitativo y cuantitativo de ciertas sustancias cristalinas por difraccin
de rayos X a nivel introductorio.
5. Proporcionar a los estudiantes de ciencias e ingenieras qumica y metalrgica una base
experimental slida para el trabajo posterior en el laboratorio de otras asignaturas a nivel
de posgrado relacionadas con esta tcnica.
6. Iniciar a los estudiantes de ciencias e ingenieras qumica, mineralgica y metalurgia en el
mtodo cientfico de comprobacin de hiptesis a travs de los experimentos presentados.
7. En contraste con los textos elaborados por otros autores, hacer ms dinmico, ameno y
fcil el proceso de enseanza-aprendizaje de la asignatura Difraccin de rayos X II.
121
REFERENCIALES
1.
AZROFF, LEONID V. Elements of x-ray Crystallography, New York: McGraw-Hill

Book Company, 1968.
2.
AZROFF, LEONID V. AND BUERGER, MARTIN J. The powder method in X-ray

crystallography, New York: McGraw-Hill Book Company, 1958.
3.
AZROFF, LEONID V. AND DONAHUE RAYMOND J. Laboratory experiments in

x-ray crystallography, New York: McGraw-Hill, 1969.
4.
BUERGER, MARTIN J. X Ray Crystallography; New York: John Willey & Sons,
1952.
5.
BARRET, CHARLES S. Estructura de los Metales, Madrid: Aguilar, S.A., 1967.
6.
BLOSS, F. DONALD. Crystallography and Crystal Chemistry, New York: Holt,

Rinehart and Winston, Inc., 1971
7.
CLARK, GEORGE L. Applied X-rays, New York: Mc Graw-Hill Book Company, Inc.,
1955.
8.
CULLITY, BERNARD D. Elements of x-ray Diffraction, Massachusetts: AddisonWesley Publishing Company, Inc., 1978.
9.
DINNEBIER, ROBERT AND BILLINGE, SIMON. Powder Diffraction: Theory and

Practice, Cambridge: RSC Publishing, 2008.
10.
HAMMOND, CHRISTOPHER. The Basics of Crystallography and Diffraction,

Oxford: Oxford University Press, 1997.
11.
HENRY, NORMAN F., LIPSON, HENRY AND WOOSTER WILLIAM A. The

Interpretation of x-ray Diffraction Photographs, London: MacMillan & Co. Ltd., 1961.
12.
HERMBECKER, KLAUS. Handbook Physics - X-Ray Experiments, Gttingen:

PHYWE Series of Publication, 2005.
13.
JEFFERY, J.W. Methods in X-Ray Crystallography, London: Academic Press Inc. Ltd.,
1971.
14.
KLUG, HAROLD P. AND ALEXANDER LEROY E. X-Ray Diffraction Procedures

for Polycrystalline and Amorphous Materials, New York: John Wiley and sons, Inc.,
1974.
15.
PEISER, H.S., ROOKSBY, H.P. AND WILSON J.C. X-ray diffraction by

polycrystalline materials, London: Chapman & Hall, Ltd., 1960.
16.
WARREN, BERTRAM. X-ray Diffraction, New York: Dover Publications, Inc, 1990.
17.
WOOLFSON M.M. An Introduction to X-Ray Crystallography; Cambridge: Cambridge

University Press, 1997.
122
APNDICE
Contiene Tablas, Cuadros y Slabo de la asignatura que han sido elaborados por el autor del
proyecto, segn se indica:
Tabla N 1.- Constantes Fsicas
Cuadro N 1.- Cargado de la pelcula
Cuadro N 2.- Revelado de la pelcula
Slabo de la asignatura Difraccin de rayos X II.
123
Tabla N 1.- CONSTANTES FSICAS

Denominacin
Notacin
Valor
1,602177 10 19 C
Carga elemental
k
Constante de Coulomb
Constante de Boltzmanns
Constante de Planck
4,80 10 10 esu
1
4 0
8,987551 10 9 Nm 2 / C 2
1,38 10 23 J/K
6,626076 10 34 Js
h
mB
Magnetn de Bohr
4,135 10 15 eV.s
e
2m e
9,274015 10 24 J / T
Masa del electrn
me
9,109390 10 31 Kg
Masa del neutrn
mn
1,674929 10 27 Kg
Masa del protn
mp
1,672623 10 27 Kg
Nmero de Avogadro
NA
6,022137 10 23 particulas / mol
Permeabilidad del espacio libre
4 10 7 N / A 2
Permitividad del espacio libre
8,9 10 12 C 2 / N m 2
Velocidad de la luz
2,997924 10 8 m / s
Cuadro elaborado por el autor del proyecto en base a recopilacin bibliogrfica.

Espesor del filtro para
Haz incidente
Blanco
Filtro
I (K)
I (K)
I (K) 500
I (K)
1
en el haz transmitido
mg/cm2
Pulg.
I (K) trans
I (K) incident
Mo
Zr
5,4
70
0,0043
0,30
Cu
Ni
7,5
18
0,0008
0,42
Co
Fe
9,4
13
0,0006
0,47
Fe
Mn
9,0
12
0,0006
0,47
Cr
8,5
0,0006
0,48

124

Sistema
Cbico
Tetragonal
Hexagonal
Ecuacin
1
d2
1
d2
(h 2 k 2 2 )
a2
h2 k2
a2
2
c2
1
4 h2 h k k2
d 2 3
a2
2
2
c
Rombodrico
1 (h 2 k 2 2 ) sen 2 2 (h k k h ) (cos 2 cos )
d2
a 2 (1 3 cos 2 2 cos 3 )
Ortorrmbico
1
h 2 k 2 2
d2 a 2 b2 c2
Monoclnico
1
1 h 2 k 2 sen 2 2 2 h cos
2
ac
d 2 sen 2 a 2
b2
c
1
1
(S11 h 2 S 22 k 2 S33 2 2 S12 hk 2 S 23 k 2 S13 h)
2
V
d
Donde:
V abc 1 cos 2 cos 2 cos 2 2 cos cos cos )
S11 b 2 c 2 sen 2
Triclnico
S 22 a 2 c 2 sen 2
S 33 a 2 b 2 sen 2
S12 abc 2 (cos cos cos )

