Kimia Asmuni PDF
Kimia Asmuni PDF
DRS. ASMUNI
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGATAHUIAN ALAM
UNIVERSITAS SUMATERA UTARA
ABSTRAK
Telah dilakukan penelitian untuk pola difraksi dan indentifikasi pasir kuarsa (SiO 2) Desa
Perupuk Kabupaten Asahan dengan metode difraksi Sinar-X. menggunakan difraktometer sinar-x
type PW 1710 BASAD. Denagn riak gelombang alpa 1 ( 1) = 1,5406 dan alpa 2 (2) = 1,54060
.
Dengan menganalisa pola difraksi dan hasil perhitungan d (jarak antar bidang) dari
sampel, merupakan sidik jari bahan tersebut. Harga d setiap bahan merupakan grup utama
Hanawalt dan selanjutnya dibandingkan kartu JCPDS pada sampel pasir kuasa (SiO2) Desa
Perupuk.
Setelah diidentifikasi komponen utama adalah pasir kuasa nomor kartu kartu JCPDS 5-
0490 dan Subkomponen tambahan nomor kartu 10-393 yaitu bahan Sodium Almunium Silicate (
Na. Al SiO 3O 8)
Jadi pasir kuarsa (SiO2) Desa Perupuk Kabupaten Asahan hampir sama dengan pasir
kuarsa (SiO2) kabupaten Tapanuli Utara hanya berbeda sub komponen saja.
PENDAHULUAN
Bahan galian penting sekali artinya dalam menunjang pembangunan yang sedang digiat-
giatnya kita laksanakan, di tanah air tercinta ini. Penting bukan hanya diukur dari sudut
penggunaannya untuk bahan industri di dalam negeri saja , tetapi sebagai komoditi ekspor non
migas yang sedang kita digalakkan dewasa ini.
Di Indonesia, khususnya Sumatera Utara keadaan industri pertambangan bahan galian
alam seperti pasir kuarsa yang belum berkembang pesat, salah satu penyebabnya karena
pemakaian bahan galian tersebut belum cukup besar. Endapan pasir kuarsa banyak tersebar di
beberapa tempat di Indonesia dan beberapa tempat di Sumatera Utara yaitu sepanjang pantai
Kabupaten Asahan.
Penggunaan pasir kuarsa banyak dipakai dalam industri semen, gelas, penyecoran besi
baja, keramik dan lain-lain. Dari gambaran di atas dapatlah diperkirakan bahwa kebutuhan akan
pasir kuarsa akan terus meningkat sesuai dengan pertumbuhan industri-induistri diatas. tetapi data
informasi yang dibutuhkan demi perkembangan industri tersebut di atas, dirasakan sangat
kurang, kerenanya peneliti tertarik untuk melakukan penelitian mengenal bahan bahan gelas,
keramik dan lain-lain, yaitu pasir kuarsa. Selanjutnya sampel yang akan diteliti kandungan
mineralnya adalah pasir kuarsa (SiO2) Desa Perupuk Kec. Lima Kabupaten Asahan.
Kimia analitik sebagai mana kita ketahui dapat dengan mudah memberikan informasi
tentang unsur-unsur pembentuk suatu bahan, tetapi untuk menbedakan intensitas berbagai fase
suatu bahan, yaitu bahan dalam wujud yang sebenarnya. Misalnya SiO 2 ( kuasa) dan SiO 2
(kristabalit) yang terdapat dalam suatu campuran akan dapat suatu kesulitan. Tetapi dengan
metode difraksi Sinar-X hal tersebut dengan muda dapat dibedakan. Keuntungan menggunakan
metode difraksi Sinar-X, Selain sederhana dan kandungan mineral bahan dengan cepat dapat
diidentifisir. Difraksi yang digunakan pada penelitian ini adalah model difractometer type pw 1718
based di Labotatorium FMIPA USU. Pada penelitian ini menggunakan metode serbuk. Agar
sampel banyak kristal yang sangat kecil dan orientasi sampel tidak perlu diatur lagi kerena semua
orientasi bidang tetap ada di dalam sampel. Dari difraksi ini dapat cacah ( count) terhadap sudut
2. Harga puncak pada grafik adalah merupakan pola difraksi yang dihasilkan suatu bahan, akan
mematuhi hukum Bragg. Dari harga d (jarak antar bidang), Merupakan sifat khas bahan
tersebut. Untuk identifikasi kualitatif bahan digunakan megunakan kartu Hanawalt.
Hasil pola data difraksi pasir kuasa (SiO2) di Desa Perupuk Kabupaten Asahan
dibandingkan dengan pola difraksi kuasa (SiO 2) yang terdapat di kabupaten Tapanuli Utara.
