BAB I

PENDAHULUAN

A. Latar Belakang Masalah

Sinar X pertama kali ditemukan oleh Wilhem Conrad Rontgen pada tahun 1895.
Dinamakan dengan sinar-X pada waktu itu dikarenakan tidak diketahuinya apa sebenarnya
sinar tersebut, maka disebutlah dengan sinar-X. Sinar-X digunakan untuk tujuan
pemeriksaan yang tidak merusak pada material maupun manusia. Disamping itu, sinar- X
dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material.
Pada waktu suatu material dikenai sinar X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan
lebih rendah dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh
material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. berkas sinar X
yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda ada
juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar X yang saling
menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi.
Seperti kita ketahui bahwa perumusan matematika yang telah di buat oleh Bragg
tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut
merupakan berkas difraksi. Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron berkecepatan
tinggi dengan logam target. Dari prinsip kerja inilah yang kemudian dimanfaatkan dan
dibuat beberapa jenis alat dengan menerapkan prinsip dari Hukum Bragg.
Salah satu jenis alat tersebut adalah X-Ray Diffraction (XRD), alat ini merupakan
salah satu alat yang memanfaatkan prinsip dari Hukum Bragg dengan menggunakan
metode karakterisasi material yang paling tua dan yang paling sering digunakan. Teknik
ini yang digunakan sebagai alat untuk mengidentifikasi suatu fasa dari kristalin di dalam
suatu material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan
ukuran suatu partikel.

B. Rumusan Masalah
Berdasarkan latar belakang yang telah dijabarkan, didapat rumusan masalah sebagai
berikut:
1. Apa yang dimaksud dengan X-Ray Difraction (XRD)?
2. Bagaimana prinsip kerja dari XRD?
3. Apa saja komponen dari instrumen XRD?
4. Bagaimana interprtasi data menggunakan XRD?
5. Apa kegunaan dari XRD?

Spektroskopi Sinar X | 1
 6. Apa saja kelebihan dan kekurangan drai XRD?

C. Tujuan Penulisan
Berdasarkan rumusan masalah tersebut, didapat tujuan dari penulisan makalah sebagai
berikut:
1. Untuk mengetahui pengertian X-Ray Difraction (XRD).
2. Untuk mengetahui prinsip kerja dari XRD.
3. Untuk mengetahui komponen-komponen dari instrumen XRD.
4. Untuk mengetahui cara interprtasi data menggunakan XRD.
5. Untuk mengetahui kegunaan dari XRD.
6. Untuk mengetahui kelebihan dan kekurangan dari XRD.

BAB II

PEMBAHASAN

Spektroskopi Sinar X | 2
A. PENGERTIAN XRD
Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang.
Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara
menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.
XRD merupakan teknik analisis non-destruktif untuk mengidentifikasi dan
menentukan secara kuantitatif tentang bentuk-bentuk berbagai kristal, yang disebut dengan
fase. Identifikasi diperoleh dengan membandingkan pola difraksi dengan sinar-X. XRD
dapat digunakan untuk menentukan fase apa yang ada didalam bahan dan konsentrasi
bahan-bahan penyusunnya. XRD juga dapat mengukur macam-macam keacakan dan
penyimpangan kristal serta karakterisasi material kristal. XRD juga dapat mengidentifikasi
mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat.
Pada X-RD, sinar X dipilih karena merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki
energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi anatara
berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memiliki
panjang gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 1020 Hz dan memiliki energi 103
106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom
sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.
Efek radiasi sinar X terhadap molekul mengakibatkan terjadinya ionisasi. Sinar X bisa
berupa partikel atau gelombang. Karena berupa gelombang elektromagnetik, sinar X
menjalar pada medium apapun dengan kecepatan yang hampir tetap setara dengan
kecepatan cahaya dalam vakum. Sinar X dihasilkan dari penembakan logam dengan
elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam logam
dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental membentuk
kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan
memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar X.

Ada dua proses yang terjadi bila seberkas sinar X ditembakkan ke sebuah atom, yaitu
(1) energi berkas sinar X terserap oleh atom, atau (2) sinar X dihamburkan oleh atom. Bila
seberkas radiasi elektromagnetik dilewatkan melalui celah sempit, maka akan terjadi
difraksi. Difraksi sinar X merupakan proses hamburan sinar X oleh bahan kristal. Sinar X
dapat didifraksikan oleh kristal sehingga dapat digunakan untuk menentukan struktur
kristal zat padat. Dengan mengetahui struktur kristalnya, maka sifat-sifat material dapat
ditentukan. Dalam interaksinya dengan materi, sinar X juga dapat mengalami polarisasi

Spektroskopi Sinar X | 3
 linier. Berkas sinar X terpolarisasi dapat diperoleh dengan cara hamburan, dimana berkas
hamburan sinar X oleh materi yang dapat diukur adalah intensitas.

B. PRINSIP XRD
Prinsip dari alat XRD (X-ray powder diffraction) adalah sinar X yang dihasilkan dari
suatu logam tertentu memiliki panjang gelombang tertentu, sehingga dengan memvariasi
besar sudut pantulan sehingga terjadi pantulan elastis yang dapat dideteksi. Maka menurut
Hukum Bragg jarak antar bidang atom dapat dihitung dengan data difraksi yang dihasilkan
pada besar sudut sudut tertentu. Prinsip ini di gambarkan dengan diagram dibawah ini.

Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam
sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan
interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari
kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg :

Dengan : n. = 2.d.sin ; n =
1,2,... sinar-X yang digunakan
: adalah panjang gelombang
d : adalah jarak antara dua bidang kisi
: adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal
n : adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal,
maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama
dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh
detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang
kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki
orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data

Spektroskopi Sinar X | 4
 pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua
jenis material. Standar ini disebut JCPDS.

C. JENIS-JENIS SINAR X
1. Spektrum Sinar-X
Proses terbentuknya sinar-X dapat diterangkan dengan baik menggunakan teori
atom menurut mekanika kuantum. Oleh sebab itu, sebelum membahas lebih lanjut
mengenai sinar-X karakteristik, terlebih dahulu pada bagian ini akan dibahas struktur
atom suatu materi yang peranannya sangat besar terhadap proses terbentuknya sinar-X
karakteristik. Mekanika kuantum mengajarkan bahwa hal terbaik yang dapat
dilakukan adalah menghitung kemungkinan matematis tentang letak elektron dalam
daerah tertentu suatu ruangan. Model atom yang digunakan untuk memperhitungkan
sifat gelombang dari elektron. Menurut teori atom ini, sebuah atom mempunyai
muatan positif yang terletak di bagian tengah, tetapi elektronelektronnya tidak berada
pada orbit yang tetap. Hanya saja kebolehjadian untuk mendapatkan suatu elektron
pada jarak tertentu dari inti dapat ditentukan, namun bukan merupakan jarak yang
pasti dari inti ke sembarang elektron tertentu.
Setiap elektron dalam sebuah atom terikat oleh empat bilangan kuantum :
a. Bilangan kuantum utama (n) yang menyatakan tingkat energi kulit atom dan
mempunyai harga n = 1, 2, 3 dan seterusnya
b. Bilangan kuantun azimutal (l) yang menyatakan banyaknya sub kulit atau sub
tingkat energi pada masing-masing kulit atom
c. Bilangan kuantum magnetik (m) yang menyatakan banyaknya orbit elektron
pada tiap-tiap sub kulit
d. Bilangan kuantum spin (s) yang menyatakan perputaran elektron pada porosnya.

Dengan menggunakan keempat bilangan kuantum di atas maka jumlah

maksimum elektron pada masing-masing kulit dapat ditentukan, yaitu 2n2 dengan n

Spektroskopi Sinar X | 5
 adalah bilangan kuantum utama. Namun ketentuan ini harus didasari oleh asas yang
dikemukakan pada tahun 1925 oleh ahli fisika Austria Wolfgang Pauli yang
mengatakan bahwa tidak mungkin ada dua elektron dalam satu atom yang memiliki
lintasan dengan keempat bilangan kuantum (n, l, m dan s) tepat sama. Dengan aturan
Pauli ini ternyata kulit dengan n = 1 sampai dengan n = 4 (kulit K, L, M dan N)masih
dapat mengikuti aturan maksimum elektron yang diperkenankan, masing berisi 2, 8,
18 dan 32 buah elektron. Sedang kulit dengan n = 5 sampai dengan n = 7 (kulit O, P
dan Q) tidak lagi memenuhi aturan 2n2, karena masing-masing kulit berturut-turut
hanya berisi 32, 18 dan 2 buah elektron.

2. Sinar-X Bremsstrahlung
Pada pesawat sinar-X, metode terpenting dalam proses produksi sinar-X
adalah proses yang dikenal dengan bremsstrahlung, yaitu istilah dalam bahasa Jerman
yang berarti radiasi pengereman (braking radiation). Elektron sebagai partikel
bermuatan listrik yang bergerak dengan kecepatan tinggi, apabila melintas mendekati
inti suatu atom, maka gaya tarik elektrostatik inti atom yang kuat dapat menyebabkan
arah gerak elektron membelok dengan tajam. Peristiwa itu menyebabkan elektron
kehilangan energinya dengan memancarkan radiasi elektromagnetik yang dikenal
sebagai sinar-X bremsstrahlung. Total bremsstrahlung per atom kira-kira berbanding
dengan (Z/m)2, dengan Z adalah nomor atom bahan target dan m adalah massa partikel
bermuatan. Karena bergantung dengan faktor (1/m)2, maka jumlah bremsstrahlung
dapat diabaikan keberadaannya untuk semua partikel kecuali elektron, karena harga m
untuk elektron yang sangat redah sehingga nilai (1/m)2 sangat tinggi. Efisiensi
produksi sinar-X dengan cara ini juga sangat bergantung pada nomor atom (Z) bahan
target. Bahan dengan Z tinggi menghasilkan lebih banyak sinar-X dibandingkan bahan
dengan Z rendah. Untuk berkas elektron yang datang menuju target tipis, fraksi dari
energi elektron yang diubah menjadi sinar-X bremsstrahlung (f) adalah :
dengan :
Z adalah nomor atom bahan penyerap
Ek adalah energi berkas dalam MeV.
f Meskipun
7 x 10-4efisiensi diusahakan setinggi mungkin, namun untuk pesawat
Z Ek
sinar-X padaumumnya, kurang dari 1 % energi elektron dapat diubah menjadi sinar-X,
sedang sisanya muncul sebagai panas. Oleh karena itu, target harus dibuat dari bahan
dengan titik lelehnya yang sangat tinggi dan harus mampu mengaliran panas yang
timbul. Berdasarkan perhitungan, 1 MeV berkas elektron akan kehilangan sekitar 6 %
energinya menjadi sinar-X jika berkas tersebut diserap oleh timbal (Z = 82). Namun

