DISUSUN OLEH :
KELOMPOK V (LIMA)
DEPARTEMEN FISIKA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM
UNIVERSITAS SUMATERA UTARA
MEDAN
2016
ATOMIC FORCE MICROSCOPE (AFM)
1. Pendahuluan
Munculnya kesadaran terhadap ilmu dan teknologi nano di inspirasi dan di dorong oleh
pemikiran futuristik dan juga penemuan peralatan pengujian dan bahan-bahan. Pada tanggal
29 Desember 1959 dalam pertemuan tahunan Masyarakat Fisika Amerika (American Physical
Society) di Caltech, memunculkan suatu isu yaitu permasalahan memanipulasi dan
mengontrol atom (dengan ukuran 0,001 nm) dan molekul (dengan ukuran 0,1 nm) pada
dimensi kecil (nanometer). Mikoskop gaya atom dikembangkan oleh Gerd Binnig dan
Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM - Zurich.
Di tahun 1981, Scanning Tunneling Microscopy (STM) diciptakan oleh Heinrich Rohrer
dan Gerd Binnig (Pemenang Hadiah Nobel Fisika tahun 1986). Beberapa tahun kemudian
(1986), Gerg Binnig, Calfin F Quate, dan Christoph Gerber menemukan Atomic Force
Microscope (AFM). Melalui peralatan STM dan AFM, para ilmuwan dapat melihat,
memanipulasi, dan mengontrol atom-atom secara individu di dimensi nano. Walaupun
pengembangan AFM sudah dilakukan pada tahun-tahun sebelumnya, pada tahun 1986 inilah
implementasi eksperimental AFM dilakukan pertama kalinya.
AFM salah satu metoda karakterisasi dari keluarga SPM (Scanning Probe Microscopy)
bekerja pada bagian permukaan bahan dengan melibatkan interaksi antara probe dan
permukaan bahan melalui proses fisis tertentu. Interaksi ini kemudian dapat men-generate
citra permukaan bahan pada skala mikroskopik, sehingga susunan partikel pada permukaan
bahan dapat terlihat dengan jelas. Berbeda dengan microscopy lainnya, metoda karakterisasi
ini hanya melibatkan gaya yang terjadi antara tip dan sampel. Gaya yang terjadi bisa berupa
gaya tarikan atau dorongan. Setiap gaya akan mengakibatkan pembengkokan tertentu pada
bagian cantilever dimana akan terdeteksi oleh berkas laser dan kemudian ditangkap oleh
detektor yang kemudian akan dicitrakan menjadi sebuah image yang bernilai.
2. Pengertian AFM
Mikroskop gaya atom (Atomic force microscope, AFM) adalah jenis mikroskop dengan
resolusi tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer (1000 kali lebih
kuat dari batas difraksi optik). Nano adalah satuan panjang sebesar sepertriliun meter (1 nm =
10-9 m). Bahan berstruktur nano merupakan bahan yang memiliki paling tidak salah satu
dimensinya berukuran <100 nm. Atomic force microscope mampu menampilkan gambar
dimana ukurannya lebih kecil dari 20 ms. Mikroskop ini juga memungkinkan menampilkan
gambar dari kristal yang lunak dan permukaan polimer
Mikroskop gaya atom ini merupakan salah satu alat untuk penggambaran, pengukuran,
dan manipulasi materi pada skala nano. Cara untuk mendapatkan informasi pada Mikroskop
gaya atom dengan meraba permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik
yang disebut dengan piezoelektrik. Elemen piezoelektrik ini yang memfasilitasi perintah
elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat sehingga membuatnya dapat memindai
dengan presisi tinggi.
Mikroskop gaya atom terdiri dari sebuah penopang (cantilever) dengan ujung yang
tajam sebagai alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan sampel.
Penopang tersebut biasanya terbuat dari silikon dengan radius kelengkungan ujung mencapai
bilangan nanometer. Ketika ujungnya dibawa mendekati permukaan sampel, gaya antara
ujung tajam pemindai dengan permukaan sampel menyebabkan pelengkungan penopang
sesuai dengan hukum Hooke. Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur AFM meliputi
gaya kontak mekanik, gaya van der waals, gaya kapiler, ikatan kimia, gaya elektrostatik, gaya
magnet, gaya casimir, gaya pelarutan, dan lain-lain.
