AVALIAO DE DEFEITOS SUPERFICIAIS TIPO ESCAMA EM

BARRAS DE AO TREFILADAS
Leoneros Acosta Barbosa 1
Geraldo Andr Fagundes 2
Leila Teichmann 3
Afonso Reguly 4

Resumo

Este trabalho apresenta diferentes tcnicas de caracterizao de defeitos superficiais tipo escama em barras
trefiladas buscando a determinao de sua causa raiz para uma diminuio do sucateamento destes produtos.
Palavras-chave: Defeitos de superfcie; Escamas; Barra trefilada.

Evaluation of Sliver Surface Defects In

cold-drawn STEEL BARS
Abstract

This work shows different characterization techniques used for the evaluation of sliver surface defects in cold-
drawn bars aiming to decrease the volume of scrap in those products.
Key words: Surface defect; Slivers; Cold-drawn bars.

1 INTRODUO raiz do defeito permitindo somente a diferen-

Escama um defeito superficial que tem o aspecto de lascas
de materiais, tendo forma, distribuio e dimenses variadas. Uma
caracterstica geralmente observada que o interior da escama do
fio mquina apresenta-se, muitas vezes, preenchido com carepa
ou substncias no metlicas. um tipo de defeito superficial, que
pode ocorrer paralelamente direo de laminao, podendo
surgir em ambas as faces, e em qualquer lugar ao longo da largura
de barras de ao trefiladas.
Segundo Madias e Reda,(1) as escamas so sobreposies
de metal com extenso maior que a profundidade e consecutiva-
mente maior que a largura. Logo, os defeitos analisados so na sua
maioria rasos e extensos. As escamas podem ter diversas origens,
desde a Aciaria (usualmente profundas, descarbonetadas, com
presena de xidos e de oxignio), da Laminao (participao dos
fornos de reaquecimento, dos passes intermedirios e at mesmo
do acondicionamento dos tarugos). Pode ocorrer um tipo especial
de escama com origem nas operaes de manuseio, onde descon-
tinuidades superficiais so sobrepostas na superfcie do material
formando uma escama encruada e sem a presena de xidos.
A determinao da origem deste tipo de defeito no trivial
sendo utilizadas diferentes tcnicas de caracterizao de forma a
permitir uma concluso confivel. A anlise por microscopia ptica
mostra-se ser uma tcnica pouco eficaz na determinao da causa
ciao entre provveis origens. A anlise atravs
de microscopia eletrnica de varredura e EDS tem
demonstrado grande eficincia na determinao
das origens dos defeitos observados. Este artigo
aborda uma metodologia para caracterizao
do defeito superficial tipo escama, sendo apre-
sentados defeitos representativos das diferentes
causas raiz observadas no processo produtivo da
empresa Gerdau AEP. Para as anlises realizadas
foram apresentadas as diferentes caractersticas
que podem auxiliar na identificao da possvel
origem do defeito.
2 METODOLOGIA
A metodologia empregada para anlise
consistiu em caracterizao visual dos defeitos
em lupa esteroscpica, e anlises metalogrficas
em microscpio ptico e em microscpio eletr-
nico de varredura (MEV), juntamente com anlise
via microssonda acoplada ao MEV, trabalhando
com as tcnicas de espectrometria de disperso
de energia (EDS). As barras trefiladas rejeitadas

1
Mestre pelo Programa de Ps-graduao em Engenharia de Minas, Metalurgia e dos Materiais (PPGEM) UFRGS.
Atualmente Engenheiro de Processos junto a Oerlikon Balzers Coating.
2
Assessor Tcnico de Laminao GERDAU Aos Especiais Piratini.
3
Assistente de Pesquisa e Desenvolvimento GERDAU - Aos Especiais Piratini.
4
Professor, Programa de Ps-graduao em Engenharia de Minas, Metalurgia e dos Materiais (PPGEM) UFRGS.

