SO CRISTVO, SE - BRASIL
SETEMBRO DE 2014.
FICHA CATALOGRFICA ELABORADA PELA BIBLIOTECA CENTRAL
UNIVERSIDADE FEDERAL DE SERGIPE
O
1. Engenharia de materiais. 2. Ligas de titnio. 3. Materiais
biomdicos. 4. Resistncia de materiais. 5. Elasticidade. 6.
Corroso. 7. Ti-Nb 8. Ti-Nb-Si. I. Batista, Wilton Walter, orient. II.
Ttulo
CDU: 620.3:546.82-034.7
No existem sonhos impossveis para aqueles
que realmente acreditam que o poder realizador
reside no interior de cada ser humano, sempre
que algum descobre esse poder algo antes
considerado impossvel se torna realidade.
Albert Einstein
AGRADECIMENTOS
Setembro / 2014
Elementos de liga como nibio e silcio tm sido adicionados ligas de titnio como uma
alternativa na busca de novos materiais para implantes ortopdicos, visto que apresentam
biocompatibilidade e favorecem a reduo do mdulo de elasticidade. Dessa forma, o
objetivo deste trabalho foi investigar as transformaes de fases, propriedades mecnicas
e de resistncia corroso de ligas dos sistemas Ti-Nb e Ti-Nb-Si para aplicaes
biomdicas. Os resultados mostraram que a adio de Si foi efetiva na estabilizao da
fase , o qual tambm atua como supressor de , alm de produzir refinamento de gro.
Em todas as amostras estudadas, os valores de dureza se elevaram com o aumento do teor
de Si, enquanto que o mdulo de elasticidade sofreu uma reduo nas ligas dos grupos
Ti-15Nb-xSi e Ti-35Nb-xSi; no entanto, para as amostras Ti-40Nb-xSi foi verificado um
aumento de seus valores com a elevao do teor de Si. Menores mdulos de elasticidade
foram observados nas ligas Ti-35Nb-xSi resfriadas em gua, para as quais foram
realizados ensaios de trao e de resistncia corroso. Foi observado que o aumento da
concentrao de Si tambm produziu um aumento na resistncia mecnica das ligas,
entretanto, a liga com 0,55% de Si, apresentou comportamento mecnico frgil atribudo
presena de silicetos, indicados como (Ti,Nb)3Si nos contornos de gros. Os ensaios de
corroso mostraram que as ligas apresentaram uma alta resistncia no meio estudado. Os
resultados obtidos sugerem que a liga Ti-35Nb-0,35Si apresenta a melhor combinao de
propriedades: boa resistncia mecnica, baixo mdulo de elasticidade e excelente
resistncia corroso.
i
Abstract of Thesis presented to PCEM/UFS as a partial fulfillment of the requirements
for the degree of Doctor in Materials Science and Engineering (D.Sc.)
September / 2014
Researches on alloy elements such as niobium and silicon have been added to titanium
alloys as an alternative for new materials to be used in orthopedic implants, once they
present biocompatibility and favor reductions in the elasticity modulus. Therefore, the
objective of this study was to investigate the phase transformations, mechanical properties
and corrosion resistance of the Ti-Nb and Ti-Nb-Si alloys for biomedical applications.
The results showed that Si addition is effective to stabilizing the phase, which also acts
as a suppressor, and to produce grain refinement. In all samples, the hardness values
increased with the increasing of Si content, while the elastic modulus was reduced in the
Ti-15Nb-xSi and Ti-35Nb-xSi alloys; however, for Ti-40Nb-xSi samples increased with
the increasing of Si content. Lower elastic moduli were observed in water-quenched Ti-
35Nb-xSi alloys, for which tensile tests and corrosion resistance were performed. The
increase in Si concentration also produced an increase in the alloys mechanical strength. Ti-
35Nb-0,55Si alloy, however, showed brittle mechanical behavior which was related to the
presence of silicides, referred as (Ti,Nb)3Si, at the grain boundaries. Corrosion tests showed
that the alloys exhibit high resistance in the studied environment. The results suggest that
the Ti-35Nb-0,35Si alloys presents the best combination of properties: good mechanical
strength, low elastic modulus and excellent corrosion resistance.
ii
SUMRIO
LISTA DE FIGURAS v
LISTA DE TABELAS xiii
1 INTRODUO 1
2 OBJETIVOS 4
2.1 OBJETIVO GERAL 4
2.2 OBJETIVOS ESPECFICOS 4
3 REVISO DE LITERATURA 5
3.1 ASPECTOS METALRGICOS DO Ti E SUAS LIGAS 5
3.1.1 Classificao das Ligas de Titnio 7
3.1.2 Transformaes de Fases em Ligas de Titnio 10
3.2 LIGAS DE TITNIO PARA IMPLANTES ORTOPDICOS 16
3.3 ADIES DE NIBIO E SILCIO AO TITNIO 20
3.4 RESISTNCIA CORROSO EM LIGAS DE TITNIO 27
4 MATERIAIS E MTODOS 32
4.1 OBTENO DAS LIGAS POR FUSO A ARCO 32
4.2 TRATAMENTOS TRMICOS E TERMOMECNICOS 34
4.3 TCNICAS DE CARACTERIZAO 35
4.3.1 Microscopia ptica 35
4.3.2 Microscopia Eletrnica de Varredura 35
4.3.3 Espectroscopia por Energia Dispersiva 36
4.3.4 Difrao de Raios-X 36
4.3.5 Refinamento Rietveld 37
4.3.6 Anlise Trmica Diferencial 38
4.4 PROPRIEDADES MECNICAS 38
4.4.1 Ensaios de Dureza 38
4.4.2 Mdulo de Elasticidade 39
4.4.3 Ensaios de Trao 41
iii
4.5 AVALIAO DA RESISTNCIA A CORROSO 42
4.5.1 Preparao dos corpos de prova 42
4.5.2 Ensaios Eletroqumicos 43
4.5.3 Anlise da Superfcie das Ligas aps Ensaios de Corroso 44
5 RESULTADOS E DISCUSSES 45
5.1 CARACTERIZAO MICROESTRUTURAL 45
5.1.1 Ligas Ti-15Nb-xSi 45
5.1.2 Ligas Ti-35Nb-xSi 57
5.1.3 Ligas Ti-40Nb-xSi 72
5.2 PROPRIEDADES MECNICAS 86
5.3 RESISTNCIA A CORROSO 103
iv
LISTA DE FIGURAS
Figura 1.1 - (a) Prtese total de quadril constituda por trs partes: o acetbulo, cabea e
haste femoral.....................................................................................................................1
Figura 3.1 (a) Clulas unitrias das fases e . Os planos atmicos destacados na figura
referem-se aos planos preferenciais de deslizamento. (b) Diagramas de fase esquemticos
mostrando a influncia de diferentes elementos de liga no titnio (BANERJEE &
WILLIAMS, 2013)............................................................................................................6
Figura 3.3 - Diagrama de fase binrio parcial com elemento -estabilizador (LONG &
RACK, 1998).....................................................................................................................9
Figura 3.7 - (a) Microscopia TEM de campo escuro mostrando os precipitados cuboidais
da fase na liga Ti-8Fe envelhecida a 400 C por 4h (LTJERING e WILLIAMS, 2007);
(b) Imagem de TEM, campo claro, mostrando os precipitados nanomtricos elipsoidais
da fase na liga Ti-6Mo-5Ta-4Fe recozida a 300 C por 1 h (LOPES,
2009)................................................................................................................................15
v
Figura 3.8 - Mdulo de elasticidade das ligas biomdicas atualmente utilizadas (LI et al.,
2014)................................................................................................................................17
Figura 3.13 (a) Diagrama de fases 3D do sistema ternrio Ti-Nb-Si (ZHAO et al.,
2004); (b) Isoterma a 1000C (XU et al., 2005) e (c) isoterma a 1200 C (ZHAO et al.,
2004) do sistema Ti-Nb-Si. Os diagramas so plotados em porcentagem atmica...........25
Figura 3.14 (a) Variao do mdulo de elasticidade da liga Ti-26Nb com a adio de
Si (KIM et al., 2006); (b) Mdulo de elasticidade das ligas Ti-22Nb-1X (ZHANG et al.,
2013). Todas as composio so dadas em porcentagem atmica...................................26
Figura 3.17 - Curvas de Potencial de Circuito Aberto (a) e resistncia a polarizao (b)
em funo da concentrao de molibdnio na liga de Ti. Os dados foram obtidos em meio
de NaCl 0,9% (CAPELA et al., 2008).............................................................................30
Figura 4.1 Equipamento para obteno das amostras: (a) forno a arco, (b) cmara de
fuso com atmosfera controlada e (c) cadinho de cobre refrigerado com gua; (d) liga de
titnio obtida aps fuso...................................................................................................33
Figura 4.2 Forno tubular utilizado nos tratamentos trmicos de homogeneizao das
ligas estudadas: (a) vista frontal e (b) vista lateral do forno.............................................34
vi
Figura 4.3 - Diagrama esquemtico do arranjo empregado na determinao de constantes
elsticas das ligas de titnio (DE LA CRUZ, 2011)..........................................................39
Figura 4.4 (a) Dimenses do corpo de prova de trao (S, 2013); (b) amostra de um
corpo de prova usinado a partir das medidas descritas em (a)..........................................41
Figura 5.3 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras Ti-15Nb-xSi com resfriamento
em forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos mapeamentos da
distribuio de Si por EDS (d-f).......................................................................................48
Figura 5.4 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-15Nb e (b) Ti-15Nb-
0,15Si, tratadas termicamente a 1000oC por 8h seguido de resfriamento lento. As anlises
mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena entre
eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg...............................................................49
Figura 5.5 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-15Nb-0,35Si e (b) Ti-
15Nb-0,55Si, tratadas termicamente a 1000oC por 8h seguido de resfriamento lento. As
anlises mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena
entre eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg....................................................50
vii
Figura 5.7 - Micrografias pticas de amostras do grupo Ti-15Nb-xSi submetidas a
resfriamento ao ar: (a) Ti-15Nb; (b) Ti-15Nb-0,15Si; (c) Ti-15Nb-0,35Si e (d) Ti-15Nb-
0,55Si...............................................................................................................................54
Figura 5.13 Imagem obtida por MEV da amostra Ti-35Nb-0,55Si com resfriamento em
forno, aps ataque qumico..............................................................................................60