S 23 a 2 bc (cos cos cos )
S13 ab 2 c (cos cos cos )
125
Cuadro N 1.- CARGADO DE LA PELICULA

En el porta pelculas, llevar la palanca de
control a la posicin L.
1
Sujetar el sobre que contiene la pelcula e

insertar el extremo del borde metlico en el
porta pelculas. Asegurarse de que el lado
que lleva las indicaciones THIS SIDE
TOWARD LENS mire hacia el objetivo. No
presionar la zona que lleva la indicacin DO
NOT PRESS HERE, porque aqu se
encuentra la ampolla que tienen los
compuestos reveladores.
Empujar el sobre hasta la mitad, desplazar la
mano que lo sujeta hacia el extremo y luego
empujar el sobre hasta el fondo del porta
pelculas.
Cuando el sobre est insertado por

completo, las lengetas (j) quedan alineadas
con el borde del porta pelculas y se ven en
la entrada.
4
126
Cuadro N 2.- REVELADO DE LA PELICULA

Llevar la palanca de control del porta
pelculas hacia la posicin P.
Sujetar firmemente el sobre y tirar de una

sola vez hasta sacarlo del porta pelculas.
Tirar continuamente, a velocidad media, sin
detenerse. Debe percibir una ligera
resistencia en el momento en que el borde
metlico del sobre llega a los rodillos del
porta pelculas, pero continuar tirando sin
vacilar. Los rodillos se separarn dejando
pasar el borde del sobre.
Esperar a que pase el tiempo de revelado
recomendado, segn las instrucciones de la
pelcula. En nuestro caso, el tiempo de
procesado es aproximadamente unos 20
segundos a 21C .
Sacar la imagen del sobre, sujetando las dos
lengetas (k) con los pulgares y curvando
ligeramente hacia atrs las dos aletas.
Ejerciendo una presin moderada, rasgar el
sobre y abrirlo hasta el borde metlico.
Sujetar con el pulgar izquierdo el negativo y

la cubierta delgada de papel y levantar
rpidamente con la mano derecha la
fotografa que saldr del sobre. Tener
cuidado con los cidos que existen en el
sobre, si hubiera algn contacto lavarse con
abundante agua. Para conservar mejor la
pelcula pintar est con el cido que vienen
dentro del empaque de la pelcula Polaroid.
127
UNIVERSIDAD NACIONAL DEL CALLAO

FACULTAD DE CIENCIAS NATURALES Y MATEMATICA
ESCUELA PROFESIONAL DE FSICA
SILABO
I.
DATOS GENERALES DE LA ASIGNATURA

1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
II.
Nombre del curso

Cdigo - Grupo Horario
Carcter
Requerimiento
Horas de clase
Crditos
Semestre Acadmico
Profesor
: DIFRACCION DE RAYOS X II
: FI 510 - 01 F
: Electivo
: FI 509
: Teora (02), Laboratorio (03)
: 03
:
: Lic. Carlos Quiones Monteverde
OBJETIVOS
2.1
OBJETIVO GENERAL
Describir la aplicacin de los mtodos experimentales de la difraccin de los rayos
X en el estudio de los agregados policristalinos y sus anlisis qumicos y, los
principios de la fluorescencia y la absorcin de los rayos X.
2.2
OBJETIVOS ESPECIFICOS
2.2.1 Introducir en forma equilibrada los fundamentos de las medidas
difractomtricas para la orientacin de monocristales, la determinacin de
estructuras cristalinas y su aplicacin en el estudio de texturas y los
anlisis qumicos cualitativo y cuantitativo.
2.2.2 Comprender las tcnicas de fluorescencia y absorcin de los rayos X y su
aplicacin en el estudio de las sustancias.
2.2.3 Desarrollar las habilidades, destrezas y anlisis crtico de los estudiantes a
travs del trabajo experimental.
2.2.4 Realizar experimentos para mostrar la aplicacin de la difraccin de rayos
X en la determinacin de estructuras cristalinas, el anlisis cualitativo y
cuantitativo de sustancias policristalinas y la determinacin de texturas.
2.2.5 Aplicar el programa Carine Crystallography 3.1 para simular una variedad
de situaciones experimentales.
III.
SUMILLA
Medidas difractomtricas, Orientacin de monocristales, Estructura de agregados
policristalinos. Determinacin de estructuras cristalinas. Medida precisa de parmetros
de red. Determinacin de diagramas de fase. Anlisis qumico por difraccin de rayos
X. Anlisis qumico por fluorescencia y absorcin. Medida de esfuerzos.
IV.
CRONOGRAMA
128
Semana 01. MEDIDAS DIFRACTOMTRICAS

Aspectos generales del difractmetro de rayos X. ptica de los rayos X.
Clculos de intensidad. Contadores proporcionales. Contadores Geiger.
Contadores de centelleo. Medidores de tasas de conteo. Uso de
monocromadores.
Laboratorio N 1: Calibracin del equipo de rayos X.
Semana 02. ORIENTACIN DE MONOCRISTALES
Introduccin. Mtodo de Laue de retroreflexin. Mtodo de Laue de
transmisin. Mtodo difractomtrico. Montaje de un cristal en una
orientacin requerida.
Laboratorio N 2: Monocromatizacin de los rayos X del molibdeno
Semana 03. ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS POLICRISTALINOS
Introduccin. Tamao de grano. Tamao de partcula. Perfeccin del
cristal. Profundidad de penetracin de los rayos X. Orientacin del cristal.
Textura de alambres. Textura de lmina.
Laboratorio N 3: Monocromatizacin de rayos X del cobre
Semana 04. DETERMINACION DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS I
Introduccin. Tratamiento preliminar de los datos. Indexado de patrones de
cristales cbicos. Indexado de patrones de cristales no cbicos: mtodo
grfico.
Laboratorio N 4: Orientacin del cristal LiF por el Mtodo de Laue
Semana 05. DETERMINACION DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS II
Indexado de patrones de cristales no cbicos: mtodo analtico. Efecto de la
distorsin de la celda en el patrn de polvo. Determinacin del nmero de
tomos en una celda unitaria. Determinacin de posiciones atmicas.
Ejemplo de determinacin de estructura.
Laboratorio N 5: Textura de lminas con Carine Crystallography 3.1
Semana 06. MEDIDA PRECISA DE PARAMETROS
Introduccin. Cmaras Debye-Scherrer. Cmaras focalizadoras de
retroreflexin. Cmaras pinhole. Difractmetros. Mtodo de los mnimos
cuadrados. Mtodo de Cohen.
Laboratorio N 6: Examen de textura de lmina
Semana 07. DETERMINACION DE DIAGRAMAS DE FASE
Principios generales. Soluciones slidas. Determinacin de curvas solvus:
mtodo de la desaparicin de fases. Determinacin de curvas solvus:
mtodo paramtrico. Sistemas ternarios.
Laboratorio N 7: Patrones de difraccin con Carine Crystallography 3.1
129
Semana 08. EXAMEN PARCIAL (EP)

