p~ ~ N~ H~ N~ ~ ~ XKt2.

15~1410-f6g6

KARAKTERISASI KRIST ALINIT AS BAHAN KRIST ALIN

DENGAN DIFRAKSI SINAR-X

Sugondo clanMuchlis Badruzzaman s~

P2TBDU- BATAN; Kawasan Puspiptek. Serpong-Tangerang

ABSTRAK
KARAKTERISASI KRISTALINITAS BAHAN KRISTALIN DILAKUKAN DENGAN DIFRAKSI SINAR.X. Sampel yang digunakan
adalah pasir silikon dan slag tembaga. Pasir silikon digunakansebagai bahan ampelasdan slag t'3mbaga diusulkan sebagai penggantipasir
silikon. Analisis unsur menunjukkankandunganlogam yang dinyatakansebagaioksida SiO2 23"10,AI203 2,27"10, dan Fe203 63"10.Sedangkan
dari analisis kristal secara kwalitatifdiperoleh SiO2+ FeO + CU20di dalam pasir silikon dan SiO2di dalam slag-tembaga.Hasil karakterisasi
kristalinitasdiperolehbahwa derajatkristalinitassebesar4,68"10
dimilikioleh slag tembaga,sedangkanpasir silikon derajattersebutsebesarhampir
100 "10. Kristalinitasdihitung dengan perbandinganintensitas difraktogramkrista! terhadap intensitastotal difraktogrampacta sudut Bragg 26
antara20 sampai38. Dari derajatkristalinitastersebutbisa didugabahwaslag tembagajauhlebih Iunakjika dibandingdenganpasirsilikon.

ABSTRACT
THE CRYSTALLINITYCHARACTERIZATIONOF CRYSTALLINEMATERIALSWAS CONDUCTEDBY AN X-RAY DIFFRACTION.
The analized samples were silicone sand and copperslag. The silicone sand is used as an abr,lsive and the copper slag was supposedto
replacethe siliconesand. Basedon the chemicalanalizes,the copperslag was composed by the oxides of SiO223%, AI2032.27%, and Fe203
63%. Meanwhile,from the crystal analyzes it was composedqualytativelyby just only Sia2 in the oopperslag. The results of the crystallinity
characterizationwas found thatthe degree of the crystallinitywere 4.68%for copperslag andthe siliC()nesand almost100%. The crystallinitywas
computedby the ratio of the crystal intensityto the total intensity of a diffractogramat Bragg anglerange in between200 and 38. Based on the
degree of the crystallinity,it was predictedthat the copperslag was far softerthan the siliconesand

PENDAHULUAN

Kristalinitas adalah banyaknya kandungan
kristal di dalam suatu bahan kristalin. Contoh bahan
tersebut adalah polimer, seramik, dan batuan. sifat fisis,
elektris, daD mekanis bahan kristalin berkorelasi dengan
kristalinitas. Seperti pacta kain berumur 133 tahun
terendam dalam laut mempunyai kristalinitas lebih
rendah jika dibanding dengan kain barn yang direndam
dalam air laut selama tiga bulan [3]. Holtou, J. et. al.,
1994 menyatakan adanya korelasi antara komposisi
polimer, titik leleh, dan tekanan luluh dengan
kristalinitas untuk bahan vinilidien fluorida (VOF)
polimer[5]. Korelasi kristalinitas dengan sifat luluh juga
telah dipelajari oleh Seguela, R., 1994 [9]. Oi samping
itu juga berkorelasi dengan laju ulur dan suhu proses
cetak-tekan kopolimer polietilen dan etilen. Perubahan
berat terhadap suhu dikemukakan oleh Alice, Ng.C.,
1994 bahwa sampel dengan kristalinitas tinggi
mengalami perubahan berat cukup berarati dengan suhu
pacta bahan nilon [1]. Pengkerutan sol-gel titania
berhenti pacta tingkat kristalinitas tel'tentu [8].
Kristalinitas bisa ditingkatkan dengan proses ani ling, hal
ini telah dibuktikan pada film tembaga-indium [4].
Mengingat fakta di atas perlu karakterisasi
bahan kristalin yang kemungkinan mengandung rasa
amorf.
Kristalinitas bisa ditentukan dengan berbagai
metoda antara lain: (I). Difraksi sinar-x (XRD)
berdasarkan pola spektrum difraksi kristal daD amorf.
(2). Densitas yaitu perbedaandensitas eksperimental daD
densitas teoritis yang kemudian dibandingkan dengan
standard. (3). Panas diferensial (DSC) yaitu
membandingkan panas peleburan sampel dengan standar.
(4). Resonansi magnetik inti (NMR), yaitu
membandingkan resonansi sampel dengan standar. (5).
Infra merah (IR), yaitu membandingkan pola spektrum
infra merah sampel denganstandard.
Dari beberapa metoda tersebut yang dipilih di
sini adalah difraksi sinar-x sebab mempuyai beberapa
keuntungan antara lain: (1). Pola difraksi berdasarkan
kisi kristal sehingga hasilnya lebih akurat. (2). Preparasi
cuplikan sederhana. (3). Pengukuran lebih cepat, jika

