MICROSCOPA DE CAMPO CERCANO

SCANNING PROBE MICROSCOPY

Jayro Michel Arias Tandazo: michaels520@hotmail.es
Estudiante del X mdulo

UNIVERSIDAD NACIONAL DE LOJA

AREA DE LA ENERGIA, LAS INDUSTRIAS Y LOS RECURSOS NATURALES NO
RENOVABLES
Carrera de Ingeniera en Electrnica y Telecomunicaciones

Resumen: El descubrimiento de la interaccin entre la materia y su entorno ha sido y ser desde tiempos inmemorables
el origen de un sinnmero de grandes investigaciones con objetivos comunes, en la actualidad su evolucin ha llegado a
escalas manomtricas presentando a la vez escenarios desafiantes para la ciencia y anlisis mucho ms complejos,
creando as la necesidad de nuevas tcnicas para superar estas adversidades, es ah donde la nano-ciencia entra en la
ecuacin desarrollo para dar soluciones factibles y con una alta precisin.

El presente artculo describe de manera general el aporte de la nano-ciencia por medio de la microscopa de campo
cercano en el desarrollo de investigaciones para la determinacin de las caractersticas topogrficas tridimensionales de
superficies de muestras en anlisis.

Summary: The discovery of the interaction between matter and its environment has been and will from time immemorial
the origin of a number of major investigations with common goals , currently its development has come to gauge scales
while advancing challenging for science scenarios and much more complex analysis , creating the need for new
techniques to overcome these adversities , is where the nano- science enters the equation development to provide feasible
solutions and with high precisin.

This article describes in general terms the contribution of nano- science by near-field microscopy in research
development for the determination of three-dimensional topographic characteristics of surfaces of samples in analysis.

Keywords: nano-ciencia, microscopio, fuerza atmica, Fuerza magntica, ptica, superficies.

I. INTRODUCCIN

MICROSCOPA DE CAMPO CERCANO nano-ciencia y sus aplicaciones en Fsica,

Es el rea de estudio que desarrolla tcnicas de
observacin y anlisis por medio de
microscopios de sonda de barrido, tcnicas que
permiten analizar las caractersticas topogrficas
de las superficies de las muestras en estudio.
Sus inventores y ganadores del premio nobel de
fsica en 1989 G. Binnig y H. Roher con su
concepcin realizaron unas de las aportaciones
ms grandes y relevantes para el desarrollo de la
Qumica y Biologa, logrando as un despunte
tecnolgico en materia de investigacin. [1]
II. APORTES DE LA COMUNIDAD
CIENTFICA MUNDIAL
La cantidad de aportaciones desde el 2004 hasta
el 2008 segn la Fundacin Phantoms es de
alrededor de 66513 artculos a nivel mundial
con algunas variaciones, la tabla 1.0 lo describe.
[2]

Tabla 1.0
Estadsticas de aportaciones
Pases Nmero de Aporte Global
Artculos
EEUU 18533 28%
Japn 9901 15%
Alemania 7766 12%
Espaa 1571 2.4%

III. CARACTERSTICAS DE LOS SPM

Fig. 2. Un arreglo de nueve micro-espejos que se
A diferencia de los microscopios pticos y de us para perfeccionar un espectrmetro que se
electrones, los microscopios de sonda de barrido us para perfeccionar un espectrmetro digital
muestran detalles no slo de los ejes , y de micro-espejos para espectroscopia atmica.
laterales de una muestra, sino tambin del eje Los espejos miden en centros de
, donde al quitar los espejos del medio se
que es el perpendicular a la superficie. La ven los componentes que estn debajo. [1]
resolucin caracterstica de los SPM es de
alrededor de 2 en las direcciones y pero
con muestras ideales y con los mejores
instrumentos se logran resoluciones hasta de
0.1 . En la dimensin la resolucin es
generalmente mejor que 0.1 . En
comparacin a la resolucin de un microscopio
electrnico representativo que es de alrededor de
5 .

Las figuras que se muestras a continuacin

describen claros ejemplos de diferenciacin
entre los distintos tipos de microscopios
enunciados.
Fig. 3. Un lecho de algas tomado cuando estaba
totalmente hmedo con un instrumento para
microscopia electrnica de barrido ambiental
equipado con un detector de electrones
secundarios en fase gaseosa y amplificacin en
casacada. No se requiri preparacin de la
muestra. [1]

IV. MICROSCOPIO DE BARRIDO DE

EFECTO TNEL

El microscopio Binnig-Roher por el cual los

inventores recibieron el Premio Nobel era de
efecto tnel.