Examen Parcial de Laboratorio (PL)
Semana 09. TRANSFORMACION ORDEN-DESORDEN
Introduccin. Orden de gran rango en AuCu3. Otros ejemplos de orden de
gran rango. Deteccin de lneas de super redes. Orden de corto rango y
clustering.
Laboratorio N 8: Determinacin de estructuras cbicas
Semana 10. ANALISIS QUIMICO POR DIFRACCION I
Introduccin. Anlisis cualitativo: principios bsicos. Mtodo Hanawalt.
Ejemplos de anlisis cualitativo. Dificultades prcticas.
Laboratorio N 9: Determinacin de estructuras fcc
Semana 11. ANLISIS QUIMICO POR DIFRACCION II
Anlisis cuantitativo. Principios bsicos. Mtodo de comparacin directa.
Mtodo estndar interno. Dificultades prcticas.
Laboratorio N 10: Determinacin de estructuras bcc
Semana 12. ANLISIS QUIMICO POR FLUORESCENCIA I
Principios generales. Espectrmetros. Intensidad y resolucin. Contadores.
Laboratorio N 11: Determinacin de estructuras hexagonales
Semana 13. ANLISIS QUIMICO POR FLUORESCENCIA II
Anlisis Cualitativo. Anlisis Cuantitativo. Espectrmetros automticos.
Anlisis no dispersivos. Medidas de espesores.
Laboratorio N 12: Determinacin de estructuras tetragonales
Semana 14. ANALISIS QUIMICO POR ABSORCION
Introduccin. Mtodo del borde de absorcin. Mtodo de absorcin directa:
haz monocromtico. Mtodo de absorcin directa: haz policromtico.
Aplicaciones.
Laboratorio N 13: Determinacin precisa del parmetro de red del
ClNa.
Semana 15. MEDIDA DE ESFUERZOS I
Introduccin. Esfuerzos aplicados y esfuerzos residuales. Esfuerzos
uniaxiales. Esfuerzos biaxiales. Tcnica experimental: cmara pinhole.
Tcnica experimental: difractmetro.
Laboratorio N 14: Anlisis cualitativo
Semana 16. EXAMEN FINAL (EF)
Examen Final de Laboratorio (FL)
130
Semana 17. EXAMEN SUSTITUTORIO (ES)

Entrega de notas finales
V.
MTODOS Y TCNICAS DE ENSEANZA

Exposiciones de clases magistrales terico-prticas utilizando pizarra y medios
audiovisuales dentro de la concepcin moderna del proceso ENSEANZAAPRENDIZAJE por objetivos, complementadas, con sesiones experimentales en el
Laboratorio y el uso de computador personal.
Se usar pizarra, tizas, mota, transparencias, diapositivas, retroproyector, plumones,
libros, apuntes de clases y manuales, computadora personal, software especializado,
materiales y equipos de laboratorio.
VI.
MTODO DE EVALUACIN
El sistema de calificacin usado en cada una de las evaluaciones es vigesimal, de
acuerdo a lo indicado:
1.
Se tomarn dos (02) exmenes parciales (EP y EF) de naturaleza terico-prctico y

un (01) examen sustitutorio (ES) cuya nota reemplazar a la ms baja calificacin
obtenida en los exmenes parciales o al examen parcial no rendido.
2.
Se considerar una (01) nota de Exposicin Oral (EO) obtenida de promediar la nota
asignada a la presentacin de los temas desarrollados y las notas correspondientes a
las sustentaciones orales.
3. Se considerar una (01) nota de Laboratorio (NL) obtenida de promediar los dos (02)
exmenes parciales de Laboratorio (PL y FL) y el promedio de notas de informes
(PI) de las experiencias realizadas con asistencias acreditadas, de acuerdo a la
siguiente frmula:
PL FL PI
NL
3
4. La nota final del curso (NF) se obtendr de acuerdo a la frmula:
EP + EF + EO + NL
4
Para aprobar la asignatura el estudiante deber alcanzar el promedio mnimo de 10.5
en la nota final del curso y acreditar como mnimo el 70% de asistencias a clases.
NF =
5.
VII.
BIBLIOGRAFIA
7.1 Bibliografa Bsica
CULLITY B. D.; X-ray Diffraction; Addison Wesley Publishing Company, Inc.,
Massachusetts 1978.
7.2 Bibliografa Complementaria
131
DINNEBIER, ROBERT AND BILLINGE, SIMON. Powder Diffraction: Theory

and Practice, Cambridge: RSC Publishing, 2008.
HAMMOND, C., The Basics of Crystallography and Diffraction, Oxford: Oxford
University Press, 1997.
BLOSS F. DONALD; Crystallography and Crystal Chemistry; Holt, Rinehart and
Winston, Inc. New York 1971.
JEFFERY, J.W.; Methods in X-Ray Crystallography, Academic Press Inc. Ltd.,
London 1971.
WARREN, BERTRAM. X-ray Diffraction, New York: Dover Publications, Inc,
1990.
WOOLFSON M.M.; An Introduction to X-Ray Crystallography; Cambridge:
Cambridge University Press, 1997.
Bellavista, Febrero 2011
Lic. Carlos Quiones Monteverde
132
ANEXOS
Contiene Tablas de valores usados en el desarrollo del presente proyecto de investigacin,

segn se indica:
Tabla N 1.- Longitudes de onda de algunas lneas caractersticas de emisin y bordes de