~, 2SA~ 1111 73

~
 ~~ ~~~~T~~~-X
~ .l;r H~ ~
pengukuran rutin bisa dalam orde menit. (4). Bisa
ditentukan tanpa stadar.
Atom dalam bahan amorf tidak tersusun secara
teratur seperti dalam bahan kristalin. Ketidakteraturan
sistem atom tersebut menyebabkan difraktogram Iebar
(halo) pada sudut Bragg kecil yaitu antara 5 sampai
dengan 40. Sebaliknya bahan kristalin mempunyai
puncak difraktogram pada sudut Bragg tertentu.
Kristalinitas didetinisikan sebagai fraksi berat
kristalin dalalm suatu bahan. Semakin teratur susunan Kristalinitas = (fraksi luas kristalin)/(fraksi luas
atom dalam bahan, semakin tinggi tingkat kristalin + luas fraksi
kristalinitasnya. Panjang dan sudut ikatan suatu bahan
menghasilkan distribusi densitas yang sebanding dengan 3. Berdasarkan Gambar-l.c., dengan metoda
posisi dan intensitas difraktogram. Dengan demikian pengurangan hamburan cacah latar trapesium,
jumlah integral puncak dan halo adalah konstan. perhitungankristalinitassebagaiberikut:
Selanjutnya kristalinitas dapat dihitung dari
perbandingan luas puncak terhadap luas kristal (halo + PersenKristalinitas ='IOO{IJ(Ic+KI.)}.
puncak).
Oari kriteria tersebut di atas maka timbul Keteranl!an:
beberapa metoda perhitungan kristalinitas. Kelebihan Ic = intensitasdifraksi kristal
dan kekurangan masing-masing metoda tidak diuraikan I. = intensitasharnburanamort
di sini. Pemilihan metoda tergantung dari difraktogram K = konstantadianggapsatu
yang diperoleh dari percobaan dan prasarana yang
mungkin bisa dilakukan. Sebagian metoda perhitungan
tersebut dirangkum oleh (Kaelb1e,E.F., 1967). :;-30
~
~20
Metoda perhitungan derajat kristalinitas ~

denganpola difraksi sinar-x iG: 10

: Backgraundscattering .
I. Berdasarkan Gambar-l.a., dari difraktogram bisa
.,
,.. ..
8 12 " 2:; ~ 28 32 36
dihitung kristalinitas dengan formula perhitungan
X-ray diffraction angle (20)
sebagaiberikut:
Gambar-1c: Contoh difraktogram untuk perhitungan
(W. /WI:) = K {I. /(1100
+1200)} kristalinitas dari bahan polietilen tereftalat

Keterangan: 4. Berdasarkan Gambar-l.d., dengan

W. = fraksi beratamorf Wb= fraksi beratkrista! perbandingan tinggi puncak maka kristalinitas
I. = intensitasamorf Ihkl= intensitaskristal sebagaiberikut:
K =Konstanta(I/Ic) padaJCPDSataudianggapsarna
dengansatu Kristalinitas = I -Tinggi puncak kristal
dibagi tinggi puncak total
2. BerdasarkanGambar-l.b., hamburanamort melebar
di bawah puncak kristal, dengan perhitungan sebagai
berikut:
I

