Universidade Federal do Esprito Santo

Centro de Cincias Exatas

Colegiado de Curso de Fsica

MONOGRAFIA DE FINAL DE CURSO DE GRADUAO

PROJETO DE MONOGRAFIA

Uma introduo aos raios X.

Orientador: Prof. Dr. Marcos Tadeu DAzeredo Orlando

Aluno: Carlos Alberto Rosa Neto

Vitria/ES
2016

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 1. INTRODUO

1.1 Histrico

Muitos experimentos com raios catdicos foram desenvolvidos desde a descoberta dos
mesmos em 1876 pelo fsico ingls, Sir William Crookes, e neles eram utilizados tubos de
vidro evacuados, com filamentos eltricos aquecidos submetidos a grandes diferenas de
voltagem que geravam luminosidade atravs da acelerao de eltrons. Esses tubos
eram chamados de tubos ou ampola de Crookes e hoje mais conhecido por tubo de
raios catdicos.

Em 1895, O fsico alemo Wilhelm Conrad Roentgen (1845-1923), observando a

conduo de eletricidade atravs de um tubo de Crookes (Tubo de Vcuo), verificou que
nas proximidades desse tubo havia uma tela coberta de platinocianeto de brio onde se
projetou uma luminosidade causada pela fluorescncia do material. Movendo a tela para
ambos os lados do tubo de Crookes o fenmeno da fluorescncia ainda ocorria, ao
colocar suas mos em frente ao tubo pde ver seus ossos projetados na tela de
platinocianeto de brio, e a partir desse experimento foi observado, pela primeira vez,
aquilo que passou ser chamado de raios X. A descoberta de Roentgen foi o primeiro
resultado significativo da fsica quntica. [4,13,14]

Roentgen investigou exaustivamente o fenmeno dos raios X e seus resultados so

apresentados em 18 tpicos, muitos dos quais contendo um nico pargrafo, ao longo
dos quais ele discute praticamente todas as propriedades fundamentais dos raios X
[13,14]. Desses tpicos foram definidas as seguintes propriedades. Em primeiro lugar, os
raios X so invisveis aos nossos olhos e somente podem ser detectados atravs de
cintilaes numa tela fosforescente, ou de impresses numa chapa fotogrfica.
Diferentemente dos raios catdicos, os raios X podem ser observados mesmo quando a
tela colocada a certa distncia do tubo de vcuo. Seguindo seus estudos, testou a
transparncia de uma quantidade enorme de materiais, verificando que duas
propriedades so importantes: a densidade do material e a espessura; quanto mais denso
e mais espesso, menos transparente. [13,14]

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Depois de testar a transparncia, Roentgen investiga efeitos de refrao, reflexo e
interferncia normalmente associados a ondas. No observa nem um nem outro. Logo
aps tenta defletir os raios com o auxlio de um campo magntico, mas sem sucesso, foi,
portanto estabelecido uma das diferenas fundamentais, do ponto de vista experimental,
entre os raios X e os raios catdicos, pois estes so facilmente defletidos por um campo
magntico. Considerando as observaes experimentais dos raios estudados por
Roentgen, ele os batizou com o enigmtico nome de raios X. Todas as observaes
propostas fizeram com que os raios X comeassem a serem usados na medicina alguns
meses aps a publicao do primeiro artigo de Roentgen.

DIFRAO:
Por se tratar de raios de luz, todas as propriedades da luz eram previsveis, a saber:
difrao, reflexo, fluorescncia, absoro e interferncia. Em destaque, o estudo da
difrao dos raios X em cristais se deu com Laue a partir de 1912, quando este cientista
esteve discutindo aspectos da propagao da luz em cristais com P.P. Ewald, que estava
desenvolvendo sua tese de doutorado sobre o assunto. Chamou a ateno de Laue o
modelo terico de Ewald para os cristais, que consistia em pequenos osciladores
espaados periodicamente em trs dimenses, com distncias da ordem de 10-8cm. [1]

Dos experimentos de Roentgen, Laue sabia que o comprimento de onda dos raios X era
dessa ordem (10-8 cm). Logo, um cristal serviria como uma grade ideal para a difrao dos
raios X. Experimentos foram feitos para detectar o fenmeno, e em 1912 Laue conseguiu
obter o primeiro diagrama de difrao, utilizando o sulfato de cobre. Aplicando seus
conhecimentos sobre a difrao da luz por grades de uma e duas dimenses, Laue
formulou uma teoria de difrao de raios X para estruturas tridimensionais (cristais),
obtendo assim o prmio Nobel de Fsica em 1912 [10].