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durante a inspeo por correntes parasitas, foram recolhidas e
levadas ao equipamento de inspeo por partculas magnticas
para localizao e caracterizao visual dos defeitos.
As regies das barras apresentando defeitos foram seccio-
nadas para anlise em laboratrio. Primeiramente, uma anlise
macrografica dos defeitos foi realizada em lupa esteroscpica
(Zeiss Stemi SV11), com sistema de aquisio digital de imagens.
Aps esta anlise foram retiradas trs amostras de cada barra
contendo o defeito do tipo escama, como indicado na Figura 1.
Uma amostra do defeito em seo transversal, uma amostra com
seo de topo do defeito e uma amostra de regio prxima ao
defeito, porm, sem indicao visual deste. Para o seccionamento
das amostras foram utilizadas mquinas de disco abrasivo Buehler
Abrasimatic2 e Struers Secotom-10. As amostras em seo trans-
versal dos defeitos foram embutidas em baquelite em uma mquina
Struers LaboPress-3, sendo preparadas conforme procedimento
metalogrfico padro.
A caracterizao microestrutural das amostras foi realizada
em um microscpio ptico Olympus BX-60M. Buscando deter-
Seo A-A Seo B-B Seo C-C
Seo transversal Seo de topo Seo transversal
com defeito com defeito sem defeito
A B C Defeito superficial
tipo escama
A B C do defeito, deixando a regio do defeito intacta,
Figura 1. Desenho esquemtico da metodologia de retirada de amostras dos
defeitos presentes nas barras de ao trefiladas.
minar a causa raiz dos defeitos observados foi
seguida a seqncia de anlise apresentada na
Tabela 1.
As micrografias realizadas em amostras
sem ataque mostram as regies onde h oxidao
e presena de incluses perto do defeito. J as
micrografias com Nital 2%, alm de revelarem
o padro microestrutural do ao analisado,
delineiam a extenso de uma possvel descarbone-
tao bem como possveis linhas de deformao
do material ou crescimento anormal de gro. O
reagente Picral foi empregado para determinao
do tamanho de gro.
O reagente de cromato alcalino ressalta
a regio onde h presena de oxignio, niti-
damente as regies oxidadas, sendo que esta
regio torna-se esbranquiada. J os reagentes de
Oberhoffer e Stead determinam reas com segre-
gao de fsforo e enxofre (indicando defeito
oriundos do tarugo) e delineiam marcas de defor-
mao, uma das caractersticas de defeitos tpicos
de laminao. Detalhes sobre a preparao e
composio destes reagentes metalograficos
so apresentados na Norma ABNT NBR 8108:
Ataque com Reativos Metalogrficos em Ligas
Ferrosas.(2)
As amostras foram ainda analisadas em
um microscpio eletrnico de varredura Phillips
XL - 20 para caracterizao por microssonda
de regies de interesse junto aos defeitos. Para
a anlise qumica com ajuda do MEV/EDS, ainda
foram analisadas as amostras com seo de topo
apenas levantando ou retirando a aba superior do
defeito tipo escama sendo ali realizada a anlise
qumica.

Tabela 1. Identificao das anlises realizadas para determinao da origem do defeito tipo escama.
Reagente/mtodo
Partculas magnticas
Lupa esteroscpica
S/ Ataque (microscopia ptica)
Nital (microscopia ptica)
Stead ou Oberhoffer
(Microscopia ptica)
Cromato Alcalino
(Microscopia ptica)
Picral (Microscopia ptica)
Microscopia Eletrnica - EDS
Revela
Distribuio do defeito
Morfologia do defeito
Oxidao
Presena de incluses
Microestrutura
Descarbonetao
Linhas de deformao
Segregao de Fsforo e enxofre
Linhas de deformao
Ressalta regio com presena de
oxignio
Distribuio e tamanho de gro
Anlise da superfcie do defeito e
anlise qumica qualitativa
Como identificar
Defeito contnuo identifica defeito tipo dobra de laminao
Permite a diferenciao entre marcas de manuseio e escamas
Incluses vtreas identificam defeitos oriundos da aciaria
Fuso parcial ou total no contorno de gro indica superaquecimen-
to ou queimados que um defeito oriundo da laminao
Descarbonetao pode ser oriunda da laminao ou aciaria
Marcas de deformao identificam defeitos oriundos da laminao
Regio no atacada pelo reagente a que apresenta segregao de
P e S, problema oriundo da aciaria
Marcas de deformao identificam defeitos oriundos da laminao
ou aciaria
Regies esbranquiadas identificam defeitos que podem ser oriun-
dos da aciaria ou laminao
Mudana de tamanho de gro: gro menor prximo ao defeito
identifica defeito de aciaria (trinca de solidificao)
Determinao da composio qumica e do tamanho das incluses
presentes no defeito e em sua proximidade

