2 Memoria
Estudio del Circuito Steinmetz 3
RESUMEN
El circuito Steinmetz consiste en la conexin de dos reactancias (normalmente una bobina y un
condensador) en tringulo con una carga monofsica, con el objeto de simetrizar las intensidades
consumidas por el conjunto.
El actual proyecto desarrolla una aplicacin informtica para estudiar diversos aspectos
relacionados con este circuito y su interaccin con el sistema elctrico en presencia de armnicos.
En primer lugar, el estudio se centra en el diseo del circuito Steinmetz, es decir, en la
determinacin de las reactancias que permiten simetrizar las corrientes consumidas por la carga
monofsica, tanto en condiciones simtricas como en condiciones no simtricas. Asimismo, se
estudia el error cometido al suponer tensiones simtricas a la hora del diseo del circuito.
Seguidamente, se realiza un anlisis de sensibilidad de la respuesta del circuito frente a la
variacin de parmetros del sistema.
A continuacin, se lleva a cabo un estudio frecuencial del sistema, el cual es efectuado mediante
la observacin desde la red y desde la carga. Se ha estudiado el comportamiento armnico del
circuito simetrizador en presencia de cinco cargas trifsicas no lineales. Se ha analizado, de similar
manera, la respuesta frecuencial del sistema al ser alimentado mediante tensiones distorsionadas.
Finalmente, en los anexos, se presenta un estudio econmico, la planificacin temporal y un
anlisis de impacto ambiental del presente proyecto. Tambin se analiza un ejemplo concreto y se
incluye un manual de la aplicacin informtica programada.
4 Memoria
Estudio del Circuito Steinmetz 5
SUMARIO
RESUMEN............................................................................................................................... 3
SUMARIO ............................................................................................................................... 5
GLOSARIO .............................................................................................................................. 9
1 INTRODUCCIN ............................................................................................................ 11
2 FUNDAMENTOS TERICOS............................................................................................. 15
10 NORMATIVAS ................................................................................................................ 97
CONCLUSIONES.................................................................................................................. 101
GLOSARIO
A continuacin se presentan los trminos y variables que tienen mayor aparicin en la presente
memoria.
f: Frecuencia de la red.
i: Nmero imaginario.
j: Nmero imaginario.
k: Armnico.
kp: Localizacin de la resonancia paralelo.
ks: Localizacin de la resonancia serie.
mi: Coeficiente de asimetra de las corrientes.
mu: Coeficiente de asimetra de las tensiones.
R0: Parte resistiva de la carga monofsica.
r0: Resistencia normalizada de la carga monofsica.
rp: Valor normalizado de la impedancia fundamental de la carga lineal trifsica
RS: Parte resistiva de la impedancia de la red.
X0: Parte inductiva de la carga monofsica.
X1: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz.
X1b: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo aproximado).
X1e: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo exacto).
X2: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz.
X2b: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo aproximado).
X2e: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo exacto).
XC: Reactancia capacitiva simetrizadora del circuito Steinmetz.
XCb: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo aproximado).
XCe: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo exacto).
XL: Reactancia inductiva simetrizadora del circuito Steinmetz.
XLb: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo aproximado).
XLe: Reactancia simetrizadora del circuito Steinmetz (clculo exacto).
XS: Parte inductiva de la impedancia de la red.
xS: Reactancia normalizada de la red.
Y0: Admitancia de la carga monofsica.
YBk: Matriz de admitancias del sistema.
YC: Admitancia de la capacidad simetrizadora del circuito Steinmetz.
YL: Admitancia de la bobina simetrizadora del circuito Steinmetz.
YP: Admitancia de la carga lineal trifsica.
YS: Admitancia de la red.
Z0: Impedancia de la carga monofsica.
10 Memoria
1 INTRODUCCIN
El circuito Steinmetz se emplea con el objetivo de evitar o mitigar el principal inconveniente que
se produce al conectar una carga monofsica en una red de alimentacin trifsica: el desequilibrio de
tensiones y corrientes. Este simple circuito, compuesto nicamente por dos reactancias
simetrizadoras (de valores previamente calculados) conectadas en tringulo con la carga monofsica,
permite reducir el desequilibrio de corrientes del conjunto e, incluso, anularlo en condiciones de
diseo.
Sin embargo, el circuito Steinmetz, al estar constituido habitualmente a partir de una reactancia
inductiva y una reactancia capacitiva, puede originar resonancias no deseadas que podran daar el
sistema o provocar un mal funcionamiento del mismo.
Con el objetivo de estudiar el diseo del circuito Steinmetz y analizar su respuesta frecuencial al
ser conectado en el sistema elctrico, ha surgido el presente proyecto: crear una herramienta
informtica de fcil manejo que permita estudiar mltiples aspectos del circuito simetrizador y
examinar su comportamiento frecuencial en presencia de tensiones distorsionadas o cargas trifsicas
no lineales.
Al no ser iguales las cadas de tensin de cada una de las fases, se asimetrizan las
tensiones al final de las lneas, lo que hace que resulten perjudicados los consumidores
alimentados por stas.
Se reduce la potencia mxima que puede transportar una lnea, ya que este lmite se
alcanza cuando por una fase circule la corriente mxima para la que se ha
dimensionado, independientemente de la corriente que estn transportando las otras
fases.
Las mquinas elctricas rotativas sufren un calentamiento excesivo, generan ruido y
vibraciones y disminuyen su rendimiento.
Aparecen problemas en las protecciones e interferencias.
Los dispositivos no lineales, en presencia de desequilibrios, generan armnicos no
caractersticos que pueden aumentar la distorsin de la red.
Reduccin del factor de potencia.
Para evitar estos problemas existe una solucin clsica que consiste en un circuito simetrizador
que se conecta formando un tringulo con la carga monofsica y que intenta equilibrar las corrientes
consumidas sin consumir potencia activa.
El proyecto ofrece una herramienta informtica para el clculo y diseo de las reactancias
simetrizadoras que conforman el circuito Steinmetz, y para el estudio de la respuesta frecuencial del
sistema al conectar dicho circuito.
En el primer captulo se muestran las bases tericas sobre las que se fundamenta el
presente proyecto.
En el segundo captulo se lleva a cabo la modelizacin de todos los componentes: la
red, el circuito Steinmetz y cada una de las seis cargas no lineales que se estudian.
En el tercer captulo se describen las dos metodologas empleadas para calcular las
reactancias que conforman el circuito simetrizador.
En el cuarto captulo se estudia, analticamente, la localizacin de las resonancias del
sistema compuesto por la red, el circuito Steinmetz y la carga.
En el quinto captulo se realiza un anlisis de sensibilidad para diferentes parmetros
concernientes al circuito Steinmetz.
En el sexto captulo se lleva a cabo un estudio sobre los errores que se cometen al
utilizar los diferentes mtodos de diseo del circuito simetrizador.
En el sptimo captulo se estudia el comportamiento frecuencial del sistema, observado
desde la red y desde la carga no lineal.
En el octavo captulo se detalla la programacin de la aplicacin informtica.
El noveno captulo explica las diferentes normativas sobre distorsin armnica y
desequilibrios.
Finalmente, se muestran las conclusiones y las referencias utilizadas a lo largo de la presente
memoria.
Estudio del Circuito Steinmetz 15
2 FUNDAMENTOS TERICOS
En el presente captulo se revisarn una serie de conceptos que sern necesarios para la
comprensin del resto de temas desarrollados en la presente memoria. Este captulo se centrar,
bsicamente, en dos aspectos: armnicos y desequilibrios.
