X-Ray Diffraction (XRD)

a. Sejarah
Di akhir tahun 1895, Roentgen (Wilhelm Conrad Roentgen, Jerman, 1845-1923),
seorang profesor fisika dan rektor Universitas Wuerzburg di Jerman dengan sungguh-
sungguh melakukan penelitian tabung sinar katoda. Ia membungkus tabung dengan
suatu kertas hitam agar tidak terjadi kebocoran fotoluminesensi dari dalam tabung ke
luar.

Lalu ia membuat ruang penelitian menjadi gelap. Pada saat membangkitkan sinar
katoda, ia mengamati sesuatu yang di luar dugaan. Pelat fotoluminesensi yang ada di
atas meja mulai berpendar di dalam kegelapan. Walaupun dijauhkan dari tabung, pelat
tersebut tetap berpendar. Dijauhkan sampai lebih 1 m dari tabung, pelat masih tetap
berpendar. Roentgen berpikir pasti ada jenis radiasi baru yang belum diketahui terjadi di
dalam tabung sinar katoda dan membuat pelat fotoluminesensi berpendar. Radiasi ini
disebut sinar-X yang maksudnya adalah radiasi yang belum diketahui.

Ia menerima Hadiah Nobel Fisika tahun 1914 untuk penemuan difraksi sinar-X pada
kristal. Penemuan ini ketika ia membahas permasalahan yang terkait dengan perjalanan
gelombang cahaya melalui periodik, susunan kristalin partikel. Ide kemudian datang
bahwa sinar elektromagnetik yang jauh lebih pendek dari sinar-X seharusnya akan
menyebabkan semacam fenomena difraksi atau interferensi dan bahwa kristal akan
memberikan semacam media. Meski

Sommerfeld, W. Wien keberatan terhadap ide Friedrich, asisten Sommerfeld dan

Knipping bereksperimen dan setelah beberapa kegagalan, akhirnya berhasil
membuktikan itu benar.

Pada 1946 ia ke Gettingen menjabat Direktur Institut Max Planck dan Titular Profesor
di Universitas. Pada 1951 menjadi Direktur Institut Fritz Haber untuk Kimia Fisika di
Berlin-Dahlem bidang Optik sinar-X bekerja sama dengan Borrmann. Tahun 1958 ia
pensiun dan pada ulang tahun ke-80 di Berlin-Dahlem dia masih aktif bekerja. Awal
kariernya ia sangat gembira oleh teori relativitas Eintein dan antara 1907-1911 ia
menerbitkan 8 makalah tentang penerapan teori ini. Pada 1911 ia menerbitkan buku
tentang teori terbatas dan 1921 pada teori umum, kedua buku menjadi beberapa edisi.
b. Pengertian XRD
 XRD merupakan teknik analisis non-destruktif untuk mengidentifikasi dan
menentukan secara kuantitatif tentang bentuk-bentuk berbagai kristal, yang disebut
dengan fase. Identifikasi diperoleh dengan membandingkan pola difraksi dengan sinar-
X. XRD dapat digunakan untuk menentukan fase apa yang ada didalam bahan dan
konsentrasi bahan-bahan penyusunnya. XRD juga dapat mengukur macam-macam
keacakan dan penyimpangan kristal serta karakterisasi material kristal. XRD juga dapat
mengidentifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat.

Pada X-RD, sinar X dipilih karena merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki
energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar-X dihasilkan oleh interaksi anatara
berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum Sinar X memiliki
panjang gelombang 10-5 10 nm, berfrekuensi 1017 1020 Hz dan memiliki energi 103
106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama dengan jarak antar
atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal.

Efek radiasi sinar X terhadap molekul mengakibatkan terjadinya ionisasi. Sinar X bisa
berupa partikel atau gelombang. Karena berupa gelombang elektromagnetik, sinar X
menjalar pada medium apapun dengan kecepatan yang hampir tetap setara dengan
kecepatan cahaya dalam vakum. Sinar X dihasilkan dari penembakan logam dengan
elektron berenergi tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan saat masuk ke dalam
logam dan menyebabkan elektron pada kulit atom logam tersebut terpental
membentuk kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat
kosong dengan memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar X.