Figura 5.14 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento em forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)..........................................................61
viii
Figura 5.17 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento ao ar, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)............................................................65
Figura 5.18 - Micrografias pticas das superfcies das amostras do grupo Ti-35Nb-xSi
submetidas a resfriamento em gua: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si
e (d) Ti-35Nb-0,55Si........................................................................................................66
Figura 5.21 - Micrografias pticas das sees transversais das amostras do grupo Ti-
35Nb-xSi submetidas a resfriamento em gua: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-
35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-0,55Si..................................................................................68
Figura 5.22 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento em gua, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)..........................................................69
ix
Figura 5.27 Difratogramas de raios-X de amostras Ti-40Nb-xSi submetidas a
resfriamento ao ar: (a) Ti-40Nb; (b) Ti-40Nb-0,15Si; (c) Ti-40Nb-0,35Si e (d) Ti-40Nb-
0,55Si...............................................................................................................................74
Figura 5.30 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento em forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)...........................................................76
Figura 5.31 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento ao ar, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)............................................................77
Figura 5.32 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento em gua, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f)...........................................................78
Figura 5.33 (a) Isoterma a 1000C do sistema Ti-35Nb-Si proposta por XU et al. (2005)
(b) ampliao da parte do diagrama ternrio mostrando os campos de existncia de fases
das composies de ligas estudadas. As composies so expressas em %
atmica.............................................................................................................................80
Figura 5.34 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-40Nb e (b) Ti-40Nb-
0,15Si, tratadas termicamente a 1000C por 8h seguido de resfriamento lento. As anlises
mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena entre
eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg..............................................................82
Figura 5.35 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-40Nb-0,35Si e (b) Ti-
40Nb-0,55Si, tratadas termicamente a 1000C por 8h seguido de resfriamento lento. As
anlises mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena
entre eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg.....................................................83
x
Figura 5.36 Influncia do contedo de silcio sobre os parmetros estruturais e
porcentagens das fases (a-c) e (d-f) presentes nas ligas Ti-40Nb-xSi......................84
Figura 5.41 Curva tpica de tenso-deformao para a liga Ti-35Nb-0,35Si, a qual exibe
a SIMT (os nmeros denotam os diferentes estgios durante o ensaio de
trao)..............................................................................................................................99
Figura 5.42 Difrao de raios-X das ligas antes e aps o ensaio de trao: (a) Ti-35Nb;
(b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-0,55Si.....................................101
Figura 5.43 Superfcie de fratura obtida por MEV das ligas Ti-35Nb-xSi aps ensaio
de trao: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-
0,55Si.............................................................................................................................102
xi
Figura 5.49 - Microscopia eletrnica de varredura das superfcies das ligas, obtidas no
ltimo ponto da curva de polarizao andica: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-
35Nb-0,35Si; (d) Ti-35Nb-0,55Si..................................................................................110
Figura 5.50 - Quebra do filme de xido formado no ensaio de corroso para a liga Ti-
35Nb..............................................................................................................................111
Figura 5.51 - Curva de polarizao andica e regies de repassivao para a liga Ti-
35Nb-0.35Si...................................................................................................................111
Figura 5.52 Espectro de XPS da superfcie da liga Ti-35Nb aps ensaio de polarizao
em soluo de NaCl....113
xii
LISTA DE TABELAS
Tabela 3.5 Seleo de ligas de titnio do tipo com baixo mdulo de elasticidade, E,
desenvolvidas recentemente para aplicaes biomdicas (LI et al., 2014).....................19
Tabela 3.6 Dados das reaes invariantes do sistema Ti-Si (MASSALSKI, 1990).......24
Tabela 5.1 Composies das ligas Ti-15Nb-xSi obtidas por EDS em amostras
resfriadas em forno...........................................................................................................48
Tabela 5.3 - Parmetros estruturais da fase Ti() presente nas ligas Ti-15Nb-xSi com
resfriamento em forno......................................................................................................53
Tabela 5.4 - Parmetros estruturais da fase Ti() presente nas ligas Ti-15Nb-xSi com
resfriamento em forno......................................................................................................53
Tabela 5.5 Composies obtida por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento em
forno.................................................................................................................................61
xiii
Tabela 5.6 Composio obtida por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento ao
ar......................................................................................................................................65
Tabela 5.7 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento em
gua..................................................................................................................................69
Tabela 5.8 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento em
forno.................................................................................................................................76
Tabela 5.9 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento ao
ar......................................................................................................................................77
Tabela 5.10 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento
em gua............................................................................................................................78
Tabela 5.12 - Parmetros estruturais das fases e presentes nas amostras Ti-40Nb-xSi
com resfriamento em forno..............................................................................................85
Tabela 5.15 Dureza Vickers das amostras dos sistemas Ti-Nb e Ti-Nb-Si nas trs
condies de resfriamento estudadas...............................................................................97
Tabela 5.18 Energias de ligao dos elementos presentes na composio dos xidos no
filme passivo das ligas Ti-35Nb-xSi..............................................................................112
Tabela 5.19 - Composio do filme de xido formado na superfcie das ligas aps
polarizao andica........................................................................................................116
xiv
Captulo 1 - Introduo
CAPTULO 1
INTRODUO
Figura 1.1 - (a) Prtese total de quadril constituda por trs partes: o acetbulo, cabea e
haste femoral.
1
Captulo 1 - Introduo
de artroplastias tem idade inferior a 65 anos, elevando a necessidade de pelo menos uma
cirurgia de reviso, visto que a durabilidade de uma prtese total de quadril no cimentada
de 12 a 15 anos (RACK & QAZI, 2006; GEETHA et al., 2009). Dessa forma, espera-
se um elevado crescimento na fabricao de implantes nas prximas dcadas, tornando-
se necessrio maiores esforos no desenvolvimento de biomateriais metlicos para esta
finalidade.
2
Captulo 1 - Introduo
Como resultado, pesquisas recentes esto focadas no estudo de ligas de titnio que
apresentem elementos biocompatveis e que favoream a reduo do mdulo de
elasticidade dessas ligas, com o intuito de minimizar a reabsoro ssea. A adio de
elementos de liga como Nb, Ta, Zr, Mo, Sn e Si indicada na produo de novas ligas de
Ti por serem considerados biocompatveis e capazes de reduzir o mdulo de elasticidade
a valores mais prximos ao do osso (NIINOMI, 2002; SONG et al., 2002; YANG &
ZHANG, 2005; KIM et al., 2006a; GUO et al., 2010; RAO et al., 2014).
3
Captulo 2 - Objetivos
CAPTULO 2
OBJETIVOS
Avaliar a resistncia a corroso das ligas em meio fisiolgico por meio de ensaios
eletroqumicos.
4
Captulo 3 Reviso de Literatura
CAPTULO 3
REVISO DE LITERATURA
O titnio (Ti) o nono elemento mais abundante da crosta terreste (0,6%) e o quarto
elemento metlico em maior quantidade depois do alumnio, ferro e magnsio. Foi
identificado pela primeira vez em 1791, a partir do mineral ilmenita (FeTiO 3), pelo
mineralogista ingls William Gregor na Inglaterra. Em 1795, o qumico alemo Klaproth
identificou novamente esse elemento a partir do mineral rutilo (TiO 2) nomeando
definitivamente como Titnio em homenagem aos Tits, filhos poderosos de Urano e
Gaia da mitologia grega (LTJERING e WILLIAMS, 2007; LOPES, 2009, ZHANG et
al., 2011).