.~ .~
~ ~
..
OJ

~ :s

14. I' 18. ZO' 22. 24. 26. 28' ]0'

OififactlM o-.lt 1281
Gambar-1a: Contoh difraktogram untuk perhitungan Gambar-1d: Contoh difrakto~vam untuk perhitungan
kristalinitas dari bahan polipropilen kristalinitas dari bahan rayon

74 ~I 2SA~ 1111
 ~ ~ K..t ~ ~ T~ ~ ~-X
~ k.. H~ g..~.

S2 ds = faktor volume: yang ditentukan oleh 2 sin 8/A, A

5. Berdasarkan Gambar-l.e., dengan standar amorf dan adalah panjang gelomtlang dalam A 0
kristal maka cuplikan bisa dibandingkan dengan
formula sebagai berikut: TATA KERJA
1. Preparasi Cuplikan
Kristalinitas = (Iu -I.) / (Ie -I.)
Sampel diterima berupa granular berukuran < 2
rom. Sebagian granular dihaluskan dengan "Mirko
Keterangan Mill". Serbuk yamg diperoleh diayak sampai melewati
Iu adalah intensitas sarnpel ayakan 325 mesh (45 ~m). Preparasi serbuk ini sesuai
Iaadalah intensitas amorf dengan ASTM 0934.80. Selanjutnya serbuk dicetak
Ic adalah intensitas kristal

.
tekan pada tempat cuplikan difraktometer.

2. Instrumen
Amorphoul I.-I. Instrumen yang digunakan adalah
.tan.ard
.\
1;::.
~ Difraktometer sinar-x Schimatzu dengan generator
berkapasitas 1300 W untuk mensuplai power tabung
.. ",1Iir ~)
sinar-x bertarget tembaga. Sinar-x yang dihasilkan
t,'j ~
~ .."
1 """~
\'~
f" -f. dilewatkan filter melalui slit 1 selanjutnya sinar
i;,
,. terdifraksi dilewatkan :;Iit 0.2. Pulsa yang diperoleh di
".- Unknown proses dalam suatu analisator dan akhimya menghasilkan
;';:;"CryJtalline difraktogram berabsis sudut Bragg (28) dan berordinat
.tandard
intersitas (I). Interval sudut Bragg difraktogram antara
X-ray diffraction ang~ (20) 5 sampai dengan 70
Gambar -1 e: Contoh difraktogram untuk perhitungan
kristalinitas dari bahan pofietilen tereftalat
3. Scanning Cuplikan
Cuplikan diskaning pada interval sudut Bragg
Metoda tersebutmasihrelevansampaisekarang (20) antara 5 (d = 17,673 A O)sampai dengan 20 90 ( d
= 1,0902 A O) dengan laju skaning = 0.2 o/detik. Sinar-x
walaupun mengalami perubahan dalam hat
komputerisasi. Seperti yang ditunjukkan oleh dari target Cu berpanjang gelombang (A.)= 1.5405 AO.
Andrew,M.W., 1986denganformulasi[8] :
HASIL DAN PEMBAHASAN
Kristalinitas = (Itensitas total Intensitas Pasir silikon
amort)/Intensitas total Difraktogram pasir silikon mempunyai 13
i
puncak, Gambar-2 dan Tabel-l, pada interval 28 antara
Sedangkan James,M.R., 1986 menghitung 10 sampai dengan 70. Tiga puncak berintersitas
,
denganfonnula [6] : dominan pada 28 = 26.464 ( d = 3.3651 AO); 28 =
!
50.008 ( d = 1.8223 AO); dan 28 = 20,693 ( d = 4.2886
Kristalinitas = Intensitas kristal/Intensitas total A O). Dari difraktogram SiO2 standar JSPDS ketiga
puncak tersebut terletak pada 28 = 20.836 ( d = 4.2535
Jika dinyatakan dengan formula matematis adalah AO); 28 = 26.646 (d = 3.3422 AO); dan 28 = 50.170 (d
sebagaiberikut: = 1.8177 A O). Perbedaan posisi sudut Bragg
oX)
difraktogram standar dengan sampel dari ketiga puncak
f S2 I cRds tersebut secara berurutan sebagai berikut 0,182
XCR
-0
-oX)
(0.683%); 0.162 (0.323%); 0.143 (0.686%).
Perbedaan tersebut terlihat pada himpitan
fS2/ds puncak difraktogram sampel dengan standar pada
0
Gambar-2.b. Walaupun demikian fakta tersebut sudah
bisa digunakan untuk memutuskan bahwa di dalam pasir
silikon terdapat mayoritas kristal SiO2 ( d -kwarsa).
Keterangan Jika dibandingkan dengan puncak difraktogram
XCR= fraksi berat kristalinitas
FeO yang mempunyai t~a posisi puncak utama pada 28=
ICR = intensitas koheren kristalin
f = faktor hamburan 41,9916 (d=2, 15 A O); 28= 40,4630 (d=2,49 A O) dan
0 = konstanta disorder Ruland 28= 66,2846 (d= 1,52 A O) bisa dikatakan berhimpitan
dengan puncak difraktogram pada 2(;)= 42,314