0.5 0.5
magnitud
magnitud
0 0
-0.5 -0.5
-1 -1
Componente armnica
(f2 = 100 Hz)
-1.5 -1.5
0 0.02 0.04 0 0.02 0.04
t [ s] t [ s]
Figura 2.1. Descomposicin de una onda en sus componentes.
x t X0 2 X k cos k 1t k
(1.1)
k 1
donde:
16 Memoria
X k , con k mayor que la unidad, son los valores eficaces de las componentes armnicas de la
onda.
k es el ngulo de fase del armnico k de la onda.
xA t xB t 2 xC t 2 (1.2)
3 3
A partir de esta propiedad y realizando las operaciones adecuadas [11] se puede llegar a que, si
el sistema trifsico est en condiciones equilibradas:
Los armnicos mltiplos de 6 ms 1 forman una terna de secuencia directa (la secuencia de
valores mximos en las fases es ABCABC...).
x Ak 2 X k cos k 1t k
x k
2 X k cos k 1t 2 para k 6n 1, n 0,1,2... (1.3)
B k 3
xCk 2 X k cos k 1t 2
k 3
Los armnicos mltiplos de 6 menos 1 forman una terna de secuencia inversa (la secuencia de
mximos en las fases es ACBACB...).
x Ak 2 X k cos k 1t k
x k
2 X k cos k 1t 2 para k 6n 1, n 1,2,3... (1.4)
B k 3
xCk 2 X k cos k 1t 2
k 3
Los armnicos impares mltiplos de 3 forman una terna de secuencia homopolar (las tres ondas
estn en fase).
Estudio del Circuito Steinmetz 17
x Ak 2 X k cos k 1t k
x k
B 2 X k cos k 1t k para k 3n, n 1,3,5... (1.5)
xCk 2 X k cos k 1t k
X RMS X k2 (1.6)
k 1
Cuando se trabaja con ondas que contienen componentes armnicas, es preciso enunciar la
definicin de potencia activa y reactiva que se adoptar. La potencia activa se define como:
P Uk Ik cos k
(1.7)
k 1
Q Uk Ik sin k
(1.8)
k 1
X k2
k 2
THDx 100 % (1.11)
X1
donde x(t) puede ser tanto una tensin como una corriente.
Tambin puede ser interesante conocer el contenido de un determinado armnico en la onda,
para ello se define el ndice de distorsin armnica individual (HD, harmonic distorsion) como:
Xk
HDxk 100 % (1.12)
X1
El CEI llama a la expresin (1.12) factor de distorsin (DF, distorsion factor).
18 Memoria
Se debe tener presente que, dado que el sistema con el que se va a trabajar es susceptible de
tener diferentes corrientes o tensiones en sus fases, se debern definir estos dos coeficientes para
cada una de ellas.
2.2 Desequilibrios.
Cuando en un sistema trifsico se conectan cargas que consumen diferentes potencias
aparentes en cada una de las fases o que tienen diferentes impedancias, las corrientes que circulan
por stas pueden ser diferentes y no tener ngulos relativos de 2 radianes.
3
Toda terna de magnitudes senoidales de una misma frecuencia puede ser representada de
forma fasorial, y un fasor X se puede descomponer en la suma de tres componentes X0, X1 y X2,
como se muestra en la Figura 2.2.
X0 X1
X
X2
Figura 2.2 Descomposicin de un fasor en las secuencias directa, inversa y homopolar.
Estas tres componentes se pueden completar de manera que X0 forme parte de una terna
homopolar, X1 pertenezca a una terna de fasores equilibrada y de secuencia directa y X2 forme parte
de una terna de fasores equilibrada y de secuencia inversa. Con las tres ternas de componentes se
puede representar cualquier terna de fasores asimtrica [12]. Un ejemplo es el que se encuentra en la
Figura 2.3.
c
abc
b 120 a
Sistema
+ b
120
+ 120
120 c
homopolar Sistema inverso
Sistema directo a
c
b
Figura 2.3. Descomposicin de tres fasores en las secuencias directa, inversa y homopolar.
Esta descomposicin se puede escribir de la siguiente manera:
Estudio del Circuito Steinmetz 19
Xa X 0a X 1a X 2a
Xb X 0b X 1b X 2b X 0a a 2 X 1a a X 2a (1.13)
2
Xc X 0c X 1c X 2c X 0a a X 1a a X 2a
2
j
3
1 3
donde a e i.
2 2
Si se escribe en forma matricial, se obtiene la siguiente expresin:
Xa 1 1 1 X0
2
Xb FX012 1 a a X1 (1.14)
2
Xc 1 a a X2
Y, al igual que ocurre con lo armnicos, puede ser interesante definir algunos coeficientes que
sean un reflejo del nivel de desequilibrio que tiene una determinada terna de tensiones o corrientes
trifsicas.
Habitualmente se suelen emplear dos coeficientes [7]:
El coeficiente de desequilibrio, que se define como:
X2
m2 100 % (1.16)
X1
El coeficiente de asimetra, que viene definido como:
X0
m0 100 % (1.17)
X1
Como se puede observar, la definicin de estos coeficientes va, en principio, dirigida a medir
desequilibrios en la componente fundamental de la onda. Dicha componente en condiciones
3 MODELIZACIN DE COMPONENTES
ua t 2Uk cos k t k
k
2
ub t 2Uk cos k t k k (2.1)
k 3
2
uc t 2Uk cos k t k k
k 3
En la Figura 3.1 se muestra este modelo de red.
siendo k = fk / f1, donde f1 es la frecuencia fundamental del sistema de estudio (50 Hz) y fk es la
frecuencia correspondiente a cada armnico.
La conexin de los componentes del circuito simetrizador en cada una de las fases es la que se
muestra en la siguiente figura:
a
b
c
ZL,k Z0,k
ZC,k
Figura 3.2. Conexin del circuito Steinmetz
El valor de cada una de estas reactancias se calcular en el apartado 4: Diseo del Circuito
Simetrizador.
Estudio del Circuito Steinmetz 23
va 2V cos va
2 2 (2.3)
vb va ; vc va
3 3
en el caso trifsico; y
v 2V cos v
(2.4)
i
vC
vC I II III IV
0 1 2 3 4 2
(rad)
i
Figura 3.4. Grfica de la tensin y corriente del rectificador monofsico no controlado.
Analizando, por tanto, la Figura 3.3 se deducen las siguientes ecuaciones de comportamiento
para cada uno de los tramos.
Estudio del Circuito Steinmetz 25
i 0
Segmento I ( 1 < < 2 ): 1 dv C vC
0
XC d RD
di (2.5)
XL vC v
d
Segmento II ( 2 < < 3 ):
1 dv C v C
i
XC d RD
Las expresiones de las formas de onda de la tensin y corriente, vC() y i(), se obtienen
resolviendo (2.5).
Para caracterizar el comportamiento del dispositivo a partir de sus invariantes se ha realizado
una normalizacin. Los parmetros base o de referencia tomados en este dispositivo para realizar
dicha normalizacin han sido:
El valor eficaz del armnico fundamental de la tensin de alimentacin, V.
La resistencia DC del rectificador, RD.
Teniendo en cuenta la normalizacin de parmetros, las ecuaciones de (2.5) quedan de la
siguiente manera:
iN 0
Segmento I ( 1 < < 2 ): 1 dv C,N
v C,N 0
xC,N d
di N (2.6)
xL,N vC ,N v N
d
Segmento II ( 2 < < 3 ):
1 dv C,N
v C,N iN
xC ,N d
i
v II IV VI VIII X XII
vC C
I III V VII IX XI 12
MDC
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 2
(rad)
ic ia ib
i ia ib ic
vC
vC
I III V VII IX XI
MCC
6 12
0 1 2 3 4 5 7 8 9 10 11 2
(rad)
II IV VI VIII X XII
Figura 3.6. Grfico de tensiones y corrientes del rectificador trifsico no controlado.
Se ha de tener en cuenta que la consideracin de un sistema de alimentacin simtrico impone
que las corrientes rectificadas verifican: ib() = ia( 2 /3) y ic() = ia( + 2 /3). Los ngulos de
conmutacin (desde 1 hasta 12) deben de determinarse analizando las topologas del circuito de los
Estudio del Circuito Steinmetz 27
doce segmentos marcados (I, II, , XII). Sin embargo, debido a las hiptesis de simetra de media
onda y alimentacin simtrica, slo ser necesario estudiar los segmentos I y II, ya que se verifica la
relacin j+2 = j + /3 ( j = 1, 2, , 10).