TINJAUAN PUSTAKAAN
Kuarsa (SiO 2) banyak dipakai sebagai bahan industri seperti keramik, sebagai bahan
anorganik yang bukan logam. Bahan dasar kramik berasal dari tambang (alam) yaitu : SiO2, Al 2
O3 CaO, MgO, K2 O, Na 2 O dan lain-lain. Bahan keramik ini banyak dipakai berbagai bidang
industri elektronik, bahan bangunan bahkan telah digunakan teknologi nuklir dan ruangan
angkasa.
2dsin = n (2-2)
Persamaan (2-2) dinamakan sebagai syarat Bragg dan sudut dikenal sebagai sudut Bragg untuk
penyinaran sinar-X oleh bidang-bidang atom hablur yang dipisahkan pada jarak d. dan n =
1,2,3,
Tiga metode untuk memastikan bahwa kedudukan bidang tertentu daripada hablur yang
dikaji memenuhi syarat-syarat Bragg supaya pengukuran penyinaran. Ketiga metode ini adalah:
a) Metode difraksi Laue
b) Metode hablur bergerak
c) Metode difraktometeri serbuk
Metode difraktometeri serbuk ialah untuk mencatat difraksi sampel polihablur. Pada penelitian
ini yang digunakan alat dif raktometer, seperti gambar 2.3. Sampel seperti serbuk dengan
permukaan rata dan mempunyai ketebalan yang cukup untuk menyerap alur sinar-X yang menuju
keatasnya. Puncak-puncak difraksi yang dihasil dituliskan dengan menggunakan alat pencacah.
Umumnya menggunakan pencacah Geiger dan sintilasi. Alat monitor dapat diputar mengelilingi
sampel dan diatur pada sudut 2 terhadap alur datang. Alat monitor dijajarkan supaya sumbunya
senantiasa melalui dan bersudut tepat dengan sumbu putaran sampel. Intensitas sinar-X yang
difraksi sebagai fungsi sudut 2 .
K
s= (2-3)
DCos
dengan D adalah sudut garis difraksi di setengah tinggi maksimum difraksi, , sudut Bragg, K
konstanta (~1) dan panjang gelombang sinar-X yang digunakan.
Untuk difraksi sinar-X, sampel disediakan dengan ukur berbentuk serbuk. Peralatan yang
digunakan adalah XRD Philips model 1710. difraksi sinar-x dicetakkan pada kertas dengan sumber
pancaran radiasi Cu K dan dengan filter nikel. Analisis XRD berdasarkan difraksi terhadap bahan
standar silikon dengan sudut, , 14.233 o dan spektrum difraksi pada orientasi (111). Data difraksi
sinar-X daripada sampel dibandingkan dengan kartu JCPDS (Joint Committee Powder Diffraction
Standard). Dari nilai difraksi sinar-X yang menghasilkan intensitas dan sudut difraksi, dianalisis
untuk menentukan sampel merupakan hablur senyawa pasir kuarsa. Pada metode difraksi,
hukum Bragg haruslah dipenuhi, kerena itu perlu diatur orientasi kristal terhadap berkas datang.
Metode difraksi sinar-x dapat digolongkan sebagai berikut :
D 2 8
I/I1 3
4 dAo I/I 1 hkl dAo I/I1 hkl
5
6 9
7
Dari gambar 2.4 kolom-kolom yang terdapat pada kartu Hanawalt tersebut berisikan data
seperti yang ditunjukan berikut ini.
- Kolom 1 : Merupakan nomor kode kartu
- Kolom 2 : Merupakan ketiga harga d yang memiliki intensitas relatif paling kuat dan
cukup kuat.
- Kolom 3 : Merupakan harga intensitas relatif yang dimiliki oleh keempat nilai d diatas.
- Kolom 4 : Mengenai kondisi percobaan seperti radiasi yang digunakan, filter yang
dipakai dan lain-lainnya
- Kolom 5 : Mengenai data kristalografi seperti jenis sistem kristal, struktur kristal serta
harga para meternya.
- Kolom 6 : Berisi data fisik bahan
- Kolom 7 : Berisi analisis kimia
- Kolom 8 : Berisi rumus kimia, nama kimia dan nama sebutan
- Kolom 9 : Merupakan daftar harga d intensita relatifnya dan indeks Miller
Pada sudut atas data kartu data, dituliskan simbol yang mengandung arti:
* = untuk data yang mempunyai nilai kepercahayaan yang besar
o = Untuk data yang kurang dapat dipercaya.
