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CAPITULO 1 1

CAPITULO 1
FUNCIN DE TRANSFERENCIA

2.1 PERIODO DE MUESTREO


2.2 MUESTREO Y RETENCIN
2.3 FUNCIONES DE TRANSFERENCIA

2.1 PERIODO DE MUESTREO

En los ltimos aos, el vertiginoso avance de la electrnica digital y especialmente de los


microprocesadores ha trado como consecuencia un aumento considerable en el nmero de
aplicaciones, tanto a nivel Industrial como comercial.
En el nivel Industrial, los microprocesadores han entrado de lleno en el campo de la
instrumentacin y del control. En este ltimo, los controladores digitales basados en
microprocesador han reemplazado a los otrora robustos controladores neumticos y
electrnicos anlogos de componentes discretos.

Ventajas del control digital

No hay lmite de complejidad del algoritmo


Facilidad de cambio de estrategia
Exactitud ms elevada en operaciones que con dispositivos analgicos (resolucin,
derivas, saturaciones).
Posibilidad de efectuar funciones complementarias (almacenamiento,
anlisis,Comunicaciones)

Desventajas del control digital

Existe prdida de informacin en el muestreo (A/D) y en la reconstruccin (D/A) por


aliasing, cuantificacin, retardos originados en la reconstruccin y otros problemas.
Mayor complejidad en el diseo. Requiere dispositivos electrnicos para la ejecucin
del algoritmo de control (micro controlador, DSP, PC, etc.) as como para la
adquisicin de datos y la reconstruccin (conversores A/D y D/A).
Requieren, a menudo elementos para evitar estos problemas (ej. filtros antialiasing)
Plantea compromisos economa/eficiencia en diversos aspectos (frecuencia de
muestreo, resolucin en bits de los conversores, etc).
Un simple fallo informtico (desbordamiento, bloqueo del sistema) puede resultar
fatal

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ELEMENTOS DE UN CONTROL DIGITAL

Muestreador y retenedor (S/H)

Este es un circuito amplificador de muestreo y retencin (Sample and Hold), el cual recibe
como entrada una seal analgica y mantiene dicha seal en un valor constante durante un
tiempo especfico.

Convertidor analgico-digital (A/D)

El convertidor analgico digital o ADC es un dispositivo electrnico que codifica una seal
analgica en una secuencia de nmeros binarios. Los convertidores A/D comerciales,
generalmente integran el circuito de muestreo y retencin.
Hay que tener en cuenta que la salida de un A/D es aproximada, ya que la correspondiente
seal analgica puede adoptar un nmero infinito de valores. Este proceso de aproximacin
recibe el nombre de cuantificacin.

Convertidor digital-analgico (D/A

El convertidor D/A es un dispositivo que decodifica la seal digital binaria proveniente de un


computador o microprodcesador en una seal analgica.
El proceso de convertir una secuencia de nmeros binarios en una seal analgica se
denomina retencin.

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Planta o proceso

La planta o proceso es cualquier sistema fsico, qumico o Biolgico, el cual es susceptible de


ser controlado, como en el caso de los hornos, reactores o mquinas.

Sensor

El sensor es el elemento que est en contacto con la variable fsica a ser controlada y que
generalmente la transforma en una seal ms adecuada para el procesamiento, bien sea de
corriente o de voltaje.

ELECCIN DEL PERIODO DEMUESTREO

La eleccin del periodo de muestreo puede ser critica a la hora de controlar un sistema
Un periodo de muestreo grande har que el controlador reaccione con lentitud tanto a
consigna como a perturbaciones, lo que estabiliza el sistema: aumenta la sobre oscilacin y
disminuye el amortiguamiento.
Un periodo de muestreo pequeo provocara una prdida de tiempo al obligar a calcular la
misma accin de control infinidad de veces y exigir mayor exactitud en los clculos.
Un aspecto que puede condicionar la eleccin es la existencia o no del filtro antialiasing.

Eleccin del periodo de muestreo. Sin filtro antialiasing

Tambin se puede estimar a partir de la respuesta temporal:


Del sistema en lazo abierto.
Del sistema realimentado (obligado si es inestable).
En funcin de que su respuesta ante escaln sea:

Sobre-amortiguada: 8 15

Suba-amortiguada: 5 8

Se suele elegir una frecuencia de muestreo entre 20 y 40 veces el ancho de banda del
sistema wcg

Eleccin del periodo de muestreo. Con filtro antialiasing.

