Anda di halaman 1dari 7

KATA PENGANTAR

Puji syukur kami panjatkan kehadirat Allah SWT yang telah memberikan rahmat serta
karunia-Nya kepada kami sehingga kami berhasil menyelesaikan Makalah ini yang tepat pada
waktunya yang berjudul DIFRAKSI SINAR X.

Makalah ini berisikan informasi mengenai prinsip difraksi sinar x atau yang lebih khususnya
membahas penerapan mekanisme sinar x yang sering digunakan. Diharapkan makalah ini
dapat memberikan informasi kepada kita semua tentang dasar difraksi sinar x.

Kami menyadari bahwa makalah ini masih jauh dari sempurna, oleh karena itu kritik dan
saran dari semua pihak yang bersifat membangun selalu kami harapkan demi kesempurnaan
makalah ini. Akhir kata, kami sampaikan terima kasih kepada semua pihak yang telah
berperan serta dalam penyusunan makalah ini dari awal sampai akhir. Semoga Tuhan YME
senantiasa memberkati segala usaha kita. Amin.

Medan, 21 September 2016


Penyusun Makalah

Penulis Kelompok 4

1
Latar Belakang

Radiasi nuklir tidak dapat dirasakan oleh panca indera manusia oleh karena itu alat ukur
radiasi mutlak diperlukan untuk mendeteksi dan mengukur radiasi nuklir. Materi ini akan
membahas prinsip dasar pengukuran radiasi mulai dari mekanisme deteksi, jenis detektor,
dan penggunaannya.

Tujuan Makalah :
Mahasiswa diharapkan mampu menguraikan prinsip kerja detektor yang digunakan dalam
sistem pengukur radiasi.
Secara khusus setiap peserta akan mampu untuk:
1. menguraikan fungsi detektor dan peralatan penunjang dalam system pengukur radiasi;
2. menguraikan dua mekanisme pendeteksian radiasi yang sering digunakan;
3. menguraikan prinsip kerja detektor isian gas, sintilasi dan semikonduktor;

2
DAFTAR ISI

Daftar isi

Kata pengantar .................................................................................................................................1


Daftar isi ...........................................................................................................................................3

Bab I pendahuluan ...........................................................................................................................


A. Latar belakang ..............................................................................................................................2
B. Tujuan makalah.............................................................................................................................2

Bab II ISI ............................................................................


A Besaran yang Diukur.....................................................................................................................4
B.Mekanisme Pendeteksian Radiasi ...............................................................................................5
C.Cara Pengukuran Radiasi.............................................................................................................6
D. Jenis Detektor Radiasi..................................................................................................................7
E. Keunggulan - Kelemahan Detekto...............................................................................................11
F. Penggunaan Alat Ukur Radiasi....................................................................................................12

Bab III Kesimpulan dan Saran...........................................................................................................


A.Kesimpulan ....................................................................................................................
B.Saran ..............................................................................................................................................

Daftar pustaka ...............................................................................................................................13

3
DIFRAKSI SINAR-X (XRD)

I. PENDAHULUAN
Sejarah mengenai difraksi sinar-x telah berjalan hampir satu abad ketika tulisan
ini disusun. Tahun 1912 adalah awal dari studi intensif mengenai difraksi sinar-x.
Dimulai dari pertanyaan M. van Laue kepada salah seorang kandidat doktor P.P.
Ewald yang dibimbing A. Sommerfeld, W. Friedrich (asisten riset Sommerfeld)
menawari dilakukannya eksperimen mengenai 'difraksi sinar-x'. Pada saat itu
eksperimen mengenai hamburan sinar-x sudah dilakukan oleh Barkla. Laue
mengawali pekerjaannya dengan menuliskan hasil pemikiran teoretiknya dengan
mengacu pada hasil eksperimen Barkla. Laue berargumentasi, ketika sinar-x melewati
sebuah kristal, atom-atom pada kristal bertindak sebagai sumber-sumber gelombang
sekunder, layaknya garis-garis pada geritan optik (optical grating). Efek-efek difraksi
bisa jadi menjadi lebih rumit karena atom-atom tersebut membentuk pola tiga
dimensi. Eksperimen difraksi sinar-x yang pertama dilakukan oleh Herren Friedrich
dan Knipping menggunakan kristal tembaga sulfat dan berhasil memberikan hasil
pola difraksi pertama yang kemudian menjadi induk perkembangan difraksi sinar-x
selanjutnya.
Penemuan sinar-x memiliki sejarah yang, tentu saja, lebih panjang. Tahun 1895,
W.C. Rntgen menghasilkan penemuan yang sangat vital dalam perkembangan sains
modern. Rntgen menemukan sejenis radiasi yang keluar dari sebuah tabung muatan
(discharge tube), yang karena misteriusnya diberi nama sinar-x. Menariknya, sinar-x
ditemukan sebelum ditemukannya elektron oleh J.J. Thomson. Skema tabung sinar-x
pertama diperlihatkan pada
Sinar-x pada tabung muatan terbentuk dengan cara pemberian beda tegangan pada
elektroda elektroda tabung yang menghasilkan 'sinar elektron' yang ditumbukkan ke
bahan tertentu (pada masa itu dinamakan anticathode, anti-katoda). Anti-katoda
menjadi sumber sinar-x, yang pada saat itu belum diketahui mekanisme sebab
pembentukannya.Sejalan perkembangan ilmu pengetahuan diketahui bahwa sinar-x
adalah radiasi elektromagnetik transversal, seperti cahaya tampak, tetapi dengan
panjang gelombang yang jauh lebih pendek. Jangkau panjang gelombangnya tidak
terdefinisi dengan jelas tetapi diperkirakan mulai dari panjang gelombang cahaya
ungu hingga sinar gamma yang dipancarkan oleh bahan-bahan radioaktif. Pembaca
dipersilakan mengacu pada buku-buku Fisika Modern. Dalam kristalografi, panjang

