Universidad Autnoma de

Baja California

Facultad de Ingeniera, Arquitectura y Diseo

Mediciones a la nanoescala: microscopio de fuerza

atmica (AFM), microscopio de fuerza atmica sin
contacto (nc-AFM)

Sistemas de Medicin
Dr. Rubn Csar Villarreal Snchez

Bioingeniera
Grupo 652

Padilla Padilla Selma Julieta

Muoz Vargas Carlos Yaaziel
Ortiz Zayra

Ensenada, Baja California, a 18 de Noviembre del 2016

 Introduccin
Nanoescala, es la escala de longitud en la que la fuerza en que la fuerza intermolecular y el efecto
cuntico toma lugar. Esta escala es entre 1x10-9 y 100x10-9
metros, y sus caractersticas y
propiedades en muchos de los casos dependen de las caractersticas de superficie, por lo que es
necesario el conocer estas caractersticas cuando se trabaja con muestras muy pequeas, como
ADN, por ejemplo. Es por ello el empleo de Microscopios de fuerza atmica (AFM) es muy comn en
el estudio de materiales.

Microscopio de fuerza atmica (AFM)

El Microscopio de Fuerza Atmica sirve para caracterizar la superficie de muestras slidas y

semislidas, relativamente planas. Obtiene informacin morfolgica en 3D, a partir de imgenes
topogrficas de las mismas, as como parmetros superficiales tales como valores en Z, rugosidad,
tamao y lmites de grano, distribucin (homogeneidad) de partculas en pinturas o pelculas
delgadas, entre otras. Tambin se emplea en la determinacin de propiedades mecnicas de los
materiales, tales como fuerzas de atraccin, repulsin, viscosidad, elasticidad y dureza.

Su funcionamiento se basa en que una sonda puntiaguda muy fina con el extremo aproximadamente
del tamao de un tomo, explora la muestra mientras sigue lneas paralelas a lo largo del eje x y
contina explorando con algunos intervalos breves en el eje y. Conforme la punta sube o baja en el
eje z, los movimientos, reflejados por el haz de luz, se registrarn en el fotodiodo. El dispositivo
piezoelctrico situado debajo de la muestra se encarga de bajar o subir la muestra de forma que el
haz lser se centre en la muestra. En conjunto esto permite la topografa molecular y a veces
atmica.

Historia

En 1986, Binning, Roher y Ruska ganaron el premio Nobel de Fsica por el diseo y construccin del
MBET. Binning y Roher son acreditados por el microscopio de barrido de efecto tnel y Ruska, por
otro lado, por su trabajo fundamental en ptica electrnica y el diseo del primer microscopio
electrnico.

Tambin en 1986, Binnig, Quate, y Gerber publicaron un artculo sobre la invencin del AFM. El AFM
original consista en una pequea parte de diamante adjunta a una tira de oro. La punta de diamante
tena contacto directo con la superficie, donde las fuerzas interatmicas de van der Waals permitan el
mecanismo de interaccin. La deteccin del movimiento vertical del cantilever fue hecha por una
segunda punta, un MET ubicado por arriba del cantilever.

Tipos

Existen principalmente dos tipos de microscopio de fuerza atmica: contacto y no-contacto. En el

modo de contacto, las fuerzas electroestticas o de tensin superficial arrastra la punta exploradora
sobre la superficie de la muestra. En modo de no-contacto, las fuerzas interatmicas entre el
cantilever y la muestra son fuerzas atractivas.
 Comparando el AFM con otros microscopios
como el microscopio electrnico de barrido o de
transmission, la diferencia principal son las
fuerzas que existen entre la punta del
microscopio y la muestra a tratar. La fuerza
asociada al AFM es la de van de Waals.

En la regin de contacto, el cantilever est a unos

cuantos angstroms de la superficie de la muestra,
provocado una fuerza repulsiva, mientras que al
alejarse el cantilever de la muestra, se encuentra
en una regin sin contacto y se presenta una
fuerza atractiva entre estos.