absorcin.
Tabla N 2.- Coeficientes de absorcin msico
Tabla N 3.- ngulos interplanares en cristales cbicos
Tabla N 4.- Nmeros y Pesos Atmicos internacionales
Tabla N 5.- Conjunto de cocientes d12 para el indexado de cristales isomtricos.
133
Tabla N 1.- Longitudes de onda (en Angstroms) de algunas lneas caractersticas de emisin y
bordes de absorcin
Ele
men
to
Na
Mg
Al
Si
P
11
12
13
14
15
11,90900
9,88890
8,33916
7,12773
6,15490
11,90900
9,88890
8,33669
7,12528
6,15490
11,61700
9,55800
7,98100
6,76810
5,80380
S
Cl
A
K
Ca
16
17
18
19
20
5,37471
4,73050
4,19456
3,74462
3,36159
5,37196
4,72760
4,19162
3,74122
3,35825
5,03169
4,40310
3,45380
3,08960
5,01820
4,39690
3,87070
3,43645
3,07016
Sc
Ti
V
Cr
Mn
21
22
23
24
25
3,03452
2,75207
2,50729
2,29351
2,10568
3,03114
2,74841
2,50348
2,28962
2,10175
2,77950
2,51381
2,28434
2,08480
1,91015
2,75730
2,49730
2,26902
2,07012
1,89636
Fe
Co
Ni
Cu
Zn
26
27
28
29
30
1,93991
1,79278
1,66169
1,54433
1,43894
1,93597
1,78892
1,65784
1,54051
1,43511
1,75653
1,62075
1,50010
1,39217
1,29522
1,74334
1,60811
1,48802
1,38043
1,28329
13,3570
12,2820
Ga
Ge
As
Se
Br
31
32
33
34
35
1,34394
1,25797
1,17981
1,10875
1,04376
1,34003
1,25401
1,17581
1,10471
1,03969
1,20784
1,12589
1,05726
0,99212
0,93273
1,19567
1,11652
1,04497
0,97977
0,91994
11,3130
10,4560
9,6710
8,9900
8,3750
Kr
Rb
Sr
Y
Zr
36
37
38
39
40
0,98410
0,92963
0,87938
0,83300
0,79010
0,98010
0,92551
0,87521
0,82879
0,78588
0,87845
0,82863
0,78288
0,74068
0,70169
0,86546
0,81549
0,76969
0,72762
0,68877
7,31810
6,86250
6,44850
6,07020
6,86330
6,38680
5,96180
5,58290
Nb
Mo
Tc
Ru
Rh
41
42
43
44
45
0,75040
0,71354
0,67600
0,64736
0,61761
0,74615
0,70926
0,67300
0,64304
0,61324
0,66572
0,63225
0,60200
0,57246
0,54559
0,65291
0,61977
5,72400
5,40625
5,22260
4,91250
0,56047
0,53378
4,84552
4,59727
4,36890
4,12960
Pd
Ag
Cd
In
Sn
46
47
48
49
50
0,58980
0,56377
0,53941
0,51652
0,49502
0,58541
0,55936
0,53498
0,51209
0,49056
0,52052
0,49701
0,47507
0,45451
0,43216
0,50915
0,48582
0,46409
0,44387
0,42468
4,36760
4,15412
3,95628
3,77191
3,59987
3,90810
3,69830
3,50380
3,32440
3,15590
Sb
Te
I
Xe
Cs
51
52
53
54
55
0,47479
0,45575
0,43780
0,42043
0,40481
0,47032
0,45126
0,43329
0,41596
0,40026
0,41706
0,39997
0,38388
0,36846
0,35434
0,40663
0,38972
0,37379
0,35849
0,34473
3,43915
3,28909
3,14849
0,00000
2,89200
2,99990
2,85540
2,71940
2,59240
2,47390
K
Promedio
K2
1,93728
1,79021
1,54178
0,71069
K1
L1
Borde
Fuerte
2,29092
K1
muy fuerte
Dbil
LIII
Borde
Muy fuerte
9,51170
7,95110
6,74460
5,78660
13,28870
12,13090
9,36710
8,64560
134
Tabla N 1.- Longitudes de onda (en Angstroms) de algunas lneas caractersticas de emisin y
bordes de absorcin (Continuacin)
Ele
men
to
Ba
La
Ce
Pr
Nd
56
57
58
59
60
0,38964
0,37527
0,36165
0,34872
0,35648
0,38508
0,37070
0,35707
0,34402
0,33182
0,34078
0,32795
0,31579
0,30423
0,29327
0,33137
0,31842
0,30647
0,29516
0,28451
2,77520
2,66510
2,56120
2,46270
2,37010
2,36280
2,25830
2,16390
2,07700
1,99467
Il
Sm
Eu
Gd
Tb
61
62
63
64
65
0,32490
0,31365
0,30326
0,29320
0,28343
0,32070
0,30895
0,29850
0,28840
0,27876
0,28209
0,27305
0,26360
0,25445
0,24601
0,00000
0,26462
0,25551
0,24680
0,23840
2,28270
2,19940
2,12060
2,04600
1,97550
0,00000
1,84450
1,77530
1,70940
1,64860
Dy
Ho
Er
Tm
Yb
66
67
68
69
70
0,27430
0,26552
0,25716
0,24911
0,27147
0,26957
0,26083
0,25248
0,24436
0,23676
0,23758
0,00000
0,22260
0,21530
0,20876
0,23046
0,22290
0,21565
0,20890
0,20223
1,90875
1,84470
1,78428
1,72630
1,67190
1,57900
1,53530
1,48218
1,43280
1,38608
Lu
Hf
Ta
W
Re
71
72
73
74
75
0,23405
0,22699
0,22029
0,21381
0,20759
0,22928
0,22218
0,21548
0,20899
0,20277
0,20212
0,19554
0,19007
0,18436
0,17887
0,19583
0,18981
0,18393
0,17837
0,17311
1,61943
1,56955
1,52187
1,47635
1,43286
1,34135
1,29712
1,25511
1,21546
1,17700
Os
Ir
Pt
Au
Hg
76
77
78
79
80
0,20162
0,19588
0,19037
0,18506
0,00000
0,19678
0,19103
0,18550
0,18018
0,00000
0,17360
0,16853
0,16366
0,15897
0,00000
0,16780
0,16286
0,15816
0,15344
0,14923
1,39113
1,35130
1,31298
1,27639
1,24114
1,14043
1,10565
1,07239
1,03994
1,00898
Tl
Pb
Bi
Th
U
81
82
83
90
92
0,17502
0,17028
0,16570
0,13782
0,13096
0,17013
0,16536
0,16077
0,13280
0,12594
0,15013
0,14598
0,14194
0,11738
0,11138
0,14470
0,14077
0,13706
0,11293
0,10680
1,20735
1,17504
1,14385
0,95598
0,91053
0,97930
0,95029
0,92336
0,76062
0,72216
K
Promedio
K2
K1
K1
Fuerte
Muy fuerte
Dbil
K
Borde
L1
LIII
Borde
Muy fuerte
Tomada de CULLITY, B.D. Elements of x-ray Diffraction, Massachusetts: Addison-Wesley

