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    El microscopio de fuerza atémica: métodos y aplicaciones Enrique A. Lépet' & Santiago D-Solares? ‘The George Washington University, Deparment of Mechanical and Aerospace Engincering 801 2nd Stet, NW. Washington, DC 20082, USA "Licencidoen ngnirf2 Quimica, UVG, 2009; BS, UVG; MSe Chem Bag, Kyung Hee University (South Korea; PAD candidate, George Washington University quiquale}@ pai com Liceniad en Ingenieria Quimica, UWG, 1985; BS, UV; MSé Industri Eng, Miami Univesity; MSe Chem Eng, CaTech PAD Chem Eng, CaTexh: Associate Profesor, George Washington University. santiago solares@ gmail.com The atomic force microscope: methods end applications TRAE Since is invention, the otomic force microscope (AFM) has become a bosic fool for the study of matter a he micro. tnd nanoscale. Ustke other imaging techniques, i doesnt se elecromagnetc woes or patick beans, andi appcafon isnot restcted fo the study of conductive samples. can be used in ambient cir or fauds, ond also in vacuum. ts working princile is surprisingly simple, whereby the deflection of o probe {comprised bya very sharp tp attached fo a cantilever bean is racked while is ileractng wit the somale surface. 48 ds lo Univstsded do Valle Guotomoo (2014) ‘Aso reslof this interaction, o three dimensional image of ‘he lopogronhy or the fp-somple forces con be generale. The AFM hos bon used fo sud a wide varity of motels, enging from si inorganic somles to sof biological somples. In is cary sages he AFM wos used in permanent contac withthe somple, which brought cbout drawbacks, suchas rapid probe woot and often somple domege, bu these obstacles have be overcome withthe development of dynamic techniaues. The objective of ths aie i 0 rview commen AFM methods ond cpplcctions. KEYWORDS: otomic force microscope, nanoscale, probe, microcantilever. Introduccién del AFM y modo de funcionamiento El microscopio de fuerza atémico (AFM) es hoy en dio une herromien's estindar de caracterizecién de muestas a escola ot6mica. Desde su invencién en 1986 por Binnig y colaboredores [I], el AFM he despertodo al interés por pate de industia y academia, y es vilzado cutinariamente como herremienta de caracterocién @ nono escola, Ademas ho sido y contin siendo estudiado por varios grupos quienes troton de comprender, explorar y mejorar sus capacidades. Elprncpo de furconamiento de un AFM es sorprendeniemente sencilla, De hecho es el misma princinio de ‘uncionamiento que nos permite determinar nuestro paso en algunas bésculos de resore. Un resort con una constant esi conocida es comprimido por una fuerza arbiraria de magniud F. Lo compresion Az del resorte (que tiene uno constarte eléstica ) es una mecide directa de la fverzaejrcido, a cul en el régimen de deformacién elstca lineal obedece Ia ley de Hooke: KAZ fos samors scinerxy Fuerza (nN) Distancia Punta-Muestra (rm) Baie 1. ns de nip en. a Grico diferencia entre el resote de lo béscula ye “esore” viz en el AFM esa sensbiidad de lo medicén. El “resode” ilzdo en el AFM es una micropalanco flexible que tiicamenie see una rigider de 0.01 N/m 0 50 N/m [2) Si una punto ‘muy alada {con una curatura de unes pocos nanémetros de diémetro} se odjuna o la micropalanco, es posible medir lo {vere de ineraciénenie lo punto y la muesro 0 roves de Io ‘levidn de dicha micropolanca En consecuenci, lo deteccién precise de Ia flexién de lo rmicropalonce es la caraclersica clove de un AFM. Los AFM conlemporéneos cuenion con un sistema de deflesion de hoz de isercon el que es posible mec lexiones dela micropalanco cen al rango de 0.1 Angstrom a unos pocos micrbmelros. Esto corresponde a una sensbilidad de fveza de 10" N a 10° N. Lo Grafica 1 muesie el principio de funcionemiento y los comporenles principales de un