~, 2S"
A~ 1111 75

IDd."
~
 ~~ ~~~~T~~~-X
~ ; H~ g..,l.~.
(d=2,4668 AO); 28 = 42,314 (d=2,1341 AO); dan 28 =
59,779 (d=I,5457 AO) dengan demikian maka sampel
mengandung kristal CU20.

SIal! tembal!a
Tabel 2: Data analisis spektrum difraksi sinar-
x slag tembaga dengan target Cu. Gambar-3: (a)
Spektrum difraksi sinar-x slag-tembaga dengan target
Cu. (b). Himpitan puncak spektrum Cu-slag dengan
standar SiO2 dan Fe304. (c). Puncak spektrum standar
SiO2. (d). Puncak spektrum standar Fe304 (JCPDS 19-
629).

,'oJ..., I I , ! !"I,I-

(a)
Unknown
Profile
~~4~ ~
..1 1 1 ..'.I I..I: J..

Unkonown
Gambar-2: (a) Difraktogram difraksi sinar-x pasir silikon ~
~
peaklines
dengan target Cu. (b). Hompitan puncak difraktogram .~
pasir silikon dengan puncak difraktogram c~
standar SiO2. (c) Puncak difraktogram
standar JCPDS SiO2
,
~
... .lIi
(b)

Standard
peaklines
Tabel1 Data analisis spektrum difraksi sinar-x Si-Sand I' ',"I.""r'.""'" ..:. ".I:... '.'J ." '.J"""",!
denQan tarq~ Cu. 'I If If ..111"~
L"""":""i'.'\'."."""'."'.~ IJ -..J. (c)
I , S,02 peaks

1: A ..77
[_11J_11.1-
5 .0490

(d)
FeJO.peaks
2: A -38
Diffr4lctionaJI!:1e
(29) 19-829

Gambar-3: (a). Spektrum difraksi sinar-x Cu-slag

Jika dibandingkan dengan puncak standar CU20
(cuprite) yang mempunyai tiga puncak utama pada 28 =
40,7906 (d=2,47 AO); 28= 47,0806 (d=2,14 AO); dan
28= 66,7236 (d= 1,51A O) puncak tersebut berhimpitan
dengan puncak difraktogram pada 28 = 36,389
76 ~I
dengan target Cu. (b) Himpitan puncak spektrum Cu-slag
dengan puncak spektrum standar SiO2 dan Fe304 (c).
Puncak difraktogram standar SiO2 dan Fe304.
2SA~ 1111
 ~ ~ g..t ~ ~ T~ ~ ~-X
~.l H~~~.
Tabel2. Data analisis spektrum difraksi difraksi sinar-x
Cu-slaa denaan t~raet Cu. Senyawa Kandungan Metoda
%
Peak 2e d 1/1, SiO2
Nn deg Ao Al203 ~ AAS
Fe203 ~ Titrimetri
43.62 n.07 ~ 48 TiO2 ~ Spektrofotometri
2 42.47 2.51
.13 I 45 CaD ~ ~~ AAS
3
4
5
6
7
35.90
~
34.01
~
~
rr83
~
2.50