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3 RESULTADOS E DISCUSSO
3.1 Macro Anlise
O estudo da freqncia, localizao, espaamento de um
defeito a primeira tarefa necessria para estudar sua origem.
Discutem-se, separadamente, as caractersticas gerais dos defeitos
e a observao a olho n, com lupa esteroscpica e partculas
magnticas (magnaflux) um bom recurso para se diferenciar
escamas de outros tipos defeitos.
3.1.1 Anlise por partculas magnticas
As macroestruturas observadas nas Figuras 2a e 2b tem
como objetivo determinar a posio dos defeitos em relao
barra. Pode-se ainda observar a distribuio dos defeitos ao longo
da mesma diferenciando escama de dobra de laminao que um
defeito contnuo.
3.1.2 Lupa esteroscpica
Para observao de defeitos superficiais em tarugos no h
possibilidade de se limpar previamente a superfcie do tarugo com
jato de esferas ou decapagem. Logo, a observao da superfcie da
barra, com carepa, s permite analisar defeitos muito grosseiros e
muitas vezes no permite observar trincas transversais, porosidade
superficial e muitos detalhes da superfcie que auxiliam na determi-
nao das causas dos defeitos.
Nas Figuras 2c e 2d podem ser observados os defeitos tipo
escama, caracterizados por uma lasca fina de metal presa barra
(a)
(c)
Figura 2. Macroanlise mostrando barras de ao ABNT 9254 a) e b) anlise com partculas magnticas, c) e d) barra analisada com lupa
esteroscpica.
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em um ponto. Pode-se tambm observar que
a parte externa da lasca apresenta-se brilhante,
diferentemente do restante da barra, enquanto a
parte interna do defeito apresenta-se rugosa com
ou sem preenchimento com carepa/xidos.
3.1.3 Sem ataque qumico
Na observao sem ataque, pode ficar
clara a origem do defeito caso sejam observadas
macroincluses associadas. A observao metalo-
grfica deve ser completada com anlise por EDS,
para estabelecer a provvel origem da macroin-
cluso.
A Figura 3a apresenta uma imagem obtida
por microscpio ptico, sem ataque qumico,
de uma seco transversal da barra na regio do
defeito. Pode ser observado a presena de inclu-
ses no metlicas. Esta anlise permite, tambm,
a determinao da morfologia e espessura do
xido observado. Uma maior espessura no xido
formado pode indicar que o defeito j estaria
presente antes mesmo da laminao.
3.2 Anlise por Microscopia ptica
3.2.1 Reagente Nital 2%
Segundo Madias e Red,(1) o ataque com
Nital permite definir bem os contornos dos gros
(b)
(d)
 60 Mm 60 Mm 60 Mm

Figura 3. Corte em seo transversal de defeitos tipo escama observados em barras trefiladas de ao ABNT 9254. a) sem ataque onde
evidencia-se a presena de xido na superfcie interna; b) ataque Nital 2 % onde observa-se a presena de xido associada a descarboneta-
o superficial do defeito; e c) ataque Nital 2% sendo evidenciado marcas de deformao plstica associada ao defeito.