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 1.2 Reviso bibliogrfica

Os raios X so uma forma de radiao eletromagntica localizada entre a radiao

ultravioleta (comprimentos de onda maiores) e os raios gama (comprimentos de onda
menores) no espectro eletromagntico. Tipicamente, suas energias esto na faixa entre
100 eV e 100 keV, apesar de algumas aplicaes industriais e medicinais utilizarem raios
X com energias dessa ordem e 1 MeV. Os raios-X com energias de at 5 keV so
chamados de raios X moles, e com energias acima disso, de raios X duros. Essa radiao
possui comprimento de onda comparvel ao tamanho dos tomos, energia
suficientemente grande para ionizar molculas e ainda tem um grande poder de
penetrao, o que faz com que seu uso seja bem variado tanto do ponto de vista cientfico
quanto aplicado. [1,3]

Os raios X podem ser produzidos em laboratrio pela coliso de um feixe de eltrons com
um alvo metlico [9].O espectro constitudo por uma srie de linhas estreitas, conhecida
como espectro caracterstico, superpostas a um espectro contnuo, tambm conhecido
como Bremsstrahlung [1]. A radiao contnua produzida pela desacelerao dos
eltrons no tomo do elemento alvo [9]. A Figura 1 mostra para quatro valores diferentes
de energia dos eltrons incidentes, como a energia dos raios X emitidos por um alvo de
tungstnio se distribui em funo do comprimento de onda.

Figura 1 - O espectro contnuo de raios X que emitido de um alvo de tungstnio, para quatro
diferentes valores de energia dos eltrons incidentes [2].

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O espectro contnuo apresenta um comprimento de onda de corte min, que depende

apenas da energia dos eltrons incidentes [1,4]. Podemos calcular min atravs da

equao 1, onde constante de Planck, a velocidade da luz e [] a energia dos

eltrons incidentes.
12,4 107
= = (1)
[] []

Um exemplo para aplicao da equao 1 pode ser mostrado para o clculo do

comprimento mnimo do alvo de tungstnio. Onde o valor da tenso [] ser de 40000eV,
assim temos:
12,4 x 107
= = = 0,31
[] 4104

Na Figura 2 mostrado as linhas estreitas (espectro caracterstico). O comprimento de

onda das linhas caractersticas depende do material do alvo e so sempre as mesmas
para um dado material [1]. A intensidade dessas linhas depende da corrente do tubo de
raios X e da voltagem utilizada. Dessa forma o comprimento de onda , corresponde
energia que um eltron pode perder em uma coliso.

Figura 2 - Um espectro de raios X tpico. As linhas so caractersticas dos tomos do anodo do tubo
de raios X (tungstnio no caso acima). O continuo provm do Bremmstrahlung produzido pelos
eltrons acelerados no espalhamento com a eletrosfera desses tomos. [2]

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A produo da radiao baseada na interao entre os eltrons do tomo e a partcula
incidente. O eltron do tomo alvo pode ser removido da sua posio atmica e deixar o
tomo ionizado. O eltron livre chamado fton-eltron que sair do tomo com energia
cintica onde a energia do fton incidente e a energia do eltron ligado.
Quando um eltron da camada L transferido para a camada K ocupando uma vacncia
do nvel, ocorre o efeito de produo de ftons com energia igual a que

chamado de fton de raios X () . A energia dessa radiao dada pela equao 2

[1,2,4]:

= = (2)

onde a constante de Planck e a velocidade da luz. A regio do espectro

eletromagntico que corresponde aos raios X est entre 0,1-100. Em energia est no
intervalo de 0,1-100 keV. A energia de cada nvel varia com o elemento do alvo. Sendo
assim, cada tipo de alvo produz radiaes caractersticas em diferentes comprimentos de
onda. A Tabela 1 mostra alguns detalhes sobre os comprimentos de onda para os
materiais mais utilizados em tubos de raios X.

Tabela 1- Radiao caracterstica dos principais materiais utilizados em tubos de raios X.

Elemento K1 () K2 () K3 ()
Cr 2,2897 2,29361 2,08487
Fe 1,93604 1,93998 1,75661
Co 1,78896 1,79285 1,62079
Cu 1,54056 1,54439 1,39221
Mo 0,7093 0,71359 0,63228

A limitao fundamental no uso de tubos de raios X que intensidade mxima do feixe

est limitada para se evitar o aquecimento demasiado do alvo. A produo de raios X
atravs de tubos no muito eficiente, sendo que a maior parte da energia do feixe de
eltrons incidente se perde na forma de calor. Em parte, isso pode ser resolvido usando-
se alvos giratrios, de forma que o feixe de eltrons no incida em uma nica rea do
anodo. Adiciona-se a ineficincia o fato de que o tubo emite radiao em todas as

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direes, isso reduz em muito a intensidade que atinge a amostra. Alm disso, o
comprimento de onda dado por um tubo de raios X no sintonizvel.

