Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah

satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering
digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi
fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur
kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Sinar X merupakan radiasi
elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV.
Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan
elektron pada kulit atom. Spektrum sinar X memilki panjang gelombang
10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi 1017-1020 Hz dan memiliki energi 103-106
eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak
antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
SinarX dihasilkan dari tumbukan elektron berkecepatan tinggi dengan
logam sasaran. Olehk arena itu, suatu tabung sinar X harus mempunyai
suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan logam sasaran. Selanjutnya
elektron elektron yang ditumbukan ini mengalami pengurangan
kecepatan dengan cepat dan energinya diubah menjadi foton.
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun
1895, di Universitas Wurtzburg, Jerman. Karena asalnya tidak diketahui
waktu itu maka disebut sinar X. Untuk penemuan ini Rontgen mendapat
hadiah nobel pada tahun 1901, yang merupakan hadiah nobel pertama di
bidang fisika. Sejak ditemukannya, sinar-X telah umum digunakan untuk
tujuan pemeriksaan tidak merusak pada material maupun manusia.
Disamping itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola
difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan
kuantitatif material. Pengujian dengan menggunakan sinar X disebut
dengan pengujian XRD (X-Ray Diffraction).
XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senyawa pada material
dan juga karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi
cahaya yang melalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal
ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut berasal dari radius yang memiliki
panjang gelombang yang setara dengan jarak antar atom, yaitu sekitar 1
Angstrom. Radiasi yang digunakan berupa radiasi sinar-X, elektron, dan
neutron. Sinar-X merupakan foton dengan energi tinggi yang memiliki
panjang gelombang berkisar antara 0.5 sampai 2.5 Angstrom. Ketika
berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material, maka sebagian berkas
akan diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi dihamburkan
terdifraksi. Hamburan terdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD. Berkas
sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan
karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena
fasanya sama. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut
sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan
yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut
merupakan berkas difraksi. Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD dapat dilihat
pada Gambar 1 dan Gambar 2.

Gambar 1 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD [1]

Gambar 2 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD [2]

Dari Gambar 2 dapat dideskripsikan sebagai berikut. Sinar datang yang
menumbuk pada titik pada bidang pertama dan dihamburkan oleh atom P.
Sinar datang yang kedua menumbuk bidang berikutnya dan dihamburkan
oleh atom Q, sinar ini menempuh jarak SQ + QT bila dua sinar tersebut
paralel dan satu fasa (saling menguatkan). Jarak tempuh ini merupakan
kelipatan (n) panjang gelombang (), sehingga persamaan menjadi :

Persamaan diatas dikenal juga sebagai Braggs law, dimana,

berdasarkan persamaan diatas, maka kita dapat mengetahui panjang
gelombang sinar X () dan sudut datang pada bidang kisi (), maka
dengan ita kita akan dapat mengestimasi jarak antara dua bidang planar
kristal (d001). Skema alat uji XRD dapat dilihat pada Gamnbar 3 dibawah
ini.

Gambar 3: Skema alat uji XRD [3]