Las ecuaciones que caracterizan el comportamiento de este dispositivo, para cada uno de los
modos de funcionamiento, son las que se muestran en (2.8) y (2.9).
di a
2 XL vC v ac
d
Segmento I ( 1 < < 2 ):
1 dv C vC
ia
XC d RD
MCC di a (2.8)
XL v C v ac
d
di
Segmento II ( 2 < < 3 ): X L b v C v bc
d
1 dv C v C
ia ib
XC d RD
di a
2 XL vC v ac
d
Segmento I ( 1 < < 2 ):
1 dv C vC
ia
MCD XC d RD (2.9)
ia 0
Segmento II ( 2 < < 3 ): 1 dv C vC
0
XC d RD
Las expresiones de las formas de onda de la tensin y corriente, vC() y i(), se obtienen
resolviendo (2.8) o (2.9), segn el caso que se analice.
Para caracterizar el comportamiento del dispositivo a partir de sus invariantes se ha realizado
una normalizacin. Los parmetros base o de referencia tomados en este dispositivo han sido:
El valor eficaz del armnico fundamental de la tensin fase-neutro de alimentacin, V.
La resistencia DC del rectificador, RD.
Teniendo en cuenta la normalizacin de parmetros, las ecuaciones de (2.8) y (2.9) quedan de la
siguiente manera:
28 Memoria
di a,N
2 xL,N vC,N v ac ,N
d
Segmento I ( 1 < < 2 ):
1 dvC,N
vC,N i a,N
xC,N d
di a,N
2 xL,N vC,N v ac ,N
d
Segmento I ( 1 < < 2 ):
1 dvC,N
vC,N i a,N
MCD xC,N d (2.11)
i a,N 0
Segmento II ( 2 < < 3 ): 1 dvC,N
vC,N 0
xC,N d
v bc ,N 3 2 1 cos( va 2);
XL XL XC XC
xL,N ; xC ,N ;
ZR RD ZR RD
Estudio del Circuito Steinmetz 29
ZL
i +
vA
i VA
vA
vA
i I II
0 1 2 2
(rad)
VA
Figura 3.8. Grfica de la tensin y corriente de la lmpara de descarga.
Analizando, por tanto, la Figura 3.7 se deducen las siguientes ecuaciones de comportamiento
para el segmento I (2.13).
di
Segmento I ( 1 < < 2 ): XL VA v (2.13)
d
Las expresiones de las formas de onda de la tensin y corriente, vA() y i(), se obtienen
resolviendo (2.13).
Para caracterizar el comportamiento del dispositivo a partir de sus invariantes se ha realizado
una normalizacin. Los parmetros base o de referencia tomados en este dispositivo han sido:
30 Memoria
di N
Segmento I ( 1 < < 2 ): v A,N vN (2.14)
d
donde los parmetros normalizados quedan:
iN i IR
vN 2 1 cos( ) (2.15)
v
VA VA
v A,N
UR V
Estudio del Circuito Steinmetz 31
ia ID
I III
II IV 5 VI VIII
0 1 2 3 4 6 7 8 2
V VII (rad)
ID
Figura 3.10. Grfica de la tensin y corriente del rectificador trifsico de 6 pulsos.
Analizando la Figura 3.9, por tanto, se observa que las ecuaciones que caracterizan la forma de
la corriente en el segmento consiste en un sistema de ecuaciones diferenciales de segundo orden.
32 Memoria
di a di c
XL v ac
Segmento I ( 1 < < 2 ): d d
(2.16)
ia ic ID
Segmento II ( 2 < < 3 ): ia ID
di a,N di c ,N
xL,N v ac ,N
Segmento I ( 1 < < 2 ): d d
i a,N i c,N 1
Segmento II ( 2 < < 3 ): i a,N 1 (2.17)
1 1 2
Condicin de pot. activa: pN 3 v a,N i a,N d
2 1
XL XL P P
xL,N ; pN ;
ZR V ID SR VID
Estudio del Circuito Steinmetz 33
I II III IV
0 1 2 3 4 2
(rad)
i
Figura 3.12. Grfica de la corriente del cargador de bateras.
Analizando, por tanto, la Figura 3.3 se deducen las siguientes ecuaciones de comportamiento
para cada uno de los tramos.
34 Memoria
La obtencin del valor de los parmetros de las reactancias que forman el circuito Steinmetz
puede ser realizada de dos maneras:
Mediante el clculo aproximado: suponiendo tensiones simtricas.
Mediante el clculo exacto: teniendo en cuenta la posible no simetra de las tensiones.
1
0 0
Z1
Ia 1 0 1 U ab
1 (3.1)
Ib 1 1 0 0 0 U bc
Z0
Ic 0 1 1 U ca
1
0 0
Z2
36 Memoria
El factor de desequilibrio, mi, se determina analticamente como la relacin entre las corrientes I1
e I2 (3.3).
I2 Ia a 2 I b aI c
mi
I1 Ia aI b a 2 I c
U ab Y 1 1 a 2 U bc Y 0 a 2 a U ca Y 2 a 1
2
(3.3)
U ab Y 1 1 a U bc Y 0 a a U ca Y 2 a 2 1
U ab Y 1 a 2 U ca Y 0 aU ca Y 2 1 a 2
U ab Y 1 aU ca Y 0 a 2 U ca Y 2 1 a
Para simplificar el estudio del diseo del circuito, se supone que las tensiones son simtricas, es
decir, U bc a2 U ab y U ca aU
ab . De esta manera, se obtiene:
2 2
2 2
1 1 1 1
3 2 2 m
I2 X2 X1 R0 X2 X1 R0
mi (3.4)
2 2
I1 2
1 1 2
4 m
R0 X2 X1 R0
Forzando que el mdulo del factor de desequilibrio (3.4) sea cero, se obtiene el sistema de
ecuaciones (3.5).
2
1 1
3 2 0
X2 X1 R0
mi 0 (3.5)
2
1 1
2 m 0
X2 X1 R0
De (3.5) se deduce que los valores de las reactancias simetrizadoras deben de ser de:
aprox
3 R02 X 02 3R0
X 1 2
R0 3 X 0 1 3 m
(3.6)
3 R02 X 02 3R0
X 2aprox
2
R0 3 X 0 1 3 m
Estudio del Circuito Steinmetz 37
a
b
c
ZL Z0
ZC
Figura 4.2. Circuito Steinmetz.
Es preciso remarcar que, cuando la alimentacin del circuito no es simtrica, este mtodo de
clculo solamente ofrece una aproximacin del valor de las reactancias que reducen el desequilibrio,
pero se debe tener en cuenta que para obtener los valores ptimos es preciso recurrir al mtodo
exacto.
mtodos de clculo basados procesos iterativos o de optimizacin. No obstante, debido a que esta
optimizacin no forma parte de los objetivos del presente proyecto, se buscar un clculo exacto sin
requerimientos de tcnicas iterativas.
El objetivo que se pretende conseguir es minimizar el desequilibrio de la corriente absorbida por
el circuito Steinmetz, al igual que en el caso aproximado. Sin embargo, este mtodo de clculo tendr
en cuenta las posibles asimetras que puedan existir en la tensin de alimentacin para obtener los
valores de las reactancias simetrizadoras que minimizan el desequilibrio de la corriente consumida por
el circuito.
Este desequilibrio de la tensin de alimentacin se puede caracterizar mediante el coeficiente mu,
de clculo similar al desequilibrio de corrientes, tal y como se muestra en (3.7) .
U2 I2
mu 100 mu u ; mi 100 mi i (3.7)
U1 I1
donde la tensin U ser la tensin de alimentacin del circuito simetrizador, y la corriente I har
referencia a la corriente absorbida por el mismo circuito. Los subndices 1 y 2 hacen referencia a las
componentes directa e inversa, explicadas en el captulo de fundamentos tericos. Para poder
considerar la asimetra de las tensiones en la expresin (3.4), se deber expresar dichas tensiones de
otro modo.
As, cualquier terna de tensiones iniciales (Ua1, Ub1 y Uc1), que se llamarn M1, sin tener en
cuenta la componente homopolar (que no afectar al clculo de los factores de desequilibrio, y, por
tanto, al diseo del circuito), se puede representar como una terna M2, compuesta por Ua2, Ub2 y Uc2
(ver Figura 4.3).