Spektroskopi Sinar X | 6
 titik leleh timbal ternyata sangat rendah sehingga tidak dapat dipakai sebagai target
dalam tabung sinar-X. Fraksi bremsstrahlung yang terbentuk menjadi kecil apabila
berkas elektron diserap oleh bahan bernomor atom rendah. Fraksi energi elektron
yang berubah menjadi bremsstrahlung hanya 0,4 % jika diserap oleh aluminium (Z =
13). Mengingat sebagian besar energi elektron berubah menjadi panas, maka pada
bagian anoda pesawat sinar-X biasanya memiliki radiator bersirip di bagian luar
tabung untuk membantu proses pendinginan target. Pesawat sinar-X yang
dioperasikan pada tegangan sangat tinggi, anodanya memiliki lubang pendinginan
untuk mengalirkan minyak atau air ke dalamnya.

3. Sinar-X Karakteristik
Teori atom Bohr memudahkan perhitungan tentang adanya garis dalam
spektrum suatu unsur. Apabila suatu unsur dipanasi, elektron bagian dalam orbit atom
akan menyerap energi dari luar. Apabila suatu unsur didinginkan, elektron
akankehilangan energi dan kembali lagi ke orbit semula. Jika peristiwa ini terjadi, satu
atau lebih kuantum energi akan dilepaskan dalam bentuk cahaya. Panjang gelombang
maupun frekwensi cahaya yang dilepaskan bergantung pada kandungan energi dari
kuantum yang dilepaskan.
Sebuah elektron di dalam atom dapat berpindah dari lintasan tertentu ke
lintasan lainnya. Lintasan-lintasan yang dilalui elektron akan menentukan tingkat
energi elektron dalam lintasan itu. Lintasan yang paling stabil adalah yang paling dekat
dengan inti, yaitu lintasan dengan n = 1. Dalam lintasan ini elektron mempunyai energi
potensial yang paling rendah. Apabila elektron menyerap sejumlah energi tertentu dari
luar, maka elektron itu dapat meloncat ke lintasan dengan energi potensial yang lebih
tinggi, yaitu lintasan dengan n = 2, 3, 4 dan seterusnya. Dalam kondisi ini dikatakan
bahwa elektron berada dalam keadaan tereksitasi sehingga tidak stabil. Pada saat
elektron kembali ke keadaan dasarnya (kembali ke lintasan semula), elektron tersebut
akan memancarkan kelebihan energinya dalam bentuk radiasi elektromagnetik.
Sinar-X dapat pula terbentuk melalui proses perpindahan elektron atom dari
tingkat energi yang lebih tinggi menuju ke tingkat energi yang lebih rendah. Adanya
tingkat-tingkat energi dalam atom dapat digunakan untuk menerangkan terjadinya
spektrum sinar-X dari suatu atom. Sinar-X yang terbentuk melalui proses ini
mempunyai energi sama dengan selisih energi antara kedua tingkat energi elektron
tersebut. Karena setiap jenis atom memiliki tingkat-tingkat energi elektron yang
berbeda-beda, maka sinar-X yang terbentuk dari proses ini disebut sinar-X

Spektroskopi Sinar X | 7
karakteristik. Sinar-X bremsstrahlung mempunyai spektrum energi kontinyu yang
lebar, sementara spektrum energi dari sinar-X karakteristik adalah diskrit. Sinar-X
karakteristik terbentuk melalui proses perpindahan elektron atom dari tingkat energi
yang lebih tinggi menuju ke tingkat energi yang lebih rendah. Beda energi antara
tingkattingkat orbit dalam atom target cukup besar, sehingga radiasi yang
dipancarkannya memiliki frekwensi yang cukup besar dan berada pada daerah Sinar-
X.
Sinar-X karakteristik terjadi karena elektron atom yang berada pada kulit K
terionisasi sehingga terpental keluar. Kekosongan kulit K ini segera diisi oleh elektron
dari kulit di luarnya. Jika kekosongan pada kulit K diisi oleh elektron dari kulit L,
maka akan dipancarkan sinar-X karakteristik K. Jika kekosongan itu diisi oleh
elektron dari kulit M, maka akan dipancarkan sinar-X karakteristik K. Oleh sebab itu,
apabila spektrum sinar-X dari suatu atom berelektron banyak diamati, maka di
samping spektrum sinar- X bremsstrahlung dengan energi kontinyu, juga akan terlihat
pula garis-garis tajam berintensitas tinggi yang dihasilkan oleh transisi K, K dan
seterusnya. Jadi sinar-X karakteristik timbul karena adanya transisi elektron dari
tingkat energi lebih tinggi ke tingkat energi yang lebih rendah.
Adanya dua jenis sinar X menyebabkan munculnya dua macam spektrum
sinar-X, yaitu spektrum kontinyu yang lebar untuk spektrum bremsstrahlung dan dua
buah atau lebih garis tajam untuk sinar-X karakteristik
Setiap atom memiliki sinar-X karakteristik dengan energi yang berbeda-beda,
sehingga pancaran sinar-X karakteristik itu dapat dipakai untuk mengidentifikasi atom.
Spektrum energi yang lebih komplek juga dapat terjadi pada target dari atom-atom
tertentu. Jika elektron pada kulit K (n=1) yang terpental keluar, maka elektron dari
orbit yang lebih tinggi akan mengisi kekosongan orbit K disertai dengan pancaran
sederetan garis spektrum yang dinyatakan dalam notasi sinar-X sebagai garis K, K,
K dan seterusnya. Jika elektron pada kulit L (n=2) yang terpental, maka garis-garis
spektrum lainnya yang disebut deret L akan terpancar.
FLUORESENSI SINAR-X