2.71
~
,
49

38

67
69

87
K20
Na20
MnO2
Cr203
Cu
~
~
~~~
AAS
AAS
AAS
AAS
AAS
AAS
I

32.49 2.76 67 Cd ~ AAS

8 Si
31.32 77 ~- AAS
9
31.31 ~
~~

~M
Ni ~ AAS .I
10 ~I 2.99 Zn O,QL AAS
II
12 29J"j 3.04 64 Perhitun~an persenkristalinitas
13 27.93 ~ 64

14 27.08 ~ 58
~! 78
15
16 -w:ss- ~ 4.25 50
Halo difraktogram slag tembaga terletak pada
interval 28 antara 20 sampai dengan 38. Keluaran
analisis komputer memberikan puncak difraktogram
sebanyak 16 puncak. Tetapi puncak no 6 sampai dengan
no 14 tidak mempunyai lebar puncak setengah
maksimum (FWHM), seperti terlihat pada Tabel 2
Puncak-puncak tersebut berada di daerah halo yang
merupakan puncak subkristalit. Pada daerah halo juga
terjadi hamburan dari rasa amorf. Dengan demikian
pelebaran puncak pada halo merupakan sumbangan dari
subkristalit dan rasa amorf.
Puncak difraktogram SiO2 standar dihimpitkan
dengan difraktogram sampel. Hasil himpitan terlihat
pada Gambar-3.b. Beberapa puncak sampel berhimpitan
dengan puncak standar. Ketiga puncak utama standar
SiO2 yaitu pada puncak 28 20,838 (d=4,2535 A O);
28=26,646 (d=3,3422 AO) dan 28=50,170 (d=I,8177
A O) berhimpitan dengan puncak sampel pada 28=20,693
(d=4,2886 AO); 28= 26,464 (d= 3,3651 AO); dan
28=50,008 (d= 1,8223 AO). Dari fakta tersebut dapat
diambil kesimpulan bahwa dalam slag tembaga terdapat
kristal SiO2.
Puncak difraktogram sampel juga dibandingkan
dengan puncak standar Fe304. Ketiga puncak utama
difraktogram tidak berhimpitan dengan puncak
difraktogram sampel. Maka dari fakta ini bahwa sampel
tidak mengandung kristal Fe304.
Dari analisis kimia diperoleh unsur yang
dinyatakan sebagian dalam oksida yang mayoritas
mengandung senyawa sebagai berikut: SiO2 23%, AI2O3
2,27%, dan Fe20363% (Tabel 3)
Si-Sand
Dari Gambar 2.a. terlihat bahwa difraktogram
Si-sand tidak terdapat halo (puncak lebar) pada sudut
rendah dan juga sudah diterangkan pada paragraf
sebelumnya bahwa halo terbentuk dari senyawa amorf.
Dengan demikian bahwa Si-sand hampir tidak
mengandungsenyawa amorf, sedangkan kandungan
kristal dinyatakan dengan istilah kristalinitas yaitu
perbandingan antara fraksi berat kristal dengan fraksi
berat amorf. Dengan demikian maka kristalinitas Si-
sand bisa dikatakan 100%.
Slag Tembaga
Kristalinitas dihitung dari perbandingan luas
puncak kristal terhadap luas puncak total ( Kristal +
amorph). Luas tersebut dihitung dengan pendekatan luas
segitiga. Pendekatan ini memang menimbulkan koreksi
yang besar tetapi pendekatan ini sederhana clan mudah
dimengerti. Perlu diketahui bahwa perhitungan tersebut
sifatnya relatifbukan absolut.
.Puncak kristal yaitu puncak pada sudut 20.847;
26,618; 33,004.
.Hamburan amorph mulai dari sudut 20 sampai
dengan38
.Metoda perhitungan mengikuti perbandingan luas
puncak kristal terhadap luas puncak total (kristal +
amorph) yaitu metoda III.
