II. OBJETIVOS
dependencia a la frecuencia de h fe () .
1
A v=
1+ j(f / f 2)
1
f Hi=
2 RThi Ci
IV. I
N F
ORME PREVIO
56k 1.5k
C4
22F
R4 C3
V1
1k 12 V
22F
XFG1 C1
100F 10k
12k 0.68k
Anlisis en DC
V BB + I B r bb+ V be + I E R E=0
I C 1.944 mA
I B= = =9.72 A
200
I C RC +V CE + I E RE =12
R
( C + R E )
V CE =12I C
V CE =7.762V
h fe h 200
r be = = fe = =2572
40 I EQ g m 77.76 m
hfe 40 I EQ
Cbe = =
w t r be wt
1+ jwrb e(Cb e+ Cb c )
Ib e
Ic hfeIb e
Ai= =
Ib
hfe
Ai ( jw)=
(1+ jwrb e (Cb e+ Cb c ) )
1 1
W B= f B=
rb e ( Cb e+Cb c ) 2 rb e ( Cb e +Cb c )
hfe
Ai
2
wT
(1+ 2
)
wB
w T= hfe1
( rb e ( Cb e+Cb c ))
f T= hfe1
2 ( rb e ( Cb e+Cb c ))
Relacionando
fT y
fB
fB 1
=
f T hfe
Cb c=50 pF
Cb e=1000 pF
1 1
f B= = =0.058933 MHz
2 rb e ( Cb e +Cb c ) 2 (2572 )(50 pF+1000 pF)
Cb c=0.1 pF
Cb e=100 pF
1 1
f B= = =0.6182 MHz
2 rb e ( Cb e +Cb c ) 2 (2572 )(0.1 pF+100 pF)
V. MATERIALES
1 transistor 2N2222
1 Multmetro digital
1 Generador de seales
Osciloscopio
Fuente DC
VI. PROCEDIMIENTO
56k 1.5k
C4
22F
R4 C3
V1
1k 12 V
22F
XFG1 C1
100F 10k
12k 0.68k
V CE =7.37 V I CQ =2.1 mA
F Av
1 30.57
5 30.57
24 30.57
249 29.65
310 28.63
429 27.48
540 26.13
560 24.55
600 22.6
Av
32
30
28
26
24
22
20
1 10 100 1000
frecuencia de h fe () .
RL=10k
rb e =2572, I EQ=1.944 mA
1 1 1
f B= Cb e+ Cb c= = =1.86 x 109
2 rb e ( Cb e +Cb c ) 2 rb e f B 2 (2572)(300 K)
10 10
Cb c=2 x 10 Cb e=8.31 x 10
Cuando se analiza una red de alta frecuencia hay que trabajar con el
modelo hibrido del transistor para tener en cuenta las capacitancias
parasitas del transistor cbe, cbc, Cce. Estas influyen en la salida de la
seal.
La frecuencia de corte es en 0.707 el valor de la seal. Es a partir de ah que
al aumentar la frecuencia la seal disminuye hasta un valor casi nulo, donde
se puede aproximar la frecuencia de trabajo.