Sejumlah mineral sangat diperlukan oleh tubuh manusia untuk kesehatan dan
pertumbuhan. Secara umum mineral itu memiliki dua fungsi utama, yaitu membangun
dan mengatur. Beberapa mineral diperlukan tubuh dalam jumlah relatif besar, lebih
dari 100 mg sehari. Mineral kelompok ini disebut makromineral, seperti Ca, P, Na, Cl,
K, Mg dan S. Kelompok mineral lainnya disebut mineral perunut/kelumit (trace

Spektroskopi Sinar X | 8
element) yang diperlukan oleh tubuh dalam jumlah sangat sedikit. Dalam tubuh
manusia ada 14 unsur kelumit yang termasuk esensial bagi manusia, yaitu : Co, Cr, Cu,
F, Fe, I, Mn, Mo, Ni, Se, Si, Sn, V dan Zn. Keberadaan unsur-unsur kelumit penyusun
tubuh tadi ternyata sangat sulit untuk dianalisis baik secara kualitatif maupun
kuantitatif dengan metode analisis kimia biasa. Teknik analisis konvensional pada
umumnya menghendaki adanya unsur dengan jumlah yang relatif banyak agar dapat
dianalisis. Keberadaan unsur-unsur kelumit tidak memenuhi jumlah minimal yang
dikehendaki oleh metode konvensional. Karena kendala jumlah ini, maka metode
analisis kimia biasa kurang bisa memainkan peranannya. Karena kendala itu, maka
diperlukan teknik lain yang mampu menganalisis keberadaan unsurunsur kelumit di
dalam tubuh manusia. Teknik nuklir ternyata mampu mengatasi kendala yang dihadapi
oleh metode konvensional tersebut. Pemeriksaan unsur kelumit di dalam tubuh
manusia dengan teknik nuklir dapat dilakukan baik dengan teknik Analisis Pengaktifan
Neutron (APN) maupun dengan mengamati pancaran sinar-X karakteristik dari unsur
tersebut. Tulisan ini akan membahas lebih lanjut mengenai teknik analisis unsur
kelumit dengan menganalisis pancaran sinar-X karakteristik unsur. Teknik fluoresensi
sinar-X dapat dipakai untuk menentukan kandungan mineral kelumit dalam bahan
biologik maupun dalam tubuh secara langsung. Di beberapa negara maju, teknik ini
banyak digunakan untuk memeriksa kandungan unsur kelumit yodium (I) stabil baik
yang terdapat dalam kelenjar gondok, darah maupun urine. Yodium diperlukan oleh
tubuh dalam jumlah yang sangat kecil, tetapi kelenjar gondok baru akan berfungsi
secara normal apabila persediaan I di dalam tubuh cukup memadai. Defisiensi I dalam
diet seseorang dapat mengakibatkan pembesaran kelenjar gondok (goiter). Teknik
pemeriksaan kandungan I di dalam tubuh dapat dilakukan dengan cara menembakkan
radiasi foton elektromagnetik ke sasaran yang diteliti. Sumber radiasi yang sering
digunakan adalah radioisotop americium-241 (241Am) dengan radiasi elektromagnetik
yang dipancarkannya berenergi 60 keV. Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan
dari 241Am akan berinteraksi dengan sebuah elektron yang berada di kulit K unsur I di
dalam tubuh atau bahan biologik lainnya. Karena menyerap energi elektromagnetik,
maka elektron yang berada di kulit K atom I akan memiliki energi kinetik yang cukup
untuk melepaskan diri dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan terpental keluar.
Proses lepasnya elektron dari ikatan inti tadi disebut proses pengionan materi oleh
radiasi. Kekosongan elektron di kulit K ini selanjutnya akan diisi oleh elektron lainnya
yang berada di kulit yang lebih luar, misal kulit L atau kulit M. Perpindahan elektron

Spektroskopi Sinar X | 9
 ke kulit yang lebih dalam itu akan disertai dengan pancaran radiasi elektromagnetik
dengan energi tertentu. Untuk unsur-unsur tertentu, pancaran radiasi elektromagnetik
tersebut adalah dalam bentuk sinar-X karakteristik. Pancaran sinar-X karakteristik ini
demikian khasnya untuk masing-masing unsur kelumit di dalam tubuh, sehingga
masing-masing unsur itu menghasilkan sinar-X karakteristik yang energinya berbeda-
beda bergantung pada jenis unsurnya. Disinilah teknik fluoresensi sinar-X memiliki
kelebihan dalam menganalisis unsur kelumit dalam tubuh dibandingkan dengan teknik
analisis lainnya. Untuk unsur I, sinar-X karakteristik yang dipancarkannya berenergi
28,5 keV jika kekosongan elektron di kulit K diisi oleh elektron dari kulit L, dan 32,4
keV jika kekosongan itu diisi oleh elektron dari kulit M. Intensitas pancaran sinar-X
karakteristik dari unsur I tadi selanjutnya dapat dideteksi dan diukur dengan pemantau
radiasi.