4. Kegunaan AFM
AFM merupakan alat yang di gunakan untuk memanipulasi ukuran atom atau molekul
dan struktur pada berbagai permukaan agar dapat mempermudah kegiatan dari berbagai
macam ilmu pengetahuan, misalnya dalam ilmu fisika, kimia, dan bidang biologi.
Dalam ilmu Fisika, alat ini lebih mempermudah para ilmuwan dalam mengetahui
struktur atom secara langsung, sehingga dapat di ubah dan di manipulasi untuk
kepentingan ilmu sains.
Dalam ilmu kimia, alat ini dapat menjelaskan bagaimana struktur dari berbagai macam
molekul, sehingga lebih mudah dalam membuat suatu reaksi kimia.
Dalam bidang biologi yaitu untuk menyelidiki struktur, fungsi dan spesifik sel.
Misalnya untuk meyelidiki struktur dan fungsi hubungan antara bakteri Streptococcus
mutans yang merupakan dasar aetiological pada gigi mati tulang manusia (gigi).
5. Sampel AFM
AFM dapat digunakan untuk sampel yang bersifat konduktor maupun isolator seperti
klaster atom dan molekul, makromolekul, dan spesies biologi seperti sel, DNA, dan protein.
Untuk masalah sampel yang digunakan, persyaratannya hanya memiliki paling tidak salah
satu dimensinya berukuran < 100 nm. Sampel tidak perlu di lapisi dengan karbon atau lapisan
apapun yang dapat merusak sampel.
Untuk persiapan awal terhadap sampel adalah sebagai berikut :
1. Letakkan sample pada tempat sample yang ada pada alat
2. Pastikan ujung tip berada tepat di permukaan sample
3. Hidupkan alat dan layar komputer
6. Komponen-komponen AFM
Komponen-komponen penting yang ada pada mikroskop gaya atom diantaranya adalah :
1. Probe
Merupakan alat pemeriksa yang secara langsung berinteraksi dengan
permukaan sampel (Tip) dan cantilever dengan panjang 100 – 200 μm dengan lebar
10 – 40 nm, serta ketebalan 0.3 – 2.0 μm.
2. Ujung jarum atau Tip
Tip merupakan ujung dari jarum pada ujung cantilever, tempat diamana terjadi
kontak dengan sampel yang akan dicitrakan. Tip digunakan untuk memindai, meraba
(scanning) sepanjang permukaan sampel/spesimen sehingga dapat mengkarakterisasi
suatu bahan. Panjang Tip kurang dari 5 μm dan diameter ujung Tip biasanya kurang
dari 10 nm. Ketelitian dari gambar yang dihasilkan sangat tergantung dari besar atau
kecilnya tip ini. Material yang dipakai pada tip ini biasanya terbuat dari Silikon atau
Silikon Nitrida (Si3N4). Material ini digunakan selain tahan lama juga menjadikan
sampel menjadi anti air. Ujung dari tip ini biasanya sekitar 10 nm atau 100 atom.
Gambar Tip
3. Cantilever
Merupakan sebuah penopang dan merupakan tempat dimana tip menempel.
Berfungsi sebagai tempat mendaratnya sinar laser. Bahan dari Cantilever ini pada
umumnya sama dengan bahan pada pada tip, bentuknya biasanya ”V” pada ujungnya
atau berbentuk datar saja “I”. Ukuran panjang dari suatu cantilever ini berkisar dari
100 – 500 μm, dan hanya memiliki beberapa mikron untuk tebalnya. Keadaan ini
menjadikan cantilever ini fleksibel tetapi masih kuat untuk menahan, tip pada
ujungnya.
Gambar Cantilever
4. Scaner piezoelectric
Scanner ini berfungsi untuk mengontrol pergerakan tip atau sampel pada arah x, y
dan z. Pada scanner terdapat piezoelectric material yang mampu memberikan
pergerakan dalam skala nanometer. Piezoelektrik dapat mengubah tekanan menjadi
suatu tegangan listrik untuk diolah pada komputer atau sebaliknya mengubah
tegangan menjadi suatu tekanan.
5. Laser
Devais elektronik yang berfungsi untuk menembakkan laser ke arah cantilever.
6. Detektor
Merupakan pendeteksi laser pantulan.
7. Photodioda
8. Perangkat komputer
Digunakan sebagai pengolah data.
