Anda di halaman 1dari 14

BAB IV

UJI METALLOGRAPHY

4.1 LANDASAN TEORI


Karakteristik mekanik seperti yield (y, 2 % ) ult dan A % (elongation ) dari
material sangat tergantung dari struktur mikro yang membentuk material tersebut. Untuk
dapat mengerti dengan baik tingkah laku material dalam aplikasinya dan untuk dapat
mengontrol karakteristik mekanik maupun phisik dari material tersebut, maka sangat
diperlukan adanya pengamatan baik secara kwalitatif maupun secra kwantitatif struktur
mikronya.
Banyak tipe dari instrument yang dapat digunakan untuk pengamatan struktur dari
material, tergantung pada daerah penggunaan khusus yang ditentukan oleh pembesaran yang
dapat dicapai dan tipe pengamatan yang diinginkan. Gambar dan skema berikut dapat
memberikan penjelasan pembesaran, kemampuan bersolusi, intrumen yang dapat di pakai dan
apa yang dapat dilihat.

Dasar Teori dan Tipe Intrumen


Selain mata telanjang yang dapat digunakan untuk pengamatan metallography
tetapi terbatas kemampuannya dalam hal kemampuan bersolusi, maka instrumen lain yang
sampai saat ini paling banyak digunakan dalam domain Material Science adalah Mikroskop
optic, S.E.M dan T.E.M seperti yang digambarkan pada skema terdahulu.
29
4.1.1 Mikroskop Optik
Dalam domain Materi Science , struktur mikro yang paling sering diamati
dengan mikroskop optic adalah material metalik dan keramik : material yang tidak
transparan. Jadi pengamatan struktur mikronya adalah didasarkan pada refleksi dari sinar
dating permukaan benda uji yang menghasilkan gambar gambar yang ditangkap oleh mata
melalui oculaire dari mikroskop ( gambar gelap- terang agak terang ).
Kemampuan beresolusi dari mikroskop optik, seperti halnya mata telanjang juga
terbatas, yang tergantung dari panjang gelombang sinar yang digunakan, yang paling baik
saat ini ialah sekitar 0,2 um, yang artinya mempunyai pembesaran maksimum sekitar 1500 x.

Gambar 4.1. skema dari mikroskop optic


Sumber : Engineering Materials Technology

4.1.2 Scanning Electronic Mikroscopea


Prinsip kerja dari mikroskop electron ini berbeda sama sekali dengan mikroskop
optik maupun Transmision Electronic Microscope pada mikroskop elektron ini, benda uji
diletakkan di ruangan vacuum pompa air dengan berkas electron.
Seperti diskemakan pada gambar berikut suatu benda uji yang dibom dengan
berkas elektron di suatu titik, maka akan memancarkan signal signal khusus sebagai berikut
:

30
Gambar 4.2 Bom Bardir benda uji dengan electron.
* er = retrodiffusion electron yang timbul akibat adanya interaksi elastis antara electron
dating dan atom atom dibawah permukaan benda uji, dengan energi yang hampir sama
dengan energi Eo. Kendala interaksi ini dapat mencapai 1 um dibawah permukaan. Intensitas
emisi electron ini tergantung dari arah orientasi permukaan yang kurang
*es = Secondary electrons terproduksi karena adanya shock inelastic antara electron
dating dan atom atom benda uji, energinya dibawah 50 eV. Teremisi dari daerah kedalam
dari permukaan yang kurang dari 0,1 um. Intensitasnya juga tergantung orientasi permukaan
benda uji.
*eA = Atiger electrons terbentuk karena interaksi antara electron dating dan juga elektron
elektron pada lapisan elektronic atom. Teremisi dari lapisan pertama atomic dari
permukaan benda uji (kedalam kurang dari 1 mm ). Dan biasanya digunakan untuk analisa
kimia permukaan / superficial ( Spectroscopie Atiger ).
* Xray = adalah distribusi spectral yang tergantung dari elemen apa yang ada pada
permukaan. Teremisi dari daerah yang dapat mencapai beberapa micron dari permukaan.
Pada suatu S.E.M suatu berkas elektron dengan diameter < 10 nm, dilokasikan diatas
permukaan benda uji dengan bantuan lensa electron magnetic lihat gambar skema dari S.E.M
berikutnya. Intensitas dari elektron yang diemisikan kembali oleh benda uji tergantung dari
orientasi benda uji terhadap datangnya berkas elektron.
Elektron elektron ini ( er atau es ) yang diemisikan ditangkap oleh suatu detector
elektron dan sinyal listrik yang didapatkan diamplifikasi dan digunakan untuk memodulasi
intensitas berkas electron dari suatu layar kathodik juga bergerak dengan sinkron, jadi pada
layar akan terlihat gambar permukaan yang sedang diamati.