Dari metode difraksi kita dapat mengetahui secara langsung mengenai
jarak rata-rata antar bidang atom. Kemudian kita juga dapat menentukan
orientasi dari kristal tunggal. Secara langsung mendeteksi struktur kristal
dari suatu material yang belum diketahui komposisinya. Kemudian secara
tidak langsung mengukur ukuran, bentuk dan internal stres dari suatu
kristal. Prinsip dari difraksi terjadi sebagai akibat dari pantulan elastis
yang terjadi ketika sebuah sinar berinteraksi dengan sebuah target.
Pantulan yang tidak terjadi kehilangan energi disebut pantulan elastis
(elastic scatering). Ada dua karakteristik utama dari difraksi yaitu
geometri dan intensitas. Geometri dari difraksi secara sederhana
dijelaskan oleh Braggs Law (Lihat persamaan 2). Misalkan ada dua
pantulan sinar dan . Secara matematis sinar tertinggal dari sinar
sejauh SQ+QT yang sama dengan 2d sin secara geometris. Agar dua
sinar ini dalam fasa yang sama maka jarak ini harus berupa kelipatan
bilangan bulat dari panjang gelombang sinar . Maka didapatkanlah
Hukum Bragg: 2d sin = n. Secara matematis, difraksi hanya terjadi
ketika Hukum Bragg dipenuhi. Secara fisis jika kita mengetahui panjang
gelombang dari sinar yang membentur kemudian kita bisa mengontrol
sudut dari benturan maka kita bisa menentukan jarak antar atom
(geometri dari latis). Persamaan ini adalah persamaan utama dalam
difraksi. Secara praktis sebenarnya nilai n pada persamaan Bragg diatas
nilainya 1. Sehingga cukup dengan persamaan 2d sin = . Dengan
menghitung d dari rumus Bragg serta mengetahui nilai h, k, l dari masing-
masing nilai d, dengan rumus-rumus yang telah ditentukan tiap-tiap
bidang kristal kita bisa menentukan latis parameter (a, b dan c) sesuai
dengan bentuk kristalnya.

Estimasi Crystallite Size dan Strain Menggunakan XRD

Elektron dan Neutron memiliki panjang gelombang yang sebanding

dengan dimensi atomik sehingga radiasi sinar X dapat digunakan untuk
menginvestigasi material kristalin. Teknik difraksi memanfaatkan radiasi
yang terpantul dari berbagai sumber seperti atom dan kelompok atom
dalam kristal. Ada beberapa macam difraksi yang dipakai dalam studi
material yaitu: difraksi sinar X, difraksi neutron dan difraksi elektron.
Namun yang sekarang umum dipakai adalah difraksi sinar X dan elektron.
Metode yang sering digunakan untuk menganalisa struktur kristal adalah
metode Scherrer. Ukuran kristallin ditentukan berdasarkan pelebaran
puncak difraksi sinar X yang muncul. Metode ini sebenarnya memprediksi
ukuran kristallin dalam material, bukan ukuran partikel. Jika satu partikel
mengandung sejumlah kritallites yang kecil-kecil maka informasi yang
diberikan metiode Schrerrer adalah ukuran kristallin tersebut, bukan
ukuran partikel. Untuk partikel berukuran nanometer, biasanya satu
partikel hanya mengandung satu kristallites. Dengan demikian, ukuran
kristallinitas yang diprediksi dengan metode Schreer juga merupakan
ukuran partikel. Berdasarkan metode ini, makin kecil ukuran kristallites
maka makin lebar puncak difraksi yang dihasilkan, seperti diilustrasikan
pada Gambar 4. Kristal yang berukuran besar dengan satu orientasi
menghasilkan puncak difraksi yang mendekati sebuah garis vertikal.
Kristallites yang sangat kecil menghasilkan puncak difraksi yang sangat
lebar. Lebar puncak difraksi tersebut memberikan informasi tentang
ukuran kristallites. Hubungan antara ukuran ksirtallites dengan lebar
puncal difraksi sinar X dapat diproksimasi dengan persamaan Schrerer [5-
9].

Gambar 4 : XRD Peaks [4]

Gambar 4 mengindikasikan bahwa makin lebar puncak difraksi sinar X
maka semakin kecil ukuran kristallites. Ukuran kristallites
yangmenghasilkan pola difraksi pada gambar bawah lebih kecil dari pada
ukuran kristallites yang menghasilkan pola diffraksi atas. Puncak diffraksi
dihasilkan oleh interferensi secara kontrukstif cahaya yang dipantulkan
oleh bidang-bidang kristal. Hubungan antara ukuran ksirtallites dengan
lebar puncal difraksi sinar X dapat diproksimasi dengan persamaan
Schrerer [5-7].