5
Captulo 3 Reviso de Literatura
Figura 3.1 (a) Clulas unitrias das fases e . Os planos atmicos destacados na figura
referem-se aos planos preferenciais de deslizamento. (b) Diagramas de fase esquemticos
mostrando a influncia de diferentes elementos de liga no titnio (BANERJEE &
WILLIAMS, 2013).
Os elementos alumnio (Al), oxignio (O), nitrognio (N) e carbono (C) atuam
como fortes elementos de liga -estabilizadores e so os mais utilizados para aumentar a
temperatura de transformao alotrpica. Os elementos -estabilizadores so divididos
em -isomorfos e -eutetides (LONG & RACK, 1998; LEYENS e PETERS, 2004;
LTJERING e WILLIAMS, 2007). Os -isomorfos mais comuns so o vandio (V),
6
Captulo 3 Reviso de Literatura
7
Captulo 3 Reviso de Literatura
Ligas e near-
8
Captulo 3 Reviso de Literatura
Ligas +
Figura 3.3 - Diagrama de fases binrio parcial com elemento -estabilizador (LONG &
RACK, 1998).
9
Captulo 3 Reviso de Literatura
10
Captulo 3 Reviso de Literatura
11
Captulo 3 Reviso de Literatura
IV B VB VI B VII B VIII B IB
4d Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu
- " - - - - - -
9
5d Zr Nb Mo Tc Ru Rh Pd Ag
- " " " " - - ?
11 4-6 ? 2
6d Hf Ta W Re Os Ir Pt Au
- " " " " " - ?
15 5 3 2 2
12
Captulo 3 Reviso de Literatura
A forma massiva somente ocorre no titnio puro ou para as ligas diludas nas quais
a Ms elevada. Sua morfologia constituda de grandes regies irregulares com
tamanhos que variam entre 50 a 100 m contendo pequenos pacotes de placas
parcialmente paralelas (Figura 3.5a). Com o aumento do teor de soluto, a temperatura Ms
diminui, e a morfologia da martensita passa a ser acicular exibindo placas primrias e
secundrias orientadas aleatoriamente (Figura 3.5b-c) (POLMEAR, 2005; LTJERING
e WILLIAMS, 2007).
V Nb Ta Cr Mo W Mn Fe Co Ni
%
15 36 50 8 10 25 6 4 6 8
(massa)
%
14,2 22,5 20,9 7,4 5,2 8 5,3 3,4 4,9 6,6
(atmica)
13
Captulo 3 Reviso de Literatura
deslocamento que geram colapso dos planos {111} da fase na direo <111> (TANG
et al., 2000; LAHUERTE et al., 2005; SOUZA, 2008; ALEIXO, 2009). Na transformao
iso, mecanismos de nucleao e crescimento a partir da fase esto envolvidos.
Nesse caso, existem condies termodinmicas favorveis ocorrncia de difuso
atmica, e a transformao acompanhada pela rejeio de soluto e mudanas de
composio na precipitao de (BANERJEE & WILLIAMS, 2013; LOPES, 2009;
CREMASCO, 2012).
14
Captulo 3 Reviso de Literatura
{100} da rede CCC. Entretanto, para ligas com metais de transio com nvel de energia
4d semipreenchido (Ti-(4d)M) como Ti-Nb e Ti-Mo, a morfologia se apresenta como
elipsoidal (Figura 3.7b) com eixo paralelo a uma das quatro direes <111> da rede CCC
da fase (NAG, 2008; SOUZA, 2008; CREMASCO, 2012).
Figura 3.7 - (a) Microscopia TEM de campo escuro mostrando os precipitados cuboidais
da fase na liga Ti-8Fe envelhecida a 400 C por 4h (LTJERING e WILLIAMS, 2007);
(b) Imagem de TEM, campo claro, mostrando os precipitados nanomtricos elipsoidais
da fase na liga Ti-6Mo-5Ta-4Fe recozida a 300 C por 1 h (LOPES, 2009).
15
Captulo 3 Reviso de Literatura
16
Captulo 3 Reviso de Literatura
shielding (HON et al., 2003; AFONSO et al., 2007; ALEIXO et al., 2008; WEI et al.,
2011; NIINOMI et al., 2012; LI et al., 2014). Essa problemtica tm motivado o
desenvolvimento de novas ligas de titnio contendo elementos no-txicos e que
favorecem a reduo do mdulo de elasticidade, tais como Nb, Ta, Zr, Mo, Sn, Si. Isso
garantiu a admisso de ligas do tipo nesta rea, visto que so materiais que apresentam
excelentes propriedades mecnicas, baixo mdulo e boa resistncia corroso (KIM et
al., 2006a; ALEIXO et al., 2008; ZHOU et al., 2009; WEI et al., 2011; CREMASCO et
al., 2011a; MLEK et al., 2012).
Figura 3.8 - Mdulo de elasticidade das ligas biomdicas atualmente utilizadas (LI et al.,
2014).
17
Captulo 3 Reviso de Literatura
18
Captulo 3 Reviso de Literatura
(Recozida) F-04.12.23
Ti-16Nb-10Hf
736 851 10 81 -
(Envelhecida)
Ti-29Nb-13Ta-4,6Zr
864 911 13,2 80 -
(Envelhecida)
Ti-15Mo-2,8Nb-0,2Si
945-987 979-999 16-18 83 -
(Recozida)
Ti-24Nb-4Zr-7,9Sn
700 830 15 46 -
(Laminada a quente)
Ti-24Nb-4Zr-7,9Sn
570 755 13 55 -
(Forjada a quente)
Ti-24Nb-4Zr-7,9Sn
563 665 14 53 -
(Fundida)
Ti-35Nb-7Zr-5Ta-0,4O
976 1010 19 66 -
(Recozida)
Tabela 3.5 Seleo de ligas de titnio do tipo com baixo mdulo de elasticidade, E,
desenvolvidas recentemente para aplicaes biomdicas (LI et al., 2014).
Ligas de Ti com baixo E / GPa Ligas de Ti com baixo E / GPa
mdulo mdulo
Ti-29Nb-13Ta-4Mo 5080 Ti-25Nb-2Mo-4Sn 65
Ti-12Mo-5Ta 74 Ti-12Mo-5Zr 64
19
Captulo 3 Reviso de Literatura
20
Captulo 3 Reviso de Literatura
Figura 3.9 - Diagrama de fases no equilbrio do sistema binrio Ti-Nb (ASM, 1990).
21
Captulo 3 Reviso de Literatura
22
Captulo 3 Reviso de Literatura
Estudos recentes esto voltados para avaliao de novas ligas do sistema ternrio
Ti-Nb-Si como materiais promissores para aplicaes biomdicas (KIM et al., 2006a;
ZHANG et al., 2013). No entanto, a solubilidade do Si em ligas de Ti-Nb muito
limitada. Alm da formao dos compostos intermetlicos mostrados no diagrama do
sistema binrio Ti-Si (Figura 3.12), tambm possvel a formao de outras fases
estveis, como Nb3Si, Nb5Si3 e NbSi2 (ZHAN et al., 2009a). A Figura 3.13a apresenta um
diagrama de fase 3D esquemtico do sistema Ti-Nb-Si e as Figuras 3.13b e 3.13c mostram
isotermas a 1000 e a 1200C, determinadas por XU et al. (2005) e ZHAO et al. (2004),
23
Captulo 3 Reviso de Literatura
respectivamente, pelas quais possvel observar que a adio de Nb reduz ainda mais a
solubilidade do Si no campo de fase em ligas de titnio.
Tabela 3.6 Dados das reaes invariantes do sistema Ti-Si (MASSALSKI, 1990).
24
Captulo 3 Reviso de Literatura
Figura 3.13 (a) Diagrama de fases 3D do sistema ternrio Ti-Nb-Si (ZHAO et al.,
2004); (b) Isoterma a 1000C (XU et al., 2005) e (c) isoterma a 1200 C (ZHAO et al.,
2004) do sistema Ti-Nb-Si. Os diagramas so plotados em porcentagem atmica.
25
Captulo 3 Reviso de Literatura
ZHANG et al. (2013) estudaram o efeito de alguns elementos (Mo, Zr, Ta, Fe, Sn
e Si) numa liga Ti-22Nb (% tomos). Entre os elementos estudados, a adio do Si, Sn e
Zr foi a que favoreceu a obteno de ligas com mais baixos mdulos de elasticidade
(Figura 3.14b). Eles observaram ainda que a adio de 1% em tomos de Si influenciou
levemente a microestrutura da liga Ti-22Nb, e promoveu um endurecimento por soluo
slida da fase , devido ao pequeno tamanho atmico desse elemento.