Aplicaciones en la industria

A diferencia de microscopas con instrumentos pticos de alta resolucin (como microscopio

electrnico de transmisin o microscopio electrnico de barrido) que necesitan que las muestras
biolgicas estn al vaco, con el MFA la muestra no tiene que estar al vaco e incluso podra estar en
agua. De esta manera es posible tener mejores imagenes de clulas vivas en su medio circundante.

Microscopio de fuerza atmica sin contacto (nc-AFM)

En los nc-AFM se hace oscilar la micropalanca sobre la muestra (a una distancia el orden de los
Angstroms) con el objetivo de reducir la interaccin entre la punta y la muestra, la imagen se
construye a continuacin, a partir de las interacciones de fuerza durante la exploracin.

La amplitud de las oscilones se mide a travs de un circuito de retroalimentacin preciso de alta

velocidad. El circuito de retroalimentacin evita que la punta de la micropalanca choque con la
superficie, preservando la agudeza de la punta y dejando la superficie intacta. Cuando la punta se
acerca a la superficie de la muestra disminuye la amplitud de oscilacin de la micropalanca.
Utilizando el circuito de retroalimentacin para corregir estas desviaciones de amplitud, se puede
generar una imagen de la topografa de la superficie

Las fuerzas de Van der Waals (que son ms fuertes entre 1 y 10 nm sobre la superficie) o cualquier
otra fuerza de atraccin extendida sobre la superficie de la muestra actan para disminuir la
frecuencia de resonancia. Esta disminucin en la frecuencia de resonancia combinada con el circuito
de retroalimentacin mantiene constante la frecuencia de oscilacin o de amplitud mediante el ajuste
de la distancia media de la punta a la muestra.

La barra que sostiene a la punta tiene se ajusta frecuencia de resonancia de aproximadamente 200
Hz para mejorar la sensibilidad.
Otro factor importante para cualquier tipo de microscopio de fuerza atmica es la flexibilidad del
cantilever, ya que no es misma fuerza que se aplica en este en un AFM de contacto que en uno de
no contacto. Esto se puede determinar mediante ley de Hooke:

F= kx

F= Fuerzas de Van der Waals

k= Constante de Hooke

x= Desplazamiento

Entonces, a mayor constante de Hooke menos flexible ser el cantilever

La base de material piezoelctrico permite desplazar la muestra en el eje de las x (si se aplica un
voltaje en x) o en el eje de las y (si se aplica un voltaje en y).

Bibliografa

I. The Nobel Prize in Physics 1986". Nobelprize.org. Nobel Media AB 2014. Web. 18 Nov 2016.
<http://www.nobelprize.org/nobel_prizes/physics/laureates/1986/
II. G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. "Atomic force microscopy". Phys. Rev. Lett. 56, 930-933
(1986).
III. G. Meyer, N.M. Amer. "Simultaneous measurement of lateral and normal forces with an
optical-beam-deflection atomic force microscope". Appl. Phys. Lett., 57, 2089-2090 (1990).
IV. Irene Revenko (2011), "Atomic Force Microscopy: Applications for Life Science Research,"
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V. http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/volumenes/numero-28/ART-2-pags-14-23.pdf
VI. http://www.cciqs.uaemex.mx/index.php?option=com_content&view=article&id=155
VII. http://www.uaz.edu.mx/cippublicaciones/eninvie2K5/I_1%5CI_2MicroscopioFA.pdf
VIII. http://www.nano.df.uba.ar/es/nanoescala-nanociencia-y-nanotecnologia/
 Mediciones a la nanoescala:
microscopio de fuerza atmica (AFM),
microscopio de fuerza atmica sin
contacto (nc-AFM)
Sistemas de Medicin - Equipo #5