D. CARA KERJA XRD

Percobaan dengan menggunakan difraksi sinar X kebanyakan terbatas pada zat padat
saja. Hasil yang paling baik akan diperoleh apabila digunakan satu kristal tunggal. Tetapi
percobaan difraksi sinar ini dapat pula dilakukan dengan menggunakan padatan dalam
bentuk serbuk yang sebenarnya terdiri dari kristal-kristal yang sangat kecil. Atau dapat
juga menggunakan padatan dalam bentuk kumparan yang biasa digunakan untuk
menentukan struktur molekul yang mempunyai ukuran yang sangat besar, seperti DNA,
protein, dan sebagainya. Alat yang digunakan untuk mengukur dan mempelajari difraksi
sinar X dinamakan Goniometer. Pada metoda kristal tunggal, sebuah kristal yang
berkualitas baik diletakkan sedemikian rupa sehingga dapat berotasi pada salah satu sumbu
kristalnya. Ketika kristal itu diputar pada salah satu sumbu putar, seberkas sinar X
monokromatik dipancarkan ke arah kristal. Ketika kristal berputar, perangkat-perangkat
bidang yang ada dalam kristal berurutan akan memantulkan berkas sinar X. Berkas sinar X
yang dipantulkan ini kemudian direkam pada sebuah piringan fotografik. Jika yang
digunakan piringan datar, akan diperoleh suatu pola seperti terlihan pada gambar dibawah
ini. Tetapi apabila yang digunakan adalah film fotografik yang lengkung berbentuk silinder
dengan kristal yang diuji terletak ditengah silinder, maka akan diperoleh suatu deretan spot
yang berbentuk garis lurus sehingga pengukuran akan menjadi semakin mudah.

Spektroskopi Sinar X | 10
 Difraksi sinar X menggunakan metode rotasi Kristal
Masalah utama dalam metoda difraksi sinar X ini adalah bagaimana menghubungkan
pola spot yang diperoleh dengan posisi ion atau atom dalam unit sel. Memang dari jarak
antar spot, kita dapat mengetahui dimensi unit sel, tetapi letak atom atau ion dalan unit sel
sangat sulit ditentukan . Salah satu cara untuk mengatasi hal diatas adalah dengan jalan
mula-mula kita menduga struktur molekul dan kemudian memperkirakan difraksi sinar X
yang mungkin diperoleh. Difraksi sinar X yang kita perkirakan kemudian kita bandingkan
dengan hasil percobaan. Adanya perbedaan antara pola difraksi hasil perkiraan dan hasil
percobaan menunjukkan struktur molekul yang kita perkirakan masih salah dengan
membandingkan kedua pola difraksi, kita dapat membuat perbaikan-perbaikan sehingga
hasilnya diperoleh struktur molekul yang tepat, tetapi dalam beberapa kasus, misalnya
apabila jumlah atom dalam unit sel sangat banyak, metode diatas menjadi tidak parktis
lagi. Dalam kasus seperti ini biasanya posisi atom atau ion ditentukan berdasarkan
intensitas relatif dari spot yang diasilkan.
Ketika sinar X menumbuk kristal, sebenarnya elektron yang terdapat di sekeliling
atom atau ionlah yang menyebabkan terjadinya pemantulan. Makin banyak jumlah
elektron yang terdapat disekeliling atom pada suatu bidang, makin besar intensitas
pemantuklan yang disebabkan oleh bidang tersebut dan akan mengakibatkan makin
jelasnya spot yang terekam dalam film. Dengan menggunakan metode sintesis fourier, kita
dapat menghubungkan intensitas spot dengan kepekatan distribusi elektron dalam unit sel.
Dengan mengamati kepekatan dalam unit sel, kita dapat menduga letak atom dalam unit
sel tersebut. Atom akan terletak pada daerah-daerah yang mempunyai kepekatan distribusi
elektron maksimum.
Dengan menggunakan metode difraksi sinar X, struktur molekul yang sangat
kompleks dapat ditentukan. Misalnya struktur DNA yang sangat kompleks dapat
Spektroskopi Sinar X | 11
 ditentukan dengan metode sinar X seperti yang telah dilakukan oleh Crick, Wilkins dan
Watson.
PETUNJUK PENGGUNAAN DAN PENYIAPAN SAMPLE

a) Ambil sepersepuluh berat sample (murni lebih baik).

b) Gerus sample dalam bentuk bubuk. Ukuran kurang dari ~10 m atau 200-
mesh lebih disukai.
c) Letakkan dalam sample holder.
d) Harus diperhatikan agar mendapatkan permukaan yang datar dan mendapatkan
distribusi acak dari orientasi-orientasi kisi.
e) Untuk analisa dari tanah liat yang memerlukan single orientasi, teknik-teknik
yang khusus untuk persiapan tanah liat telah diberikan oleh USGS.

E. KOMPONEN UTAMA XRD

1. Tabung Sinar-X
Sinar-X merupakan salah satu bentuk radiasi elektromagnetik yang mempunyai
energy antara 200 eV sampai dengan 1 MeV dengan panjang gelombang antara 0,5
sampai dengan 2,5 . Panjang gelombangnya hampir sama dengan jarak antara atom
dalam kristal, menyebabkan sinar-X menjadi salah satu teknik dalam analisa mineral
(Suryanarayana dan Norton, 1998).