U c1
a a
c c
M1 U a1 M1
30 U a2 hU a '2
U c2 aU a '2
M2
U b1 U a '2
30
a'
U b2 a 2 U a '2
b b
Figura 4.3. Obtencin de la terna M2 a partir de la terna M1.
Para obtener M2, se fijan los fasores correspondientes a las fases b y c, formando entre s un
ngulo de 120, y por tanto de 30 con la tensin compuesta bc. A partir de estos fasores, se puede
encontrar Ua2. Como puede observarse en la figura, la terna M2 junto con el fasor Ua2 que forma una
terna equilibrada con Ub2 y Uc2, cumplen las propiedades
Estudio del Circuito Steinmetz 39
U a2 hU a '2 2
a exp j
U b2 2
a U a '2 donde 3 (3.8)
U c2 aU a '2 h c j d
De esta forma, se observa que la terna de fasores M2, que tiene el mismo coeficiente mu que la
terna M1 (no se considera la componente homopolar) puede expresarse a partir de la tensin Ua'2 y del
ndice complejo h.
Como se ver a continuacin, h est relacionado con el factor de desequilibrio de la tensin de
alimentacin del circuito Steinmetz. De esta forma, aplicando a la terna M2 la transformacin de
Fortescue (3.9) para calcular el valor del coeficiente mu (3.7);
1
U0 1 1 1 U a2 1 1 1 U a2
1
U1 1 a2 a U b2 1 a a2 U b2 (3.9)
2 3
U2 1 a a U c2 1 a2 a U c 2
U a2 a 2 U b 2 aU c 2 U a 2 aU a '2 a 2 U a '2
mu (3.10)
U a2 aU b 2 a 2 U c 2 U a 2 U a '2 U a '2
de donde, teniendo en cuenta que U a2 hU a '2 , se puede obtener la relacin entre el ndice h y el
coeficiente mu :
h a a2 1 2mu
mu h c j d (3.11)
h 1 1 1 mu
El factor de desequilibrio de las corrientes, mi, viene determinado por (3.12), como ya se pudo
ver en (3.3).
I2 Ia a 2 I b aI c
mi
I1 Ia aI b a 2 I c
(3.12)
U a 2b 2 Y 1 1 a 2 U c 2a 2 Y 0 a 2 a U c 2a 2 Y 2 a 1
U a 2b 2 Y 1 1 a U c 2a 2 Y 0 a a 2 U c 2a 2 Y 2 a 2 1
Y 1 h a2 Y 0 a 2 a 2 a Y 2 a a h
mi (3.13)
Y 1 h a2 Y 0 a a 2 a Y 2 a 2 a h
Si se impone que este coeficiente mi sea nulo (equivalente a imponer que las corrientes
absorbidas por el circuito Steinmetz sean una terna de secuencia directa) se obtiene que los valores
de las reactancias simetrizadoras se pueden calcular mediante la expresin (3.14).
40 Memoria
exact
R0 c c 2 d2
X 1
2
c 3 m d 1 3 m 2 m
(3.14)
R0 1 2c c c 2 d2
X 2exact
2
2c 2 3 m c 3 5 m d 2c 1 1 3 m 2 m
donde m 1 2
1 y es el factor de potencia de la carga monofsica del circuito (Z0).
Se puede observar que la expresin anterior es funcin del desequilibrio de la tensin de
alimentacin y de los parmetros de carga monofsica que forma parte del circuito.
Si se introduce la simplificacin utilizada en el mtodo de clculo aproximado, es decir, si se
supone que la tensin de alimentacin del circuito es simtrica,
mu 0 h 1 c 1, d 0 (3.15)
se obtienen, a partir de las expresiones (3.14), el valor de las reactancias calculadas segn el mtodo
aproximado, para una determinada impedancia monofsica del circuito Steinmetz:
3R0 3R0
X1aprox ; X 2aprox (3.16)
2 2
1 3 m 1 3 m
Se puede observar que estas expresiones coinciden con las presentadas en el mtodo de
clculo aproximado (3.6).
Ahora, a partir de (3.14), se calcula el valor de c, es decir, el valor frontera para el factor de
potencia de la carga monofsica que cumple:
Si el factor de potencia de la carga monofsica, , es superior a c: la reactancia X2 es
capacitiva (X2 < 0).
Si el factor de potencia de la carga monofsica, , es inferior a c: la reactancia X2 es
inductiva.
Si el factor de potencia de la carga monofsica, , es igual que c: la reactancia X2 es
nula, y por tanto, el circuito simetrizador est compuesto nicamente por la reactancia
X1.
1 6c 2 3c 2 3cd 3d
c 1 (3.17)
3 2c 2 5c 3d 2 2cd
VAk I Ak Z AA Z AB Z AC I Ak
VBk Z Bk I Bk ZBA ZBB ZBC I Bk
VCk I Ck ZCA ZCB ZCC k I Ck
1
(4.1)
YS YL YC YL YC I Ak
YL YS YL Y0 Y0 I Bk
YC Y0 YS YC Y0 I Ck
k
1 1 1
donde YSk Z Sk RS j k X S es la admitancia de la red, YLk j k XL es la admitancia
1
de la reactancia inductiva simetrizadora, YCk j XC k es la admitancia de la reactancia
1 1
capacitiva simetrizadora e Y0k Z 0k R0 j k X 0 es la admitancia de la carga monofsica
3R0 3R0
XL ; XC (4.2)
2 2
1 3 m 1 3 m
2
donde m 1 1.
Operando la expresin (4.1) y observando los trminos resultantes, se obtiene la expresin del
mdulo de cada uno de los trminos que componen la matriz ZBk.
Estudio del Circuito Steinmetz 43
Y 2S Y S Y L YC 2Y 0 Y L Y C Y0 Y C Y 0
k
Z AAk
Y Sk Dk
Y 2S Y S Y L 2Y C Y0 Y L Y C Y0 Y C Y 0
k
ZBBk
Y Sk Dk
Y 2S Y S 2Y L YC Y0 Y L Y C Y0 Y C Y 0
k
ZCCk
Y Sk Dk
(4.3)
Y L Y S YC Y0 Y C Y 0
k
Z ABk ZBAk
Y Sk Dk
Y C Y S YL Y0 Y L Y 0
k
Z ACk ZCAk
Y Sk Dk
Y 0 Y S YL YC Y L Y C
k
ZBCk ZCBk
Y Sk Dk
donde Dk Y 2S 2Y S Y L YC Y0 3 Y L Y L YC Y C Y 0 .
k
Todas las impedancias que componen la matriz ZBk caracterizan directamente el comportamiento
armnico del sistema observado desde la carga no lineal. Las impedancias de la diagonal permiten
calcular la contribucin de las corrientes armnicas de una fase a las tensiones armnicas de esa
misma fase. En cambio, las impedancias restantes permiten calcular la contribucin de las corrientes
armnicas de una fase a las tensiones armnicas de las dos fases restantes. Por esta razn, es
necesario calcular ambos grupos de impedancias, ya que una resonancia paralelo en cualquiera de
estas impedancias podra amplificar las tensiones armnicas generadas y deteriorar la calidad
armnica del subministro.
Llegados a este punto, para simplificar el estudio analtico de estas expresiones, se han de tener
en cuenta dos aspectos:
En primer lugar, se desprecia la parte resistiva del modelo de la red debido a que la
influencia sobre el posicionamiento de la resonancia es nula, como se comentar
-1
posteriormente. Es decir, a partir de ahora, YSk (jkXS) .
Finalmente, se opta por normalizar todas las variables, tomando como valor de
referencia la parte real de la impedancia de la carga monofsica Z0k (es decir,
Re{Z0k}=R0). As, a partir de ahora, en lugar de analizar ZBk, se analizar ZBk/R0.