31
Gambar 4.3 Skema dari Mikroskop Scanning Electronic Microscope
Sumber : Engineering Materials Technology

Kemampuan resolusi dari S.E.M tergantung dari ukuran zone dari mana datangnya
sinyal yang dipakai untuk menyusun gambar, yaitu luas zone ini kira kira 1 um dengan
electron retrodifusi dan X-tay ; 5 nm dengan electron sekunder yang memungkinkan
mendapatkan pembesaran sampai 50.000 X.
Untuk dapat dilaksanakan pengamatan dengan S.E.M, benda uji tidak perlu melalui
tahapan persiapan dan preparasi khusus asalkan benda uji adalah konduktor listrik yang baik.
Jika materialnya isolator seperti keramik dan sebagainya, maka permukaan benda uji yang
akan diamati dilapisi dengan metal konduktor ( dengan ketebalan 10 s/d 20 nm, dilakukan
dengan vasporisation dalam vacuum atau pulverization cathodic .
Mikroskop tipe ini saat ini masih banyak digunakan baik dispectrometer X ray maka
dapat berfungsi untuk menganalisa komposisi kimia atau dapat pula memberikan gambar dari
distribusi elemen elemen pada daerah yang diteliti.

4.1.3 Transmission Electronic Microscope


Prinsip dari T.E.M. adalah sama dengan mikroskop optik dengan cahaya yang
ditransmisikan. Perbedaanya hanya pada cahaya yang digunakan, disini dipakai berkas
elektron yang dipercepat oleh suatu potensial sekitar 100 kV. Lensa lensa yang digunakan
adalah lensa lensa elektromagnetik. Gambar observasi pada suatu layar fluorescence
atau direkam pada plat fotografi.
32
Supaya elektron yang dipancarkan tidak terdifusi oleh molekul gas dan tidak
kehilangan energinya secara cepat, maka harus diletakkan pada ruangan vacuum dengan
tekanan sekitar 10 6 torr ( 1,3 x 10-4 ) Pa. Kemampuan resolusi dari T.E.M dalam kondisi
terbaik adalah 0,2 nm sehingga dapat memberikan pembesaran sampai 200.000 x.
Agar supaya benda uji dapat diamati, maka benda uji ini harus transparan artinya
dapat dilalui oleh elektron yang ditransmisikan. Jadi benda ujinya sangat tipis yaitu : 0,2 um
untuk bahan aluminium dan kurang dari 0,1 um untuk bahan besi / baja bila kita bekerja
dengan tegangan 100 kV. Untuk mendapatkan ukuran tebal seperti diatas. Bisa dilaksanakan
dengan metode elektrolitik atau dengan bom ionic. Pelaksanaan / persiapan benda uji untuk
T.E.M ini sangat sukar.