AFM. La micropalanca {carver con lo punto {ip] adjusto consituyen lo sonda que seré lo cencargada de isteracluer con la muesir. Por encima de lo sondo se encuentro lo fuente del ryo léser que opunte hacia la pote trasera de la micropalanca. El roy laser reflejado es detectodo por un fotodiodo seccionedo, Usvalmente se ulize un diode de cvetro cuadrantes nora deleciar los movimientos de lexi torsi6n de la micropalarca. Cuondo la micropalanca cest6 en equilibria el punto lser relle’ado se cjusa para que las seccones superiors einferioresproporionen a misma intersidad, Sile micropolonca se doble hacia artbo 0 hac abojo, el punto laser yl seicl de diferencia ene laseccién superior inferior es uno medida dela fexién, Lo Grética 1 muestra el fotodiodo con sus evelro cvodrentes (A,B,C, D) Lo sefol (A+ 8)-(C+D) es una medide dela flexién, ‘mienras lo sefal (§+-C)-(B4 0} es uno medide de la torsion de la micropolonca. La Grafica | también muest el escérer sobre rite 2 Cn ig se (a) cl que desconsa la muestra El escéner es'é conectado 9 un sistema de rettoalmentacion y responderé con movimientos Yen los ejas x, , 2". Los movimientos “en los ej x,y" del escéiner corresponden ¢ movimientos o lo largo del drea supericil de le mueste sobre lo cualesonda enira en contact. El movimiento “on al ee 2" responde al stem de revoalimentaciéssegin el modo de toma de imagenes ave se estéullizondo (en las siguientes secciones se dscule més acerca de este ospect) a noturalezo del AFM en lo que une sonda entra en contacto fsico con la muestra, hace de ese instumento una herramienta muy poderoso, puesto que odemés de ser capor de realizar imagenes de la muesta, es copar de medi fueras de interaccéa, Esta ukima caracterisco es la que lo hace tan particular y diferente cvando se le compare con otras ‘écricas de obtencién de imagenes 0 escala narométrico (Ix10%m)incluyendo su predecesor, el microscopio de eleco tinel STM) Aes tipo de experimento en que se miden las fverzas se le conace como especroscopia de jverzos, tide ol pequeriodidme'r dela puna, lsonde ove inerctio con lo mesos sensible ovaries ‘pos de fuer (ver Gréfica 2), En su voje hocie la supetcie la micropolonca excerimenta fuemas oracivos, peribiendo ol nico fuerzs de lrgo aleace, princpalmente oribuidos alas fueras de von der Waals. Luego ol dsminui a distancia entre la punto y la supericie, la sonda inicao expermentor ferns quimics de coo acanceespectens «ba relacén entre lo coturaleza quimica de ls étomos de lo supetcie yla muesra fers de coro akance) A eso fuerza uimica lombién se le afoden los fuer de van der Woks, ls fers copilores,{verzs elecrosiicos y magnicas. Cuando la distancia ene la punta y la musa sigue disminuyendo lo punto alcanza un punto donde empieza o percitirfuerzos de repulsion de Poul. Estas fveros de repuién se exalican con el principio de exclusion de Paul que prohibe que los nubes Roviste 26 lo Uiversded do Valle de Guctomel (2014) 15 ‘Siorsetpeit sensore teineray Fuerza (nN) Movimiento del Piezo (um) re 3. tl pine liens a, Feica Gen ee dene agtmarlbonds nse o cargodas de dos elacrones que lienen los mismos nimeros ‘unico posean un raslapesigaicaivo. Ese ipo de uerees ‘epulsivas son las més importantes cuando se realizan ‘experimentos en modo convencional de conlaco [2 ‘Métodos de funcionamiento del AFM EL AFM puede funcionar en distintos esauemas o arreglos ‘exoerimentales, Los métodos de funcionamiento del AFM se dlviden bésicamente en dos arupos: modos de coiacie continuo yy mods dindmicos. Los modos de contacto continuo fueron los primes uilzados en ls aos fempronos del AFM yu uilzacién ‘apenas insinuaba la resolucién nanométrica de la que el insirumento ero capar. Sin embargo pocos afos después fue propuesa [a idea de tomar imégenes haciendo vibrr la sonda ‘on