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DIFRAO DE RAIO-X

HISTRICO
Os raios-X foram descobertos no final do sculo XIX.

O fsico alemo Wilhelm Conrad Rntgen,foi o primeiro a


estudar os Raios-X, foi ele quem descobriu suas principais
propriedades .

Wilhelm Conrad Rntgen, fsico que Clssica radiografia feita


primeiramente estudou os raios- X. por Rntgen, em 1895,
mostrando a sua mo 2
Principais caractersticas dos raios X

Sendo ondas eletromagntica, os raios X possuem todas as


propriedades gerais dessas ondas: reflexo, refrao, interferncia,
difrao e polarizao.

Propagam-se em linha reta, com velocidade igual da luz;

Tornam fluorescentes muitos corpos sobre os quais incidem;

Provocam ao qumica em certas substncias. Por exemplo,


impressionam chapas fotogrficas;

Atravessam grandes espessuras de materiais.

Ionizam as molculas dos gases por onde passam, isto , arrancam


eltrons dessas molculas;

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PRODUO DE RAIOS-X
Os Rios-X so gerados quando uma partcula de alta energia cintica
rapidamente desacelerada. O mtodo mais utilizado para produzir Raios-X
fazendo com que um eltron de alta energia (gerado no ctodo do tubo
catdico) colida com um alvo metlico ( nodo).

Produo de raios-X a nvel atmico


Eltron de
Fotoeltron Raio-X

Eltron altamente
energtico

(I) Eltron atinge o alvo; (II) Um eltron da camada K liberado na forma de


fotoeltron, gerando uma vacncia nessa camada; (III) Um eltron de uma camada mais
externa (L) ocupa o espao deixado na camada K; (IV) A energia liberada na forma de
um fton de Raio-X 4
Esquema da seo longitudinal de uma ampola de raio X

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COMPORTAMENTO DO ESPECTRO DE RAIOS-X
Para cada diferente transio de nveis de energia, um
comprimento de onda diferente emitido.

Equao para calcular

Os nveis atmicos de energia e as


emisses de radiao referente a
cada transio. 6
O FENMENO DA DIFRAO DE RAIOS-X

A difrao ocorre quando uma onda encontra uma srie de


obstculos regularmente separados e estes so capazes de
dispersar a onda e possuem espaamentos comparveis em
magnitude ao comprimento da onda.

O espalhamento e a conseqente difrao de raios-X por um


eltron pode ocorre de duas maneiras: Coerente ou incoerente.

Espalhamento coerente: a onda espalhada tem direo definida,


mesma fase e mesma energia em relao a onda incidente.

Espalhamento Incoerente: a onda espalhada no tem direo


definida, no mantm a mesma fase e energia em relao a onda
incidente.
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O FENMENO DA DIFRAO DE RAIOS-X

Demonstrao de como duas ondas que possuem o mesmo


comprimento de onda (onda 1 e onda 2) e que permanecem em
fase aps o evento de disperso (onda 1 e 2) interferem de
maneira construtiva uma na outra. As amplitudes das ondas
dispersas se somam na onda resultante. 8
Demonstrao de como duas ondas que possuem o mesmo
comprimento de onda (onda 3 e onda 4) e que se tornam fora de
fase aps o evento de disperso (onda 3 e 4) interferem de
maneira destrutiva uma na outra. As amplitudes das duas ondas
dispersas cancelam-se entre si. 9
DIFRAO DE RAIOS-X E A LEI DE BRAGG

Os raios X so uma fonte de radiao eletromagntica que


possuem elevadas energias e curtos comprimentos de onda-
comprimentos de onda da ordem dos espaamentos atmicos nos
slidos.
A interferncia construtiva caracteriza a difrao;

O tipo de raio X utilizado para difrao aquele que possui ondas


eletromagnticas com comprimentos entre 0,05 e 0,25 nm (0,5 e 2,5 ).
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DERIVAO DA LEI DE BRAGG

Lei de Bragg
n= 2d sen

Derivao da Lei de Bragg usando a geometria da reflexo e aplicando-se


trigonometria. O feixe inferior deve viajar a distncia extra (AB + BC) para
continuar viajando paralelo e adjacente ao feixe superior.
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SITUAO QUE SATISFAZ A LEI DE BRAGG