Zayra Gabriela Ortiz Ortiz

Selma Julieta Padilla Padilla
Carlos Yaaziel Muoz Vargas
Qu es la
nanoescala?
Es el rango de tamaos entre 1x10-9 y 100x10-9 metros, donde los materiales
presentan propiedades que pueden ser totalmente diferentes de las encontradas
en molculas individuales o muestras macroscpicas. Estas nuevas propiedades,
que son en muchos casos el resultado de efectos de confinamiento (volumen) o de
superficie
MICROSCOPIA POR SONDA
Un conjunto de formas de
microscopa donde una sonda
puntiaguda barre la superficie de una
muestra, registrndose las
interacciones que ocurren entre la
punta y la muestra.
Premio Nobel en Fsica, 1986
Motivacin para crear el AFM
Topografa

Medicin de elasticidad

Para muestras no-conductoras

Tipos
Microscopa de Fuerza Atmica (AFM)

Modo contacto
Modo no contacto
Modo Tapping

Microscopa de Efecto Tnel (STM)

Microscopio de fuerza atmica (AFM)
Punta

a) Punta nueva de AFM

b) Punta usada de AFM

Normalmente de 3-6 m altura y 15-40 nm de ancho en punta

Recubrimiento de Silicio, Nitruro de silicio o Diamante.

La resolucin depende del tamao de la punta
Constante de Resorte del Cantilever

Valor comercial de k: entre 0.005 N/m y 40 N/m

Cantilver y deteccin ptica
Seal
Ventajas

Amplia gama de muestras a analizar

Se pueden realizar medidas de elasticidad

amplitud de modulacin = 1-10 nm

Desventajas
Problemas de destruccin de la punta o modificacin de la superficie
Microscopio de fuerza atmica sin contacto
(nc-AFM) modos dinamicos
En los nc-AFM se hace oscilar al microcontrolador sobre la muestra con el objetivo
de reducir la interaccin entre la punta y la muestra.
Ley de Hooke

F= kx
F= Fuerzas de Van der Waals

k= Constante de Hooke

x= Desplazamiento
Comparacin con AFM de contacto
No afectan o daan a la superficie de la muestra
Menor velocidad de barrido
Menor resolucin
Puede ser frenado por capas de agua o contaminaciones
Comparacin con AFM de contacto intermitente
(Tapping mode)
No afectan o daan a la superficie de la muestra
Menor velocidad de barrido
Menor resolucin
El nc-AFM tiene una amplitud libre del 100%
Tapping tiene una amplitud libre de 50-60%
DNA plasmid absorbed onto mica and imaged using PeakForce Tapping - Pyne A.,
Thompson, R., Leung, C., Roy, D., Hoogenboom, B. W. (2014) Small, 10 (3257-3261)
Ventajas y Desventajas
Ventajas Desventajas

Contacto Alta velocidad de Combinacin de

barrido las fuerzas puede
Resolucin disminuir la
atmica resolucin espacial y
Mide cambios daar muestras
bruscos de blandas
topografa

No contacto Ausencia de Menor resolucin

fuerzas aplicadas lateral
sobre la muestra Menor velocidad
de barrido
til para
muestras hidrfobas
Bibliografa
The Nobel Prize in Physics 1986". Nobelprize.org. Nobel Media AB 2014. Web. 18
Nov 2016. <http://www.nobelprize.org/nobel_prizes/physics/laureates/1986/

G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Gerber. "Atomic force microscopy". Phys. Rev. Lett. 56,
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an optical-beam-deflection atomic force microscope". Appl. Phys. Lett., 57,
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Research," https://nanohub.org/resources/11017.
 I. http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/volumenes/numero-28/ART-2-pags-14-23.pdf
II. http://www.cciqs.uaemex.mx/index.php?option=com_content&view=article&id=155
III. http://www.uaz.edu.mx/cippublicaciones/eninvie2K5/I_1%5CI_2MicroscopioFA.pdf
IV. http://www.nano.df.uba.ar/es/nanoescala-nanociencia-y-nanotecnologia/

V. http://courses.washington.edu/overney/course_material/6_review_afm.pdf
VI. http://web.mit.edu/cortiz/www/3.052/3.052CourseReader/13_AFM.pdf