Sinar X adalah pancaran gelombang elektromagnetik yang sejenis dengan

gelombang radio, panas, cahaya sinar ultraviolet, tetapi mempunyai panjang
gelombang yang sangat pendek sehingga dapat menembus benda-benda.

Sifat-sifat sinar X :

Spektroskopi Sinar X | 12
 a. Mempunyai daya tembus yang tinggi. Sinar X dapat menembus bahan dengan
daya tembus yang sangat besar, dan digunakan dalam proses radiografi.
b. Mempunyai panjang gelombang yang pendek yaitu : 1/10.000 panjang
gelombang yang kelihatan.
c. Mempunyai efek fotografi. Sinar X dapat menghitamkan emulsi film setelah
diproses di kamar gelap.
d. Mempunyai sifat berionisasi. Efek primer sinar X apabila mengenai suatu
bahan atau zat akan menimbulkan ionisasi partikel-partikel bahan zat tersebut.
e. Mempunyai efek biologi. Sinar X akan menimbulkan perubahan-perubahan
biologi pada jaringan. Efek biologi ini digunakan dalam pengobatan
radioterapi.

Proses Terbentuknya Sinar X

a. Katoda (filament) dipanaskan (besar dari 20.000 0C) sampai menyala dengan
mengalirkan listrik yang berasal dari transformator.
b. Karena panas electron-elektron dari katoda (filamen) terlepas.
c. Sewaktu dihubungkan dengan transformator tegangan tinggi, elektron-elektron
gerakannya dipercepat menuju anoda yang berpusat di focusing cup.
d. Awan-awan elektron mendadak dihentikan pada target (sasaran) sehingga
terbentuk panas (99%) den sinar x (1%)
e. Pelindung (perisai) timah akan mencegah keluarnya sinar x, sehingga sinar x
yang terbentuk hanya dapat keluar melalui jendela.

f. Panas yang tinggi pada target (sasaran) akibat benturan electron dihilangkan
dengan radiator pendingin.

Ringkasan terjadinya sinar X

Melalui generator yang membuat aliran listrik dengan potensial tinggi, logam
pijar molybdenum memijar, pada saat tertentu logam pijar tersebut menghasilkan
awan elektron (logam pijar molybdenum disebut sebagai filamen) pada suhu
tertentu serta saat tertentu pula electron-elektron tertarik ke anoda (anoda adalah
unsur radioaktif barium platinum sianida atau tungsten carbide). Dengan kata lain
bila anoda dibombardir oleh electron, akan timbul pancaran sinar radiasi roentgen
atau sinar x, keadaan ini terjadi di dalam tabung vakum Coolidge.

Tabung sinar X

Spektroskopi Sinar X | 13
 Tabung sinar x terdiri dari tabung gelas hampa udara, elektroda positif disebut
anoda dan elektroda positif disebut katoda. Katoda dibalut dengan filament, bila
diberi arus beberapa mA bisa melepaskan elektron. Dengan memberi tegangan
tinggi antara anoda dan katoda maka elektron katoda ditarik ke anoda. Arus
elektron ini dikonsentrasikan dalam satu berkas dengan bantuan sebuah silinder
(focusing cup). Antikatoda menempel pada anoda dibuat dari logam dengan titik
permukaan lebih tinggi, berbentuk cekungan seperti mangkuk. Waktu elektron
dengan kecepatan tinggi di dalam berkas tersebut menumbuk antikatoda, terjadilah
sinar x. Makin tinggi nomor atom katoda maka makin tinggi kecepatan elektron,
akan makin besar daya tembus sinar x yang terjadi. Antikatoda umumnya dibuat
dari tungsten, sebab elemen ini nomor atomnya tinggi dan titik leburnya juga tinggi
(3400 0C) hanya sebagian kecil energi elektron yang berubah menjadi sinar x
kurang dari 1% pada tegangan 100 kV dan sebagian besar berubah menjadi panas
waktu menumbuk antikatoda. Panas yang tinggi pada tabung didinginkan dengan
menggunakan pendingin minyak emersi / air.
Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar X harus terdiri dari
beberapa komponen utama, yaitu :
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat electron
c. Logam target (anoda)
Gambar di bawah ini menunjukkan komponen tabung sinar x dan proses
terjadinya sinar x melalui beberapa ilustrasi :

Gambar 1-1: Komponen tabung dental sinar x

Spektroskopi Sinar X | 14
Gambar 1-2: Ilustrasi tabung sinar x, pembentukan kabut electron pada katoda sebagai sirkuit
filament. Penyinaran switch terbuka

Gambar 1-3: Tabung sinar x memperlihatkan perjalanan electron menyeberang dari

katoda ke anoda (target), (high tension circuit), dimana exposure switch aktif

Gambar 1-4: Tabung sinar x memperlihatkan produksi sinar x, electron kecepatan

tinggi menubruk target

2. Komponen Dalam XRD

Spektroskopi Sinar X | 15
 Komponen XRD yaitu:
1. Slit dan film
2. Sample holder
Tempat objek berisi sampel yang akan dianalisis oleh spektrometer XRD.
Sampel yang dapat dianalisis berupa padatan, serbuk (kristal-kristal kecil), atau
dalam bentuk kumparan yang biasa digunakan untuk menentukan struktur
molekul yang sangat besar.
3. Monokromator
Seperti monokromator yang lain mempunyai fungsi fitler. Fitler merupakan
jendela dari material yang menyerap radiasi yang tidak diinginkan dan
melewatkan radiasi pada panjang gelombang yang diinginkan. Sebagai contoh
adalah fitler Pb dan Ag yang digunakan untuk timah. Syaratnya mempunyai
serapan tepi yang kuat.
Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar
untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut
dipercepat terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan
menembak target dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi
yang cukup untuk mengeluarkan elektron-elektron dalam target, karakteristik
spektrum sinar-X dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-
komponen, yang paling umum adalah K dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari
K1 dan K2. K1 mempunyai panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua
kali lebih intensitas dari K2. Panjang gelombang yang spesifik merupakan
karakteristik dari bahan target (Cu, Fe, Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau
kristal monochrometers, yang akan menghasilkan sinar-X monokromatik yang
diperlukan untuk difraksi. Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum

Spektroskopi Sinar X | 16
 untuk diffraction kristal tunggal, dengan radiasi Cu K =05418. Sinar-X ini
bersifat collimated dan mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar,
intensitas Sinar X pantul itu direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X
tersebut memenuhi persamaan Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu
puncak di dalam intensitas terjadi. Detektor akan merekam dan memproses isyarat
penyinaran ini dan mengkonversi isyarat itu menjadi suatu arus yang akan
dikeluarkan pada printer atau layar komputer.
3. Detector
Sinar X dihasilkan di tabung sinar X yang berisi katoda memanaskan filamen,
sehingga menghasilkan elektron. Perbedaan tegangan menyebabkan percepatan
elektron akan menembaki objek. Ketika elektron mempunyai tingkat energi yang
tinggi dan menabrak elektron dalam objek sehingga dihasilkan pancaran sinar X.
Objek dan detektor berputar untuk menangkap dan merekam intensitas refleksi sinar
X. Detektor merekam dan memproses sinyal sinar X dan mengolahnya dalam bentuk
grafik. Dengan demikian, fitur dasar dari tipe percobaan dengan XRD terdiri dari
produksi sinar X, difraksi sinar X, deteksi, dan interpretasi data yang dihasilkan.

F. INTERPESTASI DATA
Hasil yang diperoleh dari pengukuran dengan menggunakan instrument X-Ray
Diffraction (XRD) adalah grafik dikfraktogram. Difraktogram adalah output yang
merupakan grafik antara 2 (diffraction angle) pada sumbu X versus intensitas pada sumbu
Y.
Intensitas sinar-X yang didifraksikan secara terus-menerus direkam sebagai contoh
dan detektor berputar melalui sudut mereka masing-masing. Sebuah puncak dalam
intensitas terjadi ketika mineral berisi kisi-kisi dengan d-spacings sesuai dengan difraksi
sinar-X pada nilai . Meski masing-masing puncak terdiri dari dua pemantulan yang
terpisah (K1 dan K2), pada nilai-nilai kecil dari 2 lokasi-lokasi puncak tumpang-tindih
dengan K2 muncul sebagai suatu gundukan pada sisi K1. Pemisahan lebih besar terjadi
pada nilai-nilai yang lebih tinggi.

Spektroskopi Sinar X | 17
 2 merupakan sudut antara sinar datang dengan sinar pantul. Sedangkan intensitas
merupakan jumlah banyaknya X-Ray yang didifraksikan oleh kisi-kisi kristal yang
mungkin. Kisi kristal ini juga tergantung dari kristal itu sendiri.
Kisi-kisi ini dibentuk oleh atom-atom penyusun kristal. Jika tidak ada atom-atom
yang menyusun suatu bidang kisi pada kristal, maka sinar X yang datang tidak dapat
didifraksikan atau dengan kata lain tidak ada kisi tersebut.

Berdasarkan gambar bagan tersebut dapat dijelaskan bahwa pembangkit sinar-x

menghasilkan radiasi ektromagnetik setelah dikendalikan oleh celah penyimpang (S1)
selanjutnya jatuh pada cuplikan/sampel. Sinar yang dihamburkan oleh cuplikan dipusatkan
pada celah penerima (S2) dan jatuh pada detektor yang sekaligus mengubahnya menjadi
bentuk cahaya tampak (foton).

Spektroskopi Sinar X | 18
 Informasi yang dapat diperoleh dari analisa dengan menggunakan XRD tersebut yaitu
sebagai berikut:
1. Pembangkit sinar-x menghasilkan radiasi elektromagnetik setelah dikendalikan oleh
celah penyimpang (S)
2. Posisi puncak difraksi memberikan gambaran tentang parameter kisi (a), jarak antar
bidang (dhkl), struktur kristal dan orientasi dari sel satuan (dhkl) struktur kristal dan
orientasi dari sel satuan.
3. Intensitas relatif puncak difraksi memberikan gambaran tentang posisi atom dalam sel
satuan.
4. Bentuk puncak difraksi memberikan gambaran tentang ukuran kristal dan
ketidaksempurnaan kisi. (dhkl) dikelompokkan dalam beberapa grup, dengan intensitas
relatif paling tinggi pertama disebut d1, kedua d2, ketiga d3 dan seterusnya.
Dari pola difraksi padatan kristal yang teranalisa oleh XRD tersebut, kita juga akan
mendapatkan beberapa informasi lain diantaranya :
1. Panjang gelombang sinar X yang digunakan ()
2. Orde pembiasan / kekuatan intensitas (n)
3. Sudut antara sinar datang dengan bidang normal ()
Dengan persamaan Bragg, kita dapat memperoleh nilai jarak antara dua bidang kisi
(d) berdasarkan sudut sinar datang bidang.
Elusidasi spektra XRD merupakan proses penentuan struktur yang diperoleh dari
spektra XRD. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang
memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan
dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar X untuk
hampir semua jenis material. Standar ini disebut JCPDS. Berdasarkan pola difraksi sinar
X, atom-atom logam tersusun menurut salah satu dari empat struktur dasar yaitu kubus