Scherrer Formula

Dimana :

Crystallite size (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D)

FWHM (Line broadening at half the maximum intensity), Nilai yang

dipakai adalah nilai FWHM setelah dikurangi oleh the instrumental
line broadening (satuan: radian) dinotasikan dengan symbol (B)

Braggs Angle dinotasikan dengan symbol ()

 X-Ray wave length dinotasikan dengan symbol ()

K Adalah nilai konstantata Shape Factor (0.8-1) dinotasikan

dengan symbol (K)

Perlu diingan disini adalah: Untuk memperoleh hasil estimasi ukuran

kristal dengan lebih akurat maka, nilai FWHM harus dikoreksi oleh
"Instrumental Line Broadening" berdasarkan persamaan berikut [4-9].

Dimana :
FWHMsample adalah lebar puncak difraksi puncak pada setengah maksimum
dari sampel benda uji dan FWHMstandard adalah lebar puncak difraksi
material standard yang sangat besar puncaknya berada di sekitar lokasi
puncak sample yang akan kita hitung.
Contoh Estimasi Crystallite size menggunakan X-Ray Diffraction
Analysis

Gambar 5: Penulis sedang melakukan sampel analisis menggunakan XRD Bruker 8 Advance
Setelah data hasil uji sampel menggunakan XRD diperoleh, Data hasil
analisa yang diperoleh tersimpan dalam format RAW.data, yang kemudian
data tersebut dianalisa menggunakan Software EVA, data hasil uji sampel
yang diperoleh adalah berupa peak seperti gambar dibawah ini.
 Gambar 6: XRD Peak untuk sampel Fe powder yang diuji penulis.

Sekilas Tentang Struktur Atom Suatu Unsur

Setiap atom terdiri dari inti yang sangat kecil yang terdiri dari proton dan
neutron, dan di kelilingi oleh elektron yang bergerak. Elektron dan proton
mempunyai muatan listrik yang besarnya 1,60 x 10 -19 C dengan tanda
negatif untuk elektron dan positif untuk proton sedangkan neutron tidak
bermuatan listrik. Massa partikel-partikel subatom ini sangat kecil: proton
dan neutron mempunyai massa kira-kira sama yaitu 1,67 x 10 -27 kg, dan
lebih besar dari elektron yang massanya 9,11 x 10 -31 kg. Setiap unsur
kimia dibedakan oleh jumlah proton di dalam inti, atau nomor atom (Z).
Untuk atom yang bermuatan listrik netral atau atom yang lengkap, nomor
atom adalah sama dengan jumlah elektron. Nomor atom merupakan
bilangan bulat dan mempunyai jangkauan dari 1 untuk hidrogen hingga
94 untuk plutonium yang merupakan nomor atom yang paling tinggi
untuk unsur yang terbentuk secara alami. Massa atom (A) dari sebuah
atom tertentu bisa dinyatakan sebagai jumlah massa proton dan neutron
di dalam inti. Walaupun jumlah proton sama untuk semua atom pada
sebuah unsur tertentu, namun jumlah neutron (N) bisa bervariasi. Karena
itu atom dari sebuah unsur bisa mempunyai dua atau lebih massa atom
yang disebut isotop. Berat atom berkaitan dengan berat rata-rata massa
atom dari isotop yang terjadi secara alami. Satuan massa atom (sma) bisa
digunakan untuk perhitungan berat atom. Suatu skala sudah ditentukan
dimana 1 sma didefinisikan sebagai 1/12 massa atom dari isotop karbon
yang paling umum, karbon 12 (12 C) (A = 12,00000). Dengan teori
tersebut, massa proton dan neutron sedikit lebih besar dari satu, dan,
AZ+N
Berat atom dari unsur atau berat molekul dari senyawa bisa dijelaskan
berdasarkan sma per atom (molekul) atau massa per mol material. Satu
mol zat terdiri dari 6,023 x 10 23 atom atau molekul (bilangan Avogadro).
Kedua teori berat atom ini dikaitkan dengan persamaan berikut: 1
sma/atom (molekul) = 1 g/mol Sebagai contoh, berat atom besi adalah
55,85 sma/atom, atau 55,85 g/mol. Kadang-kadang penggunaan sma per
atom atau molekul lebih disukai; pada kesempatan lain g/mol (atau
kg/mol) juga digunakan.