DIFRACCIN DE RAYOS X EN MUESTRA

POLICRISTALINA

La Difraccin de Rayos X est basada en las interferencias pticas

que se producen cuando una radiacin monocromtica atraviesa una
rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiacin.

Los Rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo

orden que las distancias interatmicas de los componentes de las
redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los
Rayos X se difractan con ngulos que dependen de las distancias
interatmicas.

El mtodo analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherer consiste en

irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de
cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello
es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d . sen, en la que d es la
distancia entre los planos interatmicos que producen la difraccin.

La difraccin de rayos X es una tcnica muy verstil para el anlisis

cualitativo y cuantitativo de compuestos cristalinos. La informacin
obtenida incluye tipos de fases cristalinas, estructura de las mismas,
grado de cristalinidad, cantidad de contenido amorfo, tamao y
orientacin de cristales, etc.

Aplicaciones de la difraccin de rayos X

La difraccin de rayos-x es un mtodo de alta tecnologa no
destructivo para el anlisis de una amplia gama de materiales, incluso
fluidos, metales, minerales, polmeros, catalizadores, plsticos,
productos farmacuticos, recubrimientos de capa fina, cermica y
semiconductora.
 La aplicacin fundamental de la Difraccin de Rayos X es la
identificacin cualitativa de la composicin mineralgica de una
muestra cristalina

Otras aplicaciones son el anlisis cuantitativo de compuestos

cristalinos, la determinacin de tamaos de cristales, la determinacin
del coeficiente de dilatacin trmica, as como clculos sobre la
simetra del cristal y en especial la asignacin de distancias a
determinadas familias de planos y la obtencin de los parmetros de la
red.

Qu informacin nos da la DRXP?

La difraccin de rayos en muestra policristalina permite abordar la
identificacin de fases cristalinas (puesto que todos los slidos
cristalinos poseen su difractograma caracterstico) tanto en su aspecto
cualitativo como cuantitativo. Los estudios de polimorfismo,
transiciones de fase, y soluciones slidas, medida del tamao de
partcula, determinacin de diagramas de fase, etc., se realizan
habitualmente por difraccin de rayos X.

En algunos casos, es interesante realizar el estudio de la evolucin

trmica de los difractogramas (termodifractometra) para conocer la
evolucin de la cristalinidad de la muestra, caracterizar los procesos
de descomposicin trmica, los cambios de fase que tienen lugar, etc.

Descomposicin trmica de una fase cristalina

Como ya hemos mencionado, toda fase cristalina presenta una huella
dactilar, que es su diagrama de difraccin. Pero, qu sucedera si
esa fase sufre un cambio de su estructura cristalina o en su
composicin qumica? Como es lgico, su huella dactilar cambiar, ya
que estn cambiando aspectos importantes que definen su diagrama
de difraccin.
Este hecho puede ser utilizado para analizar aspectos tales como la
estabilidad trmica de una fase. Veamos, como ejemplo, un estudio
termodifractomtrico (TDX) de una fase que tiene la siguiente frmula:
(C4H12N2)1.5 [Fe3(HAsO4)2(AsO4)F5]. Para llevar a cabo este
estudio se realizan diagramas de difraccin a diferentes temperaturas
(en nuestro ejemplo cada 15C). Posteriormente se representan de
forma ordenada y consecutiva.

Como podemos observar en la figura, la fase permanece inalterada al

aumentar la temperatura hasta 240C, ya que los mximos de
difraccin no varan su posicin ni su intensidad. Por encima de 240C
los mximos comienzan a perder intensidad, hasta llegar a
desaparecer a 285C.
Adems:

Entre 285C y 525C, se obtiene un compuesto amorfo (no existen

mximos de difraccin), lo que indica la destruccin de la estructura
cristalina de la fase inicial.

Entre 525 y 595 C, se produce una reordenacin de los tomos que

forman el compuesto amorfo para generar una nueva fase cristalina: el
arseniato de hierro Fe (AsO4) que cristaliza en el sistema trigonal.
Esta nueva fase ha sido identificada a partir de la posicin e intensidad
relativa de sus mximos de difraccin (ver prctica "Identificacin de
Materiales Cristalinos. Prctica guiada").

A partir de 595 C comienzan a aparecer otros mximos de difraccin

correspondientes a una nueva fase, identificada como otro arseniato
de hierro de la misma frmula que el anterior, Fe (AsO4), pero que
cristaliza en al sistema monoclnico. La generacin de esta nueva fase
de realiza a costa de la desaparicin del anterior arseniato de hierro
trigonal.

Bibliografa:

http://www.ehu.eus/imacris/PIE06/web/DRXP.htm

http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/parte_05.html

https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf

https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-de-rayos-
x/difraccion-de-rayos-x.html