Ada dua proses yang terjadi bila seberkas sinar X ditembakkan ke sebuah atom, yaitu
(1) energi berkas sinar X terserap oleh atom, atau (2) sinar X dihamburkan oleh atom.
Bila seberkas radiasi elektromagnetik dilewatkan melalui celah sempit, maka akan
terjadi difraksi. Difraksi sinar X merupakan proses hamburan sinar X oleh bahan kristal.
Sinar X dapat didifraksikan oleh kristal sehingga dapat digunakan untuk menentukan
struktur kristal zat padat. Dengan mengetahui struktur kristalnya, maka sifat-sifat
material dapat ditentukan. Dalam interaksinya dengan materi, sinar X juga dapat
mengalami polarisasi linier. Berkas sinar X terpolarisasi dapat diperoleh dengan cara
hamburan, dimana berkas hamburan sinar X oleh materi yang dapat diukur adalah
intensitas.

c. Komponen Dasar X-RD

 Tiga komponen dasar dari X-RD yaitu; sumber sinar-X (X-Ray source), material contoh yang
diuji (specimen), detektor sinar-X (X-ray detector) (Sartono,2006).

a. Sinar X
Sinar-X merupakan salah satu bentuk radiasi elektromagnetik yang mempunyai energi
antara 200 eV1 MeV dengan panjang gelombang antara 0,52,5 . Panjang gelombangnya
hampir sama dengan jarak antara atom dalam kristal, menyebabkan sinar-X menjadi salah
satu teknik dalam analisa mineral (Suryanarayana dan Norton, 1998). Elektron-elektron pada
atom akan membiaskan berkas bidang yang tersusun secara periodik seperti yang ditunjukkan
pada Gambar 4. Difraksi sinar-X oleh atom-atom pada bidang atom paralel a dan a1 yang
terpisah oleh jarak d.

Difraksi sinar-X merupakan suatu teknik yang digunakan untuk mengidentifikasi

adanya fasa kristalin di dalam material-material benda dan serbuk, dan untuk menganalisis
sifat-sifat struktur (seperti stress, ukuran butir, fasa komposisi orientasi kristal, dan cacat
kristal) dari tiap fasa. Metode ini menggunakan sebuah sinar-X yang terdifraksi seperti sinar
yang direfleksikan dari setiap bidang, berturut-turut dibentuk oleh atom-atom kristal dari
material tersebut. Dengan berbagai sudut timbul, pola difraksi yang terbentuk menyatakan
karakteristik dari sampel. Susunan ini diidentifikasi dengan membandingkannya dengan
sebuah data base internasional (Zakaria, 2003).
Sinar-X dihasilkan dari penembakan target (logam anoda) oleh elektron berenergi
tinggi yang berasal dari hasil pemanasan filamen dari tabung sinar-X (Rontgen). Tabung
sinar-X tersebut terdiri atas empat komponen utama, yakni filamen (katoda) yang berperan
sebagai sumber elektron, ruang vakum sebagai pembebas hambatan, target sebagai anoda, dan
sumber tegangan listrik.
Untuk dapat menghasilkan sinar-X dengan baik, maka logam yang digunakan sebagai
target harus memiliki titik leleh tinggi dengan nomor atom (Z) yang tinggi agar tumbukan
lebih efektif. Logam yang biasa digunakan sebagai target (anoda) adalah Cu, Cr, Fe, Co, Mo
dan Ag.
b. Material Uji (Spesimen)

Sartono (2006), mengemukakan bahwa material uji (spesimen) dapat digunakan bubuk
(powder) biasanya 1 mg.
c. Detektor
Sebelum sinar-X sampai ke detektor melalui proses optik. Sinar-X yang panjang
gelombangnya dengan intensitas I mengalami refleksi dan menghasilkan sudut difraksi 2
(Sartono, 2006). Jalannya sinar-X diperlihatkan oleh gambar 5 berturut-turut sebagai berikut :
(1) Sumber sinar-X (2) Celah soller (3) Celah penyebar (4) Spesimen (5) Celah anti menyebar
(6) Celah penerima (7) Celah soller dan (8) Detektor.
 d. Prinsip Kerja XRD
Komponen utama XRD yaitu terdiri dari tabung katoda (tempat terbentuknya sinar-X),
sampel holder dan detektor. Pada XRD yang berada di lab pusat MIPA ini menggunakan
sumber Co dengan komponen lain berupa cooler yang digunakan untuk mendinginkan,
karena ketika proses pembentukan sinar-X dikeluarkan energi yang tinggi dan
menghasilkan panas. Kemudian seperangkat komputer dan CPU.

XRD memberikan data-data difraksi dan kuantisasi intensitas difraksi pada sudut-
sudut dari suatu bahan. Data yang diperoleh dari XRD berupa intensitas difraksi sinar-X
yang terdifraksi dan sudut-sudut 2. Tiap pol ayang muncul pada pola XRD mewakili
satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu. (Widyawati, 2012).