Gambar 4.4 Skema T.E.M


Sumber : Engineering Materials Technology

33
4.1.4 Diagram alir analisis Metallography

START

Persiapan alat
pengujian

Pelaksanaan pengujian

Mengamati struktur mikro

Mencatat komposisi ferrit dan pearlit


Mengambil gambar struktur mikro dengan kamera
digital 400x

Analisis hasil dan pembahasan

FINISH

34
4.2 PROSEDUR PRAKTIKUM
Sebelum melakukan pengamatan, persiapan yang mesti dilakukan antara lain:
- Pemotongan spesimen dengan mesin potong manual (manual cutt off machine)
- Brinding dan polishing
- Etching
Adapun urutan persiapan yang dilakukan:
4.2.1 Grinding dan polishing
A. Perlengkapan dan peralatan
Untuk melaksanakan pelaksanaan grinding dan polishing digunakan grinding lappingh
and polishing machine model DAP-V dengan specifikasi:
1. Data teknik
- Penggerak motor dengan phase tunggal, 220 V
- Putaran (40-600 rpm)
2. Perlengkapan mesin
- Dua buah pelat yakni dengan diameter 230 mm (untuk kertas gosok)
- Ring pelindungdan penutup atas dari plastik
- Air sebagai pendingin.
B. Grinding
Perlengkapan :
- Kertas gosok (abrasive paper) 1000 grade
- Media pendingin air
Tujuan : untuk meratakan dan menghaluskan permukaan spesimen
Pelaksanaan :
Kedua spesimen mengalami proses grinding
Adapun pelaksanaan proses grinding
1. Penggosokan permukaan spesimen pada kertas gosok (abrasive paper) dengan grade
1000.
2. Pelat dipasang pada mesin, ring penjepit kertas gosok dilepaskan. diberi air
pada permukaan pelat dan pasang kertas gosok grade 1000 dengan rata dan pasang
penjepitnya kembali.
3. Mesin dihidupkan dan putaran dinaikkan sekitar 200-300 rpm. Alirkan air disekitar
kertas gosok. Penggosokan pertama hanya satu arah sampai bekas gosokan pada
permukaan spesimen semuanya sejajar.
4. Lakukan penggosokan denan arah tegak lurus terhadap gosokan pertama sampai arah
35
penggosokan pertama hilang (berarti permukaan spesimen sudah datar). Hentikan
gosokan dan bersihkan pelat dan spesimen dengan air, untuk menghilangkan sisa
butiran grade sebelumnya.
5. Ganti kertas gosok, dan lakukan proses yang sama untuk mendapatkan hasil yaitu
garis-garis gosokan pada permukaan spesimen semua sejajar dalam satu arah dan
tampak lebih halus.
6. Hentikan putaran mesin, cuci pelat dan spesimen dengan air, lepaskan pelat dengan
demikian tahap grinding telah selesai.
C. Polishing
Perlengkapan :
a. Air
b. Kain penggosok
c. Pasta ( Autosol )
Pelaksanaan :
Untuk memperoleh permukaan spesimen yang benar-benar halus proses grinding
dilanjutkan dengan proses polishing
1. Penggantian pelat untuk proses polishing
Disini tidak lagi digunakan kertas gosok tapi digunakan kain dengan kehalusan yang
berbeda. Kira-kira 5-7 menit akan didapat permukaan yang cukup halus, sudah mulai
mengkilap
2. Pasang pelat dengan kain grind dengan putaran 200-300 rpm. Basahkan permukaan
kain dengan lubricant dan diatas permukaan spesimen dioleskan dengan pasta kira-
kira 5-7 menit lalu akan didapat permukaan yang cukup halus, sudah mulai
mengkilap. Hentikan langkah ini dan cuci spesimen dengan alkohol untuk
menghilangkan sisa-sisa butiran grade sebelumnya.

D. Etching
Perlengkapan:
a. HNO3 (95 ml)
b. Alkohol 95% (95ml)
c. Sarung tangan plastic
Pelaksanaan :
Proses ini diperlukan untuk mendapatkan gambaran nyata dan struktur mikro
material yang diteleiti, yang diamati melalui mikroskop. Pelaksanaan atas ini
36
memerlukan reaktifyang berbeda-beda tergantung pada jenis material.
1. Bahan spesimen adalah besi ulir panjang 3,2 cm dengan kendungan karbon 0.46%
maka digunakan reaktif yang terbuat dari campuran 5 ml HNO3 dan 95 ml alkohol
95% dan reaktif ini dikenal dengan nama Nitel 5%.
2. Spesium yang telah digerinding dan dipolishing tadi dicelupkan pada reaktif Nitel
5% diangkat dan ditahan sekitar 5 menit. Kemudian spesimen dibersihkan dengan air
untuk menghentikan pemakaian logam oleh reaktif Nitel 5% tadi.
3. Pengeringan spesimen dengan dilap untuk selanjutnya diamati dengan mikroskop
Pemakaian permukaan logam oleh reaktif nite! 5% ini didasarkan pada tingkat energi
potensial masing-masing penyusun struktur mikro. Ferrit kita ketahui berwarna putih
karena energi potensial rendah sehingga pemakaian permukaan logam tidak dalam
sedangkan perlit memiliki energi potensial lebih tinggi sehingga pengikisan permukaan
dalam akibatnya dalam pengamatan struktur mikro perlit kelihatan gelap (hitam)