Figura 3.14 (a) Variao do mdulo de elasticidade da liga Ti-26Nb com a adio de
Si (KIM et al., 2006); (b) Mdulo de elasticidade das ligas Ti-22Nb-1X (ZHANG et al.,
2013). Todas as composio so dadas em porcentagem atmica.
26
Captulo 3 Reviso de Literatura
propriedades mecnicas das ligas. Observou-se ainda que o mdulo de elasticidade das
ligas sensvel, mas no linearmente, quantidade de Si adicionado.
Sabe-se que uma das propriedades mais interessantes do Ti e suas ligas sua
elevada resistncia corroso, a qual permite sua aplicao como biomaterial. Isso se
deve formao de um filme de xido estvel, que atua como uma barreira passiva,
inibindo o processo corrosivo na superfcie do material (CRESMASCO, 2008a).
27
Captulo 3 Reviso de Literatura
28
Captulo 3 Reviso de Literatura
29
Captulo 3 Reviso de Literatura
(a) (b)
Figura 3.17 - Curvas de Potencial de Circuito Aberto (a) e resistncia a polarizao (b)
em funo da concentrao de molibdnio na liga de Ti. Os dados foram obtidos em meio
de NaCl 0,9% (CAPELA et al., 2008).
30
Captulo 3 Reviso de Literatura
31
Captulo 4 Materiais e Mtodos
CAPTULO 4
MATERIAIS E MTODOS
As ligas foram preparadas a partir da fuso dos elementos Ti, Nb e Si de alta pureza.
Os dois primeiros, foram adquiridos em forma de barra e placas, respectivamente. Ambos
foram cortados em pedaos menores e decapados quimicamente, com solues
apropriadas, para remoo de xidos. A adio de Si foi realizada na forma de p (100
mesh). A Tabela 4.1 apresenta a procedncia, os graus de pureza dos elementos e os
reagentes qumicos utilizados na decapagem dos metais.
32
Captulo 4 Materiais e Mtodos
A fuso dos elementos foi realizada utilizando-se forno a arco voltaico com eletrodo
de tungstnio no consumvel, sob atmosfera de argnio puro (grau 5.0 analtico - White
Martins) e cadinho de cobre refrigerado a gua (Figura 4.1). O forno a arco utilizado foi
do modelo AN9270 da Analgica Instrumentao e Controle, o qual constitudo por
cmara cilndrica em ao inoxidvel, com parede dupla para permitir a circulao da gua
para refrigerao. Possui ainda sistemas de injeo e vcuo, os quais permitem obter
atmosfera inerte.
Figura 4.1 Equipamento para obteno das amostras: (a) forno a arco, (b) cmara de
fuso com atmosfera controlada e (c) cadinho de cobre refrigerado com gua; (d) liga de
titnio obtida aps fuso.
33
Captulo 4 Materiais e Mtodos
Figura 4.2 Forno tubular utilizado nos tratamentos trmicos de homogeneizao das
ligas estudadas: (a) vista frontal e (b) vista lateral do forno.
34
Captulo 4 Materiais e Mtodos
35
Captulo 4 Materiais e Mtodos
Para a realizao desta anlise foram utilizadas amostras lixadas e polidas, sem
ataque qumico, com a finalidade de mapear a distribuio do Si nas ligas estudadas, uma
vez que a solubilidade deste elemento em ligas de Ti-Nb muito baixa. A composio de
Ti, Nb e Si das ligas produzidas tambm foi investigada por EDS.
36
Captulo 4 Materiais e Mtodos
Esse mtodo tem como objetivo produzir o ajuste dos parmetros de uma estrutura
cristalina a partir de dados obtidos pela difratometria de raios-X, atravs da melhor
concordncia do padro de difrao calculado e observado (BRITO, 2011). Quando o
melhor ajuste entre os difratogramas calculado e observado alcanado, os parmetros
de refino no variam mais. Nesse caso, dito que os valores atingidos no final do
refinamento representam a estrutura cristalina real ou a mais prxima possvel.
37
Captulo 4 Materiais e Mtodos
material padro para obter os parmetros da funo instrumental foi o LaB6. Para os
clculos do refinamento e anlise quantitativa de fases foi utilizado o programa GSAS
(LARSON & VON DREELE, 2001).
1,854
= (4.1)
2
38
Captulo 4 Materiais e Mtodos
O mdulo de elasticidade das ligas foi obtido por meio de mtodo no-destrutivo
atravs de medidas de ultrassom, descrito pela norma ASTM E-494 (2005). Um diagrama
esquemtico do sistema de medidas de mdulo de elasticidade por ultrassom mostrado
na Figura 4.3.
39
Captulo 4 Materiais e Mtodos
2
= (4.2)
= 22 (1 + ) (4.4)
40
Captulo 4 Materiais e Mtodos
Figura 4.4 (a) Dimenses do corpo de prova de trao (S, 2013); (b) amostra de um
corpo de prova usinado a partir das medidas descritas em (a).
41
Captulo 4 Materiais e Mtodos
Os ensaios de trao foram realizados, conforme descrito pela norma ASTM E-8M
(2004), utilizando-se um equipamento INSTRON 3367, com clula de carga de 30 kN,
temperatura ambiente. A velocidade de deslocamento foi de 0,5 mm/min.
42
Captulo 4 Materiais e Mtodos
43
Captulo 4 Materiais e Mtodos
A superfcie das ligas aps os ensaios electroqumicos foi analisada por microscopia
eletrnica de varredura, utilizando-se o microscpio eletrnico descrito na seo 4.3.2.
44
Captulo 5 Resultados e Discusses
CAPTULO 5
RESULTADOS E DISCUSSES
45
Captulo 5 Resultados e Discusses
46
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Atravs da anlise da Figura 5.3 foi possvel observar que no houve nenhuma
variao composicional do Si nas ligas de composio Ti-15Nb-xSi, uma vez que o
mapeamento da distribuio desse elemento foi relativamente homogneo, indicando que
o Si se encontra em soluo slida na liga Ti-15Nb. Esses resultados esto em
conformidade com a isoterma proposta por XU et al. (2005) para o sistema Ti-Nb-Si, que
pode ser melhor visualizado na Figura 5.33 da seo 5.1.3, onde as composies das
amostras Ti-15Nb-0,15Si (Ti-8,3Nb-0,26Si, % at.), Ti-15Nb-0,35Si (Ti-8,3Nb-0,59Si, %
at.) e Ti-15Nb-0,55Si (Ti-8,3Nb-0,94Si, %at.) se encontram dentro do campo a 1000C.
47
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.3 Imagens obtidas por MEV de amostras Ti-15Nb-xSi com resfriamento em
forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos mapeamentos da
distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.1 Composies das ligas Ti-15Nb-xSi obtidas por EDS em amostras
resfriadas em forno.
Composio obtida por EDS (% em peso)
Composio nominal
Ti Nb Si
Ti-15Nb-0,15Si 83,45 0,57 16,38 0,54 0,16 0,03
Ti-15Nb-0,35Si 82,90 0,89 16,85 0,94 0,25 0,04
Ti-15Nb-0,55Si 83,85 0,48 15,65 0,53 0,49 0,05
48
Captulo 5 Resultados e Discusses
21000
(a) Ti-15Nb
18000
I (obs)
Intensidade / u.a.
15000
I (calc)
12000
background
9000 obs - calc
6000
3000
0
Ti()
-3000 Ti()
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
40000
(b) Ti-15Nb-0,15Si
35000
30000 I (obs)
Intensidade / u.a.
25000 I (calc)
20000 background
obs - calc
15000
10000
5000
0
-5000 Ti()
Ti()
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
Figura 5.4 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-15Nb e (b) Ti-15Nb-
0,15Si, tratadas termicamente a 1000oC por 8h seguido de resfriamento lento. As anlises
mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena entre
eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg.
49
Captulo 5 Resultados e Discusses
32000
(a) Ti-15Nb-0,35Si
28000
I (obs)
24000
Intensidade / u.a.
I (calc)
20000 background
16000 obs - calc
12000
8000
4000
0
-4000 Ti()
Ti()
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
45000
40000
(b) Ti-15Nb-0,55Si
35000
Intensidade / u.a.
I (obs)
30000
I (calc)
25000
background
20000
obs - calc
15000
10000
5000
0
Ti()
-5000 Ti()
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
Figura 5.5 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-15Nb-0,35Si e (b) Ti-
15Nb-0,55Si, tratadas termicamente a 1000 oC por 8h seguido de resfriamento lento. As
anlises mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena
entre eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg.
