REVISTA COLOMBIANA DE FISICA, VOL. 35, No.1.

2003

METODO PARA DETERMINAR LAS CONSTANTES OPTICAS DE

PELÍCULAS DELGADAS QUE PRESENTAN BANDAS DE ABSORCIÓN.

R. Cárdenas, J. E Alfonso, J. Torres*

Grupo de Física de la Materia Condensada.
Departamento de Física Universidad Nacional de Colombia – Bogotá.
∗
jatorres@ciencias.unal.edu.co

RESUMEN
En este trabajo se describe un procedimiento de cálculo para determinar las constantes
ópticas y el espesor en películas delgadas. El método se basa en la simulación teórica de
espectros de transmitancia experimentales y durante el proceso de cálculo se obtiene el
coeficiente de absorción, el índice de refracción y la brecha de energía prohibida. El
método permite calcular muestras que poseen bandas de absorción moderada. Durante
el cálculo se obtiene inicialmente el espesor de la muestra a partir de la posición y
número de máximos y mínimos en el espectro, luego es usado el modelo del oscilador
simple de Wemple DiDomenico (W-D) para calcular el índice de refracción en toda la
región del espectro. Finalmente se calcula el coeficiente de absorción. Se presentan
resultados obtenidos en una película delgada de MoO3 que presenta una banda ancha de
absorción en 780 nm aproximadamente.

Introducción
La caracterización óptica de materiales utilizando medidas de transmitancia permite
determinar propiedades como el índice de refracción, el coeficiente de absorción y
algunas otras como el espesor de las películas y la brecha de energía prohibida o gap
del material.
Un requerimiento indispensable para obtener las constantes ópticas a través de cálculos
teóricos es la presencia de máximos y mínimos en los espectros. La posición especifica
de los máximos y mínimos en un espectro de transmitancia permiten calcular el espesor
de la muestra y el índice de refracción del material. Sin embargo algunos materiales
presentan bandas de absorción en la región espectral donde se supone que el material es
transparente, estas bandas de absorción ocasionan desplazamientos en la posición
horizontal y vertical de los máximos y mínimos lo que conduce a valores erróneos del
espesor e índice de refracción.
En este trabajo se propone un procedimiento de calculo para determinar las constantes
ópticas en materiales que presentan bandas de absorción diferentes a la brecha de
energía prohibida, el método se aplica a una muestra de MoO3 preparada por
evaporación con láser en alto vacío.

Procedimiento de Calculo
Inicialmente el material se supone transparente en toda la región del espectro. En la
región de longitudes de onda larga se obtienen valores para el camino óptico de la luz

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al interior del material nd (n el índice de refracción y d el espesor de la película), de tal

manera que la posición de los máximos y mínimos del espectro obtenido teóricamente
estén muy cercanas a los correspondientes en el espectro experimental.
Al suponer el material transparente y homogéneo es posible calcular el espesor de la
película en la región de los máximos y los mínimos utilizando la siguiente expresión:
λ1 λ 2
d= (1)
2(λ1 n 2 − λ 2 n1 )
en donde n1 y n2 son los índices de refracción de dos máximos (o mínimos)
consecutivos ubicados en las longitudes de onda λ1 y λ2 respectivamente. Los espesores
obtenidos en las diferentes parejas de máximos y/o mínimos se promedian para dar un
valor d aceptable; como se mencionó anteriormente la banda de absorción desplaza en
el eje de longitudes de onda los máximos y los mínimos lo que incide directamente en
una dispersión mayor en el valor de d, sin embargo el corrimiento de un máximo es
opuesto al del mínimo lo que produce una compensación en el valor medio del espesor
calculado en las diferentes parejas de máximos o mínimos
El índice de refracción se determina utilizando el modelo (W-D) del oscilador armónico
simple propuesto por Wemple y DiDomenico [3], esta expresión permite obtener el
índice de refracción para cualquier longitud de onda inclusive en la zona de alta
absorción:
Ed Eo
n2 −1 = (2)
E − h 2ω 2
2
o
hω es la energía del fotón, Eo es la energía del oscilador y Ed es la energía de
dispersión.
La obtención del índice de refracción se realiza a partir de la determinación de los
valores Ed y Eo los cuales se buscan numéricamente.
Una vez obtenidos los valores del camino óptico de la luz al interior del material se
incluye en el calculo la absorción en la zona de baja absorción y se recalculan los
valores del camino óptico de la luz al interior del material, esto permite mejorar los
valores de el espesor y el índice de refracción en todo el espectro, finalmente se
incluye la absorción correspondiente a la brecha de energía prohibida.
La expresión teórica que se utilizó para la transmitancia fué [4]:

T=
n2 [ ][
(1 + g 1 )2 + h22 (1 + g 2 )2 + h22 ]
( )( )
(3)
n 0 e 2α1 + g12 + h12 g 22 + h 22 e −2α1 + C cos 2γ 1 + D sen 2γ 1
donde

n02 − n12 − k12 n12 − n 22 + k12 + k 22

g1 = , g2 =
(n 0 + n1 )2 + k12 (n1 + n 2 )2 + (k 1 + k 2 )2
2 n0 k1 2(n1k 2 − n 2 k 1 )
h1 = , h2 =
(n 0 + n1 )2 + k12 (n1 + n2 )2 + (k1 + k 2 )2
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2k 1 d 1 2πn1 d 1
α1 = , γ1 = , C = 2(g 1 g 2 − h1h 2 ) y D = 2(g 1h 2 + h1 g 2 )
λ λ
n0 es el índice de refracción del aire, n1 y k1 la parte real e imaginaria del índice de
refracción del MoO3, d1 el espesor de la muestra, α 1 el coeficiente de absorción y λ la
longitud de onda.
Todo el procedimiento de calculo se realiza comparando permanentemente el espectro
experimental con el obtenido teóricamente de tal manera que se cumpla la relación.
Texp - Tteo ≈ 0, siendo Texp el valor de la transmitancia experimental y Tteo la
transmitancia teórica. Cuando el espectro obtenido teóricamente se superponga al
experimental se finaliza el cálculo.

Calculo de las propiedades Opticas en una película delgada de MoO3.

Las películas de MoO3 se preparan por evaporación en alto vacío utilizando un láser de
CO2 funcionando en modo de onda continua. La muestra que se presenta como ejemplo
se preparó con las siguientes condiciones: temperatura de sustrato de 300 oc, tiempo de
evaporación un minuto, presión base 5 x 10 –6, presión de oxigeno 6x10-5 Torr, potencia
del láser 9.16 W. Las muestras se caracterizaron opticamente con medidas de
transmitancia utilizando un espectrofotómetro PERKIN ELMER λ2000. El espectro de
transmitancia de la muestra se muestra en la figura 1. Esta muestra presenta una zona de
alta absorción limitada por la brecha de energía prohibida del material, las franjas de
interferencia, pero además se observa un decrecimiento en la altura de los máximos y
mínimos alrededor de 770 nm, ésta disminución en la altura está asociada con una
banda de absorción en esta región. Los valores de parámetros calculados que
permitieron el mejor ajuste de los máximos y mínimos fueron:
Ed = 13.5 eV , Eo=5.1 eV y d = 419 nm

Con estos valores se determino la variación espectral del índice de refracción Figura 2.

2,4
1,0
2,3
0,8
Indice de Refracción.
Transmitancia (%)

2,2
0,6
Experimental 2,1
0,4 Ajuste Teórico
2,0
0,2
1,9
0,0
1,8
300 400 500 600 700 800 900 1000 1100 300 400 500 600 700 800 900 1000
Longitud de Onda (nm) Longitud de onda [nm]

Figura 1. Espectro de transmitancia experimental

Figura 2. Indice de refracción calculado
comparado con el ajuste teórico calculado

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En la figura 3 se presenta el espectro de absorción calculado, es característico en el

espectro la absorción fuerte delimitada por la brecha de energía prohibida y además
aparece la banda de absorción localizada en 770 nm.

6
5x10

6
4x10
Absorción [cm ]
-1

6
3x10

6
2x10

6
1x10

0
400 500 600 700 800 900 1000
Longitud de onda [nm]

Figura 3. Espectro de absorción obtenido teóricamente para la película delgada de MoO 3.

El centro de absorción ubicado en 770 nm está relacionado con vacancias de oxigeno

[5]; el valor de la brecha de energía prohibida es de 2.77 eV.
Los valores obtenido s para las constantes ópticas; el índice de refracción, el coeficiente
de absorción, y el gap del material son comparables a los obtenidos por otros autores en
otros trabajos [6].

Conclusiones
El procedimiento de calculo desarrollado permite determinar con facilidad el índice de
refracción, el coeficiente de absorción y el espesor de la película en muestras que
poseen bandas de absorción en la región del espectro donde se supone el material
transparente. El procedimiento de calculo se probó en una película delgada de MoO3;
dando resultados comparables a los presentados por otros autores en la literatura.

Referencias
[1] R. Swanepoel. J. Phys. E: Sci, Instrum, 16 (1983) 1224-1222.
[2] J. Torres, J. I. Cisneros, G. Gordillo, and F. Alvarez, Thin Solid Films, 289 (1996)
238-241.
[3] S. H. Wemple and M. DiDomenico. Physical Review Letters, 23(20) (1969) 1156-
1180.
[4] O. S. Heavens, Optical Properties of Thin Solid Films (Dover, 1991), London,
England.
[5] C. Julien, A. Hhelfa, O. M. Hussain, G. A. Nazri, Journal of Crystal Growth, 156
(1995) 235-244.
[6] N. Miyata, T. Suzuki, R. Ohyama, Thin Solid Films, 281-282 (1996) 218-222.

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