Universidad Nacional Autnoma de Mxico

Facultad De Estudios Superiores Cuautitln -C4

Laboratorio de Control Digital

Grupo: 2809-E

Ing. Santoyo Morales Hctor Miguel

Muestreadores y Retenedores

Prctica #1

Semestre 2017-II

03 de Marzo de 2017
10 de Marzo de 2017

Departamento De Ingeniera ------------------ Seccin De Electrnica

 Universidad Nacional Autnoma de Mxico
Facultad De Estudios Superiores Cuautitln -C4

OBJETIVOS

El alumno implementar un dispositivo de muestreo y un dispositivo de

retencin para comprobar dos de los procesos empleados en la discretizacin
de seales analgicas.
El alumno analizar las variaciones que se producen en ambos procesos al
cambiar los parmetros del sistema para diferentes seales de entrada.
INTRODUCCIN
En los sistemas discretos, en los sistemas de datos muestreados y en los
sistemas de control digital, por lo general una o varias de las seales que
intervienen en el proceso son seales analgicas que deben ser transformadas a
seales discretas para poder ser empleadas de forma adecuada dentro de este
tipo de sistemas. Para lograr la discretizacin de las seales, se debe aplicar
primero el proceso de muestreo y obtener as una seal formada nicamente por
las muestras discretas en tiempo de la seal analgica.

El proceso de muestreo puede representarse a travs de un interruptor que se

cierra cada t = kT segundos durante un tiempo de muestreo (p), generndose una
seal de muestreo como la
mostrada en la figura 1.1.

t = Instante de muestreo
k = 0, 1, 2, 3, n
T = Periodo de muestreo
p = Tiempo de muestreo

Figura 1.1

La ecuacin t = kT describe al muestreo peridico ya que las muestras estn

equiespaciadas, es decir las muestras son tomadas en instantes de tiempo que
son mltiplos enteros del periodo de muestreo. Tambin existen otros tipos de
muestreo empleados para diferentes propsitos, los cuales se describen con
ecuaciones similares a la mostrada anteriormente.

La entrada de este interruptor es una seal analgica y la salida es una seal

muestreada como se puede
observar en la figura 1.2.

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Otra forma de representar el proceso de muestreo es a travs de un modulador en

amplitud, que realiza la modulacin de un tren de impulsos unitarios discretos
generados en los instantes kT que se emplean como seal portadora y la seal
analgica que se desea muestrear que se emplea como seal moduladora,
obtenindose como salida los pulsos discretos pero modulados en amplitud por la
seal de entrada, a esta salida se le denomina la seal muestreada, tal y como se
observa en la figura 1.3.

La operacin que realiza el modulador puede representarse matemticamente a

travs del producto del tren de impulsos unitarios y la seal analgica de entrada
dando como resultado la siguiente expresin que define a la seal muestreada.

Si a esta expresin se le aplica la transformada de Laplace y se toman las

consideraciones necesarias, se obtiene la transformada Z de la funcin x(t).

Otro dispositivo empleado en la digitalizacin de las seales analgicas para

utilizarlas en los sistemas de datos muestreados, es el retenedor, el cual tiene la
funcin de reconstruir la seal muestreada a partir de los valores de las muestras
generadas por el muestreador, empleando para ello, polinomios de diferentes
grados. Entre los ms empleados estn los retenedores de orden cero y de primer

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orden. Este proceso tambin se emplea para que los cuantizadores tengan en su
entrada una seal constante que representa a la muestra actual y puedan tener el
tiempo suficiente para realizar la conversin de cdigo ya que la muestra original
que se obtiene del muestreador tiene una duracin muy corta.

Figura 1.4

En la figura 1.4 se presenta un retenedor de orden cero Zoh y las formas de onda
de su entrada y su salida. En esta prctica se implementarn 2 circuitos que
realizan las funciones de muestreo y retencin respectivamente. Estos circuitos se
implementan a travs de circuitos analgicos y amplificadores operacionales para
poder visualizar las funciones que se realizan en estos 2 procesos, pero haciendo
la anotacin de que en los sistemas de control digital estas funciones se realizan a
travs de los convertidores analgico digitales que contienen de manera intrnseca
a dichas funciones de muestreo y retencin (S/H, Sample and Hold).