Si se analiza la expresin del mdulo de la impedancia normalizada |ZAAk|/R0, se obtiene:
Z AAk R02 Y 2S Y S Y L Y C 2Y 0 Y L Y C Y 0 Y C Y 0
k
2
(4.4)
R0 R0 Y Sk R Dk
0
Se observa que la expresin (4.4) slo depende de los trminos R0YSk, R0YLk, R0YCk y R0Y0k, y
estos trminos son:
44 Memoria
2
1 1 3 m
R0 Y Sk j ; R0 Y Lk j ;
k X S R0 k 3
(4.5)
k 2 1 3 m 1
R0 Y Ck j ; R0 Y 0 k ;
3 1 j k m
Analizando las expresiones del resto de las impedancias que componen ZBk se concluye tambin
que slo dependen de R0YSk, R0YLk, R0YCk y R0Y0k.
Se deduce, por tanto, que, para el estudio matemtico, la magnitud normalizada de las
impedancias viene afectada nicamente por tres parmetros:
El armnico, k.
La reactancia normalizada de la red, xS = XS/R0.
El factor de potencia de la carga monofsica, .
Es conveniente anotar que el ratio XS/R0 es igual a la inversa del ratio SS/S0,
((1/)S0/SS = (1/)XS/Z0 = XS/R0), donde SS es la potencia de cortocircuito de la red y S0 es la
potencia aparente de la carga monofsica. De esta manera, considerando el rango usual de los
valores de SS/S0, y los valores del factor de potencia fundamental, = (1, ,0.9), el rango de valores
de XS/R0 utilizado en el estudio es XS/R0 = (0, , 0.2).
En la determinacin numrica de las impedancias de ZBk no se ha despreciado RS, por lo que se
requiere un nuevo parmetro de entrada dado por el ratio RS/XS. Habitualmente, el rango de variacin
de esta variable es RS/XS = (0, , 1).
Para ilustrar estos conceptos mediante grficos, se estudiar el caso concreto definido por los
siguientes parmetros, obtenidos de [18]:
RS/XS = 0.4442;
XS/R0 = 0.036;
= 1;
En la Figura 5.3 se muestra una captura de pantalla del programa cuando se analiza el
comportamiento de este sistema:
En la mitad derecha de la imagen se exponen los 6 grficos correspondientes a los
mdulos de las impedancias de ZBk, obtenidos mediante los valores normalizados de
(4.3). En ellos se sita la localizacin de la resonancia kp calculada analticamente, con
la expresin que se presentar ms adelante.
En la parte izquierda inferior de la imagen se expone el grfico correspondiente a la
localizacin de la resonancia analtica para varios , con expresin que se presentar
ms adelante, calculada analticamente.
Estudio del Circuito Steinmetz 45
Dk Y 2Sk 2Y Sk Y Ck Y 0k 3Y Ck Y 0 k (4.6)
Como se puede observar, los nicos trminos que se han despreciado en (4.6) son los que
acompaan a la admitancia inductiva simetrizadora.
Seguidamente, utilizando el manipulador matemtico Maple 9, se deriva |Dk| y se iguala a cero.
Se obtiene la siguiente expresin:
G1 m 4 G2 G3 m G4
kp ;
3xr G5
2
G1 36 xr2 14 3 2
x r 12 2
1;
2
G2 3 3 xr2 4 4
7.5 2
10.5 xr 3 2
1;
5
G3 216 3 xr4 3
144 4
612 2
756 xr3
3 4 2
128 3 534 3 438 3 xr2
6 5 2
192 505 564 252 xr2
4 2
24 3 48 3 24 3 ;
4 2
G4 216 324 xr4 3 4
48 4
540 2
504 xr3
2 8 6 4 2
256 768 1254 1383 657 xr2
6 4 2
3 64 280 384 168 xr
6 4 2
24 84 96 36;
G5 4 2
3 9 2
x 2
r 12 m x r 4 2
1 ; (4.7)
2
donde m 1 1 , xr = XS/R0 y representa el factor de potencia de la carga monofsica.
Se observa que la posicin de la resonancia paralelo del sistema viene determinada nicamente
por dos parmetros: por y por la XS/R0.
inductancia simetrizadora. Si se analiza de nuevo el sistema teniendo en cuenta esta parte resistiva
RL de ZL (4.9), se observa que tampoco este cambio influye en el valor de kp. Esto se debe a que en la
aproximacin (4.6) se han podido despreciar los trminos que acompaan a YL y, por tanto, su
resistencia RL tampoco afectar en la localizacin matemtica de kp. Esto es vlido para valores de RL
no superiores a 10XL.
ZL RL j k X L (4.9)
El programa diseado incluye un modo de variacin de parmetros, en el que se puede estudiar
el comportamiento numrico y analtico del sistema frente a la variacin de la resistencia de la red. En
la Figura 5.4 se muestra la variacin desde un 0% hasta un 100% de la RS/XS para el caso
anteriormente comentado. El resultado analtico correspondera, por tanto, al caso de RS/XS = 0.
Figura 5.4. Pantalla del programa en el modo de variacin del parmetro RS/XS.
como se puede observar, una nueva variable denominada grado de desviacin del condensador, dC, y
toma valores en el rango (0 , 1].
1 XC (4.10)
XC YC dC YC
dc C dC
Realizando el mismo anlisis numrico que se efectu en el apartado 5.1, segn [3], se obtiene
la siguiente expresin de kp:
G1, G2,
k p, (4.12)
dc xr G3,
El desarrollo analtico de G1,, G2, y G3, para toda es una expresin difcil de manipular
matemticamente y, por tanto, difcil de factorizar. Por esta razn, se han concretado estas
expresiones para diferentes valores de , tal y como se muestra en (4.13), (4.14) y (4.15). En la
aplicacin, se han programado los desarrollos analticos de G1,, G2, y G3,, para toda .
II YI Y I-II VI
II-I II
0 k
Y Y k
V II k
IA YS 0 0 YS 0 0 V IA
IB 0 YS 0 0 YS 0 V IB (4.16)
IC 0 0 YS 0 0 YS V I
C
0 YS 0 0 YS YP YL YC YL YC V IIA
0 0 YS 0 YL YS YP YL Y0 Y0 V IIB
0 k 0 0 YS YC Y0 YS YP YC Y0 V IIC
k k
1 1 1
donde: YSk Z Sk RS j k X S es la admitancia de la red, YLk j k XL es la admitancia
1
de la reactancia inductiva simetrizadora, YCk j XC k es la admitancia de la reactancia
1 1
capacitiva simetrizadora, Y0 k Z0 R0 j k X 0 es la admitancia de la carga monofsica
1 1
conectada en el circuito Steinmetz e YPk Z Pk RP j k X P es la admitancia de la carga
lineal trifsica. Esta ltima admitancia se expresar a partir del mdulo de su impedancia fundamental,
Estudio del Circuito Steinmetz 51
En este estudio, los parmetros de las reactancias simetrizadoras del circuito Steinmetz sern
calculados considerando las tensiones de alimentacin simtricas, tal y como se describe en el
captulo 4: Diseo del Circuito Simetrizador. Se tiene, por tanto:
3R0 3R0
XL ; XC (4.18)
2 2
1 3 m 1 3 m
2
donde m 1 1.
Seguidamente, operando (4.16) como se muestra en (4.19), se consigue obtener la matriz de
admitancias YBk desde el nudo I a estudiar, expresada como (4.20).
I Ik Y kI V kI Y kI-II V kII 1
I Ik I
Y Bk V kI Y kI Y kI-II Y kII Y kII-I V kI (4.19)
0 Y kII-I V kI Y kII-II V kII
IA Y AA Y AB Y AC V IA
IB Y BA Y BB Y BC V IB (4.20)
IC Y CA Y CB Y CC V IC
k k k
Todas las admitancias que componen la matriz YBk caracterizan directamente el comportamiento
armnico del sistema desde la red. Las admitancias de la diagonal permiten calcular la contribucin
de las tensiones armnicas de una fase a las corrientes armnicas de esa misma fase. En cambio, las
admitancias restantes permiten calcular la contribucin de las tensiones armnicas de una fase a las
corrientes armnicas de las dos fases restantes. Por esta razn, es necesario calcular ambos grupos
de admitancias, ya que una resonancia serie en cualquiera de estas admitancias podra amplificar las
corrientes armnicas consumidas y deteriorar la calidad armnica del subministro.