Si se utiliza filtro antialiasing:


El ancho de banda del sistema realimentado es wcg

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Para que la fase del filtro antialiasing no afecte al margen, su frecuencia de corte wa
deber estar aproximadamente una dcada por encima de la frecuencia de cruce de
ganancia del sistema wcg entonces: wa = 10wcg
Suponiendo que el filtro antialiasing asegura una cada suficiente de las frecuencias
una dcada despus de wa , la frecuencia de Shannon habr que situarla en ese
punto
wsh = 10wa Por definicin wm = 2wa, por tanto

Wm=2xwa Por definicin wm = 2xwa, por tanto = 200


Para estimar el periodo de muestreo se puede aplicar uno de los siguientes criterios:
Si es el ancho de banda del sistema en lazo cerrado, la frecuencia de muestreo se puede
estimar dentro del intervalo:

8 2
El periodo de muestreo se puede evaluar a partir de la constante de tiempo equivalente del
sistema en lazo cerrado tomando como base el criterio:

0.2( + ) 0.6( + )

En donde es el retardo o tiempo muerto del sistema.


Si si el tiempo de establecimiento del sistema en lazo cerrado el periodo de muestreo
puede seleccionarse dentro del intervalo:

0.0 0.15
Finalmente, se sugiere que el periodo de muestreo est dentro del intervalo dado por:

0.0625 0.25

En donde es el periodo de oscilacin del sistema en condiciones de estabilidad crtica(periodo


crtico). Como valor tpico se puede tomar

= 0.1

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Aliasing o confusin de frecuencia

El fenmeno de aliasing o confusin de frecuencia se produce cuando se muestrea una seal


sin tener en cuenta la condicin del Teorema de Shannon, es decir, cuando se muestrea una
seal a una frecuencia menor que el doble de la ms alta contenida en ella. Al intentar
reconstruir la seal original se pueden obtener frecuencias que no contena la seal original,
es decir, se confunde una frecuenciaF1 con otra F2 , por ello a f2 se le llama el alias de F1.
Falias=[un mltiplo entero de frecuencia de muestreo-frecuencia de la seal.

Aliasing

Si la seal que se muestrea tiene un ruido de alta frecuencia, el proceso de muestreo


traslada esta componente de alta frecuencia a la zona de frecuencias bajas. El resultado es
que la seal muestreada tiene un ruido de baja frecuencia que se debe al ruido de alta
frecuencia de la seal continua original. Para evitar este efecto negativo es necesario
interponer entre la seal continua (sensor) y el muestreador, un filtro anlogo llamado filtro
antialiasing. Este filtro elimina el ruido de alta frecuencia evitando el problema. En la
mayora de los casos basta con un filtro de primer orden.

2.2 MUESTREO Y RETENCIN

2.2.1 MUESTREO DE UNA SEAL

Modelado de la computadora digital

EN el curso de seales y sistemas una parte de este se ha concentrado en el tratamiento


matemtico de las seales muestreadas. Ahora este captulo se va a considerar el
MODELADO y anlisis de sistemas con entradas discretas de datos digitales.
Para modelar sistemas digitales de control, se debe dar una representacin matemtica al
proceso de muestreo y retencin.

Nuestro objetivo en este punto es Modelado del muestreador

Deducir un modelo matemtico para la computadora digital representada por un muestreador


y un retenedor de orden cero. El objetivo es representar la computadora como una funcin
de transferencia similar a la de cualquier subsistema, pero, cuando se muestrean seales, se
dificulta el manejo de la transformada de Laplace.
Se considerar un muestreador ficticio comnmente llamado muestreador mediante impulsos. La
salida de este muestreador se considera como un tren de impulsos que comienza en t = 0, con el
perodo de muestreo igual a T y la magnitud de cada impulso igual al valor muestreado de la seal en
tiempo continuo en el instante de muestreo correspondiente. En la siguiente figura se muestra un
diagrama de un muestreador mediante impulsos. [Se supone que x(t) =0 para t < 0.] (Puesto que,
en forma matemtica, un impulso est definido como una funcin que tiene una amplitud infinita con
duracin cero, esto se representa grficamente mediante una flecha con una amplitud que representa

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la magnitud del impulso.)