MATERIAL
1 C.I. LM555
1 C.I. UA741
1 C.I. DG201 Switch Analgico CMOS SPST
2 Resistencias de 0.1 k a W.
1 Resistencia de 10 k a W.
1 Resistencia de 2.2 k a W.
1 Potencimetro de 50 k.
1 Capacitor de 1 nF.
1 Capacitor de 22 nF.
1 Capacitor de 0.1 F.
2 Capacitor de 100 F electroltico.

EQUIPO
1 Fuente bipolar.
1 Generador de funciones.
1 Multmetro
1 Osciloscopio.
PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

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1. Implemente el circuito de la figura 1.5, el cual realiza la operacin de muestreo

sobre la seal Ve(t) y genera una seal muestreada Ve*(t), este circuito consta de
las siguientes partes:
Generador de pulsos de muestreo en configuracin astable.
Interruptor analgico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.

2. Calibre el generador de funciones con una seal Ve(t) = 2.5 Sen 6283.18 t.

3. Pruebe el sistema por partes, verificando el correcto funcionamiento de cada

una de ellas.
Generador de pulsos de muestreo. (Terminal 3 del LM555)
Interruptor analgico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.
(Terminal 3 del DG201)

Seal senoidal

Podemos observar que la seal de entrada es una seal seno de 1kHz con
amplitud de 2.5V y al observar el funcionamiento de nuestro circuito
podemos ver que en la salida del interruptor analgico se obtiene la seal
senoidal de la entrada, pero esta muestreada de acuerdo a los pulsos de
muestro dado por el LM555.

4. Compruebe y explique el funcionamiento del proceso de muestreo para las

seales de entrada triangular y cuadrada adems de la seal senoidal del punto
anterior.

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Seal Triangular Seal Cuadrada

Figura 1.5

5. Mida los valores de periodo de muestreo (T) y el tiempo de muestreo (p) mnimo
y mximo de la seal de salida del generador de pulsos variando el potencimetro
P1 a su valor mnimo y a su valor mximo.

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TIEMPO DE MUESTRO (T)

MNIMO MXIMO

Tiempo de muestreo minimo= 4s Tiempo de muestreo maximo=3.2 s

Periodo de muestreo minimo= 830 s Periodo de muestreo maximo= 51.6 s

6. Indique cual es la frecuencia de muestreo mnima y mxima que se puede

obtener con este circuito.

FRECUENCIA DE MUESTREO
MNIMA MXIMA
1.2 kHz 19.4 kHz

7. Empleando el teorema de Nyquist determine la frecuencia mxima de la seal

de entrada Ve(t) que puede ser muestreada con este sistema.
2

FMAX=9.70kHz

8. Vare la frecuencia de la seal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a

50KHz y observe el comportamiento simultneo de las seales de entrada Ve(t) y
de salida Ve*(t), ajuste el valor de frecuencia para obtener un proceso de
muestreo equivalente. (Aliasing o Seal de salida que no es muestreada
adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para
representarla).
Grafique las seales para cada punto y anote los rangos de funcionamiento de
cada una de las etapas, es muy importante llegar a una conclusin prctica de
porque con este tipo de circuito no se puede llegar a muestrear seales de
cualquier frecuencia o amplitud.
Cuando aumentamos la frecuencia de la seal de entrada, se pudo observar que a
la salida la seal no se muestreaba con eficiencia. Ya que la frecuencia de
muestreo era mucho menor a la frecuencia de la seal de entrada. A este
fenmeno se le denomina Aliasing, cuando la frecuencia de muestreo no cumple
con lo que marca el Teorema de muestreo, no es posible poder reconstruir la
seal de entrada.

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30kHz 50kHz

9. Retire la resistencia R3 de 10 K que est conectada a la terminal 3 del

interruptor analgico, ya que afecta el comportamiento del circuito retenedor que
se adicionar a la salida del muestreador y regrese la seal de entrada a su valor
de amplitud y frecuencia original Ve(t) = 2.5 Sen 6283.18 t.
10. Aada el circuito de la figura 1.6 a la salida del circuito de la figura 1.5, el cual
realizar la funcin de retencin y observe la seal de salida Vs(t) del circuito 1.6 y
como se relaciona con la entrada Ve(t). Anote los comentarios en cuanto a las
formas obtenidas, as como las grficas correspondientes, haciendo las pruebas
tambin para seales de diferentes tipos y frecuencias (triangular y cuadrada).