Bahan Praktikum
Dalam praktikum uji metallograpy digunakan benda uji dengan bahan besi serta
mendapatkan perlakuan panas sebesar 800o C dan pendingina dengan media oli SAE-90.
Adapun bentuk benda uji seperti dibawah ini

D= 16,4 mm

L = 21,8 mm

Gambar 4.5 Benda uji

Hanya saja beberapa bagian akan berubah menjadi 3 C murni atau semenit ketika
suhu berada pada titik kritis 1 .

37
Dengan adanya perkembangan struktur yang terjadi ternyata dapat di ketahui bahwa
pada benda uji terdapat bebrapa struktur seperti :

- Ferrit
Terbentuk dari proses pendinginan yang lambat dari austenit (baja hypoeutectoid)
Bersifat lunak dan ulet
Mempunyai konduktivitas panas yang tinggi
- Sementit
Senyawa besi dan karbon (Fe3C)
Bersifat keras
Pada pendinginan lambat bentuknya lamellar.
-Perlit
Campuran antara ferit dan sementti
Pada 0,8% karbon perlit yang tebentuk berupa campuran ferit dan sementit yang
tampak seperti pelat-pelat yang tersusun secara bergantian.

Dari data yang bagian bagian ini tidak dapat di lihat dengan jelas,dimana apabila
dinyatakan secara umum pada dasarnya perlite merupakan bagian yang berwarna gelap yang
sebanding dengan bertambahnya karbon.Sedangkan sementit dan ferrit merupakan bagian
bagian yang berwarna terang.
Selain komposisi struktur mikro yang didapat ternyata pengaruh heat treatment yang
diberikan menyebabkan perkembangan butir pada benda uji yang menjadi halus.
Perkembangan butirdikatakan lebih halus karena benda uji berada pada titik kritis

38
4.2.2 Gambar Pengujian Metallography

GAMBAR

Sementit
e
Ferrit

Perlite

Gambar 4.6 Spesimen Besi Ulir

Material : Besi carbon rendah diameter 16,4 mm


Setelah spesimen melalui tahap grinding, polishing dan etching maka struktur mikro
spesimen dapat dilihat malalui M.O
1. Tahap pertama, letakkan spesimen pada meja (table 1) mikroskop
2. Arahkan lensa obyektif ke permukaan spesimen, kemudian diamati secara teliti dengan
mengatur tombol-tombol pembesaran dan tombol penggeran meja mikroskop serta
pengaturan cahaya yang tepat, sehingga didapat fokus yang benar-benar baik.
3. Untuk dapat melihat beragam hasil pengamatan, mikroskop dilengkapi dengan handcamp
dan kamera yang dapat dihubungkan dengan monitor sehingga hasil pengamatan terlihat
jelas.
Setelah gambar yang terlihat pada mikroskop sempurna, maka pemotretan dapat dilakukan,
sehingga struktur mikronya terlihat cukup jelas dari hasil pemotretan seperti pada gambar 5.6

39
4.3 ANALISA HASIL PENGAMATAN
Mikro struktur dari spesimen terdiri dari campuran lapisan perlit (warna hitam). Disini
tampak jumlah perlit lebih banyak karena warna gelap (hitam) lebih mendominasi.