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SITUAO QUE NO SATISFAZ A LEI DE BRAGG

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Primeiro Experimento de Raio-X em cristais
A idia de Max Von Laue se muitos slidos so um arranjo
peridico de tomos (cristais) e se os raios x so ondas
eletromagnticas com comprimento de onda comparvel ao
espaamento interatmico, quando um feixe de raios x incidir sobre
um cristal deve,para determinadas condies, ocorrer interferncia
construtiva (difrao).
Em 1914, Max Von Laue montou um experimento em que um feixe de
raio-X incidia em um cristal de sulfato de cobre e por trs do cristal
havia uma chapa fotogrfica onde foi registrada a figura de difrao.
O artigo cientifico descrevendo a experincia foi publicado em
junho de 1912. Por este trabalho, Max Von Laue foi laureado com o
premio Nobel da fsica em 1914.

Graas as colaboraes de Laue e Bragg, naquela mesma poca a


estrutura de vrios compostos, tais como: NaCl, KCl, CaF2, NaNO3 e
CaCo3, foram determinadas. At ento, as estruturas cristalinas de
metais, j extensivamente utilizados como Fe e Cu eram
desconhecidas 14
Experimento de Max Von Laue

Quando a lei de
Bragg obedecida ,
h um pico de
intensidade ,
responsvel pelos
pontos mais claros Padro de difrao
no padro de Laue de Laue impresso na
Interferncia entre chapa fotogrfica
raios a nvel planar.
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Princpio de funcionamento do difractmetro de raio X
O difratmetro um aparelho usado para determinar os ngulos nos
quais ocorre a difrao em amostras pulverizadas.

A plataforma e a amostra
ngulo de incidncia esto acopladas
mecanicamente, de tal modo
que uma rotao da amostra
por um ngulo
acompanhada por uma rotao
do contador que equivale a 2 ;
isso assegura que os ngulos
de incidncia e reflexo sejam
mantidos iguais um ou outro.
ngulo de difrao

Diagrama esquemtico de um difratmetro de raios X, onde T= fonte de radiao,


S= amostra, C= detetor e O= o eixo em torno do qual a amostra e o detetor giram.
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Difratogramas tpicos e esquemticos de alguns materiais

2
2

2 17
Difratmetro de raios X

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Principais aplicaes da tcnica de difrao de raios- X

Empregadas na caracterizao de materiais cristalinos:


metais, ligas metlicas, cermicas, minerais, polmeros, etc.

Informaes: identificao de fases, textura, tamanho de


gros, tamanhos de cristalitos e perfeio dos cristais.

No geral, as tcnicas so por difratometria de p ou


difratometria de monocristais.

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Determinao de parmetros de clula unitria

Considerando se que o padro do difratograma de um material


cristalino funo da sua estrutura cristalina, possvel
determinar os parmetros do seu retculo (a, b, c e , e da
clula unitria).

Para isso, necessrio dispor de informaes referentes aos


sistema cristalino, grupo espacial, ndices de Miller (hkl) e
respectivas distncias interplanares dos picos difratados.

A magnitude das distncias entre dois planos de tomos


adjacentes e paralelos (dhkl) funo dos ndices de Miller, bem
como dos parmetros de rede

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Frmulas da distncia interplanar de alguns sistemas
cristalino

a
d hkl Sistemas cbicos
h k l
2 2 2

1 h2 k 2 l 2
2
2 2 2 Sistemas ortorrmbico
d hkl a b c

a
d hkl
4 2
(h hk k 2 ) l 2 (a 2 / c 2 ) Sistemas hexagonais
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Frmulas das distncias interplanares dos SISTEMA CRISTALINO RELAO
CBICO 2 +
1
= h k 2 + l2
d2 a2
TETRAGONAL 1 2 + 2 2
= h 2 k + l2
d2 a c
HEXAGONAL 1 4 h2 + hk + k 2 l2
= +
d2 3 a2 c2
ROMBODRICO 1 ( h 2 + k 2 + l 2) sen 2 + 2(hk + kl + hl)(cos2 - cos )
=
d2 a 2 (1 - 3 cos2 + 2 cos3 )
ORTORRMBICO 1 2 2 2
= h2 + k2 + l 2
d2 a b c
MONOCLNICO 1 1 h2 k2 sen2 + l2
= +
sistemas cristalinos

