1. Introduccin
2.1.- Instrumentacin
FUENTES DE ELECTRONES
Figura 2.- Diagrama de bloque de una fuente de filamento de tungsteno. Figura tomada de: D.A.
Skoog et al. Principios de Anlisis Instrumental. Mc Graw Hill, Madrid (2002)
Con un SEM el barrido se lleva a cabo mediante los dos pares de bobinas
localizadas entre las lentes del objetivo (vase figura 1); uno de los pares desva el haz
en la direccin X hacia la muestra y el otro lo desva en la direccin Y. El barrido se
controla mediante aplicacin de una seal elctrica a uno de los pares de las bobinas de
barrido, de manera que el haz de electrones alcanza la muestra al lado del eje central del
sistema de lentes. Variando en funcin del tiempo la seal elctrica de este par de
bobinas (esto es, las bobinas X), el haz de electrones se mueve en una lnea recta a lo
largo de la muestra y entonces vuelve a su posicin inicial. Despus de realizar este
barrido lineal, se utiliza el otro par de bobinas (bobinas Y en este caso) para desviar el
haz ligeramente y de nuevo se repite el movimiento del haz utilizando las bobinas X.
As, mediante movimientos rpidos del haz, la superficie entera de la muestra puede ser
irradiada con el haz de electrones. Las seales que comandan las bobinas de barrido
pueden ser analgicas o digitales; los barridos digitales tienen la ventaja de que ofrecen
un movimiento y una colocacin muy reproducible del haz de electrones; adems la
seal S de la muestra puede ser codificada y almacenada en la forma S(X,Y).
Las seales que se utilizan para mover el haz de electrones en las direcciones X
e Y se utilizan tambin para llevar a cabo los barridos horizontal y vertical de un tubo
de rayos catdicos (CRT). La imagen de la muestra se obtiene utilizando la salida de un
detector que permite controlar la intensidad en un punto determinado con el CRT. De
este modo, este mtodo de barrido produce un mapa de la muestra en el que hay una
relacin nica entre la seal producida en una posicin particular en la superficie de la
muestra y el punto correspondiente de la pantalla de CRT.
En contraste con otras formas de microscopa, en la de barrido de electrones no
existe una imagen verdadera de la muestra. Toda la informacin sobre la muestra se
obtiene directamente del mapa de superficie de la muestra. El aumento (M) alcanzado
en la imagen de SEM viene dado por
M = W/w (1)
DISPERSIN ELSTICA
Figura 3.- Produccin del espectro caracterstico de rayos X. Figura tomada de: ALBELLA, J.M.;
CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales".
C.S.I.C., 1993.
Emisin: este tomo en estado excitado tiende a volver inmediatamente a su estado
fundamental, para lo cual se producen saltos de electrones de niveles ms externos para
cubrir el hueco producido. En este proceso hay un desprendimiento de energa, igual a
la diferencia de energa entre los dos niveles en los que se produce el salto electrnico,
en forma de radiacin electromagntica correspondiente a la regin de los rayos X.
A esta excitacin producida por el bombardeo de partculas se la denomina
excitacin primaria, y a la radiacin as obtenida se la llama radiacin X primaria. Al
ser, las energas de los distintos niveles electrnicos caractersticas para cada tipo de
tomos, la radiacin X emitida ser caracterstica para cada elemento, y, en principio,
no depender de la sustancia qumica en la que se encuentre, ya que, en general, estas
radiaciones estn originadas por transiciones entre los niveles electrnicos internos,
cuyas energas no se ven afectadas por el tipo de enlace existente.
Figura 5.- a) transiciones electrnicas permitidas que dan lugar a las lneas ms intensas del
espectro caracterstico de rayos X; b) zonas de longitud de onda y energa en las que aparecen las
distintas series de lneas caractersticas del oro. Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS,
A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C.,
1993.
Si la vacante se produce en alguno de los subniveles de la capa L, las
transiciones desde niveles superiores dan lugar a las radiaciones caractersticas de la
serie L (L, , ...). Lo mismo puede decirse para la capa M.
Aunque el nmero de radiaciones caractersticas posibles para cada elemento es
grande, en la prctica la intensidad de muchas de ellas es muy pequea (probabilidad
muy pequea de que se produzca la transicin electrnica que las origina), y no se
pueden registrar con los equipos de medida; adems, el nmero de radiaciones que se
registran se limita todava ms, debido a que la diferencia de energa entre algunas de
ellas es tan pequea que aparecen juntas. Esto hace que, en la prctica, el espectro
caracterstico de un elemento se reduzca a 2 3 radiaciones de la serie K, y de 4 a 10 de
la serie L. Las radiaciones de la serie M, en la zona normal de trabajo que va de 0.3 a 20
A, nicamente suele aparecer para los elementos ms pesados. En la figura 9b se
indican, para el caso del oro, las zonas de longitud de onda y energa en las que
aparecen las distintas series. Como ejemplo real, en la figura 6 se muestran las lneas
caractersticas de la serie K del hierro y de la serie L del wolframio obtenidas
experimentalmente.
Figura 6.- Lneas caractersticas de la serie K del hierro y de la serie L del wolframio obtenidas
experimentalmente. Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y
SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993.
5.- Experimental
Existen unos soportes especiales de superficie circular donde se colocan las muestras.
stas deben estar convenientemente adheridas a dicho soporte, para ello se suele
emplear una cinta de carbono (para hacerla conductora) con doble cara adhesiva. Si se
utiliza otro tipo de adhesivo, ste debe ser: conductor, no gasificar en vaco, de fcil uso
y rpido secado. Una vez colocada la muestra, si no es conductora ser necesario
recubrirla con una capa conductora.