Seal continua Muestreador Sealmuestreada

FIGURA 2.1

La salida muestreada mediante impulsos es una secuencia de impulsos, con la magnitud de


cada impulso igual al valor de x(t) en el instante de tiempo correspondiente. [Esto es, en el
tiempo t = kT, el impulso es x(kT) T (t kT ) . Observe que T (t kT ) =0 a menos que t =
kT] Se emplear la notacin x*(t) para representar la salida muestreada mediante impulsos.
La seal muestreada x*(t), un tren de impulsos, se puede representar mediante una
sumatoria infinita


x * (t ) x (kT ) (t kT ) o
k 0

x * (t ) x (0) (t ) x(T ) (t T ) x (kT ) (t kT )

Se definir un tren de impulsos unitarios como T (t ) , o



T (t ) (t kT )
k 0

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Formas de onda caractersticas para la entrada


y la salida del muestreador uniforme
FIGURA 2.2

La salida del muestreador es igual al producto de la seal en tiempo continuo de entrada x(t)
por el tren de impulsos unitarios T (t ) . En consecuencia, el muestreador se puede considerar
como un modulador con la entrada x(t) como la seal moduladora y el tren de impulsos
T (t ) como la portadora, como se muestra en la siguiente figura.

FIGURA 2.3
Muestreador mediante impulsos como modulador

Despus, considere la transformada de Laplace de la ecuacin anterior

X*(s) = L[x*(t)] = x(0)L[(t)] + x(T)L[(t-T)] + x(2T) L[[t-2T)] +


= x(0) + x(T)e Ts + x(2T)e 2Ts +

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X*(s) = k 0
x(kT) e kTs

Ts
Si z=e , esto es, s = (1/T) ln (z), entonces,


-k
X * ( s) s(1/T)ln(z) x(kT) z
k 0

El segundo miembro de la ecuaion es exactamente el mismo que el segundo miembro de la


ecuacin cuando se obtuvo la transformada z de la secuencia x(0), x(T), x(2T), ... , generada
a partir de x(t) en t = kT, donde k = O, 1, 2, .... Por tanto se puede escribir

X * ( s) s (1/T)ln(z) X(z)


1 -k
X * ( s) s(1/T)ln(z) X * ln z X ( z ) x(kT) z
T k 0

Observe que la variable z es una variable compleja y T es el perodo de muestreo. [Se debe
enfatizar que la notacin X(z) no significa X(s) reemplazando s por z, sino que
X*(s =T-1 ln z).

Conclusin: La transformada de Laplace de una seal muestreada es la misma transformada


Z

si: z = eTs

2.2.2 Funcin de transferencia del retenedor de orden cero

Es el proceso de recuperacin de la seal continua a partir de la seal discreta. El retenedor


utiliza las muestras anteriores para extrapolar la seal continua entre el instante de muestreo
presente y el siguiente.
El retenedor genera una seal continua h(t) manteniendo o reteniendo cada valor de la
muestra cada periodo de muestreo. Esto es:

h(kT+t) = x(kT), para kT t (k+1)T

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Se obtendr un modelo matemtico de la combinacin de un muestreador real y de un


circuito de retencin de orden cero, como el que se muestra en la figura. A partir del hecho
de que la integral de una funcin impulso es una constante, se puede suponer que el
retenedor de orden cero es un integrador, y la entrada al circuito de retencin de orden cero
es un tren de impulsos. Entonces El retenedor ms utilizado es el retenedor de orden cero
ZOH (zero order hold). Este un modelo matemtico para el muestreador real y el retenedor
de orden cero se puede construir como se muestra en la figura, donde ZOH es la funcin de
transferencia del retenedor de orden cero y x*(t) es la seal muestreada mediante impulsos
de x(t).

FIGURA 2.4

h(t) = x(0)u(t) + [x(T)-x(0)] u(t-T) + [x(2T)-x(T)] u(t-2T) +

h(t) = x(0)[u(t)-u(t-T)] + x(T)[u(t-T)-u(t-2T)] + x(2T)[u(t-2T)-u(t-3T)] +


h(t) =
k 0
x(kT) [u(t-kT) u(t-(k+1)T)],

e kTs
puesto que
L [u (t kT )]
s
aplicando transf_Laplace,

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Como, H(s) = GZOH(s) X*(s),

Debido a que X*(s) =


k 0
x(kT) e kTs

1 e Ts
H (s) X * (s)
s
De lo anterior se tiene que la Funcin de transferencia del retenedor de orden cero es:
Ts
1 e
G ZOH ( s )
s
Existe una funcin en Matlab, denominada c2d, que convierte un sistema continuo dado (ya
en la forma funcin de transferencia o en la forma espacio de estado) al sistema discreto
usando la operacin de retencin de orden cero explicada anteriormente. El comando bsico
es c2d es alguno de los siguientes.