50
Captulo 5 Resultados e Discusses
51
Captulo 5 Resultados e Discusses
0,2989 0,3318
0,2982 0,3311
0,2975 0,3304
0,3297
a (nm)
0,2968
a (nm)
0,3290
0,2961
0,3283
0,2954
0,3276
0,2947 0,3269
0,2940 0,3262
0,2933 0,3255
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Si (% em peso) Si (% em peso)
(a) (d)
0,4705 0,0355
0,4700 0,0354
0,4695 0,0353
0,4690 0,0352
0,4685 0,0351
0,4680 0,0350
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Si (% em peso) Si (% em peso)
(b) (e)
Volume da clula unitria da fase nm3)
0,0358 100
Fraao de Volume da Fase
90
0,0357
80
0,0356
70
0,0355 60
0,0354 50
40
0,0353
30
0,0352
20
0,0351 10
0,0350 0
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Si (% em peso) Si (% em peso)
(c) (f)
52
Captulo 5 Resultados e Discusses
Tabela 5.3 - Parmetros estruturais da fase Ti() presente nas ligas Ti-15Nb-xSi com
resfriamento em forno.
Ti ()
Tabela 5.4 - Parmetros estruturais da fase Ti() presente nas ligas Ti-15Nb-xSi com
resfriamento em forno.
Ti ()
53
Captulo 5 Resultados e Discusses
54
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
55
Captulo 5 Resultados e Discusses
56
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
'' ''
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d )
'' ''
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.10 Difratogramas de raios-X de amostras do grupo Ti-15Nb-xSi submetidas
a resfriamento em gua: (a) Ti-15Nb; (b) Ti-15Nb-0,15Si; (c) Ti-15Nb-0,35Si e (d) Ti-
15Nb-0,55Si.
57
Captulo 5 Resultados e Discusses
58
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.12 Difratogramas de raios-X de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi submetidas
a resfriamento em forno: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-
35Nb-0,55Si.
59
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.13 Imagem obtida por MEV da amostra Ti-35Nb-0,55Si com resfriamento em
forno, aps ataque qumico.
60
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.14 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento em forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.5 Composies obtida por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento em
forno.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
61
Captulo 5 Resultados e Discusses
ligas. Atravs da anlise da Figura 5.14d-e, foi possvel observar que a distribuio de Si
nas amostras com 0,15% e 0,35% de Si, respectivamente, foi mais homognea. No
entanto, para a amostra contendo 0,55% de Si, foram observadas algumas regies com
concentraes mais elevadas deste elemento de liga, conforme mostrado na Figura 5.14f.
As composies das amostras obtidas por EDS so mostradas na Tabela 5.5, onde
pode-se verificar que os dados esto em conformidade com as composies nominais
propostas neste estudo. Para a amostra contendo 0,55% de Si, anlises pontuais por EDS
foram realizadas em regies com uma maior concentrao deste elemento de liga (ponto
1 na Figura 5.14f) e na matriz (ponto 2 da Figura 5.14f). As composies das duas regies
analisadas so mostradas na Tabela 5.5, as quais evidenciam a existncia de partculas de
Si com composio prxima a 12% em peso, enquanto que na matriz, a composio de
Si obtida foi em torno de 0,38%.
62
Captulo 5 Resultados e Discusses
63
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
" "
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d )
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
" "
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.16 Difratogramas de raios-X de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi submetidas
a resfriamento ao ar: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-
0,55Si.
Uma vez que a formao dos silicetos de titnio foi verificada em amostras com
resfriamento em forno, mapas da distribuio de Si tambm foram obtidos por EDS em
amostras com resfriamento ao ar. As Figuras 5.17a-c mostram as imagens obtidas por
eltrons secundrios das superfcies das amostras e as Figuras 5.17d-f apresentam seus
respectivos mapeamentos da distribuio de Si. Assim, verifica-se que as caractersticas
observadas nas ligas com resfriamento ao ar (Figura 5.17) so semelhantes quelas
obtidas para as amostras com resfriamento em forno (Figura 5.14), j que apenas a
amostra contendo 0,55% de Si mostrou a formao de uma segunda fase localizada
preferencialmente nos contornos dos gros. As anlises pontuais por EDS na regio com
concentrao mais elevada de Si (ponto1 da Figura 5.17f) e na matriz (ponto 2 da Figura
5.17f) confirmam a presena dos silicetos.
64
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.17 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento ao ar, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.6 Composio obtida por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento ao ar.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
65
Captulo 5 Resultados e Discusses
Ms e Mf de ligas Ti-Nb que, por sua vez, influi diretamente na quantidade de fase retida.
Como a taxa de resfriamento no a mesma na superfcie e no interior das amostras,
foram tambm obtidas as microestruturas de suas sees transversais (Figura 5.20 e 5.21)
com procedimento semelhante ao utilizado por SOUZA (2008). Uma anlise
microestrutural mais cuidadosa nessa condio de resfriamento se deve ao fato que este
grupo de amostras apresenta concentrao de Nb prxima da concentrao mnima para
completa estabilizao da fase (36,7% em peso) sob resfriamento rpido e, pretendeu-
se aqui, verificar a influncia das concentraes de Si utilizadas nesse estudo.
Figura 5.18 - Micrografias pticas das superfcies das amostras do grupo Ti-35Nb-xSi
submetidas a resfriamento em gua: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si
e (d) Ti-35Nb-0,55Si.
66
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
'' ''
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
'' ''
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.19 Difratogramas de raios-X das amostras do grupo Ti-35Nb-xSi submetidas
a resfriamento em gua: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-
35Nb-0,55Si.
67
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.21 - Micrografias pticas das sees transversais das amostras do grupo Ti-
35Nb-xSi submetidas a resfriamento em gua: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-
35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-0,55Si.
Com relao fase , picos de difrao de raios-X caractersticos desta fase foram
somente encontrados na amostra Ti-35Nb, como pode ser observado na Figura 5.19a. Este
fato consistente com os estudos realizados por KIM et al. (2006a), os quais observaram
que a adio de Si em ligas de Ti-Nb impede o colapso dos planos (111) da fase ,
resultando, dessa forma, na supresso da fase .
68
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.22 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-35Nb-xSi com
resfriamento em gua, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.7 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento em
gua.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
69
Captulo 5 Resultados e Discusses
(d)
Decomposio de "
Precipitao de
Exo
(c)
-ransus
(b)
Endo
(a)
70
Captulo 5 Resultados e Discusses
71
Captulo 5 Resultados e Discusses
72
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.25 Difratogramas de raios-X das amostras Ti-40Nb-xSi submetidas a
resfriamento em forno: (a) Ti-40Nb; (b) Ti-40Nb-0,15Si; (c) Ti-40Nb-0,35Si e (d) Ti-
40Nb-0,55Si.
73
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
74
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
(c) (d)
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Pelos mapeamentos por EDS, nota-se que apenas a amostra com teor de 0,15% de
Si apresentou uma distribuio uniforme nas trs condies de resfriamento: forno, ar e
gua (Figura 5.30d, 5.31d e 5.32d). No entanto, as amostras contendo 0,35% e 0,55% de
Si exibiram algumas regies com concentraes mais elevadas desse elemento, sugerindo
a formao de silicetos. Para essas amostras foram realizadas anlises pontuais nas
regies onde apresentaram maiores concentraes de Si (ponto 1 das Figuras 5.30e-f,
75
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.30 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento em forno, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.8 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento em
forno.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
76
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.31 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento ao ar, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.9 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento ao
ar.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
77
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.32 Imagens obtidas por MEV/SEI de amostras do grupo Ti-40Nb-xSi com
resfriamento em gua, onde x = 0,15 (a), x = 0,35 (b) e x = 0,55 (c), e os respectivos
mapeamentos da distribuio de Si por EDS (d-f).
Tabela 5.10 Composies obtidas por EDS das ligas Ti-40Nb-xSi com resfriamento
em gua.
Composio obtida por EDS
Composio nominal Regio Analisada (% em peso)
Ti Nb Si
78
Captulo 5 Resultados e Discusses
Ao analisar a Figura 5.33b pode-se notar que as composies das ligas Ti-35Nb-
0,55Si (Ti-21,7Nb-0,94Si %at.), Ti-40Nb-0,35Si (Ti-25,6Nb-0,59Si %at.) e Ti-40Nb-
0,55Si (Ti-25,6Nb-0,94Si %at.) se encontram no campo bifsico Ti- + Ti3Si.
Infelizmente, a presena dessa fase no foi identificada por difrao de raios-X,
possivelmente devido a sua baixa frao de volume. No entanto, levando em conta que
os resultados obtidos neste estudo so condizentes com a isoterma apresentada e que
resultados semelhantes foram obtidos por MASUMOTO et al. (2006), pode-se considerar
que as partculas de Si identificadas atravs dos mapeamentos so silicetos do tipo
(Ti,Nb)3Si, os quais foram formados durante o tratamento trmico a 1000C.