Casi todas las muestras de materiales cermicos y de polmeros suelen ser no
conductoras, por lo que su observacin con electrones secundarios es difcil o imposible
debido a la acumulacin de carga que se produce en su superficie. La acumulacin de
carga produce una zona de carga espacial que deflecta el haz incidente produciendo
zonas blancas excesivamente brillantes durante la observacin. Sin embargo, en otros
materiales cermicos o vidrios, tales como: vidrios y vitrocermicos de basalto, ferritas,
arcillas o productos cermicos tradicionales ricos en hierro, la conduccin de la muestra
es tal que su observacin por SEM no requiere ms que una buena adhesin entre la
muestra y el porta muestras.
En el caso de muestras en polvo se suele emplear cinta de doble cara adhesiva.
En el caso de muestras fibrosas se suele recurrir a la observacin directa o bien a
embuticiones de las fibras en polimetacrilato o en resinas termoplsticas.
En cualquier caso, las muestras deben de estar bien desengrasadas previamente a
su recubrimiento con una pelcula conductora, para evitar contaminacin superficial por
hidrocarburos, ya que el craqueo de las mismas puede producir carbono en la superficie
alterando la emisin de electrones secundarios en zonas localizadas. Este efecto aparece
en pantalla dejando un marco ms oscuro al cambiar de mayores a menores aumentos.
Existen fundamentalmente dos mtodos para evitar la acumulacin de carga
superficial en muestras aislantes:
a) Aplicar una pelcula conductora a la superficie de la muestra
b) Operar con el SEM a bajas tensiones de aceleracin (voltaje)
Una capa conductora de unos 1-100 nm de espesor de elementos como: C, Al, Au,
Au-Pd suele ser suficiente para asegurar una buena observacin. Esta capa puede
aplicarse con un evaporador convencional o con un equipo de sputtering.
La mayor parte de las muestras de materiales cermicos son porosas o microporosas,
por lo que se obtienen mejores resultados con un equipo de sputtering, ste es el que
se utilizar en la presente prctica.
La tcnica de observacin de muestras aislantes a bajos voltajes de aceleracin se
est generalizando cada vez ms debido a la facilidad de operacin a bajo voltaje de los
modernos equipos de SEM.
Por ltimo, es necesario tener muy en cuenta en la preparacin de muestras de
materiales cermicos o vidrios que pueden resaltarse la micro-estructura y la textura
superficial lixiviando parcialmente la fase vtrea utilizando un ataque adecuado para
cada muestra.
a) Acero al carbono
B
Zona A
Untitled:1
Acquisition Time : 19:21:20 Date : 25-Feb- 3
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
C K 17.68 46.51 0.0422 1.1351 0.2102 1.0005
O K 4.88 9.63 0.0172 1.1157 0.3149 1.0035
AlK 0.06 0.07 0.0002 1.0377 0.3659 1.0006
CrK 0.00 0.00 0.0000 0.9509 0.9987 1.3014
MnK 0.09 0.05 0.0009 0.9341 1.0033 1.0000
FeK 77.29 43.73 0.7404 0.9521 1.0061 1.0000
Total 100.00 100.00
Untitled:1
Acquisition Time : 19:15:22 Date : 25-Feb- 3
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
O K 14.28 36.13 0.0726 1.1354 0.4462 1.0035
AlK 2.18 3.27 0.0078 1.0557 0.3410 1.0007
CrK 0.42 0.33 0.0052 0.9688 0.9937 1.2765
MnK 4.12 3.03 0.0392 0.9518 0.9993 1.0000
FeK 79.00 57.24 0.7683 0.9703 1.0023 1.0000
Total 100.00 100.00
ntitled:1
Acquisition Time : 19:30:01 Date : 25-Feb- 3
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
C K 16.21 44.26 0.0382 1.1393 0.2068 1.0005
O K 4.45 9.12 0.0161 1.1198 0.3213 1.0036
AlK 0.04 0.04 0.0001 1.0415 0.3608 1.0006
CrK 0.19 0.12 0.0023 0.9547 0.9980 1.2993
MnK 0.65 0.39 0.0061 0.9379 1.0027 1.0000
FeK 78.47 46.07 0.7541 0.9560 1.0053 1.0000
Total 100.00 100.00
b) Sepiolita
Si12Mg8O30(OH)4(H2O)4 8H2O
i) Observar la textura
ii) Realizar microanlisis
iii) Discutir resultados
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
O K 29.00 39.88 0.1150 1.0371 0.3820 1.0012
MgK 54.50 49.32 0.4111 0.9936 0.7575 1.0023
BrL 4.16 1.15 0.0182 0.8196 0.5333 1.0020
SiK 12.33 9.66 0.0638 0.9910 0.5217 1.0000
Total 100.00 100.00
Microanlisis en la matriz
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
C K 6.45 47.24 0.0167 1.3980 0.1855 1.0000
O K 1.52 8.37 0.0041 1.3685 0.1985 1.0000
SiK 1.23 3.85 0.0122 1.3966 0.7092 1.0000
AuL 90.80 40.54 0.8385 0.9216 1.0021 1.0000
Total 100.00 100.00
Elem Wt % At % K-Ratio Z A F
-------------------------------------------------------------
C K 13.50 48.55 0.0351 1.2622 0.2061 1.0001
O K 10.09 27.23 0.0280 1.2366 0.2247 1.0000
SiK 5.66 8.70 0.0530 1.2359 0.7581 1.0000
AuL 70.75 15.51 0.5659 0.7954 1.0057 1.0000
Total 100.00 100.00