[numDz,denDz] = c2d (gp,Ts,'zoh')

[F,G,H,J] = c2d(A,B,C,D,Ts,'zoh')

Aunque los retenedores de primer orden FOH (First Order Hold) cuya interpolacin entre
periodos de muestreo se hace en forma triangular, no se utilizan en sistemas de control se
tiene que la funcin de transferencia para este retenedor es:

Ts Ts 1
GFOH ( s) (1 e )
Ts 2
t kT
h(kT+t) = x(kT) + [ x(k+1)T- x(kT)], para kT t (k+1)T
T

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2.3 FUNCIONES DE TRANSFERENCIA

2.3.1 SISTEMA EN LAZO ABIERTO

La funcin de transferencia relaciona la salida de un sistema en los instantes de muestreo


con la correspondiente entrada muestreada.

X( z ) Y(z)

Y ( z)
Y(z) = G(z) X(z), entonces, G( z)
X ( z)

Demostracin:

FIGURA 2.5

Cuando se analiza los sistemas de control en tiempo discreto, es comn encontrar que
algunas seales en el sistema son seales asterisco (muestreadas) y otras que no lo son.

En la figura anterior la salida Y(s)=G(s) X*(s)

Donde X*(s), es peridica con un periodo 2/s, y G(s) es no peridica (continua)

Y*(s)=[ G(s) X*(s)]* discretizando Y(s)

Factorizando X*(s)

Y*(s)=[ G(s)]* X*(s) = G*(s) X*(s)

t
-1
y(t)= L [ G(s) X*(s) ] = g (t ) x * ( ) d
0

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y(t)=
t t
g (t ) x( ) ( kT ) d g (t ) x( ) ( kT ) d
0 0
k 0 k 0

y(t)= g (t kT ) x(kT )
k 0

entonces la transformada z de y(t) se convierte en



Y ( z ) Z [ y (t )] g (nt kT ) x(kT ) z n
n 0 k 0

Y ( z ) g (mT ) x(kT )z ( k m )
m 0 k 0

Donde m= n k. De este modo,



m k
Y ( z ) g (mT )z x(kT ) z
m 0 k 0

Y ( z) G( z) X ( z)

EJEMPLO 2-1

s2 1 e Ts s 2
Dado un ZOH en cascada con G1 ( s ) o bien
G(s)
s 1 s s 1
Encuentre la funcin de transferencia de datos muestreados, G(z), si el tiempo de muestreo,
T, es 0.5 segundos.

Ts G1 ( s )
G ( s) (1 e )
s
G ( s ) z 1 G1 ( s )
G ( z ) (1 z 1 ) Z 1
s z s

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G1 ( s) s2 A B 2 1
G2 ( s)
s s( s 1) s s 1 s s 1

Al tomar la tranformada inversa de Laplace, se obtiene g 2 (t ) 2 e t

g 2 (kT ) 2 e kT
2z z
G2 ( z )
z 1 z e T
Al sustituir T=0.5 se tiene:

G1 ( s ) 2z z z 2 0.213z
G2 ( z ) Z z 1 z 0.607 ( z 1)( z 0.607)
s

z 1 z 0.213
G( z) G2 ( z )
z z 0.607
EJEMPLO 2-2

Obtenga la funcin de transferencia pulso G(z) del sistema que se muestra en la figura,
1
donde G(s) est dada por G ( s)
sa

FIGURA 2.6

Observe que existe un muestreador a la entrada de G(s) y por tanto la funcin de


transferencia pulso es G(z)=Z[G(s)]

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Mtodo 1: Refirindose a una tabla de transformadas, se tiene

1 1

s a 1 e z
aT 1

1
G( z)
1 e aT z 1
Mtodo 2: La funcin de respuesta impulso del sistema se obtiene como sigue:

g (t ) L1[G ( s )] e at

Por lo tanto g (kT ) e akT , k= 0, 1, 2,

Por lo que
G ( z ) g (kT ) z k
e akT
z k

e aT z
k

k 0 k 0 k 0

1
G( z)
1 e aT z 1

2.3.2 SISTEMAS EN CASCADA

(a) CON UN MUESTREADOR

FIGURA 2.7

Y(s) = G(s)H(s)X*(s), discretizando la ecuacin,

Y*(s) = [G(s)H(s)]*X*(s), si se simboliza [G(s)H(s)]* =[GH(s)]*

Y*(s) = [GH(s)]*X*(s), sacando transformada z :

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Y(z) = [GH(z)]X(z), donde, GH(z) Z[GH(s)] = Z[G(s)H(s)]

Por tanto, la funcin de transferencia para este sistema es igual a:


Y ( z)
GH ( z )
X ( z)
(b) CON DOS MUESTREADORES SINCRONIZADOS

FIGURA 2.8

Y(s) = H(s)V*(s), y V(s) = G(s)X*(s)

discretizando las ecuaciones,

Y*(s) = H*(s)V*(s), o sea que , Y(z) = H(z)V(z) (1)