RADIAO SNCROTON
A produo de raios X tambm pode ser realizada atravs de aceleradores de eltrons
(radiao sincrotron). A radiao sncrotron gerada atravs da deflexo de partculas
carregadas com velocidades prximas da velocidade da luz (atingindo energias no
intervalo de 1 a 5 GeV) por meio de campos magnticos. Qualitativamente falando, as
linhas de campo eltrico geradas por essas cargas relativsticas sofrem distores quando
ela acelerada levando a formaes emisso de radiao eletromagntica.

O espectro da radiao produzida por esta fonte vai do infravermelho (10m) at aos
raios X duros (0,1). Sncrotrons de 2 gerao surgiram entre os anos de 1970 e comeo
de 1990 e foram consideradas as 6 primeiras mquinas dedicadas gerao de radiao
atravs da deflexo de partculas carregadas por meio de dipolos magnticos,
denominados de bending magnets, instalados nas sees circulares do anel de
estocagem. Ao final da dcada de 90 surgiram os sncrotrons com capacidades de
produzir ftons de intensidades superiores aos produzidos por um sncrotron de 2
gerao, denominados sncrotrons de 3 gerao. Neste caso, os dipolos magnticos so
utilizados apenas para manter as partculas em uma rbita circulares, com energias de 6-
8 GeV, e dispositivos, denominados wigglers e onduladores, so inseridos nas sees
retas do anel de armazenamento (figura 3). [11]

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Figura 3 - A luz emitida pela deflexo do feixe nos dipolos emitida na direo tangencial trajetria
descrita pelas partculas, formando um leque. Dessa luz emitida, uma parte retirada para ser
aproveitada como instrumento de prova em uma srie de experincias [5,12]

DIFRAO DE RAIOS X
O espalhamento e a consequente difrao de raios X um processo que pode ser
analisado em diferentes nveis. No mais bsico deles, h o espalhamento de raios X por
um eltron. Esse espalhamento pode ser coerente ou incoerente. No espalhamento
coerente, a onda espalhada tem direo definida, mesma fase e mesma energia em
relao onda incidente. Trata-se de uma coliso elstica. No espalhamento incoerente,
a onda espalhada no tem direo definida. Ela no mantm a fase nem a energia ( o
chamado Efeito Compton). A coliso inelstica, e a energia referente diferena entre a
onda incidente e a onda espalhada traduz-se em ganho de temperatura (vibrao do
tomo). [8,10].

Se um feixe de raios X, com uma dada frequncia incidir, sobre um tomo isolado sabe-se
que eltrons desse tomo sero excitados e vibraro, emitindo raios X em todas as
direes com a mesma frequncia do feixe incidente. Quando os tomos esto
regularmente espaados em um reticulado cristalino e a radiao incidente tem
comprimento de onda da ordem deste espaamento, ocorrer interferncia construtiva em
certas direes e interferncia destrutiva em outras. A difrao ocorre na direo onde h
interferncia construtiva. [7]

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Para que as ondas refletidas interfiram construtivamente necessrio que a diferena de
caminho entre os raios (incidente e refletidos), seja um mltiplo inteiro do comprimento de
onda da radiao monocromtica incidente, satisfazendo a condio de Bragg (equao
3) como mostra a Figura 4.

= (3)

Figura 4 Interferncia em nvel planar. Difrao de Bragg para planos paralelos. [1,6,8]

Onde corresponde a um numero inteiro (ordem de difrao) e corresponde

distncia interplanar da estrutura cristalina e o angulo de incidncia dos raios X,

Lembrando que o desvio do ngulo entre o feixe incidente e o refletido de . [1,6,8]

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 1.3 Viso geral

O estudo das propriedades dos raios X permite o desenvolvimento de anlises

sofisticadas e manomtricas em todas as reas das cincias exatas. Exemplos so as
fontes de radiao sincrotrons, que utilizam os efeitos relativsticos para emisso da
radiao polarizada e monocromatizada em vrias energias (raios X moles aprox.. 1keV
at raios X duros aprox.: 80 keV. A Fluorescncia de raios X de alta definio permite
que elementos qumicos presentes numa amostra sejam quantificados em at 1ppm

1.4 Aplicaes tecnolgicas

Os estudos das propriedades dos raios X permitem as seguintes aplicaes tecnolgicas:

1. Estudo de composies dos materiais oriundos de meteoritos.

2. Estudo de novas estruturas cristalinas com novas funcionalidades.
3. Estudo de protenas e suas funcionalidades.
4. Estudo de comportamentos da matria no tempo de femtosegundos.
5. Estudo de imagens de fsseis geradas atravs da tomografia.