Publishing Company, Inc., 1978.
135
Tabla N 2.- Coeficientes de absorcin msico (/, cm2/g)

Elem
ento
He
Li
Be
B
2
3
4
5
0,18
0,22
0,30
0,45
0,31
0,54
1,02
2,51
0,37
0,68
1,35
3,06
0,43
0,87
1,80
3,79
0,52
1,13
2,42
4,67
0,64
1,48
3,24
5,80
0,74
1,76
3,90
7,36
0,86
2,11
4,74
9,37
C
N
O
F
Ne
6
7
8
9
10
0,70
1,10
1,50
1,93
2,67
4,43
6,85
11,40
14,40
20,20
5,50
8,51
12,70
17,50
24,60
6,76
10,70
16,20
21,50
30,20
8,50
13,60
20,20
26,60
37,20
10,70
17,30
25,20
33,00
46,00
13,80
21,80
32,20
41,10
57,60
17,90
27,70
40,10
51,60
72,70
Na
Mg
Al
Si
P
11
12
13
14
15
3,36
4,38
5,30
6,70
7,98
25,60
33,00
40,00
49,50
59,40
30,90
40,60
48,70
60,30
73,00
37,90
47,90
58,40
75,80
90,50
46,20
60,00
73,40
94,10
113,00
56,90
75,70
92,80
116,00
141,00
72,30
95,20
117,00
146,00
177,00
92,50
120,00
149,00
192,00
223,00
S
Cl
A
K
Ca
16
17
18
19
20
10,00
11,60
12,60
16,70
19,80
75,00
85,00
93,00
119,00
142,00
91,30
103,00
113,00
143,00
172,00
112,00
126,00
141,00
179,00
210,00
139,00
158,00
174,00
218,00
257,00
175,00
199,00
217,00
269,00
317,00
217,00
245,00
270,00
330,00
400,00
273,00
308,00
341,00
425,00
508,00
Sc
Ti
V
Cr
Mn
21
22
23
24
25
21,10
23,70
26,50
30,40
33,50
153,00
167,00
186,00
213,00
234,00
185,00
204,00
227,00
259,00
284,00
222,00
247,00
275,00
316,00
348,00
273,00
247,00
275,00
316,00
348,00
338,00
377,00
422,00
490,00
63,60
428,00
475,00
530,00
70,50
79,60
545,00
603,00
77,30
89,90
99,40
Fe
Co
Ni
Cu
Zn
26
27
28
29
30
38,30
41,60
47,40
49,70
54,80
270,00
292,00
325,00
42,00
49,30
324,00
354,00
49,30
52,70
59,00
397,00
54,40
61,00
65,00
72,10
59,50
65,90
75,10
79,80
88,50
72,80
80,60
93,10
98,80
109,00
90,90
102,00
116,00
123,00
135,00
115,00
126,00
145,00
154,00
169,00
Ga
Ge
As
Se
Br
31
32
33
34
35
57,30
63,40
69,50
74,00
82,20
52,40
57,60
63,50
69,40
77,00
63,30
69,40
76,50
82,80
92,60
76,90
84,20
93,80
101,00
112,00
94,30
104,00
115,00
125,00
137,00
116,00
128,00
142,00
152,00
169,00
144,00
158,00
175,00
188,00
206,00
179,00
196,00
218,00
235,00
264,00
Kr
Rb
Sr
Y
Zr
36
37
38
39
40
88,10
94,40
101,20
108,90
17,20
83,00
91,50
100,00
107,00
118,00
100,00
109,00
119,00
129,00
143,00
122,00
133,00
145,00
158,00
173,00
148,00
161,00
176,00
192,00
211,00
182,00
197,00
214,00
235,00
260,00
226,00
246,00
266,00
289,00
317,00
285,00
309,00
334,00
360,00
391,00
Nb
Mo
Ru
Rh
41
42
44
45
8,57
10,20
12,20
12,44
18,70
20,20
23,40
25,30
126,00
136,00
153,00
165,00
153,00
164,00
185,00
198,00
183,00
197,00
221,00
240,00
225,00
242,00
272,00
293,00
279,00
299,00
337,00
361,00
338,00
360,00
404,00
432,00
Pd
Ag
Cd
In
Sn
46
47
48
49
50
26,70
28,60
29,90
31,80
33,30
173,00
192,00
202,00
214,00
230,00
207,00
223,00
234,00
252,00
265,00
254,00
276,00
289,00
307,00
322,00
308,00
332,00
352,00
366,00
382,00
376,00
402,00
417,00
440,00
457,00
450,00
483,00
500,00
531,00
555,00
545,00
585,00
608,00
648,00
681,00
Mo K
Zn K
Cu K
Ni K
Co K
Fe K
Mn K
Cr K
= 0,711
= 1,436
=1,542
=1,659
= 1,790
= 1,937
= 2,103
=2,291
136
Tabla N 2.- Coeficientes de absorcin msico (/, cm2/g) (Continuacin)