Fig. 1. Superficie de una aleacin de nquel donde

se observan las partculas de dendritas de slice
sobre la superficie. [1]
Este dispositivo fue capaz de distinguir las
caractersticas, a escala atmica, de la superficie
de un slido conductor.
En la actualidad estos instrumentos se pueden
adquirir con distintos fabricantes de
instrumentos y se emplean en forma rutinaria en
cientos de laboratorios esparcidos por todo el
mundo. Su principal desventaja es el requisito
de que la superficie objeto de estudio debe
conducir electricidad.
Principio de la microscopa de efecto tnel
En la microscopa de efecto tnel, STM
(Scanning Tunnelling Microscope), la superficie
de la muestra se barre en un patrn o modelo de
exploracin mediante una punta metlica muy
fina.
Esta tcnica se basa en el principio de efecto
tnel de la mecnica cuntica, que se presenta
cuando un pequeo voltaje de polarizacin (mV
a 3 V) se aplica entre una punta aguda y una
muestra conductora, mientras la punta est a
unos pocos nanmetros de la superficie
La magnitud de la corriente de tnel se
expresa mediante:
= . 1 la distancia causa que la corriente de tnel sea
donde es el potencial de polarizacin, es
una constante y es la distancia entre la sonda y
la superficie.
La microscopa de efecto tnel se ilustra en la
figura 4.
Fig. 4. Vista esquemtica de la punta del
microscopio de efecto tnel al explorar una
muestra en la direccin x. la lnea ondulada gris
representa la trayectoria de la punta sobre los
tomos de carbono que aparecen representados
como crculos regulares. [1]
Esta tcnica puede trabajar en dos modos. En el
modo de altura constante, la posicin de la
punta se mantiene constante en la
direccin mientras se controla la corriente de
tnel .
En el modo de corriente constante, la corriente
de tnel se mantiene constante mientras
cambia la posicin de la punta para conservar
constante, como se muestra en la figura 4.
En este caso, se controla la posicin de la
punta. Los microscopios ms modernos de
barrido de efecto tnel trabajan en el modo de
corriente constante. El movimiento hacia arriba
y hacia abajo de la punta refleja entonces las
caractersticas topogrficas de la superficie.
Las esferas de la figura representan los tomos
de carbono de una muestra de grafito piroltico.
Para mayor claridad, la punta se muestra como
un como con la punta redondeada y la
trayectoria de la punta durante el barrido por la
direccin se muestra mediante la lnea
ondulada gris.
La ecuacin 1 revela que la corriente de tnel
disminuye en forma exponencial en funcin de
la separacin entre la punta y la muestra. Esta
disminucin rpida de la corriente en funcin de
significativa slo para separaciones
pequesimas entre la punta y la muestra, y es la
razn de la alta resolucin alcanzada en la
direccin .
Exploradores para la muestra
En los primeros microscopios de barrido de
efecto tnel el movimiento tridimensional de la
punta era controlado por tres transductores
piezoelctricos dispuestos en forma ortogonal
tal y como se mostraba la anterior figura 4.
La longitud de cada uno de los transductores
piezoelctricos puede variar mediante la
aplicacin de un potencial de corriente continua
a lo largo de toda su longitud, por lo que es
posible que la punta se desplace en las tres
dimensiones.
El grado de contraccin o expansin puede
llegar a ser de slo 1 por cada voltio
aplicado, lo cual depende de la composicin del
material cermico piezoelctrico y de las
dimensiones del transductor, y proporciona una
manera notablemente sensible de controlar la
posicin de la punta.
Los microscopios de barrido modernos ya no
utilizan el diseo de trpode, y se basan ahora en
un dispositivo piezoelctrico que tiene forma de
tubo hueco como el que se muestra en la figura
5.
Fig.5. Rastreador piezoelctrico de diseo
de tubo segmentado. [1]
La superficie exterior del tubo, que mide entre
12 24 de longitud y entre 6 12 de
dimetro, est revestida con una fina capa de
metal. Esta capa conductora se divide a su vez
en cuatro segmentos iguales separados por unas
bandas verticales que no estn revestidas con
metal. La aplicacin de voltajes a tiras opuestas
de metal produce la flexin del tubo en las