un movimiento oscilctorio [3]. Desde enfonces han suraido una varioda cartidad de métodos (4-8, oteciendo coda uno «505 propias venajs ylmiteciones, £l método dinémico de més rufinaro uso es sin duda el método de con'acio intermrente 0 modiulacién de ammpliud (AM-AFM), Debido a su omolo uso y su relrva madurez se he dedicado una seccién de este ariculo ca dscutr acerca de él. Madurer se refer a lo opis irvesigacion de lo que ha sido objeto este método [9-11], lo que permite ue existe un entendimiento ectval relativamente alto en ‘comparacién con o'tos mé'odas dindmicos uilzados. ‘Modo de contacto Modo contacto es el dseho experimental més simple y fue el primero utiizado cuando el AFM fue inventado [1], En este ‘modo lo punta de la sonda se encuentra en contacto perpelvo on la mussi por lo que también es llamado mado esitico, Le Grice 3 muestro el funcionomiento del AFM en modo de contacto. Durante la toma de imégenes en modo de contacto 16 Reviste 26 dele Univrsidet dol Velo ds Gustomalo (2014) loveable conral es a dellexén de l microoelence (andlogo le compesin oesvamiento de un reso). Le variable conta 8 mantenida constante por medio de un circuito do retoolimertacién EH escéner sobre ol que descansa lo muesio se encarga de mover la muestra respecto a lo micropolanca en dieccién ", ¥" pore recizardistnias lineas de esconea. La micropalance al inferecluor con lo muesia sure une dellexién proporcional @ la fuerza de ineraccién con la superice, obedeciendo a le ley de Hooke (Ecuacién I. En este circuit, la sefial de deflesin es lida en el fotodetector Y transmitida a la caja electénica donde se compara al vor actual con el punto de gjuse (setpoin'), De acuerdo a eso diferencia l cia elecrica enva una sel de sakdo al escéner para ojustar lo posicién en el eje *2" de la muestra, si fvero necesoro, para mantener Ia variable conrl (deflexién de lo rmicropalance} constante. Como consecuencia de los exploraciones en ees “s, y* asi como los cambios en "2" se genera une imagen ‘opogrdtica dela supercie de la muestra estudiods, Como anieionmente se mencioné, la mayor paricularidod de este tipo de microscosio, es la posiilidad de realizar deterninacions essecroscépicas de fero. En modo conic, eso es posible y de hecho debido a su naturaleza de contacio peroeivo, la determinacién dela fuera de interoccién es deco En otras polabros bosia con saber la disioncia que se exiendib ‘© comprimié la micropalanca, conocer la consnie elisa, caplcarla ley de Hooke (Ecuacin 1) pore obtener lo fuera de inleracién, Cuando se realza especiroscop'o de fuert0s en modo de contacio, no se utiliza ningin sistema de ‘eoalmeriacén ni vaable contol. En ele coo la mcropolanco, 5 ocercade 0 la superficie de le muesra a un aun espectico donde se hace vijar una dsonca vericol defi en un rengo. cen el que iniciaré fuera de contacto con la muestr. Luego viojaré hacia la muestra a una velocidad defnide, entraré en contacto con la muestra y luego se retiaré del contacto con la superficie. Como resullado dela inleraccién dela sonda con la muesia es posble obtener una cura de fuerza conta distancia conocida como curve de Fvers-Disoncio (cura FD}. Esta cuna ‘muestra la fuerte experimentada por la micropalanca en funcién de le distancia de seporacién enire lo punta y la superice. a Gréfce 4 muestra el esquema de una cua FD tpicaobierida en un experimento de espectroscoata de fuerzas en modo de conlaco, La curva muesta la fpica hsiéresis ave oparece en ese lipo de experimenios ave proviene de una discreponcio enire la curva de acercamiento y ls curva de clejamiento. Lo cua de acercamienlo y alejamiento se obtienen durante el viaje de l punta con velocidad negative {hacia lo muestra} y velocidad postive fabondonondo la muestra, respect omen, lo discrepanci enire estos