METODE PENELITIAN
Pencetak
XRD Interfase Komputer
Hasil keluaran pola difraksi sinar-x dan hasil perhitungan d dari sampel merupakan sidik
jari bahan tersebut. Lihat tabel identifikasi yaitu tabel 5-1 dan tabel 5-2.
1. Tabel 5-1 kode quap-1 diambil sampel pada kedalaman 0,5m-1m dimana d dan sudut
2 , merupakan puncak difraksinya.
- d1 = 3,3404 o 2 = 26,665 o
o
- d2 = 4,2439 2 = 20,915o
o
- d3 = 1,8119 2 = 50,135o
Tabel 5-2 kode quar-2, pada kedalam 2m 2,5 m. dimana harga d dan sudut 2 ,
merupakan puncak difraksi.
- d1 = 3,3435 o 2 = 26,64 o
o
- d2 = 4,252 2 = 20,875 o
o
- d3 = 1,818 2 = 50,135 o
Dari kedua data diat as dibandingkan pada kartu data Hanawalt diterbitkan oleh JCPDS(
Joint Commtes On Power Diffraction). Pada nomor kartu standart 5-0490 lihat tabel 5-4 kartu data
Hanawalt, data paling sesuai adalah bahan kuarsa (SiO2).
Disamping bahan kuarsa komponen utamanya terdapat juga sub komponen bahan lain. Lihat tabel
5-5.
Tabel 5-1
- d1 = 3,18 o 2 = 28,045 o
o
- d2 = 3,764 2 = 23,655 o
o
- d3 = 3,221 2 = 27,665 o
Tabel 5-2
- d1 = 3,18 o 2 = 28,605 o
o
- d2 = 3,762 2 = 23,63 o
- d3 = 3,224 o 2 = 27,66 o
Dari kedua data tersebut dibandingkan dengan dengan kartu Hanawalt, pada nomor kartu
Standard 10-393, yang paling sesuai adalah bahan sodium Alumium Silicate (NaAlSiO 2O8)
2. Data diatas dalam bentuk grafik pola difraksi antara cacah(Counts) terhadap sudut 2. Lihat
gambar grafik pola difraksi 5-1 untuk tabel 5-1 dan gambar grafik pola difraksi 5-2 untuk tabel
5-2.
Dari gambar grafik pada difraksi dan identifikasi sampel kuarsa (SiO 2) Desa Perupuk, puncak
tanda huruf Q bahan kuarsa sedang tanda huruf X merupakan bahan sodium Alumium Silicate
(NaAlSiO 2O8), pada gambar grafik (5-3),
3. Data kuarsa (SiO2) Tapanuli Utara harga d dapat dilihat pada tabel 5-3
- d1 = 3,3548 o 2 = 26,615 o
o
- d2 = 4,2685 2 = 20,645 o
o
- d3 = 1,8248 2 = 50,078 o
VI.1. KESIMPULAN
1. Pola difraksi pasir kuarsa (SiO 2) Desa Perupuk Kabupaten Asahan, setelah identifikasi,
komponen utamanya adalah kuarsa (SiO 2) dan subkomponen yang lain yaitu sodium
Alumunium Silicate ( NaAlSiO3O 8)
2. Pola difraksi kuarsa (SiO 2) kabupaten tapanuli Utara, dimana komponen utama kuarsa
(SiO 2) sama dengan pasir kuarsa Desa Perupuk Kabupaten Asahan, hanya beda pada
subkomponen saja.
VI.2. SARAN
Untuk mendapatkan unsur kimia yang kandung di kuarsa (SiO 2) Desa Perupuk Kabupaten
Asahan, diteliti dengan menggunakan alat scanning X-Ray SEM. Model ASM SX.
DAFTAR PUSTAKA
1. Cullity, BD. (1959) Element of X-Ray Difraction. Addison Wesly Publishing Company
Inc.
2. Raintorang (1994) Pengaruh Temperatur Pembakaran Terhadap Mekanik Bahan
Keramik Yang Diperkuat Dengan Limbah Ektrusi Aluminium Bahan Seminar Fisika
3. David Mill. (1982) Diktat Kuliah Fisika Zat Padat.
4. Ibrahim Abu Talib, Mustaffa Hj. Abdullah dan Sahrim Hj. Ahmad. (1993) Sains bahan Jilid 2,
Dewan Bahasa dan Pustaka Kuala Lumpur.
5. Hilal. (1987) Analisa Kualitatif Pasir Serta Kaolin Dengan Metode Difraksi Sinar-X
Bahan seminar Fisika
6. Athur, Beiser. (1982) Konsep Fisika Modern. Penerbit Erlangga
7. Tingl.C and Shirley, SC(1995) Thin Film I-VI Photovoltaics Solod State Electronic.