4
gelombang yang digunakan berkisar antara 0.5 hingga 2.5 (Guinier 1963). Penting
untuk diketahui bahwa gelombang elektromagnetik memiliki interpretasi ganda:
sebagai gelombang dan sebagai partikel. Pembahasan difraksi sinar-x banyak
menggunakan sinar-x yang membawa sifat gelombang.

II. Isi
Difraksi sinar-x merupakan proses hamburan sinar-x oleh bahan kristal. Pembahasan
mengenai difraksi sinar-x mencakup pengetahuan yang berhubungan dengan hal-hal
berikut ini:
1. pembentukan sinar-x
2. hamburan (scattering) gelombang elektromagnetik
3. sifat kekristalan bahan (kristalografi)
Metode difraksi sinar-X adalah salah satu cara untuk mempelajari keteraturan atom
atau molekul dalam suatu struktur tertentu. Jika struktur atom atau molekul tertata secara
teratur membentuk kisi, maka radiasi elektromagnetik pada kondisi eksperimen tertentu
akan mengalami penguatan. Pengetahuan tentang kondisi eksperimen itu dapat
memberikan informasi yang sangat berharga tentang penataan atom atau molekul dalam
suatu struktur (Dunitz, 1995).
Sinar-X dapat terbentuk bilamana suatu logam sasaran ditembaki dengan berkas
elektron berenergi tinggi. Dalam eksperimen digunakan sinar-X yang monokromatis.
Kristal akan memberikan hamburan yang kuat jika arah bidang kristal terhadap berkas
sinar-X (sudut ) memenuhi persamaan Bragg, seperti ditunjukkan dalam persamaan
berikut (Callister, 2003).
Representasi matematis syarat terjadinya difraksi diberikan oleh Hukum Bragg yaitu :
d dan setara. Oleh karena itu apabila d semakin kecil maka sudut difraksinya semakin
besar.
2d sin = n
dimana :d = jarak antar bidang dalam kristal
= sudut deviasi
n = orde (0,1,2,3,..)
= panjang gelombang
Hukum Bragg dapat dikatakan sebagai representasi non-vektorial dua dimensi sebagai
syarat terjadinya difraksi.
Difraksi sinar-x oleh sebuah materi terjadi akibat dua fenomena:

5
(1) hamburan oleh tiap atom dan
(2) interferensi gelombang-gelombang yang dihamburkan oleh atom-atom tersebut.
Interferensi ini terjadi karena gelombang-gelombang yang dihamburkan oleh atom-atom
memiliki koherensi dengan gelombang datang dan, demikian pula, dengan mereka
sendiri.
Difraksi sinar-X dapat memberikan informasi tentang struktur polimer, termasuk
tentang keadaan amorf dan kristalin polimer. Polimer dapat mengandung daerah kristalin
yang secara acak bercampur dengan daerah amorf. Difraktogram sinar-X polimer
kristalin menghasilkan puncak-puncak yang tajam, sedangkan polimer amorf cenderung
menghasilkan puncak yang melebar.
Pola hamburan sinar-X juga dapat memberikan informasi tentang konfigurasi rantai
dalam kristalit, perkiraan ukuran kristalit, dan perbandingan daerah kristalin dengan
daerah amorf (derajat kristalinitas) dalam sampel polimer (Jenkins, 1995; Iguchi, 1999).

6
Kesimpulan

Daftar Pustaka

1. Kenneth S. Crane, Introductory Nuclear Physics, John Wiley & Sons, Toronto, 1988.
2. G.F. Knoll, Radiation Detection and Measurement, John Wiley, Toronto, 1989.
3. Tsoulfanidis, Detection and Measurement of Radiation, Taylor and Francis, New York, 1995
4. K. Debertin and R.G. Helmer, Gamma and X-ray Spectrometry with Semiconductor Detectors,
North-Holland, Amsterdam, 1988.