de ferrita e obscurece a perlita. Possibilita tambm, observar
a descarbonetao, o crescimento anormal de gro, a estrutura
bandeada, a segregao central e as linhas de escoamento em
defeitos submetidos a deformao.
Nas Figuras 3b e 3c, observam-se imagens obtidas por
microscpio ptico de amostras atacadas com Nital 2%. Este
ataque permite a verificao da microestrutura da regio, bem
como a presena de marcas de deformao sugerindo que o
defeito foi ocasionado no processo de laminao. Tambm se pode
observar a presena de xidos e descarbonetao na superfcie ou
nas proximidades do defeito, embora estas caractersticas no indi-
quem a provvel origem do defeito.
3.2.2 Reagente cromato alcalino
Segundo Madias e Red,(1) o cromato sdico alcalino obscu-
rece a martensita rapidamente, a ferrita mais devagar e a regio
com alto teor de oxignio no atacada, permanecendo com cor
clara. Normalmente a faixa atacada fica ao redor do defeito. A
magnitude da penetrao de oxignio fica revelada pela largura da
faixa.
A Figura 4a apresenta uma imagem de uma amostra atacada
com o reagente de cromato alcalino. Observam-se regies esbran-
quiadas nas proximidades do defeito, indicando a penetrao de
oxignio. Se a penetrao de oxignio for muito profunda nas vizi-
nhanas do defeito pode se supor que o defeito seja oriundo do
tarugo. Porm pouca penetrao ou ausncia de oxignio no signi-
fica que o defeito seja oriundo de laminao, pois o defeito pode
estar presente no tarugo e aflorar no processo de laminao.
3.2.3 Reagente Stead ou Oberhoffer
Os reagentes de Oberhoffer ou de Stead
so utlizados para estudar fenmenos relacionados
com a segregao. Estes reagentes apresentam o
inconveniente de serem muito sensveis a limpeza
anterior ao ataque da amostra. Quaisquer impu-
rezas presentes na superfcie polida resultam em
dificuldades na anlise.
Nas Figuras 4b e 4c so apresentadas
amostras atacadas com os reagentes Stead e
Oberhoffer, utilizados para visualizar segregaes
de fsforo e enxofre na direo do interior da
barra, associada a poro subsuperficial, conforme
Madias e Red.(1) Estes aspectos no so obser-
vados com Nital 2%. Pode-se observar ainda nas
Figuras 4b e 4c regies mais claras, que indicam
zonas ricas em fsforo ou enxofre. Com este
reagente ainda pode-se observar na Figura 4b as
linhas de deformao decorrentes do processo de
conformao do material, indicando uma provvel
origem no processo de laminao.
Segundo Meyette e Eliott,(3) em geral, o
fsforo e algum enxofre so segregados prximos
a blowholes (bolhas de gs retidas durante etapa
de solidificao). Caso os reagentes Stead ou
Oberhoffer revelem segregao de fsforo
prximo ou abaixo da falha, pode ser deduzido
que est falha devida a blowholes introduzidos
no lingotamento contnuo.

30 Mm 30 Mm 30 Mm

Figura 4. Corte seo transversal em barras trefiladas de ao ABNT 1045 contendo defeito tipo escama. Reagentes utilizados: a) cromato
alcalino; b) Stead; e c) Oberhoffer.