Spektroskopi Sinar X | 19
 sederhana (simple cubic, sc); kubus pusat badan (body centered cubic, bcc); kubus terjejal
(cubic closed packed, ccp); dan heksagonal terjejal (hexagonal closed packed, hcp).
Tahap-tahap dalam interpretasi spektra XRD:
1. Identifikasi puncak-puncaknya.
2. Tentukan sin2.
4. Hitung perbandingan sin2/ sin2 min dan kalikan dengan bilangan bulat.
5. Pilih dari hasil tahap (3) yang hasil h2+k2+l2 merupakan bilangan bulat.
6. Bandingkan hasil dengan urutan nilai h2+k2+l2 untuk identifikasi kisi bravais.
7. Hitung parameter kisi.

G. KEGUNAAN DAN APLIKASI XRD

Kegunaam dan aplikasi XRD:
Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
Karakterisasi material Kristal.
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat.
Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dalam bidang pertanian dapat dipakai untuk menentukan unsur-unsur perunut dalam
tanaman dan makanan, mendeteksi insektisida dalam buah dan daun, penentuan fosfat
dalam pupuk, mendeteksi makanan ternak terhadap unsur-unsur, seperti selenium
yang apabila dalam komposisi yang cukup besar akan membahayakan dan mendeteksi
karekteristik dari tanah.
Penggunaan dalam dunia kedokteran: untuk menentuka secara langsung sulfur dalam
protein, klorida dalam serum darah, penentuan strontium dalam darah dan jaringan
tulang, analisis unsure dari jaringan, tulang dan cairan tubuh.
Dalam pertambangan, fluoresens sinar-X digunakan untuk menganalisis konsentrasi,
penentuan timal dalam alloy timbale-timah, klasifikasi alloy, penentuan tembaga,
seng, dan timah dalam alloy, dan lain sebagainya.
Aplikasi lain menjadi penentuan zat aditif dalam oli mesin dengan menentukan
barium, seng, fosfor, kalsium, dan klorida dan penentuan timbal atau sulfur dalam
bensin.
X-ray difraksi Instrumen yang tepat dirancang untuk aplikasi dalam microstructure
pengukuran, pengujian dan penelitian mendalam dalam penyelidikan.

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

Spektroskopi Sinar X | 20
 1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film.

H. KEUNTUNGAN DAN KERUGIAN XRD KRISTAL DAN BUBUK

1. Kristal Tunggal
- Keuntungan : Kita dapat mempelajari struktur kristal tersebut.
- Kerugian : Sangat sulit mendapatkan senyawa dalam bentuk kristalnya
2. Bubuk
- Kerugian : Sulit untuk menentukan strukturnya
- Keuntungan : Lebih mudah memperoleh senyawa dalam bentuk bubuk

BAB III

PENUTUP

A. KESIMPULAN
1. Sinar-X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang 0,5-2,0
mikron. Sinar ini dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi tinggi.
2. Spektroskopi difraksi sinar-X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu metoda
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang.
3. Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal,
maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang
sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut.
4. Difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjang
gelombang jauh lebih dari pada ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak
akan terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan dipantulkan sedangkan jika panjang
gelombangnya mendekati atau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan
terjadi peristiwa difraksi.

B. SARAN

Dengan mempelajari instrumen X-Ray Difraction (XRD) diharapkan kita sebagai

mahasiswa dapat mengetahui prinsip kerja dari instrumen tersebut dan mengetahui cara
interpretasi datanya. Mahasiswa disarankan untuk melihat secara langsung instrumen XRD-

Spektroskopi Sinar X | 21
nya dan semoga tidak puas dengan hanya membaca makalah ini, sehingga akan mencari
informasi-informasi tambahan untuk lebih memahami kontennya.
Dalam pembuatan makalah ini tentunya kami tidak luput dari kesalahan, oleh karena
itu, kami mohon kritik dan saran agar menjadi perbaikan di masa yang akan datang.

DAFTAR PUSTAKA

Amrin. 2011. Spektroskopi Difraksi Sinar-X. [Online]. Tersedia:

http://amrins.blogspot.co.id/2011/06/v-behaviorurldefaultvmlo.html?m=1. [26
November 2016].

Noor, Dewi Sanusi . 2015. X-Ray Difraction (XRD) Makalah. [Online]. Tersedia:
http://dewisanusinoor21.blogspot.co.id/2016/02/x-ray-difraction-xrd-makalah.html?
m=1. [26 November 2016].

Kinanti, Citra Anesia Anggun. 2011. XRD (X-Ray Diffraction). Tersedia:

http://missanezjutek.blogspot.co.id/2011/11/xrd-x-ray-diffraction.html?m=1. [26
November 2016].

Sumarsono.Dipl.Rad, S.Si. 2008. Spektroskopi Sinar-X Karakteristik. [Online]. Tersedia:

http://ss-radiology.blogspot.co.id/2008/08/spektroskopi-sinar-x-karakteristik_12.html.
[22 November 2016].

Spektroskopi Sinar X | 22