curvas se conace como “sakos’, Cuando le micropalanca se acerca hacia la superficie, debido © obas fver0s atracivs, la micropalanca “sok hacio" lo supertcie de lo mues'a a una posicién espectica ffenémeno conocido en inglés como snop-n). Durant el aleiamiento de la micropolanca la aunia se encuentra fveremente otra por la supetcie vel *solo fuera” de contacto {snop-out en ings} ‘cure signticatvamente atrds del "salto hacia" el contacto, Esto reslio en una istresis entre ls curvs de acercameinto Yolejamiento Especticamente este tipo de histéesis se conoce como une inestobilidad mecénica del sistema cuando se realize, especroscopia de fuen0s en contacto. Esa nesabildod constinye Ln nconveriete clave pues spore una pérdid de informacion enla recuperacién de lo cura FD, de cuyo comportamiento reol deber'apoderseexraer una cure como la que se ilstro en Gratin 2 Cuanttatvament el “scllo hacia" conlacte cure cuando el grocer dela magnitd dela fuerza de aaccibn supers a la constanteelsica dela micropolonco OF o@) yg a asin? En otros pobre, ls furs okactvas no pueden ser sosinides por el resort de la mictopolance y e punia “sala hacia” lo supericie de la muss, Posterior eso, un acercamiento asin ‘mayor roduce que lo punia empuje la muesra pesondo a lo regién de coniaclo mecénico caraclerizada por fuerzos de conlact positives (ver Gri 2). Por otto lado, durante el alejomiento lo punte permanece codherie o le supericie una porcién mayor de lo cure debido co fuerzas alactvas entre la pura de le sonda y le supericie de la muestra. Esas fuerzas estén asociadas moyoriteriomente @ ‘eras capilares yfuerzs von der Waals, Ess fverzos adhesives deben ser superadas para que el “salto fuera" de contacto cocurra, El “salto fuera" de contacto siempre ocure # una distancia més largo de la supericie que la distancia ala que cure el “salto hacia" contacto, lo que genere la aparcién de la histéresis en la curve FO. El perpetuo contocto enire punta y muesia caracterisico del ‘mado contacto supone ots importantes inconwenientes como el répido desooste de lo punia de lo sonda y le dfculod de estudiar muesios blandas. Con el abjtivo de superar estos inconvenientes, métodos dinémicos de AFM han sido desorrollados En la seccién 3 est ipo de métodos seré el emo de discsién, *Aplcaciones de modo contacto Desde ln invencin de los méiodos dinémicos, el uso del AFM. en modo contact ha sido reducido, Sin embargo, o pesor de les inconverienies que posee el método de contacto, posee la poriculridad de ser muy sencilla su opkcocin. En ese tipo de Imé'cdos el uso pasee muy pocs parémeres cara maripula. Eso facie su uso pues la toma de imagenes einterpreiacion de esuhados no reqieren de un avarzado conocimiento tesco ‘Apesor de su facil apicacién, su ulizacién generolmenteesté reservada 0 cies fps de muesias que no sean suscepibles, 1 lo répida destruccién por parte de la punta que esté en conslarle contacto. Algunos ejemplos de muesiras en las que el AFM en modo contacto se uillze son metoles, dxdos de meioles, gratto akomente orentado y muesias inorgéricas rigidas.. A pesor de su delicadeza, exsle también una gron voriedod de muestras biolégicas ave se pueden estudiar con este mélodo, aunque el usuario debe fomor en cuenta que a ‘muesiro se auede delommar anficatvareie, que puede dove duronte la medicin y que los imagenes en muchos casos no serén de alto resolu, Una de los aplicaciones més imporente an la aclualidad de este tipo de mélodo es en el estudio de conducividad eldcrica de muesios. Pav ell, se vilizon puns convencionales de sicio pero revesidas con olgin meal aleacién de meioles como platino-iridio {Ptr En este tipo de experimento una diferencia de voliie se oplica a lo muestra y se mide la conductvided llevando la punta en contacto con la muestra pore