V*(s) = G*(s)X*(s), o sea que , V(z) = G(z)X(z)

Reemplazando V(z) en (1), se tiene:

Y(z) = H(z) G(z)X(z)

Por tanto la funcin de transferencia del sistema es:


Y ( z)
G ( z ) H ( z ) GH ( z )
X ( z)
EJEMPLO 2-3

(a) Obtener la funcin de transferencia de (T = 1.0):

FIGURA 2.9

1 1 1 1/ 3 1/ 3
H ( s) F ( s) G (s) H ( s)
s5 s2 s 5 s2 s 5

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Por tanto su transformada inversa de Laplace es igual a:

f(t) = L- 1 [F(s)] = (1/3) e- 2 t (1/3) e -5 t

La cual corresponde a una funcin discreta a:

f(kT) = (1/3) e- 2 kT (1/3) e -5 kT,

que tiene una transformada Z igual a:

Y ( z) 1/ 3 1/ 3
F (z) GH ( z )
X (z) 1 e 2T z 1 1 e 5T z 1

Para un periodo de muestreo T = 1, se tiene:

(b) Obtener la funcin de transferencia de:

FIGURA 2.10

Entonces la funcin de transferencia del sistema para T = 1 es igual a:

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Se comprueba que G(z)H(z) GH(z)

2.3.3 SISTEMA EN LAZO CERRADO.

(a) CON UN MUESTREADOR

FIGURA 2.11

E(s): es el error
E(s) = R(s) H(s)C(s), como, C(s) = G(s) E*(s), entonces,
E(s) = R(s) G(s)H(s)E*(s), tomando seales muestreadas,
E*(s) = R*(s) [G(s)H(s)]* E*(s), despejando E*(s),

Como C*(s) = G*(s) E*(s), entonces,

Tomando transf_Z, se tiene:

por tanto su funcin de transferencia es:

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(b) CON DOS MUESTREADORES SINCRONIZADOS

FIGURA 2.12

E(s) = R(s) H(s)C(s) , como , C(s) =V*(s) y V(s) = G(s) E*(s), entonces,
C(s) = G*(s)E*(s)
E(s) = R(s) H(s)G*(s)E*(s), tomando seales muestreadas,
E*(s) = R*(s) H*(s)G*(s) E*(s), despejando E*(s),

Como C*(s) = G*(s)E*(s), entonces,

G( z ) R( z )
Tomando transf_Z, se tiene: C ( z) ,
1 G( z) H ( z)
por tanto su funcin de transferencia es:

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EJEMPLO 2-4

Calcular la funcin de transferencia de un sistema en lazo cerrado con un muestreador que


1 2 C(z) G( z)
tiene, G(s) , H ( s ) y F ( z)
s2 s R ( z ) 1 GH ( z )
GH(z) = Z[G(s)H(s)]

Para T = 0.1 seg,

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EJERCICIOS CAPITULO II

1. Considere el sistema que se muestra en la figura. Muestre que la funcin de transferencia

( ))
pulso esta dada por
( )

( ))
( )
= ( )

2. Considere el sistema de control en tiempo discreto que se muestra en la figura. Obtenga


la salida en tiempo discreto C(z) y la salida en tiempo continuo C(s) en trminos de la
entrada y las funciones de transferencia de los bloques.

E*(s) M*(s)
R(s) + E(s) + M(s) C(s)
X G1(s) X G2(s)
- -

H(s)

3. Obtenga la funcin de transferencia pulso en lazo cerrado del sistema que se muestra en
la figura.

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CAPITULO 1 21

BIBLIOGRAFA BSICA

SISTEMAS DE CONTROL EN TIEMPO DISCRETO.


AUTOR: Katsuhito Ogata.
EDITORIAL: Pearson

SISTEMAS DE CONTROL DIGITAL


AUTOR: BENJAMIN C. KUO
EDITORIAL: CECSA

BIBLIOGRAFA COMPLEMENTARIA

DIGITAL CONTROL using digital signal processing.


AUTOR: FARZAD NEKOOGAR
EDITORIAL: Prentice Hall

SISTEMAS DE CONTROL CONTINUO Y DISCRETO.


AUTOR: JHON DORSEY
EDITORIAL: Mc GRAW Hill.

CONTROL SYSTEM DESIGN.


AUTOR: GRAHAM C. GOODWIN
EDITORIAL: Prentice Hall.

CONTROL EN EL ESPACIO DE ESTADO.


AUTOR:SERGIO DOMINGUEZ Y OTROS
EDITORIAL: Prentice Hall.

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