Hasil foto

Sementit
e
Ferrit

Perlite

Gambar Spesimen Besi Ulir 1


Gambar. 4.7 spesimen besi ulir
Perlakuan : Pemanasan 8000C dengan pendinginan oli SAE-91
Gambar Struktur mikro spesimen dengan pemanasan pada 6000C dan pencelupan ke dalam
oli SAE-91
Dari gambar diatas jumlah ferrit lebih dominan dari jumlah perlit sehingga melalui
Fe-Fe3C diagram dapat dipastikan bahwa spesimen tergolong dalam baja hypoeutectoid.
Gambar 5.8 diagram fase Fe-Fe3C.

Kadar Karbon
Dari hasil pengamatan kita dapatkan struktur mikro dari spesimen (besi ulir) yang
mendapatkan perlakuan. Untuk dapat mengetahui dan memastikan jumlah kandungan karbon
dalam besi carbon rendah diameter 16,4 mm tersebut maka kita bandingkan beberapa struktur
mikro baja karbon hypoeutectoid dengan struktur mikro besi carbon rendah diameter 16,4
mm. Hasil pengamatan struktur mikro Besi carbon rendah diameter 16,4 mm dengan
perlakuan panas.
Dari gambar diatas bisa kita ambil analisa sebagai berikut:
- Pada material yang mengalami perlakuan panas bentuk dan ukuran butirannya menjadi
lebih kecil dan halus. Hal ini diakibatkan karena proses pemanasan yang menyebabkan

40
atom-atom akan menerima sejumlah energi panas yang dapat dipakai untuk membentuk
struktur yang lebih seragam, halus dan bebas cacat.
- Struktur Mikro
Dari gambar dapat dilihat struktur mikro yang menyusun material uji. Struktur mikro
tampak homogen yang terdiri dari pearlite yang berwama hitam dan ferrite lebih
mendominasi dari pada perlite.
- Ukuran dan bentuk butiran
Pada material yang tidak mendapat perlakuan panas bentuk butirannya tidak homogen
dengan batas butiran yang tidak tampak jelas.
Hal ini dapat kita lihat dari perbandingan daerah yang berwarna hitam dan putih
(jumlah kandungan ferrite dan pearlitenya).
Dari hasil percobaan dapat dilihat bahwa tidak terbentuknya martensit dari spesimen
yang dicelupkan pada air yang punya laju pendinginan tinggi. Hasil ini bertentangan dengan
teori yang menyebutkan terbentuknya martensit pada pencelupan dengan air.

Pengaruh Holding Time


Untuk dapat mengetahui pengaruh holding time terhadap struktur mikro dari benda
uji. disini kita bandingkan struktur mikro dari spesimen yang diberi perlakuan panas
(dipanaskan sampai 600C).
Pada laju pendinginan (pendinginan oli SAE-09) tidak ada kesempatan bagi austenit
untuk membentuk ferrite dan pearlite. lni berarti bahwa dengan laju pendinginan yang cepat
(pendinginan oli SAE-09) spesimen mempunyai struktur mikro dengan kandungan ferrite
paling sedikit.

Kesimpulan
Dari hasil pengamatan dan analisa dapat kita simpulkan sebagai berikut :
1. Holding time yang diberikan pada spesimen akan mempengaruhi struktur mikro
spesimen.
2. Pembentukan/perubahan struktur mikro dari spesimen dipengaruhi oleh jenis perlakuan
panas yang diberikan serta laju pendinginan. Semakin cepat laju pendinginannya, maka
semakin sedikit fernite yang terbentuk. Sementara pearlite akan semakin banyak.
3. Laju pendinginan ditentukan oleh jenis media pendingin yang digunakan

41
Saran-Saran
1. Untuk mendapatkan perbedaan struktur mikro yang lebih jelas antara specimen satu
dengan spesimen yang lain dengan media pendingin yang berbeda dengan temperature
yang sama.
Hal ini dimaksudkan untuk :
a. Mendapatkan sturktur mikro yakni Martensite pada pendingin oli SAE-09
b. Mendapatkan hasil percobaan yang sesuai dengan yang diinginkan.

42