No obstante, las expresiones de cada una de estas admitancias no son manejables debido a su
envergadura. De esta manera, para simplificar el anlisis matemtico, se han de tener en cuenta dos
aspectos:
En primer lugar, se desprecia la parte resistiva del modelo de la red debido a que la
influencia sobre el posicionamiento de la resonancia es nula, como se comentar
-1
posteriormente. Es decir, a partir de ahora, YSk (jkXS) .
Finalmente, se opta por normalizar todas las variables, tomando como valor de
referencia la parte imaginaria de la impedancia de la red ZS (es decir, Im{ZS}=XS). As, a
partir de ahora, en lugar de analizar YBk, se analizar YBkXS.
Seguidamente se observa que las magnitudes de las admitancias normalizadas depende de los
trminos XSYSk, XSYLk, XSYCk, XSY0k y XSYPk, y estos trminos son:
52 Memoria
1 1
X S Y Sk j ; X S Y 0 k ;
k 1 j k m r0
2
1 3 m k 2 1 3 m
X S Y Lk j ; X S Y Ck j ; (4.21)
r0 k 3 r0 3
1
X S Y Pk ;
2
P j k 1 P rP
d Dk d Re Dk i Im Dk
0 (4.22)
dk dk
54 Memoria
ZL RL j k X L (4.24)
El programa diseado incluye un modo de variacin de parmetros, en el que se puede estudiar
el comportamiento numrico y analtico del sistema frente a la variacin de la resistencia de la red. En
la Figura 5.8 se muestra la variacin desde un 0% hasta un 100% de la RS/XS para el caso
anteriormente comentado. El resultado analtico correspondera, por tanto, al caso de RS/XS = 0.
Estudio del Circuito Steinmetz 55
Figura 5.8. Pantalla del programa en el modo de variacin del parmetro RS/XS.
como se puede observar, una nueva variable denominada grado de desviacin del condensador, dC, y
toma valores en el rango (0 , 1].
XC (4.25)
XC YC dC YC
dC
estudio habilitando al usuario la edicin de la tensin trifsica, de manera que pueda llevarse a cabo
este mismo estudio, pero con tensiones no simtricas.
ha operado con anterioridad, se definen dos nuevas variables que reflejan la variacin entre estos
parmetros:
X1 ' err1 X1 ; X2 ' err2 X 2 (5.2)
donde err1 representa la variacin sufrida por la reactancia X1 (en pu), y err2 representa la variacin
sufrida por la reactancia X2 (en pu).
En los grficos mostrados en la Figura 6.5, Figura 6.6 y Figura 6.7 se muestran las superficies
tridimensionales del coeficiente de desequilibrio de corrientes para diferentes valores de . Tambin
se incluyen los grficos de contorno, a partir del cual se pueden establecer los rangos de variacin de
err1 y err2 para no sobrepasar un cierto valor de desequilibrio. En ambos tipos de grfico se puede
observar el punto de diseo, sealado con un marcador rojo. Tambin se muestra, mediante un
marcador circular verde, el punto de diseo aproximado ( X1aprox y X 2aprox ). Debido a que las tensiones
Estudio del Circuito Steinmetz 61
de alimentacin son simtricas en el ejemplo, ambos marcadores se solapan, ya que los valores
obtenidos a partir del clculo exacto son iguales que los logrados a partir del clculo aproximado.
X1' e X1e
Variacin porcentual de X1' e 100
X1e
(5.4)
'
X 2' e X 2e
Variacin porcentual de X 2e 100
X 2e
' '
donde X1e y X 2e representan los valores de las reactancias simetrizadoras recalculados a partir de
En cuanto a la sensibilidad de la reactancia X2e se observa, en primer trmino, que es muy alta
comparada con las anteriormente vistas: basta observar los valores del escalado vertical de los
grficos. Seguidamente se observa que la influencia de la variacin de err0 es prcticamente nula. Se
observa tambin que a medida que se disea a partir de menores, la variacin de y err0 es menos
influyente.
66 Memoria
Estudio del Circuito Steinmetz 67
A partir de las expresiones de X1b y X1e se puede ver que las variables de las que depende el
error relativo, ex1, son tres:
El mdulo del coeficiente de desequilibrio de las tensiones: mu.
El argumento del coeficiente de desequilibrio de las tensiones: u.
El factor de potencia de la carga monofsica: .
Se observa que, a pesar de que tanto X1e como X1b dependen de la parte resistiva de la
impedancia de la carga monofsica, R0, el error relativo entre ambas no dependen de esta variable.
Esto se debe a que, al depender X1e y X1b linealmente de R0, al hacer la fraccin en (4.4) ambos
trminos se anulan.
Debido a la imposibilidad fsica de dibujar grficos cuatridimensionales, se representan a
continuacin seis grficos donde se muestran los valores de ex1 para diferentes valores de mu, u y .
68 Memoria
A partir de las expresiones de X2b y X2e se puede ver que las variables de las que depende el
error relativo, ex2, son tres:
El mdulo del coeficiente de desequilibrio de las tensiones: mu.
El argumento del coeficiente de desequilibrio de las tensiones: u.
El factor de potencia de la carga monofsica: .
Se observa que, a pesar de que tanto X2e como X2b dependen de la parte resistiva de la
impedancia de la carga monofsica, R0, el error relativo entre ambas no dependen de esta variable, al
igual que en el apartado anterior.
70 Memoria
IA V IA Y AA Y AB Y AC V IA
IB YBk V IB Y BA Y BB Y BC V IB (7.2)
I I
IC V C Y CA Y CB Y CC V C
k k k k
Todas las admitancias que componen la matriz YBk caracterizan directamente el comportamiento
armnico del sistema desde la red. Las admitancias de la diagonal permiten calcular la contribucin
de las tensiones armnicas de una fase a las corrientes armnicas de esa misma fase. En cambio, las
admitancias restantes permiten calcular la contribucin de las tensiones armnicas de una fase a las
Estudio del Circuito Steinmetz 75
Figura 8.4. Circuito Steinmetz, mostrando las tensiones VCN y las corrientes ICN.
El clculo matemtico para conocer las tensiones VCN y las corrientes ICN se muestran a
continuacin (ver Apartado 5.2: Sistema observado desde la red.):
1
En el caso de una resonancia serie, las admitancias que componen la matriz YBk aumentan de
I
valor considerablemente, con lo que las corrientes Ik aumentan y las tensiones VCNk, aunque no se
observe directamente de (7.3), tambin aumentan.
76 Memoria
De esta manera, conociendo los parmetros de la carga trifsica, de la carga monofsica, del
circuito Steinmetz y de la red, se puede analizar el comportamiento frecuencial del sistema mediante
(7.3).
Tambin en este apartado se presentar un caso concreto para ilustrar todo lo comentado. Este
caso corresponde a los siguientes parmetros, extrados de [20]:
RS/XS = 0.5
R0/XS = 9.5
= 0.95
|ZP1|/XS = 200
P = 0.95
Si se calcula la localizacin de la resonancia serie, kS, se obtiene un valor de 4.94, es decir, muy
cerca del quinto armnico. Consecuentemente, si seguidamente se alimenta el sistema mediante una
terna de tensiones distorsionadas con un uno por ciento de distorsin armnica en los armnicos
impares 3, 5 y 7, (es decir, HD3 = 1%; HD5 = 1%; HD7 = 1%; HD9 = 0%; HD11 = 0%; HD13 = 0%), se
obtiene la Figura 8.5.
Estudio del Circuito Steinmetz 77
Para llevar a cabo este estudio, se ha de caracterizar el sistema compuesto por la red y el
circuito Steinmetz mediante la matriz de impedancias, ZBk, presentada como (7.4).
VAk Z AA Z AB Z AC I Ak
VBk V Bk Z Bk I Bk ZBA ZBB ZBC I Bk (7.4)
VCk ZCA ZCB ZCC k I Ck
Todas las impedancias que componen la matriz ZBk caracterizan directamente el comportamiento
armnico del sistema observado desde la carga no lineal. Las impedancias de la diagonal permiten
calcular la contribucin de las corrientes armnicas de una fase a las tensionesarmnicas de esa
misma fase. En cambio, las impedancias restantes permiten calcular la contribucin de las corrientes
armnicas de una fase a las tensiones armnicas de las dos fases restantes. De esta manera, y tal
como se explica en el captulo Estudio de la respuesta frecuencial del sistema: localizacin de
resonancias, se obtienen los valores de cada una de las impedancias normalizadas que conforman
ZBk/R0.