direcciones X y Y.
En general, los microscopios de barrido emplean
rastreadores con intervalos de barrido lateral que
van desde unos nanmetros a ms de 100 .
Las diferencias de altura se encuentran en el
intervalo de menos de 0.1 a quiz 10 . El
tamao mximo de barrido est determinado por
la longitud, el dimetro y el espesor de la pared
del cilindro, as como por el coeficiente de
deformacin del material cermico con el cual
est fabricado.
Interface de la computadora
El control por computadora es una parte esencial
de todos los microscopios de barrido de efecto
tnel. La mayora de los instrumentos
comercializados utiliza un programa para
computadora y convertidores analgico-digital
para producir el barrido de trama XY.
La computadora trabaja con los potenciales
aplicados a los elementos piezoelctricos X, y Y
Z y los transforma en mapas de curvas de nivel
tal y como el que se muestra en la figura 6.
Fig. 6. Mapa de curvas de nivel de la
superficie de la muestra. [1]
En el caso de los instrumentos ms complejos,
las imgenes pueden tomar la forma de
imgenes con tonalidades de gris o mapas de
elevacin pseudocoloreados.
La lnea ondulada gris de la figura 6 muestra el
recorrido de la punta cuando explora la
direccin X sobre la superficie de una muestra
de grafito piroltico altamente orientado.
Despus de que se completa el barrido en la
direccin X la punta vuelve a la posicin
original y luego se baja una lnea para aplicar un
potencial apropiado al transductor piezoelctrico
Y.
Este proceso se repite hasta que se obtiene una
grfica de la muestra como la de la figura 6. En
este caso, una serie de curvas de nivel muestran
claramente la posicin de la nube electrnica de
cada tomo de carbono en la superficie de la
muestra.
Debido a que la seal de salida del detector es
tan sensible a la distancia entre la muestra y la
punta, las diferencias en las distancias a lo largo
de cierta curva de nivel en la fgura se ponen de
manifiesto en 1/100 de una dimensin atmica
dada. La resolucin lateral en una curva de nivel
depende del radio de curvatura de la punta. Si
este radio es el de un nico tomo, como
normalmente ocurre, se obtiene resolucin
atmica.
Puntas
Las puntas son un componente decisivo del
microscopio de efecto tnel. Las mejores
imgenes se obtienen cuando el efecto tnel est
limitado a un nico tomo metlico situado en el
extremo de la punta. Por fortuna, con un poco de
cuidado, es posible construir estas puntas
cortando hilos de platino/iridio, o bien, por
ataque electroqumico de un hilo de tungsteno.
La razn por la que una punta con un nico
tomo en su extremo no es tan difcil de
preparar como podra esperarse se debe al
incremento exponencial de la corriente de tnel
a medida que disminuye la distancia entre la
punta y la muestra (ecuacin 1). Por
consiguiente, la corriente de tnel se incrementa
por un factor de 10 cuando la distancia punta-
muestra disminuye 0.1 . Es decir, si hay un
tomo en el extremo de la punta que est ms
prximo a la superficie de la muestra por
0.1 ms que cualquier otro, casi toda la
corriente circular a travs de l hacia la muestra
y se obtendr una resolucin atmica.
V. EL MICROSCOPIO DE FUERZA
ATMICA
El microscopio de fuerza atmica, que fue
inventado en 1986, facilita la resolucin de
tomos individuales tanto de superficies
conductoras como aislantes. En este
instrumento, un estilete con un elemento en
voladizo, flexible y sensible a la fuerza, barre la
superficie de la muestra de acuerdo con un
patrn.
La fuerza que acta entre el voladizo y la
superficie de la muestra causa diminutas
desviaciones en aqul, que se detectan mediante
un sistema ptico.
Como en el microscopio de efecto tnel, el
movimiento de la punta, o a veces de la muestra,
se logra mediante un tubo piezoelctrico.
Durante un barrido se mantiene constante la
fuerza sobre la punta en el movimiento hacia
arriba y hacia abajo de la misma, que entonces
proporciona la informacin topogrfica. La
ventaja del microscopio de fuerza atmica es
que tambin funciona en muestras no
conductoras.
En la figura se 7 muestra en forma grfica el
mtodo ms comn para detectar la desviacin
del elemento en voladizo que sujeta la punta. Un