Elem
ento
Sb
Te
I
Xe
Cs
51
52
53
54
55
35,30
36,10
39,20
41,30
43,30
245,00
248,00
269,00
283,00
298,00
284,00
289,00
314,00
330,00
347,00
342,00
347,00
375,00
392,00
410,00
404,00
410,00
442,00
463,00
486,00
482,00
488,00
527,00
552,00
579,00
589,00
598,00
650,00
680,00
715,00
727,00
742,00
808,00
852,00
844,00
Ba
Ce
Ta
W
56
58
73
74
45,20
52,00
101,00
105,00
307,00
358,00
136,00
143,00
359,00
404,00
164,00
171,00
423,00
476,00
200,00
209,00
501,00
549,00
246,00
258,00
599,00
636,00
305,00
320,00
677,00
670,00
364,00
380,00
819,00
235,00
440,00
456,00
Os
Ir
Pt
Au
Hg
76
77
78
79
80
113,00
118,00
123,00
128,00
132,00
152,00
160,00
172,00
179,00
186,00
186,00
194,00
205,00
214,00
223,00
226,00
237,00
248,00
260,00
272,00
278,00
292,00
304,00
317,00
330,00
346,00
362,00
376,00
390,00
404,00
406,00
422,00
436,00
456,00
471,00
480,00
498,00
518,00
537,00
552,00
Tl
Pb
Bi
81
82
83
136,00
141,00
145,00
194,00
202,00
214,00
231,00
241,00
253,00
582,00
294,00
310,00
341,00
354,00
372,00
416,00
429,00
448,00
484,00
499,00
522,00
568,00
585,00
612,00
Ra
Th
U
88
90
92
172,00
143,00
153,00
258,00
286,00
310,00
304,00
327,00
352,00
371,00
399,00
423,00
433,00
460,00
488,00
509,00
536,00
566,00
598,00
633,00
672,00
708,00
755,00
805,00
Mo K
Zn K
Cu K
Ni K
Co K
Fe K
Mn K
Cr K
= 0,711
= 1,436
=1,542
=1,659
= 1,790
= 1,937
= 2,103
=2,291
Tomada de PEISER, H.S., ROOKSBY, H.P. and WILSON J.C. X-ray diffraction by
polycrystalline materials, London: Chapman & Hall, Ltd., 1960.
137
Tabla N 3.- ngulos interplanares en cristales cbicos entre planos de la forma { h 1k 1 1 } y

{ h 2k 2 2 }
{ h 2k 2 2 }
100
110
{ h 1 k 1 1 }
100
0.0
90.0
45.0
90.0
111
54.7
210
26.6
63.4
90.0
35.3
65.9
211
221
48.2
70.5
310
18.4
71.6
90.0
311
25.2
72.5
320
33.7
56.3
90.0
36.7
57.7
74.5
321
331
510
511
711
46.5
11.4
15.6
11.3
110
0.0
60.0
90.0
35.3
90.0
18.4
50.8
71.6
30.0
54.7
73.2
90.0
19.5
45.0
76.4
90.0
26.6
47.9
63.4
77.1
31.5
64.8
90.0
11.3
54.0
66.9
19.1
40.9
55.5
13.1
111
0.0
70.5
109.5
39.2
75.0
210
211
221
310
19.5
61.9
90.0
0.0
36.9
53.1
74.1
43.1
56.8
0.0
33.6
48.2
15.8
54.7
78.9
26.6
41.8
53.4
17.7
35.3
47.1
0.0
27.3
39.0
43.1
68.6
8.1
58.1
45.0
25.4
49.8
58.9
32.5
42.5
58.2
0.0
25.9
36.9
29.5
58.5
90.0
61.3
71.3
19.3
47.6
66.1
7.1
29.8
41.9
17.0
33.2
53.3
10.0
42.4
60.5
25.2
37.6
55.6
10.9
29.2
40.2
25.2
45.3
59.8
22.4
42.3
49.7
11.5
27.0
36.7
17.6
40.3
55.1
15.3
37.9
52.1
21.6
32.3
40.5
22.2
51.9
72.0
90.0
22.0

138
Tabla N 4.- Nmeros y Pesos atmicos internacionales

Actinium
Aluminum
Americium
Antimony
Argon
Arsenic
Astatine
Barium
Berkelium
Beryllium
Bismuth
Boron
Bromine
Cadmium
Calcium
Californium
Carbon
Cerium
Caesium
Chlorine
Chromium
Cobalt
Copper
Curium
Dysprosium
Erbium
Europlum
Fluorine
Francium
Godolnium
Gallium
Germanium
Gold
Hafnium
Helium
Holmium
Hydrogen
Indium
Iodine
Iridium
Iron
Krypton
Lanthanum
Lead
Lithium
Lutetium
Magnesium
Manganese
Mercury
Smbolo N At.
Ac
89
Al
13
Am
95
Sb
51
A
18
As
33
At
85
Ba
56
Bk
97
Be
4
Bi
83
B
5
Br
35
Cd
48
Ca
20
Cf
98
C
6
Ce
58
Cs
55
Cl
17
Cr
24
Co
27
Cu
29
Cm
96
Dy
66
Er
68
Eu
63
F
9
Fr
87
Gd
64
Ga
31
Ge
32
Au
79
Hf
72
He
2
Ho
67
H
1
In
49
I
53
Ir
77
Fe
26
Kr
36
La
57
Pb
82
Lt
3
Lu
71
Mg
12
Mn
25
Hg
80
Peso At.
227
26,98
[243]
121,76
39,944
74,91
[210]
137,36
[245]
9,013
209,00
10,82
79,916
112,41
40,08
[246]
12,011
140,13
132,91
35,457
52,01
58,94
63,54
[243]
162,46
167,2
152,0
19,00
[223]
156,9
69,72
72,60
197,0
178,6
4,003
164,94
1,0080
114,76
126,91
192,2
55,85
83,80
138,92
207,21
6,940
174,99
24,32
54,94
200,61
Molybdenum
Neodymium
Neptunium
Neon
Nickel
Niobium
Nitrogen
Osmium
Oxygen
Palladium
Phosphorus
Platinum
Plutonium
Polonium
Potassium
Praseodymium
Promethium
Protactinum
Radium
Radon
Rhenium
Rhodium
Rubidium
Ruthenium
Samarium
Scandium
Selenium
Silicon
Silver
Sodium
Strontium
Sulfur
Tantalum
Technetium
Tellerium
Terbium
Thalium
Thorium
Thulium
Tin
Titanium
Tungsten
Uranium
Vanadium
Xenon
Ytterbium
Yttrium
Zinc
Zirconium
Smbolo N At.
Ma
42
Nd
60
Np
93
Ne
10
Ni
28
Nb
41
N
7
Os
76
O
8
Pd
46
P
15
Pt
78
Pu
94
Po
84
K
19
Pr
59
Pm
61
Pa
91
Ra
88
Rn
86
Re
75
Rh
45
Rb
37
Ru
44
Sm
62
Sc
21
Se
34
Sl
14
Ag
47
Na
11
Sr
38
S
16
Ta
73
Tc
43
Te
52
Tb
65
Tl
81
Th
90
Tm
69
Sn
50
Tl
22
W
74
U
92
V
23
Xe
54
Yb
70
Y
39
Zn
30
Zr
40
Peso At.
95,95
144,27
[237]
20,183
58,69
92,91
14,008
190,2
16
106,7
30,975
195,23
[242]
210
39,100
140,92
[145]
231
226,05
222
186,31
102,91
85,48
101,1
150,43
44,96
78,96
28,09
107,880
22,991
87,63
32,066
180,95
[99]
127,61
158,93
204,39
232,05
168,94
118,70
47,90
183,92
238,07
50,95
131,3
173,04
88,92
65,38
91,22