d2 sen2 a2 b2 c2

S11 h2
TRICLNICO 1 1
2
= 2
+ S22 k 2 + S33 l 2 + 2 S12 hk + 2 S23 kl + 2 S13 hl
d V
V=Volume da clula;
S11=b2c 2sen2
S22=a2c 2sen2
S33=b2c 2sen2
S12 =abc 2(cos cos - seng)
S23 =a2bc(cos cos - sen)
S13 =ab2c(cos cos sen)
Exemplo 1: Para o ferro com estrutura cristalina CCC, compute
(a) o espaamento interplanar , e (b) o ngulo de difrao para o
conjunto de planos (220). O parmetro de rede para o Fe
equivale a 0,2866 nm (2,866). Ainda, admita que uma radiao
monocromtica com comprimento de onda de 0,1790 nm (1,790
) seja usada, e que a ordem de reflexo seja de 1 (n=1)

a
d hkl
h2 k 2 l 2 2d hkl sen
Sistemas cbicos Lei de Bragg

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Exemplo 2: O metal rubdio possui uma estrutura
cristalina CCC. Se o ngulo de difrao para o conjunto de
planos (321) ocorre a 27,00 (reflexo de primeira ordem,
n=1) quando usada radiao X monocromtica com
comprimento de onda de 0,071 nm, calcule (a) o
espaamento interplanar para este conjunto de planos e
(b) o raio para o tomo de rubdio.

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Exemplo 3: Para qual conjunto de planos cristalogrficos
ir ocorrer um pico de difrao de primeira ordem em um
ngulo de difrao (2) de 46,21 para o ferro CCC quando
for usada radiao monocromtica com comprimento de
onda de 0,0711 nm? Raio do ferro: 0,1241 nm

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REGRAS DE REFLEXO DA DIFRAO
PARA AS ESTRUTURAS DOS METAIS

ESSAS REGRAS DE REFLEXO MOSTRAM QUAIS CONJUNTOS DE


INDICE DE MILLER NO PRODUZEM DIFRAO CONFORME PREVISTA
PELA LEI DE BRAGG.
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Interpretao dos resultados experimentais de
difrao de raios-X, em metais com estruturas
cristalinas cbicas
Podemos usar os resultados de difrao de raios-X para determinar estruturas
cristalinas. Um caso simples para ilustrar como esta anlise pode ser utilizada
consiste na distino entre as estruturas cristalinas CCC e CFC de um metal
cbico.
Vamos considerar o difratograma do tungstnio.

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Se combinarmos a equao da distncia interplanar dos sistema cristalino
Cbicos.

Se elevarmos os dois membros da equao ao quadrado teremos:

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A partir dos resultados de difrao de raios-X podemos obter os
valores experimentais de 2 para um conjunto de planos difratores
(h k l). Dado que o comprimento de onda da radiao incidente e o
parmetro de rede so constantes, podemos eliminar estas
quantidades, obtendo a razo entre dois valores de sen2

A e B so dois ngulos de difrao associados aos planos


difratores {hA kA lA} e {hB kB lB}, respectivamente. So os dois
primeiros picos no difratograma.

Ento, se: A estrutura cristalina ser CCC

Ento, se: A estrutura cristalina ser CFC


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Exemplo 4: O difratograma do molibdnio foi obtido com =
0,1542 x10-9 m. Sabendo que tal elemento possui estrutura
cbica CCC ou CFC e que os valores 2A e 2B so
respectivamente, 40 e 58. Determine:
a) O tipo da estrutura cubica;
b) o primeiro plano a apresentao difrao
c) a distncia interplanar relaiva a esse plano
d) o parmetro de rede dessa estrutura
e) o raio atmico do molibdnio.

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Outras aplicaes da tcnica de raio X
Determinao da cristalinidade de Polmeros;

Onde:
%C a frao de cristalinidade;
Ic: Resultado da integrao dos picos de difrao
Ia: rea da regio amorfa
K: Constante de proporcionalidade caracterstica de cada polmero

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Determinao do tamanho de cristalitos

Onde:
t: tamanho do cristalito;
: comprimento de onda do raio x
B: largura do pico a meia altura ( em radianos)
B: o grau

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