79
Captulo 5 Resultados e Discusses
(a) (b)
Figura 5.33 (a) Isoterma a 1000C do sistema Ti-35Nb-Si proposta por XU et al. (2005) (b) ampliao da parte do diagrama ternrio
mostrando os campos de existncia de fases das composies de ligas estudadas. As composies so expressas em % atmica.
80
Captulo 5 Resultados e Discusses
81
Captulo 5 Resultados e Discusses
12000
(a) Ti-40Nb
10000
Intensidade (u.a.)
I (obs)
8000 I (calc)
background
6000
obs - calc
4000
2000
0
Ti()
-2000 Ti(')
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
20000
18000 (b) Ti-40Nb-0,15Si
16000
I (obs)
Intensidade (u.a.)
14000
12000 I (calc)
10000 background
8000 obs - calc
6000
4000
2000
0
-2000 Ti()
Ti(')
-4000
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
Figura 5.34 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-40Nb e (b) Ti-40Nb-
0,15Si, tratadas termicamente a 1000oC por 8h seguido de resfriamento lento. As anlises
mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena entre
eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg.
82
Captulo 5 Resultados e Discusses
10000 background
8000
obs - calc
6000
4000
2000
0
-2000 Ti()
Ti(')
-4000
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
(b) Ti-40Nb-0,55Si
14000
12000
I (obs)
I (calc)
Intensidade (u.a.)
10000
background
8000 obs - calc
6000
4000
2000
0
-2000
Ti()
-4000 Ti(')
30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
2 (graus)
Figura 5.35 Grfico de Rietveld do refinamento das ligas (a) Ti-40Nb-0,35Si e (b) Ti-
40Nb-0,55Si, tratadas termicamente a 1000oC por 8h seguido de resfriamento lento. As
anlises mostram os difratogramas observados (I(obs)) e calculados (I(calc)), a diferena
entre eles (obs-calc) e as posies dos picos de Bragg.
83
Captulo 5 Resultados e Discusses
0,330 0,330
0,329 0,329
a' (nm)
a (nm)
0,328 0,328
0,327 0,327
0,326 0,326
0,325 0,325
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Si (% em peso) Si (% em peso)
(a) (d)
Volume da clula unitria da fase nm3)
Volume da clula unitria da fase nm3)
100 100
90 90
'
80 80
70 70
60 60
50 50
40 40
30 30
20 20
10 10
0 0
0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Si (% em peso) Si (% em peso)
(c) (f)
84
Captulo 5 Resultados e Discusses
Tabela 5.12 - Parmetros estruturais das fases e presentes nas amostras Ti-40Nb-xSi
com resfriamento em forno.
A Tabela 5.13 apresenta um quadro resumo das fases identificadas por difrao de
raios-X e microscopia ptica nas amostras dos sistemas Ti-Nb e Ti-Nb-Si nas condies
de resfriamento em forno, ao ar e em gua. Nesta relao foram acrescentadas a tabela as
fases que, embora no identificadas diretamente por tcnicas mais apropriadas,
85
Captulo 5 Resultados e Discusses
apresentaram forte evidncia de sua presena e que tem tambm encontrado respaldo na
literatura; estes casos referem-se as fases (Ti,Nb)3Si e .
86
Captulo 5 Resultados e Discusses
entre as fases e os mdulos de elasticidade so dadas da seguinte maneira: > > >
> (LEE et al., 2002).
Com relao s amostras Ti-15Nb-xSi resfriadas ao ar (figura 5.37 (b)), nota-se que
h uma leve tendncia de reduo do mdulo de elasticidade com a adio de Si. No
entanto, os valores dos mdulos de elasticidade dessas amostras se encontram muito
prximos (entre 92 GPa (Ti-15Nb) e 88 GPa (Ti-15Nb-0,55Si)) e dentro da faixa de erro
da medida, o que torna essa reduo menos signiticativa quando comparada a condio
de resfriamento em forno. Comparando-se os valores dos mdulos das amostras em forno
e ao ar, observa-se que h uma reduo dos mdulos na condio de resfriamento ao ar.
Uma vez que as mesmas fases, e , foram identificadas em ambas as condies (Figuras
5.2 e 5.8), a diferena entre os valores dos mdulos de elasticidade pode estar associada
s diferentes taxas de resfriamento impostas. Nesse caso, o aumento da taxa de
resfriamento (amostras ao ar) promove menor nucleao e crescimento da fase , e isso
87
Captulo 5 Resultados e Discusses
pode refletir em uma maior reteno da fase , tendo como consequncia a reduo do
mdulo (SOUZA, 2008).
Dureza Vickers
96 230
94
220
92
90 210
88
200
86
84
E
Dureza 190
82
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
98 310
96 (b) 300
94
290
Dureza Vickers
92
90 280
88 270
86 260
84
250
82
80
E 240
Dureza
78 230
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
330
74
72
(c) 320
310
70
Dureza Vickers
300
68
290
66
280
64
270
62
260
60
250
58 E 240
56 Dureza
230
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
88
Captulo 5 Resultados e Discusses
Com relao dureza, verifica-se que nas trs condies de resfriamento (Figura
5.37), o aumento do teor de Si contribuiu para o aumento da dureza das ligas. Esse efeito
est associado ao endurecimento por soluo slida, o qual fortemente dependente do
raio atmico e do nmero de eltrons de valncia dos tomos do soluto. Ao comparar o
Si ao Ti, nota-se que ambos possuem o mesmo nmero de eltrons de valncia (e/a = 4),
no entanto, a diferena entre o raio atmico do Ti (1,44 ) e do Si (1,18 ) grande.
Como resultado, o silcio exibe um forte efeito de endurecimento por soluo slida em
ligas Ti-Nb (ZHANG et al., 2013).
89
Captulo 5 Resultados e Discusses
A Figura 5.38 mostra os valores dos mdulos de elasticidade e dureza das amostras
do grupo Ti-35Nb-xSi. Para as amostras resfriadas em forno (Figura 5.38a), a reduo do
mdulo de elasticidade (de 98 GPa para 86 GPa) com o aumento da concentrao de Si
est associada diminuio da densidade de precipitados da fase na matriz , uma vez
que o Si capaz de impedir sua formao (KIM et al., 2006a). Em taxas de resfriamento
mais baixas, a precipitao de mais intensa e, segundo reportado na literatura, esta
fase a que apresenta maior mdulo de elasticidade dentre as fases de ligas de Ti (LEE
et al., 2002; ZHOU et al., 2004; SOUZA et al., 2010).
Na amostra contendo 0,55% de Si, a fase foi tambm identificada, alm das fases
e (Figura 5.12d). Dessa forma, mesmo com a existncia de uma pequena frao de
volume de , a qual apresenta mdulo de elasticidade mais alto do que o mdulo da fase
(LEE et al., 2002), o silcio, que um elemento -estabilizador e, portanto presente na
rede de , possui uma concentrao levemente maior que aquela apresentada na amostra
Ti-35Nb-0,35Si (Tabela 5.5). Esse fato induz uma menor precipitao de , e torna a fase
mais estvel, o que favorece a reduo do mdulo de elasticidade, conforme visto na
Figura 5.38a. Entretanto, pelo difratograma de raios-X (Figura 5.12d), um pico tnue da
fase ainda observado, o que mostra que a concentrao de silcio utilizada no foi
suficiente para sua completa eliminao nesta condio de resfriamento.
90
Captulo 5 Resultados e Discusses
100
(a) 330
96 320
Dureza Vickers
92 310
88 300
84 290
80
280
76
E 270
72 Dureza
260
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
100 320
96
(b) 310
300
92
Dureza Vickers
290
88
280
84 270
80 260
76 250
E
Dureza 240
72
230
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
80 260
76
(c)
240
72
Dureza Vickers
220
68
200
64
180
60
56 160
E
52 Dureza 140
91
Captulo 5 Resultados e Discusses
Nas amostras resfriadas em gua (Figura 5.38c) foi verificada uma reduo
significativa do mdulo de elasticidade (de 72 GPa para 65GPa) quando um teor de 0,15%
de Si foi adicionado a liga Ti-35Nb. Esse resultado atribudo principalmente supresso
parcial ou completa da fase , a qual foi detectada por difrao de raios-X somente na
amostra sem silcio (Figura 5.19). Como visto na Figura 5.21, a frao de volume da
martensita foi tambm reduzida com o aumento da concentrao de silcio, o que
contribuiria para diminuio do mdulo de elasticidade (LEE et al., 2002; SOUZA et al.,
2010). Entretanto, nenhuma variao em seus valores foi notada, mesmo na amostra
contendo 0,55% de Si, onde silicetos foram identificados (Figura 5.22f). Para esta
concentrao de silcio, o valor de mdulo de elasticidade foi de (65 2) GPa, cuja
composio da liga bem prxima da composio investigada por ZHANG et al. (2013),
onde foi observado que a liga Ti-22Nb-1Si (%at.) (Ti-35,4Nb-0,6Si (% em massa))
apresentou mdulo de elasticidade de 68 GPa.