7. Bentuk Fisis AFM
Pada posisi normal, sinar laser diarahkan pada ujung cantilever. Oleh cantilever, laser
ini dipantulkan menuju bagian tengah detektor photodioda. Ketika tip mendekati permukaan
sampel, terjadi gaya tarik atau gaya tolak antara tip dan permukaan sampel. Gaya ini akan
menyebabkan cantilever bengkok. Bengkoknya cantilever ini akan terdeteksi dengan adanya
pergeseran posisi laser yang ditangkap oleh photodioda. Semakin besar gaya tarik/tolak antara
tip dan permukaan sampel, pergeseran laser akan semakin besar. Karena besarnya gaya
tarik/tolak tergantung pada jarak antara tip dan permukaan sampel, maka topografi permukaan
sampel dapat diketahui dengan melakukan scanning tip sepanjang permukaan sampel.
AFM bekerja dengan cara memanfaatkan gaya tarik-menarik dan tolak-menolak yang
bekerja antara cantilever dan permukaan sampel pada jarak beberapa nanometer. Persamaan
gaya ini dinyatakan dalam persamaan potensial Lennard-Jones. Gaya tarik menarik terjadi
saat cantilever dan sampel saling menjauh. Sementara itu, gaya tolak-menolak terjadi saat
cantilever dan sampel saling mendekat.
Contoh gambar 3D AFM dari tiga tipe yang berbeda bahan Pd, dibangun pada 6H-SiC
Gambar Nanowire MoO3 yang diamati dengan AFM
3. Gaya Sensor
Mikroskop gaya atom membutuhkan kekuatan sensor untuk mengukur kekuatan antara
probe kecil dan permukaan yang dicitrakan. Jenis umum dari sensor gaya menggunakan
hubungan antara gerak penopang dan gaya diterapkan.
4. Kontrol Umpan Balik
Kontrol umpan balik digunakan umumnya untuk menjaga gerak suatu objek dalam suatu
hubungan tetap ke objek lain.
7. Kontaminasi Permukaan
Kontaminasi ini dapat terdiri dari air dan hidrokarbon dan tergantung pada lingkungan
mikroskop. Ketika probe Mikroskop gaya atom datang ke dalam kontak dengan
kontaminasi permukaan, gaya kapiler dapat menarik probe ke arah permukaan.
3. Metode Tapping
Pada metode tapping, cantilever digetarkan (berisolasi) pada frekuensi
resonansinya. Probe melakukan proses “tap” pada permukaan sampel ketika proses
scanning berjalan. Saat scanning dilakukan, perbedaan topografi sampel
menyebabkan pergeseran frekuensi resonansinya. Pergeseran frekuensi ini yang
kemudian diterjemahkan menjadi topografi permukaan melalui serangkaian proses
yang dilakukan oleh feedback control. Sama seperti metode sentuh, metode tapping
berada pada daerah gaya tolakan antara sampel dan tip. Jenis tip yang digunakan
biasanya terbuat dari kristal silikon. Jenis tip ini dapat bergetar pada frekuensi tinggi
namun lebih rapuh daripada tip dari silikon nitrida.
Keuntungan metode tapping :
Resolusi lateral yang tinggi (1 nm – 5 nm).
Sangat baik untuk sampel yang lunak seperti spesimen biologi, dan juga untuk
sampel yang mempunyai adhesi permukaan rendah seperti DNA dan karbon
nanotubes.
Gaya yang lemah serta kerusakan yang minim pada sampel.
Hampir tidak ada gaya lateral.
1. dokumen.tips/documents/atomic-force-microscopy-55a359a13c179.html
2. https://stunecity.wordpress.com/2011/02/04/berkenalan-dengan-spm-scanning-probe-
microscope-afm-atomic-force-microscope/
3. https://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskop_gaya_atom
4. http://majalah1000guru.net/2011/02/melihat-benda-nanometer/
5. http://lizaaufklarung.blogspot.co.id/2011/01/atomic-force-microscopy-afm.html
6. http://wawasanedukasi.blogspot.co.id/2015/05/mikroskop-gaya-atom-afm.html
7. https://roilbilad.wordpress.com/2010/11/09/atomic-force-microscopy-afm/
8. http://material-sciences.blogspot.co.id/2015/04/mikroskop-gaya-atom-atomic-force.html