rayo lser es reflejado por dicho elemento hacia
un fotodiodo segmentado que detecta el
movimiento de la sonda.
Fig.7. Diseo caracterstico de un microscopio de
fuerza atmica
La lectura de salida del fotodiodo controla
entonces la fuerza que se aplica en la punta de
tal manera que sta permanezca constante. En
otras palabras, el sistema de control ptico es
anlogo al sistema de control de la corriente de
tnel en el microscopio de efecto tnel.
La figura 7 muestra el diseo tpico de un
microscopio de fuerza atmica. El sistema de
movimiento es un dispositivo tubular
piezoelctrico que desplaza la muestra en las
direcciones X, Y y Z bajo la punta. La seal
proveniente del detector de rayo lser se
retroalimenta entonces del transductor
piezoelctrico que est en contacto con la
muestra, lo cual causa el movimiento de la
muestra hacia arriba y hacia abajo para
mantener constante la fuerza entre la punta y la
muestra.
Modos de la microscopa de fuerza atmica
Los mtodos ms usados de los microscopios de
fuerza atmica son tres: modo de contacto,
modo sin contacto y mtodo de contacto
intermitente. El modo de contacto es el ms
comn. En este caso, la punta mantiene un
contacto constante con la superficie de la
muestra.
La mayor parte de las mediciones con la
microscopa de fuerza atmica se efecta en
condiciones de presin ambiente o en lquidos, y
las fuerzas de tensin superficial que ejercen los
gases adsorbidos o la capa lquida podran jalar
la punta hacia abajo. Estas fuerzas, a pesar de
que son muy pequeas, son lo suficientemente
grandes como para daar la superficie de la
muestra y distorsionar la imagen.
Muchas muestras pueden atrapar cargas
electrostticas, las cuales pueden incrementar la
fuerza de atraccin entre la sonda y la muestra.
Esto tiene la capacidad de ocasionar fuerzas de
friccin adicionales a medida que la punta se
desplaza sobre la muestra, lo cual achata la
punta y daa la muestra.
VI. OTROS TIPOS DE MICROSCOPIO
DE SONDA DE BARRIDO
A continuacin se enuncia algunos de los ms
conocidos:
El microscopio de fuerzas AFM
(Atomic Force Microscope) mide las
fuerzas de la interaccin que haya entre
punta y muestra cuando se encuentran
prximas.
El microscopio de fuerzas magnticas
MFM (Magnetic Force Microscope) es
una variante del AFM donde se mide la
interaccin magntica.
El microscopio ptico de campo
cercano SNOM (Scanning Near-Field
Optical Microscope) mide la luz
evanescente reflejada o trasmitida por la
muestra.
VII. APLICACIONES
Estos microscopios han permitido que
cientficos e ingenieros observen las estructuras
de superficies con una resolucin sin
precedentes. Por tanto, estos instrumentos han
hallado un amplio uso en diversos campos.
Por ejemplo, en el campo de los
semiconductores se utilizan para caracterizar las
superficies de silicio y encontrar los defectos de
las mismas, as como para obtener imgenes de
dominios magnticos en los materiales
magnticos; en biotecnologa han logrado
imgenes de materiales como ADN, cromatina,
interacciones protena-enzima, virus de
membrana, etc.
Una de las ventajas de la microscopa de fuerza
atmica es que permite obtener imgenes bajo el
agua de muestras biolgicas en condiciones en
las que es menor la distorsin de la imagen. En
el caso de muestras ms blandas, la distorsin, a
menudo, es consecuencia de las micro-gotas de
agua que se forman en la interface superficie-
punta.

VIII. CONCLUSIONES
La microscopa de campo cercano permite
la adquisicin topogrfica tridimensional de
una superficie de estudio con una alta
resolucin y exactitud.
Las tcnicas basadas en microscopa de
campo cercano incrementan las
posibilidades de xitos en las
investigaciones cientficas a escalas
manomtricas.
La microscopa de campo cercano como
aplicacin de la nano-ciencia contribuye a
un desarrollo exponencial de la ciencia en
general.

IX. BIBLIOGRAFA

[1] J. H. S. R. C. Douglas A. Skoog F.,

Principios de anlisis instrumental, Mxico,
D.F.: Cengage Learning, 2008.

[2] M. F. C. N. S. S. Carmen Chacn,

Nanociencia y Nanotecnologa en Espaa,
Madrid: Fundacin Phantoms, 2008.

[3] P. M. Etxenike, Nanotecnologa, el gran

mundo de lo pequeo, CICNETWORK, n
1, p. 72, 2007.