De cara a estudiar la influencia de las cargas no lineales sobre el sistema, en primer lugar se ha
de calcular el espectro armnico normalizado de las corrientes consumidas. Teniendo en cuenta que
los parmetros del sistema estn referenciados a unos valores base y los parmetros del dispositivo
no lineal estn referenciados a otros valores base, se ha de determinar la expresin del factor de
cambio de referencia, diferente para cada una de las cargas, que permita interrelacionar ambas
partes del circuito.
En primer lugar se ha de crear una nueva variable que interrelacione las potencias consumidas
por el dispositivo no lineal y la consumida por todo el sistema. De esta manera, y considerando que
los factores de potencia son prximos a la unidad, se define la expresin (7.6).
SNL SNL
S (7.6)
SNL SST STOT
De (7.6) se deduce fcilmente (7.7):
SNL S
(7.7)
PST 1 S
Z
Bk norm.
ICNL , k norm.
1 XL 1 X (7.8)
v 'Bk Z Bk I CNL,k FC Z Bk I CNL,k L FC
R0 V V R0
donde FC es el factor de cambio de referencia, que debe ser R0/XL si se desea que
v'Bk = vBk. Teniendo en cuenta los desarrollos de SNL y PST, se obtiene (7.9):
1
3V ICNL1V
SNL XL R0 XL PST (7.9)
2
ICNL1 ICNL1
PST V 3 XL R0 SNL
R0
Z
Bk norm.
ICNL , k norm.
1 R 1 R (7.11)
v 'Bk Z Bk I CNL,k FC Z Bk I CNL,k FC
R0 V V R0
donde FC es el factor de cambio de referencia, que debe ser R0/R si se desea que v'Bk = vBk.
Teniendo en cuenta los desarrollos de PNL y PST, se obtiene (7.12):
V2
3 2 1
SNL PNL R V2 R0 1.35V R0 R PNL (7.12)
2
3 2
3 2
1.352
PST PST 3V 3V R 3 V 2 R R0 PST
R0
Z
Bk norm.
ICNL , k norm.
1 R 1 R (7.14)
v 'Bk Z Bk I CNL,k FC Z Bk I CNL,k FC
R0 V V R0
donde FC es el factor de cambio de referencia, que debe ser R0/R si se desea que v'Bk = vBk.
Teniendo en cuenta los desarrollos de PNL y PST, se obtiene (7.15):
82 Memoria
2
1.35Vs
SNL PNL 3 1.35Vs
2
R0 1.35Vs
2
R0 PNL
1
R R (7.15)
3 3 1.352
PST PST V2 V2 R 2
3 V 2 R R0 PST
R0
Z
Bk norm.
ICNL , k norm.
1 XL 1 X (7.17)
v 'Bk Z Bk I CNL,k FC Z Bk I CNL,k L FC
R0 V V R0
donde FC es el factor de cambio de referencia, que debe ser R0/XL si se desea que
v'Bk = vBk. Teniendo en cuenta los desarrollos de SNL y PST, se obtiene (7.18):
1
3V I1N V 2
SNL XL R0 8v AN R0
2
I1N 2
2 1
PST 3V XL XL
(7.18)
R0
2
XL 8v AN PST
2
2 1
R0 SNL
2
2 1
Rectificador de seis pulsos. Este dispositivo no lineal est normalizado a partir de los
parmetros V y ID. De esta forma, la corriente que se obtiene viene multiplicada por el
factor ID. Asimismo,
Z
Bk norm.
ICNL , k norm.
1 1 1 V (7.20)
v 'Bk Z Bk I CNL,k FC Z Bk I CNL,k FC
R0 ID V R0 ID
donde FC es el factor de cambio de referencia, que debe ser IDR0/V si se desea que
v'Bk = vBk. Teniendo en cuenta los desarrollos de SNL y PST, se obtiene (7.21):
Estudio del Circuito Steinmetz 83
3 6
IDV
SNL 6
2
R0 ID
PST 3V V
(7.21)
R0
V 6 PST
R0 ID SNL
A partir de (7.20) y (7.21) se deduce:
S
FC (7.22)
1 S 6
Figura 8.10. Circuito Steinmetz, mostrando las tensiones VCN y las corrientes ICN.
Para ello, se estudiar el caso concreto definido por los siguientes parmetros, obtenidos de [18]:
RS/XS = 0.4442;
XS/R0 = 0.036;
= 1;
Si se calcula la localizacin de la resonancia paralelo, kp, se obtiene un valor de 4.94, es decir,
muy cerca del quinto armnico. Consecuentemente, si la carga no lineal que se conecta al sistema
inyecta corriente en el armnico cercano a kp, las distorsiones armnicas de las tensiones a las que
se somete el circuito Steinmetz aumentarn considerablemente.
Se realizar este estudio para cada uno de los tipos de cargas no lineales, consumiendo estas,
en los cinco casos, un 15% de la potencia consumida entre el circuito Steinmetz y el dispositivo no
lineal; es decir, S = 15%. Se obtienen los grficos siguientes:
84 Memoria
Figura 9.1.Interfaz del Matlab 7
A continuacin se comentarn las caractersticas principales del Matlab 7 :
Orientado al clculo numrico y matricial. El paquete Matlab (MATrix LABoratory) es
el programa idneo para el clculo matricial y clculo numrico. De hecho, la mayora de
tipos de datos son guardados y operados como matrices.
Editor de interfases grficas: Para la elaboracin de la interfaz grfica con el usuario,
el paquete incorpora una herramienta, GUIDE, que permite la elaboracin de ventanas
de dilogo con controles que permiten el dilogo entre el usuario y el programa. En la
Figura 9.2 se muestra la interfaz que ofrece este editor de formularios.
Estudio del Circuito Steinmetz 89
Una de las partes del presente proyecto ha consistido en el estudio de las resonancias, para el
cual se ha necesitado de paquetes de manipulacin matemtica. Se ha visto conveniente utilizar el
Maple 9 , ya que ofrece unas posibilidades mucho ms amplias que la toolbox del Matlab llamada
SymbolicMath Toolbox.
90 Memoria
tensin-corriente (VCNL y ICNL) del sistema en el caso del estudio visto desde el lado de la
carga.
mediante el teclado.
o Advertencias al usuario: el programa, cuando lo considere oportuno, generar
ventanas emergente de informacin, aviso o error, que ayudan al usuario a
utilizar de manera correcta el programa. No obstante, se han programado de
manera dosificada, evitando su exceso.
o Botones habilitados/deshabilitados: a lo largo de la ejecucin del programa,
ciertas caractersticas estarn deshabilitadas hasta que el usuario rellene todos
los campos requeridos. Para que el usuario sea consciente de esto, los botones
se mostrarn inactivos con letras de color gris.
Agradable y atractivo. Gracias a actuales herramientas de diseo grfico, tales como
Photoshop CS y M.Office 2007 , se han diseado figuras e imgenes que le resulten
agradables y atractivas al usuario, sin perder la formalidad y rectitud caractersticas de
un proyecto tcnico. De esta manera, mediante animaciones y degradados, el usuario se
encuentra frente a una interfaz ms amena y ms similar a la de los entornos actuales.
Tambin se han incorporado las llamadas barras de espera (Figura 9.6) en las partes
de la aplicacin donde los clculos son ms complejos, de manera que el usuario
conozca que la aplicacin, al demorarse, sigue operativa.
manera, se anulan las situaciones en las que el programa pueda dar resultados
errneos.
Informacin relevante. Muchas son las grficas que se muestran a lo largo de la
ejecucin de la aplicacin. No obstante, se ha evitado presentar aquellas que no aportan
informacin relevante de cara al estudio que se analiza. De esta manera, no slo se
optimiza mejor el espacio til de la pantalla, sino que el usuario centrar ms la atencin
en las que realmente son importantes.