139
Tabla N 5.- Conjunto de cocientes d12 para el indexado de cristales isomtricos
hkl para d
100
(1)
Indice de Reflexiones correspondientes a d1

110
111
200
210
211
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
220
(7)
100
110I
111F
200I-F
210
1
2
3
4
5
1
1.5
2
2.5
1
1.33
1.67
1
1.25
211I
220I-F
300,221
310I
311F
6
8
9
10
11
3
4
4.5
5
5.5
2
2.67
3
3.33
3.67
1.5
4
2.25
2.5
2.75
1.2
1.6
1.8
2
2.2
1
1.33
1.5
1.67
1.83
1
1.12
1.25
1.37
222I-F
320
321I
400I-F
410,322
12
13
14
16
17
6
6.5
7
8
8.5
4
4.33
4.67
5.33
5.67
3
3.25
3.5
4
4.25
2.4
2.6
2.8
3.2
3.4
2
2.17
2.33
2.67
2.83
1.5
1.62
1.75
2
2.12
411,330I
331F
420I-F
421
332I
18
19
20
21
22
9
9.5
10
10.5
11
6
6.33
6.67
7
7.33
4.5
4.75
5
5.25
5.5
3.6
3.8
4
4.2
4.4
3
3.17
3.33
3.5
3.67
2.25
2.37
2.54
2.62
2.75
422I-F
500,430
510,431I
511,333F
520,432
24
25
26
27
29
12
12.5
13
13.5
14.5
8
8.33
8.67
9
9.67
6
6.25
6.5
6.75
7.25
4.8
5
5.2
5.4
5.8
4
4.17
4.33
4.5
4.83
3
12
3.25
3.37
3.62
521I
440I-F
522,441
530,443I
531F
30
32
33
34
35
15
16
16.5
17
17.5
10
10.67
3
11.33
11.67
7.5
8
8.25
8.5
8.65
6
6.4
6.6
6.8
7
5
6.33
5.5
5.67
5.83
3.75
4
4.12
4.25
4.37
600,442I-F
610
611,532I
620I-F
443,621,540
36
37
38
40
41
18
18.5
19
20
20.5
12
12.33
12.67
13.33
13.67
9
9.25
9.5
10
10.25
7.2
7.4
7.6
8
8.2
6
6.17
6.33
6.67
6.83
4.5
4.62
4.75
5
5.12
541I
533F
622I-F
630,542
42
43
44
45
21
21.5
22
22.5
14
14.33
14.67
15
10.5
10.75
11
11.25
8.4
8.6
8.8
9
7
7.17
7.33
7.5
5.25
5.37
5.5
5.62
140
Tabla N 5.- Conjunto de cocientes d12 para el indexado de cristales isomtricos (Cont.)
631I
444IF
700,632
710,550,543I
711,551F
640I-F
46
48
49
50
51
52
Indice de Reflexiones correspondientes a d1

110
111
200
210
211
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
23
15.33
11.50
9.2
7.67
24
16
12
9.6
8
24.5
16.33
12.25
9.8
8.17
25
16.67
12.50
10
8.33
25.5
17
12.75
10.2
8.5
26
17.33
13
10.4
8.67
720,641
721,633,552I
642I-F
722,544
730I
53
54
56
57
58
26.5
27
28
28.5
29
17.67
18
18.67
19
19.33
13.25
13.50
14
14.25
14.5
10.6
10.8
11.2
11.4
11.6
8.83
9
9.33
9.5
9.67
6.62
6.75
7
7.12
7.25
731,553F
650,643
732,651I
800I-F
810,740,652
59
61
62
64
65
29.5
30.5
31
32
32.5
19.67
20.33
20.67
21.33
21.67
14.76
15.25
15.5
16
16.25
11.8
12.2
12.4
12.8
13
9.83
10.17
10.33
10.67
10.83
7.37
7.72
7.75
8
8.12
811,741,554I
733
820,644I-F
821,742
653I
66
67
68
69
70
33
33.5
34
34.5
35
22
22.33
22.67
23
23.33
16.50
16.75
17
17.25
17.5
13.2
13.4
13.6
13.8
14
11
11.17
11.33
11.5
11.67
8.25
8.37
8.5
8.62
8.75
822,660I-F
830,661
831,750,743I
751,555F
662I-F
72
73
74
75
76
36
36.5
37
37.5
38
24
24.33
24.67
25
27.33
18
18.25
18.5
18.75
19
14.4
14.6
14.8
15
15.2
12
12.17
12.33
12.5
12.67
9
9.12
9.25
9.37
9.5
832,654
752I
840I,F
900,841,744,
663
910,833I
77
78
80
38.5
39
40
25.67
26
26.67
19.25
19.5
20
15.4
15.6
16
12.83
13
13.33
9.62
9.75
10
81
82
40.5
41
27
27.33
20.25
20.5
16.2
16.4
13.5
13.67
10.12
10.25
911,753F
842I-F
920,760
921,761,655I
664I-F
83
84
85
86
88
41.5
42
42.5
43
44
27.67
28
28.33
28.67
29.33
20.75
21
21.25
21.50
22
16.6
16.8
17
17.2
17.6
3.83
14
14.17
14.33
14.67
10.37
10.5
10.62
10.75
11
hkl para d
100
(1)
220
(7)
5.75
6
6.12
6.25
6.37
6.5
Tomada de BLOSS, F. DONALD. Crystallography and Crystal Chemistry, New York: Holt,
Rinehart and Winston, Inc., 1971
141
hk
Simple
Cuerpo Centrado
Cara Centrada
h 2 k 2 2
h 2 k 2 2
h 2 k 2 2
h 2 k 2 2
(h 2 k 2 2 )100
(h 2 k 2 2 )110
(h 2 k 2 2 )111
(h 2 k 2 2 )200
100
1
110
2
1
111
3
1.5
1
200
4
2
1.33
210
5
2.5
1.67
211
6
3
2
220
8
4
2.67
221/300
9
4.5
3
310
10
5
3.33
311
11
5.5
3.67
222
12
6
4
320
13
6.5
4.33
321
14
7
4.67
400
16
8
5.33
410/322
17
8.5
5.67
441/330
18
9
6
331
19
9.5
6,33
420
20
10
6.67
421
21
10.5
7
332
22
11
7.33
422
24
12
8
500/430
25
12.5
8.33
510/431
26
13
8.67
511/333
27
13.5
9
520/432
29
14.5
9.67
521
30
15
10
440
32
16
10.67
522/441
33
16.5
11
530/433
34
17
11.33
531
35
17.5
11.67
600/442
36
18
12
610
37
18.5
12.33
611/532
38
19
12.67
620
40
20
13.33
621/540/443
41
20.5
13.67
541
42
21
14
533
43
21.5
14.33
622
44
22
14.67
* Celda unitaria con tomos A y B que cumplen la condicin: f A f B .
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.75
5
5.5
6
6.5
10
11
Tomada de HERMBECKER, KLAUS. Handbook Physics - X-Ray Experiments, Gttingen:

PHYWE Series of Publication, 2005.
142

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FACULTAD DE CIENCIAS NATURALES Y MATEMTICA

TEXTO: DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE

Lic. Carlos Alberto Quiones Monteverde

Captulo 1. MEDIDAS DIFRACTOMTRICAS

Aspectos generales del Difractmetro de rayos X

Captulo 2. ORIENTACIN DE MONOCRISTALES

Captulo 3. ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS POLICRISTALINOS

Captulo 4. DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS I

Captulo 5. DETERMINACIN DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS II

Mtodo Analtico para el Indexado de Patrones de Cristales No Cbicos

Captulo 6. MEDIDA PRECISA DE PARMETROS

Captulo 7. ANLISIS CUALITATIVO POR DIFRACCIN

Captulo 8. ANLISIS CUANTITATIVO POR DIFRACCIN

Anlisis Cuantitativo: Principios Bsicos

Tabla N 1.- Constantes Fsicas

Tabla N 1.- Longitudes de onda de algunas lneas caractersticas de emisin y bordes

obtenidos y, complementariamente, el Carine Crystallography 3.1, que es un software que

En la asignatura Difraccin de rayos X II se describen los mtodos experimentales de la

El texto DIFRACCIN DE RAYOS X II: UN ENFOQUE EXPERIMENTAL se ha

El resultado del presente trabajo de investigacin es el texto: DIFRACCIN DE

EXPERIMENTAL, permite unificar los conceptos tericos con el trabajo experimental y

En el arreglo descrito, la superficie de la muestra se comporta como un espejo con el ngulo

Figura 1.2.- Geometra de focalizacin para muestras planas

donde: es el coeficiente de absorcin lineal del polvo, a es la fraccin de volumen de la

1.4 CONTADORES PROPORCIONALES

convenientemente amplificados para poder ser registrados. Los amplificadores electrnicos

Entre V1 y V2 el conteo vara lentamente

As el factor de absorcin de un cuanto de rayos X en el cristal resulta en la coleccin de un

depende de la constante de tiempo. La carga decae al 37% de su valor inicial en un tiempo

Existe otro mtodo de operacin bajo condiciones esencialmente monocromticas, un mtodo

Calibrar el gonimetro de la unidad de rayos X PHYWE.

Figura 1.- Esquema de la unidad de rayos X PHYWE

Tubo contador tipo B

PROCEDIMIENTO.Calibracin del gonimetro

Figura 2.- Panel de control de la unidad de rayos X PHYWE

3. Usando el botn 3 del panel de control de la unidad de rayos X, mostrado en la Figura 2,

donde: es el coeficiente de absorcin lineal.

Aun cuando el coeficiente de absorcin es dependiente de la longitud de onda o la energa,

Cristal de LiF (100) d = 2.01410-10 m

2. Fijar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro en la salida del tubo de rayos X y montar el

5. Seleccionar Continuar y en el cuadro de dilogo que aparece seleccionar iniciar medida.

9. Seleccionar Continuar y en el cuadro de dilogo que aparece seleccionar iniciar medida.

12. Completar el cuadro de dilogo como se indica en la figura.

19. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure. Seleccionar

donde: es el coeficiente de absorcin lineal.

Aun cuando el coeficiente de absorcin es dependiente de la longitud de onda o la energa,

Cristal de LiF (100) d = 2.01410-10 m

2. Fijar el diafragma tubular de 2 mm de dimetro en la salida del tubo de rayos X y montar el

5. Seleccionar Continuar y en el cuadro de dilogo que aparece seleccionar iniciar medida.

9. Seleccionar Continuar y en el cuadro de dilogo que aparece seleccionar iniciar medida.

12. Completar el cuadro de dilogo como se indica en la figura.

19. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure. Seleccionar

Figura 2.1.- Cono de haces difractados en el

En la Figura 2.2 la pelcula es vista desde el cristal.

Figura 2.2.- Localizacin de una mancha de

2.3. MTODO DE LAUE DE TRANSMISIN

Figura 2.5.- Posicin de una mancha de

Figura 2.6.- Carta de Leonhardt

Existen muchas variaciones del mtodo difractomtrico, dependiendo de la clase particular de

Figura 1.- Foto de Laue de un cristal de LiF

La muestra de LiF consiste en un cristal cbico con constante de red a.

De la Figura 2, cal 90 y considerando que