Cmos .
Entrada Salida
Tensión Nivel Tensión Nivel Fig. 3 Tiempo de retardo para la compuerta NAND,
TTL.
[V] lógico [V] lógico
x>=3.5 1 x>=4.4 1 Para las compuertas NOR se obtuvieron los
x<=1.5 0 x<=0.33 0 siguientes resultados:
TTL
Entrada Salida
Tensión Nivel Tensión Nivel
[V] lógico [V] lógico
x>=2 1 x>=2.4 1
x<=0.8 0 x<=0.4 0
Tabla 1 Niveles lógicos para compuertas NAND y NOR.
4.16 4.88
6.37 4.82
8.09 4.77
sobrepasa el valor de la corriente máxima este
decae por debajo del nivel de tensión para un “1”
4 lógico sin embargo se nota que para la compuerta
NOR este nivel se decae mucho antes y la relación
3 de corriente vs tensión es menos lineal que en la
de la compuerta Cmos NAND. Para las
2
compuertas de la familia TTL, debido a que no se
1 encontró la corriente máxima soportada en les
datasheet se probaron corrientes hasta que se
0 percibiera claramente la linealidad en la relación
0 20 40 60 corriente tensión esto se apreció principalmente en
los valores cercanos a 40 mA , sin embargo como
Fig. 13 Gráfica datos del integrado 74LS02. se puede observar en las gráficas , se podría decir
que la compuerta NOR TTl posee un
74HC02 comportamiento más lineal que la compuerta
corriente [mA] Tensión [V] NAND TTL.
0.52 4.39
1.03 4.35
2.02 4.27
4.13 4.09
6.55 3.87
8.19 3.72
10.96 3.42
14.08 3.04
16.47 2.697
19.15 2.188
22.76 1.175
26.18 0.226
max current
output 25mA
Tabla 9 tensión vs corriente del circuito del punto 6
para la compuerta NOR Cmos.
5
4
3
2
1
0
0 10 20 30