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 De acordo com Tsai, Sammon e Hazelton,(4) Emling e
Waugaman,(5) Nakamura et al.(6) e Sidorenko e Bonilla,(7) os
blowholes so originados pela variao do nvel do ao lquido no
molde. Esta variao ocasionada pelo entupimento de vlvula
e tubos pela alumina.(8) Portanto, a presena de blowholes indica
alumina no distribuidor do lingotamento contnuo e sugere que o
defeito esteja presente j a partir do tarugo.
Segundo Tsai, Sammon e Hazelton,(4) os defeitos oriundos
de tarugo trincado podem apresentar uma variedade de formas.
Um defeito multi-linha, variando em espessura, tpico de origem
de tarugos trincados. Caracterizado por gros finos e equiaxiais
e xidos internos dispersos nas vizinhanas do defeito e uma
microestrutura normal afastado da regio com falha. A variao do
tamanho de gro de grosseiro para fino o resultado do trabalho
a quente localizado. A presena de xidos nesta regio atua como
ancorador dos contornos de gro impedindo seu crescimento. A
carepa no removida acaba sendo reduzida pelo carbono presente
no ao durante o recozimento dificultando sua observao.
3.3 Microscopia Eletrnica de Varredura e Anlise por EDS
Os defeitos podem ser observados no microscpio eletr-
nico de varredura aps uma limpeza da amostra ou em amostras
preparadas para caracterizao metalogrfica. A observao
da superfcie dos defeitos bastante importante no estudo de
defeitos superficiais em barras trefiladas. A caracterizao de
amostras polidas, sem ataque ou com ataque, no proporciona
maiores informaes que as obtidas pela anlise no microscpio
ptico. Segundo Ray, Dhua e Jha,(9) o mais importante a possi-
bilidade de realizar anlise em microsonda EDS, para assegurar a
identificao dos constituintes da carepa, sulfetos e xidos, e ter
um conjunto interessante de estudo onde a anlise qumica pontual
100 Mm
(a)
Label A: Untitled: 3
SiKa
CaKa
O Ka AlKa
CKa MgKa
BKa
CaKb
FeKb
0,70 1,40 2,10 2,80 3,50 4,20 4,90 5,60 6,30 7,00
(c)
Figura 5. Anlise por microscopia de varredura na regio com o defeito juntamente com seu EDS.
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fornece informao til para definir a origem de
diversos defeitos.
Nas Figuras 5a e 5b so apresentadas
imagens obtidas atravs de microscopia eletrnica
de varredura, sendo na Figura 5a uma imagem da
seco transversal da barra na regio do defeito,
e na Figura 5b a imagem na superfcie da barra,
apresentando o defeito.
O microscpio eletrnico de varredura
permite uma excelente visualizao da topo-
grafia dos defeitos, apresentando alta resoluo e
grande profundidade de foco. Alm disto, anali-
sando-se as amostras sem recobrimento com
ouro ou carbono, evidencia-se a presena de
incluses vtreas devido s suas caractersticas de
condutividade eltrica. Estas incluses so visua-
lizadas como pontos brancos e brilhantes, como
observados nas Figuras 5a e 5b.
Acoplado ao microscpio eletrnico de
varredura o espectrmetro de disperso de energia
-EDS, permite uma anlise qumica pontual quali-
tativa e/ou semi-quantitativa atravs do espectro
de raios X emitidos pelos elementos qumicos
presentes em uma determinada rea ou ponto
da amostra. Com isto, consegue-se determinar a
composio de incluses presentes nas amostras.
As Figura 5c e 5d apresentam espectros
de disperso de energia obtidos atravs da micro-
sonda EDS, das incluses presentes nas amostras.
Observa-se a presena dos picos de emisso
de vrios elementos, notadamente de clcio,
alumnio e oxignio, sugerindo que estes defeitos
200 Mm
(b)
Label A: Untitled: 2
SiKa
OKa FeKa
FeLb CaKa
FeLa AlKb ClKa KKb
AlKa SKb
NaKa SKa K Ka CaKb FeKb
1,00 1,70 2,40 3,10 3,80 4,50 5,20 5,90 6,60 7,30
(d)
so oriundos da aciaria j estando presentes no tarugo.(10,11) Atravs
da anlise qumica, via EDS, das incluses presentes prximos ou
no interior do defeito pode-se sugerir qual etapa do processo
produtivo de obteno do tarugo foi determinante para a ocor-
rncia do defeito.
4 CONCLUSES
A determinao da origem de defeitos tipo escama em
amostras de barras de ao trefiladas pode ser realizada, utilizan-
do-se diferentes ataques metalogrficos, seguida de anlise em
microscopia ptica e microscopia eletrnica de varredura e EDS.
A inspeo visual e macrografias via partculas magnticas
permitem a caracterizao da distribuio dos defeitos na barra.
A anlise por tcnicas de microscopia ptica com diferentes
reagentes permite uma diferenciao entre as provveis causas
dos defeitos sendo, no entanto, pouco eficaz na
determinao da causa raiz do defeito.
A anlise por microscopia eletrnica de
varredura juntamente com a microanlise por
EDS mostrou grande eficincia na determinao
das origens dos defeitos observados.
Agradecimentos
Os agradecimentos vo ao CNPq
Conselho Nacional Cientfico e Tecnolgico
pelo apoio financeiro e ao tcnico em metalurgia
Jair Leopoldo Janoski - Gerdau - Aos Especiais
Piratini pela gentileza de ceder as micrografias e
macrografias para confeco deste artigo.

REFERNCIAS

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Recebido em: 13/02/07

Aceito em: 13/08/07
Proveniente de: SEMINRIO DE LAMINAO PROCESSOS E PRODUTOS LAMINADOS E REVESTIDOS, 43., 2006,
Curitiba. So Paulo: ABM, 2006.

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