Com relao dureza das amostras do grupo Ti-35Nb-xSi, mostrada na Figura 5.38,
observou-se que o aumento do teor de Si tambm favoreceu o aumento de dureza das
ligas. Conforme mencionado anteriormente, esse fato est relacionado ao efeito de
endurecimento por soluo slida. Nesse conjunto de amostras, a condio de
resfriamento em forno permitiu a obteno de ligas com dureza mais elevada (Figura
92
Captulo 5 Resultados e Discusses
5.38a). Isso reflexo da precipitao mais intensa da fase , observada nas amostras por
meio da difrao de raios-X (Figura 5.12). A presena dessa fase determina os altos
valores de dureza e de mdulo de elasticidade observados (LEE et al., 2002; SOUZA et
al., 2010).
93
Captulo 5 Resultados e Discusses
90
(a)
240
88
Dureza Vickers
86 230
84
220
82
80 210
78 E
Dureza 200
76
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
82 260
80 (b) 250
78
240
Dureza Vickers
76
74 230
72 220
70 210
68
200
66
64
E 190
Dureza
62 180
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
Mdulo de Elasticidade, E (GPa)
68 240
(c) 230
66
Dureza Vickers
64 220
210
62
200
60
190
58 E
Dureza 180
56
0 0,15 0,35 0,55
Si (% em massa)
94
Captulo 5 Resultados e Discusses
95
Captulo 5 Resultados e Discusses
96
Captulo 5 Resultados e Discusses
Tabela 5.15 Dureza Vickers das amostras dos sistemas Ti-Nb e Ti-Nb-Si nas trs
condies de resfriamento estudadas.
Composio Condies de resfriamento
(% em massa) Forno Ar gua
Ti-15Nb 210 6 250 5 262 6
Ti-15Nb-0,15Si 218 7 264 2 267 3
Ti-15Nb-0,35Si 227 6 279 5 285 3
Ti-15Nb-0,55Si 233 5 297 6 313 7
Ti-35Nb 281 4 270 2 172 2
Ti-35Nb-0,15Si 287 3 276 6 190 3
Ti-35Nb-0,35Si 293 4 288 5 202 3
Ti-35Nb-0,55Si 319 6 296 4 223 2
Ti-40Nb 206 3 194 6 183 3
Ti-40Nb-0,15Si 208 1 207 6 194 2
Ti-40Nb-0,35Si 218 5 217 2 206 3
Ti-40Nb-0,55Si 230 3 225 3 208 2
97
Captulo 5 Resultados e Discusses
700
4
Tenso, MPa 600
500 3
21
400
300
(1) Ti-35Nb
200 (2) Ti-35Nb-0,15Si
100 (3) Ti-35Nb-0,35Si
(4) Ti-35Nb-0,55Si
0
0
0,0 0.1
0,1 0.2
0,2 0.3
0,3 0.4
0,4 0.5
0,5
Deformao,
Figura 5.40 Curvas de tenso-deformao convencional das ligas Ti-35Nb-xSi
homogeneizadas a 1000C por 1h e seguido de resfriamento em gua.
Portanto, previsto que durante o ensaio de trao a fase tenha sofrido uma
transformao martenstica induzida por tenso (SIMT), a qual responsvel pelo duplo
limite de escoamento (ZHOU et al., 2011). De fato, as curvas de tenso-deformao
exibiram um perfil caracterstico de ligas que apresentam SIMT com quatro estgios
distintos, conforme observado na Figura 5.41 para a liga Ti-35Nb-0,35Si, que apresentou
efeito mais pronunciado. Dessa forma, o estgio 1 representa a regio elstica inicial.
Nesta etapa, os constituintes microestruturais sofrem deformao elstica. A
transformao da martensita induzida por tenso comea no incio do estgio 2, e
qualquer transformao martenstica que por ventura venha a ocorrer finalizada nesse
estgio (PARADKAR et al., 2007). Para o estgio 3, estudos realizados por PARADKAR
et al. (2007, 2009, 2010) mostram que esta etapa corresponde deformao elstica da
estrutura + que prevaleceu no final do estgio 2 e o estgio 4 est relacionado
deformao plstica da microestrutura presente no estgio 3. Desse modo, o primeiro
limite de escoamento (SIMT) est associado a transformao da martensita induzida por
tenso e o segundo limite de escoamento ( y) relacionado ao incio da deformao por
escorregamento (ZHOU et al., 2011).
98
Captulo 5 Resultados e Discusses
510
425
Tenso, MPa
4
Deformao plstica
340 de " +
As propriedades mecnicas obtidas a partir dos ensaios de trao, tais como: limites
de escoamento (SIMT e y), limite de resistncia trao (m), alongamento percentual de
rea (% AL) e reduo percentual de ara (% RA) so apresentadas na Tabela 5.16. A
tenso crtica para induzir a transformao martenstica, a qual corresponde a SIMT (KIM
et al., 2006d), foi determinada a 0,2% de deformao, conforme descrito por ZHANG et
al. (2012). O segundo limite de escoamento foi obtido da mesma forma, no entanto, a
curva de escoamento foi determinada deslocando-se a origem at o ponto de inflexo no
incio do estagio 3 (PARADKAR et al., 2009, 2010), como est representado
esquematicamente na Figura 5.41.
99
Captulo 5 Resultados e Discusses
disso, o refinamento dos gros produzido pelo silcio (Figura 5.19) torna mais difcil a
transformao .
Este grupo de ligas tambm exibiu uma ductilidade razoavelmente elevada. Vale
ressaltar que a liga Ti-35Nb apresentou uma ductilidade levemente mais alta em meio a
todas as ligas estudadas, apesar da existncia da fase (Figura 5.21). Na literatura, a
fragilizao de ligas de Ti fortemente associada frao de volume de (COLLINGS,
1984). Entretanto, outros estudos apontam que o -atrmico no prejudica a ductilidade
quando surge como partculas extremamente pequenas (HIDA et al.,1982; PING et al.,
2006). Dessa forma, pode-se supor que nesta liga a frao de volume de relativamente
baixa e seus precipitados muito pequenos.
100
Captulo 5 Resultados e Discusses
os quais podem ser observados na Figura 5.42. Nas ligas Ti-35Nb e Ti-35Nb-0,15Si suas
microestruturas iniciais j apresentavam uma frao de volume de razoavelmente
elevada (Figura 5.21a-b), entretanto, os picos de se intensificaram aps deformao
(Figura 5.42a-b), indicando que mais martensitas foram formadas. O mesmo fenmeno
visto na liga contendo 0,35% de Si (Figura 5.42c), onde sua microestrutura inicial
consistia de uma pequena quantidade de martensita acicular, como ilustrado na Figura
5.21c. Em contrapartida, na liga contendo 0,55% de Si (Figura 5.42d), se alguma
transformao foi efetuada, no parece ter sido significativa.
Figura 5.42 Difrao de raios-X das ligas antes e aps o ensaio de trao: (a) Ti-35Nb;
(b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-0,55Si.
101
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.43 Superfcie de fratura obtida por MEV das ligas Ti-35Nb-xSi aps ensaio
de trao: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-35Nb-0,35Si e (d) Ti-35Nb-0,55Si.
102
Captulo 5 Resultados e Discusses
3
Repassivao
ECOR vs. ECS (V)
2
Quebra do Filme Passivo
1
0
Passivao
-1
-2 Ti-35Nb
Ti-35Nb-0,15Si
-3 Ti-35Nb-0,35Si
Ti-35Nb-0,55Si
-4
-8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1
2
Log iCOR (A/cm )
Figura 5.44 - Curvas de polarizao andica e catdica para as ligas Ti-35Nb-xSi em
soluo de NaCl (142 mmol.L-1).
103
Captulo 5 Resultados e Discusses
(5.1)
104
Captulo 5 Resultados e Discusses
Atravs da anlise das Figuras 5.45 e 5.46 nota-se novamente que a adio de Si
nas ligas de Ti-35Nb com resfriamento em gua, favoreceu a estabilizao da fase beta
() (Figura 5.45) e reduo do tamanho de gro da fase (Figura 5.46), conforme discutido
na seo 5.1 (KIM et al., 2006a; BERMINGHAM et al., 2008; YUN-QING et al., 2011;
LI et al., 2012). Esses dois fenmenos tem efeitos distintos sobre a resistncia corroso
das ligas. Segundo ATAPOUR et al. (2011), ligas de titnio que exibem uma
microestrutura composta apenas pela fase metaestvel apresentam uma resistncia
corroso superior em comparao s ligas bifsicas. Esse comportamento pode estar
relacionado tanto ao carter do filme passivo quanto a formao de clulas galvnicas
entre materiais bifsicos.