cerar el ciclo. La natureleza de contac permanente, hace que este sea el mélodo predileclo pore este tipo de cplcaciones, por lo que varios invesfgadores lohan uilzedo come herramienia de coracterizaci6n conducive [12-15]. Métodos dinamicos Com intento de esquivar los problemas intinsecos al modo de coniaco, poco tiempo después dela invencién del AFM fue propuesta la idea de osclor la micropolanca sobre a musta lo onierore hizo con el objetivo de reducrl interoccién ene la sonda yl muesra Los poneros en proponer esi idea fueron Martin y coloboradores (3), quienes fueron los primeros en 28 de lo Usversdog fo Vllo de Seotomes (2018). 17 vilizar el AFM en un modo osclatorio. Por supuesto esto representa un eslero lécricoadicional yun esuerzo an meyor cen el andlisis de resullados como precio @ pager por la solisicacién del método. ‘dems de ls veriojos obvos de reduc el desgaste de lo ounla ¥ la muestra, los métodos dinémicos ofecen la vertaa de evodir jenémeno de los *salos" que ocutten en el méiodo de contacto que dan lugor alo molesiahistéresis en la cure FD. En principio, ore evadilas sas « contaco basta con wilzer une mieropolance lo suficientemente igida pare que soporte cl gradienie de fverzas en toda su trayecoria y cya fuerza de restouracién no sea superada en ningin momento por los fveas adhesivas ene la superficie y la punto. Sin embargo, esto no 8 una solucién real en lo préctico, puesto que se necestria ua micropolanca con una constants elds de okededor 100 Nim [2] Lo onlerior supondria un desgoste exagerado entre pum’a y muestra debido lo noturleze de contacto permanente deste a0 de mélado, odemés de una pérsida de sensibildad, Como consecvenca, se ha demoslado que asada més viable «oscilla sonda pare oumentorvrualmente la gids de la miropalance sin compromeler demasiado la inegridad fsica de lo puniay o muestra, De acuerdo a Giessit 16] ol osclor lo sonda, la medicines eslable siempre y cuando la fuerza de resiaurecion de la micropalance (dada por el producto de la ‘ampli de osclcibn por la consane elésice fk") sea moyor «alo fuera tractive ene ls punts y la muss En oplicaciones pricticas, ompltudes en el rongo de 10-100 rm son comunes con micropalancas de constan' eléstica entre ‘oproximademente 5 0 30 N/m. Lo anletior supone un producto KA que supera fécilmente los fuerzas de achesién, progorcionando al AFM dinémico una buena estabilided En resumen los métodos dinémicos ofrecen tres principales ventajas con respecio al método de cortacto, Primero, el movimiento de la punta es sensible ‘onto a fuerzas como 0 grodienes de fueras. Segundo, en métodosdinémicos se abiene informaciéa més ampli del intraccin incluyendo la ompltud de la oscilcin la frecuencia el cambio de fase, mienros que en métodos de contacto Gicomente se obiene la delexén de la sonda, Lo anterior se traduce a uno mayor cantidad de informaci6n que puede ser analizada para obtener més detalles sobre lo muesia estudioda, Como ‘ercer punt, los fverz0s requerides nara obtener una sefalestable en modo cortacto podrion envolver cierto tipo de dato o lo muestra o la sonda lo que podria obstaculzor la obtencién de imagenes de aka resolcién (17) Descripcién del movimiento de la micropalanca oscilatoria Una manera de estudiar el movimiento oscilatrio de lo sondo cde una manera burda es consderor la sonda como un sistema maso-resorie, Aunque esia oproximacién corece de exactiud, ‘otorgo una percepcién adecvado del movimiento dela sondo 18 Reviste 26 dele Univrsidet dol Velo ds Gustomalo (2014) De esa forma, la escilcién se madele por medio dela ecvacibn diferencial de movimiento de un oscilador forzado con ‘moriguecién, con lx adicién dels ferzs deinteroccién ene lo prtay musta.) Como resados ane un wc

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