2. OBJETIVOS

2.1 Objetivos geral

O objetivo principal o de estudar as propriedades dos raios X, suas potencialidades de

aplicao em novos estudos hoje realizados.

2.2 Objetivos especficos

Estudar as propriedades e caractersticas dos raios X.

1. Estudar a produo de raios X.

2. Estudar as propriedades, em especial a Fluorescncia de raios X.
3. Apresentar um resumo sobre a fluorescncia dos raios X.

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3. METODOLOGIA

Este estudo ser feito por meio de artigos cientficos publicados na literatura,
dissertaes de mestrado, teses de doutorado e livros especficos sobre o assunto. O
aluno tambm continuar a estudar os assuntos que englobam o tema acima exposto,
mantendo as reunies semanais com o orientador para discusses, esclarecimentos de
dvidas e apresentao dos resultados obtidos.

3.1 Atividades

a) Leitura e estudo de artigos e livros especficos (Reviso de artigos).

b) Apresentao de seminrios.
c) Confeco de apostila para futuros alunos.

3.2 Cronograma

Atividades Fevereiro Maro Abril Maio Junho Julho

a) X X X X
b) X X X
c) X X

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4. REFERNCIAS BIBLIOGRAFICAS

[1] TIPLER, P. A.; LLEWELLYN, R. A. Fsica Moderna. 3. Ed. LTC, Rio de Janeiro, 2001.
[2] EISBERG, R. , RESNICK, R. Fsica Quntica. Rio de Janeiro: Elsevier (1979)
[3] HALLIDAY, D., RESNICK, R., MERRILL, J. Fundamentos de Fsica 4. tica e Fsica
Moderna. Rio de Janeiro: Livros Tcnicos e Cientficos (1991).
[4] CULLITY, B. D. Elements of X-Ray Diffraction. Addison-Wesley Publishing Company,
Inc. (2014).
[5] DEPIANTI, Janaina Bastos. Biocristalografia de Pedras de Vescula. 2009.
Dissertao (Mestrado em Fsica) Programa de Ps-Graduao em Fsica,
Universidade Federal do Espirito Santo, Vitria.
[6] MAIFREDE, Eduardo Bravim. Estudo das fases de pedras de rins de oxalato de
clcio monohidratado e determinao de uma nova forma polimrfica. 2011.
Dissertao (Mestrado em Fsica) Programa de Ps-Graduao em Fsica,
Universidade Federal do Espirito Santo, Vitria.
[7] Kahn H., Difrao de Raios X, Universidade de So Paulo, Escola Politcnica,
disponvel em: www.angelfire.com/crazy3/qfl2308, acessado em: 11 de novembro de
2016.
[8] KUPLICH, L. Bio-Cristalografia do Oxalato de Clcio Mono-Hidratado presente em
clculos renais. 2008. Tese (Doutorado em Fsica) - Programa de Ps-Graduao em
Fsica, Universidade Federal do Esprito Santo, Vitria, 2008.
[9] SANTOS, E. M. Modelo sobre tenso residual em materais ortrotpico e
transversalmente ortotrpico, 2005. Dissertao (Mestrado em Fsica) Programa
de Ps- Graduao em Fsica, Universidade Federal do Esprito Santo, 2005.
[10] BLEICHER L.; SASAKI J. M., Introduo difrao de Raios X em cristais,
Publicao da Universidade Federal do Cear, 2000. Disponvel em:
http://www.raiosx.ufc.br/site/wp-content/uploads/downloads/2013/01/apostila.pdf,
acessado em: 5 de novembro de 2016
[11] LABORATRIO NACIONAL DE LUZ SNCROTRON. Disponvel em: www.lnls.br,
acessado em 21 de novembro de 2016.
[12] PASSAMAI JNIOR, J. L. Estudo sobre a valncia no Supercondutor Hg,Re -
1223 atravs da tcnica de absoro de Raios X, 2005. Dissertao (Mestrado em

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Fsica) - Programa de Ps-Graduao em Fsica, Universidade Federal o Esprito Santo,
Vitria, 2005.
[13] MARTINS, Roberto de Andrade. A descoberta dos raios X: o primeiro
comunicado de Rntgen. [The discovery of X rays: Rntgen's first
communication]. Revista Brasileira de Ensino de Fsica ,1998.
[14] Centro Brasileiro de Pesquisas Fisicas,CBPF. Raios X. Disponvel em:
http://www.cbpf.br/FISCUL/, acessado em 22 de novembro de 2016.

Vitria (ES), 29 de Novembro de 2016

Assinatura do aluno: Carlos Alberto Rosa Neto

De acordo:

Assinatura e carimbo do orientador: Marcos Tadeu DAzeredo

Orlando

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