105
Captulo 5 Resultados e Discusses
Ti-35Nb Ti-35Nb-0,15Si
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
'' ''
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Ti-35Nb-0,35Si Ti-35Nb-0,55Si
Intensidade / u.a.
Intensidade / u.a.
''
30 40 50 60 70 80 90 30 40 50 60 70 80 90
2 2
Figura 5.45 - Difrao de raios-X das ligas Ti-35Nb-xSi com resfriamento em gua.
106
Captulo 5 Resultados e Discusses
107
Captulo 5 Resultados e Discusses
matriz pode contribuir tanto para a reduo do tamanho de gro da fase (YUN-QING
et al., 2011), quanto para a formao de microclulas galvnicas, de modo a deslocar o
potencial de corroso para valores menos nobres, influenciando desta forma na reduo
da resistncia corroso desse material quando comparado com as demais ligas (HO et
al., 1999; CREMASCO et al., 2008b). No entanto, vale ressaltar que os valores de Ecor,
icor, ipp e Tc para todas as ligas estudadas so extremamente baixos, sugerindo que todas
as composies exibem elevada resistncia corroso no meio estudado.
0,0
-0,1
E (V) vs. ECS
-0,2
-0,3
Ti-35Nb
Ti-35Nb-0,15Si
Ti-35Nb-0,35Si
-0,4
Ti-35Nb-0,55Si
0 10 20 30 40 50 60
Tempo (min)
Figura 5.47 - Curva da variao de potencial de circuito aberto, em funo do tempo,
para as ligas Ti-35Nb-xSi.
Nota-se que o perfil das curvas de ECA foi similar para todas as ligas, onde se
observa inicialmente a variao dos potenciais para valores mais positivos at atingir um
estado estacionrio. Esta variao para valores mais nobres um indicativo que a
108
Captulo 5 Resultados e Discusses
150 2
Rp= 301 k.cm
-Z'' ( k.cm )
2
2 Ti-35Nb
50 Rp= 100 k.cm
Ti-35Nb-0,15Si
Ti-35Nb-0,35Si
2
Rp= 83 k.cm Ti-35Nb-0,55Si
0
0 50 100 150 200 250 300
2
Z' (k.cm )
Atravs da Figura 5.48 verifica-se que o valor de Rp aumenta para as ligas contendo
0,15 e 0,35% de Si, indicando que o filme de xido formado para essas composies so
mais aderentes e resistivos que os demais e, consequentemente, melhor ser o
comportamento corrosivo desses materiais. Esse comportamento corrobora com os
resultados observados nas curvas de polarizao e de potencial de circuito aberto,
109
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.49 - Microscopia eletrnica de varredura das superfcies das ligas, obtidas no
ltimo ponto da curva de polarizao andica: (a) Ti-35Nb; (b) Ti-35Nb-0,15Si; (c) Ti-
35Nb-0,35Si; (d) Ti-35Nb-0,55Si.
110
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.50 - Quebra do filme de xido formado no ensaio de corroso para a liga Ti-
35Nb.
Figura 5.51 - Curva de polarizao andica e regies de repassivao para a liga Ti-
35Nb-0.35Si.
111
Captulo 5 Resultados e Discusses
caracterstica mais protetora contra o ataque de ons cloreto. Esses resultados esto em
concordncia com os dados de impedncia eletroqumica, apresentados na Figura 5.48,
os quais mostraram que a liga Ti-35Nb-0,35Si exibiu um valor de Rp mais elevado. Outro
fato importante a ser mencionado so as ntidas regies de repassivao observadas para
esta composio (Figura 5.51). Mais uma vez, esse resultado respaldado pela curva de
polarizao andica que mostra que as ligas estudadas se repassivam facilmente.
Tabela 5.18 Energias de ligao dos elementos presentes na composio dos xidos no
filme passivo das ligas Ti-35Nb-xSi.
112
Captulo 5 Resultados e Discusses
Figura 5.52 Espectro de XPS da superfcie da liga Ti-35Nb aps ensaio de polarizao
em soluo de NaCl.
113
Captulo 5 Resultados e Discusses
114
Captulo 5 Resultados e Discusses
115
Captulo 5 Resultados e Discusses
Tabela 5.19 - Composio do filme de xido formado na superfcie das ligas aps
polarizao andica.
Ti-35Nb 17 8 - Balano
Ti-35Nb-0,15Si 18 7 5 Balano
Ti-35Nb-0,35Si 17 7 7 Balano
Ti-35Nb-0,55Si 20 4 4 Balano
116
Captulo 5 Resultados e Discusses
117
Captulo 6 Concluses e Sugestes
CAPTULO 6
CONCLUSES E SUGESTES
6.1 CONCLUSES
(b) Todas as amostras do grupo Ti-35Nb-xSi (x = 0; 0,15; 0,35; 0,55) nas condies de
resfriamento em forno e ao ar apresentaram as fases e ; para amostra resfriada em
forno contendo 0,55% de Si, tambm foi constatada a presena da fase . Em ambas
as condies, um crescente aumento da concentrao de Si produziu uma reduo
dos precipitados de tornando mais estvel. Nas amostras resfriadas em gua, as
microestruturas foram constitudas das fases , e , onde a frao de volume de
aumentou quando concentraes maiores de Si foram adicionadas. Alm disso, a fase
foi identificada somente na amostra Ti-35Nb, o que sugere que o Si pode estar
atuando como supressor de .
118
Captulo 6 Concluses e Sugestes
(d) Nas ligas do grupo Ti-40Nb-xSi (x = 0; 0,15; 0,35; 0,55), em todas as condies de
resfriamento, apenas a fase foi identificada por microscopia ptica e difrao de
raios-X. Dados do refinamento Rietveld indicam que nas amostras resfriadas em
forno a fase se decompe em duas estruturas CCC: uma rica em soluto () e outra
pobre em soluto (), e que a presena do Si aumenta o parmetro de rede da fase .
No entanto, esses resultados necessitam ser melhor investigados.
(f) A adio de Si favoreceu o refinamento de gro das ligas, e seu efeito foi mais
significativo na liga Ti-40Nb-0,55Si devido maior frao em volume de silicetos,
identificado por EDS.
(i) Nas ligas Ti-35Nb-xSi, a adio de silcio tambm contribuiu para diminuio do
mdulo de elasticidade em decorrncia da reduo dos precipitados de na matriz
de . Em contrapartida, ligas Ti-40Nb-xSi apresentaram elevao do mdulo de
119
Captulo 6 Concluses e Sugestes
elasticidade com o aumento do teor de Si, a qual foi atribuda presena dos silicetos
formados durante o tratamento trmico a 1000C.
(j) Menores mdulos de elasticidade foram observados nas ligas Ti-35Nb-xSi resfriadas
em gua, cuja concentrao de 0,15% de Si foi mais efetiva para sua reduo, com
valor em torno de 65 GPa. Maiores concentraes de Si (0,35% e 0,55%) no
produziram nenhuma mudana nessa propriedade.
(l) Atravs dos ensaios de polarizao das ligas Ti-35Nb-xSi foi possvel observar que
h uma tendncia de deslocamento dos potenciais de corroso para valores mais
nobres nas ligas contendo 0,15 e 0,35% de Si e para valores menos nobres na liga
com 0,55% de Si. Verifica-se ainda que a amostra Ti-35Nb-0,55Si se passiva em
correntes maiores, indicando que h uma diminuio da resistncia corroso deste
material quando comparado aos demais. Esse comportamento foi atribudo
microestrutura exibida pelas ligas. No entanto, vale ressaltar que em todos os casos
as taxas de corroso das ligas foram muito baixas, assegurando que esses materiais
so bastante resistentes corroso no meio estudado.
120
Captulo 6 Concluses e Sugestes
(o) Atravs dos resultados obtidos pode-se sugerir que a liga Ti-35Nb-0,35Si apresenta
a melhor combinao entre resistncia mecnica, baixo mdulo de elasticidade e
excelente resistncia corroso. Essas caractersticas so muito importantes para
materiais destinados a implantes ortopdicos, o que torna essas ligas promissoras
para esta aplicao.
(a) Estudar o efeito da adio de Si sobre a estrutura martenstica da liga Ti-15Nb e sua
influncia sobre as propriedades mecnicas e de resistncia corroso.
(e) Avaliar o efeito do silcio sobre a precipitao de fases durante tratamentos trmicos
de envelhecimento de ligas Ti-Nb-Si.
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