Figura 1.6

CUESTIONARIO
1. Investigue el concepto de Aliasing y explique la relacin que tienen con
respecto al muestreo de seales analgicas.

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El aliasing se produce cuando la frecuencia de muestreo es inferior a la frecuencia

Nyquist y por lo tanto insuficiente para hacer el muestreo correctamente con lo
cual inventa frecuencias fantasmas que no tiene nada que ver con la original.

Cuando tenemos una seal analgica y esta no cumple con el teorema de

muestreo de Nyquist es necesario suplantar la frecuencia de la seal analgica
para as poder evitar el aliasing.

2. Obtenga la funcin de transferencia en Laplace del retenedor empleado en

la prctica (figura 1.6) indicando de que tipo es y explicando su
funcionamiento.

Condiciones:
x(t)=0; para t<0 h(t) se relaciona con x(t)

h(t)=x[0][1(t)-1(t-T)]+x(T)[1(t-T)-1(t-2T)]+x(2t)[1(t-2T)-1(t-3T)]

() = ()[1( ) 1( ( + 1))]
=0

Puesto que: [1( )] =

(+1) 1
[()] = () = () = ()

=0 =0

3. Calcule el valor de la constante de tiempo del retenedor y el tiempo de

carga del capacitor al 98% de su valor de carga final.
=
Donde: R=100 y C=1nF
= (100)(1) = 100
Carga al 98%:
5 = 5(100) = 500

4. Verifique que se cumple la relacin de tiempos siguiente, para el punto de

mxima frecuencia de muestreo. 5 < <
= 35.46
= 26.80

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= 28.20
500 < 26.80 < 28.20

5. Explique de manera grfica lo que sucedera si la frecuencia de muestreo

es elevada y la constante de tiempo RC del retenedor es mayor al periodo de
muestreo T.

6. Describa los procesos de muestreo de orden mltiple, de ritmo mltiple y

aleatorio.
Muestreo de orden mltiple. El patrn de los tk, se repite peridicamente; esto
es, t+r- tk. es constante para todo k.
Muestreo de tasa mltiple. En un sistema de control que tiene lazos mltiples, la
mayor constante de tiempo involucrada en un lazo puede diferir en gran medida de
las de los otros lazos. Por lo tanto, puede ser aconsejable muestrear lentamente
en un lazo que involucre una constante de tiempo grande, mientras que en un lazo
que involucre constantes de tiempo pequeas la tasa de muestreo debe ser ms
rpida. De esta manera, un sistema de control digital puede tener diferentes
periodos de muestreo en diferentes trayectorias de realimentacin o bien tasas de
muestreo mltiples.
Muestreo aleatorio. En este caso, los instantes de muestreo son aleatorios, o t,
es una variable aleatoria.

7. Calcule los parmetros de tiempo del oscilador en modo astable

implementado con el circuito LM555 de la prctica y comprelos con los
obtenidos prcticamente. Para este paso refirase a la hoja tcnica del
dispositivo LM555 donde se especifican las ecuaciones de funcionamiento.

RP Mnimo RP Mximo

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. 1.44
= = . = = 1.25
(. + ) () (52.22 + 200) (22)
1 1
= = = . = = = 800
. 1.25
TL TH TL TH

= . ()() = 0.693(2.2)(22) = 0.693(100)(22) = 0.693(52.2)(22)
= . = 33.54 = 1.22 = 800

CONCLUSIN
El muestreo de seales en tiempo continuo reemplaza la seal en tiempo continuo
por una secuencia de valores en puntos discretos de tiempo. El proceso de
muestreo se emplea siempre que un sistema de control involucra un controlador
digital, puesto que son necesarias una operacin de muestreo y una de
cuantificacin para ingresar datos a ese controlador.
La retencin es importante ya que nos permite transforma las seales en tiempo
continuo en datos en tiempo discreto.

BIBLIOGRAFA
Sistema de Control en Tiempo Discreto, Katsuhiko Ogata, Segunda edicin.
Sistema de Comunicaciones Electrnicas, Tomasi, Cuarta edicin.
Apuntes de la materia de Sistemas Analgicos.

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