Ms informacin. Para cada una de las partes del programa se han ido colocando
botones de ms informacin para que el usuario avanzado profundice ms en los
resultados obtenidos. La ejecucin de estos botones es optativa, y su funcionalidad
vara, generalmente aportando informacin en los siguientes aspectos:
o Mostrar una imagen auxiliar con la topologa del circuito analizado.
o Mostrar un grfico tridimensional o de contorno auxiliar que complementa la
informacin mostrada por pantalla.
o Mostrar una tabla de valores que muestre la representacin numrica de las
grficas de la pantalla.
Ayuda. La aplicacin presente cuenta con un manual accesible a partir de la etiqueta
ayuda en el men superior. De esta manera, el usuario podr acceder al contenido del
manual mediante el navegador de ayuda predeterminado. Adems, tal y como se
muestra en la Figura 9.7, cada uno de los botones y etiquetas de las que se compone la
aplicacin est dotado de mens contextuales, en el que se detalla su funcionalidad.
10 NORMATIVAS
Como se detalla en la introduccin, tanto la inyeccin de componentes armnicas de la corriente
como los consumos desequilibrados, tienen influencias negativas sobre los elementos que forman
parte de los sistemas elctricos. Por este motivo, existen una serie de normas que regulan estos
consumos.
Tensin nominal del sistema [kV] < 0.9 kV 0.9-69 kV 69-138 kV > 138 kV
5 6.0 3 5.0
7 5.0 9 1.5
11 3.5 15 0.3
Tambin existen normas que limitan distorsin armnica de la corriente consumida por los
dispositivos no lineales. En la norma, aplicable a consumos de corrientes inferiores a 16 A, se realiza
una clasificacin de las cargas no lineales en cuatro tipos: A, B, C y D, donde, por ejemplo, las cargas
de iluminacin corresponden a la clase C, los aparatos de televisin y los ordenadores, a la clase D...
98 Memoria
Para cada clase se limita la inyeccin de cada componente armnica. Un resumen de estos lmites se
muestra en la tabla (Tabla 10.3).
Tabla 10.3. Lmites de la distorsin armnica individual de la corriente.
2 1.08 1.62 2
4 0.43 0.65
6 0.30 0.45
7 0.77 1.12 7 1
8 0.23 0.35
10 0.18 0.28
12 0.15 0.23
Se puede observar que para los componentes de las clases A y B, se limitan directamente las
componentes de corriente inyectadas, mientras que para la clase C se limita el coeficiente de
distorsin armnica individual (en algunos de los armnicos, dependiendo del factor de potencia del
consumo, FP), y para la clase D se limita la relacin entre la componente de corriente inyectada y la
potencia del consumo.
CONCLUSIONES
Gracias a la realizacin del presente proyecto, se han estudiado ciertos aspectos sobre el diseo
y estudio del circuito Steinmetz.
Mediante el estudio terico llevado a cabo al inicio del proyecto, se han podido corroborar
numerosas expresiones analticas de artculos recientemente publicados por el departamento, y se
han comenzado a estudiar ciertos campos de investigacin sobre el circuito Steinmetz y su
interaccin con las instalaciones elctricas, de los cuales actualmente no existen publicaciones.
De esta manera, se ha creado y desarrollado una aplicacin informtica que permite:
Estudiar el diseo del circuito Steinmetz:
o Determinacin de las reactancias simetrizadoras mediante dos mtodos: clculo
exacto y clculo aproximado.
o Clculo de los errores referentes a los dos mtodos anteriores.
o Anlisis de la influencia de los diferentes parmetros del circuito simetrizador y
sus tensiones de alimentacin en el diseo del circuito.
Estudiar el comportamiento frecuencial del sistema elctrico en presencia del circuito
Steinmetz. De esta manera, se calcula la localizacin de la resonancia que se
establecen entre el condensador del circuito Steinmetz y las inductancias de la red.
o El estudio permite analizar dos escenarios: alimentacin del sistema mediante
tensiones distorsionadas e incorporar en el sistema una carga trifsica no lineal.
o Anlisis de influencia sobre la localizacin de la resonancia para los diferentes
parmetros del circuito simetrizador.
o Estudio de situaciones particulares: alimentacin mediante una fuente de
tensiones distorsionadas y aplicacin de dispositivos no lineales (rectificador
monofsico no controlado, rectificador trifsico no controlado, cargador de
bateras, lmpara de descarga y rectificador de seis pulsos).
Todo el trabajo anterior se enmarca dentro de la lnea de investigacin sobre la calidad del
suministro elctrico, sub-lneas de armnicos y desequilibrios, sobre la que se trabaja en el
Departament d'Enginyeria Elctrica (Seccin de Barcelona). En este sentido, la herramienta
informtica desarrollada debe permitir completar los estudios que se desarrollan sobre el circuito
Steinmetz en general, y ms en particular sobre el estudio de su diseo y el anlisis de su
comportamiento en condiciones no senoidales.
102 Memoria
Estudio del Circuito Steinmetz 103
AGRADECIMIENTOS
En primer lugar, deseo mostrar mi agradecimiento al profesor Luis Sainz, cuya dedicacin y
ayuda han sido indispensables para la elaboracin del presente proyecto.
Y al acabar esta memoria, como sntesis y culmen de los aos transcurridos en la ETSEIB,
deseo expresar el agradecimiento hacia mis padres, cuyo apoyo y nimo han jugado un papel
fundamental durante estos cinco aos de carrera universitaria.
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REFERENCIAS
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UPC, Barcelona, 1986.
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cargas", Tesis Doctoral, UPC, Barcelona, 1995.
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anlisis armnico de redes elctricas", Tesis Doctoral, UPC, Barcelona, 1996.
[4] HERRAIZ, S., "Aportaciones al estudio del flujo armnico de cargas". Tesis Doctoral,
UPC, Barcelona, 2002.
[5] CARO, M, Desarrollo de un programa para el estudio de sistemas elctricos trifsicos
con presencia de desequilibrios y armnicos, Proyecto Final de Carrera, UPC,
Barcelona, 2002.
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unbalanced conditions", ETEP Vol. 11 (5), 2001, p. 49-56
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of Socrates-Erasmus program, Barcelona, 1999, p. 1-15.
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Conference PES 2000, Marbella, 2000, p. 106111.
[10] SAINZ, L. [et al.], "Steinmetz system study under non-sinuoidal conditions", IASTED
International Conference PES 2001, Rhodes (Greece), 2001, p. 106-111.
[11] PEDRA, J., "Circuitos monofsicos y trifsicos", Barcelona, Edicions UPC, 1999, p.
142-144, 153-175.
[12] ROEPER, R., "Corrientes de cortocircuito en redes trifsicas", Barcelona, Ed.
Marcombo, 1985, p. 50-52.
[13] JORDI, O. [et al.], "Steinmetz system calculation by optimization methods", 7th
International Conference on Optimization of Electrical and Electronic Equipments
OPTIM 2000,Brasov (Romania) , 2000, Vol I p. 297-301.
[14] MARTNEZ, J. A., "Sistemas Elctricos de Potencia", Barcelona, CPDA, 2000,
p. 76-83.
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Carrera, UPC, Barcelona, 2003
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186.
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of Socrates-Erasmus program, Barcelona, 1999, p. 1-15.
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[19] SAINZ, L. [et al.], Influence of the Steinmetz Circuit Capacitor Failure on the Electric
System Harmonic Response, IEEE Trans. on Power Delivery, Vol 22, No. 2, April
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[20] SAINZ, L. [et al.], Background Voltage Distorsion Influence on the Power Electric
Systems in the Presence of the Steinmetz Circuit, Enviado para su publicacin al IEEE
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[21] Compatibility levels for low-frequency conducted disturbances and signalling in public
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[22] SAINZ, L. [et al.], Study of the power system harmonic response in the presence of the
Steinmetz Circuit, IEEE Trans. on Power Delivery, Vol. 21, No. 3, July 2006, pp.
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[24] IEC, "Compatibility levels in industrial plants for low-frequency conducted disturbances",
IEC 1000-2-4, Geneva, 1994.