Anda di halaman 1dari 3

Rusli Nurdin(1506674886)

Perbedaan prinsip,Mekanisme, dan Pengolahan Data


OM,SEM,TEM

Perbedaan prinsip antara Optical Microscope (OM) dengan Scanning


Electron Microscope (SEM) dan Transmission Electron Microscope (TEM)
adalah pada sumber penerangan mikroskop tersebut.Mikroskop cahaya
(Mikroskop Optik) disebut demikian sebab penggunaan mikroskop ini
menggunakan cahaya sebagai sumber penerangan utama dalam mengamati
objek[1].Sedangkan pada SEM dan TEM menggunakan pantulan elektron atau
electron beam.Objek yang dapat diamati menggunakan Mikroskop Optik adalah
spesimen hidup atau spesimen mati dengan syarat objek tersebut dapat ditembus
cahaya.Perbesaran yang dapat dilakukan oleh Mikroskip Optik sebesar 4 X
1.000 X jauh lebih rendah dibandingkan dengan SEM dan TEM yang dapat
melakukan pembesaran objek hingga >50.000 X. Biasanya mikroskop optik
memiliki tiga lensa objektif dengan masing-masing pembesaran lemah (4 atau 10
kali), sedang (40 kali), kuat (100kali), dan lensa okuler pembesaran 10 kali. Jadi
kebanyak mikroskop cahaya memiliki pembesaran maksimum 1000 kali dari
ukuran sebenarnya[2].

Unuk Scanning Electron Microscope (SEM) dan Transmission Electron


Microscope (TEM) keduanya sama-sama menggunakan elektron sebagai sumber
untuk mendapatkan gambar objek yang diamati.Perbedaan dari SEM dan TEM
adalah bagaimana elektron yang ditembakkan oleh pistol elektron mengenai
sampel.Pada SEM,elektron tidak menembus sampel sehingga hanya pendaran
hasil dari tumbukan elektron dengan sampel yang ditangkap oleh detektor yang
kemudian diolah.Pada TEM,sampel yang disiapkan sangat tipis sehingga electron
dapat menembusnya kemudia hasil dari tembusan elektron tersebut yang diolah
menjadi gambar. TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke
lapisan tipis sampel, yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam
sample tersebut dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun
fase sinar elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar
elektron tersebut juga bisa diketahui struktur kristal maupun arah dari struktur
Rusli Nurdin(1506674886)

kristal tersebut. Bahkan dari analisa lebih detail, bisa diketahui deretan struktur
atom dan ada tidaknya cacat (defect) pada struktur tersebut.Untuk observasi TEM
ini, sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100 nanometer[3].
Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron
sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika
permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau
elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar
amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT
(cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah
diperbesar bisa dilihat.Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel
yang ditipiskan, sehingga bisadigunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang
3 dimensi[4].

Referensi :

[1] Damayanti,Vivi.(2015). Mikroskop Cahaya dan Mikroskop Elektron.Diambil


dari https://www.tentorku.com/mikroskop-cahaya-dan-mikroskop-elektron/

[2] Hadi,Abdul(2015). Pengertian, Fungsi, dan Bagian Mikroskop.Diambil dari


http://www.softilmu.com

[3] Nuryadi, Ratna (2008). Mikroskop dan Teknologi Nano.Diambil dari


http://nano.or.id/index.php?option=comcontent&task=view&id=52&Itemid=36

[4] David C. Bell. 2003. Scanning Electron Microscopy (SEM) Techniques for
Nanostructure.ppt. Centre for Imaging and Mesoscale Structures (CIMS)
Rusli Nurdin(1506674886)