Anda di halaman 1dari 4

Difraksi Sinar-X

X-Ray Diffraction (XRD)


1. Sinar-X
Sinar-X merupakan radiasi gelombang elektromagnetik yang memiliki panjang
gelombang sangat pendek, yaitu sekitar 1 . Dimana panjang gelombang ini hampir sama
dengan jarak antara atom dalam kristal tertentu, hal inilah yang membuat sinar-X berguna
pada analisis unsur struktur kristal.

Gambar 1. Spektrum Elektromegnetik


(Sumber: National High Magnetic Field Laboratory,2016)
Salah satu cara untuk membangkitkan sinar-X adalah dengan cara menembakan
elektron yang berenergi kinetik (berkecepatan) tinggi pada suatu target (anoda). Komponen
utama dalam proses pembangkitkan sinar-X adalah sebuah anoda, sebuah katoda (K), sebuah
filamen (F) sebagai sumber elektron, sebuah sumber tegangan tinggi (HV) untuk anoda dan
katoda, dan sebuah tegangan rendah (V) untuk filamen. Sumber sinar-x jenis ini secara skema
ditunjukkan pada gambar 2.

Gambar 2. Skema pembangkitan sinar-X


(Sumber: Kardiawarman, 1996)
Filamen yang diberi catu daya dari sumber tegangan rendah (V) akan mengeluarkan
elektron secara termal. Elektron-elektron ini selanjutnya dipercapat oleh tegangan tinggi
(HV) yang timbul antara anoda dan katoda, sehingga mereka memperoleh energi kinetik yang
sangat besar. Pada saat menumbuk anoda, elektron-elektron ini akan melepaskan energi
kinetiknya. Sebagian kecil dari energi tersebut berubah menjadi energi gelombang
elektromagnetik yang kita sebut sinar-X, sedangkan sebagian besar dari energi kinetik itu
berubah menjadi panas yang menumpuk pada anoda.
2. Difraksi Sinar-X
Difraksi adalah peristiwa terhamburnya gelombang oleh adanya suatu gangguan
(misalnya kisi), diikuti oleh hamburan ke segala arah yang mengakibatkan timbulnya
penguatan dan pelemahan pada kondisi tertentu.
Difraksi sinar-X merupakan proses hamburan sinar-X oleh bahan kristal. Pada arah
tertentu, gelombang hamburan ini akan mengalami interferensi konstruktif (saling
menguatkan), sedangkan pada arah yang lain gelombang hamburan ini dapat mengalami
interferensi destruktif ( saling melemahkan). Dengan menganalisa pola difraksi dan
interferensi yang dihasilkan, maka dapat diketahui keteraturan letak atom-atom dan struktur
zat padat.
Teori difraksi sinar-X dikembangkan oleh Sir Willian H. Bragg pada tahun 1913, yang
kemudian sampai saat ini dikenal sebagai Hukum Bragg. Hukum Bragg menjelaskan bahwa
suatu kristal memiliki susunan atom yang teratur dan berulang, memiliki jarak antar atom
yang ordenya sama dengan panjang gelombang sinar-X. Akibatnya, bila seberkas sinar-X
ditembakkan pada suatu material kristali, maka sinar tersebut akan menghasilkan pola
difraksi yang khas. Pola difraksi yang dihasilkan sesuai dengan susunan atom pada kristal
tersebut.

AB= 2d sin = n
(persamaan Bergg)

Gambar 3. Difraksi dari bidang Kristal


(Gauteau, Buku Fisika Modern Edisi Kedua, 2006)
Menurut pendekatan Bragg, kristal dapat dipandang terdiri atas bidang-bidang datar
(kisi kristal) yang masing-masing berfungsi sebagai cermin semi transparan. Jika sinar-X
dengan panjang gelombang ditembakkan pada tumpukan bidang kristal dengan jarak d,
maka beberapa akan dipantulkan oleh bidang tersebut dengan sudut pantul yang sama dengan
sudut datangnya (), seperti yang diilustrasikan dalam Gambar 3. Berkas yang dipantulkan
memperkuat. Agar ini dipenuhi, jarak tambahan yang harus ditempuh oleh berkas yang
dipantulkan oleh tiap bidang berikutnya (atau selisih jarak) harus sama dengan bilangan bulat
dikalikan panjang gelombang n. Persyaratan pemantulan dan saling memperkuat menjadi :
AB= 2d sin = n (persamaan Bergg)
dimana, = panjang gelombang sinar-X
d = jarak antar kisi kristal
= sudut datang sinar
n = 1, 2, 3, dan seterusnya adalah orde difraksi.
Persamaan Bragg tersebut digunakan untuk menentukan parameter sel kristal.
Sedangkan untuk menentukan struktur kristal, dengan menggunakan metoda komputasi
kristalografik, data intensitas digunakan untuk menentukan posisi-posisi atomnya.
3. Difraksi Sinar-X Serbuk
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan kristalin,
adalah metoda difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder diffraction). Sampel berupa serbuk
padatan kristalin yang memiliki sejumlah besar kristal kecil dengan diameter butiran
kristalnya sekitar 10-7 10-4 m ditempatkan pada suatu plat kaca dalam difraktometer seperti
terlihat pada Gambar 5.

Gambar 4. Skema difraktometer sinar-X serbuk.


(Sumber: Rolan Rusli, 2017)
Tabung sinar-X akan mengeluarkan sinar-X yang yang difokuskan sehingga mengenai
sampel oleh pemfokus, detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk merekam pola
difraksi sinar-X.
Pola difraksi yang dihasilkan berupa deretan puncak-puncak difraksi dengan
intensitas relatif yang bervariasi sepanjang nilai 2 tertentu. Besarnya intensitas relatif
puncak dari deretan puncak tersebut bergantung pada jumlah atom atau ion yang ada, dan
distribusinya di dalam sel satuan material tersebut. Pola difraksi setiap padatan kristalin khas,
yang bergantung pada kisi kristal, unit parameter, dan panjang gelombang sinar-X yang
digunakan. Dengan demikian, sangat kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi yang sama
untuk suatu padatan kristalin yang berbeda.

Gambar 5. Pola Difraksi Sinar-X Serbuk


(Sumber: Rolan Rusli, 2017, )
4. Manfaat Difraksi Sinar-X
- Mengukur rata-rata jarak antara lapisan-lapisan atau baris pada atom-atom.
- Menentukan orientasi kristal tunggal (single crystal) atau butir.
- Menentukan struktur kristal dari material yang tidak diketahui.
- Menentukan derajat kekristalan.
- Menentukan ketebalan lapisan tipis.

Referensi
Gauteau, Ronald dan Willian Savin. 2006. Fisika Modern Edisi Kedua. Jakarta: Erlangga.
Kardiawarman. 1996. Sinar-X. Bandung: IKIP Bandung.
Kamajya. 2006. Fisika Untuk Kelas XII Semester 1 Sekolah Menengah Atas. Bandung:
Grafindo Media Pratama.
Rusli, Rolan. Difraksi Sinar-X. http://rolanrusli.com/difraksi-sinar-x/. Diakses pada tanggal
15 Mei 2017.
Smallman dan Bishp. 2000. Metalurgi Fisik Modern dan Rekayasa Material. Jakarta:
Erlangga