Suatu kristal yang dikenai oleh sinar-X tersebut berupa material (sampel), sehingga
intensitas sinar yang ditransmisikan akan lebih rendah dari intensitas sinar datang.
Berkas sinar-X yang dihamburkan ada yang saling menghilangkan (interferensi
destruktif) dan ada juga yang saling menguatkan (interferensi konstrktif). Interferensi
konstruktif ini merupakan peristiwa difraksi seperti pada Gambar 2.5 (Grant &
Suryanayana, 1998).

Gambar 2.1 Difraksi Sinar-X (Grant & Suryanayana, 1998)

Berdasarkan Gambar 2.1 dapat dituliskan suatu persamaan yang disebut dengan
hukum Bragg. Persamaan tersebut adalah :

Beda lintasan () = n (2.1)

= DE + EC (2.2)

= 2EC (2.3)

= 2EC sin , EC = d (2.4)

= 2 d sin (2.5)

sehingga beda lintasannya

n = 2 d sin (2.6)

dengan merupakan panjang gelombang, d adalah jarak antar bidang, n adalah

bilangan bulat (1,2,3, ) yang menyatakan orde berkas yang dihambur, dan adalah
sudut difraksi.

Suatu material jika dikenai sinar-X maka intensitas sinar yang ditransmisikan akan lebih
rendah dari intensitas sinar datang, hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh
material dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut. Berkas
sinar-X yang dihamburkan ada yang saling menghilangkan karena fasenya berbeda dan
ada juga yang saling menguatkan karena fasenya yang sama. Berkas sinar-X yang
menguatkan (interferensi konstruktif) dari gelombang yang terhambur merupakan
peristiwa difraksi. Sinar-X yang mengenai bidang kristal akan terhambur ke segala arah,
agar terjadi interferensi konstruktif antara sinar yang terhambur dan beda jarak
lintasnya maka harus memenuhi pola n (Taqiyah, 2012).

e. Grafik

f. Kesimpulan
Difraksi sinar-X adalah metode yang sangat penting untuk mengkarakterisasi struktur
kristal material. Teknik ini biasanya dapat digunakan untuk analisis parameter kisi kristal
tunggal, atau tahap tersebut, tekstur atau bahkan stres analisis bahan polikristalin (seperti
serbuk). Teknik ini banyak digunakan dalam penelitian dan pengembangan aplikasi dan
penggunaannya untuk produksi atau masalah pengendalian mutu juga tumbuh, manfaat dari
perkembangan hardware dan software untuk kemampuan throughput tinggi.
 Pada saat penemuan difraksi sinar-X, pengetahuan tentang struktur logam terbatas pada
apa yang bisa diungkapkan oleh optik mikroskop. diakui bahwa struktur dari logam pada
dasarnya kristal. tapi sebenarnya terjadi karena adanya pengaturan atom, meskipun teori
geometri ruang- kelompok dan ruang-kisi telah ditetapkan jauh sebelum rincian pengaturan
atom dapat ditentukan. Prinsip-prinsip umum diagram fasa logam telah dibangun oleh
Roozeboom dan lain, dan pekerjaan eksperimental Heycock dan Neville (1897) telah
menunjukkan bagaimana batas-batas bidang fase yang berbeda dapat ditentukan dengan
tingkat akurasi yang tinggi, bahkan dalam sistem yang sangat rumit. Pada waktu yang sama
Sekolah Jerman di bawah Tammann telah menghasilkan dengan cepat sejumlah ekuilibrium
metalik - diagram. Penerapan metode optik untuk studi baja telah mengakibatkan pengakuan
dari ' jumlah 'konstituen,' tetapi sering ada kebingungan mengenai apakah ini adalah tahap
yang berbeda dengan struktur kristal tertentu, atau campuran fase pada skala terlalu halus
untuk diselesaikan oleh metode optik. Posisi umum, oleh karena itu, di mana lebih jauh
kemajuan tergantung pada beberapa metode penemuan yang lebih rinci. susunan atom dalam
logam bisa diungkapkan.

Pentingnya penemuan difraksi X-sinar oleh kristal telah diakui dari awal, namun
aplikasinya tertunda selama beberapa tahun akibat Perang Dunia Pertama. Davey, Hull, dan
lain-lain bekerja sama dalam penentuan struktur kristal dari banyak logam yang lebih umum
dan kemudian mendapatkan kristal tunggal logam. Debye-Scherrer, melakukan metode
analisis kristal khusus yang memang menarik, itu ditemukan oleh AW Hull dan hampir
bersamaan dengan Scherrer Debye untuk tujuan penentuan struktur logam. Penemuan asli
metode ini dibuat tahun 1916, dan dari 1920 dan seterusnya, aplikasinya banyak
menghasilkan kemajuan yang spektakuler pada dekade 1920-1930.