.Perhitungan luas denganpendekatan segitiga.
.Keterangan: indek "I"; "2"; "3" adalah puncak
pertama, kedua dan ketiga sedangkan indek "a"
adalah pengganti amorph. "t" adalah tinggi segitiga,
"L" ialah alas segitiga, clan "A" adalah luas segitiga
atau luas puncak.
1. Luas Hamburan
ta = 20 dan La = 115 maka Aa = 57.5 X 20 = 1150

Tabel3: Data analisis kimia slag-tembaga

~, 2SA~ 1111

~
-Gravimetrl
 ~~ ~~~T~~~-X
~~H~~~.

2. Luas puncak-1 ray Diffraction, Advances in X-ray Analysis, Vol

tl = 14 dan Ll =4 makaAI =2 x 14 =28
3. Luas puncak-2
t2= = 12 dan L2 = 3 maka A2 = .Sx 12= 18
4. Luas puncak-3
t3 = 7 dan L3 = 3 maka A3 = 1.5 x 7 = 10.5
Totalluas puncakkristal = 56.5
Totalluas puncakkristal danamorph= 1206.5
Jadi % kristalinitas slag tembaga = 56.5/1206.5=
4.68%
Dari perhitungan diperoleh persentasi
kristalinitas slag tembaga sebesar4.68%. Sehingga
dapat dikatakanbahwa Cu-slag bukan senyawakristal
melainkansenyawaamorph.
KESIMPULAN
I. Si-sandtersusunmayoritasdari SiO2 dan penyusun
minoritas adalah FeO dan CuzO kristal degan
kristalinitashampir100%.
2. Cu-slaghanyamengandungsedikit kristal SiO2 dan
kemungkinanada kristal Fe304 dengankristalinitas
sebesar4.68%.
DAFTARPUSTAKA
Alice,Ng.C.W., Bellinger,M.A., dan
[1].
Machknight,W.J., Macromolecules,Vol 27 (23),
7 Nov. 1994,haI6942-6947.
Andrew, M.W. et. al., ComputerCapability for
the Determinationof PolymerCrystallinity by X-
29, Plenum Press,New York, 1986, hal 281-290.
{3]. Foreman,D. W. daD Jones,K.A., X-ray
Diffractometric Measurement of Microcystallite
Size, Unit Cell Dimensions, and Crystallinity:
Application to Celluloic Marine Textiles, Textile
ResearchJournal V63, 8 Agustus 1993, hal 455-
464.
[4]. Guillen,C. daD Herrero,J., Journal of
Electrochemical Soc., Vol 141, I January 1994,
hal225 -230.
[5]. Holtou, J., Bolmer,M. daD Schlinguer, B.,
Estimating Pipe Burst Properties of VDF Based
resins, Proceedings of the 52nd Annual Technical
Conference ANTEC 1994 Part3, Soc. of Plastics
Engineers, Brookfield, CT, USA, haI3377-3381.
James,M.R. dan Anderson, D.P., Detennination
of Crystallinity in Graphite Fiber-Reinforced
Thennoplastic Composites, Advances in X-ray
Analysis, Vol. 29, Plenum Press, New York,
1986, haI291-303.
[7J. Kaelble,E.F., Hanbook of X-ray, Mc Graw Hill,
New York, 1967, ha121.5 -21.10.
[8] Keddie, J.L., Braun,P. V., daD Giannlis, E.P.,
Interrelationship Between Densification,
Crystallization, and Chemical Evolution in Sol-
Gel Titania Thin Film, Journal of the American
Ceramic Soc., Vol. 77, 6 June 1994, hal 1592-
1596.
[9] Seguela,R. daD Dorras, 0., "Phenomenological
Aspects of the Double Yield of Polyethylene and
Related Copolymers Under Tensile Loading",
Journal of Materials Science, Vol.29 (20), 15 Oct.
1994, hal 5342-5352.

78 ~, 2SA~ 1'i'i'i

Ke Daftar Isi

[6].
[2].